高频脉冲绝缘测试仪

产品名称：双通道高频脉冲发射接收仪产品型号：CTS-8072PR、CTS-8072PR+产品介绍：双通道高频脉冲发射接收仪是本公司最新研制的高频检测应用研究的专用仪器，具备低噪声和宽频带的接收放大电路，以及由高性能尖脉冲发生器和高压电源组成的尖波发射电路。CTS-8072PR+提供双通道数据采集功能，并可实现计算机同步控制。该仪器可应用于高频超声波探头的声学特性的评价以及性能指标的测试，也可应用于高频超声波自动化探伤系统探伤、厚度测量、材料特性测定等。功能特点：l 特殊设计匹配高频探头的尖脉冲发生器，上升时间＜3ns，-160V～-200V可调；l 脉冲重复频率可调，最高50kHz；l 信号带宽：20KHz～110MHz（-3dB）；l -6dB～+54dB，1dB步进的RF可调增益范围；l 20kHz或20MHz可选高通滤波器；l 500MHz采样率/12bit数据采集模块；l 标准网络接口，实现计算机同步控制及数据采集；l 提供本公司自主研发的30MHz、50MHz等系列高频探头。

固体绝缘高频介电常数测试仪GCSTD-A/Ba主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

一、设备概述：镇流器短脉冲电压测试仪是根据直流电子镇流器检测类相关标准的涵盖范围，提供电感镇流器的耐高压脉冲测试，该设备前置端子测试便捷；采用低接触阻抗镀金端子；内置真空器件。时间继电器控制通断时序，精度高。可方便全程观测脉冲持续时间。二、符合标准：镇流器短脉冲电压测试仪满足IEC61347-1、GB19510.1-2009标准附录G及图G.1的要求以及IEC61347-2-4的短脉冲测试要求，为测试镇流器输入端电压出现短周期脉冲，镇流器应能承受这些脉冲而不失效。三、主要技术参数：1、工作电压： AC 220V/50Hz ；2、负载：AC220V 3A；3、控制线圈： DC24V 50mA；4、精度：±1% ；5、真空部件： 最大连续负载电流： 20Amps； 最大工作电压： DC 60V ； 最大工作时间/最大释放时间：20us ； 6、C 容量：0.0017-0.7UF，耐压：120-2500V ； 3-67UF， 耐压：120-2500V；7、稳压： 12V-200V；8、工作温/湿度：温度20±5℃；湿度60% ；9、最大耐压： 2500Vrms；10、绝缘电阻：500MΩ；11、含DC2000V可调电源1台，200欧可调电阻1台。

绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A工作频率范围 100Hz～100kHz（6个频点）精度：±0.05% 20Hz～1MHz数字合成，精度：±0.02%电容测量范围 0.0001pF～99999μF四位数显 0.00001pF～9.99999F六位数显电容测量基本误差 ±0.05% ±0.05%损耗因素D值范围 0.0001～9.9999四位数显 0.00001～9.99999绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A离子气流量 (L/min) 0.1-1 保护气流量 (L/min) 1-10 外形尺寸 (cm) 46*54*72 脉冲频率 (Hz) 2-50 脉冲占空比 五档可调 起弧电流 (A) 1-50 收弧电流 (A) 1-50 电流上坡时间 (s) 0.5-5 电流下降时间 (s) 0.5-5 滞气时间 (s) 2-8 绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A波长准确度： ±2nm(200nm-900nm) 波长再现性： ＜0.2nm波长分辨率： 0.1nm 光谱宽带： 4nm光度测量范围： 3.0Abs(200-900nm) 光度测量准确度： ±0.5%T光度重复性： 0.2%T 杂散光： ＜0.05%T光度漂移： ±0.002A/h 样品池兼容性： （10nm,20nm,30nm比色皿）曲线数量： 218条(160条标准曲线，58条拟合曲线) 数据存储： 4500个显示方式： 5.6寸彩色液晶触摸屏 操作界面： 中文显示绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985可测试材料　　绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等绝缘介电常数及介质损耗测试仪HRJD-A技术指标1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023；b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 10kHz～10MHz固有误差 ≤5％±满度值的2%工作误差 ≤7％±满度值的2%频率范围 10MHz～70MHz固有误差 ≤6％±满度值的2%工作误差 ≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：1nH～8.4H3．电容测量：直接测量范围 1～520p主电容调节范围 30～550pF准确度 100pF以下±1pF；100pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。4．信号源频率覆盖范围：频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHzCH2 100～999.999kHzCH3 1～9.99999MHzCH4 10～70MHz频率指示误差 3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～10006．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．消耗功率：约25W；8、选配液体杯，可做液体材料的检测。

国际知名的Jobinyvon IBH 公司生产的 NanoLED高频闪激光器系列,专门为荧光寿命测试设计；单一控制器可用于所有的NanoLED； 举例：老型号NanoLED-07对应新型号NanoLED-405L 光源中心波长为405nm，闪烁频率10k-1MHz 多档可调。脉宽小于100ps。输出能量：10pJ/Pulse (10皮焦每脉冲)。 半导体激光器NanoLED，脉宽小于200ps: 其他波长NanoLED的详细技术资料需求，请咨询： NanoLED-375L NanoLED-395L NanoLED-405L NanoLED-415L NanoLED-440L NanoLED-470L NanoLED-485L NanoLED-635L NanoLED-650L NanoLED-670L NanoLED-785L NanoLED-830L NanoLED-250 NanoLED-260 NanoLED-265 NanoLED-270 NanoLED-280 NanoLED-290 NanoLED-295 NanoLED-300 NanoLED-310 NanoLED-320 NanoLED-330 NanoLED-340 NanoLED-350 NanoLED-360 NanoLED-370 NanoLED-390 NanoLED-455 NanoLED-570 NanoLED-590 NanoLED-605 NanoLED-625 NanoLED-740

