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标差式扫描量热仪

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标差式扫描量热仪相关的耗材

  • 扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样蚀刻线
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样,可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成,可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围,分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO,都提供可追溯和认证标样,共有4个种:Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位701-1Pelcotec CDMS-1T ISO,2mm - 1um,可追溯,没有样品台,蚀刻线个699-1Pelcotec CDMS-1T,2mm - 1um,可追溯,没有样品台,蚀刻线个Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位711-1Pelcotec CDMS-1C ISO,2mm - 1um,经过认证,没有样品台,蚀刻线个703-1Pelcotec CDMS-1C,2mm - 1um,经过认证,没有样品台,蚀刻线个Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,蚀刻线个700-01Pelcotec CDMS-0.1T,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台,蚀刻线个 Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,蚀刻线个704-01Pelcotec CDMS-0.1T ,2mm - 100nm,经认证,没有样品台,蚀刻线个 Pelcotec CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um(适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO)。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。较小的特征尺寸被嵌套在一起,以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm,厚度为525um ±10um,在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用,Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上,而对于LM应用,则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO基底:硅是是基底尺寸:2.5×2.5mm是是基底厚度:525±10μm是是唯一序列识别号是是2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴的刻度线,间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm是是仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不装在样品台上可用是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是
  • 扫描电镜直接观察样本舱
    直接观察用样本舱(QX Capsules)QX Capsules是电子显微领域一重大的具有里程碑意义的技术突破,它的出现,使扫描电镜的样品准备、图像获得发生了质的飞越。 结束了以往扫描前必需的样本制备过程,油质、含水组织、活细胞、空气粒子等各类“含水”物质可以直接在电镜下扫描。获得的结果更加真实客观,重复性更强;节省您大量的宝贵时间;不需要购置各类样品制备设备。 产品特征:l 样本制备时间显著减少或完全消除l 湿体(含水)直接成像(食物、墨水、化妆品、细胞、组织等)l 湿体成分可通过X射线进行微量分析l 适用多种染料染色的组织和细胞,同时对未经染色或固定的组织、细胞同样可以观察l 对粘着或未粘着细胞均可成像l 高精度的组织病理成像l 扫描电镜的细胞内成像 l 细胞完整表面成像l 液体结构成像及保存性能l 操作简便 产品信息:货号产品名称规格QX-102-24QX-102 Capsules :for cell biology and general liquid sample24/pkMP-10-2Multi-well Plate2/pkMA-4Multi-well Aspirator1个AT-60Aspirator Tips60/pkIB-64QX-102 Imaging Buffer1支RT-56QX-102 Calibration Capsule1个SP-202-24QX-202 Capsules24/pkSP-202-48QX-202 Capsules 48/pkQX-302-6QX-302 Capsules6/pkMP-12-2MP-12 Multi-capsule Plate2/pkIB-74QX-302 Imaging Buffer1支RT-58QX-302 Calibration Capsule1个
  • RAYLASE 检流计式光学扫描振镜
    &bull 10、14 和 15 毫米镜孔&bull 针对 1064nm 高功率激光应用的镀膜&bull 高速稳定的数字控制&bull 双轴配置通用规格涂层:Dielectric Mirror (1064nm)基底:Silicon (Si)工作温度 (°C):+15 to +35功率要求:+30 or +48VCurrent - Peak (A):Maximum: 5Current - RMS (A):2.0重复性 (μrad):2.0产品介绍 RAYLASE 检流计式光学扫描振镜有 MINISCAN III 振镜式和 SUPERSCAN IV 振镜式两种,它们都在 IP64 级防尘外壳中提供稳定的高速控制。MINISCAN III 振镜装置具有稳定的数字控制、低噪声和低漂移等特性,双轴外形尺寸为 134 x 98 毫米,结构紧凑。SUPERSCAN IV 振镜装置采用水冷式主块设计,可实现稳定的热运行,从而满足需要频繁改变光束方向、高跳频和高输入激光功率的应用需求。RAYLASE 检流计式光学扫描振镜是一系列高速和高功率激光制造应用的理想选择,如激光烧蚀、划线、表面清洁、材料切割和部件打标。这些振镜不仅在 10、14 和 15 毫米镜孔上具有 1064nm 的高反射率激光镀膜,还可针对 355 和 532nm 激光应用进行镀膜;如需其他振镜调谐或反射镜镀膜,请联系我们。请注意: 为了正确实施应用,这些高速光学扫描设备必须与 F-Theta 扫描透镜结合使用。前往 这里 可查看我们的 F-Theta 扫描透镜。产品信息标题产品编码Miniscan III 10mm 1064nm Bundle 21-948Miniscan III 14mm 1064nm Bundle21-949Superscan IV 10mm 1064nm Bundle21-950Superscan IV 15mm 1064nm Bundle21-951
