材高度长径立量仪

中图仪器CP系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能CP系列国产薄膜台阶高度测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。CP系列国产薄膜台阶高度测量仪是一种常用的膜厚测量仪器，它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。CP系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200沉积薄膜台阶高度测量仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；工作过程CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。产品应用CP系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术参数型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪一、主要用途安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪是根据安全帽GB/T2812-2006、GB2811-2019生产，主要用于测试安全帽的垂直间距和佩戴高度。广泛应用于特种劳动防护用品监督检验站、建筑科学研究院、建筑工程质量检测站、电力部门以及安全帽生产企业。 二、主要特征1、头模采用插口式，无需再更换数显尺，方便快捷的更换头模。2、人性化横显尺设计，观察无盲区，提高了测试的方便性和舒适度，解决了竖式数显结构操作人员歪头观察的弊端。3、配置专用测试仪1#和2#头模各一个。 三、安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪主要指标1、标尺刻度准确度：0.1mm。2、佩戴高度分辨率：0.01mm。3、配带高度分辨率：0.01mm。 四、适用标准GB/T 2812－2006《安全帽测试方法》GB 2811－2019

鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium从设计、性能、稳定性、耐用性以及安全性都是非常棒的，从设计、性能、稳定性、耐用性以及安全性都是非常棒的，应用理念也非常的简单易学，不需要经过任何的培训就能够熟练的操，方便、快捷、实用，可以直接连接电脑储存数据，安装非常的简单，只需几步就可以完成。产品特点：1、手持充电款，适合市场的需求和应用；2、技术成熟，设施完善，可在任何环境下使用；3、内置储存器，可自动分类储存测量数据；4、测定数据响应速度快，不需要等等就能查看结果；5、设备技术比较成熟稳定，安装性做的也比较到位。鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium能够节约不少的时间，使用特别的方便，外观设计小巧，轻便容易携带，使用也比较顺手，操作也比较简单易懂，可为设备配备计算机和打印机同事采用一键校准和一键测定的功能。技术参数：1、功率：220V±15％；2、测量温度：0-55度；3、误差率：±1mm；4、电源要求：110-220V；5、储存测量数据：1000条。鸡蛋蛋白高度重量测量仪QCD-Medium采用的是一键测定操作模式，省略了复杂的操作步骤，可与计算机和打印机进行串口连接进行对设备的操作，实现全自动操作模式，告别传统复杂的操作模式，在基础上增加了和电脑进行连接进行数据的分析非常的方便实用，一键校准模式，可以在短时间内完成校准任务，方便实用。

鸡蛋蛋白高度测量仪QCD-Starter测量方法简单，性能稳定，双通道，测量性能更稳定，只需要几秒就能够完成测量，技术成熟，设施完善，可在任何环境下使用，设计非常的小巧简单大方，技术成熟设备完善，性能稳定可靠，在操作方面属于易操作型，各项指标符合要求，采用的是德国测量技术，测量时无需连接其他的设备。产品特点：1、手持方便，使用简单，性能稳定可靠；2、操作简单，安装特别的方便快捷；3、内置自动储存器可储存1000条测量信息；4、标准化的测定数据，能够在几秒内测出所需数据；5、采用的是一键测量模式和多功能调节功能；6、整机全不锈钢组成，清洗非常的方便；7、操作非常简单，性能比较稳定；8、内置储存器，可自动分类储存测量数据；9、设备的性能比较稳定可靠，测量速度快。基础参数：1、使用温度：0-40度；2、电源要求：110-220V；3、储存测量数据：1000条；4、电源要求：110-220V；5、测量温度：0-40度；6、功率：220V±10％。鸡蛋蛋白高度测量仪QCD-Starter开机后即可使用，无需预热，也无需连接其他设备，技术性能稳定可靠，可以满足外出携带的需求，可以在任何环境下进行操作，无需连接其他设备，只需在电脑上进行操作即可，操作流程非常的简单，各项的设施也不够完善，现在的电子技术含量相当的成熟。

仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象，水分，营养等等)，另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理： Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。 应用： 不同经营方式(干旱/灌溉程度，施肥方式，耕作方式，间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤，降雨量，海拔，气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响，准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力（风力，压力）作用下的变化，在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间，因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时，其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化，可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明，树木没有年轮，植物生长节奏很难观测。 产地：德国Ecomatik公司技术参数：性能指标: 数据采集器： 型号：U型数据采集器 通道：4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率：12bit 内存：32K，可存21600个数据 机箱：密封防水箱 接口：RS232 电源供应：碱性电池，保证两年以上供电 传感器 测量范围：11mm，通过重调测量范围可一直扩大 准确性：7&mu m 分辨率：7&mu m 线性：± 0.5% 温度系数：0.04%/℃ 应用环境：温度：-30℃~40℃；湿度：0~100% 重量：13g (不含电缆) 电缆长度：标准电缆长2m，可延长至100m 传感器型号 型号：DF型水果蔬菜直径测量仪 应用范围：水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径 可测量植物的尺寸：直径0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤植物：对植物没有损伤 温度系数：极小 材质：不锈钢，铝合金 尺寸/重量：18× 15× 1.5 cm,52g主要特点：特点： 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出，无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施

