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射线荧光镀层测试仪

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射线荧光镀层测试仪相关的论坛

  • X射线荧光镀层测厚仪

    诚招全国各地仪器经销商、代理商,我司专业生产X射线荧光光谱仪、X射线衍射仪、拉曼光谱仪、在线监测X射线光谱仪;应用:金属镀层测厚、矿石、油品、煤炭、大气烟气重金属在线监测、医药毒品检测、三元催化、三元锂电等。相关代理商留言联系。

  • 【讨论】荧光测镀层

    大家来讨论下现在市场上大部分仪器测镀层时的厚度大概多少,我今天刚碰到个问题,我们家用的仪器今天测试ABS为基材的镀层时,单独测ABS材料时X射线竟能把ABS材料击穿,射线打到下面的铜底板,铜峰很高。。。。。那个ABS材料怎么说也有几个毫米。。。。有知道的发表下看法下,谢谢。

  • 【原创大赛】金属电镀层确认的一些常用方法

    【原创大赛】金属电镀层确认的一些常用方法

    金属电镀层确认的一些常用方法 金属电镀层一般是为提高金属零件在使用环境中的抗蚀性能;装饰零件的外表,使其光亮美观;提高零件的工作性能,如硬度、耐磨性、导电性、电磁性、耐热性等等。那做为实验室一员,一般对接收的样品如何去判断是否有镀层及镀层是什么呢,根据工作的关系个人总结了以下本实验室常用的方法,仅供参考!一.单一镀层1.X射线荧光光谱仪(XRF)法:这个一般适用于0.1um以上镀层。主要是根据基材和镀层的成分对比,看出镀层的成分。案例a:确认样品表面是否电镀金,根据谱图显示样品基材是黄铜,表面镀金。同时可以看出镀层非常薄,因为已经测试到基材元素,不放大谱图很难看到金的峰。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061129_559449_2042772_3.png 案例b:根据谱图显示样品基材是碳钢,表面镀锌。同时可以看出镀层比较厚。约几十微米。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061129_559450_2042772_3.png2. X射线能谱仪(EDS)法:这个一般适用于0.1um以上镀层。一般有二种模式,直接测试表面和金相制样后测试截面。 案例a:直接测试,这种需要知道基材是什么然后才可以判断表面镀层成分。客户告知样品为一含氟工作电极表面有镀层,根据谱图可以看出样品基材是一含氟电极表面镀铂。同时可以看出镀层比较薄,因为已经测试到基材元素。对于镀层大于0.3um一般不会出现这种情况,直接显示镀层含量一般在90%以上(不考虑空气中的碳和氧)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559451_2042772_3.png案例b:金相制样后EDS线扫描测试,这种不需要知道基材是什么即可以判断表面镀层成分。根据谱图看出样品基材是钢表面镀镍。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559452_2042772_3.png3.X射线光电子能谱仪(XPS)法,这个适用于表面10nm以上的镀层,分析下线比较低。谱图是表面溅射10nm后的XPS谱图,根据谱图可以看出样品表面镀铬.(不考虑空气中的碳和氧).http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559453_2042772_3.png二.复合镀层1. X射线荧光光谱仪(XRF)法:这个一般适用于0.1um~几十um复合镀层。主要需要客户告知镀层的电镀情况,即第一层镀什么,第二层镀什么,同时镀层不能太厚,太厚时需要慢慢打磨镀层然后能XRF确认。如何客户不告知每一层具体成分的话,只有自己根据经验判断。 案例a:客户声称样品基材是锌合金表面电镀铜然后在镀锡,根据谱图显示样品基材是是锌合金表面电镀铜然后在镀锡。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559454_2042772_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559455_2042772_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559456_2042772_3.png 2. X射线能谱仪(EDS)法:这个一般适用于0.3um以上镀层。金相制样后测试截面。案例:金相制样后EDS线扫描测试,根据谱图看出样品基材是铜表面镀镍后在镀铬。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559457_2042772_3.png3.X射线光电子能谱仪(XPS)法,这个适用于表面10nm以上的镀层,分析总厚度小于2μm。如果大于2μm就可以建议用其他方法测试了。因为大于2μm分析时间就比较长,成本比较高。按照一分钟溅射10nm,2μm的镀层就需要3个多小时了。还不算分析时间。案例:样品为一太阳镜表面膜层深度剖析。根据测

  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持,天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪,为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技,并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案,增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司(中国)特举办—— 注:1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司(中国)所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