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • 扫描电镜XY线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样蚀刻线
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线,可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec CDMS-XY ISO蚀刻线标样使用蚀刻技术制成,具有卓越的线缘质量,可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选,分别是 Pelcotec CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO,每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样,总共有四种:Pelcotec CDMS-XY-1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。 2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um。Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec CDMS-XY-1-ISOPelcotec CDMS-XY-0.1-ISO基底:硅是是基底尺寸:2.5×2.5mm是是基底厚度:525±10μm是是唯一序列识别号是是 产品编号描述单位709-1Pelcotec CDMS-XY-1T ISO,2mm - 1um,可追溯,没有样品座,蚀刻线个701-1Pelcotec CDMS-XY-1T ,2mm - 1um,可追溯,没有样品座,蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位713-1Pelcotec CDMS-XY-1C ISO,2mm - 1um,已认证,没有样品座,蚀刻线个705-1Pelcotec CDMS-XY-1C ,2mm - 1um,已认证,没有样品座,蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位710-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座,蚀刻线个702-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座,蚀刻线个 Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位714-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO,2mm - 100nm,已认证,没有样品座,蚀刻线个706-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ,2mm - 100nm,已认证,没有样品座,蚀刻线个该标样的特征尺寸范围见下表:Pelcotec CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为: 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线,间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm是是 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不装在样品台上可用 是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是
  • 扫描电镜专用场发射电子源9213915
    场发射电子源9213915/9217251,这两个灯丝的外形一样,适用的扫描电镜型号不同,需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪
    &bull 采用 3、5 和 10mm 的反射镜孔径&bull 具有单轴和双轴配置&bull 高性能扫描仪,适用于成像和投影应用&bull 为注重成本或空间的应用提供 ScannerMAX Compact 506 扫描仪产品介绍表面平整度 (P-V):≤λ/4 @ 632.8nm基底:Silicon (Si)工作温度 (°C):0 to +50电源要求:±24 VDC定位信号 (V) :±10电源: Power Supply Required and Sold Separately:USA: #16-045Europe: 2 x #14-571Japan: #16-045Korea: N/A*China: #16-045*See copy for power supply requirements产品介绍ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪经过精心设计,可针对生物医学、激光材料处理和激光成像应用实现最高的峰值与 RMS 扫描性能。与传统的电流计相比,Saturn 系列电流计采用更强大、更坚硬的转子,以防止在高扫描速度下出现交叉轴扫描(摆动),其低线圈电阻产生的热量更少,因此性能更高,而不会导致过热或转子损伤。这些电流计可提供具有 Y 轴安装座的单轴(1D 电流计)配置,也可提供具有 X-Y 轴安装座的双轴(2D 电流计)配置。ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪非常适用于需求严苛的成像和投影应用,例如共聚焦显微镜、激光娱乐显示屏、光学相干层析成像 (OCT)、光栅成像以及激光标刻应用。