看到网上有黑壁微量比色皿，光程10mm，狭缝有1、2、3、4mm的，体积不等我测量了现有两台光度计打出的光束宽度，一台光束长宽5x5mm，另一台光束细长大约1x20mm以前没有用过微量比色皿，想请教，打出的光束不能完全进入比色皿，会被黑壁挡住一些，一个太宽，一个太高，这样测定有没有影响呢具体有哪些影响？谢谢！
ICP波长校准扫描时 ，狭缝板Y峰形不对称，扫描光强度偏低，狭缝板X却正常，是咋回事？怎样解决？与我处风沙灰尘较多有无直接关系？
求助各位大神： 我们一台OBLF1000得光谱仪，在进行狭缝扫描时发现Fe9通到没有峰值，FE20通到峰值正常，在做完全标准化时FE9得强度值和原来查了很多。哪位大神帮忙分析下如何处理。可以联系QQ1378912772
现在原子吸收使用的光源通常是锐线光源，但这个并不表示光源只产生一个共振线。根据不同的元素和不同灯质量的好坏。谱线的组成也是不同的，通常一般元素都有数条以上的谱线。为了将我们要使用的谱线和别的干扰谱线分离出来，我们就需要用到单色器，而狭缝又是单色器的重要组成部分。 一：下图所示的是扫描铁灯248nm到400nm处的图谱。从图中可以到铁的谱线是如此之多，如此之密，所以在测量这些谱线复杂的谱线对于单色器的分辨要求更高。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111244_322920_1634661_3.jpg二：光谱带宽与狭缝的关系 光谱带宽指从单色器射出的单色光谱线强度轮廓曲线的二分之一高度处的谱带宽度。用来表征仪器的光谱分辨率。根据SBW = （dL/dλ）* B = (mf/d*cosq)*BdL/dλ是光栅的线色散率，B是狭缝宽度。线色散率一般是根据光栅的性能决定每台仪器这个参数一般是固定的如果要改变光谱带宽只能通过改变狭缝来光谱带宽。三：狭缝真面目http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111246_322921_1634661_3.jpg 单色器的狭缝，分为入射狭缝和出射狭缝，一般是由两个具有锐刀口的金属片精密加工而成，两刀口要求平行性好，并处以同一平面。目前的原吸狭缝机构一般都是有多档可调（通常的有0.1，0.2,0.4,1.2）调节机构也多以仪器自动调节为主。入射狭缝的作用入射狭缝起限制杂散光进入的作用，一般是在单色仪准直镜的焦点上。出射狭缝的作用出射狭缝起限制光谱带宽的作用，一般是在单色仪物镜的焦点上。四：不同狭缝下扫描的铁谱 铁元素在原吸上通常推荐的测量谱线是248.3nm，以下我将结合使用不同的狭缝宽度扫描出来的图片来进一步解释狭缝的作用。图（1）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111248_322922_1634661_3.jpg 上图是在狭缝宽度为0.1的扫描图谱，我扫描的范围从245nm到252那么这段波长。从图上可以到我们需要248.3nm这个谱线很好的以别的谱线分离出来，同时因为狭缝的宽度很小，所以进光量很小从图上看到对应的能量值较小。通常在这个情况下狭缝是可以在增加以便增加通光量降低仪器的增益值提高仪器稳定性。图（2）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111253_322923_1634661_3.jpg 上图是在狭缝宽度为0.2的扫描图谱，我扫描的范围从245nm到252那么这段波长。从图上可以到248.3nm谱线旁边的248.8那个谱线已经和它旁边的谱线分离度已经下降了但是我们需要的248.3nm那根谱线还是很好的分离出来了，同时因为狭缝的宽度增加了一倍，所以进光量也同时增加了一倍从图上看到对应的能量值增加了许多。通常这个狭缝宽度是最是适合的狭缝宽度。