一、设备概述：镇流器长脉冲电压测试仪是根据直流电子镇流器检测类相关标准的涵盖范围，提供电感镇流器的耐高压脉冲测试，该设备前置端子测试便捷；采用低接触阻抗镀金端子；内置真空器件。时间继电器控制通断时序，精度高。可方便全程观测脉冲持续时间。二、符合标准：满足IEC61347-1、GB19510.1-2009标准附录G及图G2的要求以及IEC61347-2-4的14章长脉冲测试要求，为测试镇流器输入端电压出现长周期脉冲，镇流器应能承受这些脉冲而不失效。三、主要技术参数：1、工作电压： AC 220V/50Hz ；2、负载：AC220V 3A；3、控制线圈： DC24V 50mA；4、精度：±1% ；5、真空部件： 最大连续负载电流：5Amps 最大工作电压：DC 60V 最大工作时间/最大释放时间：20us； 9、最大耐压： 2500Vrms ；10、绝缘电阻： 500MΩ ；11、工作温/湿度：温度20±5℃；湿度30%~60%。12、含DC60V可调电源1台，DC200V可调电源1台。

仪器简介：装置构成 1．冷却用真空室单元 2．高速排气单元 3．PAS特殊电源 4．自动加压控制单元 5．温度控制单元 6．位置检出单元 7．6笔记录仪技术参数：采用独特锯齿状高频脉冲电源可以更为高效地完成几乎任意材料的烧结。现在大家常用的电源达不到锯齿状高频脉冲效果尤其是可以在大气下完成Al.Ti,Be等粉末的烧结最大压力(KN) 50～300 脉冲电流 (A) 800～2000 最大输出 (A) 2000～15000 最大输入 (KVA) 19～315 最大使用温度 (℃) 1200～2800 行程 (mm) 70～200 冷却水 0.2～0.3MPa、最小20l/min　水 烧结环境 大气中，真空中，气氛中都可以 主要特点：现在大家常用的电源达不到锯齿状高频脉冲效果 尤其是可以在大气下完成Al.Ti,Be等粉末的烧结Ed-PAS是通过采用特殊锯齿高频脉冲电源施加高能量于粉体微粒上形成微区等离子放电，使得粉体表面氧化膜破裂产生新鲜表面同时施加通电加热于粉体利用热扩散以及电界扩散效应完成烧结过程。所以它有如下特点1。不要求任何粉末冶金知识，不管是谁都可以得到高质量烧结体。2。因为粒子间微区放电具有净化功能，所以不需要真空或保护气氛。3。因为能量密度高，所以可以在比其他方法更低的温度下完成烧结。4。因为在较低温度，较短时间下完成，所以晶粒不长大，非晶态也能够几乎完整地保持下来。

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GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法1、范围本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量3、术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的精确度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为：……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm3.2介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。3.3介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻；1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系：式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。4、电气绝缘材料的性能和用途4.1电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。4.2影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。4.2.1频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。4.2.2温度损耗指数在一个频率下可以出现一个zui大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数zui大值位置。4.2.3湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。4.2.4电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数zui大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数，采用板状试样，也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时，zui大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。*点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，5.1.2电极系统5.1.2.1加到试样上的电极电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.5.1.2.2试样上不加电极表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下面两种型式的电极装置特别合适.5.1.2.2.1空气填充测微计电极当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。5.1.2.2.2流体排出法在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。5.1.2.3边缘效应为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。5.1.3构成电极的材料5.1.3.1金属箔电极用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度zui大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。5.1.3.2烧熔金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，采用金。5.1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5.1.3.6导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。5.1.3.7石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4电极的选择5.1.4.1板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3?10之间的材料，能给出zui高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。5.1.4.2管状试样对管状试样而言，合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，较方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2液体绝缘材料5.2.1试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。5.2.2试验池的准备应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则后要用zui大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。5.2.3试验池的校正当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。“电极常数”C。的确定按式（14）: ……………………………（14）式中：Cc——电极常数；Co——空气中电极装置的电容；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；εn——校正液体的相对电容率。从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg ……………………………（15）……………………………（16）并按照公式来计算液体未知相对电容率εx。式中：Cg——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；Cc——电极常数|Cx——电极装置充有被试液体时的电容；εx——液体的相对电容率。假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。6、测置方法的选择测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。6.2谐振法适用于10kHz?几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。7、试验步骤7.1试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。7.2条件处理条件处理应按相关规范规定进行。7.3测量电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。8、结果8.1相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。8.2介质损耗因数tanδ介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。8.3精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。9、试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率εr（平均值）；介质损耗因数tanδ（平均值）；试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。表1 真空电容的计算和边缘校正 试样的相对电容率：其中：C'x——电极之间被测的电容；In——自然对数；Ig——常用对数。表2 试样电容的计算——接触式测微计电极试样电容注符号定义’1.并联一个标准电容器来替代试样电容CP——试样的并联电容△C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: CP=△C+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容CP=Cs-Cr+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。CP=△C+Coh试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极 1——测微计头；6——微调电容器；2——连接可调电极（B)的金属波纹管；7——接检测器；3——放试样的空间（试样电容器M1；8——接到电路上；4——固定电极（A）；9——可调电极（B）。5——测微计头；图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置单位为毫米 1——内电极；1——把柄；2——外电极；5——棚硅酸盐或石英垫圈；3——保护环；6——硼硅酸盐或石英垫圈。图2 液体测量的三电极试验池示例 注满试验池所需的液体量大约15mL1——温度计插孔；2——绝缘子；3——过剩液体溢流的两个出口。图3 测量液体的两电极试验池示例 1——温度计插孔；2——1mm厚的金属板；3——石英玻璃；4——1mm或2mm的间隙；5——温度计插孔图4 液体测量的平板两电极试验池

