高精度涂镀层测厚仪

CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自动转换测量于一体，是CEM设计、研发和推出的高精度、快速反应、多功能的涂镀层测厚仪，带蓝牙和智能APP，准确、快速等测量质量。

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

概述　　双用涂镀层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。　　涂层测厚仪应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。它是检测行业重要的仪器。　　双用涂镀层测厚仪主要功能　　● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式 　　● 具有两种工作方式：直接和成组方式 　　● 具有自动统计功能：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV) 　　● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 　　● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值 　　● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量 　　● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警 　　● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。

涂镀层测厚仪 TM-3基本介绍 TM-3涂镀层测厚仪 是使用涡流法来实现涂镀层的厚度测量。该设备主要用于局部测量电镀涂层的厚度，例如钢上的锌，镉或铬，以及钛等上的银或铜等。该设备具有10000点的测量记录点，用于连接PC的USB接口，结果的选择平均模式以及从设备的键盘和个人计算机编程多达25个近似标度的可能性。此外，该涂镀层测厚仪还提供专门的转换器，可以测量一般测厚仪难以测量的物件（测量孔，管等）。 性能特点 能够记录多达25个近似标度；可调节屏幕背光；选择性平均模式自动报警信号系统（ASB）；电源：内置电池；自动关闭模式；订购不同配置的转换器的可能性；技术参数测量厚度范围：　从0到100um（铁磁或非铁磁基底上，取决于型号）读数精度： 1，0.1,0.01 - 在编程时设置测量误差：　在读数的3％以内屏幕类型：　图形LCD，可调节背光和对比度屏幕尺寸（高x宽）： 21 x 56mm记忆结果: 10,000个结果与PC通信: USB接口电源： 内置电池2000 mAh，2.4V工作时间：　不少于15个小时自动关机：　在90秒内工作温度范围：从-10 C到+50 C.电子单元的尺寸（高x宽x高）： 170mm x 80mm x 40mm转换器的尺寸（长x高）: 11mm x 60mm　重量: 230g 我司为俄罗斯KROPUS的所有产品在大中华地区的总代理。

FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层产品介绍： FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层在涂层厚度测量方面获得最大的灵活性，同时满足最高的精度和准确度要求：它们将磁感应测量法和涡流测试法结合在一个仪器中，所以你可以在不更换仪器的情况下测量钢铁和有色金属上的涂层厚度。DUALSCOPE H FMP150还有磁性方法，这允许你测量有色金属或绝缘体上的镀镍厚度。 FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层是质量保证中zuixian进的测厚仪。例如，您可以使用这些手持仪器来测量漆膜厚度。您甚至可以轻松而精确地测量CDC涂层。这些仪器配有触摸屏和Windows&trade CE操作系统，操作速度快且直观。由于内存大，它们可以处理数千个测量任务的数千个测量值。 各种统计和分析函数可用于评价测量结果。它们的另一个优势是我们的专li工厂诊断图(FDD)，该评估选项使过程可视化，并提供了生产变量(如厚度)分布的图形概述。产品特征：探头种类很多，包括许多特殊的探头，用于精确执行各种厚度测量任务根据DIN EN ISO 2178的磁感应测量方法和根据DIN EN ISO 2360的涡流测量方法，具有最大的灵活性；DUALSCOPE H FMP150还有磁性测量方法涂层厚度测量规范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT自动识别探头和基材在高分辨率的图形触摸屏上详细显示测量模式和检验计划广泛的评估和统计功能，支持图形显示选项大内存，可用于数千个不同校准的测量应用程序Windows CE操作系统通过图形用户界面和用户定义的文件和文件夹结构，用户可以直观地操作可选：Fischer数据中心软件可创建单独的检验计划USB接口可连接PC和打印机产品应用：应用磁性钢铁上的非磁性涂镀层 非磁性金属上的绝缘涂层钢铁上的双涂层(油漆/热浸镀锌涂层)(重防腐行业，Zn70微米)，其中油漆和锌层是同时测量和分别显示的DUALSCOPE H FMP150：钢铁表面的厚金属镀层和保护性涂层；有色金属或绝缘材料上的镀镍层技术参数：DUALSCOPE FMP100非铁金属上的油漆、阳极氧化层、瓷漆或塑料涂层铝上的阳极氧化层钢或铁上的仪器、 瓷漆或塑料涂层钢或铁上的非铁金属镀层数据储存统计计算打印口/RS232 接口USB interface无线传输可更换插入式智慧型探头测量范围（μm） [mils]FD10双功能探头测量参数：磁感应：测量范围：0～1500μΜ（0～60 mils）测量精度：0～50 μΜ：0.2 μΜ 50～1500μΜ： 1 ％。涡 流：测量范围：0～1200μΜ（0～48 mils）测量精度：0～100 μΜ：0.5 μΜ，100～1200μΜ： 0.5 ％电源：交流电或电池重量[g]：395规格:（170 x 89 x 40）

