时间分辨荧光分析仪

请教：请问PE的LS可以做时间分辨荧光免疫分析吗？与专用的时间分辨荧光光谱仪有什么区别吗？

随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近，国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案；X荧光分析技术（XRF）作为一种方便有效的快速分析手段，正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上，应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型；一般情况下，波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多；但应用于ROHS指令的场合时，波长色散和能量色散则各有优缺点，测量对象各有侧重；以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明： 波长色散 能量色散 （Si-Pin）型 （SDD）型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高，约15eV较低，约160eV较低，约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命＞10年＞5年＞5年仪器价格46万（国产）25万左右（国产）60万左右（进口）50万（国产）1、测量精度：尽管目前各家能量色散仪器（均为Si-Pin类型）生产商和销售商都给出了很高的技术指标，但在实际应用中（特别在被测样品不进行处理的情况下），真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间（测量塑料中有害元素时，准确度会好一些；对不规则样品，则精度会更差）；同时，对于同类型的仪器，进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别（基本配置），但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级，基本在20~50ppm左右。2、测量时间：由于波长色散配备较大功率的X光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时间，便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求：由于技术特点的差异，波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于：可以对样品不作处理直接进行测量，对样品也没有任何损坏，直接用于生产的过程控制中；但需要强调指出的是：从荧光理论上讲，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围：由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点，两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同；波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度，但同时需要对被测量样品进行简单处理，更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制；能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差，但具有快速、直接测量各种形状样品的优点，因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率：能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标，分辨率数值越小，分辨率越高，仪器性能越好。6、荧光强度：对于X荧光分析仪器来说，各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系；荧光强度越高，则统计误差越小，测量的准确度越高，仪器性能越好。7、使用寿命：波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上；能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年，影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]

荧光中时间分辨是什么东西?原理是什么?和时间扫描一个意思吗?瓦里昂的机子可以做时间分辨吗?谢谢!

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

请问时间分辨荧光显微镜哪里能找到？谢谢！

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=102245]基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测[/url]

我们在做热分析是，不同的热分析有不同的温度分辨率指标， 我也留心了许多资料和许多老师探讨了此问题，且实践中也遇到类似问题。首先仪器的灵敏度是极限指标，所以温度的灵敏度或分辨率在试验中难以考证或验证的， 所以各个TG厂家的指标都不一样，其中不乏造假的。1， 对于TG ， 我认为温度控制值在3度范围内能够接受，即理论设置值和仪器达到的值差异不高于3 度，同样做标准草酸钙， 因为取样的量不同， 分解温度有时差异50-100度，所以温度控制和温度的重复性控制在5度范围内就可以。我们分别在欧洲和美国的热分析比较结果， 标样分解温度差异比较大，所以TG的温度控制值不需要0.1 或0.01 的温控，而且实际仪器也无法控制0.1度，除非你的升温速率设置0.1 ， 但效果也达不到！ -个人观点！！！2，对于DSC， 因为是热量变化的研究，尤其热流型的DSC， 其实就是温度转化为热量数据，除了PE公司（和精工，他们是OEM关系）的功率补偿型， 鄙视其他任何厂家说自己是功率补偿型！！！ 所以我个人认为0.2-0.3 的温度控制精度是可以接受的，因为标样（高纯度金属）的熔点也并非是点，而是熔程， 精确在0.01 温度也是无法验证的， 尤其热分析是动态升温， 所以和量热仪的测温是不一样的。3， 对于DIL热膨胀， 我认为控温达到0.1 是需要的，样品在温度变化1-2度时长度会发生变化，而且这个变化是可以被高质量的位移传感器检测到的， 但是0.01 的温控是比较困难的， 我做了升温速度是5K/min 的DIL，在初始RT（室温）-50度时，控温精度（理论值和仪器实际值）有差异，但在高温时，基本控制在0.1 度的误差内。而且标样的准确值和试验值相当吻合。 望大家讨论和用自己的仪器来试验！

[color=#00008B][size=4][font=新宋体]本人正在编写一份关于X荧光分析仪的培训材料，愿意一边写，一边拿出来与大家分享。也许时间会拖得比较长，因为手头的事情确实比较多，还望各位海涵。各位有什么问题，可以随时提出来进行讨论。由于本人水平有限，本帖中技术观点难免存在谬误和片面，衷心希望各位斧正，并表示衷心感谢。[/font][/size][/color]

[align=center]基于高分辨质谱技术的中毒毒物快速分析与临床实践[/align]毒物是一个比较宽泛的概念，任何以较低的剂量就可以致人畜死亡的物质均可以认为是毒物，而毒物的概念也具有相对性，对于一个物质是有毒还是无毒的判定有一系列的先决条件，不存在任何条件下都无毒或者绝对有毒的物质。其中农药占比9.46%，药物占比21.07%， 化学物如乙醇、CO占比62.85%。在今天，毒物致死是继恶性肿瘤、脑血管疾病、心脏病和呼吸系统疾病后的第五大死亡原因，其中毒机制主要有：干扰酶的活性、破坏细胞膜的功能、阻碍氧的吸收、输送和利用、损害免疫功能等。毒物致死问题亟待解决，毒物的快速分析检测和临床实践刻不容缓。在我国，中毒患者的诊断现状缺乏快速有效准确的检测手段。对急性中毒患者误诊、治疗耽搁的不合理选择和使用等会对患者造成不同程度的伤害，且检测无法覆盖多种目标化合物，同时难以定量检测。因此发生了诸多事件，如清华大学朱令事件、扬州大学秋水仙碱投毒事件等。因此，中毒物质检测技术亟待更新。准确及时的毒物检测与诊断直接影响临床治疗方案的选择，在临床抢救治疗过程中发挥着至关重要的作用。毒物检测方法的发展历程：自薄层层析法、化学法，发展至今现代仪器分析法，一道道技术难题被攻克，鉴定毒物越来越准确。毒物分析仍面临一系列挑战，毒物及其代谢产物在体内浓度极低，常规检测手段难以达到检测所需的灵敏度，存在检出假阳性的可能；代谢产物与原型毒物结构相似，造成对检测的干扰；生物基质复杂，可能会有干扰；毒物种类繁多，理化性质差别大，且中毒时限紧迫，检测需要快速高效。近年来，色谱质谱技术在毒物分析中逐渐应用起来，色谱法凭借其分离效率高、选择性好和灵敏度较高的优点，已广泛应用于中毒物质检测，但中毒患者毒物复杂，仅靠被测物质的保留时间和光谱吸收或电化学检测无法准确定性定量，且耗时长，鉴定效率低。质谱联用法弥补了色谱法的缺点，凭借其灵敏度超高（可达飞克）对极微量物质进行定量分析，质谱法特异性高，其SRM和MRM模式选择性高，且高通量，检测范围覆盖绝大多数化合物，但三重四级杆对未知毒物的定性能力相对较差。而高分辨质谱可以弥补上述的缺点，其优势体现在超高分辨率和准确度，可在复杂基质样本中保证目标质荷比的准确测定，进而排除假阳性结果；其优势还体现在强大的同时定性定量能力，快速实时正负切换，同时获得一级高分辨数据和完整的二级碎片离子信息。中毒毒物质谱分析和处理方案主要流程：样品收集；样品前处理；高分辨率和高灵敏度的高分辨质谱同时定性定量分析；针对未知的中毒毒物可进行毒物筛查与鉴定；针对已知的中毒药物，可进一步确定中毒药物体液浓度，并设定安全范围，在安全范围内的病人对症抢救。在超安全范围的病人对因抢救。有两个案例与大家分享，案例一：患者孙某，51岁男，诊断其为肝硬化失代偿期，肾病，银屑病，经过针对性治疗后，症状得到有效控制，但间断出现无法解释的血液（白细胞，血小板）指标异常、脱发、昏迷等。在组织多科室，多学科会诊后，仍不能解释上述病症，经询问，患者近期服用一种成分不明的药物，白色小瓶中黄色药片，考虑到患者银屑病的病史，遂即诊断为药物中毒。实验室采用高分辨质谱仪对样品进行分析，经碎片裂解规律推导和对照品比对，在两个小时内明确了患者是因为服用了甲氨蝶呤过量而导致的药物中毒。案例二：患者刘某，45岁男，误服用百草枯60 mL导致双肺纤维化，临床诊断为百草枯中毒、双肺纤维化和肾功能不全。临床治疗采用序贯式双肺移植术，先左后右的顺序，采用高分辨质谱对移植前患者体内百草枯体内快速定性定量，12小时内开发出百草枯的定性定量方法，并给出了分析报告，随后至今患者移植物功能稳定。高分辨质谱技术在中毒毒物快速分析与临床实践还会有更多实用案例。感谢郑州大学孙晓坚和孙志研究团队！

