荧光射线矿石分析

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    奥龙集团传承60余年中国射线仪器研制历史 丹东奥龙射线仪器集团有限公司是中国射线仪器行业技术力量与综合实力雄厚的民营高科技企业。奥龙集团传承60年中国射线仪器研制历史。奥龙集团旗下拥有上海奥龙星迪、丹东奥龙电子、奥龙检测服务、丹东奥龙中科传感技术四个子公司。奥龙是专业X射线仪器和材料试验仪器的开发商和产品制造商,也是X射线检测解决方案的服务商。 丹东奥龙射线仪器集团有限公司坐落于辽宁省“五点一线”沿海经济带上的丹东临港产业园区;占地面积3万平方米,建筑面积1.7万平方米;拥有一支技术过硬、行业领先、经验丰富的科技队伍;拥有完善的企业管理系统和行业领先水平的现代化生产环境和研发、生产、检测设备;是中国射线仪器制造与应用服务行业的领跑者;是无损检测行业的全球领导厂商美国GE的合作伙伴。 奥龙集团产品的技术含量和质量居国内领先地位;连续荣获辽宁省名牌产品称号并主导国内市场;中国发射的“神舟载人飞船”有多项系统使用奥龙集团生产的X射线探伤设备实施无损检测并取得成功,奥龙人为中国航天事业发展做出了贡献。奥龙主要荣誉:国家首批高新技术企业通过ISO9001国际质量体系认证ISO14001国际环境管理体系认证ISO45001:2018职业健康安全管理体系通过欧盟CE认证承担国家重大科学仪器设备开发专项国家x射线实时成像高技术产业化示范工程基地全国模范院士专家工作站 辽宁省企业技术中心辽宁省著名商标辽宁省名牌产品辽宁省软件企业拥有百余项国家专利和计算机软件著作权辽宁省工业CT仪器专业技术创新中心工业CT获改革开放40周年机械工业杰出产品奖获国家级专精特新“小巨人”企业奥龙主导产品:● 工业CT● X射线衍射仪● X射线探伤机● X射线晶体定向仪● X射线数字成像检测系统● X射线荧光光谱仪● 管道爬行器● 硬度计● 微焦点X射线检测系统● 活体小动物2D、3D成像系统● 开放式微焦点X射线管● 生物学X射线辐照仪● 安全检查仪● X射线检测服务产品应用领域:● 航空航天、兵器、船舶● 电力、电子、管道检测● 铸件检测● 安检、防爆检查● 轮胎、轮毂检测● 珠宝、文物古董,岩心检测● 直缝、螺旋钢管、锅炉焊管● 医疗、生物检测● 材料质量检测 ● 植物、种子检测● 焊接质量检测● 辐照检疫检测● 管道检测● 小动物辐照研究●气瓶、压力容器检测 ● 药品、食品检测● 火车各部件检测● 蓝宝石、单晶硅定向● 岩心检测分析● 材料分析、物相分析   奥龙长期专注于无损检测、材料试验机等系列产品的研发与运营,产品不仅畅销国内市场,而且还远销美国、德国、英国、印度、澳大利亚、荷兰、马来西亚、印尼、泰国、南非、沙特阿拉伯、香港、台湾等世界五大洲的50多个国家和地区。 产品广泛应用于国防、航空航天、造船、汽车、压力容器、机械、冶金、石油化工、电子信息、输变电、耐火材料、食品安全、科技教育、卫生等行业领域。 奥龙,一个立足丹东,产品辐射国内外市场的集团企业,正以技术、管理、品牌和规模的企业优势,紧紧围绕“提升核心能力,打造奥龙国际品牌”的战略,积极推动企业向着更高水平的目标迅猛发展。地 址:辽宁省丹东市振兴区爱河大街66号 (原丹东临港产业园区富民大街46号) 销售热线:400-168-8858电 话:0415-6278777 3141333 网 址:www.aolongcn.cn传 真:0415-3458588 3458688 电子邮件:al@aolongcn.cn