图（3）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111255_322924_1634661_3.jpg 上图是在狭缝宽度为0.4的扫描图谱，我扫描的范围从245nm到252那么这段波长。从图上可以到248.3nm谱线已经不能和248.8那条谱线分离开了，虽然图谱上的能量增加了非常多。但是因为单色性降低共振线的灵敏度大大降低，并且将偏移朗伯比尔定律。这个狭缝宽度将不大适合该共振线的测量。图（4）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110111257_322925_1634661_3.jpg 上图是在狭缝宽度为1.2的扫描图谱，我扫描的范围从245nm到252那么这段波长。从图上可以看到几乎所有的谱线都叠加在一起了，虽然图谱上的能量增加了非常多。但是这样已经背离了原子吸收的理论了没有实际的测量意义了。五：狭缝选用的一般准则 小狭缝通光量小，对应的光谱带宽较小波长分辨率高，适合共振线附近有干扰谱线的元素。但是过小的狭缝因为进光量少一般会增大仪器增益值，导致仪器噪声增大。大狭缝通光量大，对应的光谱带宽较大波长分辨率较低，适合在共振线附近没有干扰谱线的元素。较大的狭缝能改提高进光量对应的仪器增益值较低。综合上诉，个人认为选用狭缝的原则是当狭缝宽度满足其分开其它发射线与共振线的所需的宽度时，尽量选用大的狭缝以提高稳定性。以上便是个人对狭缝的理解有不足之处希望大家批评指教。
1．1基本原理 由光源D（或W）发出的复合光，经分光器G色散为单色光，此单色光经旋转扇形镜调制为1500转/分钟的交变信号，并分成S和R两束。此两束光分别通过样品池和参比池而到达接受器B。扇形镜构造如图2-2所示，R为反射光束，S为透射光束，D为不透也不反的背景，因此，由接受器（光电倍增管）输出如图2-3所示的电信号。与扇形镜同步旋转的编码器分别控制三路信号的通断，使之依次通过放大、转换及运算处理系统，并将扣除背景D之后的透射比输出。 2．2构造 由光源D（或W）发出的光能，经反射镜M1聚焦在入射狭缝S处。入射狭缝置于准光镜M2的前焦点上，故经M2反射后的光束变为平行光束，其相对口径为D/f=1/7.5。经光栅G（1200L/mm）色散后，由M3聚焦在出射狭缝S`处。这一单色器采用了对称式布置的Zeny-Turner系统。从而保证了轴外象差的自动平衡和较低的杂散光。M2与M3是完全相同的一对球面镜，保证了光路系统的完全对称。 在入射狭缝前，置有消除高级次光谱的截止滤光片F，扫描过程中，滤光片自动切换。 通过出射狭缝的单色光，经M4反射及旋转扇形镜（CH）调制后，交替投射在反射镜M5、M6上，从而使光束分成频率为25C/S的双光束（及R和S两束光），它们经M5、M6分别聚焦在样品池和参比池上，通过样品池和参比池后，再经过M7、M8交替会聚到光电倍增管的接受面上。因为该仪器采用了双光束不等比100％T自动平衡原理，两束光是从不同角度入射到接受器靶面的。 旋转扇形镜（CH）的结构如图3-2所示，在3600范围内分作四部分，1/4为反射部分，1/4为透射部分，其余为既不透射也不反射的背景。当反射部分进入光路时，参比光束到达接受器，而当透射部分进入光路时，则样品光束到达接受器。当背景反射不可能完全为0时，将有一个很低电平的信号输出，因而接受器输出了如图3-3所示的电信号。 2．2．4光源转换 仪器光源由氘灯和溴钨灯组成，换灯波长可在340-360nm之间选择，通常情况下为360nm。本仪器的光源转换是通过转动反射聚焦镜M1实现的。M1的转动则是由微机控制步进电机驱动的。M1的转动中心线与电机轴线一致，在灯座旁设有检零片，当检零片通过光电开关时，就给出了步进电机转动的初始位置，其结构原理如图2-9所示。 2．2．5电路原理 被调制的光信号投射在光电倍增管上，转换成相应的电信号，由于光电倍增管是一种高阻抗电流器件，所以前置放大器采用高阻抗输入，以转换成电压信号，并线形地进行适度放大。被放大了的模拟信号，馈入A/D转换单元，转换成数字量，最终通过微型计算机进行适当的数据处理，并通过终端装置显示或打印出被测样品的谱图。为了提高整机系统的测光精度，A/D转换采用12bit集成电路，其转换精度达1/4096。 为了能够有效地进行信号分离工作，将产生同步信号的旋转编码器与产生调制光信号的扇形镜同步运转，这样同步信号永远地与扇形镜的调制频率同步，从而完成仪器一系列横坐标控制功能。 仪器在波长扫描过程中，自动的改变负高压电平，从而平稳地进行整机系统增益的调节，以保证仪器正常地进行工作。
