当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

回路接触电阻测试仪

仪器信息网回路接触电阻测试仪专题为您提供2024年最新回路接触电阻测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括回路接触电阻测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的回路接触电阻测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合回路接触电阻测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有回路接触电阻测试仪相关的最新资讯、资料,以及回路接触电阻测试仪相关的解决方案。

回路接触电阻测试仪相关的资讯

  • 材料变温电阻特性测试仪
    成果名称 材料变温电阻特性测试仪(EL RT-800) 单位名称 北京科大分析检验中心有限公司 联系人 王立锦 联系邮箱 13260325821@163.com 成果成熟度 □研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产 合作方式 □技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他 成果简介: 本仪器专门为材料电阻特性变温测试而设计,采用专用高精度电阻和温度测量仪以及四端测量法减小接触电阻对测量的影响从而提高测量精度,样品采用氮气保护可连续测量-100℃~500 ℃条件下样品电阻随温度的变化。采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,能极大方便用户的使用。 主要技术参数: 一、信号源模式:大电流模式;小电流模式;脉冲电流模式。 二、电阻测量范围: 1&mu &Omega ~3M&Omega 。 三、电阻测量精度: ± 0.1%FS。 四、变温范围:液氮温度~900 ℃。 五、温度测量精度:热电阻0.1%± 0.1℃;热电偶0.5%± 0.5℃。 六、供电电源:220 VAC。 七、额定功率:500W。 八、数据采集软件在Windows XP、Windows 7操作系统均兼容。 应用前景: 本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。 知识产权及项目获奖情况: 本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • 绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前都要注意什么?
    绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前都要注意什么?绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前请仔细阅读以下内容,否则将造成仪器损坏或电击情况。1. ◇检查仪器后面板电压量程是否置于10V档,电流电阻量程是否置于104档。2. ◇接通电源调零,(注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接)在“Rx”两端开路的情况下,调零使电流表的显示为0000。然后关机。3. ◇应在“Rx”两端开路时调零,一般一次调零后在测试过程中不需再调零。 4. ◇测体积电阻时测试按钮拨到Rv边,测表面电阻时测试按钮拨到Rs边,5. ◇将待测试样平铺在不保护电极正中央,然后用保护电极压住样品,再插入被保护电极(不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路)。6. ◇电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨,每拨一次停留1-2秒观察显示数字,当被测电阻大于仪器测量量程时,电阻表显示“1”,此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下,在1min的电化时间后测量电阻,当前的数字乘以档次即是被测电阻。7. ◇测试完毕先将量程拨至(104)档,然后将测量电压拨至10V档, 后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。8. ◇接好测试线,将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档,打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如:GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定,那么电压就要升到500V)9. ◇禁止将“RX”两端短路,以免微电流放大器受大电流冲击。10. ◇不得在测试过程中不要随意改动测量电压。11. ◇测量时从低次档逐渐拨往高次档。12. ◇接通电源后,手指不能触及高压线的金属部分。13. ◇严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。14. ◇在测量高阻时,应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。15. ◇不得测试过程中不能触摸微电流测试端。16. ◇严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档,更换试样。技术指标1、电阻测量范围 0.01×104Ω~1×1018Ω2、电流测量范围为 2×10-4A~1×10-16A3、仪器尺寸 285mm× 245mm× 120 mm4、内置测试电压 100V、250V、500V、1000V5、基本准确度 1% (*注)6、内置测试电压 100V、250、500、1000V7、质量 约2.5KG8、供电形式 AC 220V,50HZ,功耗约5W9、双表头显示 3.1/2位LED显示安全注意事项1. 使用前务必详阅此说明书,并遵照指示步骤,依次操作。2. 请勿使用非原厂提供之附件,以免发生危险。3. 进行测试时,本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出,严禁人体接触 ,以免触电。4. 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差,接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬空,不与外界物体相碰。5. 当被测物绝缘电阻值高,且测量出现指针不稳现象时,可将仪器测量线屏 蔽端夹子接 上。 例如: 对电 缆测缆 芯与 缆壳的 绝缘 时,除 将被 测物两 端分 别接于 输入 端与高压 端, 再将电 缆壳 ,芯之 间的 内层绝 缘物 接仪器 “G”,以消 除因 表面漏 电而 引起的测 量误 差。也 可用 加屏蔽 盒的 方法, 即将 被测物 置于 金属屏 蔽盒 内,接 上测 量线。
  • 磁电阻特性测试仪
    成果名称 磁电阻特性测试仪(EL MR系列) 单位名称 北京科大分析检验中心有限公司 联系人 王立锦 联系邮箱 13260325821@163.com 成果成熟度 □研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产 合作方式 □技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他 成果简介: 本仪器专门为材料磁电阻特性测试而设计的,采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,极大地方便了用户的使用。 MR-150型采用电磁铁产生强磁场,高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中各类样品的磁电阻特性测试。 MR-4型采用亥姆霍兹线圈产生磁场,无剩磁。采用高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中AMR、GMR、TMR各类样品的磁电阻特性测试。 MR-2型采用集成化主机和多通道USB接口数据采集卡采集数据,稳定性好适合科研教学中性能较好的磁电阻样品测试。 MR-1型采用手动调节磁场和人工读数,适合与大中专院校本科生研究生的专业实验中使用。 主要技术参数: 一、系统控制主机:内含可1路可调恒流源(0.3mA~50mA)、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡;功耗50W。 二、自动扫描电源:0~± 5A,扫描周期8~80s。 三、亥姆霍兹线圈:0~± 160Gs。 四、测量专用检波与放大电路技术参数:输入信号动态范围为± 30 dB;输出电平灵敏度为30mV / dB;,输出电流为8mA;转换速率为25 V /&mu s;相位测量范围为0~180° ;相位输出时转换速率为30MHz;响应时间为40 ns~500 ns;测量夹头间隔10mm。 五、计算机为PC兼容机,Windows XP或Windows 7操作系统。 六、数据采集软件在Windows XP和Windows 7操作系统均兼容。 应用前景: 本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。目前该仪器已经应用在北京科技大学材料学院及哈尔滨工业大学深圳研究生院的研究生实验教学及课题组科研测量中,取得良好的成效。 知识产权及项目获奖情况: 本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • 绝缘电阻测试仪测量常见的有哪些问题?
    绝缘电阻测试仪测量常见的有哪些问题?1 为什么在测量同一物体时用不同的电阻量程有不同的读数? 这是因为测量电阻时为防止过电压损坏仪器,如果出现过量程时仪器内保护电路开始工作,将测试电压降下来以保护机内放大器。在不同的电压下测量同一物体会有不同的结果。而且当测量电阻时若读数小于199,既只为三位数且di一位数为1 时,其准确度要下降。所以在测量电阻时当di一次读数从1 变为某一读数时,不应再往更高的量程扭开关以防对仪器造成过大的电流冲击。在实际使用时,即读数位数多的比读数位数少的准确度高。2为什么测量完毕时一定要将量程开关再拨到104档后才能关电源? 这是因为在测量时被测物体及仪器输入端都有一定的电容,这个电容在测量时已被充电到测量电时的电压值,如果仪器不拨到104挡后关电源这个充电后的电容器会对仪器内的放大器放电而造成仪器损坏。当被测量物体电容越大,测试电压越高时,电容器所储藏的电能越大,更容易损坏仪器,特别是在电阻的高量程或电流的低量程时因仪器非常灵敏,仪器过载而损坏的可能性更大。所以一定要将量程开关再拨到104挡后才能关电源。3为什么测量时仪器的读数总是不稳? 一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流,有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律,所以在测量时其读数不稳。 这不是仪器的问题,而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好,对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。4为什么测量一些物体的电流时用不同的量程也会出现测出结果相差较大? 这是因为一般物体输出的电流不是恒定流,而仪器有一定内阻,若在仪器上所选量程的内阻过大以至于在仪器上的电压降影响被测物体的输出电流时会造成测量误差。一般电流越小的量程内阻越高,所以在测量电流时应选用电流大的量程。在实际使用时即只要电流表有读数时,读数位数少的小的比读数位数多的准确度高。 5 为什么测量完毕要将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源? 这是因为机内的电容器充有很高的电压(zui高电压达1200V以上),这些电容器的所带的电能保持较长的时间,如果将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源,则会将机内的高压电容器很快放电,不会在测量的高压端留有很危险的电压造成电击。如果仅拨电源线而不是将电压调至10V档,虽然断了电源,但机内高压电容器还有会因长时间保持很高的电压,将会对人员或其它物体造成电击或损坏。在仪器有问题时也不要随便打开机箱因机内高压造成电击,要将仪器找专业技术人员或寄回厂家修理。6为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压? 在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压,无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流,这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的(分布)电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低,当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压,在确保被测量物体不会因电压过高击穿时,要先将量程开关拨到104档后关闭电源,再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的,即电压与电流是不符合欧姆定律,有改变电压时由于电流不是线性变化,所以测量的电阻也会变化。
  • CHAdeMO协会:2019日本标准充电桩测试推荐使用德国Comemso产品
    德国Comemso科尼绍日标Chademo充电桩分析测试仪(日标电动汽车充电模拟器) 日本标准CHAdeMO电动汽车在减少交通运输行业的温室效应气体、稳定能源供给等方面发挥着巨大的作用,全球对此寄与厚望。电动汽车的发展与普及过程中,其配置的充电电池极其重要。 日本电动汽车快速充电器协会CHAdeMO是一个推动电动汽车快速充电器实现国际标准化的组织,包括全球著名汽车制造商丰田汽车公司、日产汽车公司在内,已经有超过270家的来自世界各地的汽车制造商、充电器制造商等企事业团体加入成为其会员。要实现电动汽车的普及,除了电池的性能良好、敏感度降低等方面,充电基础设施的配置也很重要。本协会所推荐的快速充电方式(CHAdeMO协议)面向所有类型的汽车,能针对其各自的特性实现最优快速充电方法,因此,对于合理投资充电基础设施起了巨大作用。已有为数不少的汽车公司及充电器制造商采用了CHAdeMO协议,而向国际标准化组织递交提案业已正在进行中。今后,为成为官方的国际标准,CHAdeMO协会将力求实现和相关的企业、团体超越各自的领域范畴与利益关系紧密合作、互相配合,改进技术,解决难点。日标充电测试仪制造商面临的电子移动发展给汽车和充电系统带来新的挑战。chademo描述了相对较新的标准直流充电要求系统、波形和通信用于控制充电过程。这个电动汽车与充电系统的结合从不同的制造商可以导致不同的系统公差和干扰影响。由于充电过程长且不同互动充电故障的原因很难掌握。Comemso Chademo分析仪/模拟器,在整个充电期间测量并验证通信和负载电路是否符合标准,并记录所有偏差。这样不仅可以识别充电失败的原因,而且可以显示和可视化事件的因果关系。此外,还提供了完整的电动汽车模拟或充电器模拟。半自动测试和全自动测试库以及故障注入和健壮性测试可用于客户选择。EV充电分析仪用于新能源电动汽车充电过程的分析与评价 符合交流AC标准:IEC61851-1,SAEJ1772和GB/T18487.1-2015符合直流DC标准: IEC 61851-1, DIN 70121, ISO 15118, SAE J1772 和IEC 61851-23.通讯协议分析标准:GB/T27930-2011和GB/T27930-2015标准 电动汽车的发展为汽车和充电系统制造商带来了新的挑战。由于230V交流电源分布普遍,新能源电动汽车的导电充电系统得到广泛应用。相关各种新的标准IEC 61851-1,DIN 70121,ISO 15118、 SAE J1772描述了欧洲和美国交流和直流充电系统的要求,同时中国GB/T也对充电系统和协议进行了规范和要求;充电回路波形以及充电过程的控制信号提出了各自的表述和要求。 随着电动汽车与充电设施的不断开发与更新,不同的电动汽车和充电桩之前可能会出现系统的相容性问题以及难以避免的干扰问题。同时,由于充电过程耗时相对较长,充电中断等情况的原因往往很难直接找到。 科尼绍ComemsoEV充电分析仪/模拟器,通过对充电过程中控制信号和负载回路的监测与评价,为充电中各种问题的分析和解决提供有效的途径。 德国科尼绍集团Comemso位于德国斯图加特企业工业中心,是戴姆勒和宝马等知名车企的重要合作伙伴,客户遍布世界知名新能源汽车企业。在多年以前已经掌握和引领汽车充电检测技术的发展,为汽车充电检仿真测试提供全套解决方案和硬件支持。在中国,富瑞博国际与德国科尼绍集团深度合作,负责国内新能源汽车行业的所有销售工作。科尼绍Comemso EV充电分析仪/模拟器设备,是面向新能源领域充电桩/电动汽车的一款优秀检测设备,不仅可以模拟车、模拟桩,也可以设置在车与桩之间进行监测,同时又具备机架式和便携式两种产品类型。该设备,在欧洲/北美早已作为充电测试首选,国际知名整车厂如宝马、奔驰、奥迪、福特等和充电桩设备制造商有广泛的使用。 产品优势:* 可同时提供实验室专用机架式和用于室外使用的便携式* 充电回路、CP控制信号、PLC信号同时解析* 长时间无损数据分析* 满足IEC、DIN 、SAE、ISO 、GB/T等全球各种标准的测试需求* 应对全世界范围内的各种插头和接口 符合各种标准的充电分析仪符合交流AC标准:IEC61851-1,SAEJ1772和GB/T18487.1-2015符合直流DC标准:IEC 61851-1, DIN 70121, ISO 15118, SAE J1772 和IEC 61851-23.通讯协议分析标准:GB/T27930-2011和GB/T27930-2015WPT无线充电标准:JSON (SAE J2954) 产品应用1、车辆开发企业(1)使用EVCA模拟充电桩, 根据自己的厂内标准,模拟异常信号, 设计出比国标要求更严格的电动汽车以符合市场上所有的充电桩(2)使用EVCA对电动汽车进行是否符合当地标准的检测(3)使用EVCA搭配电动汽车/充电桩实现充电过程的全称检测2、充电桩设备企业(1)使用EVCA模拟充电桩, 根据自己的厂内标准,模拟异常信号, 设计出比国标要求更严格的电动汽车以符合市场上所有的充电桩(2)使用EVCA对电动汽车进行是否符合当地标准的检测(3)使用EVCA搭配电动汽车/充电桩实现充电过程的全称检测3、第三方检测机构(1)使用EVCA对充电桩是否符合当地标准进行检测(2)使用EVCA发现充电过程中的不良问题,并对送检 单位提出改善的意见以及改善方法 测量* 测量和检查时间* 测量直流电压和直流电流* 测量直流触点的温度* 测量辅助电压和电流* 测量CC1和CC2电压* 测量CAN循环时间:- 循环时间的好坏统计* 测量CAN信号质量:- 显性和隐性水平的电压 应用* 检测充电状态* 验证状态变化* 检测停止事件* 检测干扰* 检查直流电压/直流电流值* 检查辅助电压/电流值* 将信号与传达的值进行比较* 检测充电问题的原因* 检测安全问题(触点温度过高,电压和电流峰值,缺少焊接检查等)* 电动汽车的全面模拟* 充分模拟充电器* 测试库* 稳健性测试* 故障注入的其他硬件* 可用的不同电源和负载,用于控制装配到充电过程。可根据要求整合客户的电源和负载。* 坚固的外壳,适合户外移动使用- IP67;用于现场应用或实验室用途。 充电过程解析AC充电全过程中进行实时测试分析:测试结果1. 电流电压解析2. 控制信号解析3. 电流电压/控制信号在同一时间轴上解析4. EVCA模拟电动车/充电桩功能5. 通过CAN进行远程控制完全模拟电动汽车内部回路,手动控制相应部件,看充电桩能否正常动作模拟充电桩,手动模拟错误信息(电流,电压,控制信号,占空比),看电动汽车能否正常动作DC快速充电过程中进行实时测试分析:检测并验证充电状态,时序和CAN统计数据。 1. 通过图表表示出充电状态的变化2. 实时显示CAN信号,电压电流值3. 出现异常时,在CAN信号中标示出来4. 可以生产测试报告,提示是否通过或做出错误标记 其它辅助功能: 交直流电源;模拟连接器; EVSE测试数据库 快速自动验证EVSE的电气标准符合性。该库可用于现场操作,以便轻松查找EVSE错误,或在EVSE开发过程中进行验证或回归测试。多种测试和测量选择:* CP 端: 创建不同的 CP 值和错误(开路,短路,二极管旁路,标称/最大/最小.R2/ R3 电阻等)* SLAC 端: 检查时间并创建切换* PLC 端: 创建通信超时, 创建 EV-Sim的不同消息内容。充电全过程:- 检查 IEC 61851-23 附录 CC 和 SAE J1772 时序合规性- 创建充电配置文件 高达350KWEV/EVSE模拟器完全可扩展的测试应用程序,具有全球所有可能的充电标准.
  • 我国首部《电梯限速器测试仪校准规范》正式发布
    12月12日,我国首部《电梯限速器测试仪校准规范》正式发布,这部涉及电梯安全运行的校准规范将于2013年3月12日开始实施。   北京市计量检测科学研究院(以下简称北京市计量院)转速室主任、该规范的主要起草人之一于宝良从2006年就开始相关的研究和规范的编写工作。电梯限速器是电梯运行安全保护的重要部件之一,因为有了电梯限速器与其他部件的连锁控制措施,才保证了电梯的安全运行。“当电梯的运行速度超过额定速度一定值时,限速器能切断安全回路或进一步导致安全钳或上行超速保护装置起作用,使电梯减速直到停止。”于宝良说,限速器动作速度的现场测量,是电梯安全检测的一个必检项目。而电梯限速器测试仪就是日常用于检测电梯限速器动作速度的测量仪器。该仪器在电梯制造、修理、特种设备检测等行业都有着广泛的应用。   电梯限速器测试仪体积不大,与普通的笔记本电脑大小差不多。校准规范中指出,电梯限速器测试仪是能够驱动电梯限速器轮盘旋转、实时测量限速器轮盘瞬时速度、且能够自动捕捉限速器的电触点开关动作速度并打印或存储该动作速度值的测量仪器,主要由主机、驱动电机、转速传感器三部分组成。   “限速器能否在关键时刻防止电梯坐底事故的发生,保障电梯安全运行,需要测试仪对其进行准确检测。但是,如果测试仪本身计量不准,那当然就谈不上对限速器进行准确检测。所以首先要保证测试仪本身的计量准确。这部校准规范就是针对测试仪的校准而制定的。”于宝良解释说,目前,虽然有些地方的计量技术机构开展电梯限速器测试仪的校准,但校准方法参差不齐。为了确保电梯限速器测试仪量值溯源的准确可靠,非常有必要制定全国性的《电梯限速器测试仪校准规范》。   《电梯限速器测试仪校准规范》为新制定的技术规范,并没有相对应的国际建议、国际文件或国际标准可采用。2006年5月,北京市特种设备检测中心向北京市计量院提出电梯限速器测试仪的量值溯源要求后,于宝良带领的团队与北京蓝天昊友科技有限公司合作,开始开展电梯限速器测试仪校准装置及校准方法的研究。经过1年多的研究,开发出了电梯限速器测试仪校准装置,并完成了对校准方法的研究及不确定度的评定。接着,北京市计量院开始对社会开展电梯限速器测试仪的校准服务。在总结1年多开展电梯限速器测试仪校准服务经验的基础上,2009年,北京市计量院向全国振动冲击转速计量技术委员会提出了制定《电梯限速器测试仪校准规范》的申请。   回顾近6年的规范起草过程,于宝良深感其中的不易。“希望校准规范能为千万电梯的运行增加一道更安全的保障。”
  • 【新品上线】得利特最新推出液体介质体积电阻率测定仪
    新品推荐——液体介质体积电阻率测定仪01产品介绍产品名称:液体介质体积电阻率测定仪型号:A1153执行标准:DL/T 421-2009《电力用油体积电阻率测定法》A1153液体介质体积电阻率测定仪适用于测定绝缘油和抗燃油体积电阻率。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。02仪器特点1采用双CPU微型计算机控制。反应速度快,抗干扰强。2进样,控温、检测、打印、冷却,清洗自动进行,操作简便。3采用三电极双控温结构,控温精度高,温度波动≤0.5℃,避免因温度波动影响结果。4电极采用特殊工艺加工,表面光滑度Ra≤0.012μm,确保电极间隙2mm,从而使结果更准确。5电极杯绝缘材料选用PTFE高分子材料,受热不变型,且不吸水,既能保证空杯电容又有利于清洗油杯。6同时具有制冷和加热功能,既可以做绝缘油也可做抗燃油。一机两用经济实惠。7具有开盖防触电保护功能,开盖自动切断高压。03技术参数•测量范围:0.5×106~1×1015Ωm •分 辨 率:0.001×107Ωm•重 复 性:>1010 Ωm,≯25% <1010 Ωm,≯15% •再 现 性:≤25%•控温范围:10~100℃ •控温精度:±0.5℃•空杯电容:30pF±1pF •实验电压:DC 500V•显示方式:液晶显示•打 印 机:热敏型、36个字符、汉字输出 •工作电源:AC220V±10%,50Hz•功 率:500W•外形尺寸:500mm×380mm×350mm•重 量:17.5kgEND
  • R&S推出全新LCX测试仪,强化高性能阻抗测量产品组合
    R&S LCX系列的LCR表能够用于传统的阻抗测量以及针对特定元件类型的专门测量,并提供研发所需的高精度以及生产测试和质量保证所需的高速度。用于高精度阻抗测量的R&S LCX LCR测量仪。   罗德与施瓦茨推出的新款高性能通用阻抗测试仪系列能够覆盖广泛的应用领域。R&S LCX支持的频率范围为4Hz至10 MHz,不仅适用于大多数传统家用电源的50或60 Hz频率以及飞机电源的400 Hz频率,还适用于从低频震动传感器到工作在几兆赫的高功率通信电路的所有设备。   对于选择合适的电容、电感、电阻和模拟滤波器来匹配设备应用的工程师来说,R&S LCX提供了市场领先的高精度阻抗测量。与此同时,LCX还支持以生产使用精度进行更高速度的质量控制和监控测量。测试方案包含生产环境所需的所有基本软件和硬件,包括远程控制和结果记录,仪器的机架安装,以及用于全系列测试的夹具。   R&S LCX使用的自动平衡电桥技术通过测量被测设备的交流电压和电流(包括相移)来支持传统的阻抗测量。然后用该数据来计算任何给定工作点的复阻抗。作为一种通用LCR测量仪,R&S LCX涵盖了许多应用,如测量电解电容和直流连接电容的等效串联电阻(ESR)和等效串联电感(ESL)。   此外,除了全方位的阻抗测量之外,用户还可以测试变压器及测量直流电阻。为了研究元件的阻抗值在不同频率和电平下的变化,选配装置R&S LCX-K106能支持以频率、电压或电流作为扫描参数,进行动态阻抗测量。   R&S LCX系列推出两个型号:R&S LCX100的频率范围为4 Hz至300 kHz,R&S LCX200的基本配置频率范围为4 Hz至500 kHz,可选配覆盖高达 10 MHz 所有频率的选件。两种型号均配备出色的测量速度、精度和多种测量功能。包括:配备大型电容式触摸屏和虚拟键盘,支持所有主要测量工作的点击测试操作。   用户也可以使用旋钮设置电压、电流和频率值。不常用的功能则可以使用菜单操作。设置、结果和统计数据可以显示在屏幕上,还能导出以便进行自动后处理。用户最多可选择四个测量值并绘制成时间曲线,将最大值和最小值显示在屏幕上,一目了然地进行通过/失败分析。   罗德与施瓦茨的子公司Zurich Instruments AG生产的MFIA阻抗分析仪作为R&S LCX的完美补充,能够支持更多材料的阻抗研究。通过MFIA,研究人员可以表征半导体或进行材料研究,范围包括绝缘体、压电材料、陶瓷和复合材料,组织阻抗分析、细胞生长、食品研究、微流体和可穿戴传感器。
  • 快速退火工艺在欧姆接触中的应用RTP
    作为新一代半导体的代表材料,氮化镓(GaN)具有大禁带宽度、高临界场强、高热导率、高载流子饱和速率等特性,是制造高功率、高频电子器件中重要的半导体材料。其中,GaN材料与金属电极的欧姆接触对器件性能有着重要的影响,器件利用金属电极与GaN间接触形成的欧姆接触来输入或输出电流。当欧姆接触电阻过高时会产生较多的焦耳热,缩短器件寿命,而良好的欧姆接触可使器件通态电阻低,电流输出大,具有更好的稳定性。退火温度影响欧姆接触质量氮化镓欧姆接触的制备通常需要进行退火处理,退火的目的是通过热处理改变材料的结构和性质,使金属电极与氮化镓之间形成低电阻接触。而金属与GaN之间形成欧姆接触的质量受退火条件的影响,良好的欧姆接触图形边缘应保持平整,电极之间不应存在导致短路的金属粘合,退火完成后不会出现金属的侧流。(a) 退火前欧姆接触形态 (b)退火后欧姆接触形态(图源网络)退火温度作为影响欧姆接触性能的重要参数,温度过高或过低都会导致电阻率的增加和电流的减小。一般来说,退火温度越高,金属电极与氮化镓之间的比接触电阻率则越低。比接触电阻率与退火温度的函数关系(图源:知网)然而,当退火温度过高则可能导致氮化镓材料的损伤或金属电极的熔化,不利于形成好的欧姆接触;当温度过低时会导致金属与半导体之间形成较高的势垒,阻碍载流子的传输。因此在对GaN欧姆接触进行退火处理时,对于退火温度的条件选择尤为重要。快速退火炉(RTP)原理:快速退火炉(RTP)是一种用于半导体器件制造和材料研究的设备,其工作原理是通过快速升温和降温来处理材料,以改变其性质或结构。RTP结构示意图(图源网络)晟鼎快速退火炉(RTP)优势RTP快速退火炉具有温度控制精确、升温速度快等优点,可以满足欧姆接触对温度敏感的材料和结构的需求。晟鼎快速退火炉制程范围覆盖200-1250℃,具有强大的温场管理系统,此外,还能灵活、快速地转换和调节工艺气体,使得其在同一个热处理过程中可以完成多段处理工艺。晟鼎快速退火炉RTP温度控制—1000℃制程半自动快速退火炉RTP-SA-12为半自动立式快速退火炉,工艺时间短,控温精度高,相对于传统扩散炉退火系统和其他RTP系统,其独特的腔体设计、先进的温度控制技术和独有的 RL900软件控制系统,确保了极好的热均匀性。产品优势◎红外卤素灯管加热,冷却采用风冷◎大气与真空处理方式均可选择,进气前气体净化处理◎灯管功率 PID 控温,可精准控制温度升温,保证良好的重现性与温度均匀性全自动双腔退火炉RTP-DTS-8相对于传统扩散炉退火系统和其他 RTP 系统,其独特的腔体设计、先进的温度控制技术和独有的RL900 软件控制系统,确保了极好的热均匀性。产品优势◎红外卤素灯管加热,冷却采用风冷 ◎灯管功率 PID 控温,可精准控制温度升温,保证良好的重现性与温度均匀性 ◎大气与真空处理方式均可选择,进气前气体净化处理 ◎标配两组工艺气体,最多可扩展至 6 组工艺气体桌面型快速退火炉RTP-Table-6 为桌面式 6 英寸晶圆快速退火炉,使用上下两层红外卤素灯管作为热源加热,内部石英腔体保温隔热,腔体外壳为水冷铝合金,使得制品加热 均匀,且表面温度低。 RTP-Table-6 采用 PID 控制,系统能快速调节红外卤素灯管的输出功率,控温更加精准。产品优势◎双层红外卤素灯管加热,氮气快速降温◎自主研发灯管分组排布,使温度均匀性更好 ◎采用PID 算法控制,实时调节灯管功率输出 ◎软件主界面能实时显示气体、温度、真空度等参数◎自动识别错误信息,出现异常时设备自动保护
  • 锂电池鼓包是怎么回事,如何进行测试?