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  • 深圳市超现电子材料科技有限公司提供I-CHEQ(合金,ROHS,矿石,土壤)的快速(几秒钟)便捷的检测仪器(台式和手持荧光光谱分析)美国艾克(ICHEQ)中国销售服务中心授权商家。 专注于研发、制造便携式光谱仪,领先于X射线荧光(XRF)分析行业。我们的光谱仪已被应用于医药、环保、钢铁、电子、矿石、石化等多个行业领域,美国艾克靠前代产品2009年成功研发上市。 其产品广泛应用于合金分析、金属材质鉴别(PMI)、矿石现场分析以及资源普查、环境监查、土壤重金属分析等领域。
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  • 依科视朗国际有限公司(YXLON)是一个具有创新精神的高科技公司,专业从事工业X射线检测设备的开发制造,具有超过百年的丰富而悠久的历史,是目前世界上规模最大、系列最齐全的工业X射线检测设备制造商。YXLON的前身可追溯到1895年。当伦琴于1895年11月发现了X射线后,谬勒先生(C.H.F.Muller)吹制了世界上第一只X射线管,几周后使用这只X射线管拍出了第一张人体X光片。1896年Muller在德国汉堡开始了X光管的生产。1899年Muller申请了世界上第一只水冷X光管的专利,并于同年获得伦琴学会的金奖。1927年飞利浦全面收购了C.H.F.Muller公司,同年飞利浦研制出金属X射线管和旋转阳极X射线管。1930年推出首台为无损探伤而制做的X射线设备,亦标志着飞利浦工业X射线设备走向了新时代。1973年研制出第一只金属陶瓷X射线管(160KV/19mA),此后,逐步取代工业用玻璃X射线管。1983年把高稳定/中频高压发生器引进市场,1990年首只真正450KV金属陶瓷X射线管面世(450KV/10mA),1992年飞利浦研制出ComScan层析扫描系统而荣获德国工业部颁授的最有创意奖。1993年飞利浦工业X射线汉堡工厂荣获ISO9001品质证书,1994年飞利浦工业X射线部成员荣获“伦琴奖”。1997年飞利浦工业X射线部与丹麦ANDREX合并,1998年并购了Lumenx(美国),成为一个多国的工业X射线检测设备专业公司。为塑造一个新的专业形象,于1999年启用新的公司名称“YXLON International X-ray GmbH”和商标,总部设在汉堡,从此开创了一个新的时代。依科视朗公司作为全球性的公司,在世界各地都设有销售和服务机构,可以在世界范围内为用户提供以射线为基础的无损检测解决方案。 在航空航天、汽车制造、铁路机车、造船、压力容器、铸造等行业中,依科视朗公司以其丰富的经验提供最佳的解决方案,能够与任何现有的生产过程紧密结合,生产出符合最高级别质量和安全标准的工业产品。其产品线从最基本的X射线部件,图像处理单元,包括固定式和便携式射线机,直到标准化或客户定制的X射线系统以及CT系统。 依科视朗公司设在汉堡总部的应用实验室,拥有一支高素质的工程师和科学家组成的专家队伍,配备了最新技术的X射线装置、测试设备和图像处理系统。具有丰富经验的技术人员会对客户的检验要求进行详尽的分析,以确定射线无损检测在最大程度上满足其要求,为客户确定最佳的解决方案。 由于依科视朗的产品质量、性能、公司规模、产品门类等一直处于世界领先地位,因此享有很高声誉,在世界各地均占有较大市场份额。在中国,依科视朗的X射线系统遍及工业X射线检测应用的各个领域和行业,特别是在汽车及零部件制造行业,国内主要的汽车公司及其配套厂家等都大量使用依科视朗公司的产品。 依科视朗公司提供在工业无损检测领域里最为深入的客户支持计划,由于有来自世界各地训练有素的技术人员从最近的地点为用户服务,响应时间也可以减到最短。在中国,依科视朗公司在北京、上海、青岛、西安、贵州等地设有的办事处及维修站,配备有专业的技术工程师和零备件库存,可为国内用户提供高质量、直接快速的本地化技术咨询和售后服务。YXLON,助您发现质量背后的奥秘!
