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探针式影像三坐标

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  • 【原创大赛】三维原子探针试样制备流程

    【原创大赛】三维原子探针试样制备流程

    APT(atom probe tomography)技术是目前定量分析纳米尺度不同元素原子分布最微观的先进技术。图1是三位原子探针工作原理示意图,如图所示,采集数据时,样品分析室必须达到超高真空(一般小于10[sup]-8[/sup]Pa的真空度),然后将样品冷却至低温(20-80K,取决于样品性质),以减小样品中原子的热振动。样品作为阳极接入1-15KV正高压,使样品尖端原子处于待电离状态。在样品尖端叠加脉冲电压或脉冲激光后,其表面原子就会电离并蒸发。用飞行时间质谱仪(time of flight, TOF)测定蒸发离子的质量/电荷比值,从而得到该离子的质谱峰以确定其元素种类。用位置敏感探头记录飞行离子在样品尖端表面的二维坐标,通过离子在纵向的逐层累积,确定该离子的纵向坐标,进而给出不同元素原子的三维空间分布图像。图1为上海大学三维原子探针仪器示意图。[align=center][img=,515,315]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_01_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图1 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]APT式样的制备要求也很高,具体如下:首先,利用电火花线切割将片状样品加工成0.5mm×0.5mm×15mm的棒状样品。采用两次普通电解抛光的办法获得晶界距离样品尖端仅几十纳米的概率很低,但距离为几百纳米的概率会高很多。电解抛光后的针尖状样品安装在改造后的TEM样品杆上,利用TEM观察针尖样品,确定针尖的曲率半径,晶界与针尖尖端的距离,及通过SAED确定晶界两侧晶粒的取向关系。[align=center][img=,329,254]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_02_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图2 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]将那些样品尖端附近几百纳米范围内含有晶界的样品挑选出来进行毫秒脉冲电解抛光,经过这样的精细抛光后,可使得晶界距离样品尖端更近。经过多次试验统计,样品经过20V,1ms的脉冲电解抛光可以使样品尖端减短75~400nm。这样,利用毫秒脉冲电解抛光的办法,对已含有晶界的针尖样品进行精细抛光,可以获得合适APT分析晶界偏聚的针尖样品,如图3所示。[align=center][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051547_01_2423358_3.jpg[/img][/align][align=center][b]图3 三维原子探针针尖状式样图[/b][/align]

  • 三坐标测量机高速下动态误差分析

    三坐标测量机是一种大型检测仪器,其测量精度高,对产品的质量起到重要的保证作用,因而被广泛应用于机器设备的检测中,随着现代制造业生产要求的提高,促使三坐标测量机逐渐由静态测量向动态测量发展。传统的静态模型如果继续在告诉的动态测量下使用,必定会造成错误结果,带来很大的误差。因此,三坐标测量仪高速测量下的动态综合误差分析不仅有助于测量精度提高,对误差的修正以及高速测量机的改进都有是否重要的意义。对动态误差产生最直接影响的因素是加速度,测量速度的影响这只是间接的,加速度会使测量机部件之间发生力的相互作用,这些相互依存的具有一定质量的部件组成了测量机的构环,由于相互作用力使运动部件发生偏转变形,测量机的探针相应的就会与测量标尺发生位置误差,从而导致测量误差。可见,由于组成测量机的构环的部件是有质量的并且其间永远存在力的作用,因此无论测量机经受加速度与否,都是会发生偏转的。当测量机进行高速测试时,产生的加速度大,结构发生的偏斜就越大,产生的动态误差就越明显。

  • 三坐标如何正确选择测针

    正确选择和使用测头是影响三坐标测量仪的测量精度的重要因素。测针安装在测头上 , 是测量系统中直接接触工件的部分 , 它与测头的通讯式连接渠道称作触发信号。如何选用合适的测针类型和规格取决于被测工件的特征 , 但是在任何情况下 , 测针的刚性和测球的球度都是不可或缺的。  工业用红宝石是高硬度的陶瓷材料 , 红宝石测球具有很好的球度 , 测量时红宝石测球的球头磨损可忽略不计。测针针杆一般用非磁性的不锈钢针杆或碳钨纤维针杆 , 以保证测针的刚性 ) 。测针的有效工作长度 (EWL ) 使得测针接触工件时可获得精确的测点位置。球头尺寸和测针有效工作长度的选取取决于被测工件。可能的情况下 , 选择球头直径尽可能大、 测杆尽可能短的测针 , 以保证最大的球头测杆距 , 获得最佳的有效工作长度和测针刚性。需要时可加长测杆以增大探测深度 , 但值得注意的是使用测针加长杆会降低刚性 , 从而降低测量精度。