HT-ZWZG-B植物株高测量仪1.1 产品简介： 株高是植物遗传形状的重要表征，有的植株要求测量高度达到5米以上。本便携式株高测高仪通过智能手机连接来高精度快速自动测量植株高度。 1.2 主要技术指标 1、通过手机扫描农作物条码自动获得植株编号，并通过激光测距仪来一键测量获得农作物植株高度。2、通过传输自动将激光测距的植株高度数据发送至手机，并对应到植株编号，同个编号可有多个测量数据，以便测量数据更稳定。3、植株高度测量范围：0.2米~5米（单株测量时间≤2秒，测量误差≤±2.0mm）。4、测量结果可保存和输出至EXCEL表，并可通过云平台保存数据，多设备随时随地查看。手持部分总重≤750g。 1.3 标准配置 1、激光测距仪1台2、测距仪固定夹1付3、安卓手机1台4、碳纤维4米伸缩杆1付5、测距尺1付

测量系统带双读头的光栅测量系统确保出色的精度及稳定性；动态的测量系统确保了高重复性；气浮系统使测量仪的移动更为轻便与平滑；精密的测头运行于不锈钢制成的导轨上；马达驱动测量滑块使测量运行更为简便；测量仪关机后 , 其测头校准数据依然完整保存；内置充电电池操作时间长 , 有利于独立完成多个测量项目；内置的温度传感器配合完成温度补偿；控制器功能键图示大而清晰；带背景灯的图文 LCD 显示屏读数方便；自带说明标识 / 图标可作为操作向导；操作提示及菜单可选择多种不同的语言；可以在工件上设置参考零点；通过 RS232 或 USB 接口输出数据并完成后续的数据处理；通过 Opto RS232 接口连接至其它外接设备；后续的软件升级可为测量仪提供更可靠的技术保障；自动待机模式；可选择自动关机功能 , 关机后所有测量数据都将全部保存

多参数变送器 多参量喷嘴流量计 多参量长径喷嘴流量计产品特征：◆喷嘴流量计的压力扔掉较小；◆节约能源；◆对比坚固耐用；◆合适高温高压流体；◆广泛运用在电力、化工等作业的蒸汽流量测量；喷嘴流量计包含标准喷嘴(ISA1932喷嘴)、长颈喷嘴两种。其方案制造均符合世界标准ISO5167或国家标准GB/T2624的规矩。产品原理： 标准喷嘴由垂直于轴线的进口平面有些A、圆弧形曲面B和C所构成的进口缩短有些、圆筒形喉部E和为防止边沿损害所需的维护槽F构成，其取压办法上游取压口选用角接取压，取压口可按角接取压设置，也可设置于较远处。 喷嘴总长度：当0.30≤β≤2/3时，喷嘴长度=0.6041d当2/3≤β≤0.80时，喷嘴长度={0.4041+(0.75/β-0.25/β2-0.5225)0.5}d 节约设备喷嘴流量计上游面由垂直于轴的平面、廓形为圆周的两段弧线所断定的缩短段、圆筒形喉部和凹槽构成的喷嘴。节约设备喷嘴流量计的取压办法仅角接取压一种。长径喷嘴上游面由垂直于轴的平面、廓形为1/4椭圆的缩短段、圆筒形喉部和也许有的凹槽或斜角构成的喷嘴。长径喷嘴的取压办法仅D-D/2取压一种。多参数变送器 多参量喷嘴流量计 多参量长径喷嘴流量计主要参数:▲公称通径(mm）: DN50-DN1000▲公称压力(MPa):≤10▲环境温度：-20℃-55℃▲流体介质温度： ▲功用设罝：可根据用户恳求选配有关外表，结束信号远传(可具有现场总线功用），▲智能化抵偿、闪现流量或质量流量、标准体积流量等。▲适用介质：分外合适高温高压蒸汽和水、也可用于各种气体、液体；▲公称口径:DN50-500mm (DN500亦可方案、出产)；▲作业压力:≦42MPa&bull 作业温度:-50℃ - 650℃；▲取压办法:角接(单独环室、法兰环室一体或直接钻孔)取压；▲喷嘴设备办法:法兰(直接钻孔兼取压件)、紧固件夹持式法兰、环室、紧固件夹持式夹持件(兼取压件)焊接式；▲实施标准:IS05167 GB/T2624&bull 精确度:符合标准:±1.0 %；▲材料:法兰或夹持件:按介质温度可选碳钢、合金钢、不锈钢等▲喷 嘴:不锈钢304、316；多参数变送器 多参量喷嘴流量计 多参量长径喷嘴流量计：●适用介质：分外合适高温高压蒸汽和水、也可用于各种气体、液体；●公称口径:DN50-630mm；●作业压力:≦42MPa&bull 作业温度:-50℃ - 650℃；●取压办法:径距(D-D/2)取压；●喷嘴件设备办法:配带并焊接上、管段再按径距(D-D/2)设置取压孔；●实施标准:IS05167 GB/T2624；●精确度:符合标准:±2.0 %；●材料上、管段按介质温度可选碳钢、合金钢、不锈钢等●喷 嘴：不锈钢304 316；多参数变送器 多参量喷嘴流量计 多参量长径喷嘴流量计特点：1.可电池供电现场显示无须外接电源工作1-2年2. 全隔离输出抗干扰性设计，屏bi干扰3.可输出脉冲、电流(4-20mA)、485(modbu-rtu)信号4.自带温度压力传感器5.气体、蒸汽自动温度压力补偿6.量程比1:60 1:100 1:200 1:4007.精度 0.05 级 0.1级 0.2级 0.5级8.气体可显示温度、压力、工况流量、标况流量等参数9.蒸汽可显示温度、压力、密度、质量流量等参数10.可对流量传感器线性进行分段矫正11.微差压可以测量10Pa-6000Pa12.用户不需要做任何调试装上即可使用13.开放平台，可根据用户要求定制算法14.可靠性高，用户不需做任何维护15.传感器逐点补偿，温度稳定性高16.隔爆设计，隔爆等级ExdIICT4