绝缘耐电压击穿测试仪做实验油盒里注入25#变压器油，漫过上电极15～20mm，放入试样，关闭门，此时门位指示灯亮，按下高压启动此时绿灯亮，电脑上输入试样厚度，选择升压速率50KV 0.2～2kv/s，100KV 0.5～10kv/s，任意选，点击参数设置，选择实验方法，保存参数设置，点击实验准备一确定一开始实验，此时实验开始，直到试样击穿,步进电机归零，启点指示灯亮，实验结束，此时电脑显示的是试样击穿跌落值，数据表格里显示是实际值，点击序号2，可做下个试样，一种试样可做10个，做完实验点击左上角保存，点击曲线分析，看实验结果，点击Word转换成Word报告，点击Excel转换成Excel各点数据。绝缘耐电压击穿测试仪做直流实验；把高压变压器短路销拔出来，打开软件，双击交流实验此时直流实验变实，点击直流实验此时是做直流实验，其它设置与交流是一样的，做完实验自动放电。ASTM D149-2009介电击穿电压试验方法耐电压击穿试验仪13. 计算13.1对于每次测试而言，击穿时的绝缘强度应以kV/mm或V/mil为单位来计算，对于逐步测试而言，梯度应以未发生击穿的最高电压步骤来计算。13.2计算平均绝缘强度及标准偏差，或其他变量的测量值耐电压击穿试验仪14. 报告14.1报告应包含以下信息：14.1.1测试样的鉴定。14.1.2对每一个测试样；14.1.2.1所测量的厚度，14.1.2.2能承受的最大电压（对逐步测试而言），14.1.2.3击穿电压，14.1.2.4绝缘强度（对逐步测试而言），14.1.2.5击穿强度，及14.1.2.6击穿的部位（电极的中心，边缘或外部）。14.1.3对于每个样品：14.1.3.1平均电介质承受强度（仅对逐步测试测试样），14.1.3.2平均电介质击穿强度，14.1.3.3变量的说明，最好是标准偏差和变化系数。14.1.3.4测试样的说明，14.1.3.5调节和测试样的准备，14.1.3.6环境的温度和相对湿度，14.1.3.7环境介质，绝缘耐电压击穿测试仪精度和偏差15.1表2总结了四个实验室和八种材料实验室间研究的结果。该研究采用同一电极体系和同一测试介质。915.2单一操作员精度——根据测试材料，试样厚度，电压供给方式以及控制或抑制瞬间电压脉冲的极限，变化常数（标准差除以平均值）在1%到20％之间变化。如果就同一样品的五个测试样进行重复试验，变化常数通常不大于9%。绝缘耐电压击穿测试仪力(表压)应与开关设备实际运行时的压力相同，必要时允许适当提高试验金属壳体内气体的压力，试验金属壳体内SF。气体的性能要求见表8.套管试验时应水平或垂直安装，要求安装成其他状态时，应由供需双方协议商定。试验时的环境温度及浸入介质的温度应在10℃~40℃之间。DL/T1408-20153) 升压至 U=U=1100kV，持续1min:4)降压至U2持续 1h 5) 降压至U,持续5min 6)电压降至零。在所有测试电压下都要监测局部放电量并每5min记录一次测量结果，局部放电不呈现持续增加趋势，偶尔出现的较高幅值脉冲可以不计入。试验时不应出现闪络或击穿，试验后应复测套管tanδ和电容量，若无异常，可进行下一项试验。在测试的任一阶段，套管的局部放电量上限见表4。局部放电量测量管进行局部放电量测量试验时，试验电压和持续时间要求如图2所示。DL/T1408-2015推荐的典型尺寸和特殊要求套管与开关设备和变压器的连接方式、法兰典型尺寸如图A.1~图A.4和表A.1所示，尺寸也可由供需双方协商确定。a) 套管变压器侧和开关设备侧的绝缘长度不小于1830mm。b)套管与开关设备之间的导电连接采用平面连接方式，套管应预留圆形连接平面供开关设备厂设计开关设备与套管的连接结构，预留圆形平面外径为230mm，连接结构的屏蔽罩直径应与套管开关设备侧端部的最大直径相匹配。绝缘耐电压击穿测试仪开关设备侧法兰经过一段过渡筒体与常规开关设备母线相连，过渡筒体内径为1200mm。压力监测要求油浸纸套管应配有气体压力监测装置，根据设置的压力报警值，当油-SF。套管开关设备侧 SF。气体侵入套管内部时，发出异常报警信号。试验要求与方试验的一般要求套管变压器侧应浸在装有变压器油的尺寸合适的试验油箱中，套管开关设备侧应装在充有SF。气体的尺寸合适的试验金属壳体内，套管端部的均压屏蔽罩要确保其表面场强足够低，使其在相应介质(变压器油和 SF。气体)中不发生局部放电。试验油箱中变压器油的击穿电压、水分和颗粒度应符合表7的规定。试验金属壳体内SF。气体的压力(表压)应与开关设备实际运行时的压力相同，必要时允许适当提高试验金属壳体内气体的压力，试验金属壳体内SF。气体的性能要求见表8.套管试验时应水平或垂直安装，要求安装成其他状态时，应由供需双方协议商定。试验时的环境温度及浸入介质的温度应在10℃~40℃之间。试验程序如下:1) 升压至 U3=1.1U√√3=699kV，持续5min 2) 升压至 U₂ =1.5U√3=953kV，持续5min 3) 升压至 U=Uy=1100kV，持续1min 4)降压至 U₂ 持续5min 5)降压至 U₃ 持续5min 6)电压降至零。在所有测试电压下都要监测局部放电量并记录测量结果，局部放电不呈现持续增加趋势，偶尔出现的较高幅值脉冲可以不计入。试验时不应出现闪络或击穿，试验后应复测套管tanδ和电容量，若无异常，可进行下一项试验。在测试的任一阶段，套管的局部放电量上限见表4。抽头绝缘试验应在1kV和2kV的试验电压下测量试验抽头的tanδ和电容量。套管的抽头绝缘数据及要求见本标准7.3.Ok/e方协议商定,通过套管导体的电流值应至少为本标准7.5中的标准值试验前套管应施加一个电流，使套管导体达到一个稳定的温度，该温度应与套管在最高环境温度下施加额定电流时达到的稳定温度相同。试验后没有出现绝缘损伤时，套管可进行下一项试验。悬臂负荷耐受试验为了验证套管符合本标准7.7的规定，套管应按GB/T4109-2008中8.9规定的试验方法进行试验，试验时施加的负荷为5kN。油浸纸油-SF。套管密封试验对于油浸纸油-SF。套管，在型式试验和逐个试验中都需要进行密封试验。型式试验时，充以变压器油并放入温度能持续12h保持在75℃的一个适当的加热容器内。试验时采用适当的方法保持套管内部的最小压力比其最高运行压力高出0.1MPa±0.01MPa。逐个试验时，在环境温度不低于10℃时充以最低温度60℃的变压器油，充油后应尽快对套管内部施加比最高运行压力高0.1MPa+0.01MPa的压力，保压至少12h。试验时或试验后套管应无泄漏。检测方法应符合GB/T2423.23-2013的相关规定。外部压力试验套管应按试验的要求装配好，在环境温度下其开关设备侧应安装在尽可能和正常运行时一样的箱内，箱体密封并充满适当的液体。箱内应施加3倍的最高运行气体压力，压力持续1min，套管不应有机械损伤(例如变形、破裂)。当没有出现机械损伤的迹象时，套管可进行下一项试验。法兰或其他紧固件上的密封试验a)变压器侧密封要求。套管应按试验要求装配。在环境温度下套管变压器侧应如正常运行时那样安装在一箱体上，变压器侧的箱内应充以相对压力为0.15MPa±0.01MPa的空气或任何适宜的体并维持15min，或充以相对压力为0.1MPa±0.01MPa的油压维持12h，套管应无泄漏。b)开关设备侧密封要求。套管应按试验要求装配。在环境温度下套管开关设备侧应如正常运行时那样安装在一箱体上，箱内应按正常运行要求充以最高运行气体压力的SF。气体或示踪气体。当有要求时，套管变压器侧部件应封闭在一外套内。含有液体的套管内腔应清空并开一个使气体可自由流通到外套内的窗口。在等于或大于2h的时间间隔内应测量两次外套内空气中的气体浓度。产品名称：介电击穿强度测定仪 产品型号：BDJC-50kv控制方式：微机控制 满足标准：GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法HG/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.IEC 60243-1 绝缘材料电气强度试验方法. 液体：《中华人民共和国国家标准-绝缘油击穿电压测定法-GB/T 507-2002》 《中华人民共和国电力行业标准-绝缘油介电强度测定法-DL429.9-91》