  • 表面增强拉曼光谱探针分子

    [color=#444444]请教一下各路大神,用来做表面增强拉曼光谱的话,常用的探针里有没有无毒的,比如说像R6G什么的还是有毒的,或者说有没有相对来说毒性小一点的,10-4M浓度左右皮肤接触伤害不大的?[/color]

  • 【分享】荧光探针标记样品的过程及注意事项

    [b]对细胞进行荧光标记后,有时会出现影响定量实验的三种情况。[/b]一是所有细胞都能标记上荧光,但样品荧光强度过高,甚至饱和。克服方法是降低标记细胞时胞外荧光探针的浓度;或改变标记样品的条件,例如减少标记探针与样品的反应时间。二是出现“环岛效应”或“边缘效应”,表现为即连成片的细胞最外环的边缘的细胞荧光强度明显高于被包围在中间的细胞的荧光强度。克服办法是①在不影响实验的情况下,尽量减低细胞种植密度;②由于染料浓度过高时,更容易产生边缘效应;③适当延长标记时间,以使染料在细胞间达到充分的平衡时间;④染色后,上机前要进行充分洗涤附着探针(不需要洗涤的探针除外

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • 如何清洗探针?

    探针压过细胞等生物样品以后,针尖总是会沾上一些脏东西,导致用于别处时会影响成像。在测定力曲线的时候也明显发现被污染的针尖带有粘性。在网上看到一篇讨论How can we wash functionalized AFM tip after coated it with chemical substance?,里面也给出了一些方法。比如Piranha solution。有几个问题想请教:请问关于Piranha solution,有使用过这种方法的朋友吗?效果如何?如何判断探针已经被洗干净了呢?如果是表面被修饰了某些化学物质的探针,该如何清洗使得能把污染物洗干净并且不破坏那些化学物质呢?各位通常都是用什么方法清洗探针的呢?非常感谢!

  • 【分享】了解荧光探针

    在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子,包括有机试剂或金属螯合物。   最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体,亦可用于微环境,如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大,荧光量子产率高;荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移;用于免疫分析时,与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。  也可用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针:钙黄绿素(Calcein),Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针:Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

  • 【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    前言:扫描探针显微镜它包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描近场光学显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等20多个品种的庞大显微镜家族。这类显微镜的问世不仅仅是显微技术的长足发展,而且标志着一个科技新纪元——纳米科技时代的开始。这类显微镜自问世以来,在物理学、化学、医学、生物学、微电子学与材料科学等领域获得了极为广泛的应用,并一直是国内外科技人员研究的热点。作为仪器使用技术人员,虽不能开发出更出色的仪器,但是如何充分利用它,如何让它发挥到极至得到理想的结果,是我们仪器使用者应该探索的。实验室不容忽视的温湿度变化,对扫描探针显微镜测试结果影响有多大呢?本文研究了扫描探针显微镜,在四种不同湿度环境下(实验室温度调节受限这里不做研究)测试三种不同材料表面形貌,并对测试结果进行对比,得出仪器最佳使用湿度环境。 一、仪器介绍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669577_2224533_3.jpg 图A图A为布鲁克公司型号为Nano man VS 扫描探针显微镜http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509141228_01_2224533_3.jpg 图B图B为海瑞弗公司的精密空调机(有快速除湿功能) 二、测试过程及分析选择一个阴雨天气,首先关闭精密空调机除湿功能,等待室内湿度加大,湿度显示90%时,对实验材料表面扫描成像(不需要抬起探针保持扫描状态)开启除湿机,湿度显示80%时保存一张形貌图,等湿度降到70%、60%分别保存一张形貌图。如此,重复以上操作步骤,分别对普通载玻片、普通硅片、非晶材料三种不同材料表面测试,得到如下图结果。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509174389_01_2224533_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509175648_01_2224533_3.jpg 上图随机选取普通载玻片某个区域,在湿度90%时,图1.1a、b区域,出现非常明显的干扰条纹,这种条纹的出现,一般是由于测试表面比较湿或者样品在微动引起的。这里很明显是因为空气湿度过大,在载玻片表面已经形成了水珠,对扫描过程干扰过强导致扫描失败。再看图1.2,这时候湿度降到80%,强烈的干扰条纹基本消失,但是图片上颗粒状不明显,棱角模糊,这是因为样品表面还残留着一层水膜,有的区域探针无法穿透水膜扫描到真实的样品表面,所以扫描出来的图像在感官上有一种朦胧的感觉。再看图1.3湿度降到70%,图像上的颗粒明显,棱角清晰,这说明残留水膜基本消失。图1.4湿度降至60%的时候已经达到理想效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509192148_01_0_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509193007_01_2224533_3.jpg上图非晶材料做完纳米压痕实验后残留的一个压痕印迹,图2.1湿度90%时虽然没有出现强烈干扰条纹,但是a、b区域有着很厚的水膜,显然扫不出清晰的图片。图2.2湿度80%,可见上半部小部分处于模糊状态,水膜未彻底消失,当湿度降至70%[color=windowtex

