反光标线反射系定仪

GB+23254-2009+货车及挂车车身反光标识

激光标线仪通俗点讲就是和平时我们所见过的拉线是一个作用，确保施工面或线平直。使用光源为635nm红色激光，650nm红色激光下对点，广泛应用于建筑和装修业。在钢铁冶金行业中，为钢板切边提供高亮度准直线，对冷热钢板的单边剪切和双边剪切起到关键作用避免人工划线工作强度。在木材、纸张加工行业：在预切木材前提供准直指示线。激光标线仪在大理石加工行业：大理石强度高，在切割过程中指示线不明确会切割不齐，且刀具冷却液会覆盖人工标示线，采用激光标示线有效避免了这个缺点。

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

反光偏光显微镜的应用及原理反光偏光显微镜也叫矿相显微镜。在一般大型显微镜光路中，只要加入两偏振片即可，即在入射光路中加入一个起偏振片，在观察镜中加入一个检偏振片，就可以实 　 现偏振光照明。除了起[url=http://www.gengxu.cn]偏振镜[/url]和检偏振镜外，有时还加入一个灵敏色片，用来检验椭圆偏振光，并获得色偏振 一、 起偏振镜位置的调整　　起偏镜一般安装在可以转动的圆框内，借助手柄转动调节，调节的目的是为了使起偏振镜出来的偏振光动面水平，以保证垂直照明器平面玻璃反射进入物镜的偏振光强度最大，且仍为直线偏振光。　　调整方法，是将经过抛光而未经腐蚀的不锈钢试样(光性均质体)放在载物台上，除去检偏振镜，只装起偏振镜，从目镜内观察聚焦后试样磨面上反射光的强度，转动起偏振镜，反射光强度发生明暗变化，当反射光最强时，就是起偏振镜振动轴的正确位置。　　二、检偏振镜位置的调整　　起偏振镜位置调整好后，装入检偏振镜，调节检偏振镜的位置，当在目镜中观察到最暗的消光现象时，就是检偏振镜与偏振镜正交的位置。在实际观察中，常将检偏振镜作一个小角度的偏转，以增加显微组织的衬度。其偏转的角度由刻度盘上的刻度指示出来。若将检偏振镜在正交位置转动90°，则两偏振镜振动轴平行，这时和一般光线下照明的效果相同。　　许多金相显微镜在出厂时已经把起偏振镜或偏振镜的振动轴的方向固定好，只要调节另一个偏振镜的位置就可以了。　　三、 物台中心位置的调整　　利用偏振光鉴别物相时，经常需要将载物台作360°旋转，为使观察目标在载物台旋围时不离开视域，在使用前必须调节载物台的机械中心与显微镜的光学系统主轴重合。一般是通过载物台上的对中螺钉进行调整。　　四、 偏振光照明下的色彩(色偏振)　　以上都是讨论在单色偏振光照明下的情况，如果考虑到偏振光波长的影响，即用白色偏振光照明，会产生色彩。　　在金相显微镜中进行正交偏振光的观察时，在光程中插入灵敏色片(目前多用λ=5760nm的全波片)后，各向异性的金属不同晶粒会出现不同的颜色。观察各向同性金属时，不加入灵敏色片，也会有不同颜色，但色彩不丰富。加入全波片后，色彩变得鲜艳。　　转动载物台或灵敏色片，晶粒的颜色随之变化，这主要是由于偏振光干涉的结果。　　偏光显微镜也和一般显微镜照明一样，分为明场照明和暗场照明两种照明方式。　　4 应用举例　　一、材料显微组织的显示　　1.各向异性材料组织的显示　　根据偏振光的反射原理，在各向异性的金属内部由于各晶粒的位向不同，干涉后的偏振光的振动方向的偏转角度不同，在正交的偏振光下则可以显示出不同的亮度。具有同样亮度的晶粒光轴一席话同接近，所以根据晶粒的明暗程度还可以判断晶粒的位向。对各向异性的金属磨面经抛光后不腐蚀就可以看到明暗不同的晶粒，这一点对难腐蚀出清晰组织的材料来说，是十分有利的分析途径。　　例如，球墨铸铁的组织中的石墨属于六方点阵，是各向异性的物质，在同一石墨球中具有许多不同位向的石墨晶粒，这些石墨晶粒在偏振光下可显示不同的亮度，从而分辨出石墨晶粒的方位、球状和大小。如图7(a)所示。在一般光照射下只能看到黑暗的石墨球，不能分辨石墨的晶粒。

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日【线上讲座240期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之三：镜面反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20131204/5092349/、第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、镜面发射技术应用领域二、镜面反射技术的类型、原理三、镜面反射技术光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年05月09日--05月18日答疑时间: 2014年05月09日--05月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就镜面反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年05月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日【线上讲座236期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之二：漫反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、漫反射的原理及特点三、漫反射光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年12月05日--12月14日答疑时间: 2013年12月05日--12月14日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就漫反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年12月14日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

看到红外光谱仪的反射镜表面发雾，能不能清洗，如何清洗？

【讲座预告】基于反射技术的红外光谱分析方法对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讲座分衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术三部分。讲座即将上线，大家猜猜：主讲专家会是论坛里何方人物？ ——下周一揭晓。

此法是利用检测物质受光照射发生的漫反射来记录反射光谱的。它有一个专门的反射附件，该附件可提供同时或连续照明标准物质和样品的光学系统，其原理为积分球原理。该法主要应用于食品、涂料和建筑材料等的分析，适用于固体、不溶性材料或溶液中不稳定材料的分析。

求某样品的raman峰，当激光打在样品上，而对于一定厚度的样品，由于样品的吸收、反射、散射等其他因素，光只能前进到一定的厚度，另外一部分厚度的样品可能含有其它的物质就检测不出来了。会出现这种情况吗？如果出现有什么办法解决吗？

由于雷雨天气，仪器被闪断一次，停送电只是瞬间的事情。今天开机，点火成功后几秒钟，变会熄火，异常报告显示：反射波异常，装置错误发生，互锁 RF电源本身的锁定，200V已中断。这会是什么原因造成的呢？希望朋友们帮忙

用过 TXRF8全反射X射线荧光分析仪 （北京普析）的盆友说说他的仪器怎么样呀？

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

我前一段时间做了ATR反射红外光谱，纵坐标是反射度，能不能定量分析？如果可以要怎么才能定量？ 还有，在红外软件中透过、反射、吸光度都可以转化，转化后误差有多大？是不是效果都是一样的呢？

朋友们，我现在有一种膜，可以选择一定角度的入射角透过，而其他角度全部反射，我不知道这种膜怎么设计，另外我想测试一下，同一波长，列如850nm波长，测试其60-80角度的通过率反射率，该用啥仪器来测试来，用知道的朋友告知一声，比较急，谢谢了在此

做薄膜样品的漫反射，为什么测出的吸光度值是负值？反射率超过100？另外漫反射光谱标准图中纵坐标应为吸光度还是反射率？谢谢！

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

红外分析中，散射、反射和折射都会对样品的分析结果产生影响，给谱的解析和定量带来困难和误差，而消除这些因素对测量结果的影响就要在制样阶段做很多的工作，大家讨论一下如何通过制样来消除这三方面的影响吧。

有用过全反射的用户吗？他可以测低含量的，但是他很容易测试高含量的吗？比如1~99%，测试高含量的准确度、重现性怎样？