    锂电池鼓包是由于电池内部化学反应导致的,通常是由于过充或过放引起的,也有可能是因为生产制作工艺的问题导致的。过充会使锂电池内部的化学物质过度反应,导致电池内部压力增大,从而引起电池鼓包。而过放则是因为电池内部的化学反应未能完全进行,导致电池内部的化学物质浓度过低,也会引起电池鼓包。要测试锂电池是否鼓包,可以使用以下方法:1.观察外观:正常的锂电池应该是平坦的,如果电池外包装出现明显的凸起、膨胀或变形,就可能是鼓包的迹象。2.检查密封性:锂电池的外包装应该具有良好的密封性能,如果电池的外包装出现漏液、漏气等现象,也可能是电池鼓包的迹象。3.测量电池电压:使用电压表或多用途测试仪测量电池的电压。如果电池电压异常高或异常低,也可能是电池鼓包的迹象。4.检查电池电极触点:电池的电极触点应该干净、无杂质,如果触点脏污或者接触电阻太大,也可能会导致电池鼓包。5.直接测试:可以通过专业的测试设备测试里面是否有气体,从而得到科学准确的判断。武汉电弛新能源有限公司的GPT-1000M原位产气量测定仪, 可直接将待测气体引入测试单元,流量变化分辨率精确至1μL。相较基于采⽤ 传统的阿基⽶ 德浮⼒ 法、理想⽓ 体计算法等⽅ 法的仪器,GPT-1000M可直接监测⽓ 体的微量体积变化,结果精准可靠,重复性⾼ ,尾⽓ 可直接收集,同时该设备可串联GC-MS、DEMS等多种⽓ 体成分检测⼿ 段,能为为材料研发和锂电池电芯产⽓ 机理的分析研究提供了真实可靠的数据⽀ 持。最后,如果怀疑锂电池鼓包,建议立即停止使用并更换,以避免安全事故的发生。同时,在使用锂电池时,应该遵循正确的使用和充电方法,避免过度充电或过度放电,保持电池的正常状态。
  • 国缆检测拟募投4大项目,列出超2亿元仪器购置清单
    2022年1月25日,上海国缆检测股份有限公司(简称“国缆检测”)首发申请获创业板上市委员会通过。据招股书显示,国缆检测拟公开发行人民币普通股不超过1,500.00万股,占发行后总股本的比例不低于25%;拟总募资约3亿元,用于超高压大容量试验及安全评估能力建设、高端装备用线缆检测能力建设、设立广东全资子公司、数字化检测能力建设4个项目,并列出了超2亿元的仪器设备购置清单。投资项目情况如下(单位:万元):序号项目名称预计总投资预计投入募资建设周期1超高压大容量试验及安全评估能力建设项目12,02012,0202年2高端装备用线缆检测能力建设项目9,9109,9102年3设立广东全资子公司项目4,0154,0152年4数字化检测能力建设项目4,4704,4703年合计30,41530,415-国缆检测表示,本次募集资金投资项目均围绕主营业务进行,契合公司经营发展战略,是对公司现有主营业务的发展巩固,与公司现有业务模式、核心技术高度关联。募投项目投产后,将进一步拓宽公司检测服务内容,提高研发能力和管理效率,满足检测服务创新需求,增强公司可持续发展能力和综合竞争力。1、超高压大容量试验及安全评估能力建设项目国缆检测针对超高压远距离输电的直流电缆、超高压海上风电电缆及电力设备大容量电缆系统其类似产品的检测、工程模拟试验及安全运行评估进行能力建设。该项目建设超高压大容量实验室,重点针对±800kV及以下的直流电缆、500kV交流海上和陆上用电缆系统的检测及评估能力,可实现全套的型式试验、预鉴定试验、现场试验以及一些工程模拟试验,尤其是针对海底电缆深水区透水试验、张力弯曲等关键项目的检测能力的优化升级。国缆检测为该项目的实施主体,项目建设期为2年,计划总投资12,020万元,其中:建筑工程费160万元,安装工程费381.44万元,设备购置费9,536万元,工程建设其它费用417.56万元,预备费525万元,铺底流动资金1,000万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入4,500万元/年,净利润1,513万元/年,全部投资回收期7.14年,内部收益率14.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备40台/套,购置费为9,456万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数单价/万元总价/万元一、高压大厅1高压直流发生器42501,000235kV电缆振荡波测试系统170703TDR定位系统180804高压直流电缆全尺寸空间电荷测量系统11501505高压直流电缆温度控制系统21202406高压直流电缆泄漏电流测量装置145457见证试验用监控仪59458接触电阻率测试仪(阻水带电阻)210209高电压试验高速成像仪1707010高压大厅串联谐振试验系统220040011手持式电动压钳23.006.0012大容量突发试验系统16,0006,00013金具大电流试验系统自动化432.513014交流电阻测试系统110010015直流大电流源212024016现场竣工试验系统1600600小计31-9,196二、露天试验场1复合缆测试工装130302大力值冲击试验机120203特高压导线用振动台(2台)220404消振试验线路工装330.00905大型高压电缆弯曲试验机130306海底电缆张力弯曲试验机15050小计9260总计40-9,4562、高端装备用线缆检测能力建设项目国缆检测针对航天航空、工业互联网、新能源等领域的高端装备用线缆特定要求,提升实验室检测能力。该项目将搭建高端装备用特种电缆检测技术服务平台,建设先进航空线缆检测实验室、通信线缆检测实验室及新能源线缆检测实验室等高端装备用电缆专项实验室,跟踪国际、国内电缆技术发展,加强新产品、新应用的测试技术研究,为电缆行业技术创新和重大工程国产化应用提供准确、真实的数据和服务。国缆检测为该项目的实施主体,项目建设期为2年,计划总投资9,910万元,其中:建筑工程费450万元,安装工程费293.64万元,设备购置费7,341万元,工程建设其它费用401.07万元,预备费424.29万元,铺底流动资金1,000万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入4,300万元/年,净利润1,368.34万元/年,全部投资回收期6.35年,内部收益率17.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备358台/套,购置费为6,961万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数单价/万元总价/万元一、航空航天线缆检测实验室1防尘IP试验箱110102循环盐雾箱130303结合温湿度变化的振动台(X/Y/Z三方 向)12002004振动/冲击装置14.54.55无线温湿度测试仪13.23.26连接器性能测试系统15005007高低温冲击箱230608300 °C高温烘箱2582009500 °C高温烘箱202040010微欧计(进口)1252511左右弯曲耐久性试验装置15512扭曲耐久性试验装置15513微细线直径及镀层厚度测试15514材料微观形貌和结构分析1150150小计58-1,597.7二、通信线缆检测实验室1不平衡衰减测试仪19.59.52滚筒跌落试验箱1663电磁半波暗室140040045G线缆测试配套系统1200205台式精密多模光源12.52.56便携式精密单模光源1227台式精密单模光源2248便携式精密光功率计32694通道单模功率计431210单模光纤插回损仪1441150多模光纤插回损仪14.54.51262.5多模光纤插回损仪14.54.513光缆振动舞动机1202014光缆机械性能成套设备(拉压卷)1808015电弧设备1505016加压浸水装置16617耐电痕实验系统1303018高压冲击试验装置的检定系统25010019高压电磁屏蔽室屏蔽效能的测量系统13030小计26-971三、新能源线缆实验室1热循环回路自动测控系统16304802零序大电流发生器8054003高压极端低温环境系统13003004振动试验线路拉力控制系统11201205大电流直流电阻测试仪228566红外温度成像仪140407紫外放电成像仪150508无纸记录仪4531359高速无纸记录仪542010卡尔费休水分测量仪15511绝缘电阻测试仪531512大截面分割导体夹具15513微孔杂质智能测试系统1505014库伦法镀层测厚仪13315导线扭力矩测试仪1101016磁粉无损检测探伤仪1202017绞线扭转试验15518绞线轴向冲击试验110010019绞线模拟雨林气候载流试验11120精密恒温油槽13321进口绝缘电阻测试仪15522电能质量测试仪2204023电缆制样装备4156024电缆安全性能分级及评估测试系统180080025标准电阻20.61.226锥形量热仪120020027风力发电用高端电缆耐扭设备35015028交联样品切片机251029200度烘箱12230削片机15531热老化试验箱3026032天平51.57.533测厚仪50.31.534汽车线刮磨机1303035负载试验柜1151536虹吸试验设备15537汽车线单根试验设备1303038投影仪251039自动绝缘结构测试仪110010040高压试验台2102041高精度微欧计1303042微欧计15543绝缘电阻仪24844绝缘电阻仪ZC90G11145恒温水槽441646大截面电阻测试仪夹具1202047卤酸试验设备13348碳黑试验设备13349ph电导率仪10.50.550FTT烟密度试验箱110010051透光率试验仪18852UL燃烧试验仪1101053高低温湿热试验箱3185454氙灯试验箱1202055净水器23656臭氧试验箱1101057氧弹试验箱251058曲挠试验机291859升温法软化击穿仪1202060盐水针孔试验仪10.60.661焊锡试验仪12262耐溶剂试验仪11163击穿电压仪1202064试验数据采集终端120020065半导电电阻率测试系统2102066大型电缆导线收放系统120020067工程用线束及电缆三相载流量测试系统及工装1303068温度、电磁场软件系统113613669工程服务用通勤车23570小计274-4,392.3总计358-6,9613、设立广东全资子公司项目国缆检测拟在广东设立全资子公司,用于专项实验室、接待、办公、样品仓库等能力建设,以解决公司现有南方市场需要长途运输,检测时间周期长,运输费用高的状况,以满足未来发展的需要。项目建成后,国缆检测将扩大南方地区线缆检测的市场占有率,针对广东省及周边线缆产业基地展开就地化的高水平服务,同时围绕粤港澳大湾区的大规模汽车电子、电子电器产业拓展新的检测业务,并利用广东东莞的地缘优势,探索拓展国际检测认证市场。该项目建设期为2年,计划总投资4,015万元,其中:建筑工程费502.5万元,仪器设备购置费1,691.3万元,安装工程费42.7万元,工程建设其他费825.5万元,预备费153万元,流动资金800万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入2,500万元/年,净利润564.8万元/年,全部投资回收期6.74年,内部收益率16.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备167台/套,拟新购仪器设备价格1,544.1万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数预估单价/万元总价/万元一、布电线试验室1电子天平2242绝缘电阻测试仪2243拉力试验机2501004微欧计132325台式投影仪1556测厚仪40.150.67数字多用表10.370.378紫外吸收式臭氧分析器15.55.59电子万能试验机1303010数显千分尺40.020.0811钢直尺40.010.0212焊锡试验仪11.51.513耐刮磨试验机11.51.514电缆曲挠试验机18815耐磨试验机10.80.816低温试验箱291817低温冲击机10.580.5818静态曲挠试验装置10.50.519低温卷绕机10.650.6520低温拉伸试验装置13.43.421老化试验箱101010022电缆结构测试系统110010023纺纤编织层耐热试验装置11124三轮曲挠试验机15525电线弯曲试验机11.81.826电缆荷重断芯试验机10.470.4727橡皮电缆扭绞试验机15528热稳定性试验仪10.670.6729交流耐压试验系统1101030电梯电缆曲挠试验装置15531臭氧老化试验箱1121232高压试验台10.450.4533高温压力试验装置20.5134热冲击试验装置20.5135玻璃恒温水浴20.5136热延伸试验装置20.10.237氧弹空气弹老化试验仪14.64.638单根垂直燃烧试验装置1151539伸率尺60.010.0340哑铃刀20.20.441冲片机10.20.2小计73-481.32二、低压力缆试验室1SevenMulti多功能测试仪110102电子天平1223电导率仪10.40.44PHS-3F酸度计10.20.25国际橡胶硬度计10.80.86精密恒温油浴10.650.657数显小头外径千分尺40.20.88千分尺40.050.29钢直尺40.010.02106305型碳黑测定仪15511烟密度测量系统1202012热老化试验箱12213高压试验台15514恒温水浴11.121.1215CDY冲击电压发生器1404016电线电缆结构参数全自动测量系统1330小计25-118.19三、阻燃耐火电缆试验室1电子天平1222管式炉测试仪(TFT)110103ULTRMAT23气体分析仪130304NOX分析仪125255850IC离子色谱仪11001006环保设备1160160小计6-327四、通信电缆试验室1测厚仪20.150.32数字万用表10.370.373钢直尺20.010.014电子天平1225千分尺20.050.16高频网络分析仪11001007低频网络分析仪144.644.68游标卡尺20.040.08950kN电子万能试验机1303010直流电阻测试仪11.41.411高低温试验箱111.511.512电容耦合测试仪13.63.613对称数据电缆测试系统174.574.514LCR测试仪14.54.515磁阻法测厚仪10.350.3516伸长率试验仪11.41.417电缆弯曲试验机11.31.318耐磨试验机10.80.819扭转试验机11.51.520渗水试验装置10.20.221转移阻抗测量装置13434小计25-312.51五、电器附件1钢卷尺20.010.012钢直尺40.010.023电子秒表20.010.024交变湿热箱110105架盘天平10.050.056千分尺20.050.17电子数显卡尺20.040.088电源负载柜1449电源负载柜1410电源负载柜14411恒定湿热箱18812ul老化试验箱281613高精密高压电容电桥18814ul燃烧试验机16615材料烟密度箱110010016线芯折断试验机11.21.217极低温冲击试验机10.50.518刮磨试验机11.51.519弯曲试验机16620机械强度试验装置10.50.521磨耗测试仪11.21.222耐刮磨试验机1202023UL氙灯试验系统1404024氙灯气候试验箱1202025绝缘线芯印刷标志耐久性试验装置11.21.2小计33-252.38六、线束连接器试验室1电磁兼容测试系统128282台式万用表10.50.53多功能温升试验装置121214盐雾腐蚀试验箱11.61.65精密电阻测试仪11.61.6小计5-52.7合计167-1,544.14、数字化检测能力建设项目国缆检测将对部分检测试验的原有的设备、电力线路进行升级改造,配齐配全必要的数字化检测设备,围绕电线电缆检验检测建成一个先进的、高效的数字化线缆检测实验室。此外,通过建造一座智能化立体仓库,承担检测产品的储存与流通任务,实现产品入库、存放、保管、发放、核查等精细化、流程化的技术性管理,要做到实物取放与单据相符、单据录入及时、有效管理零散物料、追溯物料批次信息等。该项目建设期为3年,计划总投资4,470万元,其中:建筑工程费912万元,设备购置费2,958万元,安装工程费118.32万元,其他费用312.25万元,预备费169.43万元。该项目拟新购仪器设备128台/套,购置费为2,958.00万元。设备投资明细如下:序号设备名称及型号规格数量单价/万元小计/万元一、数字化实验室1机械手及夹具30309002门禁电脑80.32.43车载电脑100.554RFID电子标签系统(射频识别设 备)10111104.1RFID标签(库位、工装容器、栈 板等)20000.00124.2PDA手持机/扫描枪/作业平板120.67.24.3固定式门禁(读写器、天线、线缆、 红外感应器等)11.81.852吨背负式AGV小车10222206AGV无线充电位6167电脑50.428普通条码打印机50.84小计84-1,249.4二、智能化立体仓库1门禁电脑40.31.22车载电脑60.533电脑20.40.84普通条码打印机20.81.65便携式条形码打印机40.526RFID电子标签系统111117货架(重型钢架)14104107.1货位2500 个0.082007.2天地轨600米0.06367.3电缆600米0.04247.4钢制托盘(货箱)25000.061508AGV激光导航调度及控制系统1181892吨叉车式AGV小车63521010AGV无线充电位31311堆叠码垛系统28016012巷道堆垛机57035013输送机系统1787814仓储智能化软件系统112012015自动控制系统118018016无线网络1202017电子监控系统2204018信息安全系统18080小计44-1,688.6合计1282,958关于国缆检测国缆检测创建于2004年,总部位于上海市,是国内领先的电线电缆与光纤光缆及其组器件的独立第三方检验检测服务机构之一,主营业务为电线电缆及光纤光缆的检测、检验服务,涵盖相应的检验检测、设备计量、能力验证等,还包括相关的专业培训、检查监造、标准制定、工厂审查、应用评估等专业技术服务。国缆检测的控股股东是上海电缆所,2019年1月,上海市国资委下发《关于申能(集团)有限公司与上海电缆研究所有限公司联合重组的通知》,上海电缆所股权以划转的方式注入申能集团,上海电缆所成为申能集团控股子公司。申能集团直接持有国缆检测5%的股权,并通过上海电缆所间接控制国缆检测85%的股权,合计控制国缆检测90%的股权,是国缆检测的间接控股股东。上海市国有资产监督管理委员会持有申能集团100%股权,是公司的实际控制人。上海市国资委是根据上海市政府授权代表国家履行国有资产出资人职责的市政府直属特设机构。
  • 喷涂涂层回路控制技术Coating AI
    喷涂涂层回路控制新技术Coating AI,实现人工智能涂装,大数据提升涂装质量水平喷涂涂层回路控制新技术,利用人工智能实现自动化涂层过程,提升涂装质量水平和喷涂效率。了解喷涂涂层回路控制技术Coating AI在这个视频里你可以看到,在涂装生产线上使用Coating AI喷涂涂层回路控制新技术实现人工智能涂装,通过大数据优势提升涂装质量水平。使用Coating AI人工智能涂装系统的好处:解决劳动力短缺问题:Coating AI人工智能涂装系统提供了一个专家顾问工具,可以用来定义最佳喷涂参数,节省成本:通过人工智能学习,显著降低粉末消耗,废品率和劳动强度提高喷涂质量Coating AI 可以实现稳定的喷涂质量,即使是不同人不同时间操作也能保证最后的喷涂质量重点解决的问题:喷涂过程非常复杂,控制影响喷涂过程的不同参数非常困难,需要经验丰富的工人,世界范围内缺乏有经验的喷涂工人,这可能带来的后果是喷涂过量,或者使用太多的粉末,导致次品或者废品,以此同时客户追求更高的涂层质量。Coating AI人工智能涂装技术可以解决问题,喷涂涂层回路控制技术Coating AI可以自己学习和理解喷涂过程,能够找到正确的最佳的喷涂参数,使企业能够实时优化喷涂工艺,操作简单,任何人都能够很容易地使用Coating AI调整喷涂生产线。人们可以通过任何的方法轻松访问CoatingAI,CoatingAI可以集成到生产线上,在云端运行,用户可以通过任何设备访问云端数据。操作流程:工人按照之前的操作在工件上喷涂,使用涂魔师涂层测厚仪进行涂层厚度测量,将测量结果传输到co-pilot上,然后使用该测量值优化生产线,co-pilot可以优化生产线质量,获得相同的涂层厚度,提高生产效率,喷涂效率或生产线速度。参数定义CoatingAI 人工智能涂装喷涂回路自动控制系统能够定义实现高质量涂层结果的最佳机器参数,完全独立于生产线操作员的经验闭环回路控制CoatingAI 是第一个为涂层生产线带来闭环回路控制的解决方案。与涂魔师非接触测厚的关系CoatingAI与涂魔师是合作关系,CoatingAI从涂魔师丰富的涂层测厚数据进行训练学习。点击了解更多关于涂魔师非接触无损测厚仪产品信息如果您对CoatingAI人工智能喷涂涂层回路控制技术感兴趣,欢迎联系翁开尔。
  • 美国福禄克推出全新超级精密电阻测温仪
    美国福禄克公司近日推出了由HART部门研发的全新1594A/1595A超级精密电阻测温仪,该仪器集准确度、价值和创新性于一身,可用于标准铂电阻(SPRT)、铂电阻(PRT)以及热敏电阻的检定和校准。   Fluke1594A/1595A超级精密电阻测温仪具有足够的准确度,满足基标准实验室所需。其准确度高达0.06ppm(0.000015°C),而其价格却经济实惠,完全可以满足二级实验室的预算需求。计量校准人员使用该超级精密电阻测温仪进行的所有测量都符合预期要求,方便随时验证,完全值得信赖。其领先于市场的特性包括:电阻比率自校准适用于所有测量,值得信赖;校准内部参考电阻,快速而简便;低测量噪声;快速的测量速度。
  • 【Science】单细胞蛋白分析技术揭示肠脑神经回路新机制
    为什么我们会感觉到饥饿?为什么进食之后会出现饱腹感?我们能感知到大脑与肠道的紧密联系,以往的研究认为这种感知与触觉、视觉、声音、气味和味觉通过受神经支配的上皮传感器细胞传递到大脑不同,肠道刺激的感知被认为涉及消化系统和中枢神经系统之间信号传递的肠道-大脑连接(gut-brain connection)是以激素转运为基础的,这种基于激素的信号传递大约需要10分钟。在肠道中,有一层上皮细胞将腔与下面的组织分开。分散在该层内的是称为肠内分泌细胞的可电兴奋细胞,它们感知摄入的营养物质和微生物代谢物。与味觉或嗅觉受体细胞一样,肠内分泌细胞在存在刺激时会激发动作电位。然而,与其他感觉上皮细胞不同,肠内分泌细胞和脑神经之间没有突触联系的描述。人们认为这些细胞仅通过激素(如胆囊收缩素)的缓慢内分泌作用间接作用于神经。尽管它在饱腹感中起作用,但胆囊收缩素的循环浓度仅在摄入食物后几分钟达到峰值,并且通常在用餐结束后。这种差异表明大脑通过更快的神经元信号感知肠道感觉线索。来自美国杜克大学医学院的科学家们,利用Milo,揭示迷走神经(vagus nerve)可直接连接着肠道与中枢神经系统。相关研究结果发表在Science期刊上,标题为“A gut-brain neural circuit for nutrient sensory transduction”。Milo单细胞Western Blot 验证肠分泌细胞存在神经突触相关蛋白本文使用与小肠类器官或纯化的肠内分泌细胞共培养的结节神经元,在体外重现了神经回路。并结合单细胞定量实时聚合酶链反应和单细胞Western Blot(Milo)共同对突触蛋白进行检测和评估。利用Milo在蛋白水平进行了进一步的验证:单细胞蛋白质印记结果显示83%肠内分泌细胞含有synapsin-1(分析的198 CckGFP细胞中的164个),与其他肠上皮细胞相比,纯化的CCK-肠内分泌细胞表达突触粘附基因Efnb2、Lrrtm2、Lrrc4 和 Nrxn2,表明这些上皮传感器具有形成突触的机制。为了确定与肠内分泌细胞接触的突触的神经元的来源,本文使用了一种改良后的狂犬病毒(DG-rabies-GFP,能感染神经元,但缺少跨突触传播所需的G糖蛋白),发现在肠道类器官中,狂犬病比其他上皮细胞更喜欢感染肠内分泌细胞。并且肠内分泌细胞与迷走神经元突触,通过使用谷氨酸作为神经递质,在几毫秒内转导肠腔信号。这些突触连接的肠内分泌细胞(神经足细胞)形成的神经上皮回路通过一个突触将肠腔与脑干连接起来,为大脑打开一条物理管道,以突触的时间精度和空间分辨率感知肠道刺激。也正是这些突触信号神经足细胞告诉大脑肠道中发生的事情,对我们吃的食物做出一定的反馈。
  • 手持式X射线荧光光谱仪在高压隔离开关触头镀银层腐蚀故障分析中的应用
    摘要:针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障,采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分,发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中,Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀,铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3,从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高,引发过热故障。针对此次故障,提出了解决措施和建议。关键词:手持式X射线荧光光谱仪;隔离开关触头;电刷镀银;银氧化锡;腐蚀中图分类号:TQ153.16 文献标志码:A 文章编号:1004 – 227X (2019)23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行,长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽,以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响,因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件,承担着转接、隔离、接通、分断等任务,其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜,但纯铜易被腐蚀,会造成表面接触电阻升高,引发过热故障,影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻,DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定:隔离开关触头表面必须镀银,且镀银层厚度不小于20 μm,以获得较低的接触电阻,从而保证良好的导电性。然而,在实际运行中,很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障,一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成,这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期,四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例,镀银层厚度检测结果合格,但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现,厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层,该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现,非常隐蔽,很容易因未进行镀层成分分析而误判合格,严重威胁电网的安全运行,希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运,当地大气污秽等级为E级,大气类型为工业污染。周边潮湿多雨,化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集,空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高,大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头,防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重,动、静触头接触面大部分呈绿色,少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障,若继续运行,可能会造成隔离开关烧毁,甚至大面积停电等恶性事故,运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关,并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法,具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点,被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为:由激发源产生高能量X射线照射被测样品,样品表面元素内层电子被击出后,轨道形成空穴,外层高能电子自发向内层空穴跃迁,同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线,具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长,仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类,各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分,属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将其分开并进行检测,从而确定元素成分和含量,可以同时测定样品中几乎所有的元素,激发源使用的X射线管功率较低,且使用半导体探测器,避开了复杂的分光晶体结构,因此仪器工作稳定,体积小,便携性高,价格也较低,能够在数秒内准确、无损地获得检测结果,被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪,它不受分析样品的大小、形状、位置限制,无需拆卸隔离开关,可以携带至变电站现场,能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb,Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.