一、小麦夹角茎粗测量仪产品简介：小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦夹角茎粗测量仪应用广泛：1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期： 室内考种时期。5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。三、小麦夹角茎粗测量仪技术参数：测量范围和误差：1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。2、麦穗形态测量范围： 5——20cm。穗长误差： ±2%。小穗数误差： ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围： 0-180°。作物粗： 0-5.2cm。夹角测量误差： +5%。4、作物茎粗测量误差： ±1%。5、千粒重测量误差： ±2%。6、株高测量范围： 0.1-1.1m。测量误差： ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率：1600*7205、摄像头：1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期：伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期：从植株基部（或分蘖节处）量到穗顶（不包括芒）的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度：375mm+375mm+350mm测量精度： 1mm测量范围： 10——1100mm外壳材质： 铝合金软件系统： Android2.2.3小麦夹角茎粗测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆，手机，识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度，拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪，使测量过程更规范，更准确。4、完善识别内容：自动识别结果中显示识别的高度数据，手动录入作物数据（如：品种、生育期等）完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期，种类，测量人，区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理：分析结果可查看，可将图片和数据excel导出。7、数据上传：自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台，实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数，方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦夹角茎粗测量仪技术参数1、支撑材料：不锈钢2、支架材料：黑色塑料3、背景材质：白色树脂4、测量范围：作物夹角：0——180°；作物茎粗：0——6cm5、测量误差：作物夹角±1°；作物茎粗：±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2、大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，1300万像素+200万像素双摄；3、测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4、手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准；5、手机和作物之间可以进行自由距离设置，适合多种植物的测量，适应性强；6、压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7、环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8、自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9、数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10、自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11、作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪，基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域，4.2小麦夹角茎粗测量仪技术参数外形尺寸： 460*320*10mmEVA背板尺寸： 420*295*2mm底板材料： 黑色双面细磨砂亚克力测量范围： 5——20cm测量误差： ±2%图像分辨率： 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计： 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏： 安卓系统，1300万像素 3、多穗同时测量： 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度：4、测量速度快： 拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定： 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正，提高测量的精确度。6、适应性广： 无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡： 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大： 50G存储数据,可看历史记录，相对生长速率等。9、数据查看多样化： 拍照分析后即可滑动查看结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式10、自动生成数据列表： 测量时间，图片，GPS位置信息，穗长等信息，节约数据整理时间。小麦夹角茎粗测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机（已安装软件） *110、航空箱 *111、使用说明书 *1

长颈瓶法测定甲醛释放量该仪器的基本原理是：将一块具有一定暴露面积的测试样品，安放在容积为500ml的容器内，在温度为40℃的情况下静止放置，经过一段时间甲醛从测试样品中释放出来，从而测定样品甲醛释放量。该方法符合欧洲标准 EN 717-3；1996《木质板材 甲醛释放量测定——长颈瓶法测定甲醛释放》，广泛应用于林业研究院所、检验检疫部门、建材生产企业等相关单位对人造板甲醛释放量的测试。适用标准：欧洲标准 EN 717-3；1996《木质板材 甲醛释放量测定——长颈瓶法测定甲醛释放》“Wood-based-panels-Determination of formaldehyde release-Part 3 Formaldehyde release by the flask method method，EN717-3-1996” 型号：VEOUS-L