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 在读博士首创“纳米探针” 打破国外技术封锁

    外观如同一支铅笔,能够探入癌细胞、H7N9等病毒内提取细胞质,还能作为手表齿轮等高精密加工的工具—凭借“纳米探针”的发明,不久前,江苏“星辰纳米”团队以机械能源小组第一名的成绩捧起了全国“创青春·优胜杯”的金奖奖杯,并获得多家创投机构的青睐,开始踏上高科技创新创业之路。  这支团队的带头人,就是师从中科院朱荻院士的南京航空航天大学在读博士生孟岭超。  传奇“学霸”—本科三转专业,包揽第一  传说中,孟岭超是一位叱咤南航的“学霸”:从大二开始三转专业,南航机电学院的工业设计、飞行器制造、航空维修工程和机械制造及其自动化共4个专业被他学了个遍,并且每个专业的综合测评都是No.1,多次获得国家奖学金以及校长通令嘉奖等。保送研究生后,他顺利成为江苏省精密与微细制造技术重点实验室的成员,师从中科院院士朱荻教授,从事精密、微细特种加工技术的研究。三年中已发表论文四篇、公开专利四项,并连续两年获得优秀研究生团队等称号。  “我这个人从小比较要强,什么事一旦认准就要做到最好。所以在别人‘喝咖啡’的时间,我边‘喝咖啡’边学习,就连坐校车往返于两个校区之间时,我也会看书温习。”孟岭超说,本科期间涉猎多个专业,为后来的研究打下了比较扎实的基础。  科创“狂人”—每天做试验,一站14个小时  当“学霸”并不是孟岭超的目标。他真正想做的,是开发自身“小宇宙”搞科创。  “从大一开始,我就加入了学校的一个科创基金团队,跟着研究生一起装机床、接线路、做实验、建模型、画图纸、查文献、拟仿真、改软件、修设备……就这样从一名科创‘小白’成长为了一枚科创‘狂人’。”他自嘲。  2010年,就读大三的孟岭超组建了自己的科创团队,开始了全新的科创之路。团队成员来自南航各个专业,在大家的共同努力下,他们的“AGV视觉导航小车”等科创作品获得了多项荣誉。  就读研究生后,孟岭超的科创课题转为微细特种加工技术。“我刚开始提出把碳纳米管制成加工电极的想法时,几乎没人相信我能成功,因为国内根本没有先例。”孟岭超说,从理论上论证可行后,他每天从早上8点就到实验室,常常一直干到晚上10点,试验平均每三分钟一次,每天要试验上百次,而且只能站着做。“就这样持续试验半年多、失败上万次后,我终于成功地把纳米和微米‘焊接’到了一起。”  2013 年“挑战杯”全国大学生课外学术科技作品竞赛上,他的作品《碳纳米管工具电极的制备与应用》由于突破了国内纳米探针制备技术的空白,打破了国外技术的垄断,得到专家评委的高度评价,获得了江苏省一等奖、全国二等奖。  创业“新兵”—要用“纳米铅笔”绘出星辰梦想  此后,孟岭超在导师的指导下,潜心研究、不断改进纳米探针制备技术。今年,由南航创业孵化中心为其团队提供工作场地,江苏星辰纳米科技有限公司宣告成立。目前,赵淳生院士团队以及南航的部分科研团队都在使用他们研制的纳米探针,公司还与国内8家高科技企业建立起合作关系。  “纳米探针运用于原子粒显微镜,可以实现对癌细胞、H7N9病毒等的探温乃至于提取的一系列过程。而在高精密加工方面,有了纳米探针这样的工具,我们才能生产出更多纳米级的产品。比如手表齿轮,未来如果使用这样的纳米探针制造,精度就会有明显的提高。再比如微型机器人的制造也离不开这样的工具。而一旦这样的微型医疗机器人问世,对于医疗界来说,将具有划时代的意义。”孟岭超告诉记者,过去,国内的研究存在空缺,而国外也常有技术封锁,我国高精密制造业存在“微米利用不足,纳米几乎为零”的发展困境。多年来,朱荻院士的研究就是为了改变这样的现状。  “星辰公司的目标就是成为国内首创、国际领先的纳米探针生产企业,实现国内微细制造技术从精密到超精密的突破性跨越。”孟岭超说,不久前有一家跨国企业希望购买他们的技术和整个团队,但被他婉言谢绝,“我们更想做一颗独立的星星,在群星闪耀的夜空中,绽放出属于自己的热量与光芒。”  说这话的时候,这个1989年出生的小伙子满脸绽放自信的光彩。