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荧光射线矿石分析相关的仪器

  • 秉承20多年X荧光光谱仪研发经验,天瑞仪器全新一代便携式XRF矿石分析仪--探索者EXPLORER7000再次带来了一场分析领域的改变。EXPLORER7000引入数字多道技术,使检出限更低,稳定性更高,适用面更广,性能媲美台式机 小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用,使探矿工作更为简单、轻松。充分挖掘矿山价值高清摄像头,可对被检测的矿脉或矿点部位进行更直观的观察,并对开采过程进行精确管理和控制,随时检测矿石品位。对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行精确快速分析,为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。环境监控对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测,评估矿山环境的修复情况,监测好矿山周边的环境。地矿行业应用优势个性化定制工作模式多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,根据客户需求定制工作模式。准确界定矿山边界内置GPS功能,在野外可随时搜索卫星信号,在测试时可随时记录测量的经纬度、海拔高度,确定取样点的地理位置信息,并随测试报告同时保存。获得的坐标分析数据可绘制成矿山矿石分布图,从而快速普查大范围矿区,准确掌握矿脉走向,界定矿山边界,做到优先开采富矿区,大大提高生产效率。内置蓝牙功能,配置蓝牙打印机后,可实现重点矿区原位测试的“边测边打”功能。六大性能优势更便捷的操作重量轻,体积小,人体工程学把手设计,配有专用仪器套,更易抓握,野外使用更方便。270°可旋转5寸高清屏,支持多点操控,任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计,具备防水防尘功能,可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品,可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试,也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测,对准即测,一秒可报结果。性能堪比台式机,检测效果又快又准。同时快检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、铟、锡、锑、铪、钽、钨、铼、铂、金、铅、铋、镁、铝、硅、磷、硫元素,并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。超近光路设计,仪器无需充氦气,可检测从Mg开始的轻元素,完全可以满足特定用户的需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池,续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器,保证电力供应。内置记忆电池,换电池不断电。更高端的配置微型光管、Fast-SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入,使其具有台式相近的测试精度。采用超高主频及大内存,超大存储空间,可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术,保证每秒有效采谱计数可达500kcps准直滤波系统,其组合达到极限12组,满足客户的不同条件下的检测需求。内置800万像素高清晰摄像头,随时观察样品测试位置,使测量更加精准。更安全的防护智能三色预警系统:LED三色长灯带设计,360度无死角显示。通电开机时绿灯亮,测试红灯闪烁,设备故障黄色灯闪烁,仪器状态,一目了然。三重安全防护功能:a:自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏。b:采用加厚防护测试壁,有效防止散射。c:配送防护安全罩,防周边轻基体散射。安全联动锁装置,当软件无法控制关闭,轻轻一按,第一时间保护您的安全,守护最后关卡。更智能的软件EXPLORER7000便携式X荧光矿石分析仪配有专门针对矿石行业的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、操作简易等特点。全新的智能软件,一键智能操作,采用双模设计(用户模式和专家模式)。用户模式一键识别矿样类别 专家模式可进行增加元素,增加特定曲线等深入分析操作。内置强度校正方法,校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
