大功率晶体管测试仪

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大功率晶体管测试仪相关的厂商

  • 深圳市迪福伦斯科技有限公司通过多年的努力,已成为国内有一定影响力的仪器仪表销售公司,多年来,公司凭借良好的信誉和有力技术支持,在激烈的市场竞争中不断的发展和完善,成为众多企业在生产、研发、品质检测等工作中的得力合作伙伴,让客户能够用最少的投入获得最大的收益。所售产品包括示波器、交直流电源、功率分析仪、数据采集器、电子负载、晶体管图示仪、安规测试仪器、 电能质量分析仪、数字源表、红外热成像仪、电源自动化测试系统等等。不一样的管理理念让我们主动深入了解电子制造、新能源、汽车电子、 半导体、云计算、无线通讯、科研院所等行业的测试要求, 而健全的产品线和技术能力使得我们能有机会帮助客户选择最适合的解决方案。特别是通过与Chroma公司的紧密合作,进一步拓展了公司的业务空间,使得我们能为更复杂要求的客户提供更完善的服务。
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  • 武汉俊辉达科技有限公司位于武汉市武昌区南湖之滨,是一家致力于电化学仪器销售的专业供应商。公司产品主要应用于电分析、腐蚀、能源、纳米材料及传感器等领域。产品用户已经遍布国内各大高等院校及科研机构,优良的产品性能和完善的售后服务深受广大用户的好评。 我公司是上海辰华仪器有限公司的授权代理商,代理的CHI系列产品主要有: CHI600E系列电化学分析仪/工作站; CHI700D系列双恒电位仪; CHI800C系列电化学分析仪; CHI400B系列电化学石英晶体微天平; CHI1000B系列多通道恒电位仪; CHI1100B系列大功率恒电位/恒电流仪; CHI1200B掌上恒电位仪/双恒电位仪; CHI900C/920C系列扫描电化学显微镜; 另外,我公司还代理销售:pH/mV/ORP计、电导率仪、多参数水质测量仪、自动电位滴定仪、电池测试仪等电化学仪器。 公司秉承“客户至上、产品一流、服务周到”的企业方针,竭诚为广大电化学科研工作者提供一站式服务。愿与广大电化学科研工作者一起,为我国电化学事业的发展做出应有的贡献。
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  • 北京博宇讯铭科技有限公司电话:01081621513 18600207171地址:北京市大兴区欣雅街15号院5号楼5层503 北京博宇讯铭科技有限公司(博宇科技)位于北京市大兴区 兴创国际中心A座;我们致力于为电子产品的教学、研发、生产、出厂检测,提供可靠的电力测量仪器 万用表 功率计 功率分析仪 电能质量分析仪元器件材料测试 LCR 电桥 阻抗分析仪 电池测试仪 安规测试仪直流电源 大功率/ATE电源 单双路电源 双向电源 特殊功能电源 电源分析仪交流电源 交流电源 交流电网模拟器电子负载 直流电子负载 交流电子负载焊锡工具 单功能焊锡工具 多功能焊锡工具测试系统 电池类测试系统 无线充放电验证系统
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大功率晶体管测试仪相关的仪器