我公司生产的高频脉冲电源产品，以美国TI公司的PWM集成电路为核芯，并配置进口IGBT模块作为开关执行元件，构成新一代大功率高频脉冲电源。具有集成化程度高、控制精度精度、稳定性好、可靠性高、功能完善、使用和维护方便等优点。高频脉冲电源以体积小、重量轻、高频率、高可靠性等优点已成为可控硅电源的更新换代产品。目前我公司生产的高频脉冲电源已广泛应用于水处理、电镀、阳极氧化、硬质氧化、电解、点抛光及电泳等领域，和通信、铁路、航空及电力电子等行业。工作环境 工作温度 -10℃~+45℃ 工作相对湿度 ≤90% 存储温度 -20℃~+70℃ 存运相对湿度 ≤90%技术参数额定输入电压三相四线制AC380V±10%，50Hz三相四线制AC415V±10%，50Hz额定输出电压直流 50V额定输入电流32A额定输出电流400A效率大于88%负载率99.99%功率因素0.95稳压精度1%稳流精度1%绝缘等级H级防护等级IP21冷却方式风冷体积（宽＊深＊高）482.6mm×560mm×298.7mm（机身尺寸）重量≤40kg

机台型号：ZJD-B/ZJD-A/ZJD-C 产品名称：高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统 一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法； 二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档电感测量范围1nH～8.4H1nH～140mH电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25nF主电容调节范围30～540pF 17～240pF准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%合格指示预置功能范围5～1000环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm 三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）

一、产品概述：动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一款专为评估和测试功率电子器件动态性能而设计的高精度设备。该仪器能够通过施加双脉冲信号，实时监测功率器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗，提供全面的性能分析。广泛应用于功率半导体、IGBT、MOSFET 等器件的研发与测试，动态功率器件分析仪具有高时间分辨率和准确的数据采集能力，帮助工程师评估器件在实际工况下的表现和可靠性。其用户友好的界面和灵活的测试配置，使得设备在功率电子领域的研究和开发中成为不可或缺的重要工具。二、设备用途/原理：设备用途动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪主要用于评估和测试功率电子器件（如IGBT、MOSFET等）的动态性能。广泛应用于功率半导体的研发、质量控制和性能分析，能够提供关于器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗等关键数据，帮助工程师优化器件设计和提高可靠性。工作原理该仪器通过施加双脉冲信号来测试功率器件的动态响应。在测试过程中，仪器首先施加一个脉冲信号使器件导通，然后迅速切换到另一个脉冲信号以关闭器件。通过实时监测电流和电压的变化，仪器能够捕捉到开关过程中的瞬态特性和功率损耗。数据采集系统会记录这些参数，并生成详细的性能分析报告。该测试方法具有高时间分辨率，能够准确反映器件在实际应用中的表现，为功率电子领域的研究和开发提供重要支持。三、主要技术指标：1. 作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件。 2.能够可靠、可重复测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征3.测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征4.同时满足被测器件和用户对测试环境的要求5.模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试换

高频/音频介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪* 我要求购：* 我的姓名：* 我的单位：* 我的电话：* 我的邮箱：我的地址：所属省份北京市天津市河北省山西省内蒙古自治区辽宁省吉林省黑龙江省上海市江苏省浙江省安徽省福建省江西省山东省河南省湖北省湖南省广东省广西壮族自治区海南省重庆市四川省贵州省云南省西藏自治区陕西省甘肃省青海省宁夏回族自治区新疆维吾尔自治区香港特别行政区澳门特别行政区台湾省其它所属城市所属地区* 信息有效期：10天20天一个月三个月半年 信息展示过期后将自动下线，如还需采购可重新发布信息具体要求：* 验证码： 看不清？

