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单电测四探针测试仪

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  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试,探针是电测试的接触媒介,是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素: 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的,也就是说若是探针的质量是存在问题的,那么不仅会造成测试结果存在问题,还会造成其他的问题出现,因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作,要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况,不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同,我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍,希望可以帮到大家,本文出自:http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪(TR-518FE、TR-518FR、TR518FV)、ICT测试治具,功能(FCT)测试治具、DIP/SMT过炉治具(载具)、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具,提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 【资料】使用接地电阻测试仪的一些注意事项

    接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。  接地电阻测试仪注意事项如下几点:  1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置,应使接地棒处于零电位的状态。  2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行,如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候,以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。  3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护,为避免电源短路,必须串接限压元件。  4.用作差模保护的直流高压发生器件,其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。  5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。  6、接地线路要与被保护设备断开,以保证测量结果的准确性。  7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体,其中电流极应远离10m以上,电压极应远离50m以上,如上述金属体与接地网没有连接时,可缩短距离1/2~1/3。  8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。  9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时,可将电位探针电压极插入土壤中浅一些,当检流计灵敏度不够时,可沿探针注水使其湿润。  10、连接线应使用绝缘良好的导线,以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于:http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 【分享】了解荧光探针

    在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子,包括有机试剂或金属螯合物。   最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体,亦可用于微环境,如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大,荧光量子产率高;荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移;用于免疫分析时,与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。  也可用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针:钙黄绿素(Calcein),Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针:Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

  • 关于电子探针和EDS检测对制样的要求.

    本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.[quote]原文由 SeanWen 发表:引用:--------------------------------------------------------------------------------原文由 myhuar 发表:本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.--------------------------------------------------------------------------------觉得首先需要确定您要求的结果,是要测试成分呢,还是看分布等等,然后需要采用不用的方法来测试了。还有您说的脆性物质具体是什么呢?有机,无机,导电性等等……[/quote]主要的目的是看分布,就是样品中某种元素的分布情况,所谓的脆性是说如果用手稍微折样品的话,样品就会裂开,不知会不会影响测试.

  • 电子探针测试碳纤维的氧元素分布问题

    各位专家各位朋友大家好!请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题(纤维直径20um左右,由于不是成品导电性不好)我的测试方法,是将纤维(直径20um左右)埋在树脂里制成金相,打磨抛光后,露出纤维截面,喷碳后,用导电胶粘在电子探针样品台上,在显微镜里观察纤维,但纤维总是飘动,且看不清,原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上,没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢?这个问题也困扰了我很久,期待大家的回复。

  • 新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针的对比。请查阅~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09503.gif新针轮廓和形貌都很好。但是貌似还是有点点失真。估计是激光不稳定啊~下次扫出更好的再与大家分享~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/07/201207101217_376794_2435835_3.jpg

  • 寻电子探针测试常用标准

    我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

  • 世界一流实验室-离子探针

    由科技部、国土资源部和中科院合资共建的国家大型科学仪器中心——北京离子探针中心,自2001年成立以来,经过几年的努力,已跻身世界著名地质年代学实验室行列。 为肯定该中心主任刘敦一的科学贡献,《美国科学杂志》(AmericanJournalofSciences)不久前出版专辑,祝贺刘敦一七十华诞。9月11日,国土资源部召开北京离子探针中心发展战略研讨会。国土资源部副部长汪民在会上讲话,科技部副部长刘燕华发来贺电,对该中心取得的成就给予高度肯定。北京离子探针中心成立7年来,奉行“开放、共享、高效”的方针,承担科技部、国土资源部、国家自然科学基金等20多个项目。 其进口的高分辨率二次离子探针质谱仪(SHRIMPⅡ)每天4小时、每周7天不间断运行,成为世界上运行效率最高的质谱仪,国内外科学家利用该仪器,获得了丰富的年代学数据和高水平的研究成果。特别是在国际上首创了通过互联网远程控制来进行高分辨率锆石铀—铅年龄测定工作的方法,得到国际地学专家的广泛赞誉。

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【分享】【资料】DNA分子荧光探针

    [size=4][b]摘要:[/b]本文综述了各种荧光探针的结构特征荧光性质和与的作用方式, 主要涉及了6类化合物吖啶和菲啶类、菁类染料、荧光素和罗丹明类、噻嗪和恶嗪类染料、BOLIPY类染料以及其它类别的探针, 概述了DNA探针在生物分子分析方面的应用, 并展望了DNA荧光探针的发展趋势和应用前。[/size]

  • 【求助】酶介导的电生物探针技术请教

    请问这里有人做 enzyme-based amperometric biosensor 么?我是学生物出身的,对电化学不太了解我用的是pt的探针,然后coating酶,依靠检测酶化反映后生成的h2o2在高压+700mV 条件下氧化反映传出的电信号来测量反应物质的含量。我现在的问题就是探针本身的基础电信号不稳定,连接,断掉,再连接以后的基础电信号就不一样了。还有体外和体内的电信号不一样。我觉得应该跟连接有关,还怀疑是否跟探针针头有可能出现的气泡有关。。。希望能有电化学方面的高人指导

  • 【分享】鞋子防静电测试方法(电阻的测定)

