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颗粒荧光电位分析仪

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颗粒荧光电位分析仪相关的论坛

  • 动态颗粒图像分析仪的研制

    动态颗粒图像分析仪的研制摘要:本文论证了研制动态颗粒图像分析仪的必要性与背景, 介绍了winner100实现动态颗粒测试的方法以及技术特征。评价了动态颗粒图像分析仪的实用价值与科学意义。关键词.. 动态颗粒, 图像分析, 粒度与形状,3 维一、问题的提出颗粒是组成材料的基本单元, 影响材料的性能的不仅是颗粒的化学组成, 颗粒的大小与颗粒的形态对材料的性能影响巨大, 因此颗粒粒度与形态的检测越来越受到各行业的重视。目前检测颗粒大小和颗粒形态的方法有多种,激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度亦、颗粒图像分析技术是最常用的技术。激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度仪, 只能检测颗粒大小, 不能检测颗粒形状；颗粒图像分析技术是一种不仅可以检测颗粒大小也可以检测颗粒形状对唯一方法, 但是由于此种技术有几个致命的缺点限制了它的进一步发展:1.样品制备困难。颗粒在载玻片上很难得到充分的分散, 由于颗粒粘连使得颗粒分析的准确性大受影响； 2.颗粒处于静态, 非球形颗粒的取向会对测试结果造成偏离；3.由于显微镜的视场有限, 被测得颗粒数目受到很大限制, 因此取样的代表性差, 重复性不好。由于以上问题, 颗粒测试中急需一种性能更加优越的测试装置, 能够获得颗粒的准确图像, 操作简便, 满足颗粒形状和颗粒粒度分析的更高要求。国际上荷兰安米德公司、德国新帕泰克公司、德国莱驰公司均推出了同时测定颗粒粒与形状的图像分析仪。国内尚无此种产品, 济南微纳公司通过3年的攻关研制的winner100 颗粒图像分析仪填补了此项空白。二、动态颗粒测试的方法与技术特征Winner100突破了传统的颗粒图像仪的工作模式, 采用超声样品分散系统分散颗粒, 高速摄像头对动态颗粒图像进行采集, 1微秒可以采集一幅颗粒图像, 用计算机对图像进行分析处理, 达到对颗粒粒度与形态进行三维同时测试的目的。其主要技术特征有：1.彻底改变了手工制样操作繁琐的局面, 样品制备操作非常简单, 分散效果好； 2.采用功能强大的动态颗粒图像分析软件, 具有高速采样、自动颗粒图像处理, 实时显示当前图像、实时分析粒度分布、连续统计分析结果, 处理策略自行编程, 多种粒径定义选择, 粒度统计、形状分析等多种功能。打印报告允许自行编辑。3.动态测试使颗粒采样数量无限增加, 统计结果真实可靠, 代表性好、重复性高；4.动态测试使颗粒不同侧面得到采样, 实现了三维测试, 彻底消除了二维测试的颗粒取向误差；粒度测试结果可以与激光粒度分析仪比美。5.winner100动态图像分析专用软件具有强大的图像处理功能；6.支持多种粒径选择和多种粒度分布, 具有多种图像处理功能及其集成处理, 支持图像采集间隔设定与实时显示颗粒形貌与当时粒度分布和累计粒度分布, 记录并显示粒度波动图, 可以输出多种分析图表, 高性能的软件使使用者的颗粒分析工作变得十分轻松方便。7.本成果不仅可用于实验室颗粒分析, 也适用于颗粒在线粒度与粒形监测。对杜会经济发展和科学进步的意义本项目突破了显微静态图像分析的局限, 在国内率先提出动态颗粒图像分析的概念；由于颗粒运动中测试, 克服了二维颗粒图像分析的弊病, 大大提高了采样代表性, 消除了颗粒取向误差, 使颗粒粘连问题彻底解决。本项成果克服了静态颗粒图像仪的缺陷, 提供了一种对运动颗粒同时进行粒度与形状分析的先进手段, 具有操作简单, 测试范围广, 代表性好, 准确可靠, 直观可视, 适用于1-6000微米的各种固体颗粒。可以广泛应用于建材、化工、石油、金属与非金属、环保、轻工、国防等众多领域的实验室和在线颗粒粒度与形状分析。无疑, 对于提高我国各行业颗粒测试水平和经济发展具有重要的实用价值。颗粒测试的基础是颗粒的表征, 本项成果提供了一种颗粒动态测试的实用手段, 因此颗粒的三维表征问题就提到了议事日程上来, 颗粒的三维表征对颗粒学的进步与发展具有重要的意义。[color=blac