  • x射线荧光镀层测厚仪辐射问题

    x射线荧光镀层测厚仪辐射问题

    这是仪器图,测试的时候不是全封闭的[img=,533,539]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110131602365972_6501_5389116_3.png!w533x539.jpg[/img]下面这块是空着的[img=,690,656]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110131603259158_972_5389116_3.png!w690x656.jpg[/img]这是原理图,如此相当于X射线照射的时候是在没有挡住的那个地方每次测的时候一个样品三个点,需要人手工挪动,测试时间又很短,一个点15s,也离不了仪器多远好担心辐射问题[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif[/img]

  • 牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪

    牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪,[color=#333333]牛津仪器是一家世界领先的高科技[/color][color=#333333]系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪。X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析,低成本、高效率.牛冿 OXFORD X-strata 920特别适合:PCB行业,电镀行业等做精密无损测试。可测镀金,银,铜,锡,及稀有金属等。[/color][color=#333333][/color][color=#333333]牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪工作性能[/color][color=#333333]1.测量元素范围:钛Ti22---铀U92;2.测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;3.测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;4.快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;5.可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;6.进行贵金属检测,如Au karat评价;7.材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;8.强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;9.结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;10.测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;11.激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;12.拥有NIST认证的标准片;提供全球服务及技术支持。安全性:1.简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权2.主管人员可进行系统维护3.系统自动生成操作员的使用记录4.自动锁定功能防止未授权的操作5.Z轴保护传感器6.安全防射线光闸7.样品室门开闭传感器8.X射线锁9.X射线警示灯10.紧急停止按钮11.前面板安全钮和后面板安全锁八、仪器配置:1.X-Strata920测试主机2.联想ThinkCentre计算机(原IBM)------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包3.17吋戴尔Dell液晶显示器4.佳能Canon彩色喷墨打印机[/color][color=#333333][/color]

  • X射线荧光光谱仪(XRF)、镀层测厚仪专利技术转让,设备OEM

    X荧光光谱仪(XRF)整套技术,含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等)和X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。详细资料请查看本网站链接[url]http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541[/url]已经和国内多家仪器商家建立合作关系,都已量产销售。联系:邮箱midstone[email=oych1128@126.com]@126.com[/email],腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756本人不常在线,最好手机短信联系

  • XRD、XRF看过来!10月14日马尔文X射线技术培训(纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量)

    XRD、XRF看过来!10月14日马尔文X射线技术培训(纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量)

    [font=&][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动,特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货,全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外,活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][/font][b][color=#006600]点击报名 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][font=&][color=#000000][b]背景介绍:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]薄膜,通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域,譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键,最终影响薄膜的物性;对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据,改善薄膜材料性能。[/color][/font][font=&][color=#000000][/color][/font][font=&][color=#000000][b]活动日程:[/b][/color][/font][table][tr][td=1,1,99]时间[/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词,公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]朱京涛,[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]多晶薄膜应力和织构分析[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]王林,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]钟明光,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]熊佳星,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091517508512_6104_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][b][/b][font=&][color=#000000][b]重要内容抢先看:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]【同济大学,朱景涛教授】将分享[b]X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b],主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息;[/color][/font][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区,XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量[b]多晶薄膜的残余应力和织构分析方法[/b];【马尔文帕纳科亚太区,半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在[b]半导体薄膜领域[/b]的专业分析解决方案;【马尔文帕纳科中国区,XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在[b]涂层镀层无损分析[/b]中的应用。[b][color=#336666]专题页面:[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]

  • 【分享】X射线产品(SFT/SEA)教料

    =总 论=◆ 1:什么是X射线◆ 2:关于X射线的安全问题◆ 3:关于X射线衍射装置(XRD)和萤光X射线装置(XRF) ◆ 4:关于萤光X射线装置(XRF) ◆ 5:SII产品的概况(过去与现在)◆ 6:关于能量分散方式和波长分散方式的不同点◆ 7:敝公司X射线装置的特长=分论SFT=◆ 8:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的装置构成◆ 9:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的应用领域◆ 10:用萤光X射线进行镀层厚度测定的原理◆ 11:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的主要客户◆ 12:为什么要进行镀层厚度测定(品质管理) ◆ 13:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的竞争和市场状况=分论SEA=◆ 14:SEA(萤光X射线仪)的装置构成◆ 15:SEA(萤光X射线仪)产品系列的主要应用 (测定例)◆ 16:用萤光X射线进行组成(浓度)分析的原理◆ 17:SEA(萤光X射线仪)的竞争状况

  • 【求助】请教关于钢材镀层的相关RoHS要求,谢谢

    请教: 最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um 表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 请问: 1.RoHS法规对有电镀层的钢合金件要求Pb含量是多少? (1000?or3500?) 2.X射线是否会穿透镀层感应至基体材料?(曾做过一个试验---取两段原材料SUM24L测其Pb为2800PPM,单独化学镀镍5um,再测带镀层的这两支料Pb为200PPM,是否可以证明X射线未穿透镀层?) 麻烦您指点,期盼回复.谢谢!