    简介:  本仪器符合SATRA—TM240、EN-344、GB/T 4386、ANSIZ41标准,用于测试成品鞋或者鞋材的电阻,以了解试样对静电的分散效果。  档位:100V/50V/500V可选;  量程:1×103~2×1010欧姆  原理:  在干燥的环境中调节后测量导电鞋的电阻  在干燥的环境中调节后测量防静电鞋的电阻  装置:  测试仪器(XK-3062防静电测试仪)  当施加(100±2)V直流电压时,能测量电阻到±2.5%的精度  内电极:由总质量4kg、直径5mm的不锈钢珠组成。钢珠应符合GB/T308要求。应采取措施防止或除去钢珠和铜板的氧化,因为氧化可能影响它们的导电性。  外电极:由一块铜接触板组成,使用前用已乙醇清洗  测量导电涂层电阻的装置  由三个导电金属探针组成,探针半径为(3±0.2)mm,安装在一块底板上。两个探针相距(45±2)mm并由一根金属带连接。第三个探针与另两个探针连线的中点相距(180±5)mm且与它们绝缘  试样调节的制备  制备  如果鞋装有活动垫,测试时应保留。用乙醇清洗鞋底表面以除去所有脱模剂的痕迹,用蒸馏水冲洗并在(23±2)℃环境中干燥。鞋底表面不应摩擦或磨损,也不应使用对鞋底有伤害或使鞋底膨胀的有机材料清洗  湿调节的特殊制备  在鞋底上涂一层面积为200mm×50mm的导电涂层,涂层面包括后跟和鞋前掌。干燥后测量涂层的电阻值小于1×103欧  将鞋内装满干净钢珠并放在XK-3062防静电测试仪的金属探针上,使外底前掌区域由两个相距45mm的探针支撑,后跟区域由第三个探针支撑,用测试仪器测量前段探针和第三个探针之间的电阻值  调节  根据被测试鞋的功能,按下列条件之一对制备好的试样进行调节  干燥条件,(20±2)℃、相对湿度(30+5)%。(放置7d)  潮湿条件,(20±2)℃、相对湿度(85+5)%。(放置7d)  如要测试不能在调节的环境中进行,则应在试样移出环境后5min内完成测试  步骤  用总质量4kg的干净钢珠装满试样,如有必要,可用一块绝缘材料增加鞋帮高度。将装满钢珠的样品放在铜板上,在铜板和钢珠之间施加(100±2)V直流测试电压,时间1min并计算电阻值  鞋底的能量不应超过3W。如果考虑3W的限制而降低电压,则应在测试报告上记录实际电压值

  • 【原创】半导体探针台

    半导体测试手动探针台是专门为教学及科研机构量身定制的,具有良好的性能价格比,可测量pA级微小电流,配合测量仪器可完成标准MOS准静态C-V和高频(1MHz)C-V等测量要求。操作简便,性能稳定可靠,屏蔽效果好。客户名录:复旦大学、北京大学、清华大学、北京师范大学、北京化工大学、中科院化学所、大连理工大学、 济南大学、哈尔滨工业大学、南京大学、浙江大学、中科院长春光机所、天津理工大学、北京宇极芯片、四川大学、中科院苏州纳米所等。电话:62146659 13801327034刘熠

  • 超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗

    超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗

    超低温实验室探针台不适用液氮罐能用吗?解决方案揭秘在超低温实验室中,液氮罐被广泛应用于维持低温环境,以确保实验的准确性和稳定性。然而,一些超低温实验室探针台由于空间限制或其他原因可能无法使用液氮罐。这种情况下,是否存在其他替代方案来维持超低温条件呢?本文将为您揭示超低温实验室探针台不适用液氮罐时的解决方案。[b]挑战:无法使用传统[url=http://www.yedanguan365.com/]液氮罐[/url][/b]超低温实验要求超低温实验通常需要在接近绝对零度的温度下进行,以研究材料的特殊性质。探针台作为实验平台之一,在如此低的温度下需要保持极高的稳定性和精确度。传统的液氮罐可以提供所需的超低温环境,但是由于探针台尺寸较小或者其他空间限制,使用液氮罐可能并不可行。[b]安全和便利性考量[/b]另外,液氮的存储和操作也带来了一些安全和便利性方面的考量。液氮具有极低的沸点和对人体组织的潜在危险,需要专门的设备和操作人员进行管理,这增加了实验室管理的复杂性和成本。[img=液氮罐,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312180934451229_7868_3312634_3.jpg!w690x517.jpg[/img][img=液氮罐,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312180934451229_7868_3312634_3.jpg!w690x517.jpg[/img]解决方案:新型超低温技术的应用[b]利用制冷技术[/b]针对无法使用液氮罐的情况,新型的超低温技术成为了解决方案之一。利用制冷技术,比如制冷剂循环系统或Peltier效应等,可以在较小的空间内提供所需的超低温环境。[b]纳米材料的应用[/b]另一个解决方案是利用纳米材料的特性来实现超低温环境。一些纳米材料在室温下就能够显示出类似于超导体的特性,可以在极低温度下保持其特殊性质。通过设计和应用这些纳米材料,可以在不使用液氮的情况下实现超低温实验的要求。[url=http://www.mvecryoge.com/]液氮容器[/url][b]热交换技术[/b]此外,热交换技术也可以被应用于超低温实验中。通过合理设计的热交换系统,可以将周围环境的热量排除并保持探针台的超低温状态。这种技术可以在不需要大型液氮罐的情况下,提供足够的制冷效果。[url=http://www.mvecryoge.com/]金凤液氮罐[/url]总的来说,即使探针台无法使用传统的[url=http://www.yedanguan1688.com/]液氮罐[/url],在超低温实验领域仍然有多种替代方案可供选择。新型超低温技术的应用,纳米材料的特性以及热交换技术的应用为解决这一挑战提供了多种可能性。随着科学技术的不断发展,相信会有更多创新的解决方案出现,为超低温实验提供更多可能性。

  • 谁家可以测原子力显微镜探针力常数

    最近做完一组生物力学数据,因为用了好几根针测的,还有不同牌子的,现在各个数据间要对比,因此需要探针的具体力常数,而不是上面标好的,我用的本原spm5500,这个机器貌似不带这功能,谁家可以测,求帮助

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