  • 林赛斯发布TIM - Tester 界面热阻测试系统新品
    随着电池、电子封装等相关设备的普及,功率的增加,废热管理,如何降低热损变得越来越重要。如何管理好这些复杂的热系统并不容易,需要对界面材料有根本的认识。 Linseis的热界面热阻测试系统是优化这些系统的热管理非常好的解决方案。 从液态化合物到固体材料,TIM能够测试各种材料的热阻抗以及热导。这些都符合ASTM D5470测试标准。 电机全自动压力控制 ( 最大8 MPa )LVDT高分辨率全自动测厚符合ASTM D5470测试标准全集成软件控制装置技术参数型号 TIM-TESTER 样品尺寸 圆形: ? 20 mm 至 ? 40 mm 方形: 20 x 20 mm 至 40 x 40 mm 厚度: 0.01 mm 至 15 mm 其他尺寸可定制 样品类型 固体、粉末、糊状物、液体、粘合剂、箔片 样品厚度测试精度 50%行程:+/-0.1% 100%行程:+/-0.25% 电阻范围 0.01 K/W 至 8 K/W 温度范围 RT 至 150°C -20°C 至 150°C (冷却装置) RT 至 300°C (根据需求) 控温精度: 0.1°C 热导率 0.1至50 w/m?k(根据需求可扩展) 接触压力 0 至 8Mpa(根据样品尺寸) 接触压力精度 +/- 1% 尺寸 675 mm H x 550mm W x 680 mm D 冷却系统 外置水机(带加热) 加热系统 电子加热元件 应用Vespel™ (50°C, 1MPa)测试 在50℃ (TH=70℃, TC=30℃)和1 MPa的接触压力下,测量25 x 25mm Vespel™ 样品的热阻抗(和导热系数)。为了确定表观导热系数和热接触电阻,测量了三个厚度在1.1 mm到3.08 mm之间的不同试样(采用线性回归分析)。 不同温度下 Vespel™ 的测量 25mm x 25mm Vespel™ 样品在40℃到150℃之间,接触压力为1Mpa时的表观导热系数随温度变化的曲线图。 Vespel™ 的温度相关测量 在50℃ (TH=70℃, TC=30℃)下测量25 x 25mm导热垫(II型)的热阻抗(导热系数)。为了确定接触热阻,测量了三个厚度在2.01mm到3.02 mm之间的不同试样(采用线性回归)。 可测样品类型 I 型 当施加压力时表现出无限变形的粘性液体。这些包括液体化合物,如油脂、糊状物和相变材料。这些材料没有表现出弹性行为的证据,也没有在消除偏转应力后恢复初始形状的趋势。 II型 粘弹性固体的变形应力最终由内部材料应力平衡,从而限制了进一步的变形。例如凝胶、软橡胶和硬橡胶。这些材料表现出线性弹性特性,相对于材料厚度有较大的偏转。 III型 弹性固体,其偏转可忽略不计。例如陶瓷、金属和一些塑料。创新点:从液态化合物到固体材料,TIM能够测试各种材料的热阻抗以及热导。这些都符合ASTM D5470测试标准。 电机全自动压力控制 ( 最大8 MPa ) LVDT高分辨率全自动测厚 全集成软件控制装置
  • 发布热阻测试、热流法导热系数测试仪新品
    DRL-III导热系数测试仪(热流法)一、产品概述 该导热系数仪采用热流法测量不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔。测量参照标准 MIL-I-49456A高分子材料,陶瓷,绝缘材料,复合材料,非金属材料,玻璃,橡胶,及其它的具有低、中等导热系数的材料。仅需要比较小的样品。薄膜可以使用多层技术准确的得到测量。二、主要技术参数:1:热极温控: 室温~200℃, 测温分辨率0.01℃2:冷极温控:0~99.99℃,分辨率0.01℃3:样品直径:Ф30mm,厚度0.02-20mm;4:热阻范围:0.000005 ~ 0.05 m2K/W5:导热系数测试范围: 0.010-50W/mK, 6:精度 ≤±3%7:压力测量范围:0~1000N8: 位移测量范围:0~30.00mm9:实验方式:a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、老化可靠性测试。10:配有完整的测试系统及软件平台。11:操作采用全自动热分析测试软件,快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告打印输出。三、仪器配置:1.测试主机 1台, 2.恒温水槽 1台, 3.测试软件 1套,4.胶体粉体样品框1个,*4.计算机(打印机)用户自备典型测试材料:1、金属材料、不锈钢。2、导热硅脂。3、导热硅胶垫。4、导热工程塑料。5、导热胶带(样品很薄很黏,难以制作规则的单个样品,一边用透明塑料另外一边用纸固定)。 6、铝基板、覆铜板。 7、石英玻璃、复合陶瓷。8、泡沫铜、石墨纸、石墨片等新型材料。创新点:样品夹在两个热流传感器中间测试,温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量,所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。
  • 国产测试仪器的出路何在
    1)目前的现状:   中国测试仪器的普遍水平还停留在20世纪80年代初国际水平上 大型和高档仪器设备几乎全部依赖进口 许多急需的专用仪器还是空白 中低档产品保证质量上还有许多难关需要攻克。   据海关统计,中国每年进口各类测试仪器总额接近中国测试仪器产业总产值50%。此外,在6000多家企业中,年销售收入超过1000万元的不足1000家,全行业经济效益低下。   高档、大型仪器设备几乎全部依赖进口,同时国外公司还占有国内中档产品以及许多关键零部件市场60%以上的份额。科技创新及其产业化进展滞缓,是制约中国测试仪器产业发展的一个&ldquo 瓶颈&rdquo 。   2) 差距存在的原因   1、从业人员素质较低:   仪器虽小,但是反映出从业人员素质,中国仪器行业绝多多数为私营企业,而此类私营业主,大多数文化水平较低,仪器有个最大的特点,在于标准的吻合度,而标准的解读,往往需要从业人员具备一定的文化素质,就和文章的读后感相似,不同的知识背景的人读一篇相同的文章,会得出截然不同的感受和理解,换而言之,不同的人去读标准,就会出现完全不同的理解,也就会制造出完全不同的测试仪器,以及得出不同的测试结果。   2)工业化水平:   就目前中国工业发展而言,我们的大工业,如高铁、军事等,绝对不输给大多数工业化国家,比如法国和英国等,但是在我们日常生活中所遇到的工业化程度就完全不同,这受国家的政策有着非常大的影响,因为国家政策本身就不惠及那些中小型的企业,这就造成了在我国去生产一台精密仪器的困难。作为生产企业,如果去买个温控器、买支热电偶等非常简易的产品,其实遍寻市场,你无法找到一个真正的国内的品牌,或是一个真正高质量的配件 再比如加工行业,国内手工加工作坊式企业非常多,那你拿着这些土枪土炮,又怎么能和人家那些武装到牙齿的生产装备去抗衡呢?   3)国内市场因素:   价格!价格!价格! 这个是买国产仪器的客户所最关心的问题,一般购买国产仪器的用户,主要是因为价格原因去购买国产仪器,极少是因为品牌导向或是自身的专业背景去做出采购决策的。其实用户本身也造成了国产仪器商之间进行了恶性的价格竞争,在恶性价格竞争的状态下,你又怎么能去要求你的供应商去保证他的产品质量呢? 现在的国产仪器,价格只有更低、没有最低,大家都为了生计去奔波,又有谁可以沉下心去搞研发工作和进行科技发展的投入呢? 而对比于进口仪器,价格竞争也是存在的,但是国内用户在价格方面对于进口仪器的宽容度是远远大于国产仪器的。一方面用户在抱怨国产仪器品质的低劣,另一方面,又不断成为打压国产仪器价格的推手。   4)市场的诚信度以及浮躁情绪   对于诚信度,比如技术指标,极少有供应商会因为撒谎而付出代价,这就造成了,说假话比说真话,有着更大的盈利,这在投标中是比比皆是的 供应商的短期思维,总想做下这个客户,赚到这笔钱为眼前最大事宜,而不顾及后期产品的使用结果 也就是说,没有人会因为自己制造了一台低劣的仪器而付出代价,也没有人为自己的谎言产生损失,其代价在短期是无法体现的,长远来看,如果市场中没有追求高品质的竞争对手出现的时候,那么他所有的谎言和浮躁,都是有利可图的。   5)知识产权的保护   对于大多数客户而言,购买了进口仪器后,其实极其不愿意国产仪器上去考察和抄袭,非常忌讳国内生产商去考察,你有这么好的意识,为啥不去打击国内的盗版呢?国外仪器行业毕竟发展多年,通过模仿和抄袭,可以极大的缩短研发的周期和投入,然后在国外同行业对手的基础上,再去改进他的某些缺点,慢慢去形成自我的风格和自己的技术,&ldquo 师夷长技以制夷&rdquo ,为何不将这些高端的进口仪器向你的同胞们去大胆的开放呢?   另外,国内制造厂商之间的知识保护确又极差,大家互相抄袭成风,最终的结果,是谁也不敢去做技术上的革新以及创新。   就笔者多年的经验而言,如欲打败国外同行,个人体会如下:   1、多练习内功:   在自己所从事的行业,多了解国外同行的产品特性、技术特点、操作的合理化等详细信息,必须知道对方的优点,以及自身的缺点,&ldquo 不以物喜,不以己悲&rdquo ,在充分了解竞争对手的情况下,找出自己的长处不断发扬,找到自己的缺点不断的修正,必须以十年磨一剑的心态去做产品,在自己产品的使用中,不断询问用户,让他们提出宝贵意见。   2、专注于自己的行业:   专注于自身所处的行业,不要这山看着那山高,只有专业才是长久之计,不要把自己变为一个杂货铺,什么都能干,什么都做不精。国外仪器制造商,比如安捷伦、瓦里安、英斯特朗,人家往往都是一招吃遍天下,而不是像我们这样,面面俱到的经营。   3、价格的控制   低价客户,其实就是低质量客户,当你将每天的精力放在那些低质量的客户身上,你不如多关注那些有着高品质追求的客户,他们才是你利润的来源,同时也是你提高产品质量和性能的最好的伙伴。当你在不断降价的同时,也是你不断降低质量,以及降低自我要求的开始。   4、竞争对手的定位   不要轻易降价,也不要去和你的同行打价格战,你的同行是激励你进步的动力,不是你的敌人,打败你的竞争对手最好的方式,就是制造出他不可以逾越的产品,试问,在中国,你见过几家仪器商是因为被竞争对手的低价给打垮的呢? 当你使用价格战术去打击对手的时候,其实伤害的是你们双方,当你用高性能的产品去攻击你的对手的时候,那么你才可以掌握住战斗的主动权。市场上最大的份额占有者是进口仪器及其代理商,他们才是真正的敌人。   5、不要欺骗你的用户   你可以选择不说,但是不可以选择欺骗,没有人愿意上当受骗,包括你自己在内。   以上所述,为笔者从事仪器行业多年的体会,可能有所偏颇,但是借网站一发,供大家参考!欢迎就此话题进行探讨。   莫帝斯燃烧技术(中国)有限公司全资子公司,成立于2008年,是一家年轻并极富创新性的国际化科技公司。   已经为众多阻燃测试机构提供优质的燃烧测试仪器,如中国铁道科学研究院、公安部四川消防研究所、中国船级社远东防火检测中心、中国科学研究院力学研究所、桂林电器科学研究院、中国标准化研究院、中国纺织科学研究院、SGS 通标标准技术服务有限公司、INTERTEK 天祥质量技术服务有限公司、TUV 南德意志集团、TUV 莱茵、北京理工大学等国内知名检测机构及科研院所。   更加详细信息可浏览网站:www.firetester.cn www.motis-tech.cm
  • Quantum Design中国携手德国NanoTemper公司在华东地区举办MST样机 巡回路演测试活动
    Quantum量子科学仪器贸易(北京)有限公司和Nanotemper公司在11月中下旬到12月份在华东地区成功举办MST微量热泳动仪的样机巡回路演活动,并给感兴趣的客户和单位提供了很多免费测试服务,收到客户的良好评价。举办方:Quantum量子科学仪器贸易(北京)有限公司和Nanotemper公司时间:2013 年11月-2013年12月 地点:中国*上海参加单位:上海生化细胞研究所,上海植物生理学研究所,蛋白质研究中心,睿智化学和惠生医药微量热泳动(MST)是指分子在微观的温度梯度场中的定向运动。生物分子结构/构象变化会引起其水化层、分子量、电荷的变化,而这种变化会导致分子在温度梯度场中运动速度的改变,这种速度的改变可以用来分析分子间的相互作用以及各种化学计量学参数。MST 可以直接在接近天然的环境、任意生物溶液中溶液中测量分子间相互作用,而不需要一个固定的表面,每次实验只需要4-6ul的样品量,使用低费用的毛细吸管来完成实验,能够在短短十分钟之内测量16个样品的数据,这些特点使得其成为一种新的、方便、快速、高通量的分子间相互作用的分析仪器。而且,该技术其灵敏,甚至可以检测到像蛋白质磷酸化或离子结合到蛋白质和DNA/RNA的微小的变化。更多关于MST产品信息,请参见QUANTUM量子科学仪器公司中文网站及英文网站: http://www.qd-china.com/products2.aspx?id=163 关于Quantum Design InternationalQuantum Design International是的科研设备制造商和仪器分销商,于1982年创建于美国加州圣迭戈。公司生产的 SQUID 磁学测量系统 (MPMS) 和材料综合物理性质测量系统 (PPMS) 已经成为公认的测量平台,广泛的分布于上几乎所有材料、物理、化学、纳米等研究领域的实验室。同时美国 Quantum Design 公司还利用自己遍布的专业营销和售后队伍打造一个代理分销网络,与其他的设备制造商合作,为其提供遍布全球的专业产品销售和售后服务网络。2007年,Quantum Design International并购了欧洲大的仪器分销商LOT公司,现已成为著名的科学仪器领域的跨国公司。目前公司拥有分布于英国、美国、法国、德国、巴西、印度,日本和中国等地区的数十个分公司和办事处,业务遍及全球一百多个和地区。 中国地区是Quantum Design International公司活跃的市场,公司在北京、上海和广州设有分公司或办事处。几十年来,公司与中国的科研和教育领域的合作有成效,为中国的科研进步提供了可靠的先进设备以及高效优质的售后服务。
  • 上海今森发布医用口罩阻燃性能测试仪新品
    适用范围口罩阻燃性能测试仪,用于测试医用口罩以一定线速度接触火焰后的燃烧性能,是医用口罩阻燃性能专用测试仪器。符合标准GB 19083-2010《医用防护口罩技术要求》YY 0469-2011《医用外科口罩》GB 2626-2006《呼吸防护用品 自吸过滤式防颗粒物呼吸器 可燃性试验》仪器特点1、7寸威纶触摸液晶显示屏,特制试验数据采集芯片,可进行试验数据的监控和数据输入与计算。2、可进行试验数据打印,替代试验人员的繁琐数据记录。3、脉冲自动点火,安全可靠。4、燃烧器电动控制调整位置,自动定时定位,操作方便。5、燃烧喷灯电动控制移动位置,可根据试验要求调整喷灯与试样的距离。6、配有专门排风系统,废气自动排出。7、试样电机控制水平移动。8、口罩夹具为金属人体头模,能够充分模拟口罩的实际使用状态。主要参数1、试样速度:60±5mm/s。2、火焰高度:火焰高度可调整,标准要求40mm±4mm,并配置火焰高度测量装置。3、计时范围:0.1S-99H99M,可任意设定,分辨率0.1S。4、点火时间:0.1S-99H99M,可任意设定,分辨率0.1S。标准要求12S5、燃烧气源:工业级丙烷。6、工作电源:AC220V 50HZ7、测温系统:可以测试火焰温度,范围0-1100℃。标准温度800±50℃8、重量:50kg 创新点:KS-19083B医用口罩阻燃性能测试仪与市面上的口罩阻燃试验机相比,该仪器采用了7寸威纶触摸液晶显示屏,特制试验数据采集芯片,可进行试验数据的监控和数据输入与计算。可进行试验数据打印,替代试验人员的繁琐数据记录。 医用口罩阻燃性能测试仪
  • A102点对点测试仪获评“山纺精品仪器”
    经过严格的评选流程,山纺仪器A102点对点测试仪以其市场占有率高、用户好评多、外观精美、质量可靠被评为&ldquo 山纺精品仪器&rdquo 。再次感谢广大用户对该仪器的厚爱,期待更多的厂家在选用本公司的A102点对点测试仪及其使用过程中,能够不断给我们提出宝贵意见,您的每一个不满意,都是我们前进的动力和方向。 一、主要用途 用于检测防静电服点对点电阻率。 二、试验方法 本原理是对试样加入测试电压100  V 共15  s,流经试样的微弱电流用标准电阻取样放大后,从高阻计上读出。数字直接显示出电阻值,精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便。 三、主要技术参数 1、量程范围: 105    &Omega ~1015  &Omega ; 2、高阻计示值误差:± 1%, 3、输出电压:100V DC 四、适用标准 国家标准GB12014- 2009《防静电服》
  • 专家约稿|碳化硅功率器件封装与可靠性测试
    1. 研究背景及意义碳化硅(SiC)是一种宽带隙(WBG)的半导体材料,目前已经显示出有能力满足前述领域中不断发展的电力电子的更高性能要求。在过去,硅(Si)一直是最广泛使用的功率开关器件的半导体材料。然而,随着硅基功率器件已经接近其物理极限,进一步提高其性能正成为一个巨大的挑战。我们很难将它的阻断电压和工作温度分别限制在6.5kV和175℃,而且相对于碳化硅器件它的开关速度相对较慢。另一方面,由SiC制成的器件在过去几十年中已经从不成熟的实验室原型发展成为可行的商业产品,并且由于其高击穿电压、高工作电场、高工作温度、高开关频率和低损耗等优势被认为是Si基功率器件的替代品。除了这些性能上的改进,基于SiC器件的电力电子器件有望通过最大限度地减少冷却要求和无源元件要求来实现系统的体积缩小,有助于降低整个系统成本。SiC的这些优点与未来能源转换应用中的电力电子器件的要求和方向非常一致。尽管与硅基器件相比SiC器件的成本较高,但SiC器件能够带来的潜在系统优势足以抵消增加的器件成本。目前SiC器件和模块制造商的市场调查显示SiC器件的优势在最近的商业产品中很明显,例如SiC MOSFETs的导通电阻比Si IGBT的导通电阻小四倍,并且在每三年内呈现出-30%的下降趋势。与硅同类产品相比,SiC器件的开关能量小10-20倍,最大开关频率估计高20倍。由于这些优点,预计到2022年,SiC功率器件的总市场将增长到10亿美元,复合年增长率(CAGR)为28%,预计最大的创收应用是在混合动力和电动汽车、光伏逆变器和工业电机驱动中。然而,从器件的角度来看,挑战和问题仍然存在。随着SiC芯片有效面积的减少,短路耐久时间也趋于减少。这表明在稳定性、可靠性和芯片尺寸之间存在着冲突。而且SiC器件的现场可靠性并没有在各种应用领域得到证明,这些问题直接导致SiC器件在电力电子市场中的应用大打折扣。另一方面,生产高质量、低缺陷和较大的SiC晶圆是SiC器件制造的技术障碍。这种制造上的困难使得SiC MOSFET的每年平均销售价格比Si同类产品高4-5倍。尽管SiC材料的缺陷已经在很大程度上被克服,但制造工艺还需要改进,以使SiC器件的成本更加合理。最近几年大多数SiC器件制造大厂已经开始使用6英寸晶圆进行生产。硅代工公司X-fab已经升级了其制造资源去适应6英寸SiC晶圆,从而为诸如Monolith这类无晶圆厂的公司提供服务。这些积极的操作将导致SiC器件的整体成本降低。图1.1 SiC器件及其封装的发展图1.1展示了SiC功率器件及其封装的发展里程碑。第一个推向市场的SiC器件是英飞凌公司在2001年生产的肖特基二极管。此后,其他公司如Cree和Rohm继续发布各种额定值的SiC二极管。2008年,SemiSouth公司生产了第一个SiC结点栅场效应晶体管(JFET),在那个时间段左右,各公司开始将SiC肖特基二极管裸模集成到基于Si IGBT的功率模块中,生产混合SiC功率模块。从2010年到2011年,Rohm和Cree推出了第一个具有1200V额定值的分立封装的SiC MOSFET。随着SiC功率晶体管的商业化,Vincotech和Microsemi等公司在2011年开始使用SiC JFET和SiC二极管生产全SiC模块。2013年,Cree推出了使用SiC MOSFET和SiC二极管的全SiC模块。此后,其他器件供应商,包括三菱、赛米控、富士和英飞凌,自己也发布了全SiC模块。在大多数情况下,SiC器件最初是作为分立元件推出的,而将这些器件实现为模块封装是在最初发布的几年后开发的。这是因为到目前为止分立封装的制造过程比功率模块封装要简单得多。另一个原因也有可能是因为发布的模块已经通过了广泛的标准JEDEC可靠性测试资格认证,这代表器件可以通过2000万次循环而不发生故障,因此具有严格的功率循环功能。而且分离元件在设计系统时具有灵活性,成本较低,而模块的优势在于性能较高,一旦有了产品就容易集成。