时间型次离子质谱仪

仪器简介：LCMS-IT-TOF是岛津公司最新推出的高端质谱仪，并于2005年3月获得了著名的匹兹堡展会新产品银奖。该奖项是本届展会质谱仪整机产品得到的最高奖。这充分表明分析仪器行业对该仪器优越性能的认可。LCMS-IT-TOF的设计理念是根据现有各厂家质谱仪不能同时实现多级质谱功能和精确质量测定，即二者不可兼得的行业现状下，独创一系列关键的独特技术，实现了离子阱质谱和飞行时间质谱的完美结合。从而实现既可以做多级质谱，又能达到高质量精度的强大功能。 LCMS-IT-TOF无论是在有机小分子的结构分析和代谢组学，还是生物大分子的蛋白质组学研究，包括多肽的一级从头测序，蛋白质鉴定，转录后修饰，复杂糖蛋白的分析等，都可以发挥出巨大的应用功能。技术参数：..主要特点：高分辨率和高质量精度 二级反射器和弹道离子提取等的独特技术可以在所有检测模式下达到高分辨率和高质量精度 高通量和快速正负极性转换功能 检测速度快，正负极转换仅用100ms,实现高通量 高灵敏度 压缩离子导入技术使离子高效进入离子阱，实现高灵敏度 高校正稳定性 采用恒温控制装置，保证了高校正稳定性 真正的MSn功能 独特的离子阱导入和导出技术，使离子损耗减小到最低，可以在10级质谱仍保持高质量谱图

谱育科技自主研发的TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪，将高灵敏度化学电离源和高分辨飞行时间质量分析器进行结合，具有灵敏度高、分析速度快、分辨率高、测量组分种类多等突出优点；仪器具有创新的辉光放电源、高压离子漏斗和静电透镜传输技术，保证样品的电离效率和离子的传输效率，适用于走航监测、食品科学、材料分析、爆炸物和药物检测等方面的应用。产品概述性能优势分析速度快微秒级的扫描速度，可捕捉目标物质的瞬时变化，为科学研究、应急监测、生产过程的高通量监测提供有效手段。分辨率高可实现复杂混合物样品中分子量相近物质的分析识别，解决传统低分辨直接进样质谱分析定性难的问题，将“看不见”变成“看得见”，追溯物质本源。多试剂离子可选配合试剂离子快速切换系统，根据目标物质的化学特性，可选择H3O+、O2+、NO+等多种不同电离能的试剂离子进行靶向电离，适测物质涵盖醛、酮、有机硫、有机胺、卤代烃、苯系物、长短链烃类等，是优选的快速检测技术。 应用领域TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪适用于走航监测和园区VOCs在线监测，可实现VOCs精准溯源及扩散预警。可对半导体生产过程中的AMC、食品生产的风味物质进行实时监控；石油化工生产过程中移动测量、定点在线监测；材料中有害成分的快速鉴定分析；人呼出气体的宽动态范围内的追踪分析。

JMS-T100LP 是该系列产品中的最新一代产品，是一种简单、耐用且用途广泛的大气压电离- 飞行时间质谱仪。除了采用LC-MS 离子源中最广泛使用的电喷雾离子源（ESI）之外，还可配备JEOL 独特的电离技术，DART&trade （实时直接分析）和ColdSpray（冷喷雾离子源），能在各个领域提供分析解决方案。

Kore SurfaceSeer S在飞行时间二次离子质谱仪 （TOF-SIMS） 系列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。Kore SurfaceSeer S型号的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µ s TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。SurfaceSeer S 仪器特点：配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；质量分辨率可达 2,500 m/δm (FWHM)；适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。SurfaceSeerS应用领域:表面化学黏附力分层印刷适性表面改性等离子体处理痕量分析（表面ppm）催化剂同位素分析表面污染

飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约 10000amu）。PHI TRIFT V nano飞行时间质谱仪（三次对焦飞行时间）是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zui佳的收集状态，并可同时用于有机和无机表面特征分析。TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束zui先进的设计，允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。PHI TRIFT V nanoTOF是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利时间飞行（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中zui大的角度和能量接受标准，实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI TRIFT V nanoTOF还具有很高的能力，可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。

Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪，具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源，经过一次离子光学系统的聚焦和传输，到达样品表面。样品表面经过溅射，产生二次离子，系统将产生的二次离子提取和聚焦，并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中，不同种类的二次离子由于质荷比不同，飞行速度也不同，在飞行系统分离，通过检测这些离子进行相关分析。SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术，但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µ m，可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制，允许在质谱采集期间扫描离子枪，从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器（SED），用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。带有12.7µ m重复单元的铜格栅SurfaceSeer I 仪器特点：配备25KV液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；具备表面成像和深度剖析功能；提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。表面分析灵敏度高达 1x109 atoms/cm2SurfaceSeer I 应用领域:表面涂层和处理电子元件和半导体电极与传感器润滑剂催化剂粘合剂薄膜等包装材料腐蚀研究大学教学与科研

PHI nanoTOF3+ 特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度 飞行时间二次离子质谱仪新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子设备先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合强度高离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子设备获得证书的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子设备 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子设备FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子具设备备 FIB功能， 可以使用单个离子设备对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

多功能SIMS工具：高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪（SIMS）产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率，已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基，III-V和II-VI族化合物器件、散装物料、薄膜等一系列颇具挑战性的应用进行改良，可充分满足行业对高效器件开发和过程控制的要求。用于解决多种分析问题的关键分析功能IMS 7f-Auto提供了具有高深度分辨率和高动态范围的深度剖析功能。高透射质谱仪与两种反应性高密度离子源（O2+和Cs+）相结合，从而提供高溅射速率和极低的检出限。独特的光学设计可实现直接离子显微镜和扫描探针成像。 提高自动化和作业效率IMS 7f-Auto配有重新设计的同轴一次离子枪筒，可以更轻松、更快速地进行一次离子束调谐，并优化一次离子束流稳定性。新的自动化程序减少了由操作员引起的偏差并提高了易用性。带有自动装载/卸载样品架的电动储存室通过分析链和远程操作提高分析效率。 在高分析效率下实现高再现性借助新型电动储存室和样品转移，IMS 7f-Auto能够分析链式或远程模式下的多个样品。测量可以完全无人值守和自动化，具有高通量和可再现性。可实现很高的可再现性（RSD0.5％）、很低的检出限、高测试效率和高生产率（工具可每天24小时使用，几乎无需操作员干预）。

仪器简介：1. 适合做多层薄膜的深度分析。2. 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。3. 方便使用。4. 样品可以手动转换，由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。5. 我们的系统可配置快速原子枪，使我们可以轻松处理绝缘的样品。6. 我们还可以做元素成像（就象化学地图）和混合模式扫描，自动测量正、负和中性粒子。7. 我们的系统是典型的超高真空工作台，很容易满足很多其它分析的使用。结构紧凑，但不损失性能。真正的高性价比。技术参数：质量数范围：300，510或1000amu分辨率：5%的谷，两个相连的等高峰。检测器：离子计数检测器，正、负离子检测检测限：1:10E7质量过滤器：三级过滤四极杆（9mm杆）主离子枪： A，氧离子或其它气体，能量到5KeV B，Ga离子枪，能量25KeV（选配）空间分辨率：A：100～150um B: 50nm取样深度：2个单分子层（静态） 不受限制（动态）主要特点：? 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 ? SIMS 成像，分辨率在微米以下 ? 光栅控制，增强深度分析能力 ? 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 ? 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至1000amu ? 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ? Penning规和互锁装置可提供过压保护 ? 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

PHI nanoTOF3+特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度飞行时间二次离子质谱仪最新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子枪先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：最大样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子枪获得专利的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子枪 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子枪FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子枪具备 FIB功能， 可以使用单个离子枪对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据（专利）在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