概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量；● 三种校准方法：一点校准、二点校准、基本校准；● 显示分辨率：0.1μm (1250um以下，1250um以上是1um)； ● 最小测量面积：最小测量面积：10*8mm；● 最小曲率：凸5mm，凹25mm；● 设有四个统计功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、测量次数（No）● 设五个统计量，存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0～40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90（2%H+1）二点校准精度1％F400、N400（2%H+0.7）二点校准精度1％F10（2%H+10）二点校准精度1％标准配置1、主机 1台2、探头（F1或N1） 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围（μm）0～4000～15000～12500～10mm0～4000～1500测量精度μm一点校准±（1～3％H+0.7）±（3％H+1）±（3％H+10）±（3％H+1）±（3％H+1.5）二点校准±（1～3％H+0.7）±（1～3％H+1）±（1～3％H+10）±（1～3％H+1）±（1～3％H+1.5）低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF1 型测头 0～1500µ mF10 型测头 0～10mmF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF1 型测头 0～1500µ mF10 型测头 0～10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0～400µ mF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ mF400 型测头 0～400µ mF400 型测头 0～400µ mF1 型测头 0～1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0～1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10～200µ m

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。主要功能● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式；● 具有两种工作方式：直接和成组方式；● 具有自动统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值；● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量；● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。● 金属外壳：机身材质是航空铝金属外壳，防干扰磨损低。技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm（主机）重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯符合标准1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm（主机）重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！

金属镀层测厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机金属镀层测厚仪 此为广告

简单介绍：MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪,把电涡流测厚仪和涂镀层测厚仪结合在一起。用户可以根据现场需要，任意选择铁磁性测厚探头或者涡流测厚探头来测量磁性金属或者非磁性金属上的涂层厚度。该型号涂层测厚仪既可以测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。也可以方便测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度，如铜、铝、锌、锡等金属上的油漆、橡胶、塑料、氧化膜等。详情介绍：MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪功能特点：●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪采用了磁性和电涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。●具有温度补偿功能： 配有科电“锁相环”技术●具有屏幕翻转功能： 可以手动选择翻转显示测量数据●显示方式：2.4寸TFT高清彩屏，320*240像素，大号数字显示●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪测量速度：根据不同的应用场合客户可以选择单次测量和连续测量两种测量速度●可采用三种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正●具有存储功能：可以存储超过1万个测量点●具有删除功能：可以删除存储组中的一个可疑数据，也可以删除所有的存储数据，以便进行新的测量●设置限界：对限界外的测量值能自动报警●显示语言：内置中文、英文●测量单位：公制、英制可转换●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪具有无线通信功能：蓝牙2.0，可以与电脑和打印机进行无线通信●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪具有电源欠压指示功能●操作过程有蜂鸣声提示●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式●V型槽：人性的V型槽结构方便测量各种尺寸管道外表面的涂层●大平底：专用的大平底探头结构使仪器测量更加稳定，重复性更高●防滑垫：**设计的防滑垫配合机壳背面的防滑纹理使客户长时间操作也不易疲劳，体现了科电客户至上的一贯理念测量范围F1.2：0-1.25mm，N1.2：0-1.25mm测量模式精简模式、监控模式、统计模式、*小值捕捉测量原理磁感应和电涡流显示精度0~100μm: 0.1μm 100~999μm: 1μm 1mm~1.25mm: 0.01mm探头连接方式分体式导线连接（不可更换）使用温度相对湿度：≤90% ； 温度：-10℃~+40℃温度补偿配有科电“锁相环”技术语言内置中文、英文测量速度根据不同的应用场合客户可以选择单次测量和连续测量两种测量速度电源两节五号（AA）电池主机尺寸150mm(L)*68mm(W)*33mm(H)重量220g（含电池）