虽然SiC半导体技术一直在快速向前发展,但功率模块的封装技术似乎是在依赖过去的惯例,这是一个成熟的标准。然而,它并没有达到充分挖掘新器件的潜力的速度。SiC器件的封装大多是基于陶瓷基底上的线接合方法,这是形成多芯片模块(MCM)互连的标准方法,因为它易于使用且成本相对较低。然而,这种标准的封装方法由于其封装本身的局限性,已经被指出是向更高性能系统发展的技术障碍。首先,封装的电寄生效应太高,以至于在SiC器件的快速开关过程中会产生不必要的损失和噪音。第二,封装的热阻太高,而热容量太低,这限制了封装在稳态和瞬态的散热性能。第三,构成封装的材料和元件通常与高温操作(200℃)不兼容,在升高的操作温度下,热机械可靠性恶化。最后,对于即将到来的高压SiC器件,承受高电场的能力是不够的。这些挑战的细节将在第二节进一步阐述。总之,不是器件本身,而是功率模块的封装是主要的限制因素之一,它阻碍了封装充分发挥SiC元件的优势。因此,应尽最大努力了解未来SiC封装所需的特征,并相应地开发新型封装技术去解决其局限性。随着社会的发展,环保问题与能源问题愈发严重,为了提高电能的转化效率,人们对于用于电力变换和电力控制的功率器件需求强烈[1, 2]。碳化硅(SiC)材料作为第三代半导体材料,具有禁带宽度大,击穿场强高、电子饱和速度大、热导率高等优点[3]。与传统的Si器件相比,SiC器件的开关能耗要低十多倍[4],开关频率最高提高20倍[5, 6]。SiC功率器件可以有效实现电力电子系统的高效率、小型化和轻量化。但是由于SiC器件工作频率高,而且结电容较小,栅极电荷低,这就导致器件开关时,电压和电流变化很大,寄生电感就极易产生电压过冲和振荡现象,造成器件电压应力、损耗的增加和电磁干扰问题[7, 8]。还要考虑极端条件下的可靠性问题。为了解决这些问题,除了器件本身加以改进,在封装工艺上也需要满足不同工况的特性要求。起先,电力电子中的SiC器件是作为分立器件生产的,这意味着封装也是分立的。然而SiC器件中电压或电流的限制,通常工作在低功耗水平。当需求功率达到100 kW或更高时,设备往往无法满足功率容量要求[9]。因此,需要在设备中连接和封装多个SiC芯片以解决这些问题,并称为功率模块封装[10, 11]。到目前为止,功率半导体的封装工艺中,铝(Al)引线键合封装方案一直是最优的封装结构[12]。传统封装方案的功率模块采用陶瓷覆铜板,陶瓷覆铜板(Direct Bonding Copper,DBC)是一种具有两层铜的陶瓷基板,其中一层图案化以形成电路[13]。功率半导体器件底部一般直接使用焊料连接到DBC上,顶部则使用铝引线键合。底板(Baseplate)的主要功能是为DBC提供支撑以及提供传导散热的功能,并与外部散热器连接。传统封装提供电气互连(通过Al引线与DBC上部的Cu电路键合)、电绝缘(使用DBC陶瓷基板)、器件保护(通过封装材料)和热管理(通过底部)。这种典型的封装结构用于目前制造的绝大多数电源模块[14]。传统的封装方法已经通过了严格的功率循环测试(2000万次无故障循环),并通过了JEDEC标准认证[15]。传统的封装工艺可以使用现有的设备进行,不需要额外开发投资设备。传统的功率模块封装由七个基本元素组成,即功率半导体芯片、绝缘基板、底板、粘合材料、功率互连、封装剂和塑料外壳,如图1.2所示。模块中的这些元素由不同的材料组成,从绝缘体、导体、半导体到有机物和无机物。由于这些不同的材料牢固地结合在一起,为每个元素选择适当的材料以形成一个坚固的封装是至关重要的。在本节中,将讨论七个基本元素中每个元素的作用和流行的选择以及它们的组装过程。图1.2标准功率模块结构的横截面功率半导体是功率模块中的重要元素,通过执行电气开/关开关将功率从源头转换到负载。标准功率模块中最常用的器件类型是MOSFETs、IGBTs、二极管和晶闸管。绝缘衬底在半导体元件和终端之间提供电气传导,与其他金属部件(如底板和散热器)进行电气隔离,并对元件产生的热量进行散热。直接键合铜(DBC)基材在传统的电源模块中被用作绝缘基材,因为它们具有优良的性能,不仅能满足电气和热的要求,而且还具有机械可靠性。在各种候选材料中,夹在两层铜之间的陶瓷层的流行材料是Al2O3,AlN,Si2N4和BeO。接合材料的主要功能是通过连接每个部件,在半导体、导体导线、端子、基材和电源模块的底板之间提供机械、热和电的联系。由于其与电子组装环境的兼容性,SnPb和SnAgCu作为焊料合金是最常用的芯片和基片连接材料。在选择用于功率模块的焊料合金时,需要注意的重要特征是:与使用温度有关的熔化温度,与功率芯片的金属化、绝缘衬底和底板的兼容性,高机械强度,低弹性模量,高抗蠕变性和高抗疲劳性,高导热性,匹配的热膨胀系数(CTE),成本和环境影响。底板的主要作用是为绝缘基板提供机械支持。它还从绝缘基板上吸收热量并将其传递给冷却系统。高导热性和低CTE(与绝缘基板相匹配)是对底板的重要特性要求。广泛使用的底板材料是Cu,AlSiC,CuMoCu和CuW。导线键合的主要作用是在模块的功率半导体、导体线路和输入/输出终端之间进行电气连接。器件的顶面连接最常用的材料是铝线。对于额定功率较高的功率模块,重铝线键合或带状键合用于连接功率器件的顶面和陶瓷基板的金属化,这样可以降低电阻和增强热能力。封装剂的主要目的是保护半导体设备和电线组装的组件免受恶劣环境条件的影响,如潮湿、化学品和气体。此外,封装剂不仅在电线和元件之间提供电绝缘,以抵御电压水平的提高,而且还可以作为一种热传播媒介。在电源模块中作为封装剂使用的材料有硅凝胶、硅胶、聚腊烯、丙烯酸、聚氨酯和环氧树脂。塑料外壳(包括盖子)可以保护模块免受机械冲击和环境影响。因为即使电源芯片和电线被嵌入到封装材料中,它们仍然可能因处理不当而被打破或损坏。同时外壳还能机械地支撑端子,并在端子之间提供隔离距离。热固性烯烃(DAP)、热固性环氧树脂和含有玻璃填料的热塑性聚酯(PBT)是塑料外壳的最佳选择。传统电源模块的制造过程开始于使用回流炉在准备好的DBC基片上焊接电源芯片。然后,许多这些附有模具的DBC基板也使用回流焊工艺焊接到一个底板上。在同一块底板上,用胶水或螺丝钉把装有端子的塑料外壳连接起来。然后,正如前面所讨论的那样,通过使用铝线进行电线连接,实现电源芯片的顶部、DBC的金属化和端子之间的连接。最后,用分配器将封装材料沉积在元件的顶部,并在高温下固化。前面所描述的结构、材料和一系列工艺被认为是功率模块封装技术的标准,在目前的实践中仍被广泛使用。尽管对新型封装方法的需求一直在持续,但技术变革或采用是渐进的。这种对新技术的缓慢接受可以用以下原因来解释。首先,人们对与新技术的制造有关的可靠性和可重复性与新制造工艺的结合表示担忧,这需要时间来解决。因此,考虑到及时的市场供应,模块制造商选择继续使用成熟的、广为人知的传统功率模块封装技术。第二个原因是传统电源模块的成本效益。由于传统电源模块的制造基础设施与其他电子器件封装环境兼容,因此不需要与开发新材料和设备有关的额外成本,这就大大降低了工艺成本。尽管有这些理由坚持使用标准的封装方法,但随着半导体趋势从硅基器件向碳化硅基器件的转变,它正显示出局限性并面临着根本性的挑战。使用SiC器件的最重要的优势之一是能够在高开关频率下工作。在功率转换器中推动更高的频率背后的主要机制是最大限度地减少整个系统的尺寸,并通过更高的开关频率带来的显著的无源尺寸减少来提高功率密度。然而,由于与高开关频率相关的损耗,大功率电子设备中基于硅的器件的开关频率通常被限制在几千赫兹。图1.3中给出的一个例子显示,随着频率的增加,使用Si-IGBT的功率转换器的效率下降,在20kHz时已经下降到73%。另一方面,在相同的频率下,SiC MOSFET的效率保持高达92%。从这个例子中可以看出,硅基器件在高频运行中显示出局限性,而SiC元件能够在更高频率下运行时处理高能量水平。尽管SiC器件在开关性能上优于Si器件对应产品,但如果要充分利用其快速开关的优势,还需要考虑到一些特殊的因素。快速开关的瞬态效应会导致器件和封装内部的电磁寄生效应,这正成为SiC功率模块作为高性能开关应用的最大障碍。图1.3 Si和SiC转换器在全额定功率和不同开关频率下的效率图1.4给出了一个半桥功率模块的电路原理图,该模块由高低两侧的开关和二极管对组成,如图1.4所示,其中有一组最关键的寄生电感,即主开关回路杂散电感(Lswitch)、栅极回路电感(Lgate)和公共源电感(Lsource)。主开关回路杂散电感同时存在于外部电源电路和内部封装互连中,而外部杂散电感对开关性能的影响可以通过去耦电容来消除。主开关回路杂散电感(Lswitch)是由直流+总线、续流二极管、MOSFET(或IGBT)和直流总线终端之间的等效串联电感构成的。它负责电压过冲,在关断期间由于电流下降而对器件造成严重的压力,负反馈干扰充电和向栅极源放电的电流而造成较慢的di/dt的开关损失,杂散电感和半导体器件的输出电容的共振而造成开关波形的振荡增加,从而导致EMI发射增加。栅极环路电感(Lgate)由栅极电流路径形成,即从驱动板到器件的栅极接触垫,以及器件的源极到驱动板的连接。它通过造成栅极-源极电压积累的延迟而降低了可实现的最大开关频率。它还与器件的栅极-源极电容发生共振,导致栅极信号的震荡。结果就是当我们并联多个功率芯片模块时,如果每个栅极环路的寄生电感不相同或者对称,那么在开关瞬间将产生电流失衡。共源电感(Lsource)来自主开关回路和栅极回路电感之间的耦合。当打开和关闭功率器件时,di/dt和这个电感上的电压在栅极电路中作为额外的(通常是相反的)电压源,导致di/dt的斜率下降,扭曲了栅极信号,并限制了开关速度。此外,共源电感可能会导致错误的触发事件,这可能会通过在错误的时间打开器件而损坏器件。这些寄生电感的影响在快速开关SiC器件中变得更加严重。在SiC器件的开关瞬态过程中会产生非常高的漏极电流斜率di/dt,而前面讨论的寄生电感的电压尖峰和下降也明显大于Si器件的。寄生电感的这些不良影响导致了开关能量损失的增加和可达到的最大开关频率的降低。开关瞬态的问题不仅来自于电流斜率di/dt,也来自于电压斜率dv/dt。这个dv/dt导致位移电流通过封装的寄生电容,也就是芯片和冷却系统之间的电容。图1.5显示了半桥模块和散热器之间存在的寄生电容的简化图。这种不需要的电流会导致对变频器供电的电机的可靠性产生不利影响。例如,汽车应用中由放电加工(EDM)引起的电机轴承缺陷会产生很大的噪声电流。在传统的硅基器件中,由于dv/dt较低,约为3 kV/µs,因此流经寄生电容的电流通常忽略不记。然而,SiC器件的dv/dt比Si器件的dv/dt高一个数量级,最高可达50 kV/µs,使通过封装电容的电流不再可以忽略。对Si和SiC器件产生的电磁干扰(EMI)的比较研究表明,由于SiC器件的快速开关速度,传导和辐射的EMI随着SiC器件的使用而增加。除了通过封装进入冷却系统的电流外,电容寄也会减缓电压瞬变,在开关期间产生过电流尖峰,并通过与寄生电感形成谐振电路而增加EMI发射,这是我们不希望看到的。未来的功率模块封装应考虑到SiC封装中的寄生和高频瞬变所带来的所有复杂问题和挑战。解决这些问题的主要封装级需要做到以下几点。第一,主开关回路的电感需要通过新的互连技术来最小化,以取代冗长的线束,并通过优化布局设计,使功率器件接近。第二,由于制造上的不兼容性和安全问题,栅极驱动电路通常被组装在与功率模块分开的基板上。应通过将栅极驱动电路与功率模块尽可能地接近使栅极环路电感最小化。另外,在平行芯片的情况下,布局应该是对称的,以避免电流不平衡。第三,需要通过将栅极环路电流与主开关环路电流分开来避免共源电感带来的问题。这可以通过提供一个额外的引脚来实现,例如开尔文源连接。第四,应通过减少输出端和接地散热器的电容耦合来减轻寄生电容中流动的电流,比如避免交流电位的金属痕迹的几何重叠。图1.4半桥模块的电路原理图。三个主要的寄生电感表示为Lswitch、Lgate和Lsource。图1.5半桥模块的电路原理图。封装和散热器之间有寄生电容。尽管目前的功率器件具有优良的功率转换效率,但在运行的功率模块中,这些器件产生的热量是不可避免的。功率器件的开关和传导损失在器件周围以及从芯片到冷却剂的整个热路径上产生高度集中的热通量密度。这种热通量导致功率器件的性能下降,以及器件和封装的热诱导可靠性问题。在这个从Si基器件向SiC基器件过渡的时期,功率模块封装面临着前所未有的散热挑战。图1.6根据额定电压和热阻计算出所需的总芯片面积在相同的电压和电流等级下,SiC器件的尺寸可以比Si器件小得多,这为更紧凑的功率模块设计提供了机会。根据芯片的热阻表达式,芯片尺寸的缩小,例如芯片边缘的长度,会导致热阻的二次方增加。这意味着SiC功率器件的模块化封装需要特别注意散热和冷却。图1.6展示了计算出所需的总芯片面积减少,这与芯片到冷却剂的热阻减少有关。换句话说,随着芯片面积的减少,SiC器件所需的热阻需要提高。然而,即使结合最先进的冷却策略,如直接冷却的冷板与针状翅片结构,假设应用一个70kVA的逆变器,基于DBC和线束的标准功率模块封装的单位面积热阻值通常在0.3至0.4 Kcm2/W之间。为了满足研究中预测的未来功率模块的性能和成本目标,该值需要低于0.2 Kcm2/W,这只能通过创新方法实现,比如双面冷却法。同时,小的芯片面积也使其难以放置足够数量的线束,这不仅限制了电流处理能力,也限制了热电容。以前对标准功率模块封装的热改进大多集中在稳态热阻上,这可能不能很好地代表开关功率模块的瞬态热行为。由于预计SiC器件具有快速功率脉冲的极其集中的热通量密度,因此不仅需要降低热阻,还需要改善热容量,以尽量减少这些快速脉冲导致的峰值温度上升。在未来的功率模块封装中,应解决因采用SiC器件而产生的热挑战。以下是未来SiC封装在散热方面应考虑的一些要求。第一,为了降低热阻,需要减少或消除热路中的一些封装层;第二,散热也需要从芯片的顶部完成以使模块的热阻达到极低水平,这可能需要改变互连方法,比如采用更大面积的接头;第三,封装层接口处的先进材料将有助于降低封装的热阻。例如,用于芯片连接和热扩散器的材料可以分别用更高的导热性接头和碳基复合材料代替。第四,喷射撞击、喷雾和微通道等先进的冷却方法可以用来提高散热能力。SiC器件有可能被用于预期温度范围极广的航空航天应用中。例如用于月球或火星任务的电子器件需要分别在-180℃至125℃和-120℃至85℃的广泛环境温度循环中生存。由于这些空间探索中的大多数电子器件都是基于类似地球的环境进行封装的,因此它们被保存在暖箱中,以保持它们在极低温度下的运行。由于SiC器件正在评估这些条件,因此需要开发与这些恶劣环境兼容的封装技术,而无需使用暖箱。与低温有关的最大挑战之一是热循环引起的大的CTE失配对芯片连接界面造成的巨大压力。另外,在室温下具有柔性和顺应性的材料,如硅凝胶,在-180℃时可能变得僵硬,在封装内产生巨大的应力水平。因此,SiC封装在航空应用中的未来方向首先是开发和评估与芯片的CTE密切匹配的基材,以尽量减少应力。其次,另一个方向应该是开发在极低温度下保持可塑性的芯片连接材料。在最近的研究活动中,在-180℃-125℃的极端温度范围内,对分别作为基材和芯片附件的SiN和Indium焊料的性能进行了评估和表征。为进一步推动我国能源战略的实施,提高我国在新能源领域技术、装备的国际竞争力,实现高可靠性碳化硅 MOSFET 器件中试生产技术研究,研制出满足移动储能变流器应用的多芯片并联大功率MOSFET 器件。本研究将通过寄生参数提取、建模、仿真及测试方式研究 DBC 布局、多栅极电阻等方式对芯片寄生电感与均流特性的影响,进一步提高我国碳化硅器件封装及测试能力。2. SiC MOSFET功率模块设计技术2.1 模块设计技术介绍在MOSFET模块设计中引入软件仿真环节,利用三维电磁仿真软件、三维温度场仿真软件、三维应力场仿真软件、寄生参数提取软件和变流系统仿真软件,对MOSFET模块设计中关注的电磁场分布、热分布、应力分布、均流特性、开关特性、引线寄生参数对模块电特性影响等问题进行仿真,减小研发周期、降低设计研发成本,保证设计的产品具备优良性能。在仿真基础上,结合项目团队多年从事电力电子器件设计所积累的经验,解决高压大功率MOSFET模块设计中存在的多片MOSFET芯片和FRD芯片的匹配与均流、DBC版图的设计与芯片排布设计、电极结构设计、MOSFET模块结构设计等一系列难题,最终完成模块产品的设计。高压大功率MOSFET模块设计流程如下:图2.1高压大功率MOSFET模块设计流程在MOSFET模块设计中,需要综合考虑很多问题,例如:散热问题、均流问题、场耦合问题、MOSFET模块结构优化设计问题等等。MOSFET芯片体积小,热流密度可以达到100W/cm2~250W/cm2。同时,基于硅基的MOSFET芯片最高工作温度为175℃左右。据统计,由于高温导致的失效占电力电子芯片所有失效类型的50%以上。随电力电子器件设备集成度和环境集成度的逐渐增加,MOSFET模块的最高温升限值急剧下降。因此,MOSFET模块的三维温度场仿真技术是高效率高功率密度MOSFET模块设计开发的首要问题。模块散热能力与众多因素有关:MOSFET模块所用材料的物理和化学性质、MOSFET芯片的布局、贴片的质量、焊接的工艺水平等。如果贴片质量差,有效散热面积小,芯片与DBC之间的热阻大,在模块运行时易造成模块局部过热而损坏。另外,芯片的排布对热分布影响也很大。下图4.2是采用有限元软件对模块内部的温度场进行分析的结果:图2.2 MOSFET模块散热分布分析在完成结构设计和材料选取后,采用ANSYS软件的热分析模块ICEPAK,建立包括铜基板、DBC、MOSFET芯片、二极管芯片以及包括铝质键合引线在内的相对完整的数值模拟模型。模拟实际工作条件,施加相应的载荷,得到MOSFET的温度场分布,根据温度场分布再对MOSFET内部结构和材料进行调整,直至达到设计要求范围内的最优。2.2 材料数据库对一个完整的焊接式MOSFET模块而言,从上往下为一个 8层结构:绝缘盖板、密封胶、键合、半导体芯片层、焊接层 1、DBC、焊接层 2、金属底板。MOSFET模块所涉及的主要材料可分为以下几种类型:导体、绝缘体、半导体、有机物和无机物。MOSFET模块的电、热、机械等性能与材料本身的电导率、热导率、热膨胀系数、介电常数、机械强度等密切相关。材料的选型非常重要,为此有必要建立起常用的材料库。2.3 芯片的仿真模型库所涉及的MOSFET芯片有多种规格,包括:1700V 75A/100A/125A;2500V/50A;3300V/50A/62.5A;600V/100A;1200V/100A;4500V/42A;6500V/32A。为便于合理地进行芯片选型(确定芯片规格及其数量),精确分析多芯片并联时的均流性能,首先为上述芯片建立等效电路模型。在此基础上,针对实际电力电子系统中的滤波器、电缆和电机负载模型,搭建一个系统及的仿真平台,从而对整个系统的电气性能进行分析预估。2.4 MOSFET模块的热管理MOSFET模块是一个含不同材料的密集封装的多层结构,其热流密度达到100W/cm2--250W/cm2,模块能长期安全可靠运行的首要因素是良好的散热能力。散热能力与众多因素有关:MOSFET模块所用材料的物理和化学性质、MOSFET芯片的布局、贴片的质量、焊接的工艺水平等。如果贴片质量差,有效散热面积小,芯片与DBC之间的热阻大,在模块运行时易造成模块局部过热而损坏。芯片可靠散热的另一重要因素是键合的长度和位置。假设散热底板的温度分布均匀,而每个MOSFET芯片对底板的热阻有差异,导致在相同工况时,每个MOSFET芯片的结温不同。下图是采用有限元软件对模块内部的温度场进行分析的结果。图2.3MOSFET模块热分布在模块完成封装后,采用FLOTHERM软件的热分析模块,建立包括铜基板、DBC、MOSFET芯片、二极管芯片以及包括铝质键合引线在内的相对完整的数值模拟模型。模拟实际工作条件,施加相应的载荷,得到MOSFET的温度场分布的数值解,为MOSFET温度场分布的测试提供一定的依据。2.5. 芯片布局与杂散参数提取根据MOSFET模块不同的电压和电流等级,MOSFET模块所使用芯片的规格不同,芯片之间的连接方式也不同。因此,详细的布局设计放在项目实施阶段去完成。对中低压MOSFET模块和高压MOSFET模块,布局阶段考虑的因素会有所不同,具体体现在DBC与散热底板之间的绝缘、DBC上铜线迹之间的绝缘以及键合之间的绝缘等。2.6 芯片互联的杂散参数提取MOSFET芯片并联应用时的电流分配不均衡主要有两种:静态电流不均衡和动态电流不均衡。静态电流不均衡主要由器件的饱和压降VCE(sat)不一致所引起;而动态电流不均衡则是由于器件的开关时间不同步引起的。此外,栅极驱动、电路的布局以及并联模块的温度等因素也会影响开关时刻的动态均流。回路寄生电感特别是射极引线电感的不同将会使器件开关时刻不同步;驱动电路输出阻抗的不一致将引起充放电时间不同;驱动电路的回路引线电感可能引起寄生振荡;以及温度不平衡会影响到并联器件动态均流。