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  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料(固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单,可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品,符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择 X-MET 光谱仪卓越性能X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。应 用X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert废金属回收√√√材料可靠性鉴定(PMI)检查√√制造与 PMI QA/QC√√√贵金属 √√√监管机构合规筛查(消费品、包装、原材料…)√√ X-MET8000 Expert CG环境土壤筛查√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo矿石和矿物√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo金属镀层厚度测量√√√ X-MET8000 Expert / Expert CG科技考古√√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo比较型号X-MET8000 SmartX射线管:40kV滤光片:单一检测器:大面积 SDD最高样本温度:400oC符合 IP54 等级Thick Kapton窗口:保护以预防探测器的窗户损坏校准:基本参数法(FP)内置摄像头 (可选)X-MET8000 OptimumX射线管:40kV or 50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准:基本参数法 (包括轻元素分析)内置摄像头(可选)小光班准直器(可选)针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片X-MET8000 ExpertX射线管:50kV滤光片:6位滤光转换器检测器:大面积 SDD最高样本温度:100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC(可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)内置摄像头小光班准直器 (可选) 针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片
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荧光射线矿石分析相关的资讯

  • 新国标应对丨锌精矿X射线荧光分析
    锌精矿化学分析方法以往都是采用湿法化学或ICP/原子吸收法,今年新增了第22部分,采用波长色散射线荧光分析锌精矿中Zn, Cu, Pb, Fe, Al, Ca, Mg共七种元素。标准已于2021年8月1日开始实施。 GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法第22部分:锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 岛津全系列的波长色散X射线荧光可满足以上标准对锌精矿的测试要求。部分元素测试精度实例:
  • “镓锗金属出口管制”X荧光分析仪聚焦矿石开采
    不知道各位有没有关注到一个新闻,7月3日,中国相关部门发布公告,决定自8月1日起,对镓和锗两种关键金属实行出口管制。镓金属为什么这么重要,矿石中获取镓金属,X荧光光谱仪又能怎么样作用。金属镓在全球中主要分布在中国、德国、法国、澳大利亚、哈萨克斯坦等国,其中我国镓资源储量占世界总量的95%以上,主要分布在山西、贵州、云南、河南、广西等地,在分布类型上来看,山西、山东等地主要存在于铝土矿中,云南等地存在于锡矿中,湖南等地主要存在于闪锌矿中。镓金属刚被发现之初,由于他的应用没有相应研究,人们一直认为该金属是一种可用性不强的金属,然而随着信息技术的不断发展,新能源与高科技并进的时代,镓金属在信息领域作为一种重要材料才得以受到关注,其需求量也得到大幅提升。尽管我国是世界上镓主产国之一,但是我国的镓行业还存在不少问题,由于镓是伴生矿,含量不高,镓生产企业分散,产业链存在薄弱环节,开采过程有较为严重的环境污染,高纯镓生产能力较弱,主要靠于低价出口粗镓,高价进口精镓。然而,科学技术的发展和人民生活水平的提高,镓在信息领域和能源领域的广泛应用,其需求量也将会迅猛增加。镓跟其他金属元素相比,在金属矿石中的浓度很低,镓元素是铝土矿加工的副产品,剩下的是锌加工残渣,铝土矿中的镓含量平均在百万分之五十,它是目前镓主要来源途径,而在一些锌矿石中,也含有高达百万分之五十镓。世界铝土矿资源中的镓含量预计有100多万吨,而世界锌矿中,可能含有的同样数量的镓元素。镓金属属于存储型,并非开采型。X荧光光谱仪在矿石开采中,可对矿石中各元素含量做快速检测分析,配合不断发展的高纯镓生产技术,推动我国相关产业的发展,研发新技术,为实现我国科学技术高质量发展具有重要意义。
  • 4项钨、钼矿石分析国标发布,涉及原子荧光、ICP-MS、ICP-OES