YT-211涂层测厚仪概述无接口涡流探头，检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-211涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb211测头类型N1 （不可拔插）工作原理涡流感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

YT-220涂层测厚仪概述分体F1型探头，检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-220涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。主机参数表项目Leeb220测头类型F1工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量200g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达25μm，使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）探测器Si-Pin探测器，(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选，多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台手动移动平台，移动范围：50x50 mm滤光片固定初级滤光片，多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm（W×D×H）外形尺寸330×580×360mm（W×D×H）重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

多功能涂镀层测厚仪FischerScope MMSFISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔fischer台式涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE MMS PC2简介:高级台式设备，用于通用的涂层厚度测量和材料测试，具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口典型应用领域:电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜（PERMASCOPE模块）纳米涂层（防指纹）、太阳能电池涂层（玻璃上的CdTe镀层）、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层（BETASCOPE模块）测量线路板上的面铜和孔铜（SIGMASCOPE模块）测量薄板或多层线路板表面铜层厚度，不会受反面铜层影响（SR-SCOPE模块）印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度（PERMASCOPE模块）汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层（PERMASCOPE模块）汽车行业中活塞表面的含铁涂层（NICKELSCOPE模块）奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量（PERMASCOPE模块）非铁磁性金属，如铜、铝、钛的电导率（SIGMASCOPE模块）特点:只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试！坚实且极为通用的台式多功能测量系统，具有保存数据和处理测量数据的功能.便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏，基于Windows CE设计。.众多不同的嵌入式测量模块，可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE SIGMASCOPE PHASCOPE DUPLEX NICKELSCOPE SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理，详情参见产品说明.可连接多达八个测量探头各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter，其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告无锡骏展仪器有限责任公司为客户提供方守合同、快速售前(演示设备、引进更新技术)销售(选购、满足客户对客户的要求)、售后服务、设备维修、维修问题等)当客户需要时，我们专业的工作人员可以到客户现场，提供急需的服务。

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪Bowman BA-100 Optics 机型采用业界领先的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 稳定的X射线管 ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选） 小于100um的测量斑点 ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央 ● 长寿命的射线管灯丝 ● 独有的预热和ISO温度适应程序 多毛细管聚焦光学结构 ● 显著提高X射线信号强度 ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 ● 小于100um直径的测量斑点 ● 经过验证，接近完美的测量精度 应用领域：常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB 引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe 半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 线材 Sn/Cu 珠宝、贵金属 10,14,18Kt 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等 美国博曼高性能XRF镀层测厚仪三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析） 成为越来越多行业的满意选择 可为您提供高精度，快速简便的测量和分析

荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家仪器简介 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术，搞定企业品质管控！XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
 检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm² ，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。应用行业：电镀层分析紧固件行业五金行业汽车零部件配饰厚度分析电子元器件……常见样品：紧固件
 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe五金制品
 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe电子元器件
 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
 汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
 配饰首饰
 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu散热片NiP/Al……为什么选择XU-100？1.下照式设计
 可以快速方便地定位对焦样品。
 2.高精密微型移动滑轨快速精准定位样品。3.
 微焦X射线装置
 最小检测面积可达0.2mm² 的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。
 高效率正比接收器即使测试0.2mm² 的样品，几秒钟也能达到稳定性。4.
 变焦装置算法
 可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
 5.先进的EFP算法
 多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。
 最小检测面积可达0.01mm² 凹槽深度范围0-30mm移动精度10μm最近测距光斑扩散度10%