2.7 模块设计专家知识库通过不同规格MOSFET模块的设计-生产-测试-改进设计等一系列过程,可以获得丰富的设计经验,并对其进行归纳总结,提出任意一种电压电流等级的MOSFET模块的设计思路,形成具有自主知识产权的高压大功率MOSFET模块的系统化设计知识库。3. SiCMOSFET封装工艺3.1 封装常见工艺MOSFET模块封装工艺主要包括焊接工艺、键合工艺、外壳安装工艺、灌封工艺及测试等。3.1.1 焊接工艺焊接工艺在特定的环境下,使用焊料,通过加热和加压,使芯片与DBC基板、DBC基板与底板、DBC基板与电极达到结合的方法。目前国际上采用的是真空焊接技术,保证了芯片焊接的低空洞率。焊接要求焊接面沾润好,空洞率小,焊层均匀,焊接牢固。通常情况下.影响焊接质量的最主要因素是焊接“空洞”,产生焊接空洞的原因,一是焊接过程中,铅锡焊膏中助焊剂因升温蒸发或铅锡焊片熔化过程中包裹的气泡所造成的焊接空洞,真空环境可使空洞内部和焊接面外部形成高压差,压差能够克服焊料粘度,释放空洞。二是焊接面的不良加湿所造成的焊接空洞,一般情况下是由于被焊接面有轻微的氧化造成的,这包括了由于材料保管的不当造成的部件氧化和焊接过程中高温造成的氧化,即使真空技术也不能完全消除其影响。在焊接过程中适量的加人氨气或富含氢气的助焊气体可有效地去除氧化层,使被焊接面有良好的浸润性.加湿良好。“真空+气体保护”焊接工艺就是基于上述原理研究出来的,经过多年的研究改进,已成为高功率,大电流,多芯片的功率模块封装的最佳焊接工艺。虽然干式焊接工艺的焊接质量较高,但其对工艺条件的要求也较高,例如工艺设备条件,工艺环境的洁净程度,工艺气体的纯度.芯片,DBC基片等焊接表面的应无沾污和氧化情况.焊接过程中的压力大小及均匀性等。要根据实际需要和现场条件来选择合适的焊接工艺。3.1.2 键合工艺引线键合是当前最重要的微电子封装技术之一,目前90%以上的芯片均采用这种技术进行封装。超声键合原理是在超声能控制下,将芯片金属镀层和焊线表面的原子激活,同时产生塑性变形,芯片的金属镀层与焊线表面达到原子间的引力范围而形成焊接点,使得焊线与芯片金属镀层表面紧密接触。按照原理的不同,引线键合可以分为热压键合、超声键合和热压超声键合3种方式。根据键合点形状,又可分为球形键合和楔形键合。在功率器件及模块中,最常见的功率互连方法是引线键合法,大功率MOSFET模块采用了超声引线键合法对MOSFET芯片及FRD芯片进行互连。由于需要承载大电流,故采用楔形劈刀将粗铝线键合到芯片表面或DBC铜层表面,这种方法也称超声楔键合。外壳安装工艺:功率模块的封装外壳是根据其所用的不同材料和品种结构形式来研发的,常用散热性好的金属封装外壳、塑料封装外壳,按最终产品的电性能、热性能、应用场合、成本,设计选定其总体布局、封装形式、结构尺寸、材料及生产工艺。功率模块内部结构设计、布局与布线、热设计、分布电感量的控制、装配模具、可靠性试验工程、质量保证体系等的彼此和谐发展,促进封装技术更好地满足功率半导体器件的模块化和系统集成化的需求。外壳安装是通过特定的工艺过程完成外壳、顶盖与底板结构的固定连接,形成密闭空间。作用是提供模块机械支撑,保护模块内部组件,防止灌封材料外溢,保证绝缘能力。外壳、顶盖要求机械强度和绝缘强度高,耐高温,不易变形,防潮湿、防腐蚀等。3.1.3 灌封工艺灌封工艺用特定的灌封材料填充模块,将模块内组件与外部环境进行隔离保护。其作用是避免模块内部组件直接暴露于环境中,提高组件间的绝缘,提升抗冲击、振动能力。灌封材料要求化学特性稳定,无腐蚀,具有绝缘和散热能力,膨胀系数和收缩率小,粘度低,流动性好,灌封时容易达到模块内的各个缝隙,可将模块内部元件严密地封装起来,固化后能吸收震动和抗冲击。3.1.4 模块测试MOSFET模块测试包括过程测试及产品测试。其中过程测试通过平面度测试仪、推拉力测试仪、硬度测试仪、X射线测试仪、超声波扫描测试仪等,对产品的入厂和过程质量进行控制。产品测试通过平面度测试仪、动静态测试仪、绝缘/局部放电测试仪、高温阻断试验、栅极偏置试验、高低温循环试验、湿热试验,栅极电荷试验等进行例行和型式试验,确保模块的高可靠性。3.2 封装要求本项目的SiC MOSFET功率模块封装材料要求如下:(1)焊料选用需要可靠性要求和热阻要求。(2)外壳采用PBT材料,端子裸露部分表面镀镍或镀金。(3)内引线采用超声压接或铝丝键合(具体视装配图设计而定),功率芯片采用铝线键合。(4)灌封料满足可靠性要求,Tg150℃,能满足高低温存贮和温度循环等试验要求。(5)底板采用铜材料。(6)陶瓷覆铜板采用Si3N4材质。(7)镀层要求:需保证温度循环、盐雾、高压蒸煮等试验后满足外观要求。3.3 封装流程本模块采用既有模块进行封装,不对DBC结构进行调整。模块封装工艺流程如下图3.1所示。图3.1模块封装工艺流程(1)芯片CP测试:对芯片进行ICES、BVCES、IGES、VGETH等静态参数进行测试,将失效的芯片筛选出来,避免因芯片原因造成的封装浪费。(2)划片&划片清洗:将整片晶圆按芯片大小分割成单一的芯片,划片后可从晶圆上将芯片取下进行封装;划片后对金属颗粒进行清洗,保证芯片表面无污染,便于后续工艺操作。(3)丝网印刷:将焊接用的焊锡膏按照设计的图形涂敷在DBC基板上,使用丝网印刷机完成,通过工装钢网控制锡膏涂敷的图形。锡膏图形设计要充分考虑焊层厚度、焊接面积、焊接效果,经过验证后最终确定合适的图形。(4)芯片焊接:该步骤主要是完成芯片与 DBC 基板的焊接,采用相应的焊接工装,实现芯片、焊料和 DBC 基板的装配。使用真空焊接炉,采用真空焊接工艺,严格控制焊接炉的炉温、焊接气体环境、焊接时间、升降温速度等工艺技术参数,专用焊接工装完成焊接工艺,实现芯片、DBC 基板的无空洞焊接,要求芯片的焊接空洞率和焊接倾角在工艺标准内,芯片周围无焊球或堆焊,焊接质量稳定,一致性好。(5)助焊剂清洗:通过超声波清洗去除掉助焊剂。焊锡膏中一般加入助焊剂成分,在焊接过程中挥发并残留在焊层周围,因助焊剂表现为酸性,长期使用对焊层具有腐蚀性,影响焊接可靠性,因此需要将其清洗干净,保证产品焊接汉城自动气相清洗机采用全自动浸入式喷淋和汽相清洗相结合的方式进行子单元键合前清洗,去除芯片、DBC 表面的尘埃粒子、金属粒子、油渍、氧化物等有害杂质和污染物,保证子单元表面清洁。(6) X-RAY检测:芯片的焊接质量作为产品工艺控制的主要环节,直接影响着芯片的散热能力、功率损耗的大小以及键合的合格率。因此,使用 X-RAY 检测机对芯片焊接质量进行检查,通过调整产生 X 射线的电压值和电流值,对不同的焊接产品进行检查。要求 X 光检查后的芯片焊接空洞率工艺要求范围内。(7)芯片键合:通过键合铝线工艺,完成 DBC 和芯片的电气连接。使用铝线键合机完成芯片与 DBC 基板对应敷铜层之间的连接,从而实现芯片之间的并联和反并联。要求该工序结合芯片的厚度参数和表面金属层参数,通过调整键合压力,键合功率,键合时间等参数,并根据产品的绝缘要求和通流大小,设置合适的键合线弧高和间距,打线数量满足通流要求,保证子单元的键合质量。要求键合工艺参数设定合理、铝线键合质量牢固,键合弧度满足绝缘要求、键合点无脱落,满足键合铝线推拉力测试标准。(8)模块焊接:该工序实现子单元与电极、底板的二次焊接。首先进行子单元与电极、底板的焊接装配,使用真空焊接炉实现焊接,焊接过程中要求要求精确控制焊接设备的温度、真空度、气体浓度。焊接完成后要求子单元 DBC 基板和芯片无损伤、无焊料堆焊、电极焊脚之间无连焊虚焊、键合线无脱落或断裂等现象。(9)超声波检测:该工序通过超声波设备对模块 DBC 基板与底板之间的焊接质量进行检查,模块扫描后要求芯片、DBC 无损伤,焊接空洞率低于 5%。(10)外壳安装:使用涂胶设备进行模块外壳的涂胶,保证模块安装后的密封性,完成模块外壳的安装和紧固。安装后要求外壳安装方向正确,外壳与底板粘连处在灌封时不会出现硅凝胶渗漏现象。(11)端子键合&端子超声焊接:该工序通过键合铝线工艺,实现子单元与电极端子的电气连接,形成模块整体的电气拓扑结构;可以通过超声波焊接实现子单元与电极端子的连接,超声波焊接是利用高频振动波传递到两个需焊接的物体表面,在加压的情况下,使两个物体表面相互摩擦而形成分子层之间的熔合。超声波焊接具有高机械强度,较低的热应力、焊接质量高等优点,使得焊接具有更好的可靠性,在功率模块产品中应用越来越广泛。(12)硅凝胶灌封&固化:使用自动注胶机进行硅凝胶的灌封,实现模块的绝缘耐压能力。胶体填充到指定位置,完成硅凝胶的固化。要求胶体固化充分,胶体配比准确,胶体内不含气泡、无分层或断裂纹。4. 极端条件下的可靠性测试4.1 单脉冲雪崩能量试验目的:考察的是器件在使用过程中被关断时承受负载电感能量的能力。试验原理:器件在使用时经常连接的负载是感性的,或者电路中不可避免的也会存在寄生电感。当器件关断时,电路中电流会突然下降,变化的电流会在感性负载上产生一个应变电压,这部分电压会叠加电源电压一起加载在器件上,使器件在瞬间承受一个陡增的电压,这个过程伴随着电流的下降。图4.1 a)的雪崩能量测试电路就是测试这种工况的,被测器件上的电流电压变化情况如图4.1 b)。图4.1 a)雪崩能量测试电路图;b)雪崩能量被测器件的电流电压特性示意图这个过程中,电感上储存的能量瞬时全部转移到器件上,可知电流刚开始下降时,电感储存的能量为1/2*ID2*L,所以器件承受的雪崩能量也就是电感包含的所有能量,为1/2*ID2*L。试验目标:在正向电流ID = 20A下,器件单脉冲雪崩能量EAS1J试验步骤:将器件放入测试台,给器件施加导通电流为20A。设置测试台电感参数使其不断增加,直至器件的单脉冲雪崩能量超过1J。通过/失效标准:可靠性试验完成后,按照下表所列的顺序测试(有些测试会对后续测试有影响),符合下表要求的可认为通过。测试项目通过条件IGSS USLIDSS or IDSX USLVGS(off) or VGS(th)LSL USLVDS(on) USLrDS(on) USL (仅针对MOSFET)USL: upper specification limit, 最高上限值LSL: lower specification limit, 最低下限值4.2 抗短路能力试验目的:把样品暴露在空气干燥的恒温环境中,突然使器件通过大电流,观测元器件在大电流大电压下于给定时间长度内承受大电流的能力。试验原理:当器件工作于实际高压电路中时,电路会出现误导通现象,导致在短时间内有高于额定电流数倍的电流通过器件,器件承受这种大电流的能力称为器件的抗短路能力。为了保护整个系统不受误导通情况的损坏,系统中会设置保护电路,在出现短路情况时迅速切断电路。但是保护电路的反应需要一定的时长,需要器件能够在该段时间内不发生损坏,因此器件的抗短路能力对整个系统的可靠性尤为重要。器件的抗短路能力测试有三种方式,分别对应的是器件在不同的初始条件下因为电路突发短路(比如负载失效)而接受大电流大电压时的反应。抗短路测试方式一,也称为“硬短路”,是指IGBT从关断状态(栅压为负)直接开启进入到抗短路测试中;抗短路测试方式二,是指器件在已经导通有正常电流通过的状态下(此时栅压为正,漏源电压为正但较低),进入到抗短路测试中;抗短路测试方式三是指器件处于栅电压已经开启但漏源电压为负(与器件反并联的二极管处于续流状态,所以此时器件的漏源电压由于续流二极管的钳位在-0.7eV左右,,栅压为正),进入到抗短路测试中。可知,器件的抗短路测试都是对应于器件因为电路的突发短路而要承受电路中的大电流和大电压,只是因为器件的初始状态不同而会有不同的反应。抗短路测试方法一电路如图4.2,将器件直接加载在电源两端,器件初始状态为关断,此时器件承受耐压。当给器件栅电极施加一个脉冲,器件开启,从耐压状态直接开始承受一个大电流及大电压,考量器件的“硬”耐短路能力。图4.2 抗短路测试方法一的测试电路图抗短路测试方法二及三的测试电路图如图4.2,图中L_load为实际电路中的负载电感,L_par为电路寄生电感,L_sc为开关S1配套的寄生电感。当进行第二种抗短路方法测试时,将L_load下端连接到上母线(Vdc正极),这样就使L_sc支路与L_load支路并联。初态时,S1断开,DUT开通,电流从L_load和DUT器件上通过,开始测试时,S1闭合,L_load瞬时被短路,电流沿着L_sc和DUT路线中流动,此时电流通路中仅包含L_sc和L_par杂散电感,因此会有大电流会通过DUT,考察DUT在导通状态时承受大电流的能力。当进行第三种抗短路方法测试时,维持图4.2结构不变,先开通IGBT2并保持DUT关断,此时电流从Vdc+沿着IGBT2、L_load、Vdc-回路流通,接着关断IGBT2,那么D1会自动给L_load续流,在此状态下开启DUT栅压,DUT器件处于栅压开启,但漏源电压被截止状态,然后再闭合S1,大电流会通过L_sc支路涌向DUT。在此电路中IGBT2支路的存在主要是给D1提供续流的电流。图4.3 抗短路测试方法二和方法三的测试电路图1) 抗短路测试方法一:图4.2中Vdc及C1大电容提供持续稳定的大电压,给测试器件DUT栅极施加一定时间长度的脉冲,在被试器件被开启的时间内,器件开通期间处于短路状态,且承受了较高的耐压。器件在不损坏的情况下能够承受的最长开启时间定义为器件的短路时长(Tsc),Tsc越大,抗短路能力越强。在整个短路时长器件,器件所承受的能量,为器件的短路能量(Esc)。器件的抗短路测试考察了器件瞬时同时承受高压、高电流的能力,也是一种器件的复合应力测试方式。图4.2测试电路中的Vdc=600V,C1、C2、C3根据器件的抗短路性能能力决定,C1的要求是维持Vdc的稳定,C1的要求是测试过程中释放给被测器件的电能不能使C1两端的电压下降过大(5%之内可接受)。C2,C3主要用于给器件提供高频、中频电流,不要求储存能量过大。对C2、C3的要求是能够降低被测器件开通关断时造成的漏源电压振幅即可。图4.4 抗短路能力测试方法一的测试结果波形图4.4给出了某款SiC平面MOSFET在290K下,逐渐增大栅极脉冲宽度(PW)的抗短路能力测试结果。首先需要注意的是在测试过程中,每测量一个脉冲宽度的短路波形,需要间隔足够长的时间,以消除前一次短路测试带来的器件温度上升对后一次测试的器件初始温度的影响,保证每次测试初始温度的准确。从图中可以看出,Id峰值出现在1 μs和2 μs之间,随着开通时间的增加,Id呈现出先增加后减小的时间变化趋势。Id的上升阶段,是因为器件开启时有大电流经过器件,在高压的共同作用下,器件温度迅速上升,因为此时MOSFET的沟道电阻是一个负温度系数,所以MOSFET沟道电阻减小,Id则上升,在该过程中电流上升的速度由漏极电压、寄生电感以及栅漏电容的充电速度所决定;随着大电流的持续作用,器件整体温度进一步上升,器件此时的导通电阻变成正温度系数,器件的整体电阻将随温度增加逐渐增大,这时器件Id将逐渐减小。所以,整个抗短路能力测试期间,Id先增加后下降。此外,测试发现,当脉冲宽度增加到一定程度,Id在关断下降沿出现拖尾,即器件关断后漏极电流仍需要一定的时间才能恢复到0A。在研究中发现当Id拖尾到达约12A左右之后,进一步增大脉冲宽度,器件将损坏,并伴随器件封装爆裂。所以针对这款器件的抗短路测试,定义Tsc为器件关断时漏极电流下降沿拖尾到达10A时的脉冲时间长度。Tsc越长,代表器件的抗短路能力越强。测试发现,低温有助于器件抗短路能力的提升,原因是因为,低的初始温度意味着需要更多的时间才能使器件达到Id峰值。仿真发现,器件抗短路测试失效模式主要有两种:1、器件承受高压大电流的过程中,局部高温引起漏电流增加,触发了器件内部寄生BJT闩锁效应,栅极失去对沟道电流的控制能力,器件内部电流局部集中发生热失效,此时的表现主要是器件的Id电流突然上升,器件失效;2、器件温度缓慢上升时,导致器件内部材料性能恶化,比如栅极电极或者SiO2/Si界面处性能失效,主要表现为器件测试过程中Vgs陡降,此时,器件的Vds若未发生进一步损坏仍能承受耐压,只是器件Vgs耐压能力丧失。上述两种失效模式都是由于温度上升引起,所以要提升器件的抗短路能力就是要控制器件内部温度上升。仿真发现导通时最高温区域主要集中于高电流密度区域(沟道部分)及高电场区域(栅氧底部漂移区)。因此,要提升器件的抗短路能力,要着重从器件的沟道及栅氧下方漂移区的优化入手,降低电场峰值及电流密度,此外改善栅氧的质量将起到决定性的作用。2) 抗短路测试方法二:图4.5 抗短路能力测试方法二的测试结果波形如图4.5,抗短路测试方法二的测试过程中DUT器件会经历三个阶段:(1)漏源电压Vds低,Id电流上升:当负载被短路时,大电流涌向DUT器件,此时电路中仅包含L_sc和L_par杂散电感,DUT漏源电压较低,Vdc电压主要分布在杂散电感上,所以Id电流以di/dt=Vdc/(L_sc+L_par)的斜率开始上升。随着Id增加,因为DUT器件的漏源之间的寄生电容Cgd,会带动栅压上升,此时更加促进Id电流的增加,形成一个正循环,Id急剧上升。(2)Id上升变缓然后开始降低,漏源电压Vds上升:Id上升过程中,Vds漏源电压开始增加,导致Vdc分压到杂散电感上的电压降低,导致电流上升率di/dt减小,Id上升变缓,当越过Id峰值后,Id开始下降,-di/dt使杂散电感产生一个感应电压叠加在Vds上导致Vds出现一个峰值。Vds峰值在Id峰值之后。(3)Id、Vds下降并恢复:Id,Vds均下降恢复到抗短路测试一的高压高电流应力状态。综上所述,抗短路测试方法一的条件比方法一的更为严厉和苛刻。3) 抗短路测试方法三:图4.6 抗短路能力测试方法二的测试结果波形如图4.6,抗短路测试方法三的波形与方法二的波形几乎一致,仅仅是在Vds电压上升初期有一个小的电压峰(如图4.6中红圈),这是与器件发生抗短路时的初始状态相关的。因为方法三中器件初始状态出于栅压开启,Vds为反偏的状态,所以器件内部载流子是耗尽的。此时若器件Vds转为正向开通则必然发生一个载流子充入的过程,引发一个小小的电压峰,这个电压峰值是远小于后面的短路电压峰值的。除此以外,器件的后续状态与抗短路测试方法二的一致。一般来说,在电机驱动应用中,开关管的占空比一般比续流二极管高,所以是二极管续流结束后才会开启开关管的栅压,这种情况下,只需要考虑仅开关管开通时的抗短路模式,则第二种抗短路模式的可能性更大。然而,当一辆机车从山上开车下来,电动机被用作发电机,能量从车送到电网。续流二极管的占空比比开关管会更高一点,这种操作模式下,如果负载在二极管续流且开关管栅压开启时发生短路,则会进行抗短路测试模式三的情况。改进抗短路失效模式二及三的方法,是通过给开关器件增加一个栅极前钳位电路,在Id上升通过Cgd带动栅极电位上升时,钳位电路钳住栅极电压,就不会使器件的Id上升陷入正反馈而避免电流的进一步上升。试验目标:常温下,令Vdc=600V,通过控制Vgs控制SiC MOSFET的开通时间,从2μs开通时间开始以1μs为间隔不断增加器件的开通时间,直至器件损坏,测试过程中保留测试曲线。需要注意的是,在测试过程中,每测量一个脉冲宽度的短路波形,需要间隔足够长的时间,以消除前一次短路测试带来的器件温度上升对后一次测试的器件初始温度的影响,保证每次测试初始温度的准确。试验步骤:搭建抗短路能力测试电路。将器件安装与测试电路中,保持栅压为0。通过驱动电路设置器件的开通时间,给器件一个t0=2μs时间的栅源脉冲电压,使器件开通t0时间,观察器件上的电流电压曲线,判断器件是否能够承受2μs的短路开通并不损坏;如未损坏,等待足够长时间以确保器件降温至常温状态,设置驱动电路使器件栅源电压单脉冲时间增加1us,再次开通,观察器件是否能够承受3μs的短路开通并不损坏。循环反复直至器件发生损坏。试验标准:器件被打坏前最后一次脉冲时间长度即为器件的短路时长Tsc。整个短路时长期间,器件所承受的能量为器件的短路能量Esc。4.3 浪涌试验目的:把样品暴露在空气干燥的恒温环境中,对器件施加半正弦正向高电流脉冲,使器件在瞬间发生损坏,观测元器件在高电流密度下的耐受能力。试验原理:下面以SiC二极管为例,给出了器件承受浪涌电流测试时的器件内部机理。器件在浪涌应力下的瞬态功率由流过器件的电流和器件两端的电压降的乘积所决定,电流和压降越高,器件功率耗散就越高。已知浪涌应力对器件施加的电流信号是固定的,因此导通压降越小的器件瞬态功率越低,器件承受浪涌的能力越强。当器件处于浪涌电流应力下,电压降主要由器件内部寄生的串联电阻承担,因此我们可以通过降低器件在施加浪涌电流瞬间的导通电阻,减小器件功率、提升抗浪涌能力。a)给出了4H-SiC二极管实际浪涌电流测试的曲线,图4.7 a)曲线中显示器件的导通电压随着浪涌电流的上升和下降呈现出“回滞”的现象。图4.7 a)二极管浪涌电流的实测曲线; b)浪涌时温度仿真曲线浪涌过程中,器件的瞬态 I-V 曲线在回扫过程中出现了电压回滞,且浪涌电流越高,器件在电流下降和上升过程中的压降差越大,该电压回滞越明显。当浪涌电流增加到某一临界值时,I-V 曲线在最高压降处出现了一个尖峰,曲线斜率突变,器件发生了失效和损坏。