  • 产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态测试(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)动态测试(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件FBSOA1000Forward Bias Safe Operating Area 1000A晶体管正向偏置安全工作区测试系统Transistor Forward Bias Safe Operating Area Test System&bull 用于 Si , SiC , GaN , 材料的器件级和模块级的IGBT , MOS-FET的正向偏置安全工作区测试&bull FBSOA和对应的IV曲线&bull ICE电流0~1000A&bull VCE电压0~100V。&bull VGE驱动电压0~30V&bull vF热敏电压≤5V&bull Pmax最大功率100KW.&bull 脉宽10us~10ms,&bull 柜式结构,气动安全(支持手动式)工装柜,计算机全自动程控一、关于安全工作区晶体管的安全工作区,英文全称safe operating area,简称SOA。顾名思义,也就是说只要使用的条件(电压、电流、结温等)不超出SOA圈定的边界,晶体管必然能够按照电路设计正常运行,反之则死。所以,FBSOA是指全控型晶体管的门极电压VGE处于正向偏置(VGEVGEth)时,沟道处于导通状态时的安全工作区。FBSOA是全控型晶体管各种工作状态的集合,必须集合晶体管的其它特性去理解安全工作区的含义。失效器件送到原厂做FA分析,看到的字眼通常包含over voltage,over current,short circuit,EOS等,但是,其失效的深层原因与整机的应用环境和系统设计是密切相关的。整机产品里面包含的元器件数量少则几十,多则上万甚至更多,应用环境千奇百怪,元器件的失效就不可避免,作为工程师,能做的就是根据整机性能要求充分评估、测试元器件的各项关键参数,出现失效后,复盘设计,复现失效,找出根因,避免失效再次复现。二、FBSOA参数定义右图是简化的FBSOA曲线,本质上讲,FBSOA曲线划定了 四条电压-电流关系的边界线,分别由AB段,BC段,CD段,DE段构成。AB段规定了处于饱和导通状态下IGBT的最大工作电流,这个电流与IGBT的门极驱动电压幅值密切相关,从图4可以看出,IGBT的门极驱动电压幅值越高,饱和导通状态下的最大工作电流越大。BC段规定了IGBT的最大可重复电流ICpuls,这个电流是4倍的标称电流;FBSOA简化曲线CD段是最复杂的,需要结合IGBT的瞬态热阻来看。大家知道,IGBT有两个工作区,线性区和饱和区,跨越过AB段之后,其实IGBT就处于线性区了,也就是退出饱和导通区了,IGBT的损耗急剧上升,所以,这条边界体现了IGBT能承受的最大耗散功率Ptot。同时可以看出,集射极CE两端电压越高,IGBT所能承受的电流脉冲幅值越低,另外,电流脉冲宽度越大,IGBT所能承受的电流幅值也越低。从图可以看出,蓝色CD段各种脉冲宽度下的SOA,均是单脉冲安全工作区,非连续工作情况下的工作区,所以,必须参考上一页的右下角的IGBT瞬态热阻曲线,由公式(1)计算出在指定VCE条件下允许的电流IC的幅值和脉宽。DE段最容易理解,它规定了IGBT的集射极CE击穿电压,需要注意的是,IGBT的CE击穿电压是和结温正相关的,结温越低,CE击穿电压也越低。三、规格及环境要求&bull  设备尺寸∶800*800*1800mm(2组)∶&bull  设备质量∶800kg∶&bull  海拔高度∶海拔不超过4000m;  &bull 环境要求∶-20℃~60℃(储存)、5℃~45℃(工作);&bull  相对湿度∶20%RH~75%RH(无凝露,湿球温度计温度45℃以下);&bull  大气压力∶86Kpa~106Kpa;&bull  防护条件∶无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;&bull  电网要求AC220V、±10%、50Hz±1Hz &bull  压缩空气∶根据配置;&bull  工作时间∶连续。四、产品特点&bull 测试规范:国际标准IEC60747-9、IEC60747-2、国家标准GB/T29332、GB/T4023&bull 测试工装有“手动式”“气动式”“电子开关式”供用户选择,针对不同的封装外观,通过更换“DUT适配器”即可&bull 高温测试,支持室温~200℃,±1℃@0.5℃&bull 计算机程控,测试数据可存储为 Excel 文件以及生成PDF格式,且内置多种通用文档模板供用户选择,还可自定义&bull 安全稳定(PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁)设备具有安全工作保护功能&bull 采用品牌工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点&bull 智能化,通过主控计算机进行操控及数据编辑,测试结果自动保存及上传指定局域网,支持MES系统和扫码枪连接&bull 安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全&bull 电压源电流源模块化设计,根据用户需求等级,自选搭配5. 部分配件清单&bull 系统主机:数量/1 套,品牌/天光测控,型号/SOA-1000,规格/?; &bull 高压电源:数量/1 套,品牌/顾伟,型号/PSW160-14.4,规格/电流0-14.4A 电压0-160V 功率720W 单输出多量程;&bull 驱动电源: 数量/1 套,品牌/顾伟,型号/GPP-2323,规格/双通道输出 电压32V 电流3A;&bull 工 控 机:数量/1 套,品牌/研华,型号/610L,规格/;CPU:酷睿i7.操作系统windows10&bull 机 柜:数量/1 套,品牌/天光测控,型号/SOA-A,规格/高≥2000mm 宽≤800mm 深≤800mm&bull 采集卡: 数量/1 套,品牌/阿尔泰,型号/USB8504,规格/ADC分辨率:14位 输入通道:4通道 采样率:40MS\s 存储深度2GB &bull 多功能数据卡: 数量/1 套,品牌/阿尔泰,型号/USB3132A,规格/操作系统win:XP.7.8.10 AI.AO输入分辨率:16位250K &bull 电压变送器: 数量/1 套,品牌/阿尔泰,型号/S1205,规格/输入-2~+2 输出-10V~+10V?&bull 霍尔电流传感器: 数量/1 套,品牌/深圳知用,型号/CTA1000,规格/连续直流电流1000A 有效电流707 传输比:1:1000 带宽:500KHZ&bull 探头: 数量/1 套,品牌/深圳知用,型号/P6251,规格/带宽:250MHZ 衰减比10:1 上升时间:1.4ns?&bull 柔性电流探头:品牌/深圳知用,型号/CP9120L,规格/灵敏度5mv/A 电流1.2KA低频带宽1dB 高频带宽10dB&bull 集成配套包、鼠标、电源线六、系统架构原理图七、局部示意图驱动模块气动工装示意图