本人欲选购一台热分析仪或差式扫描热量计（DSC），用于测量聚乙烯（PE）原料及产品的氧化诱导期，因本人不懂这方面测试，希望有熟悉相关设备的朋友帮忙。也希望设备厂家介绍或寄资料并报价。E-mail:xatwa@sohu.com
今天有幸拆解一台大紫外分光光度计，其中看到了一组可调狭缝，特拍照下来，这种可调狭缝不是类似楔状刀口型的狭缝，而是用两片极薄的磷铜片固定在活动支架板上，因此无需考虑刀口型狭缝的进出光束的方向问题。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208221651_385454_1602290_3.jpg图-1 可调式三联动狭缝系统http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208221645_385452_1602290_3.jpg图-2 单个狭缝的细部结构
4月3日，我写了一篇关于光栏的帖子，见下图：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304092055_434679_1602290_3.jpg当原吸使用石墨炉分析的时候，在原子化阶段石墨管会发出耀眼的光辉，这个耀眼的光辉就是一个强烈的杂散光，并会对测试结果产生不利的影响。为此，在许多仪器光路的设计中，让一个光栏（图中黄色圆圈里的部件）在石墨炉分析时由一个电机带动旋转切进到光路中，这样，即便石墨管在原子化发出耀眼的光，也会因光栏的切入而衰减了对单色器的干扰。但是，特别设计的光栏，无形中增加了成本和部件，同时故障率还会增加。那么能不能找到另一种既不增加部件费用成本，又能起到光栏的效果的途径呢？答案是：有！那就是利用单色器的狭缝来起到光栏的效果。见下图所示：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304092005_434670_1602290_3.jpg从上图不难看出，该狭缝共有四档，即：2.6nm ，1.3nm，0.4nm，0.2nm。在这里除了2.6nm的狭缝是一个外（这个档位仅供火焰分析使用），其余的三档狭缝均为两个一档。在每一档中，两个狭缝的宽度一样（即带宽一样），所不同的仅是高度不一致；这其中，高的狭缝是为火焰分析使用的；而那个矮的狭缝则是专为石墨炉分析时使用的。这样在石墨炉分析时，带宽既不受影响而该狭缝又能起到光栏的效果，真可谓一举两得的巧妙之举。
最近在研究光度计，有个问题一直不明白，光度计都可以设置光谱带宽，我看uvwinlab v6的说明书中说了这个是和狭缝宽度关联的，但是没有说到底是和哪一个狭缝宽度关联的，如果设置了光谱带宽，那么是不是光度计中的所有狭缝都是固定不变了呢？但是如果一直固定不变，有些波段光弱有可能检测结果不准确。如果认为光谱带宽只与出射狭缝有关，入射狭缝负责调节光强，但有文章讲到入射狭缝和出射狭缝都会影响光谱的带宽，http://wenku.baidu.com/link?url=6t-opapXa9LJytjXund_YxlFwF4CoeAH0NzUZTnHEa2yXkkDAfgOxNS8oYsom4Vpu90i9dk1lXkyMqneLDXFKDkc1XIWYbeq4ugJAlVd2hu，大家知道光度计在基线扫描和测试扫描狭缝是怎么控制的吗？
需要双波长飞点扫描分析仪 的用途、工作原理，一点都不懂[em09]
DV-4的光谱仪应该多长时间扫描一次(室温稳定)?