  • 电子探针与能谱和波谱的区别

    我是新手,做过钨灯丝shu-150,jsm6700,但是一直不知道能谱的点扫是不是就是电子探针?问了很多做sem-eds的老师,他们也说不清楚什么是电子探针?电子探针就是能谱的点扫?还是电子探针是波谱的点分析(做标样的精确点分析)?还是都不是?求助大神解释。谢谢

  • 哈工大专家发现高效去除AFM探针表面污染物新方法

    美国材料研究学会(MRS)官方网站日前在“材料研究当前新闻”栏目中,以《光栅刷子能清洁原子力显微镜的探针针尖》为题,报道了哈尔滨工业大学化工学院催化科学与工程系教授甘阳与墨尔本大学教授弗兰克斯合作发表在国际学术期刊《超显微术》(Ultramicroscopy)上的原创性研究成果。  该报道称:“清洁原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现,具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’,可用来机械清除AFM探针上的污染物,这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。这一方法不但能用来无损、高效地去除有机和无机污染物,而且可实现污染物去除和探针研究的一步完成。此外,该方法既可用来清洁胶体/颗粒探针,也可以用来清洁标准AFM针尖。”  甘阳认为,作为一种新型的表面污染物“定点”清除方法,该方法的应用远不限于清洁原子力显微镜探针,更有望在广泛的表界面研究、微电子等领域中得到广泛应用。  这篇论文在爱思唯尔(Elsevier)出版社2009年第三季度的“25篇最热门论文”中列《超显微术》的第一位。《超显微术》是Elsevier出版的显微研究领域的国际著名期刊。

  • 探针杂交试验

    1mg/ml的质粒(氯化钠制剂)稀释2倍后,做探针杂交,印记反而弥散开来,求大神指点(膜左边是样品原液和稀释2倍后的样品,右边是标准品)[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808010916534804_4574_3452368_3.jpeg[/img]

  • AFM液相实验的探针问题

    大家做液相实验,轻敲模式下用的是什么探针,以前实验室一直用的是Vecco的那个NP-20的那个弹性系数0.58N/m的那个探针针,不过现在那个新的NP的针好像比以前的薄了不少,反正液相下的轻敲模式总是不稳定,大家分享一下经验

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言:扫描探针显微镜(SPM)一般操作模式有轻敲模式,接触模式,非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式,由于这两种模式都会与样品有接触,这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝,由于针尖较粗,探针的侧面将先于针尖与样品发生接触,从而引起所成图像的失真,将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度,造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中,本来是想用探针去移动一个细小颗粒a,结果颗粒粘附到针尖上了,之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小,如下图(一)B图和C图作对比明显(框定区域为扫描区域)B图颗粒大于C图。通过这个现象,如果在磨损后的探针针尖上,堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒,会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢?如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图(一)原理:通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐,如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图(二)实验设备:BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜,仪器型号:Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪,型号:LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针,如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图(三)实验过程:选取一块玻璃片,取少量粉末颗粒分散在其上,然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较,以次确保实验的有效性,如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图(四)随机选取一颗探针,不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图(五)在图像里头随机选取两个粉末,上面颗粒命名为A,下面颗粒命名为B,进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm;如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图(六)取下探针放在另一快玻璃片上,然后放如高真空镀膜仪内,镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针,可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图(七)装上探针,寻找到同一区域,同一粉末颗粒,仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[

  • 【原创】菜鸟求疑:束流、探针电流、束斑尺寸的区别?