DB010型场景恐惧实验系统实验原理：场景恐惧实验系统（FCS）用于小型啮齿类动物（大、小鼠）环境相关条件性恐惧实验研究。啮齿类动物在恐惧时会表现出特有的不动状态（immobility），动物在这种情况下倾向于保持静止不动的防御姿势。抗抑郁药和抗中枢兴奋药可以明显缩短不动状态持续的时间。实验过程中，实验对象被给与一个声音信号（条件刺激），随后给予电击（非条件）刺激。该训练称为条件性训练，训练结束后实验动物进行声音信号或环境联系性实验。一般情况下啮齿类动物对相应的环境和不同环境下同样的声音信号都会做出明显的条件性恐惧反应，如静止不动。这种测试可以在训练结束后立刻或几天后进行可以提供在条件信号影响下短期和长期记忆的信息。实验步骤：实验分为三个阶段：第一阶段：条件性训练（1 天）无刺激 180s声音信号 30s电击 2s无刺激 20s第一阶段为训练实验，实验动物被给与条件性声音刺激。第二阶段：环境相关（2 天）无刺激 180s第二阶段将实验动物放入第一阶段中的环境中以期评价环境相关的条件性恐惧程度。第三阶段：改变的环境相关信息（2 天+2h）无刺激 180s声音 180s无刺激 60s改变环境信息（比如在实验箱中放入一个分隔板、改变光源和背景噪音或用其他溶液清洗实验箱等）后观察动物的条件性恐惧程度。刺激的顺序由实验者决定。实验结束后通过软件系统对记录的数据进行分析。以上的实验中，第二阶段没有给与任何刺激但是实验动物表现出明显的环境相关性恐惧。在第三阶段，同一只动物在改变了环境后没有表现出任何不动反应（活动性减少），但是在给与声音信号后，可以观察到明显地条件性恐惧反应。实验硬件：1 实验箱组件：由铝合金、医用有机玻璃制成，方便拆卸更换，无毒无味，外观美观坚固耐用。实验环境由场景集控器控制，集控器集成了通风扇、蜂鸣器、LED 白光灯和红外灯等，安装于实验箱顶盖上，用来提供实验所需的环境及条件性刺激信号。2 条件控制器：用于人工控制声音发生、光源、电刺激等3 电击器：条件性恐惧电击器（与金属栅栏相连），另一端与控制器相连。装有电击模块的微处理器提供持续的电流刺激，通过软件可调刺激电流。场景恐惧实验分析系统场景恐惧实验分析系统场景恐惧实验分析系统场景恐惧实验分析系统

中图仪器CP系列高精度薄膜厚度台阶测量仪集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，具备超高的测量精度和测量重复性。它主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。应用场景适应性强，对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。中图仪器CP系列高精度薄膜厚度台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，它对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。中图仪器CP系列高精度薄膜厚度台阶测量仪采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象，水分，营养等等)，另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理： Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。应用： 不同经营方式(干旱/灌溉程度，施肥方式，耕作方式，间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤，降雨量，海拔，气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响，准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力（风力，压力）作用下的变化，在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间，因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时，其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化，可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明，树木没有年轮，植物生长节奏很难观测。 产地：德国Ecomatik公司技术参数：性能指标: 数据采集器： 型号：U型数据采集器 通道：4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率：12bit 内存：32K，可存21600个数据 机箱：密封防水箱 接口：RS232 电源供应：碱性电池，保证两年以上供电 传感器 测量范围：11mm，通过重调测量范围可一直扩大 准确性：7&mu m 分辨率：7&mu m 线性：± 0.5% 温度系数：0.04%/℃ 应用环境：温度：-30℃~40℃；湿度：0~100% 重量：13g (不含电缆) 电缆长度：标准电缆长2m，可延长至100m 传感器型号 型号 DR型半径生长测量仪 应用范围 树枝，树干的半径 可测量植物的尺寸 直径8cm 是否损伤植物 树干上要钻两个直径4mm的小孔 温度系数 极小 材质 不锈钢，铝合金 尺寸/重量 14× 15× 1.5 cm,60g主要特点：特点： 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出，无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施

一、产品用途TPMS-1小麦亩穗数测量仪也叫小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法，可以测小麦亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，对小麦的品种筛选、小麦产量预测、高产栽培、良种选育、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用，适用于农科院、学校，育种公司，种子站等。 二、应用范围小麦亩穗数测量仪广泛应用于农科院、学校、育种公司、种子站。三、功能特点1、多种标定方式，结果更精准：小麦亩穗数测量具有十字标定物（0.25m2）和方形标定物（0.5m2）2种标定方式，以便计数结果的交叉验证。2、适用范围广，满足不同客户需求：十字和方形标定物分别适用小麦种植较稀和较密时使用，针对多种小麦种植应用场景。3、AR辅助拍照，有效克服盲拍：小麦种植高度过高时，搭配使用AR眼镜和蓝牙自拍杆的组合方式进行辅助拍照，实时获取手机画面。4、高效批量分析：可同时检测和批量分析60张照片的亩穗数量（≤60张），并可获取其平均值，可先拍照后批量处理。 5、软件功能强大：软件具有连续拍照、水平检测、语音播报、图片水印、图片区域面积裁减、遮挡率、边界面积调节和灵敏度补偿、批量添加品种名称等功能。6、自动换算千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。7、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。8、智能修正：手动触摸屏幕进行修正，使数粒准确性达到100%。9、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。10、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。技术参数适用范围：麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦外形尺寸：十字标定物：765*765*(750~1600)mm 标定杆可上下伸缩调节高度方形标定物：707 mm*707 mm测量误差：小麦亩穗数≤±5%硬件配置1、十字标定杆：四球式面积标定支撑组件*12、方形标定物：方形面积标定塑料组件*23、数据采集器：超大彩色手机*14、自拍杆*15、AR眼镜*1小麦亩穗数粒