    近日,国家市场监督管理总局(国家标准化管理委员会)发布了2021年第3号国家标准,批准362项推荐性国家标准,并予以公布。其中4项标准针对钨矿石、钼矿石的化学分析方法,涉及氢化物发生-原子荧光光谱、ICP-MS和ICP-OES,分别为:《钨矿石、钼矿石化学分析方法 第19部分:铋、镉、钴、铜、铁、锂、镍、磷、铅、锶、钒和锌量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》、《钨矿石、钼矿石化学分析方法 第20部分:铌、钽、锆、铪及15个稀土元素量的测定 电感耦合等离子体质谱法》、《钨矿石、钼矿石化学分析方法 第21部分:砷量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法》、《钨矿石、钼矿石化学分析方法 第22部分:锑量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法》。4项标准将于2021年10月1日正式实施。

荧光射线矿石分析相关的方案

荧光射线矿石分析相关的资料

荧光射线矿石分析相关的论坛

  • X射线荧光光谱仪对铁矿石熔融样品的检测

    我在做X射线荧光光谱分析中经常碰到标准样品曲线拟合很好,但在试样准确度比对时结果不太理想.现我正在制作X射线荧光光谱对铁矿石熔融样品检测的工作曲线,同样遇到这样的问题,(我单位由于受矿源资源的影响铁矿石中微量组成如:S、P、Cu、As等较高—超出现有的国家标准物资含量),希望在这里能找到答案。

  • 【原创大赛】熔融玻璃片—波长色散X射线荧光光谱仪测定铁矿石中全铁及其它多种元素的分析进展

    【原创大赛】熔融玻璃片—波长色散X射线荧光光谱仪测定铁矿石中全铁及其它多种元素的分析进展

    熔融玻璃片—波长色散X射线荧光光谱仪测定铁矿石中全铁及其它多种元素的分析进展摘要: 综述了近年来国内应用熔融玻璃片–波长色散X射线光谱法测定铁矿石中全铁及其它成分这一分析技术的研究和进展,重点对标样的选择与制备、熔剂组成对制样效果的影响、氧化剂和脱模剂的选择、烧失量的影响进行了总结。对该法今后的发展方向提出了建议和展望。关键词:熔融玻璃片;X射线荧光光谱仪;铁矿石;进展目前,国标测定铁矿石中全铁方法中有汞K2Cr2O7滴定法和无汞TiCl3–K2Cr2O7滴定法。有汞法需加入5%氯化汞溶液10mL,生产分析汞的排放量是大大超过国家环境部门规定的允许排放量,造成严重的环境污染,而且有损操作人员人身健康。而无汞法操作繁锁,所配辅助溶液种类多,且不易操作易出现过失。早在20世纪60年代, X射线荧光光谱(XRF)分析就已经作为常规分析重要手段以来,国内许多学者和分析工作人员在借鉴和吸收国外同行先进经验的同时,不断努力在利用X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁方面做了大量工作。尤其是近二十年来随着计算机、分析仪器技术的迅速发展及校正干扰元素方法不断丰富,XRF测定铁矿石中全铁含量已成为一个成熟的方法,广泛用于进出口检验、炼钢 、地质等领域。除测定全铁含量外,同时还能测定SiO2、Al2O3、MgO、CaO、TiO2、P2O5等含量,且测定速度快,分析元素浓度范围宽,准确度高,完全满足日常分析的要求。本文总结了近年来的研究报道,对这一分析技术的研究和进展作了综合的介绍。1 实验方法及熔融目的1.1 实验方法 准确称取试样,加入熔剂、三氧化二钴及氧化剂和脱模剂于铂-金坩埚中,置于自动熔样机中熔融,取出冷却,制成熔融玻璃片。在波长色散X射线荧光光谱仪上测定。(分析元素测量条件略)1.2 熔融目的采用了硼酸盐高温熔融不但可以有效消除样品的颗粒度效应、矿物效应和不均匀性,同时也很好地降低样品元素间的吸收和增强效应,提高了分析的精确度和准确度。 2 结果与讨论2.1 标样的选择与制备标准样品的选择常用的三种方法⑴选用标准参考物质:目前我国铁矿石国家标准物质的研制工作进展迅速,但是品种与含量不太合理,烧结矿、磁铁精矿、赤铁矿、球团矿、贫磁铁矿、贫铁矿、褐铁矿、磁铁矿标样数量较多,缺少菱铁矿、钛铁矿、铬铁矿、钒钛磁铁矿标准系列。乌静等在选用标准物质的同时又采用这些标准物质以一定的配比合成新的标准物质相结合的方法解决铁矾土标样少的问题。⑵选用市售的高纯或光谱纯化学试剂与标准样品相结合:由于铬铁矿标样较少,李国会、谷松海[font

  • 【原创大赛】变稀释比熔融制样-X射线荧光光谱分析钼矿石

    在XRF分析中选择熔融制样作为硫化物前处理方法时,存在以下问题:以钼矿石为例,其最低工业品位仅为0.06 %,而钼精矿中Mo%要求不低于45 %,考虑矿产“三率”最低指标要求(回收率≥79%),可推断尾矿中Mo%应在0.01 %水平,若统一稀释比,则可接受的稀释比受精矿等强还原性样品所限,以此稀释比处理尾矿样品,则仪器灵敏度难以满足要求,针对上述情况,本实验选择以低稀释比(约2.67:1)处理尾矿及原矿样品,以较高稀释比(约16:1)处理中矿及精矿样品,建立了适用于钼矿石中主量至微量元素分析的变稀释比熔融制样-XRF分析方法,其中Mo线性范围涵盖尾矿至精矿,方法同时兼顾S、SiO[sub]2[/sub]等组分的定量分析。无标定量程序虽可用于任意稀释比样品的分析,但即便在充分预氧化的条件下,硫化物精矿亦难获得准确的结果。 本实验以钼矿石为研究对象,通过变稀释比熔融建立了三条工作曲线,在校正谱线重叠效应后以经验系数法校正基体效应,并以之分析系列未知样品,所得结果与ICP-OES及化学分析方法对照,总结优劣。[b]1 实验部分1.1 仪器与试剂[/b] Axios X射线荧光光谱仪(荷兰PANalytical公司),陶瓷薄铍端窗(75 μm)超尖锐铑靶X射线管,功率4 kW,SuperQ 5.1软件。样品均在真空条件下测量,仪器条件见表1。 