射线能量色散谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

探险者EXPLORER能量色散X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经 验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代便 携式XRF产品。 EXPLORER 9000能量色散X荧光光谱仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式土壤重金属分析仪。EXPLORER 9000可对土 壤污染物进行原位测试与修复分析，可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、 钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体 积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机，即使是重金属含量较低 的土壤也能轻松测定。应用领域优势土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理 位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地 图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、 商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异 常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。六大性能优势更便捷的操作重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测，对准即测，一秒可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。 同时检测：汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素。 超近光路设计，提高了计数率达到5倍以上，大大缩短了测试时间，完全可以满足手持检测需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。内置记忆电池，换电池不断电。更高端的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。 采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。 800万高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量更加准确。更安全的防护智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪 烁，仪器状态，一目了然。 三重安全防护功能： a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。 b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。 c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。 安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，保护您的安全。更智能的软件EXPLORER 9000 能量色散X荧光光谱仪配有专门针对土壤污染物的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打印功能等特点。 全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和专家模式）。用户模式一键检测标准土壤重金属元素；专家模式可进行增加元素，增加特定曲线等深入分析操作。 内置强度校正方法，校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

产 品 说 明Epsilon3 是一个台式能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）Epsilon3 可以处理:固体、压制和松散粉末、液体和滤膜样品。Epsilon3 从钠到铀元素的非破坏定量分析。

Genius IF多元素EDXRF光谱分析仪采用二次靶技术能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。 高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。 无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能可达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达亚ppm至100%，其卓越的性能可适用于复杂应用。轻元素探测超薄探窗能够实现对低序元素探测分析的优异性能。二次靶技术及滤光片采用专利几何结构，设计8个二次靶及8个自定义滤光片，可快速准确的测定痕量和微量元素。Analytix专用软件Analytix专用软件优异性能以及易用的GUI能够对项目分析和管理提供最快速直接的反应并得到结果。定量分析算法通过元素间修正进行多元回归分析（6个可用模型）。总计数、净计数拟合及数字滤波强度等工具。 二次靶技术全能型元素分析仪 Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。 由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。二次靶技术与直接激发模式谱图对比： 图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。 Genius IF应用领域

NEX QC为小型?轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小，只需轻轻一按即可进行测量。即使是对分析不熟悉的人员也可以轻松进行处理。 NEX QC在废弃物的再利用?再生资源化的最前线也很活跃。RPF（废物固化燃料）中氯的等级、现场进行简单筛查。当然也是一键式操作。 基本性能General能量色散X荧光检测元素范围：Na-U分析范围：ppm到百分含量空气或充氦环境检测X射线发生器ExcitationX光管 钯靶或铑靶或银靶或钼靶大于4W 50kV 电压检测器Detection高分辨率SDD检测器Peltier电制冷较大晶体面积检测器参数自动调整优良分析模式样品室 Sample Chamber大于 20cm直径×8cm样品室6位以上自动进样器32mm 可选可调节

S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备的分析性能。S2 PUMA光谱仪依靠各种软件模块（用于处理先进的无标分析Smart-Quant,地质样品专用软件Geo-Quant，水泥样品专用软件Cement-Quant和符合法规要求）增强其功能，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。S2 PUMA Series 2 – Single单样品位手动进样的S2 PUMA Series 2与S2 PUMA Series 2 XY Autochanger以及S2 PUMA Series 2 Carousel具有同样的技术优点。在样品量较少时，采用简单的进样方式。通过快速的HighSense&trade 探测器和按照人体工程学设计的TouchControl&trade （触屏控制）分析样品。如果没有配置触摸屏，可通过远程控制，或外部PC上的SPECTRA.ELEMENTS软件分析样品。- 小批量样品，高分析性能&bull 大功率50W X射线光管和10位自动滤光片转换器，优化样品激发&bull HighSense探测器：布鲁克新一代硅漂移探测器（SDD），具有超高计数率和出色的能量分辨率，可明显缩短测量时间&bull 方便且具有失效保护的进样系统- 操作简便，仅需短时间培训&bull 直观明了的TouchControl（触屏控制）软件，简单培训后，任何人员都能掌握操作方法（支持9种语言）&bull 集成式触摸屏，可以戴手套操作，无需外部PC就可进行日常分析测量任何样品仅需几分钟时间：固体、熔片、压片、松散粉末、液体、块状样品 – 使用EasyLoadTM样品托盘装入批量样品，或者将块状样品直接放入样品室。S2 PUMA Series 2为您提供了最大的样品室：450 x 420 x 100 mm。其旋转式样品托盘可混装各种样品，最多装入12个直径为32、40或51.5mm的样品，或最多18个直径为40mm的样品。S2 PUMA Series 2 Carousel是台式EDXRF分析仪中，适用于各种类型、各种尺寸样品的全能仪器。S2 PUMA Series 2 – Carousel- 适用于各种类型的样品&bull 固体、粉末、液体、&bull 块状样品，整体测量或制备后测量- 微区分析&bull 采用准直器面罩可以分析大样品中细小的颗粒&bull 光斑尺寸：1至34mm&bull 高清摄像头：样品定位和确认- SMART.QUANT FP&bull 元素分析的一键式无标样解决方案&bull 算法强大，可快速可靠地获得结果S2 PUMA Series 2 Automation是唯一一款可以专业的方式集成到全自动实验室的台式EDXRF。它可全天候（24/7）为您提供元素分析结果。通过传送带或机械臂连接样品制备模块。进样接口位于仪器的背面，因此您可充分发挥X-Y Autochanger（自动进样器）的功能。除EasyLoadTM XY样品托盘外，仪器内部的缓冲样品位可确保您随时轻松处理在线样品和离线样品。布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。