高分辨仪器均有分辨率和精确质量测定准确性的指标，它们是由仪器的设计、加工、安装、电器部件的稳定性以及仪器调试所决定。当一台仪器调试结束达到出厂指标后，用户所关心的问题是如何保持仪器良好的高分辨和稍确质最测定的准确性。这里从三个方面讨论影响准确性诸因素。[b]一、实验条件1、分辨率的设定[/b]通常分辨率为10000 (10%谷)的条件对大多数的测试是适宜的，更高的分辨要求是在少数的测试中。由于[sup]13[/sup]C和CH组合的两种离子分离要求更高的分辨(如m/Z 300的离子，需要R=70000才能将上述组合的离子相分离)，故在R=10000条件下，测定的结果往往以负偏差的形式出现。在色谱分离的前提下进行质谱的精确质量测定，在多数情况下被分析的组分往往具有较好的纯度，因此它们的质谱图是反映单一元素组成的组分，这样，质谱的准确度测定可以在较低的分辨下进行。[b]2、被测峰的峰形[/b]峰形对测定的准确性影响很大，高斯型的低噪声峰具有良好的测定准确性。实际参数的配合，例如检测系统的带宽、统计漂移、噪声脉冲等在峰形上均有反映。计算机测定是在动态条件下测试经静态调试的峰形，在动态条件下有可能保持不了对称，这样，用对称数字模型去计算不对称的曲线也会造成测定的误差。[b]3、被测峰的强度[/b]离子的统计性是影响峰形的另一种因素。—般认为50?100个离子/峰，才能保持高斯型的峰形。峰的强度增大，则测定的准确性也好，不过离子流强度也有上限的要求，即过强的峰也会降低准确度。在动态扫描时峰强的增加使整个谱图中要进行准确质量测定的峰数目也增加，这势必要调整实验参数而不利于测定的准确性，例如提高全进的扫描速度会降低各质峰峰上的采样数。建议控制精确质量测定的峰数目不超过100个。[b]4、多次扫描[/b]计算机控制下的动态扫描是符合统计误差的规律，测试次数越多得到的平均值越接近真值，因而准确度也越好。建议至少重复扫描4次以上。[b]5、内标法与外标法[/b]内标法的精度优于外标法。这是因为前后两次扫描不能完全重合的结果。使用内标法时参考峰与样品峰相距越近，则测定的准确性也越好

随着质谱技术的发展，质谱仪的分辨率和灵敏度不断提高，高分辨质谱仪逐渐被推广应用。用高分辨质谱进行样品分析，可获得丰富的结构信息，特别是其出色的质量精度和准确度，使通过准确质量法推导化合物分子式更加准确。而通用的NIST谱库更是提供了一种仅需要比较结果谱图就能得到分子式的方法，极大地简化了数据处理流程，减少了数据分析工作量，降低了分析难度，成为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相色谱[/color][/url]-高分辨质谱的重要优点之一。但是，把高分辨质谱数据交给数据处理软件进行分子式推导和谱库比对并非一蹴而就的事，要获得准确的定性分析结果，对结果进行仔细筛选和确证是必不可少的步骤。本文以高分辨[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]GC-MS[/color][/url]数据处理为例，简要介绍高分辨质谱数据分析中的应注意的问题。1.NIST质谱库收录的是在70 eV EI源下分析纯化合物获得的质谱图，为保证比对结果的准确性，要求样品质谱图尽可能纯净。准备样品时，应选择适当的样品浓度，尽量降低本底，对复杂混合物样品进行纯化，使待测化合物尽可能纯净。分析仪器要求灵敏度、分辨率高，采集到的质谱信息全面、准确、清晰。在TIC图上选取质谱图时也需进行一定的处理，扣除仪器背景，最好选择TIC出峰的上行或下行段，得到平均质谱图，以避免TIC峰顶离子浓度饱和或某一时间点出现偶然误差。2.数据处理软件对库结果会给出“质量误差”这一参数，它是判断结果准确性的重要参数之一，但是，质量误差最小的结果未必是最准确的结果。尽管高分辨质谱能提供很高的质量精度，但这并不意味着它可以得到绝对准确的质量值。当待测化合物元素组成复杂、分子量大时，质量误差的偏差对结果的影响更为明显，此时同位素峰信息往往比质量信息具有更强的鉴别能力。3. 虽然谱库检索简单可靠，但仍有其局限性。以NIST谱库为例，检索只利用碎片离子及其丰度这一信息，没有利用高分辨质谱提供的全部信息。实际应用中，同系物往往有相似的碎片离子组成，在这种情况下，匹配度最高的结果不一定是准确的。不过NIST谱库也收录化合物的保留指数，如果在对库时加入保留指数，则可缩小结果范围，得到更准确的结果。通过降低EI源电压或用CI源确定待测化合物的分子离子峰也有助于验证结果的准确性。4. 虽然数据库收录大量种类繁多的化合物信息，但相对于有机化合物总数而言，仍然只是很小的一部分。如果待测物是未被数据库收录的化合物，则谱库检索无法获得准确结果，此时质谱法只能推导出可能的分子式，需要结合其他分析手段推导化合物结构。综上而言，高分辨质谱及其配备的数据处理软件为未知样品的定性分析提供了简便可靠的手段，但要获得准确的结果，必须对数据进行谨慎的筛选和确证。完全依赖数据库比对结果不可取，在实际应用中，最好综合考虑数据库比对结果、色谱保留指数和同位素峰等信息，有条件的话，用标准品来验证无疑是最可靠的方法。

各位高人： 请教几个高分辨分析的问题：怎么从高分辨照片中分析位错？怎么让fft之后的照片更加清晰？请多多指教！非常感谢！

最近接触到一类仪器叫做荧光分析仪，网上只查到热电的floskan ascent系列荧光分析仪材料，不知道还有没有同类型别的厂家的产品，最好做个比较。多谢专家指教了

材料分析仪器的分辨率，检测线，测样深度，仪器包括了SEM,TEM,EDS,AES,TOFSIMS,XPS,ROMAN,FTIR,XRD,XRF,GC-MS,[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]等等，绝对值得收藏！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141750]材料分析仪器的分辨率，检测线，测样深度[/url]

高分辨特点，使之具有分离同位素干扰与背景化学噪音的选择性；　　灵敏度高，获取极低的检测范围；　　宽线性动态范围，允许在一定的浓度范围内进行实验；　　精确质量MS测量能力，可给出元素组成信息，用于鉴别被分析物；可同时获得分子离子与碎片离子的精确质量，从而简化谱图解释过程；　　多种离子化选项，适合于各种化合物的分析，包括支持直接进样杆与GC进样口的离子源；　　多种数据处理软件选项，进行各种应用。　　分辨率与精确质量　　采用常规小于5ppm RMS质量数测定，鉴别小分子的元素组成；　　使用i-FIT?软件，结合精确质量与同位素分析模型，获得准确的分子式信息；　　超过7000FWHM分辨率，可实现从干扰离子与分析物的分离。采用这种高分辨选择性能，可有效降低化学噪音，获得较低的检测限度。　　多种操作模式　　在不同EI、CI、FI离子源之间切换，进行GC/MS分析；　　可选择不同的进样方式，包括DCI、FD、固体直接进样杆；　　识别窄色谱峰，光谱采样速率20采样点/秒；　　采用增大的线性动态范围，适用于宽范围的分析物浓度的实验；　　灵敏度　　采用全光谱高灵敏的oa-TOF技术，分析痕量物质的组分