研究级微量元素分析性能与常规易用性相结合，Thermo Scientific&trade iCAP&trade TQ ICP-MS是一种高性能的、具有前瞻性的ICP-MS解决方案。利用三重四极杆（TQ）技术实现简单分析，并提供有惊人的准确度。借助易用的、任何分析师均可操作的、实现技术突破的三重四极杆来扩大应用范围并提高实验室效率。" iCAP TQ ICPMS是真正的无机三重四极杆质谱仪，在硬件中增加了第一重四极杆质量分析器（Q1）同时该质量分析器具有iMS功能设计，可以根据被测元素及其所受到干扰情况的不同，智能设置Q1的分辨率水平，比如1amu或更宽一点的分辨水平，以实现净化进入碰撞反应池（Q2）中样品离子束能力的同时保证分析具有更高的灵敏度水平。 配合软件，让你的分析变得非常简单- iCAP TQ ICPMS采用了最新的Qtegra2.8版本，其中增加了Reaction Finder功能，可以指导初次使用三重四极杆ICPMS的普通用户快速了解并选择最佳的样品分析模式，诸如：特定元素应该选择哪种气体进行干扰物的消除，以及分析过程如何选择内标物等等。一台两用- Thermo Fisher Scientific三重四级杆电感耦合等离子质谱仪iCAP TQ ：“上得厅堂，下得厨房”，可以在TQ和SQ之间切换。使用TQ，系统支持超低检测限和强大的抗干扰能力，适用于分析有挑战性的基质，除了环境、食品等大众行业外，在合金，稀土，材料，半导体行业应用前景更为广阔。 转成SQ，适用于大通量常规检测，通量和iCAP-Q等同，而精度大为提高！这是由于第一级四级杆聚焦能力提高，而使精度提高，为一系列应用提供可靠和可重复的数据。体验研究级分析的益处、扩大实验室的应用组合，确保您的操作员能够由单极四重杆ICP-MS仪器无缝切换为三重四极杆（具有Thermo Scientific&trade Qtegra&trade Intelligent Scientific Data Solution&trade （ISDS））。无论您是否想开拓新市场、突破研究界限或满足未来法规要求，iCAP TQ ICP-MS仪器均是助力您的实验室引领未来新发展的解决方案。具有常规易用性的研究级分析：干扰去除功能强大，即使在最苛刻的基质中也能去除干扰Thermo Scientific系列台式微量元素分析仪器所提供的检出限最低准确度和可重复性令人难以置信；亚ppt级常规分析方法开发简单（无论基质具有多大挑战）稳健、所需工程维护少，因而故障时间最短

TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率（可达到100%），只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂层，玻璃，纸张，金属，陶瓷，生物材料，药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统；在软件方面新增了多元统计分析（MVSA）软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的卓越性能。新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱（SIMS）仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。全新 M6 具有以下突出优势：1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 ( 50 nm)2 质量分辨率 30,0003 独特的延迟提取模式可同时实现高传输，高横向质量4 广域的动态范围和检测限5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件，包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统，可长期无人值守运行

二手Agilent7500ICP-MS电感耦合等离子质谱仪 电感耦合等离子体质谱－ICP-MS，是一种新型的无机元素和同位素分析技术，可快速同时检测周期表上几乎所有元素。ICP-MS技术在分析能力上，超过传统的无机分析技术如电感耦合等离子体光谱技术(ICPAES)、石墨炉原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技术(CVAAS)的总和，被称为当代分析技术,激动人心的发展产品简介安捷伦7700 系列ICP-MS – ICP-MS 仪器的面孔–是商品化ICP-MS。作为安捷伦7500 系列ICP-MS的继承者，7700性能在各方面 筹：分析速度快、操作简便、 敏度高、背景噪音低、消干扰 佳、应用面广、维护方便。无论您是想以 快的速度分析成百上千个基体复杂的样品，还是想要获得高纯试剂中 痕量杂质的可信结果，Agilent 7700 系列ICP-MS 能助您 足当前以及未来的分析需求。 系统 尺寸小的ICP-MS 敏度高的碰撞池-第三代八极杆碰撞/反应池系统(ORS3) 新数字控制式射频匹配的RF发生器纯 He 气碰撞池：只用He气就可以 干扰耐高盐的ICP-MS: HMI TDS3%） ICP离子源 ：数字控制式谐频ICP发生器 溶剂进样不熄火分析速度 快：ISIS-DS 容易维护和清洗 较强的色谱联机功能： 的一体化 功能 多 强的软件：MassHunter系统，实现实时QA/QC偏移标示，自动化控制等主要参数1. 敏度： 低质量数 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 中质量数 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；高质量数 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；根据用户特 需求，可提供 敏度功能 2. 检测限： 低质量数 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 中质量数 In(115): ￡ 0.1 ppt 高质量数 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1 6. 质谱范围：2 - 260 amu； 7 丰度 敏度 ：低质量端: ￡ 5 x 10-7 高质量端: ￡ 1 x 10-7【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