  • 颗粒度分析仪有德国的牌子？

    各位专家，我们公司想采购一台颗粒度分析仪，进行气体颗粒度的分析，但是价格比较贵，听说德国的性价比比较高，不知道有什么比较好的牌子推荐下。谢谢~~~

  • 【分享】PartAn颗粒分析仪（视频演示）

    Sci-Tec公司出品PartAn颗粒分析仪（视频演示）下载后解压，会得到一可执行文件：PartAn.exe[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=93371]PartAn.rar[/url]

  • 【分享】Turbiscan在线颗粒分析仪（视频演示）

    Sci-Tec公司出品Turbiscan在线颗粒分析仪（视频演示）下载后解压，会得到一可执行文件：TurbiscanOL.exe[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=93373]TurbiscanOL.rar[/url]

  • 请教测定固体颗粒zeta电位的方法

    各位老师：我是哈尔滨工业大学在读研究生。在我的研究工作中遇到了以下问题：我想测定石英砂表面的zeta电位，其粒径为0.5-1.0mm，比重为2.4。如果使用zeta电位仪的话，是不是存在颗粒过大的问题？也可以研碎成数十微米的粒径，但是最好不要低于1微米，这样是否满足条件？还能有什么可操作的方法来测定？我的样品不需要在不同的离子强度和pH下进行分析，但是其表面会有吸附的有机物，因此不能在强酸或者强碱下进行分析。 希望各位不吝赐教！

  • 网络讲堂：11月6日 3D颗粒图像分析技术及应用案例（最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者主讲）

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif3D颗粒图像分析技术及应用案例（最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者主讲）讲座时间：2014年11月06日 10:00主讲人：Dr. Terje JorgensenDr. Terje Jorgensen 专业从事动态颗粒图像研究超过30年，最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者 全英文讲解，中文同声翻译http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】2014年麦奇克全新推出拥有专利技术的3D颗粒图像分析仪，实现动态颗粒图像实时分析，提供多于30种不同的形态参数，本次网络讲堂邀请到3D颗粒图像技术主研发者Dr. Terje Jorgensen 亲自讲解3D图像分析技术及应用案例。颗粒的大小形状与颗粒材料的结构和产生颗粒时的工艺工程有关，复杂的颗粒形状对粒径测量方法会产生很大的影响。目前，基于激光散射原理的颗粒测量仪器被广泛应用，适合不同类型的干法/湿法样品分析。但是，由于该方法是典型的统计分析方法，颗粒的散射信号由多元光电探测器接收，经过数学模型处理后得到相应的粒度分布结果，而不能得到颗粒的实际形状信息，而且，其粒度直径D定义为等效球形的光学当量体积直径。但实际上我们所测的颗粒形状千差万别，在很多对颗粒形状有要求的应用领域，例如，在磨料涂料，建筑材料，食品工业，矿物加工，制药原料，石油石化等领域会产生较大的影响。通常，一般采用显微镜法来观察颗粒的形貌和测量颗粒的大小，所谓“眼见为实”，但是所能测量的样品量极少（约0.01g），而且必须经过一定的样品制备程序，所以美国Microtrac推出了最新的动态颗粒图像分析方法，配合先进的3D图像分析技术，实时统计并显示颗粒图像及粒度分布信息，提供描述每个颗粒30多种的大小和形状的参数（直径，周长，面积，体积，圆度，球度，凹凸度，延伸度以及长宽比等），为颗粒的分析提供了最全面的参数分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2014年11月06日 9:304、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/12225、报名及参会咨询：QQ群—231246773

  • 在线熔融聚合物颗粒分析仪

    本产品为德国TOPAS公司07年开发出的产品，主要用于熔融聚合物颗粒分析，温度最高可达290摄氏度，压力最高可达150Bar。两种计数模式：一、单颗粒计数模式，测试颗粒的数目浓度和大小；二、光度计模式，测量纳米级颗粒的平均粒径和浓度。详细可查看附件！截止09年3月份的用户名单如附件中Reference list