  • 汽车和航空业锌镍镀层检测用什么光谱仪好?

    锌镍(ZnNi)是一种高性能的镀层,它通常用于汽车、航空航天和国防工业的部件,如燃料线,紧固件,同轴电缆,连接器,和用于与铝连接钢组件。锌镍镀层具有高电导率和优异的耐蚀性能,即使在恶劣的环境中也表现很好。它作为一个屏障,防止基材被腐蚀。锌镍镀层的性能取决于其厚度和组成(通常为10-15%镍和90-85%锌)。控制镀层的厚度和成分能确保镀件满足其功能要求,而且运行成本最小化。[align=center][img=手持式X射线荧光光谱仪,650,506]http://www.yidekeyi.com/UploadFiles/FCK/2016-02/6359138516297462114281240.jpg[/img][/align][b]德国斯派克手持式X射线荧光光谱仪[/b]可以为铁上锌镍镀层检测提供精确和可重复的结果。[b][url=http://www.yidekeyi.com/]手持式光谱仪[/url][/b]的易用性和耐用性使其成为理想的工具,用于在车间对零部件的进货检验,以及对工艺和质量控制。校准软件的通用性也可实现镀液分析(单一和多元素),保证了镀液成分的快速监测。分析结果几秒钟内在[b]手持式X射线荧光[url=http://www.yidekeyi.com/fxyq.html]光谱仪[/url][/b]的屏幕上显示,现场即可判定一个部件是否合格或是否需要修改电镀工艺,大大提高生产力,并节约了成本。

  • 转让【原创】二手X射线荧光元素分析仪

    [font=&][size=18px]出售一台日本进口二手荧光元素分析仪 光谱仪,型号为:SEA6000VX,还有一台日本日立品牌 X射线镀层测厚仪 FT110A,有意者请站短获取联系信息,成色如图实物拍摄[/size][/font]

  • 【求购】采购镀层厚度测试仪

    公司需要采购一台金属镀层测厚仪,主要镀层有Ni\Au\Cr\Zn等,有此类仪器的厂家请与我联系,本人姓魏,0536-5097777转8030邮箱andy@iea.net.cn

  • x射线荧光光谱仪主要用途

    仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 液氨紧急切断阀,氨气紧急切断阀,机械剪板机,

  • 【资料】中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析(扫描清晰版)

    [size=4]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析(扫描清晰版)都是一页一页扫描下来的[color=#DC143C]本书为《中国科学院研究生教学丛书》之一。 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用,以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外,本书还对近年来提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。 本书概念清晰、图文并茂、结合实际,既可作为综合性大学及理工科院校化学及化学工程专业学生和教师的教学用书,也可供从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员参考[/color][/size][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141485]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141487]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141488]中科院研究生教学丛书--X射线荧光光谱分析2[/url]

  • 【好消息】中国仪器仪表学会分析仪器分会X射线荧光光谱分析技术培训5月在北京举办

    X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析,扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及,X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。  X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高,能同时对多元素快速分析等优点,已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来,国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪,由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高,需要掌握其原理,性能和多种应用技术,为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平,充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能,提高分析测试质量,特举办培训班,系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用,欢迎大家前来参加。  [b]一、授课教师[/b]  邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析,主持国家、部、院科学研究项目  [b]二、培训内容[/b]  1、X射线荧光光谱分析基础  2、X射线荧光光谱理论强度计算公式  3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能  4、X射线荧光光谱定量分析  5、X射线荧光光谱分析基体校正  6、X射线荧光光谱定性和半定量分析  7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析  8、X射线荧光光谱分析样品制备  9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用  10、X射线荧光光谱分析不确定度评定  11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用  12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍  13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果  [b]三、培训对象[/b]  各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员  [b]四、培训时间、地点及收费[/b]  2010年5月24日—5月29日 北京  培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等),食宿统一安排,费用自理。 [b] 五、培训考核与发证[/b]  培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费,工本费、邮寄费20元) [b][color=#ec0078] 六[/color][color=#ff483f]、报名方式:010-51299927-101,13269178446,[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

  • 【转帖】镀层性能测试

    镀层性能测试第一节 电镀层外观检验金属零件电镀层的外观检验是最基本﹐最常用的检验方。外观不合格的镀件就无需进行其它项目的测试。检验时用目力观察﹐按照外观可将镀件分为合格的﹑有缺陷的和废品三类。外观不良包括有针孔﹐麻点﹐起瘤﹑起皮﹑起泡﹑脱落﹑阴阳面﹑斑点﹑烧焦﹑暗影﹑树枝状和海绵状江沉积层以及应当镀覆而没有镀覆的部位等缺陷。