二手Agilent7500ICP-MS电感耦合等离子质谱仪 产品简介安捷伦7700 系列ICP-MS – ICP-MS 仪器的面孔–是商品化ICP-MS。作为安捷伦7500 系列ICP-MS的继承者，7700性能在各方面 筹：分析速度快、操作简便、 敏度高、背景噪音低、消干扰 佳、应用面广、维护方便。无论您是想以 快的速度分析成百上千个基体复杂的样品，还是想要获得高纯试剂中 痕量杂质的可信结果，Agilent 7700 系列ICP-MS 能助您 足当前以及未来的分析需求。 系统 尺寸小的ICP-MS 敏度高的碰撞池-第三代八极杆碰撞/反应池系统(ORS3) 新数字控制式射频匹配的RF发生器纯 He 气碰撞池：只用He气就可以 干扰耐高盐的ICP-MS: HMI TDS3%） ICP离子源 ：数字控制式谐频ICP发生器 溶剂进样不熄火分析速度 快：ISIS-DS 容易维护和清洗 较强的色谱联机功能： 的一体化 功能 多 强的软件：MassHunter系统，实现实时QA/QC偏移标示，自动化控制等主要参数1. 敏度： 低质量数 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 中质量数 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；高质量数 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；根据用户特 需求，可提供 敏度功能 2. 检测限： 低质量数 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 中质量数 In(115): ￡ 0.1 ppt 高质量数 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1 6. 质谱范围：2 - 260 amu； 7 丰度 敏度 ：低质量端: ￡ 5 x 10-7 高质量端: ￡ 1 x 10-7【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

二手Agilent7500ICP-MS电感耦合等离子质谱仪 产品简介安捷伦7700 系列ICP-MS – ICP-MS 仪器的面孔–是商品化ICP-MS。作为安捷伦7500 系列ICP-MS的继承者，7700性能在各方面 筹：分析速度快、操作简便、 敏度高、背景噪音低、消干扰 佳、应用面广、维护方便。无论您是想以 快的速度分析成百上千个基体复杂的样品，还是想要获得高纯试剂中 痕量杂质的可信结果，Agilent 7700 系列ICP-MS 能助您 足当前以及未来的分析需求。 系统 尺寸小的ICP-MS 敏度高的碰撞池-第三代八极杆碰撞/反应池系统(ORS3) 新数字控制式射频匹配的RF发生器纯 He 气碰撞池：只用He气就可以 干扰耐高盐的ICP-MS: HMI TDS3%） ICP离子源 ：数字控制式谐频ICP发生器 溶剂进样不熄火分析速度 快：ISIS-DS 容易维护和清洗 较强的色谱联机功能： 的一体化 功能 多 强的软件：MassHunter系统，实现实时QA/QC偏移标示，自动化控制等主要参数1. 敏度： 低质量数 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 中质量数 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；高质量数 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；根据用户特 需求，可提供 敏度功能 2. 检测限： 低质量数 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 中质量数 In(115): ￡ 0.1 ppt 高质量数 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1 6. 质谱范围：2 - 260 amu； 7 丰度 敏度 ：低质量端: ￡ 5 x 10-7 高质量端: ￡ 1 x 10-7【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

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二手Agilent7500ICP-MS电感耦合等离子质谱仪 产品简介安捷伦7700 系列ICP-MS – ICP-MS 仪器的面孔–是商品化ICP-MS。作为安捷伦7500 系列ICP-MS的继承者，7700性能在各方面 筹：分析速度快、操作简便、 敏度高、背景噪音低、消干扰 佳、应用面广、维护方便。无论您是想以 快的速度分析成百上千个基体复杂的样品，还是想要获得高纯试剂中 痕量杂质的可信结果，Agilent 7700 系列ICP-MS 能助您 足当前以及未来的分析需求。 系统 尺寸小的ICP-MS 敏度高的碰撞池-第三代八极杆碰撞/反应池系统(ORS3) 新数字控制式射频匹配的RF发生器纯 He 气碰撞池：只用He气就可以 干扰耐高盐的ICP-MS: HMI TDS3%） ICP离子源 ：数字控制式谐频ICP发生器 溶剂进样不熄火分析速度 快：ISIS-DS 容易维护和清洗 较强的色谱联机功能： 的一体化 功能 多 强的软件：MassHunter系统，实现实时QA/QC偏移标示，自动化控制等主要参数1. 敏度： 低质量数 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 中质量数 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；高质量数 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；根据用户特 需求，可提供 敏度功能 2. 检测限： 低质量数 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 中质量数 In(115): ￡ 0.1 ppt 高质量数 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1 6. 质谱范围：2 - 260 amu； 7 丰度 敏度 ：低质量端: ￡ 5 x 10-7 高质量端: ￡ 1 x 10-7【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