电流计采用 3mm、5mm 和 10mm 的反射镜孔径,具有保护性银膜,涵盖可见光或红外线范围内的小型到大型光束应用;若您的应用需要 Saturn 电流计扫描仪采用定制的反射镜孔径或镀膜,请联系我们。ScannerMAX Saturn 电流计光学扫描仪由 Mach-DSP 伺服驱动器驱动。该数字伺服驱动器具有紧凑的封装尺寸,可同时控制 X 轴和 Y 轴扫描仪。Mach-DSP 可以由模拟信号和数字信号控制,可以通过免费的 GUI 软件包进行访问和调节,包括内置的测试模式发生器、示波器和动态信号分析仪。Mach-DSP 伺服驱动器需要使用 ±24 的电源。每个单轴电流计系统随附以下物品:1 部 Saturn 系列电流计1 个 Y 轴安装座1 个 Mach-DSP 伺服驱动板1 根 1 公尺长的缆线(用于将电流计连接到伺服驱动器)1 个缆线套件(包括电源线和模拟输入缆线)每个双轴电流计系统随附以下物品:2 部 Saturn 系列电流计1 个 X-Y 轴安装座1 个 Mach-DSP 伺服驱动板2 根 1 公尺长的缆线(用于将电流计连接到伺服驱动器)1 个缆线套件(包括电源线和模拟输入缆线)订购信息标题产品编码3mm Aperture, Protected Silver, Saturn 1B Dual Axis Galvanometer Scanner16-0395mm Aperture, Protected Silver, Saturn 5B Dual Axis Galvanometer Scanner16-04010mm Aperture, Protected Silver, Saturn 9B Dual Axis Galvanometer Scanner16-0413mm Aperture, Protected Silver, Saturn 1B Single Axis Galvanometer Scanner16-0425mm Aperture, Protected Silver, Saturn 5B Single Axis Galvanometer Scanner16-04310mm Aperture, Protected Silver, Saturn 9B Single Axis Galvanometer Scanner16-04410mm Aperture, Nd:YAG 532/1064nm Dielectric, Saturn 9B Dual Axis Galvanometer Scanner21-969
  • 形创 扫描仪 电源适配器
    ACC-H3D-PS18 电源适配器 :电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
  • 扫描电镜专用场发射电子源9215736
    场发射电子源921 5736 ,这个型号的场发射灯丝,适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 形创3D扫描仪数据线
    形创3D扫描仪数据线 ,品名 ACC-H3D-CUSB: USB 电缆 3.0,适用于 HandySCAN - 4 米 / USB cable 3.0 for HandySCAN- 4 meters 合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
  • 形创扫描仪用数据线、电源线、备用线
    形创原装进口数据线,质量可靠,数据阐述稳定,不会出现数据传输延迟。17806282711合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样CDMS - XY ISO特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线,可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成,具有卓越的线缘质量,可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选,分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样,总共有四种:Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位693-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m,适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位697-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO,2mm - 1µ m,已认证,没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO:特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位694-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO,2mm - 100nm,可溯源,没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO:每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证,特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用,放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位698-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO,2mm - 100nm,已认证,没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表: Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为:2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1-ISOPelcotec&trade