  • 【分享】X射线荧光光谱仪主要用途及性能

    X射线荧光光谱仪主要用途: 仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器类别: 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息: 1.发射源是Rh靶X光管,最大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作,真空度13pascals 3.5块分析晶体,可以分析元素周期表F~U之间所有元素,含量范围是ppm~100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时,RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息: 循环水致冷单元,计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

  • 【转帖】X射线荧光光谱仪原理用途

    X射线荧光衍射:利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层电子空位,并同时放射出次级X射线光子,此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差,因此,X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据色散方式不同,X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。 X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。 X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。 X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。 X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

  • 【资料】X射线荧光层析

    [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=154959]X射线荧光层析[/url]

  • 镀层厚度测试

    大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!

  • 【原创大赛】银饰品表面镀层分析

    【原创大赛】银饰品表面镀层分析

    [align=center][b]银饰品表面镀层分析[/b][/align][align=center]黄成(南京质检NQI)[/align] 银饰品由于其款式丰富,克服了其它贵重珠宝首饰高价格的缺点,价格适中,能够紧跟流行时尚,款式精美,精工细作,受到越来越多的消费者的欢迎。但由于银是一种比较活泼的贵金属,在空气中极易氧化变色,因而越来越多的银饰品通过对其表面进行处理,来达到缓解其氧化变色的目的。 目前,为了使银饰品表面呈现的光泽比纯银饰品更光亮,拥有更好的反光效果,在佩戴过程中不易氧化,通常会采用电镀的方法在其表面镀上一层金属镀层。本文主要通过化学分析,对表面含有镀层的银饰品进行破坏性检测,分析其镀层的主要成分。 在对样品进行破坏性检测之前,先通过X射线荧光光谱法定性分析样品成分,如图一所示。从图一中可以看出,通过X射线荧光光谱法,可以很明显的看到该样品中含有锑(Sb)的荧光光谱,说明样品中含有锑,但X射线荧光光谱法并不能够明确表明锑是最后电镀在纯银的表面,还是存在于纯银中。通过查阅资料,在所有的银矿中,硫锑银矿又称“深红银矿”,常见于铅锌银热液矿床中,往往为热液过程最后形成的矿物,是炼银的[url=https://baike.baidu.com/item/%E7%9F%BF%E7%89%A9%E5%8E%9F%E6%96%99][color=windowtext]矿物原料[/color][/url]之一。这说明,存在含锑的银矿,而在银料提纯过程中,是否会发生锑并没有完全被分离,仍有微量的锑存在?[img=,625,504]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251453_01_3048281_3.png[/img] 在实验室中,通过对大量银饰品的分析过程中,经常能够发现银饰品中含有锑,为了进一步判断锑是电镀在纯银饰品的表面,起增加银饰品的光亮度,防止其氧化的作用,还是银料中本身就含有的。而在对其成品进行破坏性分析的过程中,并不能准确判断出锑的存在位置。本文通过同一类银饰品的成品和半成品的进行化学检测对比,简单说明了锑的存在位置。 按照GB/T 21198.5的标准流程,对改银饰品的成品和半成品进行处理,并通过电感耦合等离子体光谱仪进行分析,得到该银饰品的分析数据。图二和图三是该银饰品的成品与半成品的ICP-AES分析数据图。从图二中可以看出,在对成品样品进行ICP分析时,和空白试样进行对比,样品能够明显的检测出锑,存在很明显的峰强度。而再对半成品样品进行分析时,和空白试样进行对比,并没有峰强度。图二和图三的分析结果表明,锑(Sb)是在饰品加工完成后,再在表面电镀上的,其目的是增加其银饰品的表面光亮度、防止其氧化。[img=,690,303]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251454_01_3048281_3.png[/img][img=,690,299]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251455_01_3048281_3.png[/img] 最后,通过对该类银饰品的成品和半成品的进行分析,可以简单判断出锑(Sb)是在半成品的加工完成后,电镀在其表面上,增加银饰品的表面光亮度,防止其在佩戴过程中被氧化,大大提高了银饰品的美观程度和实用程度。

  • 【讨论】x射线荧光测试液体

    看见一些资料说用X射线荧光测试油中的元素,不知道X射线荧光检测水溶液中都元素应用的怎么样呢?还很少看到,不知道谁能否传点资料,给予指教呢?而我们上司感觉很喜欢用X射线荧光来检测液体中元素。而对于仪器的考察我不是很在行,所以想请大家帮忙,新年快乐! 谢谢大家发表意见。

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