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  • BW-3010B晶体管光耦参数测试仪(双功能版)品牌: 博微电通名称:晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)型号: BW-3010B用途: BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试,BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。产品电气参数:产品信息产品型号:BW-3022A产品名称:晶体管光耦参数测试仪;物理规格主机尺寸:深 305*宽 280*高 120(mm)主机重量:<4.5Kg主机颜色:白色系电气环境主机功耗:<75W环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);相对湿度:≯85%;大气压力:86Kpa~106Kpa;防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;工作时间:连续;服务领域: 应用场景: ▶ 选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对) ▶ 检验筛选(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率) 产品特点: ▶ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单 ▶ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数. ▶ 全部可编程的DUT恒流源和电压源. ▶ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路. ▶ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V; ▶ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题; ▶ 软件自校准功能; ▶ 自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试; ▶ DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示; ▶ 两种工作模式:手动、自动测试模式。 BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系型号类型P1 T1P2 T2P3T3P4T4光藕PC817AA测试端KK测试端EE测试端CC测试端 BW-3010B测试技术指标:1、光电传感器指标:输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向电流(Ir)测试范围分辨率精度测试条件0-200UA0.2UA2%+2RDVR:0-20V集电极电流(Ic)测试范围分辨率精度测试条件0-40mA0.2MA1%+2RDVCE:0-20V IF:0-40MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC:0-40mAIF:0-40mA输出漏电流(Iceo)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000mA2UA2%+2RDVR:0-20V2、光电耦合器:耐压(VCEO)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1400V1V2%+2RD0-2mA输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向漏电流(ICEO)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDBVCE=25V反向漏电流(IR)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDVR=0-20V电流传输比(CTR)测试范围分辨率精度测试条件0-99991%1% +5RDBVCE:0-20VIF:0-100MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC:0-1.000AIF:0-1.000A可分档位总数:10档 BW-3010B测试定义与规范:AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
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  • DBC-226高精度大功率晶闸管综合测试仪系统概述晶闸管综合参数测试系统,是大功率晶闸管测试的重要检测设备,该设备具有如下特点:1. 该测试系统是一套综合的测试系统,综合测试参数多,技术难度大。2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备,对设备的电气性能要求高。3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计难度大。4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。5. 该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。测试参数;1) 门极触发参数测试单元2) 维持电流测试单元3) 擎住电流测试单元4) 阻断参数测试单元5) 通态压降参数测试单元6) 电压上升率参数测试单元7) 关断时间参数测试单元8) 恢复电荷参数测试单元技术条件环境温度:15~40℃相对湿度:下图给出了该测试台湿度与额定电压的关系,请按照以下条件使用。(注:存放湿度不大于 80%。)大气压力: 86Kpa~ 106Kpa电网电压: AC220V±10%无严重谐波电网频率: 50Hz±1Hz测试范围1. 门极参数测试:VGT、IGT2. 维持电流测试:IH3. 擎住电流测试:IL4. 阻断参数测试:VD、VR 、ID、IR5. 压降参数测试:VTM、ITM 、Vr、Ir、Vf、If、6. 电压上升率参数测试:dv/dt7. 关断时间参数测试:Tq8.恢复电荷参数测试:Qrr、Irr、Trr
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大功率晶体管测试仪相关的资讯

