电显土工合成厚度仪

适用于土工合成材料（主要为土工织物和土工膜等）的圆球顶破、刺破试验，测定土工合成材料的圆球顶破强度，刺破试验用来评价土工合成材料抵抗颗粒料贯入的能力。满足标准JTJ/T 060-98中圆球顶破、刺破试验的规定。土工布圆球顶破、刺破夹具的试样夹持部分相同，区别在于顶破球头和刺破头的不同。 夹具内径：&Phi 44.5mm；球头直径：&Phi 25.4mm； 刺破头直径：&Phi 8mm。

适用于土工合成材料（主要为土工织物和土工膜等）的CBR顶破试验，测定土工合成材料的CBR顶破强度。 满足标准JTJ/T 060-98中CBR顶破试验的规定。 夹具内径：&Phi 150mm； 顶杆直径：&Phi 50mm。 采用槽形快卸结构，装卸试样快捷，夹持可靠。

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

简介：二维晶体材料指的是以石墨烯为代表的单原子层及少数原子层厚度的晶体材料，巨纳集团除了提供石墨烯材料、设备、检测等一体化服务外，还联合美国2D Semiconductors为全球客户提供高质量的二维晶体材料、粉体、溶液、薄膜等材料，并提供定制服务，以满足客户的不同需求。合成二硫化钼Synthetic Molybdenum Disulfide (MoS?)

简介：二维晶体材料指的是以石墨烯为代表的单原子层及少数原子层厚度的晶体材料，巨纳集团除了提供石墨烯材料、设备、检测等一体化服务外，还联合美国2D Semiconductors为全球客户提供高质量的二维晶体材料、粉体、溶液、薄膜等材料，并提供定制服务，以满足客户的不同需求。合成铅二硫化锡Synthetic Lead Tin Disulfide (PbSnS?)

薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒

锡箔纸SA999902 直径35mm 厚度0.010mm100片/盒 Tin disc 35 mmthickness 0.010 mm | 100/pack OEM equivalent parts:Thermo 252 08018

测试卡展示测试卡说明详情介绍测量黑点直径:0.10-3.00测量面积:0.03-0.5线幅:0.08-1.50点线规：用于检测产品中的污点和线及面的大小长短是否符合所要求精度的范围内，将其A4或四分之一的A4放于被测产品的表面对照其点线面的大小，如在对照的点线规的标准大小规格内则表产品合格，否则不合格。用途：主要用于产品外观检查用，判定污点、表面划痕。是用来测量、对比手机外壳、LENS、DISPLAY等部件的点、划痕的面积、直径、宽度、长度是否超过基准。精度高最小线宽0.01mm，点大小0.1mm。分类名称：刮伤、异物、线条、基准表，点规，点线规，污点线规，污点对比卡，污点对照卡，菲林片，菲林尺，菲林卡，污点菲林片，污点角度尺等。型号：ZY-01,ZY-02,ZY-03,ZY-04,ZY-05,ZY-06,ZY-07,ZY-08,ZY-09各种标准透明点规/污点规,点线面一起既有点的大小、直径、还有线的长度标准,塑料透明,A4纸大小 点:从0.1到3.00线:0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0面: 0.08到1.5也用从0.1~1.0纯点...购买须知1、厂家货源正品 厂家直销，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码 机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。3、关于颜色 小店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。 4、关于客服 可以随时联系我们，也可以拨打我们的热线电话5、关于售后 我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。6、关于发货小店默认省内发速尔，省外默认中通，如果改发其他快递我们会酌情收取差价。