X荧光光谱分析仪iEDX-150WT产品介绍（镀层测厚仪）一、产品概述产品类型： X荧光光谱仪 产品名称： 镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS检测，合金分析功能）型 号： iEDX-150WT 生 产 商： 韩国ISP公司产品图片：镀层厚度检测分析仪 - iEDX-150WT二、产品优势镀层检测，最多镀层检测可达5层。对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，可同时进行选配合金成分分析功能。开槽式超大可移动全自动样品平台620*525 (长*宽)，样品移动距离可达220*220X10mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。激光定位，可以连续自动多点程控测量；可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。可检测固体、液体、粉末状态材料；运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；标配德国AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。软件支持无标样分析。相对于传统镀层，开机不需要预热，直接可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。标配选配X射线管高稳定性X光管，使用寿命长（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。高稳定性微焦点X光管，使用寿命（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸50um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。平台固定平台软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤，控制程序进行持续性自动测量。平台尺寸：620*525mm (长*宽*高)样品移动距离：220*220X10 mm(X*Y*Z)准直器单准直器系统 0.2/0.3MM选1个0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸，可定制特殊尺寸准直器。探测器半导体Si-PIN 探测器，分辨率159eV，高分辨率硅漂移SDD探测器，分辨率可达到125eV.滤光片初级滤光片：Al滤光片，自动切换/样品定位显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能/视频系统高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。观察范围：3mm x 3mm。放大倍数：40X。/附件含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标/软件标配Multi-Ray镀层分析软件1、选配ROHS分析软件2、选配合金分析软件3、选配药水分析软件 检测元素范围Al (13) ~ U(92)/分析样品类型液体/固体/粉末/三、产品配置及技术指标说明四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能1) 软件应用- 单镀层测量- 线性层测量，如：薄膜测量- 双镀层测量- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析- 三镀层测量。- 无电镀镍测量- 电镀溶液测量- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2 - 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量2) 软件标定- 自动标定曲线进行多层分析- 使用无标样基本参数计算方法- 使用标样进行多点重复标定- 标定曲线显示参数及自动调整功能3) 软件校正功能：- 基点校正（基线本底校正）- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等- 密度校正4) 软件测量功能： - 快速开始测量- 快速测量过程- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）5) 自动测量功能（软件平台）- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）- 确认测量位置 (具有图形显示功能)- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）- 测量开始点存储功能、打印数据- 旋转校正功能- TSP应用- 行扫描及格栅功能6) 光谱测量功能- 定性分析功能 （KLM 标记方法） - 每个能量/通道元素ROI光标- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）7） 数据处理功能- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 最大值。- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，- 独立曲线显示测量结果。- 自动优化曲线数值、数据控件 8）检测厚度（正常指标）：- 原子序数 22 - 24 : 6 – 800 微英寸- 原子序数 25 - 40 : 4 – 900 微英寸- 原子序数 41 - 51 : 6 – 2000 微英寸- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸9）其他功能- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境- 独立操作控制平台- 视频参数调整- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......- 数据库检查程序- 镀层厚度测量程序保护。仪器维修和调整功能- 自动校准功能；- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。五、软件界面镀层软件分析图谱界面备注: 以上图片仅供参考六、部分国外客户名单，和国内Company公司名称Note备注TE CONNECTIVITYhyundai cooperate 现代合作公司INNO FLEXsamsung cooperate三星合作公司RAYTRON CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KOREA ELECTRIC TERMINALsamsung cooperate三星合作公司SHINHWA CONTECH CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KYOUNGILsamsung cooperate 三星合作公司KAVASsamsung cooperate 三星合作公司TAEKWANG ENSsamsung cooperate 三星合作公司PULSE ELECTRONICS KOREAsamsung cooperate 三星合作公司SIT CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司LUMENS CO.,LTDsamsung , LG cooperate三星、通用合作公司JEONGMIN ELECTRIC CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HANSUNG COLOR CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HWANAM TECH CO.,LTDLG cooperate通用合作公司 SAEBOK CO.,LTDLG cooperate通用合作公司HANSHIN TERMINAL CO., LTDLG cooperate通用合作公司JINTECLG OEM 通用合作公司DAESHIN METALSEMICS INCWOOSOOROSWIN INCPOSCOJuAhnBEE-RYONGMECHARONICSSAMMI METAL PRODUCTS CO.,LTD　部分国内客户名单：深圳爱升精密电路科技有限公司宏创电子惠州有限公司昆山同心表面科技有限公司 深圳路通达科技有限公司联想集团深圳市记忆科技有限公司湖北建浩科技有限公司航天科技集团乐清市东方科信网络有限公司富士康集团比亚迪东莞市鑫华电镀厂上海正泰电器公司深圳市誉升恒五金科技有限公司珠海汇鑫垣电子有限公司扬宣电子（清远）有限公司航天长征睿特科技有限公司大连吉星电子科技有限公司昆山三星电机有限公司广东南方宏明电子科技股份有限公司深圳市恒威电子公司太康精密（中山）有限公司信泰电子（西安）有限公司湖北台基半导体股份有限公司惠州富电电子有限公司康跃科技股份有限公司武汉奥科电子有限公司元悦科技（珠海）有限公司深圳市鼎正电路板有限公司深圳市星之光实业发展有限公司湖北金禄科技有限公司惠州威健电路湖北龙腾电子科技有限公司赣州市金顺科技武平飞天电子科技有限公司深圳市恩德鑫电路技术有限公司珠海市鸿天万达电子