  • 【资料】美国麦奇克公司推出新型S3500SI激光粒度粒形分析仪

    【资料】美国麦奇克公司推出新型S3500SI激光粒度粒形分析仪

    美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上最著名的激光应用技术研究和制造厂商，其先进的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥，磨料、冶金、制药、电子、石化、陶瓷、涂料、炸药等领域，并成为众多行业制定的质量监测和控制的分析仪器，作为专业激光粒度分析仪的领航者，1959年与Bell实验室合作，成立Leeds&Northrup公司， 成功推出第一台商用激光粒度分析仪（Micortrac 型号 7991）。以研究开发见长的美国麦奇克公司，首家引进“非球形”颗粒校正因子，保证了测量的准确性。 美国麦奇克公司位于风景优美的美国佛罗里达州，致力于与全球各地的代理商精诚合作，用户遍及世界86个国家和地区，其旗下所有产品均已通过ISO9001质量标准认证，GMP标准认证，欧洲EMC标准认证等。公司总部设有服务平台，应用实验室，保证24小时回复用户咨询。在中国设有技术服务中心，并有专家定期巡回访问，为用户提供及时周到的服务。 美国麦奇克公司产品线齐全：Microtrac激光粒度分析仪——从纳米到毫米的全量程解决方案；S3500SI激光粒度粒形分析仪——一台仪器，两种技术；S3500系列激光粒度分析仪——湿法、干法、干湿两用；Bluewave系列激光粒度分析仪——湿法、干法、干湿两用；Nanotrac 系列纳米粒度分析仪——可实现在线纳米粒度检测；Zetatrac 纳米粒度及Zeta电位分析仪——同时对纳米粒度和Zeta电位进行检测；Aerotrac喷雾粒度分析仪。 很多时候，客户对产品进行颗粒度测量时，既希望得到粒度分布信息，同时也希望得到粒形粒径信息。尤其是一些对颗粒形状要求很高的应用领域，实际粒形对产品质量影响巨大，但传统设备只能解决其中一种问题。如今，美国麦奇克公司在其经典热销的S3500系列激光粒度分析仪的基础上，创新性的推出融合图像分析技术的新型S3500SI激光粒度粒形分析仪。一台仪器，两种技术！同时解决您的两大困扰！S3500SI激光粒度粒形分析仪技术指标：激光粒度测量范围：0.02-2800um基本型 湿法 0.70 ~ 1000 um 高端型 湿法 2.75 ~ 2800 um 标准型 湿法 0.25 ~ 1500 um 特殊型 湿法 0.09 ~ 1500 um 扩展型 湿法 0.02 ~ 2000 um 增强型 湿法 0.02 ~ 2800 um 图像测量范围：0.75-2000um光 源: 激光衍射：专利的三激光技术，采用三个3mW 780nm固体二极管激光器； 图像分析：高性能频闪LED；分析时间： 激光衍射：10-30秒； 图像分析：1 分钟；检测系统： 激光衍射：接受角度： 0.02-163°； 检 测 器：151个检测单元，以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管； 信号采集：无需扫描，实时接受全量程散射光信号； 图像分析：像素5M，图像分辨率245[

  • 【分享】激光粒度分析仪在黄河水文泥沙颗粒分析中的应用

    转贴：中国粉体技术1、现代治黄对泥沙颗粒分析技术提出新要求黄河作为世界上最复杂难治的多泥沙河流，其主要问题是水少沙多、水沙异源、水沙不平衡。科学治黄要求及时准确地掌握河流泥沙运动规律，分析泥沙颗粒级配组成及分布。日前，黄河水利委员会提出三道防线理念治理黄河泥沙，每道防线的泥沙治理都要求大量的泥沙颗粒分析资料做支撑，因此，快速、及时、准确提供高质量的泥沙级配资料就显得尤为重要。