  • 翟婉明:高铁牵引变流器中的大功率半导体芯片IGBT完全依赖进口
    5月30日,在中国科学院第二十次院士大会期间,中科院学部第七届学术年会在北京举行全体院士学术报告会,紧密围绕国际科技热点,丁仲礼、李儒新、包信和、高福、焦念志、黄如、翟婉明等七位中科院院士分别作学术报告。翟婉明院士是我国轨道交通工程专家,2011年当选中国科学院院士。现任西南交通大学首席教授,中国力学学会第十届副理事长,中国振动工程学会副理事长,四川省科协副主席。2021年当选美国国家工程院外籍院士。翟婉明在会上做了题为《中国高铁发展面临的科技挑战与对策》的报告。报告中,翟院士介绍了我国高铁面临的挑战,指出目前我国高速列车个别关键部件依赖进口,其中牵引变流器中的大功率半导体芯片IGBT(绝缘栅双极型晶体管)完全依赖进口,长期被国外垄断。据了解,高压IGBT(绝缘栅双极晶体管)是牵引变流器的"心脏",是交流传动技术的"核芯",涉及先进功率半导体器件IGBT的设计、工艺、测试与应用等多种技术。轨道牵引变流器具有特殊的牵引系统负荷特性,车载器件的运行环境恶劣且复杂多变,对牵引级IGBT的静动态特性与可靠性提出了很高的要求,器件需能承受高压大电流、具有优化的动态特性、更大的安全工作区及更高的工作结温。牵引级IGBT代表了该类器件的最高技术水平,其技术与产品长期被国外少数几家公司垄断。
  • 新品来袭 | 优利德 UT673PV光伏组件最大功率测试仪
    UT673PV专为光伏组件的功率和性能测试而设计,拥有光伏最大功率跟踪点测试能力,能同时显示多个参数,包括光伏组件的最大功率(Pmax)、峰值功率电压(Vmp)、峰值功率电流(Imp)、开路电压(Voc)及短路电流(Isc)等,从而帮助用户快速判断光伏组件的故障情况。此外,它还具有800W最大功率测试能力,可满足行业头部企业对于大功率双玻组件的测试需求。除了强大的功能,UT673PV还有许多令人惊喜的创新设计。其采用独特的MC4测试线连接方式,使得测量过程简洁方便。另一个特别之处在于它无需使用电池供电,而是通过光伏面板直接供电。这一设计不仅提高了测量的准确性,还大大降低了维护成本和对环境的影响。与此同时,产品还通过了CE(EMC、LVD)、cETLuS、RoHS认证,确保了UT673PV在安全性和可靠性方面的优异表现,让用户在使用过程中更加放心……以上种种功能与特点的加持,使其广泛应用于光伏面板生产、销售、验收、安装及维护等检测。产品特点√ 光伏最大功率跟踪点测试:最大功率(Pmax)、峰值功率电压(Vmp)、峰值功率电流(Imp)、开路电压(Voc)、短路电流(Isc)同时显示,快速判断光伏组件故障情况√ 800W最大功率测试,满足行业头部企业大功率双玻组件测试√ 体积小巧,手掌大小,方便携带√ MC4 测试线连接,测量方便可靠√ 无需电池供电,光伏面板直接供电√ CE(EMC、LVD),cETLus,roHS认证,测量安全可靠√ 产品适用于光伏面板生产、销售、验收、安装、维护检测技术指标
  • STEM-EDS分析化合物半导体晶体管元素分布
    自硅基半导体作为一个规模庞大的产业发展起来后,集成电路单位面积上晶体管的数量增加趋势始终遵循摩尔定律[1]。目前,硅基半导体中的关键尺寸(线宽或特征尺寸)已经降低到到10nm以下[2]。相比于硅基半导体,化合物半导体如SiC和GaN基半导体可以满足更苛刻的工作条件(高击穿电场、高热导率、高电子迁移率、高工作温度等),具有更大的输出功率和更好的频率特性,市场需求方兴未艾。化合物半导体的应用场景面向射频、高电压大功率、光电子等领域,不追求硅基半导体级别的先进制程工艺。如GaN制程的基本线宽在0.25~0.50µ m ,生产线以4英寸为主[3]。图1 电子束和样品的相互作用区域及逸出的信号半导体器件结构的微细化演进对电子显微镜视野下的微区元素分析带来了很大的挑战。在电子显微镜中,电子束照射在观察区域上,形成水滴形的相互作用区域,如图1 所示。从该区域中会逸出多种信号,如观察表面形貌的二次电子(SE)、区分成分衬度的背散射电子(BSE)和分析成分的X射线。电子显微镜会配置不同的探测器来接收这些信号进行成像。能谱仪(EDS, Energγ Dispersive Spectrometer)以X射线为信号源分析微区成分分布。图1也显示,这几种信号源的深度不同,SE最浅,BSE次之,X射线最深。不同信号源的逸出深度可以解释同样条件下SE、BSE和EDS成像的空间分辨率差异。