当前价格是定金，准确货期&实际价格请与客服咨询为准！谢谢 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量 更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低 更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例 新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样) 新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，同时配备样品相机及样品盘，可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能，获得精确测量，滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV，18W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测元素范围可达Na（11）- U（92）。滤光片考虑不同的应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

EDX-7000/8000/8100 能量色散型X射线荧光分析装置采用高性能的SDD检测器，确保硬件优化，具有前所未有的高灵敏度高速分析和高分辨率。可以进行超轻元素分析（EDX-8000/8100)。采用电子制冷，无需液氮冷却。具有X射线管自动老化功能。 范围 测定对象：固体、液体、粉末 测定范围：11Na-92U(EDX-7000) 6C-92U(EDX-8000/8100) 一次滤光片：5种+OPEN自动交换 分析气氛：大气、真空、氮气 软件：定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、背景FP法 样品室尺寸：可达W300mm x D275mm x H100mm(不包括R部分）

仪器简介：S2 RANGER是德国布鲁克AXS有限公司全新设计的能量色散型X射线荧光光谱仪，可以分析粉末、固体、液体、镀层、泥浆、薄膜、切削等各种类型样品，元素测定范围从11Na-92U，含量范围从ppm-100%。全面升级的S2 RANGER采用第四代XFlash® 410 SDD硅漂移探测器，不需要液氮，分辨率优于145eV@ MnKa 100Kcps。即使在计数率高达250Kcps时分辨率也不下降。通过直观的触屏控制(TouchControl)操作，简单易学。自动进样器、计算机、触摸屏、打印机以及真空泵等完全集成在一起，设备占用空间小。只有一个电源接口，没有电缆、软管等，仪器安装、移动非常方便。在测量液体或松散粉末样时采用先抽真空再冲氦气重复进行方式，优点是空气赶走得快，氦气消耗量少，并且可以根据样品的挥发程度选择在常压氦气还是减压氦气模式下测量。技术参数：技术参数 元素范围：11Na~铀92 浓度范围：ppm ~ 100% 样品类型：松散粉末、固体和液体 样品尺寸：液体、松散粉末：最多50 毫升 固体： 直径40mm，对于自动进样器 固体： 直径75mm，对于手动进样 样品制备：直接进样、样品杯、粉末压片、玻璃熔片 自动进样器：28位自动进样器 （选项） 连续进样 最大直径40mm，最大高度40mm，最大样品重量200克 TouchControl： 集成12英寸TFT 触摸屏 X-射线光管：Pd 靶 最大功率：50W，最大电压：50 kV，最大电流2mA 初级光路滤光片：9位自动滤光片交换器 探测器：XFlash® 硅漂移探测器 分辨率：145 eV@ Mn Kα，100, 000 cps 帕尔贴冷却（不需要液氮） 真空泵：内置集成 氦气冲洗系统：内置集成 – 需要氦气供应 测量模式：真空：固体样品 氦气：液体和松散粉末 空气：Ti22及以上元素 打印机：内置集成热敏打印机 网络：内置调制解调器和以太网接口 自动化：支持LIMS 数据交换 电源：110/240 V, 50/60 Hz, 最大功率消耗 1 kVA 外部冷却水：不需要 尺寸：65 cm x 80 cm x 60 cm, 96 kg （高×宽×深，重量） 质量保证与安全：DIN EN ISO 9001:2000 CE 电器安全认证 符合EN954-1标准“安全类别No. 3” 和 DIN 54113标准的规定 主要特点：主要技术特点 可对固体、粉末及液体样品进行定性、定量及无标样定量分 析，元素范围11Na-92U，含量范围ppm至100%。 通过直观的触屏控制(TouchControl)操作，简单易学，即使没有计算机操作经验的人也可以应用自如，经简单培训就可以获得高质量的分析结果。 自动进样器、计算机、触摸屏、打印机以及真空泵等完全集成在一起，设备占用空间小， Pd靶X光管，最大功率50W，最大电流2mA，最大电压50kV，配有9位初级光路滤光片。 第四代XFlash® 410 SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于135eV@ MnKa 100Kcps，即使在计数率高达250Kcps时分辨率也不下降。 先进的DuraBeryllium™ 技术探测器窗膜，坚固、无泄露、耐压，完全免维护，后期无消耗。 1位进样器及28位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 触屏上实时显示自动进样器的状态，随时可以装样、卸样而不会造成混乱。实时显示谱线信号和各部件的状态 有四种操作模式:大气（Ti）、真空、基本氦气（高挥发性样品）及辅助氦气（低挥发性样品）。 RoHS-QUANT软件，应对RoHS & WEEE欧盟指令，直接测量Cd、Pb、Hg、Cr、Br等有害元素，检出限小于5ppm。 单一电源接口，安装非常方便、快速。 尺寸：1625px x 2000px x 1500px, 80kg(高x宽x深，重量)。 应用：冶金、石油、化工、机械、电子、家电、陶瓷、水泥、建材、地质、矿产等领域。