高频/音频介电常数介质损耗测试仪操作规程：　　1、本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。　　2、每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。　　3、接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。　　4、测量试品前应先对试品进行高压试验，在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试(若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做)。　　5、对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。　　6、测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。　　7、在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿,待检查排除故障后，再进行高压测量工作。高频/音频介电常数介质损耗测试仪使用方法　　高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）　　技术参数：　　1．Q值测量　　a．Q值测量范围：2～1023。　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。　　c．标称误差　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH　　3．电容测量：1~205　　主电容调节范围：18～220pF　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明　　4. 信号源频率覆盖范围　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。　　6．B-测试仪正常工作条件　　a. 环境温度：0℃～+40℃；　　b．相对湿度 lt 80％；　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。高频/音频介电常数介质损耗测试仪四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法：　　一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：　　1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接 　　2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，(四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片)，将断针从铜片卡口座里取下即可 　　3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接 　　4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝 　　5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部。高频/音频介电常数介质损耗测试仪总有机碳分析仪的测定方式主要有三种类型。湿法氧化-非色散红外检测，该方式是在样品经过酸性过钾氧化之前经磷酸处理待测样品，去除无机碳后测定TOC的浓度。但湿法氧化对于含腐殖酸等高相对分子质量化合物的水体氧化不充分。紫外-湿法氧化-非色散红外检测，该方式是紫外氧化和湿法氧化两者的协同作用，针对紫外氧化法无法用于高含量TOC的复杂水体，两者的协同可以测量污染较重的水体。高温催化燃烧氧化-非色散红外检测，样品中有机碳在高温催化氧化条件下转化为二氧化碳后经非色散红外（NDIR）检测，因髙温燃烧相对彻底，适用于污染较重水体或是复杂水体，但需考虑样品的高盐分对于测定结果的影响问题。此外紫外氧化-非色散红外检测、电阻法、紫外吸收光谱、电导法等方式均因稳定性差或对颗粒状、高相对分子质量有机物氧化不完全而未能用于土壤学领域。将土壤、沉积物样品处理成为溶液样品时需要考虑一定粒度的漂浮物或可沉固体物质的处理问题。高频/音频介电常数介质损耗测试仪市面上常见的TOC分析仪都有两大基本功能：　　一，先将水中的总有机碳充分氧化，生成二氧化碳CO2；　　二，测试新产生的CO2.不同和型号的TOC分析仪的区别在于实现这两大基本功能的方法不同。　　常用的氧化技术有：燃烧氧化法、紫外线氧化法以及超临界氧化法；而对CO2的检测方法又分：非分散红外线检测，直接电导率检测以及选择性薄膜电导率检测。

ES-4516A 脉冲群浪涌组合模拟器整体大小4U/19"，内置了单相脉冲群、浪涌测试功能，并内置了单相耦合去耦合网络，兼容直流测试。设备可靠性高，用途广泛。符合IEC61000-4-4、GB/T17626.4、IEC61000-4-5、GB/T17626.5等标准。◆ 产品特点1、集成式设计，内置脉冲群、浪涌测试项目2、被测样品电源容量：AC：0~220V/20A DC：0~110V/20A3、脉冲群试验电压范围：0.1kV~5kV，浪涌试验电压范围：0.1kV~5.5kV3、采用二代高速半导体电子开关，无使用寿命限制4、电压输出精准，波形平顺光滑5、内置单相三线耦合去耦合网络6、浪涌每次干扰输出，波形在屏幕上实时显示（选配）7、采用10.1寸安卓系统电容触控显示屏8、浪涌支持击穿报警功能9、内置标准库10、自动存储试验报告11、丰富的程控接口，支持上位机操作12、体积小巧，整体4U◆ 符合标准IEC61000-4-4、GB/T17626.4、EN61000-4-4、IEC61000-4-5、GB/T17626.5、EN61000-4-5、美国ANSI◆ 技术参数模拟项目 脉冲群浪涌组合发生器(电瞬变脉冲群抗扰度、雷击浪涌抗扰度)电瞬变脉冲群规格脉冲电压输出范围 0.1kV~5kV步进电压 0.1kV~2kV自由设定输出电压精度 ＜±5%输出电压极性 正极、负极、正负交替、负正交替源内阻 50Ω频率范围 0.1~1000kHz标准频率 5kHz、100kHz频率分辨率 0.1kHz脉冲 5ns脉宽（50Ω） 50ns脉宽（1kΩ） 35~150ns单脉冲群脉冲个数 1~500个脉冲可调脉冲群周期 0.1~60s可调IEC标准 内置，直接调出即可按照标准要求测试脉冲时间 1~9999次触发方式 自动、手动、外部触发耦合去耦合网络内置单相三线AC：0~220V/20A Max DC：0~110V/20A Max雷击浪涌规格浪涌电压输出范围 0.1kV~5.5kV浪涌电流范围 0.05kA~2.75kA步进电压 0.1kV~2kV自由设定输出电压精度 ＜±5%输出电压极性 正极、负极、正负交替、负正交替输出波形 浪涌综合波开路电压波 ：1.2us±30% 脉冲宽度：50us±20%短路电流波 ：8us ±20% 脉冲宽度：20us±20%阻抗 2Ω、12Ω、40Ω耦合方式 共模、差模耦合电容 差模9uF，共模18uF退耦电感 1.3mH脉冲间隔时间 10~600s可调节（根据脉冲电压范围而定）注入角度 异步、同步相位角 0~359°，角度分辨率为1°可调标准相位 0°、90°、180°、270°IEC标准 内置，直接调出即可按照标准要求测试脉冲次数 1~9999次触发方式 自动、手动、外部触发绝缘电阻 电源输入端与外壳间电阻大于10MΩ耐压 电源输入端与外壳间 AC：1500V时长一分钟耦合去耦合网络切换方式 自动切换交流耦合去耦合网络内置单相三线AC：0~220V/20A Max直流耦合去耦合网络 DC：0~110V/20A通用参数操作系统 Android屏幕 1280×800LCD彩色液晶触摸显示，支持10点触控语言 中文、英文切换其他接口 HDMI、RS485、USB、以太网等二次开发 支持以太网、RS485程控使用环境 温度：10℃~40℃，湿度：30%~70%设备供电 AC：100~250V@50Hz/60Hz外形尺寸 4U/19"标准机箱重量 20kg◆ 应用领域低压电器、通讯通信、仪器仪表、家用电器、轨道交通、医疗器械、汽车电子、电力、灯具照明、工业设备等等