产品描述高度尺QM-Height(高精度ASOLUTE 数显高度尺)采用新型、高精度、高分辨率绝 对原点 型线性编码器进行位置检测。 便捷的图标键。 可通过特有的处理方式 (跟踪测量检测圆 的顶点) 进行内径／外径测量。 可选择多种类型的测头。 带有背光照明的大型液晶显示。 通过设置上、下限公差，进行 GO/±NG 判断。 判断结果超出公差范围时，显示器背光 从绿色变为红色，公差判断一目了然。• 滑块提升旋钮(用于行程)／滚轮(用于测量)。 带有SPC 和RS-232C 数据输出。* 带有球型测头校正块(12AAA715) 的型号技术参数 测量范围: 0 - 465mm 或0 - 715mm 滑杆行程: 350mm 或 600mm 分辨率: 0.001 / 0.005mm 或0.001 / 0.005mm / .00005" / .0001" / .0002" 20oC 时精度*: ±(2.8+5L/1000)μm L 最 大测量长度(mm) 重复精度 (2σ): 1.8μm 垂直度**: 0-350mm 型为6μm 0-600mm 型为13μm 导向方式: 滚珠轴承 驱动方式: 手动 长度标准: ABSOLUTE 静电电容 测力: 1.6±0.5N 显示: 液晶显示 电源: AC 适配器(可选) ／电池(LR6x4) 电池操作时间: 大约260 小时*** (使用背光照明时大约为6 小时) * 使用标准 ?5 偏心测头 ** 使用杠杆测头(MLH-321)或Mu-Checker (M-411) *** 260 小时 (背光照明处于节能方式) 6 小时(背光照明处于全开 状态) 选件 12AAC072: 深度测头 12AAA792: 千分表(?8mm 轴套) 夹头 12AAA837: 千分表 (?3/8 轴套) 夹头 12AAA793: 测头延长夹(85mm/3.3") 12AAF667: ?2mm 橄榄球型测头 957261: ?2mm 球型测头 957262: ?3mm 球型测头 957263: ?4mm 球型测头 12AAB552: ?10mm 球型测头、L=55mm 12AAF670: ?5mm 盘型测头 12AAF671: ?10mm 盘型测头 957264: ?14mm 盘型测头 957265: ?20mm 盘型测头 12AAA788: ?4mm 球型偏心测头 12AAF394: ?5mm 球型偏心测头 12AAA789: ?6mm 球型偏心测头 226116: 杠杆千分表适配器(?6mm 轴套) 05HZA173: 划线器 264-504: DP-1VR 936937: SPC 电缆 (1m) 965014: SPC 电缆 (2m) 526688: AC 适配器 (100V) 526688A: AC 适配器 (120V) 526688D: AC 适配器 (220V) 526688E: AC 适配器 (240V/220V) 宁波中品检测技术有限公司致力于精密检测设备的代理销售，将先进的测量理念及手段介绍给国内急待提高产品质量的制造型企业,这些检测仪器在汽车、摩托车制造、液压、航天航空、轴承、油泵油嘴、精密机械加工、铸造等行业得到了广泛应用并收到了良 好效果。 随着中国经济的快速发展，国内的很多企业愈来愈认识到质量是企业生存的基础，极高的精度、重复性、数据成了关键问题。高性价比，使用寿命，尤其在行业中的应用经验是我们不断的追求，为企业提高产品加工质量、减少成本、降低废品率是我们不断努力的方向，让中国品质名扬天下。 公司主营产品：日本三丰量具、高度仪、粗糙度仪、轮廓测量仪、圆柱度仪、影像仪、金相显微镜、三坐标测量仪、硬度试验机、涂层测厚仪、探伤设备、三维扫描仪、测长机、非标检具、万 能拉力试验机 宁波中品检测技术有限公司，浙江代理，诚信经营，价格优势。TEL