CDMS-XY-0.1-ISO基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线,间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不含样品座&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样,可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成,可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围,分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,都提供可追溯和认证标样,共有4个种:Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO,2mm - 1µ m,可追溯,没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米,放大倍数范围为10倍到20,000倍,非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO,2mm - 1µ m,经过认证,没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯,特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,可追溯,没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米,放大倍数范围高达10倍到200,000倍,适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO,2mm - 100nm,经认证,没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m(适用于Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO)。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成,采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分,而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度,比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性,因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构,CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起,以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm,厚度为525µ m ±10µ m,在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用,Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上,而对于LM应用,则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底:硅&check &check 基底尺寸:2.5×2.5mm&check &check 基底厚度:525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线,间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料:50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(2μm 和 1μm)&check &check 特征材料:20nm Cr/50nm Au(500、250 和 100nm)—&check 可在晶圆级追溯到 NIST(ISO 17025:2017 认证标准)T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证(ISO 17025:2017 认证标准)C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check
  • 扫描电镜X射线源
    这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源,非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能,允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”(x射线)。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦(35千伏和0.1毫安,取决于阳极材料)。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作,包括在同一样品上使用电子束,同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束(来自扫描电子显微镜)产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别,量化,甚至生成痕量X射线图,以查看样品中微量元素的元素分布。 应用: 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料,聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag,Mo&W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm,500μm,1000μm(其他可选) 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却,不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA,X射线开/关按钮,kV /μA显示。 连接到SEM,键控上电开关,集成高压电源,HV-On灯,警示灯
  • 高分辨率微阵列扫描仪 G2565CA