一、功能特点1. 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及各种材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。2. 可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、三次脉冲法、多次脉冲法、速度测量法。3. 工业级10.4/12.1(选配)寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。4. 全局波形和局部波形同步显示，便于整体分析和细节调整。5. 任何高阻故障均呈现最简单的类似低压脉冲短路故障波形特征，极易判读。6. 采用多次脉冲法测试时，界面同时采集8条真实波形，更便于判读和降低测试误差，提高测试精度。7. 内置电源供电，在无电源环境中均可长时间使用。8. 体积小、重量轻、使用方便，检测故障成功率和测试精度高。9. 具有安全的采样高压保护措施，测试仪器在任何环境下性能稳定，不死机。10. 内置存储/调出功能，可方便将数据及波形保存或调出重新分析。11. 测试信号提供多种脉冲宽度，无测试盲区。二、技术参数1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法、多次脉冲法2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs4. 波速设置：交联乙烯、聚氯乙烯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定5. 冲击高压：35kV及以下6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m7. 分 辨 率：1m8. 测试精度：1m9. 显示方式：工业级10.4/12.1(选配)寸彩色触摸液晶屏10. 操作方式：触摸屏操作、物理旋钮操作11. 分析设置：滚屏、缩放、保存、调出、波移等功能12. 工作电源：内置电池供电13. 连续工作：≥8h（亦可使用外接电源使用），充电电源AC220V±10%(8.4V/1A 锂电池专用充电器)14. 储存功能：具有数据存储功能，可存储大量现场波形及数据，并随时调出使用15. 波形分析：所有的高阻故障波形仅表现为低压脉冲法的短路故障波形特征，便于分析卡位16. 波形处理：能将测得的故障点波形与好相的全长开路波形同时显示在屏幕上进行同屏对比和叠加对比，可自动判断故障距离17. 外形尺寸：长270mm×宽220mm×高150mm18. 主机重量：3.8kg 耦合单元重量：12kg

绝缘材料高低频介电常数测试仪GCSTD-Da满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB／T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法ASTM D150／IEC 60250固体电绝缘材料的（恒久电介质）的交流损耗特性和介电常数试验方法：接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试样类型：固体、液体、粉体、膏体／规则物或者不规则物性能特点：测试频率20H2～2MHz，10mHz步进测试电平10mV～5V，1mV步进基本准确度0.1％

高温弹性模量测试仪 通过合适的外力给定试样脉冲激振信号，当激振信号中的某一频率与试样的固有频率相一致时，产生共振，此时振幅最大，延时最长，这个波通过测试探针或声学传感器的传递转换成电讯号送入仪器，测出试样的固有频率，由公式计算得出杨氏模量E、剪切模量G及泊松比U。高温弹性模量测试仪 符合标准ASTM E1876-2015 Standard Test Method for Dynamic Young’s Modulus, Shear Modulus, and Poisson’sRatio by Impulse Excitation of Vibration；ASTM C1259-14 Standard Test Method for Dynamic Young’s Modulus, Shear Modulus, and Poisson’s Ratio for Advanced Ceramics by Impulse Excitation of Vibration；JC/T 2172-2013 精细陶瓷弹性模量、剪切模量和泊松比试验方法 脉冲激励法；GB/T 5594.2-85 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法；BS ISO 20343:2017(E) Fine ceramics (advanced ceramics,advanced technical ceramics)- Test method for determining elastic modulus of thick ceramic coatings at elevated temperature；GB/T 30758-2014 耐火材料　动态杨氏模量试验方法（脉冲激振法）；ASTM C 1548-02 Standard Test Method for Dynamic Young’s Modulus, Shear Modulus, and Poisson’s Ratio of Refractory Materials by Impulse Excitation of Vibration；ISO12680-1 耐火材料动态杨氏模量试验方法－脉冲激振法高温弹性模量测试仪 技术参数测试方法：脉冲激振法试验温度：室温～950/1300/1550℃控温精度：±1℃测量范围：1～1000GPa (可通过改变试样尺寸适当扩大量程)测量项目：杨氏模量、剪切模量、泊松比及阻尼比测量误差： ±0.5％ 试验气氛： 空气气氛 氮气气氛 或 氩气气氛频率范围：20～22000Hz频率精度：0.1HZ灵敏度 (mV/Pa): 1 mV/Pa采样率：44.1k/48k/88.2k/96k/176.4k/192k Hz输入阻抗：1.8KΩ试样形状：长条状试样尺寸：长度 （30～200）mm；宽度（2～60）mm 长度/高度≥5高温弹性模量测试仪 仪器特点l 无损检测，测后试样可用于其它测试；l 可测试材料的阻尼比，从室温至高温；l 非接触式检测，不需要与试样耦合，测后试样表面洁净；l 不需连续输出频率从小到大的正弦波信号给发射探头（此处采用国际推崇方法）；l 测试准确，操作简单、快速；l 可直观观察材料的共振峰，也可同一界面观察谐振峰（如果试样有层裂、大的缺陷时会出现谐振峰）；l 采用进口高精度、稳定性好的传感器与数据处理器；l 采用国外先进软件，数据分析精度高，操作界面友好。