应对ROHS指令的利剑 ——岛津EDX900HS荧光X射线分析仪 关于“ROHS指令”相信大家并不陌生，“自2006年7月1日起，所有在欧盟市场上出售的电子设备必须禁止或限量使用铅(Pb)、镉(Cd)、水银、汞(Hg)、六价铬(Cr6+ )等重金属有害物质,以及聚溴二苯醚（PBDE）和聚溴联苯（PBB）等燃剂。”简称为“ROHS指令”换句话说也就是：自2006年7月1日起有害元素超标的产品禁止在欧洲市场上销售。 从有关方面了解到，国内很多企业对自已产品中到底含不含“ROHS”指令中涉及的几种有害物质，到底含多少，并不清楚，对欧盟的指令还不够重视，但实事上，国家发改委、信息产业部等相关政府部门也正着手制定“ROHS”相应的我国自已的法规，预期应该和欧盟指令在2006年同步实施。这样一来就会使得中国企业，无论其产品是否出口欧盟，都将面临一个同样的市场准入问题。 全球经济市场正全面提高环保法规标准，各国际大厂已先后投入绿色环保标准的长期计划。欧盟(EU)即将实施二大新环保法令(WEEE及RoHS)。面临严格的环保法规，相信您已有所准备，提升更高的竞争优势。 不够绿(环保)，将错失商机。 绿色行动 迫在眉睫!!岛津 EDX900HS X射线荧光分析仪是你最好的选择！台式小型主机，配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越，16/8样品交换、真空/He气氛、4种准直仪、使用CCD摄像头观察样品等。 →分析元素：11Na～92U（EDX-900HS）→检测器：硅半导体检测器，电子冷却无需液态氮成本，操作更方便。→滤波器：5种自动切换，减少背景和元素间的干扰。 →软件：定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、BG-FP法→选购件：真空/He测定组件、16/8试样转台、试样容器等丰富的选购件。→可对物质进行快速，准确，方便的定性，定量分析和膜厚测量功能。 采用能最小限度减少试样形状、厚度、材质、位置所带来影响的自动补正软件，可以简单进行测量。对有害元素具有高灵敏度的分析仪国际各大厂商为了树立其绿色产品、环境友好产品的市场形象，提高其绿色产品供应链的品质和综合竞争力，对其所有原料及产品中的纯度和有害物质含量要求进行严密的监测。他们大都采用荧光X射线分析仪（XRF）进行品质控制。例如：索尼公司采购岛津公司EDX系列60多台荧光X射线分析仪。XRF使用简单，不但可以节约时间，精确控制品质，检测范围广，而且无需毁坏样品。 欧盟WEEE/RoHS规则已经出台，贵公司的绿色贸易进程已经开始了吗？我公司可以提供应对WEEE/RoHS规则的检测仪器XRF和ICP。若有任何问题或者产品需求欢迎与我们联络！沈阳兴岛科学仪器有限公司联系人：白晓秋电话：024-23226342 手机：13889251040邮葙：rrrjatto@163.com

请教：请问在哪本书或者资料上可以查看时间分辨率和空间分辨率、能量分辨率的定义呢？

工作需要测总抗氧化值 想用 ORAC方法。有人用荧光微孔板分析仪但价格太贵，铂金爱尔默公司说是70万。想请教高手，这个实验能不能不用荧光微孔板分析仪，只用荧光分光度计能不能做成？激发波长是485，发射波长是535nm.[em0808]