大功率晶体管测试仪相关的方案

大功率晶体管测试仪相关的资料

大功率晶体管测试仪相关的论坛

  • 可用石墨烯实现大功率半导体设备大幅降温

    中国科技网讯 据物理学家组织网5月9日(北京时间)报道,美国加州大学河滨分校伯恩斯工程学院的研究人员开发出一种新技术,可借助石墨烯实现大功率半导体设备的大幅降温,解决在交通信号灯和电动汽车中使用的半导体材料散热问题。相关研究报告5月8日发表在《自然·通讯》杂志上。 自上世纪90年代以来,半导体材料氮化镓(GaN)就被用于强光的制造,并因为高效和可耐高电压工作而被用于无线设备中。然而就像所有大功率操作设备一样,氮化镓晶体管会散发出相当多的热量,需要对其快速而有效的移除。科学家已尝试过倒焊芯片和复合基底等多种热量管理途径,但效果都不理想。如何为这些设备降温仍困扰着学界,氮化镓电子工业的市场份额和应用范围也因为难以散热而受到限制。 基于纳米设备实验室开发的新技术,将使这一情况得到改善。研究小组由电子工程学教授亚历山大·巴兰金领导,他们在进行微拉曼光谱温度测量时发现,通过引入由多层石墨烯制成的交替散热通道,能使在高功率运转情况下的氮化镓晶体管中的热点降低20℃,并将相关设备的寿命延长10倍。 巴兰金表示,这代表了热量管理领域的变革性进展。与金属或半导体薄膜不同,多层石墨烯即使在自身厚度仅为数纳米时,也能保持良好的热力性质,这使它们成为了制造侧面导热片和连接线的极佳备选。研究人员在氮化镓晶体管上设计并构建了石墨烯“被子”,使其能从热点处移除和传导热量。计算机模拟则显示,采用热阻更强的基底能使石墨烯“被子”更好地在氮化镓设备上发挥作用。(记者 张巍巍) 总编辑圈点 大功率LED光源寿命是高压钠灯的4倍以上,耗电仅为白炽灯的十分之一,因此正越来越多地用在景观照明、交通信号灯等领域,但是散热问题一直阻碍着它的迅速普及。一般情况下,LED光源工作时所产生的热量占其消耗总功率的70%左右,热量若无法导出,将会影响产品生命周期、发光效率。热点降低20℃,寿命延长10倍。文中提到的降温新方法着实振奋人心,可以想见,一旦技术成熟并投入使用,城市的夜晚将更加绚烂夺目。 《科技日报》(2012-05-10 一版)