    我是电镜操作的一名菜鸟,用的是日本电子的电镜。最近老是被 束流、探针电流和束斑尺寸 三个概念搞混淆。我有看到文献说:束流是电子束的电子流;探针电流是聚焦电子束中的电流。那在日本电子的电镜里,束流指的是L.C.值吗?拍电镜照片时,调节 束流和束斑 分别对图像会产生什么影响? 但在做能谱时,有人告诉我:日本电子的调 束流就是调束斑(即SS),那是说束流和束斑是一个概念了吗?恳请帮助!谢谢!

  • AFM在接触模式下探针的选择问题

    大家好,我是新手,最近在准备实验的过程中遇到了一些问题,在网上一直找不到答案,特向各位请教。 最近在做一个测量弹性系数的实验,需要用到原子力显微镜的接触模式,同时对探针的弹性系数要求比较大,约为1~5N/m。接触式探针的弹性系数一般小于1N/m,不能满足实验要求,请问弹性系数较大的轻敲式探针可以用于AFM的接触模式吗? 另外,厂家提供的探针弹性系数为一个范围值,需要怎样测定探针的准确弹性系数,可以用共振法测得共振频率,再结合探针的外形尺寸来测得弹性系数吗?

  • 关于电子探针和EDS检测对制样的要求.

    本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.[quote]原文由 SeanWen 发表:引用:--------------------------------------------------------------------------------原文由 myhuar 发表:本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.--------------------------------------------------------------------------------觉得首先需要确定您要求的结果,是要测试成分呢,还是看分布等等,然后需要采用不用的方法来测试了。还有您说的脆性物质具体是什么呢?有机,无机,导电性等等……[/quote]主要的目的是看分布,就是样品中某种元素的分布情况,所谓的脆性是说如果用手稍微折样品的话,样品就会裂开,不知会不会影响测试.

  • 三坐标测球半径补偿误差

    当测针接触到工件时 , 三坐标测量机接收的的坐标值应是红宝石球头中心点坐标 , 显然 , 三坐标测量软件将自动沿着测针从接触点回退的方向加上一个测球半径值作为测量值。但该测量值是一个与测头的机械惯性有关的动态值。实际上 , 测量作为一个动态过程 , 其测量值应该考虑到从测头采点到实际向系统传送该点坐标值时发生的机器空间移动距离。尽管这个距离极小 , 但对系统计算动态尺寸有一定影响 。  在实际测量时 , 每测量一个元素 , 系统都可以自动区分测球半径的补偿方向 , 计算正确的补偿半径。在采点开始后 , 测量软件将在沿着测针接触工件的方向上对测球进行半径补偿。但被补偿点并非真正的接触点 , 而是测头沿着测针接触工件方向的延长线上的一个点。这样就造成了补偿误差 。如图 1 、 图 2 所示产生误差的大小与测球的半径及该工件被测面与笛卡尔坐标轴的夹角有关 , 夹角越大 , 误差越大。

  • 近红外荧光探针介绍

    [url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html][b]近红外荧光探针[/b][/url]采用fluoptics公司近红外荧光探针标记,AngioStamp™ 和sentidye™ .AngioStamp是一个近红外™ 肽,可以标记肿瘤和血管。sentidye™ 是脂质分子,用于淋巴结和血管成像。[b]近红外荧光探针应用[/b]肿瘤• 血管生成• 血管网• 淋巴结和淋巴管[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioStamp™ AngioStamp是[/b]以αvβ3整合素为靶点的近红外荧光探针,可用于标记肿瘤或研究血管生成。AngioStamp™ 是肽绑定到近红外荧光分子。AngioStamp™ 是两波长(700 nm和800 nm)之间的靶向探针。AngioStamp™ 兼容Fluobeam以及活体成像系统等,还可以用于显微镜。只供实验室使用。这些产品仅用于动物研究,不用于人类。[b][b]近红外荧光探针[/b]sentidye™ 近红外荧光探针[/b]sentidye™ 是近红外荧光脂质分子,可以用来标记淋巴系统或血管网。皮下注射时,sentidye™ 是由淋巴系统和标签最近的淋巴结。静脉注射后,sentidye™ 作为血池剂显示血流,血管灌注模式。[b][b]近红外荧光探针[/b]AngioLone™ [/b]angiolone™ 是angiostamp™ 分子没有近红外荧光。angiolone™ 是靶向肽,建议将您选择的荧光基团进行接枝。AngioStamp™ ,AngioLone™ 目标βαV 3整合素和可用于标记蛋白过度表达的肿瘤或血管生成。[img=近红外荧光探针]http://www.f-lab.cn/Upload/fluorescent-probes.JPG[/img]近红外荧光探针:[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/fluorescent-probes.html[/url]