    产品特点:安捷伦微阵列解决方案采用SureScan 高分辨技术的安捷伦DNA 微阵列扫描仪工作流程解决方案* 基因表达谱 — 支持多种模式生物,在全基因组水平上研究基因转录* 比较基因组杂交 — 支持从多种样品类型及 FFPE 组织中进行高分辨率的全基因组水平的DNA 拷贝数变化的分析* 小 RNA — 提供最完善的实验室操作流程和及时更新的微阵列设计方案,分析小 RNA 表达谱并研究其在基因调节中的作用* 染色质免疫沉淀法 — 探讨蛋白质 — DNA 相互作用在转录、复制、修饰和修复过程中的作用* DNA 甲基化 — 提供高分辨率的全基因组甲基化谱,进一步了解哺乳动物 DNA 甲基化和基因调节的机理* 靶向序列捕获 — 结合下一代测序技术,关注感兴趣的关键基因组区域,解决费用问题,实现对基因多样性更加深入的研究订购信息:采用 SureScan 高分辨技术的安捷伦 DNA 微阵列扫描仪产品描述部件号高分辨率微阵列扫描仪系统G2565CA扫描仪升级,从 G2565BA 到 G2565CAG2539A 附件杂交炉旋转架G2530-60029杂交芯片夹(不锈钢)G2534A芯片固定夹, 1 阵列/片5 片/包*G2534-60003 芯片固定夹 , 2 阵列/片5 片/包*G2534-60002 芯片固定夹, 4 阵列/片5 片/包*G2534-60011 芯片固定夹, 8 阵列/片5 片/包*G2534-60014 *提供大包装的同样产品
  • 扫描电镜能谱检测标样X-Checker
    扫描电镜能谱检测标样X-CheckerX-Checker检测标样保有全系列的标准物质,可以应用于监测SEM/EDS系统性能。若想在较短时间内检测手头仪器的的性能,请选择X-Checker。锰的最强峰的半峰宽分辨率测量铝和铜的光谱校准碳用于光谱的低值校准窗口探测器高、低放大倍率的两种镍栅格(用于校准图像处理软件和放大倍率)两种栅格用于校准图像处理软件和放大倍率,检测探测器窗口是否有真空油的污染氮化硼检测光谱低能量端的性能氟源(PTFE)检测光谱低能量端的分辨率铍(Be)栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度 规格:测量误差:±5%。样品台基底:铝。尺寸:周长:1"或25.4 cm;高:7.5 mm)镍载网孔径规格:40 μm x 40 μm、18 μm x 18 μm 产品信息:货号产品名称规格80058-STX-Checker™ , Standard 个80058-BNX-Checker™ , With Boron Nitride个80058-EX X-Checker™ , Extra 个
  • 铜浆导电浆料扫描电镜样品台观察窗
    导电浆料样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液态中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;3、通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。应用领域能源银浆铝浆铜浆 产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。 产品性能 适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。 可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较
  • ScannerMAX Compact 506 双轴电流计光学扫描仪
    &bull 采用 3、5 和 10mm 的反射镜孔径&bull 采用双轴配置及保护性银膜&bull 是紧凑、轻型、低成本的扫描仪&bull 另外提供高性能 ScannerMAX Saturn 扫描仪通用规格表面平整度 (P-V):≤λ/4 @ 632.8nm涂层:Protected Silver基底:Silicon (Si)工作温度 (°C):0 to +50电源要求:±24 VDC定位信号 (V) : ±10Current - Peak (A):Maximum: 10Current - RMS (A):1.85 (Case @ 50°C)Coil Resistance (Ω):1.8转子惯性 (gm-cm2):0.014扭矩不变 (dyne-cm/A):18,400Coil Inductance (μH):280背面EMF电压 (μV/°/s):32.1型号:ScannerMAX Compact 506电源:1 x #16-045Europe (CE Marked): 2 x #14-571产品介绍ScannerMAX Compact 506 双轴电流计光学扫描仪专为具有以下特点的应用而设计:注重成本,且需要使用不影响性能的紧凑、轻型光学扫描仪。Compact 506 系列具有坚固的转子结构和低线圈电阻,因此这些电流计能实现相当快的扫描速度,而不会产生过多热量。已获得专利的位置传感器设计为这些电流计提供的信噪比可高达传统电流计的十倍,从而可以确保高质量的运动。ScannerMAX Compact 506 双轴电流计光学扫描仪非常适用于立体平版印刷 (SLA) 3D 打印、激光雷达、手持式医疗设备与激光清洁应用。这些光学扫描仪采用 3、5 和 10mm 的反射镜孔径,具有保护性银膜;若您的应用需要 Compact 506 电流计扫描仪采用定制的反射镜孔径或镀膜,请联系我们。ScannerMAX Compact 506 电流计光学扫描仪由 Mach-DSP 伺服驱动器驱动。该数字伺服驱动器具有紧凑的封装尺寸,可同时控制 X 轴和 Y 轴扫描仪。Mach-DSP 可以由模拟信号和数字信号控制,可以通过免费的 GUI 软件包进行访问和调节,包括内置的测试模式发生器、示波器和动态信号分析仪。Mach-DSP 伺服驱动器需要使用 ±24 VDC 的电源。每部 Compact 506 双轴电流计光学扫描仪随附以下物品:2 部 Compact 506 系列电流计1 个 X-Y 轴安装座1 个 Mach-DSP 伺服驱动板2 根 1 公尺长的缆线(用于将电流计连接到伺服驱动器)1 个缆线套件(包括电源线和模拟输入缆线)订购信息标题产品编码3mm Aperture, Protected Silver, Compact 506 Dual Axis Galvanometer Scanner16-0365mm Aperture, Protected Silver, Compact 506 Dual Axis Galvanometer Scanner16-037 10mm Aperture, Protected Silver, Compact 506 Dual Axis Galvanometer Scanner16-038
  • 形创、扫描仪 3mm、6mm、12mm标点
    销售形创扫描仪贴点。适合市面上的大部分扫描仪使用,粘度高,效果好,后期处理方便。无残留胶。合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
  • 扫描电镜磁性样品台