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二手Agilent7500ICP-MS电感耦合等离子质谱仪 产品简介安捷伦7700 系列ICP-MS – ICP-MS 仪器的面孔–是商品化ICP-MS。作为安捷伦7500 系列ICP-MS的继承者，7700性能在各方面 筹：分析速度快、操作简便、 敏度高、背景噪音低、消干扰 佳、应用面广、维护方便。无论您是想以 快的速度分析成百上千个基体复杂的样品，还是想要获得高纯试剂中 痕量杂质的可信结果，Agilent 7700 系列ICP-MS 能助您 足当前以及未来的分析需求。 系统 尺寸小的ICP-MS 敏度高的碰撞池-第三代八极杆碰撞/反应池系统(ORS3) 新数字控制式射频匹配的RF发生器纯 He 气碰撞池：只用He气就可以 干扰耐高盐的ICP-MS: HMI TDS3%） ICP离子源 ：数字控制式谐频ICP发生器 溶剂进样不熄火分析速度 快：ISIS-DS 容易维护和清洗 较强的色谱联机功能： 的一体化 功能 多 强的软件：MassHunter系统，实现实时QA/QC偏移标示，自动化控制等主要参数1. 敏度： 低质量数 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 中质量数 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；高质量数 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；根据用户特 需求，可提供 敏度功能 2. 检测限： 低质量数 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 中质量数 In(115): ￡ 0.1 ppt 高质量数 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 3. 氧化物干扰: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；4. 双电荷干扰: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1 6. 质谱范围：2 - 260 amu； 7 丰度 敏度 ：低质量端: ￡ 5 x 10-7 高质量端: ￡ 1 x 10-7【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

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CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料：PFA或四氟体积：10、35ml可定制型号：NJ-ZH

质谱分析TOF-SIMS 中，根据分子结构反映的质谱，能更详细的对化学结构进行分析。影像分析影像的分辨率，测量时有种可供选择: 256 x 256 ,512x512, 1024x1024 ，每个像素点都存贮着质谱的信息。测量之后，任伺区域的质谱都可以在後数据处理时提取出来。深度剖析TOF-SIMS 中，经过反复测量和溅射，得到深层的结构。这段期间内，所有的质谱都会被保存，完成测量后，任意深度的质谱都可以在後数据处理时提取出来。三维剖析深度概况的数据源于在深度改变时样品结构的变化，在进行完深度分析後不仅可以拥有内部的信息，三维构筑的信息也可以得到。多功能样品处理样晶托提供了两种类型的标准样晶托，有直径25mm ，样晶在样晶托背面安装并固定( Back-mount) ，能放个样品的样品托，方便对准样晶高度。也有直接在样晶托正面安装样晶，可放置和样晶托一般大小的样晶 (100mm ，方便制样。加热冷却样品托用液氮冷却和用加热器加热样晶台，在-150t 200t 之间可控。样晶托上配有温度感应装置，当样晶在进样室开始，软件即马上显示实时温度回读。另外也可以选配比较高可达600t只做加热的样晶托。