便携式EDXRF光谱仪P-Metrix为快速现场检测提供实验室级结果质量 P-Metrix是一台基于能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，用于定性及定量分析的便携式实验室级光谱仪。其作为一款高性能的分析仪器，结合了台式EDXRF分析仪器的性能和安全性，同时具备了便携式设备在现场的机动性和性价比优势。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能达50kV，10W，400μA，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，为现场应用提供实验室级别的性能。滤光片配备多达6种可切换滤光片以提供更高的精度和性能。自动刻度根据周围环境系统自动进行刻度。超大测量腔室目前便携式EDXRF仪器中最大测量腔室。用户界面友好工业级触摸屏和集成的完整PC功能及易用的图形化界面。样品摄像机集成的摄像机能够覆盖感兴趣的区域。Analytix专用软件基于Analytix专用软件,可在现场快速、方便的采取行动并得到结果。电池供电现场移动式提供4小时电池供电及外配充电器。自助式维护设计采用低维修成本的自助式维护，诸如探测器、多道分析器（MCA），控制器及PC板等均可轻松替换。P-Metrix优秀的机动性P-Metrix的重量仅为16kg，其设计符合人体工程学，是现场实验室使用的完美选择。P-Metrix可选配密封加固人体工学便携箱以安全舒适的运输到现场。P-Metrix在现场可独立通过电池供电(长达4小时)。续航方式可以通过车载充电器充电、也可以通过额外的电池和可选的外部充电器充电。多种选择支持系统在现场持续工作。 P-Metrix强大的性能重量轻：仅16kg。超大测量腔室尺寸：30.4 X 26.45 X 10 cm。X射线管性能：50kV，10W，400μA。硅漂移探测器（SDD）能够提供高计数率应用，低至125eV的出色能量分辨率，元素分析范围可达C（6）-Fm（100）。多达7种初级滤光片可降低噪声，对元素周期表中的元素提供最佳的检测性能。触摸屏配合内置电脑支持在各种环境中对P-Matrix全方位操作，配置包括SSD硬盘，GPS，GPRS，WiFi，Mini HDMI和USB接口等。微光斑尺寸可达至~0.3mm。样品摄像机聚焦于小部件及特定感兴趣区域。样品滞留传感器检测系统关闭后样品是否滞留在腔室内，并提供报警。系统支持氦气和真空环境检测以提高对轻元素的探测能力。可选密封加固人体工学便携箱。P-Metrix安全和保障仅当测量腔室闭合后系统才可启动。测量过程中系统被移动则终止测量。内置X射线屏蔽装置。自带密码保护功能。样品滞留传感器。P-Metrix应用领域石油及化工元素分析 P-Metrix可准确测定燃料，油品和润滑剂中痕量元素的含量。我们卓越的解决方案涵盖了从研发阶段到加工及质量控制的整个生产过程。 P-Metrix广泛应用于石油及化工领域，识别元素并确定各种基质（固体，粉末和液体样品）中存在的实际元素浓度。P-Metrix能够为此提供一种低成本的定量分析方法，可以快速得到结果，而不需要进行样品制备，并且符合多个ASTM标准和法规。主要应用及法规：ASTM D7212, D7220, D7039, D7751, D5453；ISO 8754, 13032, 20846, 20884, 13032, 20847, IP531。ASTM D4294 (S元素分析)。Mo, Ba, Mn元素检测。ASTM D6481 (未使用的润滑油): Ca, P, Zn, S。金属磨削中元素检测: Sb, Sn, Mo, Ti, Ni, Cd,Fe, V, Pb, Cr, Cu。