  • X荧光分析仪产生基体效应的种类与分析

    X荧光分析仪基体效应的种类与分析 一、X荧光分析仪分析过程中误差来源分析 在使用X射线荧光检测分析中，基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。基体效应：是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化，对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成有分析元素在内的主量元素；样品的物理-化学状态，则应含有固体粉末的粒度、样品表面的光洁度或粗糙度、样品的均匀性以及元素在样品中存在的化学态等。 二、根据样品结构的组成可以将基体效应分为两大类 1、吸收与激发(增强)效应，都随着样品基体化学组成的差异而发生变化，其主要表现为： A、原级入射线进人样品时所受的吸收效应； B、荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其它元素的激发效应； C、第三级的激发效应。 2、其它物理化学效应，会给分析线强度的测量带来重大误差，主要表现为： A、样品的均匀性、粒度和表面效应； B、化学态的变化对分析线强度的影响。 三、产生各种效应的基本特点介绍 1、[/font]吸收与激发效应 在使用X荧光分析仪分析测试样品时，检测过程中的所引起的吸收和激发效应，是由于原级入射线进入样品时所受到的吸收效应和不同性质特点的样品，当分析元素含量相同时，吸收和激发效应表现在对同一分析线的强度影响上，首先是由于样品对原级入射线和分析线的联合质量衰减系数的差异造成的。 2、粒度效应 经常测试的均匀样品，对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。经测试数据验证这种样品在给定的压紧份数下，粒度越小，荧光谱线的强度越高。对于给定的粒度来说，压力越大，即压紧份数越小，荧光谱线强度也越高。而不均匀样品则不同，在不均匀样品中，存在着各种不同的粒度或化学组成的颗粒，影响荧光谱线强度的因素会较复杂。 3、表面效应 样品表面状态和荧光谱线强度的关系至关重要。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时，其表面必须经过适当的磨平或抛光。荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关，而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者，可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除，如不能转动则应使纹沟的方向与入射和出射线所成的平面平行。 四、总结 当我们在选择使用X荧光分析仪，对测试样品元素含量进行测试分析测试时，应该选择将样品进行处理，特别是在生产过程中，已经造成表面受到创伤的样品，我们应该对其进行再处理操作，然后再进行分析检测，这样即可以降低分析过程中产生的不同效应影响，又可以有效的提升测试结果的准确度。

  • 粒径和zeta电位检测标准粒子，mRNA纳米脂质颗粒zeta电位检测稀释剂

    刚接触这个检测项目，用的马尔文的仪器，请问大家符合药典规定的粒径和zeta电位检测标准粒子用什么，大家购买的什么品牌的，标准粒径和电位是多少？做mRNA纳米脂质颗粒zeta电位检测大家用什么稀释剂，因为没有测物理常数的仪器，所以用不了较优的产品背景溶液，有什么别的稀释剂可以代替，使检测结果与真实值偏差较小。

  • 求购颗粒分析仪器

    请大家推荐下颗粒检测设备，如有设备经销商请与我联系，谢谢！测定样品为粉末，可以为蛋白，油脂，纤维，豆粉等粉状或颗粒物要求仪器测定以下指标必须包括-休止角、崩溃角、空隙率、均齐度、流动性指数、喷流性指数、筛分粒度 ；最好也能检测差角、平板角、分散度、松装密度、振实密度、压缩度、孔隙率、凝集度、喷流性指数等有类似设备的可以与我联系QQ 278066443