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

超精密压电显微操作器系统配件使用方便，精确度超级高，是膜片钳实验，体外受精（IVF/ ICSI），转基因工程，胚胎操作，染色体解剖，以及任何需要超精密运动控制的工作的有效用仪器。超精密压电显微操作器系统配件具有非常迅速地移动到预定位置，同时保持精确度不到一纳米的功能！跟我们公司提供的任何NARISHIGE显微操作器相比，精确度的提高超过20倍。与EppendorfTransferMan® NK2，InjectMan® NI2和PatchMan® 系统相比，精确度的提高超过40倍。如果您想要极好的精确度和稳定性，而又不牺牲工作范围和工作速度！超精密压电显微操作器系统配件用操纵杆控制，在所有轴上都可以很容易地操纵MM3A。Kleindiek Nanotechnik MM3A符合人体工程学的直观的用户界面结合了大范围的运动速度，使其成为了显微注射和显微解剖的理想仪器。在神经生物学实验室中，非常适用于膜片钳实验。很容易迅速地安装到位，精细调节以接触神经元的细胞膜时提供纳米级精确度，由于几乎没有漂移（不同于精液压显微操作器，会因为细微的温度变化产生漂移）在整个实验中产生一个稳定的信号，简直是用于电气生理学的最好显微操作器。超精密压电显微操作器系统配件功能：设置简单：无需摆弄繁琐的支架 只需将坚固的磁性显微操作器安装到显微镜平台上，并开始注入！该纳米控制盒和手柄/操纵杆/立方体安装在显微镜旁，接触方便和符合人体工程学。几乎不受振动漂移非常短（1纳米/分钟）（没错，就是1纳米！）亚纳米级分辨率（0.25nm）宽广的工作范围（100cm3）粗调，精细运动集成在一个单元操作速度高（达10mm/秒！）点击显示图表，图表显示了MM3A与Eppendorf TransferMan® NK 2, InjectMan® NI 2 and PatchMan® 系统相比，如何更精确，更紧凑，更快，更轻以及与我们的各种NARISHIGE仪器选项相比，又是如何的。超精密压电显微操作器系统配件控制：下面是MM3A的控制图解。MM3A包含了纳米控制器（NanoController）和手柄（图中所示的最上面两个设备）。根据工厂的标准设置，手柄上的按钮用于粗调模式下移动。这两个操纵杆都可以是精细和粗调模式，取决选择的速度。此外，还可以设置一个原始/停放位置，那么当多次注射时显微操作器可以快速来回移动。为了更简单的高精度控制（如放置一膜片电极），我们推荐立方体，它是有三个高分辨率游标刻度盘的手动控制装置（图中显示的底部设备）。立方体提供了高响应，直观，直线运动控制。除了用户选择操纵杆外，立方体直接连接到纳米控制（NanoControl）控制电子。 过程移动范围是几厘米，一旦接近目标，超精密压电显微操作器系统的标准精细工作范围为20μm。如果用户想要一个更大的精细模式工作范围，增加助推器设置。NanoControl控制电子的助推器组件将精细模式工作范围扩大了一部。超精密压电显微操作器系统配件规格：尺寸57.1mm x 20.4mm x 25.4mm重量45g移动范围线性轴上的行程范围- 12mm 旋转轴线上的行程范围- 240°操作速度最大可达 10mm/秒精确度0.25nm 分辨率配件 1mm 或2mm移液管的移液管夹持器 pipettes磁性固定板显微镜平台转接板移液管增压和探头连接器纳米控制 用手柄控制电子和Windows98 / NT/ ME /2K / XP软件。详细信息的请查看以下链接，并在Kleindiek网站观看MM3A-LS的视频

1、企业介绍泰州巨纳新能源有限公司：巨纳集团(Sunano Group)是能源行业的知名品牌。泰州巨纳新能源有限公司(Sunano Energy)是国内最早的从事石墨烯制备、性能检测及应用产品开发的公司之一，注册资本11000万元，有办公用房300多平方米，厂房和洁净室3000多平方米。核心研发团队主要由国内外知名高校博士组成，部分成员来自于2010年诺贝尔物理学奖小组，项目技术处于国际领先地位，在石墨烯领域拥有专利30余项。企业管理团队有丰富的成功创业经验，创新意识强，公司客户遍布全球。2、高质量二维晶体材料简介：二维晶体材料指的是以石墨烯为代表的单原子层及少数原子层厚度的晶体材料。巨纳集团除了提供石墨烯材料、设备、检测等一体化服务外，还联合荷兰HQ Graphene为全球客户提供高质量的类石墨烯二维晶体材料，并提供定制服务，以满足客户的不同需求。 名称：二硫化钼单晶（MoS2）-合成纯度：＞99.995% 尺寸：~10 mm-20 mm 属性：半导体

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

高效薄层层析板(HPTLC)§ 分离速度快，重现性更好，色带更窄，适合于定量分析，灵敏度大幅度提高，约5~10倍类型产品描述 规格涂层厚度包装货号价格HPTLC Silica gel 60玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05641.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05631.00012461 10×10 cm200μm100/pk1.05633.00016399 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05547.00012921 HPTLC Silica gel 60 F254玻璃板20×10 cm200μm50/pk1.05642.00015260 10×10 cm200μm25/pk1.05628.00012708 10×10 cm200μm100/pk1.05629.00017581 5×10 cm200μm25/pk1.05616.00011857 铝板20×20 cm200μm25/pk1.05548.00013213 5×7.5 cm200μm20/pk1.05556.00011200 HPTLC Silica gel 60 F254s玻璃板20×10 cm200μm25/pk1.15696.00014332

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TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

默克薄层层析产品默克公司薄层层析产品标识的含义：F－ 含有荧光指示剂 F254＋366－ 荧光指示剂的激发波长F254s－ 蓝色荧光指示剂 (对酸稳定) G－ 粘合剂含硫酸钙H－ 不含粘合剂 R－ 经特殊工艺进行深度纯化W－ 可被水浸润 P－ 制备薄层层析 常规薄层层析板§ 采用Silica 60为原材料，通过特有的聚合技术使其 表面覆盖紧密、光滑，拥有极好的分离效果类型产品描述规格涂层厚度包装货号价格促销价TLC Silica gel 60 F254玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05715.0001975 70010×20 cm250μm50/pk1.05729.00011271 5505×20 cm250μm25/pk1.05808.00011138 ——5×10 cm250μm25/pk1.05789.00011218 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15327.00012511 ——铝板20×20 cm200μm 25/pk1.05554.0001814 60010×20 cm200μm25/pk1.05570.00011204 ——5×10 cm200μm50/pk1.16834.00011228 ——5×7.5 cm200μm20/pk1.05549.0001385 ——TLC Silica gel 60 玻璃板20×20 cm250μm25/pk1.05721.00012282 75010×20 cm250μm50/pk1.05626.00011538 6005×20 cm250μm100/pk1.05724.00013101 ——2.5×7.5 cm250μm100/pk1.15326.00012436 ——铝板20×20 cm200μm25/pk1.05553.00011643 ——5×10 cm200μm50/pk1.16835.00011396 ——

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