器件失效后,瞬态 I-V 曲线在最高电流处出现突然增加的毛刺现象,电压回滞也减小。引起SiC JBS二极管瞬态 I-V 曲线回滞的原因是,在施加浪涌电流的过程中,SiC JBS 二极管的瞬态功率增加,但散热能力有限,所以浪涌过程中器件结温增加,SiC JBS 二极管压降也发生了变化,产生了回滞现象。在每次对器件施加浪涌电流过程中,随着电流的增加,器件的肖特基界面的结温会增加,当电流降低接近于0时结温才逐渐回落。在浪涌电流导通的过程中,结温是在积累的。由于电流上升和下降过程中的结温的差异,导致了器件在电流下降过程的导通电阻高于电流在上升过程中导通电阻。这使得电流下降过程 I-V 曲线压降更大,从而产生了在瞬态 I-V 特性曲线电压回滞现象。浪涌电流越高,器件的肖特基界面处的结温越高,因此导通电阻就越大,而回滞现象也就越明显。为了分析器件在 40 A 以上浪涌电流下的瞬态 I-V 特性变化剧烈的原因,使用仿真软件模拟了肖特基界面处温度随电流大小的变化曲线,如图4.7 b)所示,在 40 A 以上浪涌电流下,结温随浪涌电流变化非常剧烈。器件在 40 A 浪涌电流下,最高结温只有 358 K。但是当浪涌电流增加到60 A 时,最高结温已达1119 K,这个温度足以对器件破坏表面的肖特基金属,引起器件失效。图4.7 b)中还可以得出,浪涌电流越高,结温升高的变化程度就越大,56 A 和 60 A 浪涌电流仅相差 4 A,最高结温就相差 543 K,最高结温的升高速度远比浪涌电流的增加速度快。结温的快速升高导致了器件的导通电阻迅速增大,正向压降快速增加。因此,电流上升和下降过程中,器件的导通压降会更快速地升高和下降,使曲线斜率发生了突变。器件结温随着浪涌电流的增大而急剧增大,是因为它们之间围绕着器件导通电阻形成了正反馈。在浪涌过程中,随着浪涌电流的升高,二极管的功率增加,产生的焦耳热增加,导致了结温上升;另一方面,结温上升,导致器件的导通电阻增大,压降进一步升高。导通电压升高,导致功率进一步增加,使得结温进一步升高。因此器件的结温和电压形成了正反馈,致使结温和压降的增加速度远比浪涌电流的增加速度快。当浪涌电流增加到某一临界值时,触发这个正反馈,器件就会发生失效和损坏。长时间的重复浪涌电流会在外延层中引起堆垛层错生长,浪涌电流导致的自热效应会引起顶层金属熔融,使得电极和芯片之间短路,还会导致导通压降退化和峰值电流退化,并破坏器件的反向阻断能力。金属Al失效是大多数情况下浪涌失效的主要原因,应该使用鲁棒性更高的材料替代金属Al,以改善SiC器件的高温特性。目前MOS器件中,都没有给出浪涌电流的指标。而二极管、晶闸管器件中有这项指标。如果需要了解本项目研发的MOSFET器件的浪涌能力,也可以搭建电路实现。但是存在的问题是,MOS器件的导通压降跟它被施加的栅压是相关的,栅压越大,导通电阻越低,耐浪涌能力越强。如何确定浪涌测试时应该给MOSFET施加的栅压,是一个需要仔细探讨的问题。试验目标:我们已知浪涌耐受能力与器件的导通压降有关,但目前无法得到明确的定量关系。考虑到目标器件也没有这类指标的参考,建议测试时,在给定栅压下(必须确保器件能导通),对器件从低到高依次施加脉冲宽度为10ms或8.3ms半正弦电流波,直到器件发生损坏。试验步骤:器件安装在测试台上后,器件栅极在给定栅压下保持开启状态。通过测试台将导通电流设置成10ms或8.3ms半正弦电流波,施加在器件漏源极间。逐次增加正弦波的上限值,直至器件被打坏。试验标准:器件被打坏前的最后一次通过的浪涌值即为本器件在特定栅压下的浪涌指标值。以上内容给出了本项目研发器件在复合应力及极端条件下的可靠性测试方法,通过这些方法都是来自于以往国际工程经验和鉴定意见,可以对被测器件的可靠性有一个恰当的评估。但是,上述方法都是对测试条件和测试原理的阐述,如何通过测试结果来评估器件的使用寿命,并搭建可靠性测试条件与可靠性寿命之间的桥梁,就得通过可靠性寿命评估模型来实现。
  • 2012年上半年仪器新品盘点:表界面及颗粒测试仪器
    新产品和新技术体现了相关行业的技术发展趋势,定期推出一定数量的新产品和新技术是一个仪器企业创新能力的具体表现。仪器信息网“半年新品盘点”旨在将最近半年内推出的新产品和新技术集中展示给广大用户,让大家对于感兴趣的领域有总体性了解,更多创新产品和更详细内容见新品栏目。 比表面分析仪   比表面分析仪是用来检测颗粒物质比表面积的专用设备,而比表面积测试方法主要包括动态色谱法和静态容量法,其中动态色谱法是将待测粉体样品装在U型的样品管内,使含有一定比例吸附质的混合气体流过样品,根据吸附前后气体浓度变化来确定被测样品对吸附质分子的吸附量 而静态法根据确定吸附量的方法的不同分为重量法和容量法 重量法是根据吸附前后样品重量变化来确定被测样品对吸附质分子的吸附量,由于分辨率低、准确度差、对设备要求很高等缺陷已很少使用 容量法是将待测粉体样品装在一定体积的一段封闭的试管状样品管内,向样品管内注入一定压力的吸附质气体,根据吸附前后的压力或重量变化来确定被测样品对吸附质分子的吸附量。   现在国际上比表面积分析仪的使用已经非常广泛,在国内也逐步得到了认识,因此涌现出了好多优秀的厂商,然而企业能够持续发展来源于它持续的创造力。下面列举国内外厂家2012年上半年推出的新产品,以飨读者。   2012年上半年的表面分析仪器主要有:北京精微高博科学技术有限公司全自动比表面积及真密度测试仪JW-BK224T、北京金埃谱科技有限公司物理吸附分析仪V-Sorb 4800、贝士德仪器科技(北京)有限公司高精度比表面积和孔隙度测定仪3H-2000PS2、瑞典百欧林科技有限公司上海代表处Theta QC光学接触角仪、威杰(香港)有限公司全自动表面能分析仪SEA、浙江泛泰仪器有限公司全自动微反评价设备4200。   从这些新产品的创新点可以看出未来表界面仪器的发展趋势。   北京精微高博科学技术有限公司全自动比表面积及真密度测试仪 产品型号:JW-BK224T   上市时间:2012年6月   北京精微高博科学技术有限公司独自开发设计静态容量法和动态色谱法两大类六种型号比表面仪器,其中静态容量法比表面及孔隙率测定仪是与国外同类产品相同质量和功能的仪器,JW-BK和JW-RB为精微高博独创的静态容量法比表面积及比表面及孔隙率测定仪,性能达到国外同类水平,深受国内用户欢迎。而JW-BK224T是精微高博的创新产品,该产品设有4个样品分析位,4个样品预处理位,测试系统与预处理系统可同时工作,互不干扰 比表面和真密度测试积聚一身的测试仪器!真密度测试:采用新颖独特的集装式管路设计,有效提高了真密度分析仪密封性,减小了基体腔自由体积空间,同时可有效提高整体测试系统的温度均匀性及抗各种外界干扰能力,有利于提高测试结果的重复性。   北京金埃谱科技有限公司物理吸附分析仪 产品型号:V-Sorb 4800   上市时间:2012年3月   全自动物理吸附分析仪V-Sorb 4800是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径分析仪器,采用静态容量法测试原理,并参考众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱物理吸附分析仪多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善, 该仪器采用进口4升大容量金属杜瓦瓶,在无需增加保温盖的条件下可连续进行72小时测试,无需添加液氮,可同时进行4个样品的分析和脱气处理,相比同类产品工作效率提高了一倍。整个测试系统采用模块化结构设计,完全自动化的设计理念,配以功能完善的测试软件,可实现夜间无人值守式自动测试,大大提高测试效率。   贝士德仪器科技(北京)有限公司高精度比表面积和孔隙度测定仪 产品型号:3H-2000PS2   上市时间:2012年1月   贝士德公司今年一月份刚刚推出的高精度比表面积和孔隙度测定仪3H-2000PS2增加了国内唯一的分子置换模式,对样品预处理模式进行了改进 该仪器增加了PO测试,PO测试对静态法比表面积和孔隙度测定仪的准确性和重复性有很大的作用.。另外,该仪器还获得了两项国家技术专利:静态法高精度比表面积和孔隙度测定仪的净化预处理装置(专利号:ZL201120136943.9) ,静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸汽压测试装置(专利号:ZL201120136959.X )。   瑞典百欧林科技有限公司上海代表处光学接触角仪 产品型号:Theta QC   上市时间:2012年2月   瑞典百欧林科技有限公司拥有Q-Sense, KSV, Attension, Nima, Osstell等品牌,主要产品为基于QCM-D专利技术的石英晶体微天平、LB膜分析仪,浸入成膜仪、表/界面张力仪,光学接触角仪、表面等离子共振仪、表面流变测试仪、表面红外测试仪等。在2012年一月刚刚推出的Theta QC 是一款设计精巧紧致的便携式光学接触角测试仪,可用于精确测试润湿、吸附、均一性、表面自由能、铺展性、吸收、清洁度和印刷适性等,用于快速在线检测和生产过程中的质量控制,可广泛应用于包装、涂料、印刷和材料工程等行业。与同类仪器相比,Theta QC的主要特点:1. 轻巧,灵活便携,适用于在线检测 2. 真正的无线测试:自带电池可连续工作8小时,测试数据可无线传输至远程电脑 3. 内置存储,可存200个数据点 4. 使用方便,软件界面友好。   威杰(香港)有限公司全自动表面能分析仪 产品型号:SEA   上市时间:2012年1月   iGC(反气相色谱法)-是一项的针对粉末、颗粒、纤维、薄膜、半固体的表面与体积性质的气相表征技术。iGC 表面能分析仪继续保持了SMS 公司15年来开拓历史的反气相色谱法的世界领导者地位。全自动表面能分析仪SEA代表了iGC技术的巨大进步。SEA创新的核心是其独特的多面注射系统。这个系统生成了具有最大精度和范围的溶剂脉冲,精确地产生样品空前的高和极低的表面覆盖范围的等温线。这使得非均匀分布的表面量的测量更加精准。Cirrus Plus 利用了iGC SEA的实验灵活性,提供广泛的,人性化的数据分析,并可以单击生成报表,帮您最大程度的运用iGC数据。 浙江泛泰仪器有限公司全自动微反评价设备 产品型号:4200   上市时间:2012年3月   浙江泛泰仪器有限公司在2012年3月推出了这款全自动微反评价设备4200,装置采用框架式结构,模块化设计,分为气体减压、进料、反应、产品收集和放空等区域,且该装置反应各部件可以根据用户的具体需求,做相应的调整 该仪器的控制装置能够自动控制气体和液体流量,多段式反应炉的温度 此外,全自动微反评价设备主要用来进行催化剂或其他物质的固定床微反评价,可以实现同时多路气体和多路液体进样,并使用MFC和液体计量泵计量 反应器可以支持1200度或20Mpa的操作压力,能够设计成桌面型、小型立式、DCS控制型、小试装置等。 颗粒/粉体流动性测试   随着颗粒技术的发展,颗粒测试技术已经受到广泛的关注与重视. 近年来颗粒测试技术进展很快,表现在以下几个方面:1) 激光粒度测试技术更加成熟2) 图像颗粒分析技术东山再起3) 颗粒计数器不可替代4) 纳米颗粒测试技术有待突破5) 光子相关技术独树一帜6) 颗粒在线测试技术正在兴起。其中,粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。另外,测定粉末流动性的仪器称为粉末流动仪,也叫霍尔流速计。由漏斗、底座和接粉器等部件组成。因为在工业生产中,粉体的颗粒形状、细度、粒度分布和粘聚性,会直接影响产品的质量,所以不管是颗粒度的测试还是粉体流动性的测试在实际的应用中都很为重要,选用仪器分析检测也尤为重要。   2012年上半年的颗粒或者粉体流动性测试仪器的新品主要有:珠海欧美克仪器有限公司生产的激光粒度仪LS-C(III)型干湿二合一和英国Freeman Technology公司(大昌华嘉商业(中国)有限公司代理)生产的FT4多功能粉末流动性测试仪。   从这些新产品的创新点可以看出未来试验机行业的发展趋势。   珠海欧美克仪器有限公司激光粒度仪 产品型号:LS-C(III)   上市时间:2012年1月   欧美克是一家专注于粒度检测与控制技术的研发与生产的公司,是中国粒度检测仪器第一大制造企业。刚刚面世的这款激光粒度仪采用独有的大角散射光的球面接收技术(专利号:95223756.3),对透镜后傅立叶变换结构,将大角探测器布置在适当的球面上,以实现大角散射光的精确聚焦 该仪器采用一体化激光发射器(专利号:00228952.0),有效降低了激光管热变形、外界机械振动对仪器稳定性的影响。自动对中系统步进精度达到0.5微米,使用户操作更为方便 湿法进样系统采用增压泵,转速达5000转/分,相较于蠕动泵能有效实现大颗粒的循环 干法进样系统振动电机无极可调,实现遮光比的有效控制 测试窗口材质采用高品质光学材料,窗口构件采用全不锈钢材,耐磨、易清洗,维护方便 光路系统采用全封闭设计,防止灰尘污染及外界光污染。   大昌华嘉商业(中国)有限公司多功能粉末流动性测试仪 产品型号:FT4   上市时间:2012年2月   国外高技术仪器公司众多,但是他们中很多公司并不能全面理解中国文化和市场,在拓展中国市场方面“心有余而力不足”,因此急需诸如华嘉这样专注市场拓展的贸易代理公司的帮助。早期,华嘉总是搜寻一些大公司或第一品牌的公司进行合作,而如今,华嘉更加倾向于专业型企业,同时这些企业也必须在他们所专注的领域具有领导地位或者拥有创新的技术。英国Freeman Technology公司就是这样的一家优质公司。今年4月份推出的最新一代FT4多功能粉末流动性测试仪,利用专利的粉末均匀化预处理,通过测量粉末的动力学性质,剪切性质和包含压缩性、透气性和密度在内的粉末整体特性,给出粉末高重复性的流动性质的定量数据,在此之前,没有任何其他仪器可以做到这些。除此以外,一些与加工过程有关的变量,如贮存时间、静电、结团、颗粒偏析、颗粒破碎或湿法制粒时的含水量等也都可以由FT4获得评估,真正实现了粉末在实际应用环境中的定量表征。
  • 安徽某单位新建光伏实验室批量采购仪器设备
    安徽某经销商帮新建光伏实验室的客户(也在安徽)采购28类仪器设备,国产进口均可,请能做的厂商联系,具体仪器设备清单及要求如下:产品名称核心配置及参数数量磁控溅射仪1. 型号:JCP3502. 真空腔室结构:立式上开盖结构,后置抽气系统,气动提开式3. 真空腔室尺寸:Φ350×H350mm4. 加热温度:室温~500℃5. 溅射方式:向上溅射6. 旋转基片台:Φ120mm7. 膜厚不均匀性:Φ75mm范围内≤±5.0%8. 溅射靶/蒸发电极:Φ2英寸磁控靶2支,兼容DC/RF溅射9. 工艺气体:2-3路气体流量控制10. 控制方式:PLC+触摸屏人机界面半自动控制系统11. 占地面积:(主机)L1600×W800×H1920mm12. 总功率:≥8KW1PECVD1. 平板尺寸:82. 源直径:5”或8”3. 气体输入管数量:4(两个反应气,一个载气,一个排空管)4. 源距平板的距离:2”或者可调5. 真空:低于E-7Torr,200Lc涡轮分子泵及3.5cfm机械泵组合6. Z大平板温度:800℃7. 射频电源供应:600W,13.5MHz8. 射频偏压:300W,13.5MHz1红外热成像仪1. 红外分辨率:384*2882. 超像素:768*5763. 热灵敏度:50 mk(0.05℃)4. 视场角;49°*36.8°5.空间分辨率:2.27 mrad6. 焦距:f7.57. 最小成像距离:0.4 m8. FTP快传:通过WiFi/便携式热点连接热像仪,通过FTP访问热像仪内数据9. 无线连接:WiFi/便携式热点,蓝牙10. 对焦:免对焦11. T-DEFR:可见光测温,可调节热像透明度0%-100%12. 画中画:有13. lREdgeTM:有14. TWBR:有15. 可见光相机:800万像素,工业级数码相机16. LED灯:支持手电筒照明和闪光灯模式17. 帧频:30Hz18. 测温范围:-20 °C~650°℃19. 测温量程:-20°C~120°℃,0 °C~650°℃20. 智能量程:支持21. 测温精度:±2℃或2%取大值(在25°℃环境温度)22. 发射率校正:支持,自定义输入和材料表选择,范围0~123. 环境温度校正:支持24. 相对湿度校正:支持25. 测温距离校正:支持26. 红外窗口校正:支持,支持根据红外窗口温度和透过率校正测温27. 测温区域:点:8、线:2、区域:828. 显示屏:3.5英寸触摸屏29. 图像模式:热像、可见光、画中画和T-DEF*30. 通用调色板:8种,灰白、铁红、彩虹、灰红、春雨、炽热、医学、棱镜31. 颜色报警:支持,温度之上、温度之下和温度之间32. 自动温宽模式:自动调整热像画面的水平和跨度33. 最小温宽:自动:3℃34. 存储卡:TF卡,标配32GB,可存储约10万张图像 可适配64GB、128GB TF卡35. 图像捕捉:支持单帧拍摄和定时拍摄36. 视频录制:支持全辐射视频和MP4视频录制37. 文件格式:JPEG(全辐射热像图)、可见光图片和MP4(非全辐射视频)38. 本机图库:有39. 本机文件分析:支持40. 冻结画面:有,支持单帧拍摄和全辐射视频录制41. 语音注释:支持,可录制最长200秒语音42. 文本注释:支持,无长度限制的文件注释43. 标签:支持,可对拍摄图像文件设置标签用于分类管理文件44. 收藏标注:有,对于感兴趣的热像图标可以添加收藏标注45. 扫一扫:支持,可扫描二维码和条形码,作为标签46. 分析软件:AnalyzlR专业热像分析软件47. 远程显示查看:连接AnalyzlR查看热像视频流,通过HDMI接口连接到显示屏或投影仪48. 远程控制操作:通过连接PC软件(FOTRIC AnalyzIR)进行远程操作控制49. 探测器响应波段:7-14um50. 探测器类型:非制冷型红外焦平面探测器51. 像元间距:17um52. 数字变倍:1-4倍,支持滚轮连续可调53. WiFi连接:支持2.4GHz与5GH频段,支持802.11a/b/g/n/ac54. 蓝牙连接:BT4.2 LE,可连接至蓝牙耳机55. USB接口:uSB Type-C类型 符合USB 3.0/2.0规范,支持USB OTG56. HDMI接口:Micro HDMI类型,符合HDMI 1.4规范,支持以60Hz传输1080P图像视频57. 外部存储接口:TF卡,支持热插拔识别58. 激光指示器:等级:2级 波长:635nm 功率:1mW59. 工作温度:-20°℃至50°c60. 存放环境:-40°℃至70°℃,不带电池 95%RH61. 振动:2g(GB/T2423.10-2008/IEC 60068-2-6:1995)62. 冲击:25g(GB/T2423.5-2019/IEC 60068-2-27:2008)63. 碰撞:带包装箱10g(GB/T 2423.6-1995/IEC 60068-2-29:1987)64. 跌落:设计为2m抗跌落65. 尺寸(高*宽*长):243*95*14266. 重量(含电池):730g67. 防护等级:IP5468. 三脚架安装:UNC 1/4 -20接口可直接连接三脚架69. 保修期:整机1年70. 支持语言:中文、英文71. 产品标配:红外热像主机、镜头盖、可充电锂电池2块、座充、电源适配器、USB Type-C至USB接口线缆、MicroHDMI接口2太阳能组件IV测试仪1. 型号:MI31088PS2. 电压的测量范围:0-999V DC、0-999V AC、0-999V DC3. 电流的测量范围:0.0mA-300A DC、0.0mA-300A AC、0.00A-15A DC4. 功率的测量范围:0-200 kW、0-15 kW5. 电能:0.000Wh-1999kWh6. U/I曲线:1000V/15A/15kW7. 谐波:分析到11次8. 光照度:0-2000W/m29. 温度:-10 ℃到85℃10. 绝缘电阻(EN61557-2):U = 50, 100, 250 VDC:达到199.9 MΩ;11. U = 500 VDC, 1 kVDC:达到199.9 MΩ12. 200mA连续性(EN61557-4):0.00Ω-1999Ω13. 连续性(7mA):0.0Ω-1999Ω14. 回路阻抗(EN61557-3):0.00Ω-9.99kΩ15. 线路阻抗(EN61558-3):0.00Ω-9.99kΩ16. 电压:0V-550V AC17. 频率:0.00Hz-499.9Hz18. 相序(EN61557-7):1、2、3或3、2、119. 漏电开关测试(EN61557-6):10mA、30mA、100mA、300mA、500mA、1A20. 接触电压(UC):0.0V-99.9V21. 动作时间:0ms到最大1电池组件EL测试仪1. 