狭缝宽度和光谱带宽的关系 看好多书上写着这两个名词，知道是什么意思，但不知道两者之间有没有必然的联系？？？重新提出这个问题，因为又出现了新的问题？看书上说：狭缝：单色器的入射狭缝起着光学系统虚光源的作用。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。 但是现在很多书和论文上混淆了这两个概念，不知道为什么，其实我现在也不是很明白。希望和大家再讨论讨论？？？有人这么回答：狭缝宽度是毫米级的，光谱带宽是nm级的，通俗的讲光谱带宽就是通过狭缝的光所包含的谱带宽度，以nm表示。所以狭缝越窄，光谱带宽越小，但不是指只要将狭缝变窄就能达到光谱带宽小，必须同时其他硬件条件（包括光源/光栅/检测器以及机械系统等）达到这个级别。 那光谱带宽和谱带宽度是不是两个概念呢？
单光束：适于在给定波长处测量吸光度或透光度，一般不能作全波段光谱扫描，要求光源和检测器具有很高的稳定性。双光束：自动记录，快速全波段扫描。可消除光源不稳定、检测器灵敏度变化等因素的影响，特别适合于结构分析。仪器复杂，价格较高。现在又出来一个假双光束：如安捷伦8453里边只有一个比色池，扫了空白后再换溶液进行扫描，这种就是假双光束的原理吗？但是仍然不明白是什么意思？
我先说一下基本情况。1 机器有一两年没有用过了。平时只是每个月开下机，主要是担心机器长久不开会坏掉。2 产品型号为上海精密的AA320N3 我们目前的操作：A 放一个铅灯并打开开关，可以确认铅灯是正常的，B 可以 确认光束进入原子吸收器的右侧。（用白纸板放在那里可以看到红光） C 狭缝 HV 波长都调整正确 D 没有通气和乙炔，也没有点火。按照ABC的顺序我们同样做了做一个铜灯的。问题出来了： 在F2页面，S值（光束能量）值始终为0.我们的产品已经过了保修期，所以目前想自己解决下。请求高手帮我们分析分析
典型的单道扫描光谱仪的简化光路图。从光源发出的光穿过入射狭缝后，反射到一个可以转动的光栅上，该光栅将光色散后，经反射使某一条特定波长的光通过出射狭缝投射到光电倍增管上进行检测。光栅转动至某一固定角度时只允许一条特定波长的光线通过该出射狭缝，随光栅角度的变化，谱线从该狭缝中依次通过并进入检测器检测，完成一次全谱扫描。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191649_621939_1634526_3.jpg[/img]和多道光谱仪相比，单道扫描光谱仪波长选择更为灵活方便，分析样品的范围更广，适用于较宽的波长范围。但由于完成一次扫描需要一定时间，因此分析速度受到一定限制.
火花光谱描迹时，狭缝值老跳来跳去？为何？
[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]ICP光谱仪[/b][/url]为您分析电弧/火花直读等光谱仪分光系统中除射狭缝是装在罗兰圆上的，出射狭缝能聚焦成像以形成谱线。光电直读光谱仪中，用出射狭缝及光电倍增管组成的谱线接收器来工作。因此出射狭缝在仪器中有着重要的作用。每一个光道一个出射狭缝。因此，多道光电直读光谐仪上装有很多出射狭缝。 德国斯派克直读光谱仪早先光栅，出射狭缝片刻有190个预先安排好的常用光谱狭缝。190个元素分别被安排在10片不锈钢带上进行刻制。这样安排是为了出射狭缝调整方便。如果选用0.75m光栅，凹面光栅为2010刻线/mm。它的出射狭缝共214条刻在一条不锈钢带上。 出射狭缝和谱线的相对位置对分析结果是很重要的。为保证分析结果的准确，要求谱线中心位置的极大强度峰值位置与出射狭缝的几何中心位置重合。气温变化对出射狭缝影响最大。气温变化必将使光栅收缩或膨胀，引起光棚常数的改变，也导致仪器色散率的改变，由于色散率的改变，结果使谱线偏离出射狭缝。
电弧/火花直读等光谱仪分光系统中除射狭缝是装在罗兰圆上的，出射狭缝能聚焦成像以形成谱线。光电直读光谱仪中，用出射狭缝及光电倍增管组成的谱线接收器来工作。因此出射狭缝在仪器中有着重要的作用。每一个光道一个出射狭缝。因此，多道光电直读光谐仪上装有很多出射狭缝。 德国斯派克直读光谱仪早先光栅，出射狭缝片刻有190个预先安排好的常用光谱狭缝。190个元素分别被安排在10片不锈钢带上进行刻制。这样安排是为了出射狭缝调整方便。如果选用0.75m光栅，凹面光栅为2010刻线/mm。它的出射狭缝共214条刻在一条不锈钢带上。 出射狭缝和谱线的相对位置对分析结果是很重要的。为保证分析结果的准确，要求谱线中心位置的极大强度峰值位置与出射狭缝的几何中心位置重合。气温变化对出射狭缝影响最大。气温变化必将使光栅收缩或膨胀，引起光棚常数的改变，也导致仪器色散率的改变，由于色散率的改变，结果使谱线偏离出射狭缝。