  • CGH40045FE射频功率晶体管CREE 现货供应

    CGH40045FE射频功率晶体管是[url=https://www.leadwaytk.com/brand/35.html]CREE[/url]公司提供的一款性能优越的氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)。它操作在28伏的电压轨道上,为各种射频和微波应用提供通用宽带解决方案。该晶体管具有高效率、高增益和宽带性能,适用于线性和压缩放大器电路。[align=center][img=CGH40045FE射频功率晶体管CREE]https://www.leadwaytk.com/public/ueditor/upload/image/20240521/1716252054353284.png[/img][/align][b]  以下是CGH40045FE射频功率晶体管的一些特征:[/b]  1.工作频率高达4 GHz  2.在2.0 GHz时具有16 dB的小信号增益,在4.0 GHz时为12 dB  3.PSAT(饱和输出功率)为55 W  4.工作电压28 V[b]  应用:[/b]  2路私人无线电:适用于私人通信设备中的发射和接收模块。  宽带放大器:用于需要高频宽带放大器的应用,如电信基础设施等。  蜂窝基础设施:可用于蜂窝网络基站和设备的射频传输模块。  测试仪器:适用于各种测试仪器的射频信号放大模块。  A类,AB类,线性放大器:适用于各种调制方式(如OFDM, W-CDMA, EDGE, CDMA)下的线性和压缩放大器设计。[b]产品选型:[/b][table=90%][tr][td=1,1,75][b]Order Number[/b][/td][td=1,1,171][b]Description[/b][/td][td=1,1,92][b]Init of Measure[/b][/td][td=1,1,152][b]Image[/b][/td][/tr][tr][td=1,1,75]CGH40045F[/td][td=1,1,171]GaN HEMT[/td][td=1,1,92]Each[/td][td=1,1,152][img=image.png]https://www.leadwaytk.com/public/ueditor/upload/image/20240521/1716252188858765.png[/img][/td][/tr][tr][td=1,1,75]CGH40045P[/td][td=1,1,171]GaN HEMT[/td][td=1,1,92]Each[/td][td=1,1,152][img=image.png]https://www.leadwaytk.com/public/ueditor/upload/image/20240521/1716252198984376.png[/img][/td][/tr][tr][td=1,1,75]CGH40045F-AMP[/td][td=1,1,171]Test board with GaN HEMT installed[/td][td=1,1,92]Each[/td][td=1,1,152][img=image.png]https://www.leadwaytk.com/public/ueditor/upload/image/20240521/1716252207570347.png[/img][/td][/tr][tr][td=1,1,75]CGH40045P-AMP[/td][td=1,1,171]Test board with GaN HEMT installed[/td][td=1,1,92]Each[/td][td=1,1,152] [/td][/tr][/table][font=微软雅黑][/font][url=https://www.leadwaytk.com/]深圳市立维创展科技[/url][font=宋体][size=14px]是[/size][/font][font=Calibri][size=14px][url=https://www.leadwaytk.com/brand/35.html]CREE[/url][/size][/font][font=宋体][size=14px]的经销商,拥有[/size][/font][font=Calibri][size=14px]CREE[/size][/font][font=宋体][size=14px]微波器件优势供货渠道,并长期库存现货,以备中国市场需求。[/size][/font]

  • BLP05H6700XR功率晶体管Ampleon

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