高性价比上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。可靠的高性能：测试精度、稳定性高，在提供高质量的同时减少浪费和停机时间。更高的性价比：制造工艺升级，更具性价比，大大节省使用成本。前沿检测技术：高级成垂直光路系统，采用先进的解谱技术和影像识别算法，实现精准、快速、智能、自动检测，满足企业检测需求。使用寿命更长：模块化设计，聚焦节能，搭载自动休眠模式，延长使用寿命。核心EFP算法：先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。四焦一体装置：搭载高集成四焦技术，可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件。上照式设计：上下位机管理分工，可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量。适用性强：精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析。自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程，便可实现成百上千个样品点的高效检测。智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势。在线：根据客户要求，可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现自动智能化工厂。XD-1000上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路板、引线支架、卫浴产品等

仪器简介：CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度，同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。 CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。牛津仪器常驻中国机构提供售后服务和技术支持 (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：型号：CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应 品牌：OXFORD CMI(英国牛津) ●ECP-M探头：锌、镍均可以测量 ●准确度：± 1% ●测量范围：0.08-1.50mils(2-38&mu m) ●分辨率：0.01mils (0.25&mu m) ●小测量半径0.06英寸(1.55mm) ●适用标准：符合ASTM B244&mdash b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●单位：英制和公制单位自动转换 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，终值 ●记忆储存：12,400个数据储存 ●接口：RS-232串行端口，波特率可调，可接打印机或计算机 ●显示：液晶显示(LCD),字符高度1/2&rdquo (1.27cm) ●电池：9V干电池或可充电电池。 ●尺寸：57/8&rdquo (L) × 31/8&rdquo (W)× 13/16&rdquo (D) (14.9× 7.94× 3.02 cm) ●重量：9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内) ●品牌：英国牛津仪器； 产地：美国主要特点：英国牛津仪器（Oxford）总代理方源仪器供应高品质镀层测厚仪CMI 243。CMI 243可无损、精确测量各种金属涂镀层厚度，如：锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。包括紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3. 厚度检出限：0.005μm4. 成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6. 对焦距离：0-30mm7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9. 仪器重量：45KG10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11. XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

iEDX-150μT采用封闭式样品腔。专业用于五金电镀镀层分析、小件产品镀层厚度分析，同时兼容ROHS、无卤、重金属分析。高精度测试标准，高效分析有害元素的成分比例。此款仪器采用了毛细管配置，焦斑直径尺寸最小可达8um，是目前电镀测厚仪市场上镀层测厚商品。TFFP软件主界面二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在±0.02%，贵金属（8-24Karat）分析精度可达±0.05kt对Rohs和电镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。技术指标：1、多镀层，1-6层；2、高测试精度；低可达0.001um，精度误差第一层在±３%3、元素分析范围从铝（Al）到铀（U）；4、测量时间：1-30秒；5、SDD探测器，能量分辨率为125电子伏特；6、微焦X射线管；电压及电流为50KV/1mA；7、焦斑尺寸15um；8、7个准直器及6个滤光片自动切换；9、XYZ三维移动平台，极限荷载为5KG；10、高清CCD摄像头，准确监控位置；11、多变量非线性去卷积曲线拟合；12、高性能FP/MLSQ分析；13、平台尺寸：700×580×25mm；14、仪器尺寸：475×787×375mm；15、加入安全防射线光闸，样品室门开闭传感器；16、可提供对样品的自动和编程控制，多点自动测量。图谱界面：1、软件支持无标样分析；2、超大分析平台；3、可自动连续多点分析；4、集成了镀层界面和合金成分分析界面；5、采用先进的多种光谱拟合分析处理技术。 分析报告结果：1、直接打印分析报告；2、报告可转换为PDF、EXCEL和HTML格式如需更多详细的技术资料请来电联系