现代质谱(MS)面临的一个主要挑战是如何在高质荷比(m/z)区域实现高质量分辨率和高精度的分析。为了提高MS的实际应用能力，了解最新技术的局限性及其在应用科学中的地位至关重要。本综述总结了高分辨质谱(HRMS)中的重要仪器和相关的研究进展，这些仪器的前沿研究将其工作范围扩展到高m/z区域。[font=&][size=14px][color=#222222]高分辨质谱[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](HRMS)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]在现代分析科学中具有不可或缺的作用，因为它具有精确识别未知化合物和定量样品中待测化合物的优越性能。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]质量分辨率[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](MRP)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]、质量准确度、灵敏度和适用的质量范围是决定质谱仪性能最重要的属性。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]是量化离子峰锐度的因子，人们将其定义为观察到的质量[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](m)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]与最大峰高的特定分数之比，在谱图中通常用质谱离子峰的半峰宽[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](FWHM)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]高度或[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]δm[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]表示。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]具有较高[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]的质谱仪可以潜在地分辨更多的特征，因为它可以产生具有较高峰值容量的质谱图。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]另一方面，质量精度是指测定的[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]m/z[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]与其精确理论值的差值；[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]质量精度可以代表测量结果的正确性。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]高质量精度可通过几个基本要求获得，例如仪器需要具有足够的电子分辨率、高[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]、稳定的离子源和稳定的电气系统等。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]MS[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]的灵敏度是高质量应用中的另一个关键问题。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]它依赖于合适的样品制备和电离方法，例如电喷雾电离[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](ESI)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]可以从水溶性样品中产生多电荷分子，基质辅助激光解吸电离[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222](MALDI)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]主要从固体样品中产生单电荷分子。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]旨在提高电离效率的研究十分常见，在这里我们鼓励读者查阅相关文献和综述文章。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]高分辨率仪器通常被认为是具有提供[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]10000[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]以上[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]的仪器。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]通过使用具有这种[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]的质谱仪，人们可以在低[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]m/z[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]范围内[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]([/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]即[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222] 1[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]，如图[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]1[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]所示。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]在高[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]m/z[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]范围内，这种分辨能力可以区分初级离子[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]([/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]即电离离子，如质子、钠离子等[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222])[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]、同位素、修饰[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]([/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]即翻译后修饰[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222][PTMs][/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]或标记[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222])[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]、微小的结构变异或与小分子相关的复合物。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]然而，为了实现独特的元素成分分配，所需的[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]要高得多[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]([/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]即[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]1/δm 100)[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]我们将在下文重点介绍[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]HRMS[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]在[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]m/z[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]范围内实现[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]10000[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]左右[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]MRP[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]的关键技术。[/color][/size][/font][img]https://file.jgvogel.cn/134/upload/resources/image/352869.png?x-oss-process=image/resize,w_700,h_700[/img][font=&][size=14px]图1 质量分辨率和相应分析能力的相关性[/size][/font][size=14px][color=#000000]高分辨技术[/color][/size][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]傅立叶变换(FT)和飞行时间(TOF)质谱是满足高m/z范围(MRP 10000和m/z 10000)中高MRP标准的两个主要质谱仪类别。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]离子回旋共振(ICR)和轨道阱(Orbitrap)质量分析器是FTMS系列的主要成员，而TOFMS系列由几个变体组成，包括线性分析仪、反射分析仪和多反射/多转分析仪。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]大多数FT和许多TOF质谱仪都是混合仪器，前面有四极杆质量过滤器(即Q-TOFMS)，便于串联MS分析。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]本文不讨论磁质谱，因为它们主要用于低质量数化合物的检测，尽管它们也提供较高的MRP。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]大多数质谱仪的MRP随着m/z的增加而下降。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]例如，傅里叶变换离子回旋共振质谱(FT-ICRMS)的MRP随着m/z的增加而线性降低，而Orbitrap-MS的MRP与m/z平方根的倒数成比例。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]因此，尽管Orbitrap在m/z= 200时提供了140000的MRP，但在m/z在10000的范围内时，MRP会降低到16000。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]TOFMS与上述质谱仪呈现的规律不同，其MRP独立于m/z或在特定条件下随着m/z的增加而逐渐增加。[/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#222222]图2显示了基于MRP的商业化质谱仪的经验规律。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]在过去的十年中，这些技术的最大MRP已经有了相当大的进步，研究人员将这些仪器的MRP推向了另一个高度。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]表1总结了重要的商业化HRMS或其改进版本的分析特性，这些特性决定了仪器在高m/z范围内的适用性。[/color][/size][/font] [font=&][size=14px][color=#222222]我们还列出了制造商报告的低质量范围(m/z 10000的低分辨率数据。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]最近的一项研究表明，在基于Orbitrap的单粒子电荷检测(CD)技术中，人们通过在低离子计数条件下确定了大量单个离子的电荷和接近理论预测的高MRP，而这一方法以更长的采集时间作为代价。[/size][/font] [font=&][size=14px]关于大分子检测中其它电荷检测质谱法(CDMS)细节的文章可以在别处找到，这里不做赘述。[/size][/font][img]https://file.jgvogel.cn/134/upload/resources/image/352873.png?x-oss-process=image/resize,w_700,h_700[/img][font=&][size=14px]图4 在Orbitrap质谱仪上实施源内离子捕获以提高高质量结构分析能力的示意图[/size][/font][font=&][size=14px]A，仪器的修改用红色标明；B，传输平台的示意图；C，正常/源内离子捕获模式中的相对电位。该仪器实现了更有效的去溶剂化和碰撞冷却，从而提高了MRP和质量传输效率。[/size][/font][font=&][size=14px]FTMS需要复杂的长时间镜像电流瞬态测量(通常从几秒到几分钟)来获得大蛋白质的同位素分辨率，这对高通量分析是不利的。[/size][/font] [font=&][size=14px]然而，高分辨率并不总是必要的，也就是说，电荷状态的分化需要比识别细微PTM分化(例如磷酸化)相对更低的MRP。[/size][/font] [font=&][size=14px]此外，仪器需要保持超高的真空度，以确保振荡离子有足够的平均自由程；[/size][/font] [font=&][size=14px]或者，TOFMS是另一种通用的选择。[/size][/font] [font=&][size=14px]关于高扫描速度和自由空间电荷效应，我们将在下一节讨论。[/size][/font][font=&][size=14px][color=#021eaa][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#021eaa]3、飞行时间质谱[/color][/size][/font][font=&][size=14px]飞行时间质谱仪根据离子飞越无磁场区域的时间来分析离子，由此可以推断出它们的m/z。[/size][/font] [font=&][size=14px]在为离子提供势能(qU，其中U是离子源的电势)的电场下，离子源区域会产生离子。[/size][/font] [font=&][size=14px]在离子产生之后，离子被抽出并加速到封闭在飞行管内的无场区域。[/size][/font] [font=&][size=14px]加速过程将离子的势能转化为进入无场区域前的动能()。[/size][/font] [font=&][size=14px]在无场区域内，不同m/z的离子表现出不同的速度。[/size][/font] [font=&][size=14px]飞行时间(t)和离子质量(m)之间的简化关系为：[/size][/font][font=&][size=14px]其中L为无场区域的长度。[/size][/font] [font=&][size=14px]在TOFMS中，MRP可以转换为时间t/(2Δt)。[/size][/font] [font=&][size=14px]由于t随L呈线性变化，因此目前的共识是原则上飞行管长度越长，MRP越高。