TNRY-01C全自动熔样机(洛阳特耐实验设备有限公司),铂黄坩埚(Pt/Au=95/5,天津银鹏发展金属制品有限公司)。 钼矿石与精矿成分分析标准物质GBW07141、GBW07142、GBW07143、GBW07144,水系沉积物成分分析标准物质GBW07311、GBW07364、GBW07365,岩石成分分析标准物质GBW07107,土壤成分分析标准物质GBW07405、GBW07449,三氧化钨(≥99.99 %,国药集团化学试剂有限公司)。四硼酸锂/偏硼酸锂(12:22)([url=http://www.baidu.com/link?url=ujrw8yDGswiolK5OXmDrmBZ9kmStv-XnTi_f0sMLNutyea2vQ5RyR-HtATqM3Xex][color=windowtext]成都开飞高能化学工业有限公司[/color][/url])。碘化氨、硝酸铵(分析纯,成都市科龙化工试剂厂)。[align=center][b]表1仪器条件[/b][/align][align=center][b][img=,471,443]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709010924_01_1601883_3.bmp[/img][/b][/align][align=left]*选择黄铜滤光片。[/align][align=left]**表中Ca以前元素测量电压/电流为60 kV/60 mA,Ca及Ca以后元素为30 kV/120 mA.[/align][align=left]1.2 实验方法[/align][align=left] 先行称取~2 g熔剂铺垫于铂黄坩埚底部,而后称取~4 g熔剂于100 mL瓷坩埚内,加入样品(记录称样量,取样量为:原矿、尾矿1g至3 g,中矿、精矿0.35 g至0.80 g)及3 g NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub],混合均匀,转移至铂黄坩埚内,补加熔剂均匀覆盖表面。于600℃预氧化30 min,随后升温至1100 ℃(为保证低稀释比熔融,故未选择低温条件),熔融 5 min,加入NH[sub]4[/sub]I,摆动5 min,静置60 s后出炉,冷却后记录样片质量。[/align][align=left][b]2结果与讨论2.1预氧化程序[/b] 硫化物精矿还原性较强,若预氧化不完全,在熔融过程中可能腐蚀铂黄坩埚。为保证预氧化效果,设计验证试验如下:以标准序列中S含量最高的样品GBW07144(取样量0.5000 g,NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]2g,n=3)为实验对象,样品准备流程参照1.3,坩埚(含物料)入炉前称重,记为m[sub]1[/sub],对照空白坩埚称重为m[sub]1b[/sub],预氧化30 min后取出,称重分别为m[sub]2[/sub]和m[sub]2b[/sub],计算得样品灼烧变量((m[sub]2[/sub]-m[sub]1[/sub])-(m[sub]2b[/sub]-m[sub]1b[/sub])),仅为0.16xxg,与理论值(GBW07144中Mo、S配分与辉钼矿MoS[sub]2[/sub]相近,其差异可以解释为样品中部分S源于硫铁矿或单质硫。假设样品中S均以硫化物或单质硫形式存在,在充分预氧化的情况下,Mo、S氧化产物依次为MoO[sub]3[/sub]与SO[sub]3[/sub],0.5 GBW07144的理论灼烧变量约为0.3735 g)存在显著差异,遂将预氧化时间延长至1 h,灼烧变量增至0.29xxg。比较数据发现相比对照空白,由于发生氧化还原反应,样品中NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]消耗速度更快,在30 min内已消耗殆尽,将预氧化时间延长至1 h其质量并无变化,而对照空白中的NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]则在约40 min后方才分解殆尽,以上情况解释了灼烧变量的增加。为探索预氧化效率能否进一步提高,NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]用量依次增至3.0、4.0 g(因硝酸铵分解可能产生多种氮氧化物,根据化学反应理论计算确定其用量的方式不切实际),结果发现样品灼烧变量维持不变,即0.29xx g为通过以上预氧化程序可获得的灼烧变量上限。与此同时,我们发现根据样片质量计算所得的灼烧变量亦小于理论值,约为0.32xx g(灼烧变量=样片质量-对照空白质量-称样量),但需注意的是,样品中各待测元素对硼酸锂盐熔剂挥发的影响及样品组分的挥发均难以准确量化。因此,在通过上述验证实验判断熔融制样预氧化程序是否可行时不应依赖理论计算(因缺乏对样品中各元素赋存状态的详细研究,理论计算值必然存在偏差),在预设温度条件下,若氧化剂用量不同而样品灼烧变量基本保持恒定,即可认为预氧化程序安全有效。