型号:HIK-CM-9A2. 有效测试面积:2000*1200mm3. 分辨率:1360×1024(单)、3032*2016(单)、3358*2536(单)、2720*1024(双)、6656*2030(双)、6716*2536(双)4. 相机类型:冷却型CCD5. 冷却到达温度:致冷至室温下 20 °C6. 可编程电源输出电压:0~80V7. 可编程电源输出电流:0~9.5A1直流低电阻测试仪1. 测量范围:0~2999.9μΩ2. 分辨力:0~99.99,0.01μΩ、100.0~2999.9,0.1μΩ3. 测试电流:DC50A、100A两档固定输出4. 测量精度:±(0.5% rd+2d)5. 连续工作时间:5s~599s6. 显示方式:大屏幕中文液晶显示7. 通信方式: USB或RS232串口8. 工作电源:AC220V±10% 50Hz9. 整机功率:600W10. 最大存储记录:200条11. 工作环境:温度-10℃~40℃、湿度≤80 %RH12. 体积:380×300×260 mm313. 重量:6kg(不含附件)2太阳能模拟器1、电气主接线:16/32/64A2、电源电气:3*380V±15%3、市电频率 45~65HZ4、能耗:4.9kw/㎡5、输出光源:稳态或长闪6、光谱匹配:0.75~1,257、辐射空间均匀性:±2%8、灯管数量:30/㎡1热电偶1、测量范围 0~100m³/h2、口径 DN4-DN2003、压力 0-0.4MPa4、材质 304不锈钢5、供电 24VDC 锂电池6、输出 4-20mA 脉冲 RS4857、防护 IP658、防爆 EXdII BT49、类型 叶轮式流量计10、型号 HY-LWGY11、温度 -20 ℃≥150℃12、数量 100013、批号 HY-LWGY00114、品牌 华云仪表1太阳能辐照仪1、品牌 绿光2、尺寸50MM3、重量1.33kg4、测量精度2%5、安装方式 平面或斜面6、余弦响应≤7%(太阳高度角10°时)7、传感器阻抗<50Ω8、型号 FSP101静电表1、类型:三相电能仪表2、接入电源:交流表3、用电设备:三相4、接线方式:直接接入5、原理:机械式6、用途:工业用7、加工定制:非加工定制最大电流:6-100A准确度等级:有功0.2S级、有功 0.55级、有功1级、无功2级基本电流:1.5-10A参比电压:220、380V显示方式:数字显示频率:50/60Hz装箱数:10重量:0.9kg1电压前置放大器 1、带宽(-3dB) 1kHz~5MHz2、输入阻抗 50Ω3、输入换算 0.7nV/ zH 以下(1kHz)4、噪声电压 0.5nV/ zH typ(1k~1MHz)5、输入换算 7pA/ zH typ6、噪声电流 (10kHz)7、最大输出电压 2 Vp-p(50Ω)8、输出阻抗 50Ω9、电压增益 46 dB10、尺寸(宽*高*深)135*70*25mm1电化学工作站1直线电机1、产品认证CCC2、输入电压6V3、额定电流3A4、适用电机 丝杆电机5、额定电压6V7、额定转速200rpm8、最大静转矩1000N9、定子相数410、极数14075^01数字源表1、品牌 吉时利Keithley2、测量范围10pA to 10A,1μ3、电源电压220(V)4、测量精度0.0015、测量分辨率(电流/电压)1pA / 100nV1示波器1、200 MHz、100 MHz、70 MHz、50 MHz 带宽模式2 通道和 4 通道型号3、所有通道均实现高达 2 GS/s 的采样速率4、全部通道均实现 2.5k 点记录长度5、高级触发,包括脉宽触发和选行视频触发2纳米材料沉积系统1、可打印范围:210mm x 315 mm;2、可重复性:± 25μm;3、可调温度范围:周边温度可到 60°C;4、在 5-80% RH非凝结条件下的操作温度范围 15-40°C 。5、型号: Dimatix(DMP-2850)1电流放大器1、封装SOT23-52、电流反馈型放大器RoHS3、通道数量1 Channel4、GBP-增益带宽产品5、270MHz6、SR-转换速率7、280V/us8、工作电源电流400uA9、包装数量10、3000PCS1光纤激光器1、工作模式:连续/调制2、输出总功率:12000W3、中心功率:6000W4、环形功率:6000W5、中芯传输光纤芯径:50/100μm(可定制)6、环芯传输光纤芯径:150/300μm(可定制)7、中芯光束质量*(86%)(BPP,mm• mrad):<2.2(@50um)/ <4(@100um)8、环形光束质量*(86%) (BPP,mm• mrad):<7.0(@150um) / <17(@300um)9、偏振方向:随机10、功率调节范围(%):10-10011、波长(nm):1080±512、输出功率稳定性:±1.5%13、调制频率(kHz):514、指示红光输出功率(mW):0.5~焊接工作平台1、回转速度:0.1-1rpm2、回转电极功率:0.75kw3、回转调速方式:变频调速4、反转速度:0.5rpa5、翻转电机功率:1.1kw6、工作台直径:10007、最大偏心矩:200mm,最大中心矩250mm8、翻转角度0-120゜9、90゜时工件最大直径:1570mm10、外形尺寸[长*宽*高]=1400*900*100011、设备自重1200kg12、最大承载1.2吨2焊接机器人1.负荷60/45/30千克2.附加负荷35千克3.工作范围 作用范围2033/2230/2429毫米4.轴数65.位置重复精度小于正负0.06毫米6.重量665千克7.占地面积850×950毫米8.安装方式:天花板、地板、墙壁、夹角2振镜系统1. 数值孔径:typ. 0.11 / max. 0.122. 准直器:138 mm3. 焦距:255 / 345 / 450 / 600 / 900 mm4. 尺寸(宽×高×深):412 mm x 266 mm x 366 mm5. 重量:35 kg2激光加工头和传导光纤1、22.8mm C.A.精密切割头组件2、焦距调节范围+/-4mm,分辨率10um3、X-Y 喷嘴微调范围+/-1.25mm4、额定功率为500W5、线性可移动范围20mm6、拥有50mm,60mm,80mm,100mm,150mm焦距可选7、喷气流速最大可达200 psi8、0.5mm,1.0mm,2.0mm,3.0mm,4.0mm喷嘴直径可选9、70mm CCD摄像头组件,1x或2x中继透镜10、材料为阳极氧化铝,不锈钢和黄铜结构11、可选附件工具包,光学清洁工具包等等光纤的参数是:1、工作波长800-2100nm2、纤芯数值孔径纤0.220±0.020 NA3、氢氧根离子水平:低4、纤芯直径:102.0±2.05、纤芯类型:纯硅芯2控制系统与软件系统匹配焊接机器人2设备冷却系统1. 应用范围:适用于6000W的光纤激光器2. 制冷量17000W3. 控温精度:可达到±0.5℃~±1.0℃4. 通信功能:RS485,可通过PC端实现对机器的远程监控2脉冲激光器1. 工作模式:脉冲/连续2. 平均输出功率(W):500≤P≤5203. 功率调节范围(%):中心波长(nm):1064±54. 光谱宽度 (nm):≤105. 输出功率不稳定度(%):≤36. 脉冲宽度(ns):20,30,60,100,150,200,250,350,500可选7. 最大单脉冲能量(mJ):28. 脉冲建立时间(us):≤209. 脉冲关断时间(us):1.送粉器结构:三筒三控式2.尺寸:780×600×1550mm3.系统配置:触摸屏、伺服系统、PLC4.流量调节范围:1~25L/min5.送粉粒度:20~250μm6.粉桶容积:1.5L2联系方式:为避免过度打扰,请添加仪器信息网工作人员微信获取采购方联系方式:
  • 6秒测样,全新一代便携式泽贝克系数测试仪PTM焕新呈现!
    嘉仪通有一款小设备叫【便携式泽贝克系数测试仪PTM】是今年5月份推出,用于测试材料Seebeck系数的新品目前已上市近半年【上市即获关注】嘉仪通的便携式泽贝克系数测试仪PTM首次亮相于第十次中国热电材料及应用学术会议(2018年5月6-9号,中国杭州),吸引了会上众多热电研究相关老师的注目,纷纷上前咨询和测样。【受到广泛关注】上市不到两个月,此款小设备就受到了相关高校、科研院所和热电材料企业等的广泛关注——围观凑热闹的、邮件电话咨询的、申请代理的、免费试用的、下单购买的....络绎不绝!同时也有热心的老师针对问题提出了许多宝贵意见。客户反馈汇总图【不断打磨改进】一款普通的便携式设备,却被市场广泛关注!这让嘉仪通的工程师们既兴奋也倍感压力。为了做出让客户满意的好产品,我们下定决心做好产品的改进升级——收集客户意见、制定可行改进方案、加班加点整改、修改后的测试与验证、客户试用以及收集反馈意见、再一次改进......不断循环往复。改进功能列表(部分)【快速测试】全新升级后的PTM-3,实测开机时间低至4.8 S/次,待完全热机后,实测镍带标准样品的时间为6 S/次(不同材料样品测试时间可能略有不同),能够极大提高团队的实验效率。样品实测图【操作方便】好不好上手操作是测样人员最关心的问题之一,PTM操作简便,用冷热两支探笔直接接触不同形态热电材料样品,系统就可自动运算,并快速呈现测试结果,易学易上手,老师再也不用担心你不会操作仪器了。【样品要求低】无论是块状、纤维状还是薄膜状热电材料样品,都可直接测试其Seebeck系数,对样品形状、结构无特殊限制性要求。不同形态样品测试图片探针直径实测图产品应用【材料初选】PTM测试速度如此之快,可完美应用于薄膜、块体等热电材料样品的筛选工作,在各类样品制成后,快速筛选优质样品,提高初选环节的效率,避免无用实验,极大节约实验成本。【均匀性测试】便携式泽贝克系数测试仪PTM不仅可以快速筛选不同种类热电材料,还可快速检测一种或多种薄膜、块体等热电材料的均匀性,对材料的内外部均匀情况作初步定量评价。【质量检测】在产业领域,PTM可完美应用于热电材料的质量抽查与检测环节,能够直观、快速的判断相关热电材料是否达到相应质量标准,提高产业效率。【本科教学】如此小巧方便的Seebeck系数测试仪,如果作为本科阶段教学设备,用于热电材料相关原理教学、实验讲解等教学环节,将深受师生们的喜爱。产品示意图【不同版本,不同特色】全新一代便携式泽贝克系数测试仪PTM分为两个版本:PTM-3,定位于科研级热电材料市场,具备高配置,在测试误差、量程范围、样品电阻范围等重要方面能够满足热电材料科研要求;PTM-2,定位于热电相关企业与教学仪器市场,性价比更高,不仅能够满足热电材料企业质量检测、生产抽查等方面的需求,而且是教学仪器的不二之选,能够完美适用于本科阶段各类热电材料相关原理教学、实验讲解等教学环节。【合作伙伴】目前,在用客户有:清华大学、北京航空航天大学、中国科学院化学研究所、武汉大学、广东省稀有金属研究所、广东雷子克、河北大学、内蒙古工业大学等十余家热电材料重点科研高校、科研院所以及热电材料企业。【技术参数】【应用实例】碲化铋棒材截面均匀性测量结果鹏南电子科技提供样品【Seebeck系数测试结果】
  • 织物热湿舒适性测试现状
    水分测试仪︱MMT水分测试仪︱液态水分管理测试仪︱询价电话:136718439661、织物的热湿舒适性研究概述 织物的热湿舒适性是指织物在人与环境的热湿传递之间维持人体体温恒定,为人体正常生理机能提供创造良好条件,从而使人体保持舒适的感觉。人体的舒适感觉取决于人体本身产生热量和周围环境散失热量之间能量交换的平衡。热湿性作为服装舒适性最为重要的指标,在近十几年来颇受纺织服装界研究重视。 目前,世界范围内,纺织品和服装的热湿舒适性主要集中在以下几个方面:纺织品和服装的热湿传递性能及其对舒适性的影响;织物动态湿传递性能的研究;运动衣、内衣用舒适织物的研究开发;新的试验方法和装置的研究。现将就现阶段织物热湿舒适性的测试方法和运动衣、内衣用舒适性织物的研究开发两个方面展开讨论,以大体展现织物热湿舒适性的现状。2、测试方法 现阶段,通过许多学者的研究,已建立起了各种各样的评价体系和测试指标,其中一类是分项单纯测热和测湿的,测热的主要有圆筒法、平板法、暖体假人法、热脉冲法等,测湿的主要有透湿杯法、湿度梯度法、敏感器件法等,另一类是测定热湿综合传递性能的。单纯性热湿传递或湿传递研究方法仅考虑了织物两侧形成的温差或水汽浓度差,而织物两侧的温差是同时存在的,在织物中热流和质流是同时传递着的并且相互作用。为了更好的模拟实际穿着情形,尤其是像夏季服装人体出汗更是不能忽略,应当采用热湿同时传递的方法,这已成为近年来研究的重点,这方面的仪器有纺织品微气候仪(包括一些带有模拟皮肤的热湿传递性能测定装置)和出汗暖体假人。常用的评价织物热湿舒适性的方法主要有物理学的、生理学的和心理学的方法。 影响人体感知衣物是否舒适的三个主要参数是:热湿舒适度、手感舒适度和压力舒适度。其中,热湿舒适度占整体感觉的50%,所以衣物的液态水分管理能力显著影响人们对衣物舒适度的感知。 热湿舒适性是人体对服装舒适程度主观判断的最重要的因素之一。人体的一个重要的散热作用是靠分泌汗液及其蒸发来进行的,水蒸气将身体或是面料表面的热量通过蒸发带走。经研究发现,在服装的微气候环境下,服装的吸汗性、面料对汗液的传递性及其在面料上蒸发的地点都与穿着的舒适度有关系。目前,具备良好的液态水分管理能力的功能性面料被广泛地应用于运动及户外服装、高级休闲服和制服。这些面料所具备的性能如:速干性,优良的透湿性能以及排汗性(能迅速地导出皮肤上的汗液,保持皮肤的干爽)。一些传统的标准和测试方法可以被用到对这些功能面料的检测,如吸水扩散性、芯吸高度、滴水穿透时间、透湿率和干燥速率等。然而,这些测试方法并不能测量出液态水在面料上的三维传递状况。 随着纺织行业的发展,具有液态水分管理性能的纺织品逐渐受到生产厂家的青睐。自20世纪90年代末期,在美国Under Armour公司的领导下,众多的公司开始大力宣传舒适性产品,并以此作为卖点。舒适性服装最基本的特性之一就是出色的液态水分管理性能。然而,人们却很难比较不同产品之间的液态水分管理性能。因为当时的测试仅仅局限于毛效测试或水滴测试,即测试织物转移液体的能力。测试时,将织物垂直放入水槽中或将水滴在织物上,然后测试水浸入织物的程度。这些测试方法的不足在于,只能测量在织物的一侧水滴一次。3. 液态水分管理测试仪(水分测试仪)织物的液态管理特性取决于它们的阻水性、拒水性、水吸收能力,以及纤维与纱的毛细效应、几何状态和内部构造。虽然目前有些测试方法可以简单测量织物的吸水性、穿透性与渗透时间,但无法测量面料中水分的动态转移特性。液态水分管理测试仪可提供一种新的测试纺织产品的水分管理能力的方法,能帮助我们准确地评估和开发吸湿排汗速干服装产品。2009年6月,《GB/T 21655.2 纺织品吸湿速干性的评定第二部分:动态水分传递法》顺利通过了国标委的审批,并将于2010年2月1日生效。几乎与此同时,美国纺织化学家和印染家协会AATCC也通过了《AATCC 195织物液态水分管理特性》。这标志着MMT液态水分管理测试仪最终获得了中美两国主要标准的认可。尽管在标准通过前,MMT液态水分管理测试仪就已经被美国棉花公司、NIKE、Adidas、迪卡侬、WL Gore、Polar Tec、安踏Anta、P&G、ITS、东华大学、广东溢达、山东鲁泰等六十多家行业领先企业和研究机构采用,但新标准的通过仍然会对该测试技术的普及起到推动的作用。3.1 测试原理织物试样水平放置,液态水与其浸水面(通常是指与皮肤接触层)接触后,会发生液态水沿织物的浸水面扩散,从织物的浸水面向渗透面(通常是指服装的外层)传递,同时在织物的渗透面扩散。此水含量的变化过程是时间的函数。当试样浸水面被注入测试液后,利用与试样紧密接触的上下传感器,测定测试液在织物中的动态传递状况,用一系列指标如浸湿时间、吸水速率、最大浸湿半径、液态水扩散速度、单向传递指数、液态水动态传递综合指数综合评估纺织品的吸湿、速干、排汗等性能。3.2 试验方法将试样放入仪器中,接触皮肤的一面向上,将一定量的量的生理盐水倒在织物接触皮肤一侧的中心位置,模拟人体排出汗液的过程。试样两面的传感器分别测量它们在各个环形内(直径分别为5mm,10mm,15mm,20mm,25mm及30mm)的导水性能。在测试进行2分钟的循环后,织物的润湿度及导水性增加。通过一系列的计算,测试者可以得到接触皮肤侧织物的润湿时间、吸水速率、浸湿半径及扩散速度等的精确读数,以及累积单向传递能力与织物的整体液态水分管理能力(OMMC)。3.3 测试仪器仪器设计的原理基于当水分在面料上进行转移时,面料的接触电阻会发生改变,此电阻值的变化主要由以下两个因素决定。水分的组成成分和面料的含水量。当我们确定了水分的组成或分所带来的影响后,电阻的测试就与面料上的含水量具有直接相关性。3.4 测试指标(1) 浸湿时间(wetting time)从液体接触到织物表面,到织物开始吸收水分所需的时间。织物开始吸收水分所需的时间定义为在织物表面含水量与时间的关系曲线上出现斜率大于或等于tan15°时的第一时间值。包括浸水面浸湿时间WTr和渗透面浸湿时间WTB。(2) 吸水速率(absorption rate)在注水时间内,织物表面含水率变化曲线斜率变化的平均值。表示织物单位时间含水量变化率。包括浸水面平均吸水速率ARr和渗透面平均吸水速率ARB。(3) 最大浸湿半径(maximum wetting radius)织物开始浸湿到规定时间结束时润湿区域最大半径。在含水率曲线中,从曲线的斜率第一次出现大于或等于tan15°。到测试时间结束时润湿区域的最大半径。包括浸水面最大浸湿半径MWRT和渗透面最大浸湿半径MWRB。(4) 液态水扩散速度(spreading speed)织物表面浸湿后扩散到最大浸湿半径时沿半径方向液态水的累积传递速度。包括浸水面液态水扩散速度ST和渗透面液态水扩散速度SB。(5) 单向传递指数(Accumulative one-way transport capacity)(R)液态水从织物浸水面传递到渗透面的能力。以织物两面吸水量的差值与测试时间之比表示。(6) 液态水动态传递综合指数(overall moisture management capability)(OMMC)是指液态水在织物中动态传递综合性能的表征。以织物的渗透面的吸水速率ARB,织物的单向传递指数R和渗透面的液态水扩散速度SSB的加权值表示。3.5 测试评级(1) 测试性能指标分级(2) 吸湿排汗速干性能技术要求(参考GB/T 21655.2)(3) 织物评级分类研究表明,使用液态水分管理测试仪测试得到的这些数据,用户可将织物分为7个级别:防水织物拒水织物慢速吸收且慢速干燥的织物快速吸收且慢速干燥的织物快速吸收且快速干燥的织物高渗水织物液态水分管理织物 根据织物的最终应用将织物进行分类后,用户可以通过由液态水分管理测试仪测得的指数对不同的织物进行比较,然后得出哪种织物是最终使用环境要求的最佳织物的结果。4、结语 MMT液态水分管理测试仪是一种用于测试纺织品的水分管理能力的全新的测试方法及仪器。通过这台新的仪器,我们可以快速地测量液态水在纺织品内三个方向的动态水传递性能。通过对不同面料所进行的实验室测试,测试结果表明不同的面料间的测量数据有着明显的差异。 更多测试技术关注标准集团(香港)有限公司:http://www.standard-groups.com/
  • 东方集成测试仪器租赁助力中小企业发展
    中国测试仪器应用市场领头羊企业——北京东方中科集成科技有限公司仪器租赁事业部总监江懿日前透露,今后一段时间东方集成仪器租赁事业部服务重点是面向中小企业和研发机构。江懿认为,这个策略既符合当前的宏观经济状态,更契合了国家的政策愿景。结合中央财政部近日从六个方面推出的针对中小企业的支持政策,东方集成结合企业自身的业务特点,联合了海淀中关村、苏州工业园等科技园区,正在搭建满足中小企业和研发机构测试需求的社会化公共测试服务平台,落实中央政策,切实支持中小企业和机构提升科技创新和技术创新能力。   江懿透露,东方集成针对中小企业和研发机构测试需求市场作了大量调研工作。中小企业的测试需求具有分散多样化的特点,什么测试设备都可能用到,有时候用的设备还很偏。他们使用测试仪器的租期也特别短,大都是研发尝试,基本上都是一个月两个月三个月这样的时间段,更多的只用一天两天一周。中小企业和研发机构自身很难解决这些困难,这就需要有一个社会化的测试服务平台来满足中小企业和研发机构的研发测试仪器需求。东方集成与各个高科技园区政府共同搭建的测试实验室公共服务平台正好能够派上大用场。   目前,东方集成针对中小企业和研发机构聚集的海淀中关村、苏州工业园等高科技园区,与园区政府正在陆续筹建免费测试实验室。这些实验室不久将正式开放服务。届时在园区注册的中小企业和研发机构都可以到免费开放的实验室做短期测试。如果企业有中长期测试需求,东方集成也可以通过园区实验室迅捷调集各种仪器来满足企业测试需求,企业也可以随时调换这些测试设备。江懿认为,中小企业和研发机构大多处在创业期和发展期,创业启动资金宝贵。上述措施减轻了中小企业和研发机构的资金压力,避免了他们贷款或借钱购买仪器、企业间重复购买的浪费。   东方集成日前针对中小企业和研发机构的测试仪器需求市场做了大量推广工作,包括正在北京、上海、苏州、成都、天津、武汉、深圳七个城市陆续举办主题为“低成本测试和科技租赁方案巡展”的系列活动。东方集成本次巡展通过研讨会的方式,向中小企业和研发机构推介低成本通用测试方案以及微小信号,数据采集、记录,频率特性等方向的专业测试产品。此期间发布的中小功率电源,显示器测试仪在改善测试效率和成本控制方面都有杰出的表现。   东方集成在仪器租赁市场进行了15年的精耕细作,一直在该领域领先业界。江懿建议说,中小企业和研发机构更适合选择租赁测试仪器方式作为优化资金使用效率的有效手段。面对宝贵的创业资金、技术和市场造成的很多不确定因素,租赁方式大大降低了购买测试仪器设备带来的投资风险。同时,东方集成独有的管家式顾问咨询服务业也能够帮助中小企业和研发机构在选择测试仪器服务方案时少走弯路,节约成本,提高效率。