[/size][/font] [font=&][size=14px]根据定义，降低Δt可以实现更高的MRP。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]为了在飞行时间质谱中获得较高的MRP，电离时离子的能量和空间扩散需要最小化。[/size][/font] [font=&][size=14px]值得注意的是，能量扩散随着离子m/z的增加而增加。[/size][/font] [font=&][size=14px]提高飞行时间质谱仪MRP的两个最重要的技术是离子延迟引出和反射器技术。[/size][/font] [font=&][size=14px]离子延迟引出在Wiley和McLaren (1955)介绍的两级离子源中完成。[/size][/font] [font=&][size=14px]这种离子源的第一阶段是电离发生。[/size][/font] [font=&][size=14px]电离后，离子被引出，并被一个温和的电场推向第二阶段。[/size][/font] [font=&][size=14px]第二阶段用强电场将离子加速到它们朝向无场区域飞行的最终速度。[/size][/font] [font=&][size=14px]当进入无场区域时，不同m/z的离子通过它们到达检测器表面的时间而被分离。[/size][/font] [font=&][size=14px]延迟引出是在电离后的第一级施加较短的延迟电压，延迟范围在几十纳秒到低微秒之间的一种方法。[/size][/font] [font=&][size=14px]它有效地最小化了离子的初始能量扩散对到达时间的影响。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]另一方面，反射器使用飞行管中的环形电极堆来产生电场，以反射离子的轨迹。[/size][/font] [font=&][size=14px]反射器可以进一步补偿离子在反射过程中的能量差异，因为初始能量较高的离子会在反射器中传输更深，而初始能量较低的离子会传输更浅，如图5所示。[/size][/font] [font=&][size=14px]通过适当选择反射器后的飞行距离，具有相同m/z但不同初始能量的离子将同时到达探测器，实现飞行时间聚焦效果。[/size][/font] [font=&][size=14px]使用反射器的另一个优点是飞行距离的增加，这可以增加t和MRP。[/size][/font][img]https://file.jgvogel.cn/134/upload/resources/image/352874.png?x-oss-process=image/resize,w_700,h_700[/img][font=&][size=14px]图5 飞行时间质谱仪中反射器的示意图[/size][/font][font=&][size=14px]具有较高动能的离子在反射器中穿透得更深，促进了检测器的聚焦效果。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]自20世纪60年代以来，TOFMS一直是最受欢迎的技术之一。[/size][/font] [font=&][size=14px]在线性飞行时间质谱仪中，基本上不存在质量上限，因为离子经过电势加速后会沿着直线向检测器传输。[/size][/font] [font=&][size=14px]由于离子运动不受射频电场的控制，轨迹与m/z无关，常规线性模式飞行时间质量分析仪可以检测MDa水平的离子(即使用专用的基质分子，电荷检测器，或专门的低温离子探测器，如下所述)，尽管其灵敏度和MRP都没有完全优化。[/size][/font] [font=&][size=14px]为了获得高分辨率光谱图，典型的TOF质谱仪是在反射模式下运行的，在低质量范围内提供大约10000–60000的MRP。[/size][/font] [font=&][size=14px]尽管其MRP在大多数质量范围内低于FTMS，但TOFMS的扫描速度比FTMS快2-3个数量级，可完美匹配联用分析系统。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]TOFMS中有几个变化进一步增强了MRP。[/size][/font] [font=&][size=14px]最有吸引力的解决方案是安装静电扇区或多个反射器，以增加飞行距离。[/size][/font] [font=&][size=14px]一个例子是多圈或螺旋飞行时间质谱仪，它可以很容易地将飞行距离延长到几十米以上。[/size][/font] [font=&][size=14px]对于m/z约为10000的离子，这种仪器的最大MRP超过20000。[/size][/font] [font=&][size=14px]虽然飞行时间质谱基本上没有质量上限，但最大可观测m/z仍然受到一些关键因素的限制，包括样品制备、电离、离子轨迹、检测器特性等。[/size][/font] [font=&][size=14px]这种仪器方面的限制主要是指用于检测大分子的离子检测器的灵敏度。[/size][/font] [font=&][size=14px]例如，传统微通道板(MCP)检测器的灵敏度随着离子速度的降低而降低。[/size][/font] [font=&][size=14px]由于较高的m/z离子表现出较低的速度，这种检测器对于大分子分析是低效的。[/size][/font] [font=&][size=14px]为了克服这一问题，其中一个有效的解决方案是用更灵敏的替代物取代MCP检测器，例如通过能量感应撞击离子的能量敏感型低温检测器。[/size][/font] [font=&][size=14px]低温检测器可以将飞行时间质谱的质量上限提高到大约2 MDa。[/size][/font] [font=&][size=14px]低温探测器的缺点是响应时间长，通常在微秒范围内，这会导致较高的δt产生。[/size][/font] [font=&][size=14px]响应时间比传统的MCPs长两个数量级以上，无法产生高分辨率的质谱图。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]TOFMS的另一个不可避免的问题是检测器偏向于检测低质量的离子，该问题主要是由于低质量离子导致的检测器饱和所致。[/size][/font] [font=&][size=14px]这种偏差源于MCP检测器在离子撞击表面后恢复其离子记录能力所需的时间。[/size][/font] [font=&][size=14px]在恢复时间窗口内，同一检测器区域的离子传输受到阻碍。[/size][/font] [font=&][size=14px]由于质谱通常存在低m/z的杂质离子，这些杂质离子可能是与基质相关的分子或较大离子的碎片，因此对高m/z离子的灵敏度要低得多。[/size][/font] [font=&][size=14px]人们可以通过改变检测器电压来调整增益效果，从而降低偏好程度；[/size][/font] [font=&][size=14px]也可以通过离子或检测器门控来使该问题最小化，以保持检测器在高m/z范围内的灵敏度。[/size][/font] [font=&][size=14px]有一种动态仪器优化方法被证明可以将灵敏度提高2-3倍。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]TOFMS的另一个限制是，质谱仪存在离子损失现象，反射器不适合分析高m/z离子。[/size][/font] [font=&][size=14px]这种损失可能是由于离子在进入反射器之前在飞行管中的亚稳态衰减，因此它们在不同的时间到达检测器。[/size][/font] [font=&][size=14px]反射器的另一个可能的问题是较高的m/z离子具有较宽的发散角，使得离子轨迹在反射后偏离检测器轴。[/size][/font] [font=&][size=14px]为了进行高m/z离子的检测，人们通常通过商用化的TOF仪以线性模式进行实验，但这不可避免地会降低光谱的MRP。[/size][/font] [font=&][size=14px]人们发展了一种综合的计算方法来预测线性飞行时间质谱仪的最终构型，这表明离子源区域的尺寸以及引出电压和延迟的组合在MRP的改进中起着关键作用。[/size][/font][font=&][size=14px][color=#021eaa][/color][/size][/font][font=&][size=14px][color=#021eaa]4、正交和四极杆飞行时间质谱[/color][/size][/font][font=&][size=14px]串联质谱(MS[/size][/font] [font=&]n[/font] [font=&][size=14px])是一种技术，该技术在概念上集成了两个或多个质量分析器，可以提高质谱破译复杂化合物信息的能力。[/size][/font] [font=&][size=14px]最初开发于20世纪80年代初的四极杆-飞行时间(Q-TOF) MS已成为高分辨率和高质量应用中最常见的混合仪器之一。[/size][/font] [font=&][size=14px]四极质量分析器包括四个平行的双曲线或圆柱形杆状电极，并通过调节直流(DC)电压和RF电压的频率和幅度来传输或存储特定m/z的离子。[/size][/font] [font=&][size=14px]四极质量分析器通常设计紧凑，且需要低真空，并且具有很高的离子容量。[/size][/font] [font=&][size=14px]四极杆质量分析仪兼容各种电离技术（如ESI和MALDI）以及离子激活方法（例如电子激活解离和光诱导解离）。[/size][/font] [font=&][size=14px]四极杆质量分析器的主要缺点包括对离子传输、质量检测范围和质量分辨能力(通常为单位质量分辨率)的限制。[/size][/font] [font=&][size=14px]混合Q-TOFMS得到了广泛的认可，因为它保留了双方的优点(分别是选择性和高MRP )，而没有增加缺点。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]离子传输效率的提高使得在Q-TOFMS中检测大分子化合物成为可能。[/size][/font] [font=&][size=14px]根据RF频率和振幅以及杆组件的直径，传统的四极杆质量分析仪可以在高达4000的有限m/z下运行。[/size][/font] [font=&][size=14px]Q-TOFMS通过增加四极杆区内的压力进而促进对大分子径向运动的碰撞冷却，导致了离子传输效率的提高。[/size][/font] [font=&][size=14px]Q-TOFMS通过将四极杆的射频频率降低至300 kHz，实现了更宽的m/z范围至40000(一种蛋白质复合物，m/z为38150的GroEL伴侣蛋白)。[/size][/font] [font=&][size=14px]在这种情况下，不同的真空泵保持着高压，包括紧挨在取样锥后面的一个室(10 mbar)、六极周围的一个金属套筒(局部压力为8×10[/size][/font] [font=&]3[/font] [font=&][size=14px] mbar)和一个碰撞室(1.5×10[/size][/font] [font=&]2 [/font] [font=&][size=14px]mbar)。[/size][/font] [font=&][size=14px]正交TOF区域中的离子传输效率也通过在离子透镜上使用低计数网格和较低重复率的离子反射器(即加速前的传输时间为410 μs)而得到提高。[/size][/font] [font=&][size=14px]可检测的m/z超过85000(碘化铯簇)，在m/z约为84000时信噪比(SNR)为5。[/size][/font] [font=&][size=14px]在串联MS模式下，四极杆具有窄带质量过滤器，因此只有窄m/z范围内的(前体)离子被传输到TOF区域，从而提高了检测动态范围和信噪比。[/size][/font] [font=&][size=14px]理论上，四极杆质量分析仪传输的离子比设定值高4-5倍：[/size][/font] [font=&][size=14px]将离子传输的m/z设置为32000应传输m/z为128000-160000的离子。[/size][/font] [font=&][size=14px]随着电离和检测效率的进一步提高，Q-TOFMS可以继续检测超过90000的m/z离子。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]此外，在Q-TOF质谱仪中，离子光学已得到改进，以实现更好的MRP以及质量相关传输。[/size][/font] [font=&][size=14px]低温度系数陶瓷垫片的使用可以减少温度引起的质量漂移，该瓷片可以利用对称屏蔽对所有电极进行更好的离子聚焦；[/size][/font] [font=&][size=14px]与之前的模型相比，MRP提高了约35%。[/size][/font] [font=&][size=14px]离子从四极杆通过正交TOF转移至检测器，这进一步改变了离子光学设计理念。[/size][/font] [font=&][size=14px]更详细地说， “步进式转移时间”可以调整不同m/z的离子从碰撞单元行进到正交加速单元的时间。[/size][/font] [font=&][size=14px]使用较大的入口孔径和较高的加速场，探测效率提高了30%。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]最近，离子淌度谱(IMS)是一种集成到飞行时间质谱中的一种技术。[/size][/font] [font=&][size=14px]IMS的加入为大分子分析提供了另一个分离维度，在电场的影响以及缓冲气体的存在下，具有不同迁移率或平均碰撞横截面的离子根据不同的淌度信息被分离开。[/size][/font] [font=&][size=14px]与四极杆质量分析仪类似，离子淌度池具有减少能量分布、降低化学噪音、提高检测动态范围和传导MS[/size][/font] [font=&]n[/font] [font=&][size=14px]的优势。[/size][/font] [font=&][size=14px]IMS的各种设计，例如行波离子迁移谱(TWIMS)、捕集离子迁移谱(TIMS)和环形离子淌度(cIM)，都被证明可以增强淌度分离和离子传输。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]首个市售的IMS-Q-TOFMS于2006年推出(Waters，Synapt high definition MS[HDMS])。含有TW堆叠环形离子导向器的离子淌度池取代了六极杆，有效地将离子从离子源区域桥接至四极杆质量分析器，并消除了不需要的中性物质。在该系统中，位于四极杆和正交TOF之间的“TRIWAVE”系统(捕集、IM和转移池)不仅能实现淌度分离，还能激活离子，因此有利于定量结构分析。TIMS的工作原理是通过使用电场推动离子与逆流的中性漂移气体分子不断碰撞，从而分离离子。TIMS质谱于2016年才商业化，并因其对天然大分子组装体的结构解析能力而广受欢迎。现代的IMS-Q-TOFMS可以在m/z 10000以上提供平均50000的MRP[/size][/font] [font=&][size=14px]。[/size][/font][font=&][size=14px][color=#021eaa][/color][/size][/font][size=14px][color=#000000]5、数据处理技术[/color][/size][font=&][size=14px]由于数据复杂性和分析要求的增加，数据处理是HRMS的另一个重要部分。[/size][/font] [font=&][size=14px]与仪器的重大发展相反，数据处理可能是提高数据质量的一种有效而方便的手段。[/size][/font] [font=&][size=14px]在傅立叶变换质谱(FTMS)中，数据处理尤为重要，因为在傅里叶变换之前对原始数据进行校正、滤波和变迹是获得谱图的常见做法。[/size][/font] [font=&][size=14px]例如，人们发现相位校正可以显著提高FT-ICRMS的光谱质量，包括SNR、MRP和质量准确度。[/size][/font] [font=&][size=14px]在其他质谱数据中，离线或采集后处理提高了分子鉴定的谱图质量。[/size][/font] [font=&][size=14px]例如，人们可以通过波变换、翘曲函数以及其他方法提高峰值检测和降噪的效率。[/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px][/size][/font][font=&][size=14px]研究表明，充分的校准可以将质量准确度提高一个数量级以上。[/size][/font] [font=&][size=14px]另一方面，采集后数据校准可以通过比较多个光谱以自校准方式进行。[/size][/font] [font=&][size=14px]复杂光谱中蛋白质的鉴定也可以通过使用多峰拟合和模拟技术提高蛋白含量来实现。[/size][/font] [font=&][size=14px]相比之下，人们通过使用简单的峰对齐算法(而不是使用复杂的校准函数)，就可以实现在线的自校准[/size][/font]