冯金淼等+双光束紫外可见分光光度计校准水平的提高!"双光束紫外可见分光光度计校准水平的提高冯金淼!王 颖!宋增良!白月霞!河北省计量科学研究院%河北 石家庄 20226!"B摘 要C双光束紫外可见分光光度计广泛应用于各行业的分析化验%但仪器性能直接关系到出具结果的准确性& 综述了提高仪器校准水平的技术&B关键词C分析仪器,校准B中图分类号C D@ 9971-E!B文献标识码C FB文章编号C 1226G02/0!-226"20G2280G2!双光束紫外可见分光光度计!以下简称仪器"是目前国际上使用的标准有汞灯’ 氧化钬溶液或依据物质在紫外# 可见光区的吸收光谱特性和朗氧化钬滤光片%这些标准都有较丰富的光谱峰%选用伯$比尔定律的原理% 对物质进行定性定量分析的仪器的)波长扫描*功能%宜用扫描速度慢%响应时间仪器&仪器广泛应用于石油’医药#化工#卫生防疫等小%这样可以避免附加误差&要特别注意)采样间隔*部门(为确保仪器出具数据准确可靠%必须经过计量的设定%为了准确得出峰值波长的数据%宜采用)27!部门的周期检定%对使用频率高’对仪器技术指标要(.*%但有的无法设定)采样间隔*%如日本岛津公司求高的部门%要经常对仪器进行校准(早期生产的 45 --2! 型仪器%)波长范围*的起始波! 校准基线长与终止波长相隔不超过 -22 (. 才能得出准确的仪器使用过程要经常进行基线校正% 对仪器进峰值数据%要想把氧化钬滤光片的特征峰 -60$892行各项校准前一定要校准基线( 不同的仪器操作不(. 扫描一遍%要分三段设定& 大部分仪器可以直接同%有的是点)"#$%&’(%*%有的是点))%*+*%还有其它设定所要的)采样间隔*&操作方法&9 透视比准确度和重复性的测量, 基线平直度的测量操作上使用仪器的)定量测量*功能%用户使用做完)校准基线*后即测量此项指标& 要想得出仪器的该项功能较多%尽量选用)多波长测量*&使用准确的结果%条件设定很关键%选择仪器的)波长扫的标准溶液是质量分数为 272822 2:! 222 ;-*-= 的描*功能%波长范围+全波段,带宽+- (.,扫描速度+27221 .+&:? @&=9 溶液& 为保证测量准确A应正确使中速,纵坐标范围的设定也很重要%单位选择)透射用该标准溶液+ !对测量用吸收池的要求 采用光比*%可设定为 /0!$120!或 /3!$!2-!%以便清径长度为 !2722 .. 的石英池盛装标准溶液%吸收池晰看出 !22!线的变化& 日本岛津公司最新生产的的两透光面应无划痕’油渍或液体污染%否则会产生45 -002 仪器%可不进行范围设定%直接用鼠标放大一些散射光甚至荧光干扰测量% 安装吸收池至样品纵坐标& 该项指标应小于 !!&框架上应遵循一定的方向% 可按吸收池箭头所标方6 波长准确度与重复性的测量向正对入射光方向% 以减少吸收池两透光面的不平B收稿日期C-226G28G-2行性带来的误差& "必须事先对仪器波长进行校准B作者简介C冯金淼!!/89G"%女%高级工程师%从事化学计量工作&后%才能使用标准溶液测量透射比准确度&
首先看看一个分光光度计的内部结构图，其中S1为入射狭缝，S2为出射狭缝。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091808_189056_1644065_3.jpg[/img]再看看狭缝的概念：狭缝：单色器的入射狭缝起着光学系统虚光源的作用。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。 以上是书上原话，我个人理解如下：首先说说虚光源，为什么把狭缝称为虚光源呢？因为从光源发出的光（我想大多数人都见过分光光度计的光源吧），是一束相对于分光系统和检测系统来说非常大的光，这么一束光是两者不可接受的，所以必须通过一种原件，在保证光的特性不损失的情况下，尽量减少光照射到分光系统的，狭缝就起到了这个作用。这样从狭缝射出来的光，就是符合分光系统（光栅或棱镜）的要求，既所谓的虚光源的说法。 也可以理解如下：对于分光光度计来说，狭缝宽度一般指的是入射狭缝的宽度。它控制进入分光光度计的光通量（简单的说就是控制单位时间内进入分光系统的光的总能量的大小），狭缝越宽进入分光系统的能量越大。狭缝宽度也影响分光光度计的分辨率，狭缝越宽，其分辨率越低。