在此基础上本实验探索了在更低温度条件下以更低稀释比预氧化精矿样品的可行性,预氧化温度设为400 ℃,取样量增至0.8000 g,结果发现400 ℃条件下对照空白中NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]分解缓慢,即便将预氧化时间延长至1 h以上,仍有残留,且质量基本保持恒定,导致计算所得的样品灼烧变量偏低,需在30 min后升至600 ℃加速其分解,以判断与氧化效果,结果表明NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]用量依次为3.0、4.0、5.0 g的样品灼烧变量基本一致,证明在400 ℃条件下以3.0 g NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]在30 min内可氧化0.8000 g钼精矿样品,但在本实验中进一步降低精矿稀释比作用并不明显,因此工作曲线中精矿、中矿等稀释比仍维持在约16:1。此外,在处理含铅锌等硫化物的重晶石矿物时,因硫化物可能为重晶石晶体包裹,应采用较高的预氧化温度。 熔融制样定量分析的基础在于待测元素在样片中分布均匀,砷、锑、铋、碲等元素氧化物易挥发,在熔融制样过程中亦无法避免,在变稀释比熔融制样方法中,熔体表面积、流动性等可能影响挥发的因素相比均一稀释比方法差异更大,对上述元素工作曲线线性及分析结果的准确度、精密度影响亦相应增加,在进行基体效应校正及结果分析时应注意。[/align][align=left][b]2.2工作曲线[/b] 钼矿石标准物质数量稀少,且含量跨度巨大,需加入人工混标。在标准配制过程中采用如下两种方法:1.参考文献,以GBW07141与GBW07144为基础,通过改变稀释比(80~2.667:1)及两者间配比([i]w[/i][sub]7141[/sub]:[i]w[/i][sub]7144[/sub]=9~1:1)的方式建立工作曲线;2. 将GBW07141-7144与土壤、沉积物、岩石等混合,以解决中方法1中造岩元素配比单一的问题。在输入标准序列浓度时试验了两种模式:1. 样品类型选择熔片,稀释比设为可变,逐一输入称样量及样片质量;2. 样品类型选择固体或粉末压片,标准中各待测元素含量按下列公式计算后录入(即待测元素在样片中的质量浓度)。[/align][align=center][img=,320,89]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709010930_01_1601883_3.bmp[/img][/align][align=left][b] [/b]各工作曲线标准序列及浓度模式选择见下:[/align][align=center]表2 工作曲线[/align][align=center][img=,690,129]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709010931_01_1601883_3.bmp[/img][/align][align=left] 以康普顿散射内标法校正Mo、Zn、W,但造岩元素以基本参数法或理论α系数法校正均无法获得满意的工作曲线,只能选择经验系数法,其曲线外推效果较差的缺点可通过在标准中添加对应元素的方法解决,而可能出现的过度校正问题则需要以一系列不同含量水平的实际样品加以验证。1号曲线因样品来源单一,元素配分缺乏变化,对实际样品中造岩元素分析效果欠佳;2、3号工作曲线改进了上述情况,3号工作曲线相对简单直观,2号曲线的优点则在于其受灼烧变量、熔剂挥发等因素的影响更小。本实验选择3号曲线开展后续研究。[/align][align=left] 与此同时,某些中矿样品因分离过程尚未完成,干扰元素含量可能远超标准预设值,其影响可能被忽略,将导致分析结果异常。为解决上述问题,可考虑在部分标准中补充以上元素并复熔,本实验中W即为后续补充。[/align][align=left][b]2.3准确度、精密度与检出限[/b] 以实际原矿、中矿及精矿样品(在变稀释比条件下)开展精密度研究,精密度较差,未满足《DZ/T 0130.3-2006 地质矿产实验室测试质量管理规范》中标准偏差值要求,后以标准物质GBW07141、7144代替,结果有明显改善,见下表。[/align][align=center]表3 精密度实验[/align][align=center][img=,470,265]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709010933_01_1601883_3.bmp[/img][/align][align=left] 通过SuperQ软件计算得到的检出限随稀释比波动,即便参考方法建立模式二,将检出限定义为待测元素在样片中的质量浓度,但样品间基体差异的问题仍无法解决,故在讨论检出限时,应指定适用范围(如尾矿样品中Mo的检出限、精矿样品中SiO[sub]2[/sub]的检出限),以上检出限数据亦更具实用价值。[/align][align=left] 因实际样品的均匀性问题,故部分元素方法对照结果存在差异,但其中主量组分及Mo相对误差较低,相对误差较高的次量分析结果亦具有一定参考价值,同时,本方法重现性良好,因未固定取样量及熔剂用量,在称量时间方面亦有优势,适用于日常分析。与其他方法对照时CaO、MgO、K[sub]2[/sub]O的测定采用焙烧-四酸溶解-ICP-OES分析,Fe、Mo、SiO[sub]2[/sub]的测定采用过氧化钠熔融-硝酸提取-ICP-OES分析,S的测定则采用燃烧中和法。