请问一下： X射线 探测器的死时间、计数率和时间分辨率的关系是什么？之前论坛有这个问题，但是不是很明白，所以再次询问一下各位。 计数率越高不是应该死时间就越小吗？如何理解？这个与脉冲输出波形有什么联系？后端软件能调节吗？ 时间分辨率又该怎么理解？大家能帮我稍微详细地说一下吗？谢谢了

最近老板让我做高分辨图的分析，我不知道从哪里入手，不知道谁有高分辨的simulation软件什么的。另外关于interface 附近的dislocation分析（晶格失配造成的应力导致的刃位错）是要怎么做？晶格失配度是直接量了之后用原始公式算么？不知道crystalmaker能不能画interface的3-D结构原子图？或者有其他软件可以做的么？求高手相助！或者推荐相关的paper也行。

仪器名称: 频谱分析仪-E4440A 仪器型号: 频谱分析仪 仪器品牌: 安捷伦 仪器指标: 3 Hz - 26.5GHz具有宽广观察角的16.8cm高分辨率彩色显示器非常便于识别所关心的信号。 下一代用户接口改善了使用的方便性。内置帮助能提供立即协助而无需使用手册。需要使用手册时，它将将以打印形式或在CDRON和全球网上提供。 若干单按键测量，如邻近信道功率（ACP），占用带宽，发射带宽信道功率，10个峰值表格和谐波失真测量能更快地给出重复性更佳的测量结果。 带有容限和合格/不合格住处怕多条极限线简化了生产测试。具有1Hz分辨率的内置频率计数器能对各个单独信号进行精确测量. 在可扩展用户存储吕中可以贮存达200条迹线或200个状态或多个测量应用软件。能利用软盘驱动器来贮存测量结果，并将测量结果传送至PC机，或利用Agilent Benchlind经GPIB和RS-232接口进行传送，SCPI遥控语言和即插即用驱动器增强了远程控制程序的开发。 3年全球保用期可以降低物主费用。测量速度：28次更新/秒 ·测量精度：±1dB ·可选用的10Hz分辨事宽滤波器 ·机箱可容纳6插槽选件卡 ·97dB三阶动态范围 ·能在现场使用的坚固，便于携带的机箱 ·3年保用期。 Agilent ESA-E系列频谱分析仪 Agilent ESA-E系列通用，便携式频谱分析仪拥有在同等价位上以往无法提供的许多性能，特点和灵活性。5咱型号可以提供从9kHz到1.5GHz与26.5GHz之间的频率范围。 测量速度快 5ms的全程射频繁扫描时间和每秒达88次的测量速度可以为您提供实际上的实时测量响应，这意味着将花较少时间对电路进行测试和调整，高速远程测量和每秒达19次测量的数据传送速度在自动测试环境中能缩短关键的测试时间，可选用的20μs零频率间隔扫描时间展出时域中的快速变化信号。