狭缝宽度也不能太小，因为检测器灵敏度有下限，进入能量太低，检测器没有相应。同时由于噪声的影响，能量太低，信噪比会很差。所以一般的入射狭缝的宽度在um-mm的量级。在满足分辨率要求的前提下，入射狭缝越宽越好（当然也不能超出检测器的量程）。下图为光栅分光的示意图：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091809_189057_1644065_3.jpg[/img]从图中可以看出入射狭缝和出射狭缝（有的书上也叫出口狭缝）的作用。下图为棱镜分光的示意图：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091810_189058_1644065_3.jpg[/img]单色器的作用是使光源发出的光变成所需要的单色光。通常由入射狭缝、准直镜、色散元件、物镜和出射狭缝构成，见上图。入射狭缝用于限制杂散光进入单色器，准直镜将入射光束变为平行光束后进入色散元件。后者将复合光分解成单色光，然后通过物镜将出自色散元件的平行光聚焦于出口狭缝。出射狭缝用于限制通带宽度。如果还有不清楚的地方，请联系我。像的概念，也就是所谓的光谱，现在像这个概念很少提及。光源发出的光照射并通过狭缝，经色散元件（我喜欢称其为分光系统，包括光栅和棱镜，顺便说一下，现在中高档的仪器都采用光栅作为分光系统，很少采用棱镜了）分解成不同波长的单色平行光束，经物镜聚焦后，在焦面上行成一系列狭缝的像，即所谓的光谱。提出的问题：当狭缝宽度增加时存在一些像差。我个人理解是这样的：由于分光系统对来自狭缝中心点的光线和来自狭缝非中心点的光线的衍射程度不同，因此就产生了谱线的弯曲。光栅的弯曲情况如下图所示[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091811_189059_1644065_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912091811_189060_1644065_3.jpg[/img]从图中可以看出分光系统随着狭缝宽度的变化，其衍射的程度也是不一样的，所以就会产生所谓的像差。
其实是一个有关于狭缝宽度的问题假设紫外的 狭缝宽度 选项设定为2nm，如果扫描波长为254nm，那么我们是否可以理解为从单色器中能得到的单色光波长范围为254±2nm？如果是这样的话，此时我们在图谱上得到得254nm的吸光度A实际上是波长为254±2nm范围内的光的吸光度？
最近遇到了一些[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]光路的问题，请教各位。火焰法AAS，用元素灯扫描波长，能量调100% 均OK后，燃烧狭缝左右两端的能量不一致，相差很远。如靠近元素灯那一边的为80%，另一边为10%，中间为0%；隔一段时间后又变为，靠近元素灯那一边的为10%，另一边为60%，中间为0%；燃烧装置前后的位置已经调好。最近实验室的湿度在90%左右，不知道是否与湿度有关？？狭缝左右两端的能量不一致是否对结果有影响？要怎么调试？谢谢了。
实验室认证认可热重 差示扫描量热仪（tg-dsc）、热机械分析仪（TMA）不确定度评定，大家有模板吗？谢谢分享啊~~
毕业论文做的是针状焦的制备，但是论文中不会分析描述扫描电镜的图片， 不多说了 ，上个图， 求人帮忙分析描述一下。实验条件是： 1300℃， 煅烧3h， 有氮气保护。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/06/201106120116_299298_2317686_3.jpg
对于逐点扫描得到的一段质谱数据，数据处理的首要任务是峰位置的判别。其实质是峰数据与既有模型的匹配过程，这与质谱仪的特性、扫描参数以及数据的统计信息等多种因素有关系。简单情况下，连续几个数据都大于设定的阈值（如最大值5％）即可认为该段数据是峰数据，而剩余的数据可认为是本底。在峰位置判别的基础上，根据本底数据判断谱段的基线。可将感兴趣谱段的非峰数据（未被标记）的平均值作为基线。但对于大范围的质谱扫描谱，可能存在不同谱段本底不同的现象，因此当处理几十个质量扫描范围质谱数据时，应注意基线的波动。对于每个具有一定幅度的质量峰，确定其峰中心位置是数据处理的重要一环。质量峰的位置准确，才能正确地反映离子流强度的变化。对于左右对称的峰，其峰中心一般取两个半高横坐标的中心；对于左右不对称的峰，可分别对峰两侧的斜坡作延长线，两延长线的交点位置即可作为峰中心。