  • 当代激光颗粒分析技术的进展与应用

    当代激光颗粒分析技术的进展与应用

    当代激光颗粒分析技术的进展与应用任 中 京( 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 济南 250022)摘 要：简要介绍了当代激光颗粒分析技术的最新主要的进展。内容涉及测试原理的发展、仪器结构的改进、数据处理技术的突破、多次散射的处理、样品分散系统的多样化、颗粒形状对测试的影响、颗粒散射模型、工业在线应用等一系列理论和应用问题。关键词：激光，粉体，颗粒，散射，测试1 前言著名物理学家费曼曾说: 假如由于某种大灾难，所有的科学知识都丢失了，只有一句话传给下一代，那么怎样才能用最少的词汇来表达最多的信息呢? 我相信这句话是原子的假设，所有的物体都是用原子构成的 。”可见物质组成在人类文明中具有多么重要的意义。20 世纪，人们对于宏观与微观的物理世界已经有了相当深入的了解，但是对于微观粒子到宏观物体之间的大量物理现象却知之甚少。颗粒正是二者之间的中介物。如大颗粒主要表现为固体特性。随着颗粒变小，流动性明显增强，很像液体；颗粒进一步变小，它将像气体一样到处飞扬了；颗粒尺度再小，它的表面积则迅速增大，表面的分子所处状态与大颗粒完全不同，颗粒的性质将发生突变，显示出某些令人震惊的量子特性! 现在, 世界上许多优秀的科学家正在这个介观领域辛勤耕耘，大量具有特殊性能的材料将在这一领域诞生。导致颗粒性质发生如此变化的第一特征是它的大小。颗粒大小在人们的生活和生产中也非常重要。如水泥颗粒磨细些，水泥早期强度将明显提高；药品粒度越细，人体对它的吸收越好；磁性记录材料越细，存储密度越高。这样的例子不胜枚举。因此，颗粒超细化已经成为提高材料性能的重要手段。颗粒大小测定受到人们重视也就不足为奇了。人们为了测定颗粒大小，几乎采用了可以想到的一切办法。由于篇幅所限，本文只介绍激光颗粒分析技术的概况。2 激光怎样测量颗粒大小激光测量颗粒大小的方法有多种，其中包括光散射、光衍射、多普勒效应、光子相关谱、光透法、消光法、光计数器、全息照相等，本文所说的激光颗粒分析专指通过检测颗粒群的散射谱分布，分析其大小及分布的激光散射( 衍射) 颗粒分析技术。众所周知，一束平行激光照射在颗粒上，将发生著名的夫琅禾费衍射，使用傅里叶变换透镜汇集衍射光，在透镜后焦面可得到此颗粒的衍射谱。如果颗粒是球体，则衍射谱是著名的Airy 图形，中心的Airy 斑直径与颗粒直径成反比。若将一同心环阵光电探测器置于后焦面用于衍射谱的检测，再配以信号处理系统, 即构成基本的激光衍射颗粒分析系统 (见图1) 。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512221524_579009_3049057_3.jpg当光束中无颗粒存在时，光会聚在探测器中心; 当小颗粒进入光束时, 探测器的光强分布较宽；当大颗粒进入光束时，探测器光强分布较窄。如果进入光束检测区的是具有一定粒度分布的颗粒群, 则探测器的输出为全部颗粒衍射谱的线性叠加，使用反演技术可根据衍射谱反求被测颗粒群的粒度分布 。激光衍射颗粒分析系统适用于粒度大于激光波长很多的颗粒，测量范围大约在6Lm 以上，测量上限决定于透镜焦距，已知最大可测到2000Lm.激光颗粒分析系统的优点是非常突出的，其中包括(1) 测量速度快，其他方法无法比拟；(2)测量过程自动化程度高，不受人为因素干扰，准确可靠；(3)衍射谱仅与颗粒大小有关，与颗粒的物理化学性质无关，因此适用面极广。3 从衍射到散射使用衍射原理的激光颗粒分析系统的主要缺点是在小颗粒范围测量误差很大，特别是无法测量亚微米颗粒的大小。随着颗粒技术的进步，颗粒粒度迅速向超细发展，夫琅禾费衍射已不能满足测试要求，必需采用更精确的Mie 理论。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512221525_579010_3049057_3.jpgMie 散射理论是球形颗粒对单色光的散射场分布的严格解析解。夫琅禾费衍射是Mie 散射理论在特定条件下的近似。Mie 散射理论指出，当颗粒直径比入射光波长小得多时，颗粒的前向散射与后向散射场分布对称；当颗粒直径与入射光波长近似时，前向散射比后向散射强，且散射场关于入射光轴呈周期分布；当颗粒直径比入射光波长大得多时，颗粒将只有前向散射场，这正与夫琅禾费衍射理论一致(见图2) 。由此可见，Mie 散射理论比夫琅禾费衍射理论适用范围更广，更精确。为了适应小颗粒散射谱的测量，光路也发生了重大变化，原平行光路由会聚光路取代。颗粒样品由置于透镜前改为透镜之后，可接收的散射角达到70b。经改进的颗粒分析新光路测量范围从0.1um 至数百um，只要改变样品位置即可方便地调节测量范围，不必更换透镜 。