中图仪器的CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；产品特点1.出色的重复性和再现性，满足被测件测量精度要求线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。2.超微力恒力传感器：（1-50）mg可调测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，提高扫描精度，真实反映工件微小形貌。4.顶视光学导航系统，5MP超高分辨率彩色相机5.全自动XY载物台， Z轴自动升降、360°全自动θ转台6.强大的数据采集和分析系统台阶仪软件包含多个模块，为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象，水分，营养等等)，另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理： Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。 应用： 不同经营方式(干旱/灌溉程度，施肥方式，耕作方式，间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤，降雨量，海拔，气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响，准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力（风力，压力）作用下的变化，在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间，因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时，其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化，可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明，树木没有年轮，植物生长节奏很难观测。 产地：德国Ecomatik公司技术参数：性能指标: 数据采集器： 型号：U型数据采集器 通道：4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率：12bit 内存：32K，可存21600个数据 机箱：密封防水箱 接口：RS232 电源供应：碱性电池，保证两年以上供电 传感器 测量范围：11mm，通过重调测量范围可一直扩大 准确性：7&mu m 分辨率：7&mu m 线性：± 0.5% 温度系数：0.04%/℃ 应用环境：温度：-30℃~40℃；湿度：0~100% 重量：13g (不含电缆) 电缆长度：标准电缆长2m，可延长至100m 传感器型号:DD型直径生长测量仪 应用范围： 水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径树枝 直径： 0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤：植物对植物没有损伤 温度系数：极小 尺寸/重量：27× 24× 1.5 cm主要特点：特点： 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出，无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施

包材摩擦系数测量仪 材料摩擦力检测仪mxd-02适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。另外还可用于化妆品等日化用品的滑爽性能测定。了解详细信息，敬请致电济南兰光0531-85068566包材摩擦系数测量仪 材料摩擦力检测仪mxd-02技术特征：一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数试验速度可设、可调；支持任意滑块质量该仪器满足GB、ISO、ASTM多种测试标准，测试方法可按客户需求任意选择仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测，有效地降低了系统测试误差设备由微电脑控制，搭配菜单式操作界面，PVC控制面板和液晶显示屏，方便用户进行试验操作及数据查看系统配件均采用进口元器件，性能稳定可靠专业软件可以自动进行单件、成组试验的结果统计分析和原始数据再分析、成组曲线叠加比较，以及多种报告模式直观快速地将测试结果展示给客户配备微型打印机和标准的RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 8295、GB 10006、ASTM D1894、TAPPI T816包材摩擦系数测量仪 材料摩擦力检测仪mxd-02技术指标：负荷范围：0～5N精度：0.5级行程：70 mm、150 mm滑块质量：200g(标准）；注：其他质量滑块可定制试验速度：100 mm/min、150 mm/min；注：其他速度可调环境要求：温度：23±2℃；湿度：20%RH～70%RH电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：630mm(L)×360mm(W)×230mm(H)净重：33kg仪器配置：标准配置：主机、微型打印机、200g滑块选购件：专业软件、通信电缆、500g非标滑块

一键式全自动影像尺寸测量仪是使用一种新型影像测量技术的精密测量仪器。它侧重于双远心镜头的整体成像（拍照式），结合高分辨率工业相机及高精度图像分析处理算法，通过软件计算后实现二维尺寸的测量。中图仪器VX8000一键式全自动影像尺寸测量仪一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。丰富的软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。简捷的操作流程高效的测量过程一键式全自动影像尺寸测量仪的外部接口，可在不同的生产线进行定制和集成，实现快速在线测量。具有非接触式测量功能，广泛应用于机械，注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、连接器、家用电器、计算机、液晶电视、印刷电路板、医疗设备、钟表设备等行业。包括工件的距离、半径、孔宽等几何参数。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野300×200（4角R50）高精度230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mmZ轴不移动高度±3.5mmZ轴移动75mm分辨率0.25μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731重量75kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VX8000国内一键闪测影像快速测量仪品牌是使用一种新型影像测量技术的精密测量仪器，一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。它更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域VX8000国内一键闪测影像快速测量仪品牌可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。VX8000国内一键闪测影像快速测量仪品牌在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。外部接口可在不同的生产线进行定制和集成，实现快速在线测量。具有非接触式测量功能，广泛应用于机械，注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、连接器、家用电器、计算机、液晶电视、印刷电路板、医疗设备、钟表设备等行业。包括工件的距离、半径、孔宽等几何参数。产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理，能一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。大幅有效的提升了产品的检测效率，更切合追求“快"、“准"、“稳"的现代化工业尺寸测量！产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。闪测仪外形设计充分利用空间结构，以及人性化设计理念，小巧精致，占地面积小。拍照式的测量原理有效避免了阿贝误差的产生，测量精度受现场环境、使用时间的影响较小。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

FAS-2C型气压高度计使用说明一、产品特点Ø 数字式输出、精度高Ø 适应温度范围宽、互换性强、年稳定性好Ø 体积小、功耗低Ø 抗潮湿、抗冲击、抗震动性能好二、产品描述FAS-2C气压高度传感器是我公司自行研制生产、用于测量海拔高度的气压高度计。选用高精度压力传感器，采用高性能MCU对检测数据进行分析、处理、计算，并在全工作温度范围（-50℃～+85℃）对检测信号进行温度补偿，最终得到的高度信号经过RS422/RS232（可选）接口输出。三、应用 1、汽车高度测量仪 2、惯性导航系统 3、海拔高度测量仪器四、技术指标高度量程－1000m ～ ＋20000m测试高度及误差范围高度(m)气压值(hpa)高度误差(m)-10001139.29±10-5001074.78±1001013.25±10500954.61±101000898.75±102000795.01±105000540.48±208000356.52±2510000265±3015000121.12±501800075±652000054.7±100电 源电压(v)9～30直流电流(mA)28V时20mA接口方式RS422/RS232（可选）工 作环 境工作温度(℃)-50℃～+85℃储存温度(℃)-55℃～+100℃重量(g)＜150体积(mm3)小于 42×42×18