在作峰中心时，数据的涨落往往给计算结果带来显著的偏差，这也是峰中心标定的误差来源。对于平顶不明显的谱图，可以使用二次曲线拟合得到离子流强度。对于每个峰位置，原始数据的横坐标可能是计算机设定的DAC数值，也可能是按照时间排列的序列数。要通过计算机自动标定每个峰位置对应的质量数，除了要求一定的峰数据的量，还必须有对应的扫描参数和数据库支持。可人工指定几个峰位置对应的质量数，再由计算机根据扫描参数与质量数之间的线性或非线性关系算出其他相邻峰的位置，从而可画出峰强度质量谱图。对扫描峰离子信号的强度计算，第一种是峰高法，用峰中心位置的数据（或连续几个数据的均值）减去基线数据作为离子信号强度；第二种是峰面积法，用该峰数据（一般选大于5％峰高的数据）和基线围成的面积作为离子信号强度；第三种是采用窗口数据累加，即以峰中心位置开始向大质量数和小质量数寻找固定长度，确定一个质量范围，将该质量范围内的数据平均值减去基线数据作为离子信号强度。离子峰数据的涨落和基线的涨落都对测试数据有较大的影响，比较而言，峰面积法的精度高于其他方法。通过对峰数据的分析，还可得到其他质量峰的特征参数:①半峰宽。是反映仪器分辨本领的参数之一。谱图在一半峰高处的质量数之差就是半峰宽。②峰顶平坦度。反映探测器的稳定度。只有梯形峰谱图才能计算，计算公式为平顶位置处的离子流强度的极差与峰高的比值。该值越小表明探测器越稳定。③峰形系数。是反映仪器分辨本领的参数之一。定义为10％峰高处的峰宽与90％峰高处的峰宽之差与峰半高全宽的比值，该值用百分比表示。
水和废水分析方法四版里面，对金属的测定，提供了一些仪器条件，推荐的狭缝大致有0.2、0.4、0.5、0.7、0.9、1.3、2.6几种，显然一台仪器具有这么多狭缝选择是不可能的http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gif，这会对大家采购仪器产生什么影响？采购的时候会据此选择型号还是完全置之不理？
做标准化修复？自动扫描修复？手动修改狭缝位置修复？以上三个方法都无法恢复仪器正常状态，只能开光室动手术？
资源共享[em01] 扫描电子显微镜在失效分析中的应用 自从1965年12月商品扫描电子显微镜问世以来，扫描电子显微镜得到了极为迅速的发展，是目前应用最成熟、最广泛、最实用的显微分析仪器，它在冶金、生物、地理、化工、农业等各方面均有极为广泛的用途。本文只简要地介绍一下扫描电子显微镜在失效分析中的应用。扫描电子显微镜最大特点是：焦深大，分辨率高，放大倍数变化范围广，对试验样品要求底，可直接观察，特别适合对粗糙表面的观察研究。扫描电镜的焦深要比光学显微镜的焦深大数百倍，可以观察粗糙的样品表面清晰细致的三维图象。分辨率是光学显微镜的40倍，配置X射线能谱仪，可直接探测样品表面的微区成分。已经被普遍应用于断口、磨损及腐蚀表面分析，特别适合做产品失效分析工作，因为人们可以首先在低倍下找好所感兴趣的区域，然后再调到高倍进行仔细观察分析，非常实用方便。
对于分子荧光来说狭缝的大小会影响谱图测试的分辨率。对于定量模块中固定激发/发射波长，测试的数据与狭缝大小有必然的关系么？或是这个测试结果对实验有没有影响呢？请大家帮忙分析一下！多谢！
实验室刚买了HPLC，还不会用，有个样品不知道哪个波长是最大吸收，想用DAD全扫描，但是不知道怎么操作，仪器是Agilent 1260，哪位大神能给个详细步骤？非常感谢！版主整理如下：在方法设置中的DAD界面开启“光谱”就可以了。全扫描就选择“全部”。注意狭缝的设置，狭缝可以设置1.2.4.8.16，狭缝越小光谱分辨力越好，灵敏度越低。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503121630_538109_2230220_3.png点开光谱以后，就可以设置扫描范围，和步进值。DAD一共有1024个二极管，所以理论最大可以设置波长范围/步进值=1024.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503121640_538112_2230220_3.png采集完成以后，打开离线数据分析，然后——看图：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503121652_538118_2230220_3.png
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