高频/音频介电常数测试仪高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）　　技术参数：　　1．Q值测量　　a．Q值测量范围：2～1023。　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。　　c．标称误差　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH　　3．电容测量：1~205　　主电容调节范围：18～220pF　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明　　4. 信号源频率覆盖范围　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。　　6．B-测试仪正常工作条件　　a. 环境温度：0℃～+40℃；　　b．相对湿度 lt 80％；　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz高频/音频介电常数测试仪特点；　　1、桥体内附电位定位机器及指零仪，外边接线很少；　　2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保障测量的稳定性；　　3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰；　　4、仪器内部电阻及电容元件经老化处理，使仪器技术性能稳定可靠；　　5、内附高压电源；　　6、内附标准电容，损耗低。高频/音频介电常数测试仪电容测试仪的特性：　　1、采用侧附式新型电磁线圈，测量时勿需拆卸真空泡。　　2、测量结果量化，可直接与相关行业标准接轨，准确判断被试品优劣。　　3、大屏幕液晶显示，全中文式菜单操作，操作直观、简单、方便。　　4、测量结果精度高，稳定性好。　　5、具有测量工作量小、快捷简便、性能稳定、测量准确、故障检出率高等特点。此外，它的电流测量单元还可兼作CVT、避雷器等电器设备的测量之用，具有一机多能的功能。高频/音频介电常数测试仪操作规程：　　1、须有专人负责保管、使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。　　2、每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。　　3、接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。　　4、测量试品前应先对试品进行高压试验，在电桥工作电压下无噪声、电离等现象出现，然后才能进行测试。　　5、对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。　　6、测试时操作人员必须思想集中，工作前做好准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。　　7、在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。高频/音频介电常数测试仪数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.000 3，数量级0.0002的介对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的晶度时，可采用试样上不加电的系统。对于相对电容率不都过10的管状试样，醉方便的电是用金属筋、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电 烧管上可采用烧熔金属电。电可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分氮周上。

高频、工频介电常数测试仪《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。质损耗测试系统主要性能参数一览表 BH916测试装置 GDAT高频Q表平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz 、 频率指示误差3×10-5±1个字间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份 高频、工频介电常数测试仪 概述1-1电桥简介: BQS-37a型高压电桥也叫QS-37a是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409及GB5654,其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。 1-2电桥的特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性 l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF 高频、工频介电常数测试仪 技术指标2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 2-2电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)2-3工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C 2-4辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）2-5指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格 电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB 高频、工频介电常数测试仪 电桥工作原理BQS-37a型高压电桥采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽（S）组成。自动跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（S）产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时，A,B,S三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分，采用了指针式电表指示，视觉直观，分辨清楚，克服了以往振动式检流计的缺点 3-1 桥体的组成电桥各臂的组成一臂：由被测对象Cx组成Z1。二臂：由高压标准电容器Cn组成Z2。第三臂：由十进电阻器10×（1000＋100＋10＋1＋0.1）欧姆和滑线电阻（0-0.13）欧姆组成Z3。第四臂：由十进电容臂10×（0.1＋0.01＋0.001＋0.0001）uf和可变电容器100pF组成C4再与电组R4并联组成Z4。 3-2计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。3-3 公式说明.频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值 高频、工频介电常数测试仪安全操作规程1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。 高频、工频介电常数测试仪操作方法 5.1 测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。 5.2 试品的测试①在不知道被测试品的大概容量及损耗时，可先施加少许的电压，找到粗平衡点后，再把工作电压升到所需的值，然后再寻找细平衡点。②在测量时，灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。③在测量时，R3开关时按从左至右的规律来调节的。④在测量时，C4开关时按从右至左的规律来调节的。⑤整个测量步絮：首先检查接线无误后，方可通电试验。第二升起试验电压，并调节灵敏度开关，使UA表头有明显的指示。此时表明电桥没有平衡。第三调节R3开关，顺序从左至右。这时通过观察表头来观察电桥的平衡状况。如表头已回另，可再加大灵敏度。应总保持能明显地观察到调节R3时，电桥的平衡状况。第四在某一点上用户会发现，调节R3已无法使表头再回到另位。这时可调节C4开关，顺序时从右至左，把表头指针调节到小位。第五用户在调节C4到某一点时又会发现无法将指针调回另位。这时又要去调节R3开关，调节的位数是上一次调节R3的后位，然后又会出现第四点时的问题，又必须要调节C4开关．．．就这样来回往复地调节R3和C4两组开关，直至灵敏度开关时，并指针回另（或指另仪指示到小）。表明电桥已达到平衡。 ⑥测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值。 高频、工频介电常数测试仪装置成套性1．BQS-37a型高压电桥 一台 2. 试验电极 一台3．使用说明书 一份4．电源线 一根5．测试线 两根

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪

聚合物绝缘材料介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司其他产品有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪

智能型绝缘电阻测试仪,高压绝缘摇表铁路专用绝缘电阻测试仪,地铁专用高压绝缘摇表,机车用高压绝缘摇表HB-DM10KV智能型绝缘电阻测试仪是青岛市平度华宝电气有限公司与青岛华豪电力仪器有限公司研制生产的新一代绝缘电阻测试装置，产品输出电压高、可选档位多、电流大、抗干扰能力强，可测试泄漏电流自动计算吸收比和极化指数，中英文界面产品已远销东南亚等国，是电力部门推荐产品。HB-DM10KV QQ11231349681、采用32位微控制器控制，中英文操作界面，操作方便。2、自动计算吸收比和极化指数，并自动储存15秒、1分钟、10分钟的每分钟数据便于分析。3、试验电压：0.5Kv,1KV,2.5KV,5KV,8KV,10KV输出短路电流大于5mA。4、测量范围：0.1M～400GΩ 电缆耐压测试可显示泄漏电流5、抗干扰能力强，能满足超高压变电站现场操作。6、测试完毕自动放电，并实时监控放电过程。7、内附可充电电池和充电器，充满电可连续使用6～12小时。8、是测量变压器、互感器、发电机、高压电动机、电力电容、电力电缆、避雷器等绝缘电阻的理想测试仪器关键词：智能型绝缘电阻测试仪,高压绝缘摇表,高压绝缘电阻表铁路专用绝缘电阻测试仪,地铁专用高压绝缘摇表,机车用高压绝缘摇表详情请登录：或或查询。HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