中图仪器CP系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。CP系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。工作原理测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能CP系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VX8000一键闪测仪快速尺寸测量仪器一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。VX8000一键闪测仪快速尺寸测量仪器高分辨率镜头，1%亚像素图像处理，高精度算法分析；自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高；自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。VX8000一键闪测仪快速尺寸测量仪器软件自动对焦，保证不同操作人员量测结果一致，大大减少人为误差（手动机操作方式：手动对焦）。大幅有效的提升了产品的检测效率，更切合追求“快"、“准"、“稳"的现代化工业尺寸测量！应用领域VX8000系列可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野300×200（4角R50）高精度230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mmZ轴不移动高度±3.5mmZ轴移动75mm分辨率0.25μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731重量75kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

介质材料耐电弧测量仪售后服务承诺：质量保证：红日作为设备供应商，我公司对所提供的产品均为厂家原厂原包装，符合标准，并提品技术资料(包含安装说明书，产品装箱目录、产品中文使用说明书、合格证及保修凭证等)。产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。介质材料耐电弧测量仪本试验机是适合GB1411-2002、IPC650、IEC 61621、ASTMD495标准，并适合JEC 149、UL 746A等试验方法。应用于电机、电器和家用电器等行业的电工用塑料、树脂胶和绝缘漆等绝缘材料的耐电弧性能评定主要适用于固体绝缘材料如：塑料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质的耐电弧性能测试；耐电弧试验机采用计算机控制，试验过程中可在线观察试验曲线；自动存储试验条件及试验结果等数据，并可存取、显示、打印。试验过程描述：过程 弧电流/mA 通断时间/秒 持续时间/秒 试验所经时间/秒1/8-10 10 1/4s通 7/4s断 60 601/4-10 10 1/4s通 7/4s断 60 1201/2-10 10 1/4s通 7/4s断 60 18010 10 导通 60 24020 20 导通 60 30030 30 导通 60 36040 40 导通 60 420介质材料耐电弧测量仪售后服务承诺：质量保证：红日供应商，我公司对所提供的产品均为厂家原厂原包装，符合标准，并提品技术资料(包含安装说明书，产品装箱目录、产品中文使用说明书、合格证及保修凭证等)。产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。介质材料耐电弧测量仪应用领域橡胶类材料电学检测PCB光伏膜材料四氟、ABS、尼龙等材料薄膜材料绝缘漆油脂、硅脂、绝缘油检测云母材料陶瓷、玻璃纤维等友善的使用介面多语介面:支持中文/英文 两种语言界面 即时监控:系统测试状态即时浏览，无须等待 图例管理:通过软件中的状态图示，一目了然，易看易懂易了解，立即对状态说明，了解测试状态 使用权限:可设定使用者的权限，方便管理 故障状态:软件具有设备的故障报警功能。工步编辑■可编辑样品名称、牌号、试验条件、试验单位等 具有试验电压设置功能 可选择试验标准 可选择是否自定义或自动试验 截止條件:时间/电压/电流。语音提示:可选择是否语言提示功能。统计报告:可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式■分析功能:可对测试的数据进行统计。zui大/zui小值、平均值等。系统整合:介质材料耐电弧测量仪功能特点1 本产品采用智能控制技术，通过选择程序(IEC或 ASTM)可自动进行试验，并在工业触摸屏显示试验过程和结果。2控制系统采用西门子的 PLC和触摸屏通信进行控制。3 an全性能良好，抗干扰能力强，测试精度高。4自动化程度高，按照设定的试验要求，自动升压到设定的电压后，自动完成试验并自动归零。5 电压和电流具有自动校验功能，方便计量和校准