  • 【分享】DNA 分子荧光探针

    介绍了各种 DNA 荧光探针的结构特征、荧光性质和与DNA 的作用方式,概述了DNA 探针在生物分子分析方面的应用,并展望了DNA 荧光探针的发展趋势和应用前景。

  • 【求助】有没有人用过开尔文探针?

    我们实验室有一台开尔文探针,可以测表面电势,表面形貌啥的,但是需要对金属试样调平,这是我们要解决的一个难题,我们现在采用圆形气泡水平仪,但是圆形气泡水平仪太大了,需要一个直径在10mm以内的,这样我们就可以把我们的开尔文探针和另一台仪器石英晶体微天平同时进行在线检测了。我想问问,首先,有没有人用过开尔文探针,由于它对金属试样的水平性要求很高,所以想知道别人是怎么调节的。其次,有没有人知道有小的圆形气泡水平仪卖的?直径小于等于10mm。谢谢各位高手~

  • 【求助】求电子探针定量分析的一些标准!!

    1、标准编号:GB/T 15074-2008 标准名称:电子探针定量分析方法通则简介: 本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。2、标准编号:GB/T 15244-2002 标准名称:玻璃的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。3、标准编号:GB/T 15245-2002标准名称:稀土氧化物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。4、标准编号:GB/T 15246-2002标准名称:硫化物矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针进行硫化物定量分析的标准方法。本标准适用于在电子束轰击下稳定的硫化物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物的电子探针定量分析。本标准适用于以X射线波长分光谱仪进行的定量分析;其主要内容和基本原则也适用于以X射线能谱仪进行的定量分析。5、标准编号:GB/T 15616-2008标准名称:金属及合金的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了用电子探针对金属及合金的化学成分进行定量分析的方法。本标准适用于金属和合金试样立方微米尺度的微区成分分析,分析素的范围是11Na~92U。本标准也适用于用配置了波谱仪的扫描电子显微镜对金属及合金做定量分析。6、标准编号:GB/T 15617-2002 标准名称:硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。本标准也适用于其他含氧盐、如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。7、标准编号:GB/T 17360-2008 标准名称:钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法简介: 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法,即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。8、标准编号:GB/T 17362-2008标准名称:黄金制品的电子探针定量测定方法简介: 本标准规定了用电子探针波谱仪进行黄金制品定量分析的技术方法和规范。本标准适用于各种K金制品含金量的测定,也适用于表面含金层厚度大于3μm的镀金制品的包金制品的表层含金量的测定。9、标准编号:GB/T 17365-1998标准名称:金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法10、标准编号:JJF 1029-1991标准名称:电子探针定量分析用标准物质研制规范11、标准编号:SY/T 6027-1994 标准名称:含氧矿物电子探针定量分析方法12、标准编号:GB/T 16594-2008标准名称:微米级长度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了用扫描电镜测量微米级长度的方法,适用于测量0.5~10μm的长度,也适用于电子探针分析仪测量微米级长度。13、标准编号:GB/T 17359-1998标准名称:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则简介: 本标准规定了与电子探针和扫描电镜联用的X射线能谱仪的定量分析方法的技术要求和规范。 本标准适用于电子探针和扫描电镜X射线能谱仪对块状试样的定量分析。14、标准编号:GB/T 17722-1999标准名称:金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法简介: 本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10um。其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。15、标准编号:JB/T 7503-1994标准名称:金属履盖层横截面厚度扫描电镜 测量方法简介: 本标准参照采用ISO 9220-1988(E)。 本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。 本标准适用于测量横截面中微米级到毫米级的金属覆盖层厚度。

  • 关于SN/T 2584-2010 中荧光探针的问题

    [b][color=#444444] [/color][color=#444444]SN/T 2584-2010 水稻及其产品中转基因成分实时荧光PCR检测方法,说明了使用的是Taqman探针,但是具体在引物探针表格中没有标明是哪种探针,请问,如果合成探针,该选择哪种探针呢?[/color][color=#444444]谢谢大家啦[/color][/b]

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