一般来说，逻辑分析仪能看到比示波器更多的信号线。对于观察总线上的定时关系或数据 ——例如微处理器地址、数据或控制总线时，逻辑分析仪是特别有用的。逻辑分析仪能够解码微处理器的总线信息，并以有意义的形式显示。总之，当您通过了参数设计阶段，开始关注许多信号间的定时关系和需要在逻辑高和低电平码型上触发时，逻辑分析仪就是正确的测试工具。[b]逻辑分析仪[/b]大多数逻辑分析仪实际是合二而一的分析仪：一部分是定时分析仪，另一部分是状态分析仪。定时分析仪的信息显示形式与示波器的相同，水平轴代表时间，垂直轴代表电压幅度。由于这两种仪器上的波形都与时间相关，因此称为“时域”显示仪。[b]选择正确的采样方法[/b]定时分析仪好像是一台具有 1bit 垂直分辨率的数字示波器。由于只有 1bit 分辨率，因此只能实现两种状态 —高或低的显示。定时分析仪只关心用户定义的电压阈值。如果采样时信号高于该阈值，就以高或 1 显示，低于阈值的采样信号用低或0显示。从这些采样点得到一张由 1 和 0 组成，代表输入波形 1bit 图的表格。这张表格保存在存储器中，并可用来重建输入波形的 1bit 图，如图1所示。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278254695.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278254695.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 1 定时分析仪的采样点[/size][/align]定时分析仪趋向于把各种信号拉成方波，这似乎会影响到它的可用性，但如果您需要同时观察几条甚至几百条信号线以验证信号间的定时关系，那么定时分析仪就是正确选择。应记住每个采样点都要使用一个存储器位置。分辨率越高(采样率越快)，采集窗就越短。[b]跳变采样[/b]当我们捕获如图2 所示带有数据突发的输入线上的数据时，我们必须把采样率调到高分辨率(例如 4ns)，以捕获开始处的快速脉冲。这意味着具有 4K(4096 样本)存储器的定时分析仪在 16.4ms 后将停止采集数据，使您不能捕获到第二个数据突发。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255647.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255647.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图2 高分辨率采样[/size][/align]在通常的调试工作中，我们采样和保存了长时间没有活动的数据。它们使用了逻辑分析仪存储器，却不能提供更多的信息。如果我们知道跳变何时产生，是正跳变还是负跳变，就能够解决这一问题。这一信息是有效使用存储器的跳变定时基础。为实现跳变定时，我们可在定时分析仪和计数器的输入处使用“跳变探测器”。现在定时分析仪只保存跳变前的那些样本，以及两个跳变之间的时间间隔。采用这种方法，每一跳变就只需使用两个存储器位置，输入无变动时就完全不占用存储器位置。在我们的例子中，根据每一突发中存在多少脉冲数，现在能捕获到第二、第三、第四和第五个突发。并同时保持达到 4ns 的高定时分辨率(图3)。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255224.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255224.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图3 使用跳变探测器采样[/size][/align][b]毛刺捕获[/b]毛刺脉冲因为会随机出现，造成灾难性的后果而声名狼藉。定时分析仪可采样输入数据，保持对采样间所产生任何跳变的跟踪，容易捕获毛刺。在分析仪中，把毛刺定义为相邻两次采样间穿越逻辑阈值一次以上的任何跳变。为了识别毛刺，我们要“教会”分析仪保持对所有多个异常跳变的跟踪，并将它们作为毛刺显示。毛刺显示是一种很有用的功能，能够提供毛刺触发和显示超前毛刺的数据，从而帮助我们确定毛刺产生的原因。这种能力也使得分析仪只捕获毛刺产生时所要的数据。回顾本节开始时提到的例子。我们有一个系统周期性地因毛刺出现在一条信号线上而崩溃。由于毛刺发生具有偶然性，您即使能保存整个时间上所有数据(假定有足够的存储能力)，也很难在巨大的信息量中找到它。另一种方法是使用没有毛刺触发功能的分析仪，您必须坐在仪器前，按运行按钮，等待看到毛刺为止。[b]定时分析仪的触发[/b]逻辑分析仪连续捕获数据，并在找到跟踪点后停止采集。这样，逻辑分析仪就能显示出被称为负时间的跟踪点前的信息，以及跟踪点后的信息。[b]码型触发[/b]设置定时分析仪的跟踪特性与设置示波器的触发电平和斜率稍有一点区别。许多分析仪是在跨多条输入线的高和低码型上触发。为使某些用户更感方便，绝大多数分析仪的触发点不仅可用二进制( 1 和 0)，而且可用十六进制、八进制、ASCII或十进制设置。在查看4、 8、16、24、32bit宽的总线时，使用十六进制的触发点会更加方便。设想如果用二进制设置24bit总线就会麻烦得多。[b]边沿触发[/b]在调节示波器的触发电平旋钮时，您知道是在设置电压比较器的电平，这个电平将告诉示波器在输入电压穿越该电平时触发。定时分析仪的边沿触发与其基本相似，但触发电平已预设置到逻辑阈值。大部分逻辑器件都与电平相关，这些器件的时钟和控制信号通常都对边沿敏感。边沿触发使您能与器件时钟同步地捕获数据。您能告诉分析仪在时钟边沿产生(上升或下降)时捕获数据，并获取移位寄存器的所有输出。当然在这种情况下，必须延迟跟踪点，以顾及通过移位寄存器的传播延迟。[b]状态分析仪基础[/b]如果您从未使用过状态分析仪，您可能认为这是一种极为复杂的仪器，需要花很多时间才能掌握使用方法。事实上，许多硬件设计师发现状态分析仪中有许多极有价值的工具。一个逻辑电路的“状态”是数据有效时对总线或信号线的采样样本。例如，取一个简单的“D”触发器。“D”输入端的数据直到时钟正沿到来时才有效。这样，触发器的状态就是正时钟沿产生时的状态。现在，假定我们有8个这样的触发器并联。所有8个触发器都连到同样的时钟信号上。当时钟线上产生正跳变时，所有8个触发器都要捕获各自“D”输入的数据。这样，每当时钟线上正跳变时就产生一个状态，这8条线类似于微处理器总线。如果我们把状态分析仪接到这8条线上，并告诉它在时钟线正跳变时收集数据，状态分析仪将照此执行。除非时钟跳到高电平，否则输入的任何活动将不被状态分析仪捕获。定时分析仪由内部时钟控制采样，因此它是对被测系统作异步采样。而状态分析仪从系统得到采样时钟，因此它是对系统同步采样。状态分析仪通常用列表方式显示数据，而定时分析仪用波形图显示数据。[b]理解时钟[/b]在定时分析仪中，采样是沿着单一内部时钟的方向进行，从而使事情非常简单。但微处理器系统中往往会有若干个“时钟”。假定某个时刻我们要在RAM中的一个特定地址上触发，并查看所保存的数据；再假定使用的微处理器是Zilog公司的 Z80。为了用状态分析仪从Z80捕获地址，我们要在MREQ线为低时进行捕获。而为了捕获数据，需要在WR线为低(写周期)或RD线为低(读周期)时让分析仪采样。某些微处理器可在同一条线上对数据和地址进行多路转换。分析仪必须能让时钟信息来自相同的信号线，而非来自不同的时钟线。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255919.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255919.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 4 RAM 定时波形图[/size][/align]在读写周期期间，Z80首先把一个地址放在地址总线上。接着设定MREQ线在该地址对存储器的读或写有效。最后根据现在是读还是写对RD或WR线断言。WR线只有在总线数据有效后才被设定。这样，定时分析仪就作为多路分配器在适当的时间捕获地址，然后在同一信号线上捕获产生的数据。[b]触发状态分析 [/b]像定时分析仪一样，状态分析仪也提供限定所要保存数据的功能。如果我们要寻找地址总线上由高低电平构成的特定码型，可告诉分析仪在找到该模式时开始保存，直到分析仪的存储器完全装满。这些信息可以用十六进制或二进制格式显示。但在解码至汇编码时，十六进制可能更为方便。在使用处理器时，应把这些特定的十六进制字符与处理器指令相比较。大多数分析仪制造商设计了称为反汇编器的软件包，这些软件包把十六进制代码翻译成易于阅读的汇编码。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255303.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255303.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 5 把十六进制码翻译成汇编码[/size][/align][b]序列级和选择性保存[/b]状态分析仪具有帮助触发和存储的“序列级”数据。序列级使您能比单一触发点更精确地限定要保存的数据。也就是说可使用更精确的数据窗，而不必存储不需要的信息。选择性的保存意味着可只保存较大整体中的一部分。例如，假定我们有一个计算给定数平方的汇编例程。如果该例程不能正确计算平方，我们就告诉状态分析仪捕获这一例程。具体做法是先让状态分析仪寻找该例程的起点。当它找到起始地址时，我们再告诉它寻找终止地址，并保存两者之间的所有信息。当发现例程结束时，我们告诉分析仪停止状态保存。[b]探测解决方案[/b]为进行调试，向数字系统施加的物理连接必须方便可靠，对被调试的目标系统只有最小的侵扰，这样才能使逻辑分析仪得到精确的数据。普通的探测解决方案是每条电缆有 16 个通道的无源探头。每个通道的两端用100kΩ并联8pF 端接。您可将这种无源探头与示波器探头的电气性能作一比较。无源探测系统除了更小的尺寸和更高的可靠性外，还能把探头端接在与目标系统的连接点上。这就避免了从大的有源探头接口夹到被测电路之间大量引线所产生的附加杂散电容。因此您的被测电路就只“看到”8pF的负载电容，而不再是前述探测系统的16pF。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255595.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255595.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图6 分析探头[/size][/align]把状态分析仪接到微处理器系统需要进行机械连接和时钟选择。某些微处理器可能需要外部电路对一些信号进行解码，才能得到用于状态分析仪的时钟。分析探头不仅能提供与目标系统快速、可靠和正确的机械连接，而且能提供必要的电气适配能力，如为正确捕获系统运行提供的时钟和多路分配器。[b]结语[/b]绝大多数逻辑分析仪都由定时分析仪和状态分析仪这两个主要部分组成。定时分析仪更适于处理多线的总线型结构或应用。它能够在信号线上的码型上，甚至在毛刺上触发。状态分析仪常被看成是一种软件工具，事实上它在硬件设定也很有用。由于它从被测系统得到时钟，因此捕获的数据也就是系统在时钟上的数据。逻辑分析仪为数字电路设计工程师提供了强大的设计工具。[table=349][tr][td][url=https://yqj.mumuxili.com/?from=YQSQ2-7/1]https://yqj.mumuxili.com/?from=YQSQ2-7/2[/url][/td][/tr][/table]