至此，Mie 散射理论正式担当了颗粒分析的主角。4 多重散射激光散射颗粒分析在原理上要求被测颗粒无重叠随机分散在与光路垂直的同一平面内。但是这一要求在实际上很难做到，例如干粉从喷嘴喷出往往呈三维分布，前面的颗粒使平行激光发生散射，散射光遇到后面的颗粒再次散射，此过程经历多次，散射谱分布大大展宽，这种现象称为多重散射。可以证明，N 次散射光场的复振幅是单次散射光场的复振幅的N重卷积。颗粒分布得越厚，散射谱展宽越严重，颗粒分析结果将严重地向小颗粒偏移。为了抑制多重散射，人们曾采用了多种办法。我国学者分析了多重散射与颗粒浓度的关系，发现颗粒三维分布时仍存在最佳衍射浓度，在此浓度下，多重散射可以得到有效抑制。颗粒分布越厚，最佳衍射浓度则越小。在此理论指导下，我国研制的干粉激光颗粒分析仪，其测量结果可以同湿法激光颗粒分析仪相比。5 反演——追求真实的努力我们的测量对象很少有单一粒径的颗粒集合，往往是有一定粒度分布的颗粒群。我们所测得的谱分布是由颗粒分布函数为权重的颗粒散射谱分布对所有粒径的积分。在颗粒分析中的反演运算即通过所测谱分布反求粒度分布(颗粒的散射谱分布作为理论已知)。反演正确与否直接关系到此技术的成败。本文不想全面论述反演技术，只简要介绍两种反演思路。流行的一种方法是先假定被测颗粒粒度服从某种分布函数( 如正态分布、对数正态分布、R - R 分布等，然后叠代求取分布参数。如果预先的假定是错的，那么反演结果必错。怎样才能获得真实可靠的结果呢? 我国研究人员发展了一种无约束自由拟合反演技术，即对粒度分布函数不作任何约束，令每一权重因子独立地逼近最佳值。此技术已在仪器上应用并取得良好效果，提高了颗粒大小分辨率，保证了反演结果的真实可靠性。此技术在其他场合也有应用价值。6 大小与形状有关吗?通常认为物体的大小与物体的形状是互不相关的两个概念。近期关于颗粒学的研究表明，颗粒大小的表征不仅与颗粒形状有关，而且与颗粒测试的方法有关，这恐怕是人们预料不到的。以沉降法为例来说明。在重力场中，某非球形颗粒A 的最终沉降速度与另一同质球体B的最终沉降速度相同，则定义颗粒A 的粒径即为颗粒B 的球体直径，称为沉降粒径。二者实际体积并不相同。与此相反，体积相同的两颗粒，若形状不同，一为球体另一为非球体，则其沉降粒径也不同。由此看来颗粒大小与形状有关。与沉降法类似，激光散射法所测粒径也与形状有关。截面积相同的两颗粒，非球体的衍射谱比球体的谱宽。若用球体衍射谱度量非球体，则测试结果偏小。为了解决这种矛盾，我国学者引入椭圆颗粒衍射模型，即取非球体颗粒的最小外圆直径为长轴，取其最大内圆直径为短轴，所作椭圆即为该颗粒的椭圆模型。颗粒的球体模型发展到椭圆模型是颗粒学的一个进步，椭圆模型引入的实质就是承认颗粒大小与颗粒形状有关，并把形状因素引入大小度量的范畴。椭圆模型的引入，为激光颗粒分析用于非球形颗粒奠定了理论基础，并有效地提高了测量精度。7 从实验室到工业生产第一线事实上颗粒测试生产线早已需要一种颗粒在线检测设备。例如粉磨设备的主要功能是将原料磨细，因此颗粒大小就成为粉磨工艺的首要检测指标，但是无论是沉降法还是库尔特法，无论是图像法还是超声波法，均难担此重任。目前人们只能靠检测磨机负荷与监听磨机发出的声音来判断它的工作状态，至于产品粒度则需数小时一次间隔取样，到试验室分析，再返回现场调整磨机，由于检测不及时，导致产品过粗或过粉磨现象司空见惯，造成的浪费无法计算。现在，激光颗粒分析技术的出现与成熟，为颗粒在线测试提供了可能。激光颗粒分析技术除前面谈到的许多优点外，还有一些优点尚未引起人们的注意：(1)它可用于运动颗粒群的实时颗粒分析；(2)它不但适用于液体中的颗粒，也适用于气体中的颗粒。所有这些优点都注定了这种测试方法必定要在现代化的颗粒生产线担任在线粒度测试的主角。此技术在粉磨系统的应用必将改变磨机的控制模式，磨机将发挥出更大的潜力，能耗也将得到最大限度的节约。我国在气流粉碎机方面的粒度在线测控研究工作业已取得可喜的成果。预计不久，选粉、造粒、喷雾、干燥、结晶等许多工艺过程都将由激光颗粒分析仪担当在线分析的重任。到那时，此种技术的潜力才可得到较为充分的发挥。8 结束语激光颗粒分析技术的研究从70 年代起步，到今天才不过20 年的时间，它已经在测量精度、测量速度、分辨能力、动态检测能力等方面远远超过传统分析方法，在世界许多实验室与生产企业应用表现出无可比拟的优越性，越来越多的产品正在选择激光颗粒分析技术作为产品检验标准。此种

  • 帕纳科x-荧光分析仪更换窗口膜

    大家好，我们现有一台帕纳科的x-荧光分析仪Axios，怀疑其窗口膜有些破损了。库存里有新的膜，想尝试着自己更换，请问各位大侠，哪位知道具体可行不？一定要请仪器工程师过来吗？

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