  • Quantum Design中国子公司塞贝克系数/电阻测量系统ZEM于清华大学安装验收
    2019年3月,Quantum Design中国子公司(以下简称QDC)顺利完成清华大学材料学院的塞贝克系数/电阻测量系统ZEM的安装验收工作,QDC工程师紧接着对用户进行了相关知识和设备操作的全面培训。这是清华大学所采购的六套塞贝克系数/电阻测量系统ZEM系列产品。 由日本ADVANCE RIKO公司生产的塞贝克系数/电阻测量系统ZEM可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估,材料的塞贝克系数和电阻都可以用ZEM直接测量。该设备采用温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器,因此能实现实验过程中的无污染控温。同时,设备全自动电脑控制,允许自动测量消除背底电动势,拥有欧姆接触自动检测功能。除ZEM标准配置外,还可根据用户不同需求定制高阻型,增加薄膜测量选件、低温选件等。 2018年7月,QDC与日本ADVANCE RIKO公司正式达成协议,作为其热电材料测试设备在中国的代理商继续合作,并将日本ADVANCE RIKO公司的相关设备在中国大陆、香港和澳门进行进一步推广。同时,QDC将在日本ADVANCE RIKO公司的协助下,在北京建立热电材料测试设备演示中心和技术服务中心,更好地为中国热电材料的发展提供产品展示、技术支持和售后服务。
  • 德国Comemso集团推出国际领先充电桩测试系统,针对国内充电桩测试七成不及格现状
    近日,关于我国充电桩的质量问题再次引起波澜。由广东产品质量监督检验研究院首次公布的充电桩产品风险监测结果,结果显示,七成的受测样品存在安全隐患。这次风险监测共采集9家生产企业的10批次电动汽车充电桩产品,其中7批次不符合国标要求,有1批次样品3个检测项目不符合国标,安全风险较大。此外,这次电动汽车充电桩产品质量安全风险等级为“严重风险”。这意味着充电桩产品有可能对消费者造成灾难性的伤害,可导致死亡、身体残疾等严重后果。广东质检院电器附件检测室主任表示:充电桩产品不在CCC强制认证目录内,相关的标准都是推荐性的,没有强制性。但这些问题是用户在使用的时候,跟安全确实是息息相关的。 而且充电桩这类产品一般是按订单生产,主要是国家电网、充电服务运营商和车企采购,流通领域销售较少,而充电桩的电压普遍高于我国家庭用电电压。电动汽车充电桩的优劣关乎消费者生命财产安全,更关乎社会公共安全。作为国家重点发展的战略性新兴产业,充电桩相关的监督管理规范也将不断完善。除了危机人身的安全问题外,国内充电桩还存在各种质量问题,严重影响汽车充电过程等。德国科尼绍集团Comemso位于德国斯图加特企业工业中心,是戴姆勒和宝马等知名车企的重要合作伙伴,客户遍布世界知名新能源汽车企业。科尼绍Comemso作为CharIN.e.v的会员,参与了IEC61851-1标准的制定和提供技术支持。德国科尼绍Comemso电动汽车充电桩分析仪,能够用于测试充电功能和互操作性,高精度、准确的测试数据,符合欧标、日标、国标;符合交流AC标准:IEC61851-1,SAEJ1772和GB/T18487.1-2015符合直流DC标准: IEC 61851-1, DIN 70121, ISO 15118, SAE J1772 和IEC 61851-23.通讯协议分析标准:GB/T27930-2011和GB/T27930-2015标准EV充电分析仪用于新能源电动汽车充电过程的分析与评价 符合交流AC标准:IEC61851-1,SAEJ1772和GB/T18487.1-2015符合直流DC标准: IEC 61851-1, DIN 70121, ISO 15118, SAE J1772 和IEC 61851-23.通讯协议分析标准:GB/T27930-2011和GB/T27930-2015标准 电动汽车的发展为汽车和充电系统制造商带来了新的挑战。由于230V交流电源分布普遍,新能源电动汽车的导电充电系统得到广泛应用。相关各种新的标准IEC 61851-1,DIN 70121,ISO 15118、 SAE J1772描述了欧洲和美国交流和直流充电系统的要求,同时中国GB/T也对充电系统和协议进行了规范和要求;充电回路波形以及充电过程的控制信号提出了各自的表述和要求。 随着电动汽车与充电设施的不断开发与更新,不同的电动汽车和充电桩之前可能会出现系统的相容性问题以及难以避免的干扰问题。同时,由于充电过程耗时相对较长,充电中断等情况的原因往往很难直接找到。 科尼绍ComemsoEV充电分析仪/模拟器,通过对充电过程中控制信号和负载回路的监测与评价,为充电中各种问题的分析和解决提供有效的途径。 科尼绍Comemso EV充电分析仪/模拟器设备,是面向新能源领域充电桩/电动汽车的一款优秀检测设备,不仅可以模拟车、模拟桩,也可以设置在车与桩之间进行监测,同时又具备机架式和便携式两种产品类型。该设备,在欧洲/北美早已作为充电测试首选,国际知名整车厂如宝马、奔驰、奥迪、福特等和充电桩设备制造商有广泛的使用。德国Comemso科尼绍进口充电分析仪产品优势: * 可同时提供实验室专用机架式和用于室外使用的便携式* 充电回路、CP控制信号、PLC信号同时解析* 长时间无损数据分析* 满足IEC、DIN 、SAE、ISO 、GB/T等全球各种标准的测试需求* 应对全世界范围内的各种插头和接口 符合各种标准的充电分析仪符合交流AC标准:IEC61851-1,SAEJ1772和GB/T18487.1-2015符合直流DC标准:IEC 61851-1, DIN 70121, ISO 15118, SAE J1772 和IEC 61851-23.通讯协议分析标准:GB/T27930-2011和GB/T27930-2015WPT无线充电标准:JSON (SAE J2954) 产品应用1、车辆开发企业(1)使用EVCA模拟充电桩, 根据自己的厂内标准,模拟异常信号, 设计出比国标要求更严格的电动汽车以符合市场上所有的充电桩(2)使用EVCA对电动汽车进行是否符合当地标准的检测(3)使用EVCA搭配电动汽车/充电桩实现充电过程的全称检测2、充电桩设备企业(1)使用EVCA模拟充电桩, 根据自己的厂内标准,模拟异常信号, 设计出比国标要求更严格的电动汽车以符合市场上所有的充电桩(2)使用EVCA对电动汽车进行是否符合当地标准的检测(3)使用EVCA搭配电动汽车/充电桩实现充电过程的全称检测3、第三方检测机构(1)使用EVCA对充电桩是否符合当地标准进行检测(2)使用EVCA发现充电过程中的不良问题,并对送检 单位提出改善的意见以及改善方法 专为不同类型的使用而设计1、充电全过程中进行实时测试分析(Man-in-the-Middle模式):放在EVSE-EV中间,对充电过程进行监测;可以长时间进行数据记录*电流负载回路品质监测:设定负载电流的允许波动范围,自动纪录超过设定范围的片段数和位置。* CP信号品质监测:设定控制信号的平台值、频率、占空比等参数的误差允许范围。 2、 EV Test模式 电动汽车测试模拟EV Test模拟充电桩,和电源组合进行动作,检测电动汽车 * CP信号耐受性模拟测试* EV端响应速度测试* PP响应模拟测试 3、EVSE Test模式测试EVSE充电桩EVSE Test模拟电动汽车,搭配电源电子负荷,检测充电桩* EVSE输出CP信号的品质检测* 负载响应速度测试* EV端R误差模拟测试* EV端故障模拟测试* 线路、接口故障、老化测试* CP信号短路测试 功能设定测试项目包括监控、操控、模拟等,及其相应参数。德国Comemso科尼绍进口充电分析仪* 在监控模式下,可以设定电流、电压等信号的正常、异常限值。* EVSE Test模式下,设定EV电池信息、以及CAN通信中的错误信号及其类型* EV Test模式下,设定充电桩输出电信号相关信息,以及CAN通信中的错误信息及其类型。过程监控表格画面* 对CC1、CC2、辅助电压、DC电压、DC电流以及各CAN信号进行监控,同时用不同的颜色显示正常与异常的信号* 表格中可以显示每一过程的持续时间,以及CAN信号的有效信号占比。参数时间图* 观察、分析充电过程的具体问题,对各项参数值进行定量分析。* 所有参数数据均可输出为CSV格式* 直观判断各信号的值、稳定性、信号间的独立性、相关性、时序特性等。CAN信号* 纪录全部CAN信号的详细信息。* 包括报文代号、描述、长度、周期、发送方、接收方等信息* 通过CAN信号画面的同步选择功能,对照查看报文对应的信息变化过程。 测量* 测量和检查时间* 测量直流电压和直流电流* 测量直流触点的温度* 测量辅助电压和电流* 测量CC1和CC2电压* 测量CAN循环时间:- 循环时间的好坏统计* 测量CAN信号质量:- 显性和隐性水平的电压 应用* 检测充电状态* 验证状态变化* 检测停止事件* 检测干扰* 检查直流电压/直流电流值* 检查辅助电压/电流值* 将信号与传达的值进行比较* 检测充电问题的原因* 检测安全问题(触点温度过高,电压和电流峰值,缺少焊接检查等)* 电动汽车的全面模拟* 充分模拟充电器* 测试库* 稳健性测试* 故障注入的其他硬件* 可用的不同电源和负载,用于控制装配到充电过程。可根据要求整合客户的电源和负载。* 坚固的外壳,适合户外移动使用- IP67;用于现场应用或实验室用途。 充电过程解析AC充电全过程中进行实时测试分析: 1. 电流电压解析2. 控制信号解析3. 电流电压/控制信号在同一时间轴上解析4. EVCA模拟电动车/充电桩功能5. 通过CAN进行远程控制完全模拟电动汽车内部回路,手动控制相应部件,看充电桩能否正常动作模拟充电桩,手动模拟错误信息(电流,电压,控制信号,占空比),看电动汽车能否正常动作 DC快速充电过程中进行实时测试分析:检测并验证充电状态,时序和CAN统计数据。 1. 通过图表表示出充电状态的变化2. 实时显示CAN信号,电压电流值3. 出现异常时,在CAN信号中标示出来4.可以生产测试报告,提示是否通过或做出错误标记 其它辅助功能:德国Comemso科尼绍进口充电分析仪 交直流电源;模拟连接器; EVSE测试数据库 快速自动验证EVSE的电气标准符合性。该库可用于现场操作,以便轻松查找EVSE错误,或在EVSE开发过程中进行验证或回归测试。多种测试和测量选择:* CP 端: 创建不同的 CP 值和错误 (开路,短路,二极管旁路,标称/最大/最小.R2/ R3 电阻等)* SLAC 端: 检查时间并创建切换* PLC 端: 创建通信超时, 创建 EV-Sim的不同消息内容。充电全过程:- 检查 IEC 61851-23 附录 CC 和 SAE J1772 时序合规性- 创建充电配置文件
  • 11台物性测试仪器荣获2021科学仪器优秀新品上半年入围奖
    仪器信息网讯“科学仪器优秀新品”评选活动2021年度上半年入围奖评审已经结束,经专业编辑团初审、网络评审团初评,现已确定2021年度上半年的入围奖名单。为了将在中国科学仪器市场上推出的创新性比较突出的国内外科学仪器产品全面、公正、客观地展现给广大国内用户,同时,鼓励各科学仪器厂商积极创新、推出满足中国用户需求的科学仪器新品,仪器信息网自2006年发起“科学仪器优秀新品”评选活动。截至2020年度,“科学仪器优秀新品”评选活动已经成功举办了15届。每年评选出的年度“优秀新品奖”受到越来越多的仪器用户、国内外仪器厂商以及相关媒体的关注和重视。经过10余年的打造,该奖项已经成为国内外科学仪器行业最权威的奖项之一,获奖名单被多个政府部门采信。“科学仪器优秀新品” 评选活动2021年度上半年申报并批准的新品共计163台,入围70台。入围名单中,物性测试仪器11台, 电子测量仪器1台。物性测试及电子测量仪器入围名单如下(排名不分先后):物性测试仪器公司名称产品名称产品型号详情链接日立分析仪器(上海)有限公司差示扫描热量计DSC600&DSC200详情大昌华嘉科学仪器泡沫分析仪Turbiscan TMIX详情大昌华嘉科学仪器全自动压汞仪BELPORE系列详情美国AMI仪器公司(中国)稳态同位素化学吸附仪AMI300SSITKA详情杨氏环境科技(东莞)有限公司大型高低温试验室YSTH-016-A详情轶诺仪器(上海)有限公司高端洛氏硬度计HAWK 652RS-IMP详情赛默飞世尔科技材料与矿物在线分析锂离子电池测厚仪LInspector详情上海沃埃得贸易有限公司弹痕分析系统Alias-005详情上海沃埃得贸易有限公司手持便携应力分析仪LTS-640V详情丹东百特仪器有限公司纳米粒度及电位分析仪BeNano 90 Zeta详情东莞市晟鼎精密仪器有限公司动态接触角测量仪SDC200S详情电子测量仪器公司名称产品名称产品型号详情链接国仪量子(合肥)技术有限公司数字延时脉冲发生器ASG8000详情入围产品创新点如下:1、日立DSC600&DSC200差示扫描热量计创新点:新登场的DSC系列提供一流的灵敏度和的基线重复精度,即使在包含痕量级热活性物质的复合材料中,也具有令人难以置信的信噪比,能够捕捉到最微小的热事件。2、大昌华嘉Turbiscan TMIX 泡沫分析仪创新点:Turbiscan TMIX科学地通过软件对泡沫气泡过程精确控制,从起泡到衰变,全过程实时全分析,测量速度间隔仅20秒,高度分辨率40um,充分高度保证测量条件完全可重复。3、大昌华嘉BELPORE系列全自动压汞仪创新点:BELPORE系列全自动压汞仪全自动垂直进汞,持续高真空;高分辨率检测多达20000个数据点;无需连接气体和液氮,可以实现安全运行和全部功能;设计紧凑,空间要求低;膨胀计的垂直布置确保了操作的安全性;通过清洁装置有效地重复使用水银;All devices are CE-certified and ISO;所有设备均通过CE认证和ISO9001认证。4、AMI300SSITKA稳态同位素化学吸附仪创新点:稳态同位素瞬变动力学分析是这台机器的创新之处,该分析为一种稳态时在同位素标记与未标记反应物间快速切换并及时记录反应物和产物的瞬变行为以得到反应的本征动力学信息的非均相催化反应动力学研究技术。这种技术在商用化学吸附仪中首次融合。5、杨氏仪器YSTH-016-A大型高低温试验室创新点:采用独特的平衡调温调湿方式,可获得安全、可靠的温湿度环境。具有稳定、平衡的加热加湿性能,可进行高精度、高温度的温湿度控制。装备高精度智能化的温度调节器,温湿度采用彩色液晶触摸显示屏,可进行各种复杂的程序设定,程序设定采用对话方式,操作简单、迅速制冷回路自动选择,自控装置具有随温度的设定值自动选择运转制冷回路的性能,实现高温度状态下的直接启动制冷,直接降温。6、轶诺HAWK 652RS-IMP凸鼻子洛氏硬度计创新点:凸鼻子175mm,喉深175mm第二Z轴测试台&载物台附件,电动滚珠轴承力传感器,闭环,力反馈系统在压头处测量试验力全高度线性滑动,无迟滞机械系统测试纵高650mm 425 x 370 大工作台和带t型槽的硬质平台200mm可移动测试台,可允许插入特殊试台 用于试样照明的LED灯内置高性能系统控制器,mSSD硬盘Win10系统,IMPRESSIONS™ 控制软件 15”工业触摸屏LAN,W-LAN,USB连接,预安装远程支持软件 ABS外壳,保护主体不受损坏可选配BIOS布氏压痕光学扫描仪,用于自动布氏测量。7、Thermo Scientific LInspector锂离子电池测厚仪创新点:测量光斑尺寸小,采样速率高,可实现无与伦比的条纹分辨率和涂层边缘缺陷分析;更快的扫描速度可覆盖更大的范围,从而降低未被检出的缺陷的发生;精确测量和自动模头控制,确保产品符合严苛的产品规范;精确的涂布宽度尺寸分析,可避免电极材料的过度浪费;基于云的数据和已识别缺陷存档,可实现产品缺陷全面追溯;基于云的数字化 IPM 和仪器性能管理,实现了对仪器健康状况和运行状态进行全天候自动化的智能监控,同时,可对数据进行安全存档,确保合规性数据的完整性和安全性;自动通知服务通过仪器健康状态诊断可实现快速服务响应,提高故障的首次修复率,从而减少停机时间,并提高生产率。8、Alias-005弹痕分析系统创新点:可以构建视觉效果丰富的3D项目符号和弹匣图像,然后提供强大的工具来使用地形敏感的彩色化以及可调整的光源和轴方向来分析它们。ALIAS图像数据由世界上最先进的瑞士制造,特定于应用的干涉仪捕获,然后使用完全现代化的64位计算和应用程序体系结构进行处理,该体系结构使用专利软件算法快速定义3D数据。ALIAS的3D,微米和纳米级分析提供了前所未有的准确性。简化的三步信息管理/可视化/确认过程可加快在成年犯案案件中定罪的时间。9、LTS-640V1mk手持便携应力分析仪创新点:重量仅为650克,方便携带;高分辨率、高灵敏度,应力灵敏度小于1MPa,允许苛刻环境监测; 分析速度快、稳定性优良; 无盲点、多点位确定应力。10、丹东百特BeNano90Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪创新点:BeNano 系列纳米粒度电位仪是丹东百特仪器有限公司全新开发的测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等等领域的基础研究和质量分析质量控制用途。11、晟鼎精密SDC200S动态接触角测量仪创新点:自主研发的分析软件,衬时跟踪设备状态。可对设备测量参数进行设置,同时对设备的状态进行实时跟踪;3D形貌法和局部轮廓测试法,由于材料表面自由能难以保持趋于稳定的状态,导致液滴的3D形态与二维形态产生较大出入,用3D形貌法和局部轮廓测试法可以消除样品表面能不规则造成的影响,从而得出较准确的效果;测量功能升级,全自动实时跟踪测量数据,实时动态谱图,多种表面自由能测量,连续动态润湿性测量。12、国仪量子ASG8000数字延时脉冲发生器创新点:国仪量子全新上市新品,高达8通道,最高精确到50ps,存储高达4GB。需要特别指出的是,本次入围评选仅限于2021年上半年申报的仪器范围。有些厂商虽然在网上进行了申报,但在规定时间内没有能够提供详细、具体的仪器创新点说明,有说服力的证明材料以及详细的仪器样本,因此这次没有列入入围名单。另外,非独家代理的代理商提供的优秀国外新品也不能入选。由于本次参与申报的厂家较多,产品涉及门类也较多,对组织认定工作提出了很高的要求,因此不排除有些专业性很强的仪器未被纳入评审范围。该入围名单将在仪器信息网进行为期10天的公示。所有入围新品的详细资料均可在新品栏目进行查阅,如果您发现入围仪器填写的资料与实际情况不符,或非2021年上市的仪器新品,请您于2021年8月26日前向“科学仪器优秀新品”评审委员会举报和反映情况,一经核实,将取消其入围资格。“科学仪器优秀新品”评选活动建立了长期、稳定、高水平的四级评审体系:“专业编辑团”、“网络评审团”、“技术评审委员会”、“技术评审委员会主席团”。专业编辑之外的评审专家分别来自高校、研究所和企业,从事仪器研制、制造和应用相关工作,其中具有研究员、教授等高级职称的专家所占比例超过了90%。 “专业编辑团”承担新品初审的工作 “网络评审团”分别承担“季度入围奖”、年度“提名奖”评审工作 “技术评审委员会”承担年度“优秀新品奖”评审工作 “技术评审委员会主席团”承担各个阶段评审工作的监督、检查工作,对“季度入围奖”名录、年度“提名奖”名录、年度“优秀新品奖”名录拥有最终裁决权。各位新品评审专家按照严格的评审程序,对申报的新品进行网上、网下的评议(逐一进行打分、是否推荐并给出评审意见)。更多内容请点击详情查看。“科学仪器优秀新品”评审委员会联系方式:电话:010-51654077-8027 刘女士传真:010-82051730电子信箱:xinpin@instrument.com.cn
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制