离子受到加速电压的作用离开离子源后在一个无场区域内飞行直至抵达检测器，各种质荷比的离子受到相同的加速电压作用，但由于它们的质荷比不同，在无场区域内飞行的速度不同，导致到达检测器的时间也不同。利用离子到达的时间不同达到区分不同质荷比的效果，这就是飞行时间分析系统的原理。图是经典的线性飞行时间质谱分析系统示意图。飞行时间的离子可以由脉冲产生，也可以是连续离子流。但不管如何，在进入分析器前要经过适当的调制。这是因为确定离子的质荷比值是直接依赖于离子在无场区域内的准确飞行时间，也就是说要求所冇离子应同步进入加速区。利用脉冲给予离子加速，一次脉冲，其宽度为ns至10μs可调。随时间的推移，不同质荷比离子相继到达收集器。仪器在小于100μs内输出一张谱图，重复频率是10?100kHz。[img=CL]`WJ@@20C$~LQ$HQEU]1G.png,448,180]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929408286.png[/img]分辨率是整个仪器综合性能的反映。所以在讨论分辨改善的同时，除了 TOF本身外还涉及离子源的技术改进。从理论上讲，要求相同质荷比的离子具有相同的飞行时间，而不同质荷比的离子具有足够的时间差。但实际上有相同质荷比的离子达到收集器上的时间有微小的差异，从而导致谱线加宽和分辨率的下降。其原因在于下述三种情况：第一，相同质荷比离子在加速前在源中处于不同的位置，因此获得不同的加速能量；第二，由于热运动使离子有初始能量的分布，表现在初始速度上的差异；第三，即使它们的位置相同，但在脉冲加速前它们的运动方向上有差异，极端的情况是运动方向背向于栅极的那些离子需要有一定的时间进行调头或称回转，然后才得到相同的加速能量进入分析器。其结果，到达收集器的时间发生了滞后。[b]一、分辨率的改善1、双栅极结构 [/b]单栅极的结构使离子被加速到最大能量所需要的时间为飞行时间的十分之几，而由于脉冲控制栅极和脉冲加速栅极构成的双栅极的时间只是飞行时间的百分之几，这样，就初始能量的差异对分辨率影响而言，后者是减小了。[b]2、延迟引出技术(Delay Extraction, DE)[/b] 这一技术是AB Sciex公司的专利， 据称可以提高分辨率1?3倍。它的原理是让离子产生后在源内延迟片刻，然后给予脉冲引出到飞行区。此时，靶极(指离子产生处)与栅极是相同的电位而处于无场状态初始速度稍大的离子离耙极远，离栅极近；初始速度小辟则相反。一旦延迟结束，离栅极近的离子受到栅极脉冲加速的能量要稍低于离栅极远的离子，这样，因为初始速度不 同的相同质荷比离子得到了补偿。DE技术不仅改善了初始能量的差异，也有助于减小 回转时间的影响，分辨率的提高也必然改善精确质量测定的准确度。[b]3、脉冲场聚焦[/b] 这是减小回转时间的一种解决方法。[b]4、反射式TOF[/b] 经第一级TOF飞行，离子进入称为反射器的离子镜，离子被反射以后在第二级收集器上被检测。如果单用第一级检测器，这就是线性TOF，而经反射以后，对于空间位置和初始速度上的色散都能获得补偿。如此减小相同质荷比的离子在动能上的差异而达到飞行时间上的一致性，由此提高了分辨。反射式TOF结构很紧凑，反射阶段的飞行距离要比线性阶段的飞行时间来得短，但是分辨率远远高于线性TOF。这是因为反射器是一个均匀的电场，对于相同质荷比的离子，若初始能量大的则进人反射器区域的路径要长，飞行时间要多一些；若初始能量小的则进入反射器的路径要短，飞行时间要少一些。本来在线性TOF阶段，初始能量大的飞行时间要小于初始能量小的，现在经过反射器阶段后，前者和后者都在时间上得到纠正，所以，使用反射TOF能够使初始能量有差异的相同质荷比离子几乎同时到达第二个检测器。实际上，位置上的色散也是反映在获得加速能童上的差异并导致最终在飞行时间上差异，因而反射式TOF也能将其补偿。下图是使用 AB Sciex 公司的 Super Voyager—DE STR MALD—TOF 仪上获得细胞色素C(cytochrome C)的质谱图，其分辨率达到28000 (FWHM)。增加反射式 TOF的飞行长度可以提高分辨率，但对线性TOF来说行不通。这是因为初始能量的色散在增加飞行长度后差异会变得更大，但在反射式TOF中是在时间上得到了补偿，如同磁质谱仪的双聚焦仪器在空间上进行的补偿那样。当离子初始能量的差异得到显著减小后，仪器的分辨率将由电器稳定性和检测器的 性能所决定。要说明的是，在讨论MALDI源 的时候，离不开TOFMS的结合，但是在这里讨 论TOFMS的时候，不必将离子源限定在MAL-DI, 这意味着TOFMS可以配用电喷雾的离子源，即ESI —TOFMS进行分析。[img=image.png,302,300]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929914874.png[/img]TOF分析器具有大的质量测定范围(通常可达50万u,个别的甚至更高)、高的灵敏度 (肽或蛋白质测定的Fmol量级)、高分辨率的精确质量测定[精度(5~10) X10[sup]-[/sup][sup]6[/sup]],再加上仪器结构简单和操作方便，因而具有很大的应用潜力(提高外标法的精确质量测定将有更大的竞争能力)。[b]二、源后分解(PSD)[/b]如同磁质谱的无场漂移区产生亚稳离子那样，当离开离子源的离子在很长的距离中 飞行，有些离子在飞行时间内发生碎裂反应。碎裂后的子离子基本上按前体母离子的速 度飞行，因此到达检测器的时间是与其母离子相同的。对于TOF仪器测出这种亚稳峰 的原理作如下说明：当离子进PSD (post -source decay)反射器,受到静电镜的推斥而转向第二个检测器。正常的母离子(m1)具有速度v1的全加速能量，而亚稳峰具有速度v1,但具有全加速的m2/m1能量，因此推斥它只需要低于全加速的能量。显然，正常的母离子m1和正常的子离子(m2)能够深入静电镜，而亚稳峰m*则不会深入，这意味着亚稳离子先到达第二检测器，随后才是正常的母离子 (m1)。静电镜的正常设置是聚焦正常母离子(m1),对亚稳峰m*来说处于去焦状态。 当降低反射器电压至m2/m1使亚稳离子此时能够到达静电镜的深处，即达到如同正常母离子或者说所有全加速的离子的聚焦位置，这样，就能把亚稳峰聚焦到在第二个检测器上，而所有正常离子则不再发生反射而留在第一检测器内。可以设想正常母离子会在飞行区内发生许多碎裂反应，由此形成不同能量的亚稳离子，设置不同的反射镜电压，就可以获得母离子m1的所有亚稳跃迁。这里需要说明的是，单纯依靠m2/m1值的调整测出的亚稳离子还有其不确定性。因为一个化合物可能有各种不同的母离子的亚稳跃迁，从理论 讲就可能存在m2/m1值相同又分属于不同的母一子离子对，所以PSD分析还应包括一个定时的离子选择器。它的位置在飞行的路径上，它允许让某一个前体离子通过，不允许不同时间到达的其他离子通过，这就确保了仅有这一前体离子产生的亚稳峰被检测

X荧光分析仪上道式和下道式有什么优缺点

从11月28日召开的全国水泥生料质量控制应用技术研讨会上获悉，由北京邦鑫伟业技术开发有限公司打破国外二十多年技术垄断、自主研发成功的X荧光分析仪受到与会专家和企业的关注。该公司白友兆博士介绍说，产品不仅填补了国家的空白，采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。来自于一线的工程技术专家称，该产品投入使用后，在水泥行业生产质量控制实际应用中发挥了重要作用。 X射线分析技术是国际公认的常规分析手段。广泛应用于建材、地矿、冶金、石油、化工、半导体、医药卫生等领域，也是商检、质检、环保、科研院校等部门普遍采用的一种快速、准确和经济的多元素分析方法。由于人工化验速度慢、效率低，而且费工、费时、费钱，满足不了社会化大生产的需要，严重影响了工业生产对质量的控制。因此，世界各国从上个世纪六十年代相继开展对X射线分析技术的研究。到上个世纪八十年代这项技术在美、英、德、荷、日五国已经相当成熟并普及到工业生产中。 我国是一个材料生产大国，也是应用此类仪器最大的市场。上个世纪六十年代也开始X射线技术的研究，由于技术复杂，研究开发难度大，以及文化大革命的影响，这项技术我国一直处于落后局面。改革开放后，国家投资研发并列入了“九五”攻关计划，到2000年技术上有了一定突破，但由于研究开发与生产设备脱节，此项产品的开发未果。我国大型工业、科研院校等单位使用的波长色散X荧光光谱仪全部依赖于进口，市场被美、英、德、荷、日五国垄断长达二十多年。 北京邦鑫伟业技术开发有限公司，瞄准了国内这一广阔市场需求，组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家，集研究开发、生产销售、维修服务于一体，密切关注世界上X射线分析技术发展的动向，以科学的态度、大胆创新，采用单道双晶体和全谱显示技术，在X射线分析技术领域里探出一条新路，研制成功的BX-200和BX-100型波长色散X荧光光谱仪，实现了仪器的小型化、故障低、节能等目标。仪器的测量精度准确性和运行的可靠性等各项技术指标，都达到了国际上同类产品的先进水平，而仪器价格仅为国外同类产品的一半，改写了我国长期不能独立研发生产此类仪器的历史。仪器投放市场后，导致国外同类产品单台报价普遍下降五万美元以上。据过去几年的不完全统计，我国年平均进口量在200台以上，仅此一项每年将为国家节约千万美元。 与会代表在参观北京琉璃河水泥厂水泥生料生产线时，一位国有大型水泥厂的技术处长感慨地说：“我们早就盼望着国产X荧光分析仪的问世，我们买外国的仪器除了购买和维修费用高，关键是维修服务不及时，影响了我们的生产和质量。”长期从事X射线分析仪器研究的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授，看到国产仪器深有感触地说：“为了研究我国自己的X荧光分析仪，我们从黑发干到了白发，没想到一个民营企业实现了我们几代人的梦想。”　　（来源：中国水泥网）

求助：本人所在公司是做水泥厂管理软件的，以往主要解决采购销售方面的业务问题，现在想与水泥厂更大集成，把生产管理信息也纳入进来。小弟负责化验室方面，主要功能要从荧光分析仪获取分析数据。实现此功能大概有两种方法：1.直接从仪器读取（考虑了一下不太可行，光是数据格式转换就是个麻烦）；2.各型号的仪器都有其操作软件，软件均涉及数据存储，可以从这些数据文件读取（现在主攻的方向） 近来看了不少荧光分析仪的资料大多是介绍仪器原理和使用方法的，与我关心的地方都不太一样。希望各位帮帮忙，提供一些荧光仪分析结果的数据文件。十分感激！