结果见表4:[/align][align=center]表4 方法对照实验[/align][align=center][img=,411,222]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709010935_01_1601883_3.bmp[/img][/align][align=center][b]3 结论[/b][/align][align=left] 本实验通过变稀释比熔融建立了适用于钼矿石选矿流程样品中主量至微量元素分析的X射线荧光光谱分析方法,在一定程度上克服了单一稀释比方法检出限不足的问题,提出了一套合理可靠的预氧化程序验证方法,指出判断预氧化效果无需依赖理论计算,当预氧化温度在400~600 ℃,使用NH[sub]4[/sub]NO[sub]3[/sub]做为氧化剂,有效预氧化时间不超过30 min。在配制标准序列过程中各待测元素浓度应呈梯度,配比多样。以康普顿散射内标法校正Mo、Zn、W,以经验系数法校正造岩元素。方法准确有效,重现性良好,变稀释比熔融方法亦可应用于锡矿石、铬铁矿的分析。[/align][align=left][/align][align=left]本实验的灵感来源于Adnan Younis, ZohrabAhmadi, Matthew G. Adams, Amir Iqbal. X-Ray Spectrometry, 2017, 46(1): 69~76。[/align][align=left]不足之处敬请指出,多多讨论~[/align]

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  • 电镜X射线发生器
    这款电镜X射线发生器是专门为电子显微镜设计的X射线发生器,广泛用于电子显微镜的X射线荧光光谱分析,是理想X射线荧光光谱X射线发生器。电镜X射线发生器紧凑的设计和滑动安装允许与样品非常接近。 专利的多毛细管光学聚焦x射线激发下降到10μ的样品斑点尺寸。 Xb提供10μm和40μm的斑点尺寸。 集成的高压电源最大功率为50瓦(35-50千伏,取决于阳极材料为1.0毫安)。 紧密耦合提供与传统“桌面”或“独立”单元相当的XRF分析结果。 Xb被设计成不干扰电子显微镜的正常操作,包括在同一样品上使用电子束,同时收集所有元素。不需要特殊的冷却电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用Xb低ppm级别的元素可以轻松识别,量化,甚至产生痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。电镜X射线发生器应用:艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品电镜X射线发生器规格 ?X 规格 阳极类型 侧窗 目标材料 Ag,Cu,Mo,Rh&W 加速电压 0-50kV 光束电流 最大1mA阳极点尺寸 10,20,40μm 准直器尺寸 专利聚毛发聚焦光学 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 风机冷却功率 100瓦 控制/安全 可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示,内部互锁快门。 联锁到SEM,键控上电开关,HV-On灯,警示灯
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    这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源,非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能,允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”(x射线)。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦(35千伏和0.1毫安,取决于阳极材料)。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作,包括在同一样品上使用电子束,同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别,量化,甚至生成痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。 应用: 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag,Mo&W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm,500μm,1000μm(其他可选) 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却,不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示。 连接到SEM,键控上电开关,集成高压电源,HV-On灯,警示灯
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    这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。
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