现如今，人力成本的不断增长对企业发展的影响越来越大，经济学者认为未来中国人力成本将会持续加速的上涨。人难招、人力成本高将会是大势所趋。这种情况下企业应及时改变运作思路，企业可通过人员的调整和现代化物流仓储的实施推广，以更少的人力完成更高的效率。相应地，也就降低了员工的人力成本外，更加提高了工作的时效性和科学性。　　商品货物的体积/重量数据对于物流/商超零售/电商/医药/是非常重量的。一方面，客户和物流企业之间的物流费用结算要对重量/体积的准确计量 企业内部数据优化管理。另一方面，及时准确的获取货物的重量/体积/条码数据对于物流企业的流程优化和决策过程也是有很重量的意义。　　传统企业往往使用普通台秤或者平台秤对货物的重量进行计量，而需要测量体积的场合则一般使用皮尺等工具手工测量。在传统的方式下，货物的计量过程由手工完成，效率比较低下 计量结果也很容易引起贸易双方的争议 在将手工所测得的数据人工输入系统的过程中，也难免会发生因人为因素而产生的数据偏差.从而对之后一系列的货物配载，运费结算等等多个环节引起不必要的麻烦。　　自20世纪90年代以来，在世界范围内，以UPS,FEDEX,DHL,TNT为代表的国际快递公司率先开始采用先进的体积测量系统来对托运货物进行快速准确的计量，并实时传送至其物流数据库中。　　为什么要使用体积重量测量仪???　　答：正常情况下想获得一件包裹到并将包裹数据上传至数据库需要哪几个步骤呢?　　那让我来为大家举个例子，如果采集一个普通纸箱的商品编码、长度、宽度、高度以及将数据上传至数据库的原始流程步骤。　　一、A人员用卷尺测量纸箱长、宽、高　　二、B人员用笔将数据记录在笔记本上　　三、C人员统一将数据输入电脑并上传数据库　　由此可见，除了消耗人工外，采集一件商品的数据需要三大步奏，但往往就是这简单的三个步奏，却是今后数据库无法合理使用的根源之处!　　问：那是为何原因造成的呢???　　答：让我们从之前的三个简单步奏说起，由于工作人员每天的工作量都非常的庞大，都是机械化的重复劳动。　　A人员在用卷尺人工测量商品的外形尺寸，由于视角、外包装、习惯手势问题会出现少许的测量误差　　B人员在用笔记录数据时，偶尔也会发生数据记录偏差，数字混淆潦草不清，比如21cm写成31cm　　C人员在录入数据的时候不小心小数点点错一位就是非常可怕的事情了，比如12.1cm可能会变成121cm 其次如果突然遇到停电或者其他不可抗因素，数据还没有及时统一上传至数据库，就会造成数据的丢失，也就意味着C人员之前的数据录入工作前功尽弃。　　听听很简单的三个测量步奏竟然存在如此之大的人为错误可能，也正会是因为这个小小的疏忽大意而会造成今后不可挽回的损失。　　在此，上海敖维科技很高兴推荐分享一款全自动化体积重量采集系统供大家参考借鉴，只需一张图，轻松带大家理解智能化机械所带来的便捷之处。　　仅需3个步骤，即可通过体积重量测量仪设备完成一个物品的体积以及重量数据的测量、同步上传。　　特点：　　毫米级精度 　　秒速测量 　　体积重量一体化 　　支持二次开发 　　一体式体积重量测量系统。　　敖维科技采用先进的传感与测量技术，为物流、仓储行业提供高精度、高可靠的体积测量产品与方案。　　AL-5系列体积重量测量仪采用模块化、小型化设计，可满足复杂业务环境与多种数据系统对接需求。　　AL-5系列体积重量测量仪专门为3C、药妆、图书、食品等小件商品的仓储与物流精益化而设计 为容积计量、费用结算、箱型推荐、配载优化等业务场景提供高精度、自动化的数据支撑，解决传统手工测量、输入额低效率与高误差问题。　　功能及特点　　卓越的性能与设计　　毫米级精度 秒级测量速度 精密模块化设计 实时数据传输 友好的人机交互 　　多种选配模块　　超声/激光传感器可选 移动电源系统 智能人机面板 拍照模块 条码识读模块 打印模块 　　超广泛行业应用范围　　电商、物流、仓储行业 新零售连锁行业 航运(海空)、公路快运行业 日用/化妆品行业 医药流通行业等。　　技术规格　　更多敖维科技自主研发产品：　　◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆敖维科技简介◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆　　敖维科技 (上海敖维计算机科技发展有限公司简称)是一家集条码数据平台、智能硬件、人工智能、智慧标签及供应链实施应用于一体的、国内领先的以数据连接为基础并服务于新零售、新制造的高新技术企业。　　敖维科技成立于2003年，15年磨一剑，致力于成为中国领先的智慧标签自动识别及供应链整体解决方案服务商。创立以来一直专注于利用条码、二维码、RFID以及超声波、激光等自动识别及传感技术，准确高效地采集制造工厂和物流中心等各种场景中的“物”与“物”、“物”与“人”以及“人”与“人”的信息连接到以码尚智汇链为基础的信息处理云平台，并进行数据处理应用。并以此为基础，完美实现自动识别智能软、硬件的融合与集成，1000余家知名企业见证了敖维科技智慧标签自动识别的数据化应用价值。　　：　　传真：　　邮箱：　　地址：上海市陈行路2388号3号楼2层东(漕河泾开发区浦江科技广场)

中图仪器VX系列一键快速图像尺寸测量仪是使用一种新型影像测量技术的精密测量仪器，一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。它更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域中图仪器VX系列一键快速图像尺寸测量仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。中图仪器VX系列一键快速图像尺寸测量仪在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。外部接口可在不同的生产线进行定制和集成，实现快速在线测量。具有非接触式测量功能，广泛应用于机械，注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、连接器、连接器、家用电器、计算机、液晶电视、印刷电路板、医疗设备、钟表设备等行业。包括工件的距离、半径、孔宽等几何参数。产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确，可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。