GDAT高频介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH?源频率覆盖范围AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。

Vlite-Hi系列激光器重频频率达10kHz单脉冲能量50mJ，可定制更高功率达50W，可定制更高激光器、导光臂、透镜组一体化设计设计，合束稳定针对PIV应用设计的超均匀光斑模式, 照明流场均匀Jitter 1ns, 测量精度高Vlite-Hi系列是一款高重频双脉冲激光器，国内外PIV市场占有率极高。具有工程化程度高、性能稳定性的特点，适用于PIV、LIBS等多种应用。主流PIV厂家如TSI、立方天地、丹迪、Lavision等PIV系统激光光源

ZJD-A型固体绝缘材料介电常数测试仪技术方案书一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：ZJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪ZJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪WZY系类万能材料制样机我司产品在全国各省市、地区均有用户、其中包括：质检单位、科研院所、大中院校、国家电网、电科院、材料学院、安监局、应急管理厅、航空航天、纳米研究、能源、电子半导体、涂料、造纸、石油化工、汽车研究、大型工厂、生产企业实验室等。产品范围包括：电学、力学、燃烧、制样、建材、橡胶塑料薄膜等。

DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀为直角型阀，其进出口之间的夹角为90℃，通常适用于储气筒与除尘喷吹管的安装连接，气流 ，能提供符合要求的清灰气脉冲。直角式脉冲电磁阀包括红帽电磁阀、燃烧控制电磁阀、气动控制阀、压力和温度开关等等。生产超过3000多种不同的标准电磁阀和20000多种非标准型号，在工商业界应用广泛。主要包括：控制空气、水、轻油、惰性气体、燃油、汽油、蒸汽、真空、超低温、高频率操作、液化气、除尘、腐蚀性介质等。DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀技术要求：1、DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀在承受频率为20Hz、全幅值为2mm、历时30min的振动后应能正常工作。2、DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀的外表无明显涂层剥落、划痕、毛刺等损伤。3、电磁脉冲阀应能承受0.8MPa的气源压力。4、工作气源压力为0.1MPa时，即可使电磁脉冲阀关闭。5、在正常使用条件下，DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀膜片累计使用寿命应大于80万次。6、在规定的环境条件下，电磁线圈对外壳的绝缘电阻应大于1MΩ。7、在室温为5度～35度，相对湿度不超过85%的条件下，电磁脉冲阀的电磁线圈对外壳能承受50Hz、250V的电压，历时1分钟无击穿现象。8、在产品标称气源压力状态下，电磁脉冲阀的工作电压为额定电压的85%时，开启响应时间应小于0.03s。DMF-Z-20直通式脉冲电磁阀的安装注意：一、在安装时所有的O型密封圈都要涂上合适的润滑剂。二、使用前注意检查元件是否在运输过程中损坏。三、安装前应先通气清理供气管道内杂物、安装时注意气体流动方向及接管是否正确。

绝缘材料介电常数介质损耗测试仪 是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。绝缘材料介电常数介质损耗测试仪本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。仪器的技术指标1．Q值测量范围：2～10232．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。4．电容直接测量范围：1～460pF 5．主电容调节范围： 30～500pF 6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 7．信号源频率覆盖范围10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有GDAT-C 频率范围10KHz-70MHz及200KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围：5～1000Q值自动锁定，无需人工搜索9．Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。11．产品配置：a.测试主机一台；b.电感一套；c.夹具一 套 性能特点：1. 平板电容器极片尺寸：φ25.4mmφ50mm极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。北广精仪公司简介北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率ZJD-BZJC-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz注意: 可定制100MHz电感. 其他相关产品：BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪BWN系类电子试验机

ES-415A等系列EFT电瞬变脉冲群发生器操作简单智能，内置标准库，用户直接调出即可按照标准测试◆ 产品特点1、样品容量支持AC：0~220V/20A，DC：0~110V/20A2、脉冲群输出干扰电压范围：0.1kV~5kV3、10.1寸Android系统电容触控显示屏4、内置自动耦合去耦合网络5、采用半导体开关，波形光滑6、支持自定义参数设置，保存7、设备性能稳定可靠8、自动储存试验报告9、内置标准库◆ 符合标准IEC61000-4-4、GB/T17626.4、EN61000-4-4◆ 技术参数模拟项目 电瞬变脉冲群抗扰度容量 ES-415A ES-415BAC：0~220V/20A DC：0~110V/20A AC：0~220V/32A DC：0~110V/32A脉冲电压输出范围 0.1kV~5kV脉冲电压分辨率 1V输出电压精度 ＜±5%输出电压极性 正极、负极、正负交替源内阻 50Ω频率范围 0.1~1000kHz频率分辨率 0.1KV标准频率 5kHz、100kHz频率分辨率 0.1kHz脉冲 5ns脉宽（50Ω） 50ns脉宽（1kΩ） 35~150ns单脉冲群脉冲个数 1~500个脉冲可调脉冲群周期 0.1~60s可调脉冲时间 1~99999次IEC标准 内置，直接调出即可按照标准要求测试触发方式 自动、手动、外部触发开发接口 支持二次开发交流耦合/去耦网络内置单相三线自动耦合去耦合网络直流耦合/去耦网络内置直流自动耦合去耦合网络操作系统 Android屏幕 1280×800LCD彩色液晶触摸显示，支持10点触控语言 中文、英文切换其他接口 HDMI、RS485、USB、BNC、以太网等二次开发 支持以太网、RS485程控使用环境 温度：10℃~40℃，湿度：30%~70%设备供电 AC：100~250V@50Hz/60Hz外形尺寸 4U/19"标准机箱重量 10kg◆ 应用领域新能源、低压电器、通讯通信、仪器仪表、家用电器、轨道交通、医疗器械、汽车电子、电力、灯具照明、工业设备等等