    磁性样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染,实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理 超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、疏水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。
  • EMS 扫描电镜用品 样品台
    样品大小要适合仪器专用样品台的尺寸,不能过大,样本座(样本台)尺寸各仪器均不相同,一般小的样品座为Φ3~5mm,大的样品座为Φ30~50mm,以分别用来放置不同大小的样本,样本的高度也有一定的限制,一般在5~10mm左右。 扫描电镜的块状样品制备较简单,对于块状导电材料,除了大小要适合仪器样品座尺寸外,基本上不需进行什么制备,用导电胶把样品粘结在样品座上,即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料,要先进行镀膜处理,在材料表面形成一层导电膜,以避免电荷积累,影响图象质量,并可防止样品的热损伤。粉末样本的制备:先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未粘住的粉末,再镀上一层导电膜,即可上电镜观察。 现在为了节约你寻找样本台的时间,我们提供全系列的样品座(样本台)产品供大家选择!客户购买样本台,首先要知道所用仪器的生产厂家,仪器型号,样本台上下面的直径、材质等。我公司经销的样品台可以匹配的仪器生厂家或者仪器型号有:AMRAY 1000/1200AMRAY 1000/1200/1400Cambridge S-4, Mark II, S-410...Cambridge, Phillips, Camscan, B&L, Etec, Zeiss, etc.Leo MicroscopeCoates & WelterHitachi S-450HitachiHitachi S-500JeolJeol, ISIJeol JSM 840Zeiss 样品台的材质:铝质样品座、光谱纯碳样品座(用于EDS,探测器探测不到它们).样品台的别名:样品座,大头钉,样品支架,基板等等。
  • 脂质体扫描电镜观察窗样品舱
    脂质体样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液体中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;3、通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。应用领域:生物和制药纳米药物尺寸、分散性与浓度分析;表面形态分析脂质体 尺寸/分布/浓度产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。 液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能 适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较
  • 台式扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 蔡司ZEISS标记点,GOM三维扫描仪标记点,GOM标记点,三维扫描仪标记点
    蔡司ZEISS标记点,GOM三维扫描仪标记点,GOM标记点,三维扫描仪标记点
  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • USB接口条形码扫描仪
    USB接口条形码扫描仪可将产品ID直接扫描到MiniScan EZ / ColorFlex EZ中。在USB端口自动检测到适用于:HunterLab MiniScan EZ,ColorFlex EZ
  • 布鲁克 热学/电学/磁学/光学 配件,Dimension 扫描头
    Veeco D3100 Dimension Head ( AFM Scanner )Veeco D3100 扫描头 ( AFM Scanner ) 扫描范围:90um*90umDimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术,可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。它的激光点定位系统和无需工具改变扫描技术的能力保证了仪器的适用性、易操作性和高的数据处理能力。
  • 断层扫描铜网
    断层扫描铜网这种边长1.5mm、300目的方形铜网,用于Fischione断层扫描的标本支架。该铜网的尺寸允许其在制备好的TEM样品中进一步倾斜。旋转超过90°时,识别标记和方形的形状方便参考。产品信息:货号产品名称规格74357Copper Tomography Grid, 300 mesh断层扫描铜网50/pk74357-01Lacey Carbon on Copper Tomography Grid25/pk74357-02 Lacey Carbon on Copper Tomography Grid50/pk74357-03Carbon Film on Copper Tomography Grid25/pk74357-04Carbon Film on Copper Tomography Grid50/pk
  • 美国SPI 扫描电镜用品 其他电镜配件
    银过滤膜(SPI-Pore Silver Membrane Filters)纯银制造的微孔滤膜,均匀的微孔分布其上,具有良好的抗极端化学环境及抗高温能力;而且极其薄,只有0.002" thick/51μm的厚度;可以重复利用。银过滤膜应用广泛,涉及到腐蚀性液体或高温环境时,纯银过滤膜就成为实验室过滤设备的理想选择。银过滤膜的孔径大小有0.2um,0.45um,0.8um,1.2um,3um,5um可选,滤膜的盘面大小有13mm、25mm、37mm、47mm可选,可以来电咨询。银过滤膜用于扫描电镜时,导电性好,表面光滑,极薄的膜厚(50um),样品制备简单。货号产品描述规格01170Silver Membrane Filters, 13 mm, 0.2 μm25片/包01171Silver Membrane Filters, 13 mm, 0.45 μm25片/包01172Silver Membrane Filters, 13 mm, 0.8μm25片/包01173Silver Membrane Filters, 13 mm, 1.2 μm25片/包01174Silver Membrane Filters, 13 mm, 3.00 μm25片/包01175Silver Membrane Filters, 13 mm, 5.0μm25片/包
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