润滑油中P, S, Ca和Zn元素分析。矿业与地球化学元素分析 P-Metrix提供采矿和矿物材料的现场定量分析。便携式系统将调整接收结果的频率从几天减少到几秒，这也使它成为勘探行业的理想设备，为临界测量(包括低LOD)提供了卓越的精度和精度等级。专业应用：铁、铀矿。煤炭、钻石、石灰石。油页岩，岩盐和钾。贵金属-金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)、钯(Pd)。L线,稀土元素。锡石、Sb、Cd、S元素。轻元素，如Mg、Al、Si、P、S和Cl元素。金属及合金元素分析 P-Metrix可在多种金属工业过程和质量控制中起着关键性作用。无损元素分析可应用于从矿石到成品合金过程的每一步中。 该系统可方便、快速地对不同等级的刚才进行排序，并可形成方便的QA处理工具，提供即时的测量结果。 使用基于复杂的分析库支持的P-Metrix进行合金分析，已成为当前标准做法。P-Metrix可识别大多数合金并在几秒钟内完成化学分析，可快速轻松地分类以及识别不同等级的合金。合金等级：铁和钢。低合金和碳钢。不锈钢。铜，黄铜\铅，青铜，铝、青铜\铅，铝。镍合金，锌合金，钴合金，钛合金。焊锡-锡，铅和银。 食品与农业元素分析 在农业食品部门，土壤组成和肥料的使用，以及在植物和作物内养分的吸收和潜在有毒元素的水平都是至关重要的。EDXRF是业界公认的分析技术。P-Metrix提供快速、准确和精确的定性和定量分析结果。 为了获得额外的营养价值，食品生产过程中添加各种矿物质和金属，这些物质必须受到密切监测，以符合美国食品药品监督管理局(FDA)和欧洲药物管理局(EMA)等食品管理规定。这一分析还可以发现在生食品和加工食品中可能产生的不良添加剂和污染物质。几种常见的应用：面粉，大米和其他谷物中的铁元素测量。橙汁、奶酪和其他食物中的钙元素测量。奶粉中的铁元素测量。生面团中的铝和磷元素测量。P-Metrix专业分析软件：Analytix准确、全面、易于理解的测量结果。广泛的应用，适用于在短时间内简单配置完成的多项测试工作。简单易用的GUI，具有高度直观的界面，可以由不同级别的用户操作，完成各种基本的分析任务。客户-服务器操作员模式，通过Wi-Fi或GPRS进行实时数据传输，可以全局轻松管理多个系统。可在现场轻松完成分析过程，相应结果可以传输到其他分布式客户端。软件特点基本参数发分析基本参数方法根据X射线物理特性和ED-XRD图谱区域中基本参数的测量值，实现无标样刻度，测量X射线强度与样品中元素浓度之间的关系。元素库定义合金等级、元素组成，提供合金材料的定性定量分析和其他属性。定性及定量分析用户预设定性及定量图谱分析。快速分析快速准确的图谱采集和自动峰识别定性分析。深度分析高级图谱采集设置和定性分析，包含6中不同的顺序采集和预设定义程序。自动能量刻度自动能量偏移修正刻度。Analytix工作流程高端ED-XRF实时数据收集分析解决方案满足您的分析需求轻松建立分析流程

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS2.0应对手段。追求省时省力，高速筛选分折 降低运行成本、减少日常维护量 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的 筛选分析功能 配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义深入浅出 利用［筛选分析］画面、操作简单方便 从主成分判定到条件选择全部实现自动处理配备所有必要功能 标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能 超大样品室，可直接测试大型样品