仪器简介：EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。 技术参数：应用： 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点： 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光栅控制，增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 安捷伦7200型GC/Q-TOF(气相色谱/四极杆飞行时间质谱仪)将分离功能强大的7890A GC 和高分辨率的TOF 质谱仪以及高灵敏度的四级杆相结合，全新定义了GC/MS技术，是首台集高分辨定性鉴定与高灵敏度定量分析于一身的气相/质谱系统。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 的功能部件&bull 三个涡轮分子真空泵&bull 旋片式前级泵&bull MS 单独加热的可拆卸 EI 或 CI 离子源&bull 可拆卸离子源 (RIS)，可在仪器中真空损失最小的情况下快速从 EI 转换到 CI 离子源&bull MS 单独加热的双曲面四极杆质量过滤器，可加热到高温，在低 温分析时通常可使污染度降到最低&bull 一个六极杆碰撞池&bull 真空绝热的飞行管，带双级离子镜&bull 高速电子设备，可提高采样速率 &bull 模数检测器&bull GC 单独加热的 GC/MS 接口，在离子源移除期间可自动收回 7200 Q-TOF 包含一个六极杆碰撞池 （覆盖有氮气），以提高离子 碎裂效率，然后进行检测量化。它还包括新的离子光学器件，可在 飞行管和检测器之前聚焦离子。此配置对于许多应用都具有优点。通过使用 MassHunter WorkStation 软件来处理数据，该软件提供了对采集数据的定量和定性分析。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) 重新定义了GC/MS技术的分析性能凭借创新的离子源设计，耐高温的石英质量过滤器，有效的碰撞池，32G/s 的数据采集速率和高温稳定ADC TOF 电子元件，安捷伦7200 Q-TOF 为结构确认分析带来高特异性的检测和很准确的分子式解析，使您信心十足地迎接很艰巨的分析挑战：如代谢组学、食品、天然产物研究、环境保护和能源研究、新型材料和法医/毒理学等。在 TOF 模式下操作时，仪器可获得高分辨率、精确的质量测量和快速完整质谱图的采集。 MS/MS 模式提供高分辨率、精确的质量测量和高灵敏度 的快速完整产物离子质谱图。这些功能使 7200 Q-TOF 成为解决复 杂的分析问题、进行未知化合物的结构解析以及非目标化合物的确认的理想工具。 四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 的工作原理 安捷伦Agilent 7200 Q-TOF 是一个正交飞行时间质谱仪。它在飞行管和检 测器之前使用四极杆和六极杆或碰撞池执行 MS/MS。样品首先通 过电子轰击 (EI) 离子源或化学电离 (CI) 离子源进行电离。电离之 后，离子将通过四极杆质量分析器，质量分析器包括四根平行双曲 面杆，通过这四根平行双曲面杆，可以根据据选定离子的质荷比 (m/z) 来过滤这些选定离子。 通过四极杆的离子随后被引导至碰撞池，该碰撞池设置为选择和碎 裂前级离子以形成产物离子。碰撞池是充满氮气的六极杆，其设计 目的是进行轴向加速，有助于进行高速 MS/MS 分析。碎裂的离子 （或产物离子）将通过切片器传送，这有助于在通过飞行管将离子 流传送到检测器之前聚焦离子流。 所应用的将离子向上传送到飞行管的加速脉冲与离子离开质量分 析器的方向成正交状态。这种几何形状可减小入口速度对飞行时间 的影响，从而提高分辨率。当离子到达飞行管末端时，它们将从反 射器或双级离子镜弹开，朝相反的路径向下回到飞行管底部。模数 检测器位于飞行管的底部。它将计算离子的数量，并将信号发送到 MassHunter 软件以进行数据收集和分析。四极杆飞行时间质谱仪7890A-7200 (Q-TOF) GC/MS 高分辨、精确质量和检测选择性安捷伦 7200 是世界上首款专门针对气质联用系统设计的 Q-TOF（四极杆飞行时间质谱）。7200 完美结合了安捷伦 7890A 气相色谱、7000B 三重串联四极杆气质联用系统和 6500 系列高分辨液相色谱/飞行时间质谱系统的成熟技术。用于气质联用系统的安捷伦 7200 Q-TOF 比四极杆和离子阱系统的灵敏度更高、检测选择性更好，还能提供精确质量信息用于目标化合物、非目标化合物或未知化合物的结构确认。安捷伦 7200 GC/Q-TOF 重新定义了气质联用技术的分析性能，可靠地解决了最棘手的分析难题。

Nu 生产的飞行时间等离子体质谱仪 主要特点： 1、可获得高灵敏度的成熟离子提取和聚焦光学器件2、新型分段反应池，具有多个气体控制器，可消除干扰3、专利的物理离子束衰减器，提高质谱仪的工作动态范围4、变频离子采样，高分辨率飞行时间 (TOF) 质谱仪按应用优化灵敏度5、采用 Bradbury-Nielson 离子门，选择进入TOF的质量数范围6、可靠耐用的MagneTOF检测器，动态范围宽，可在信号超出范围时快速恢复7、快速数据采集和处理电子器件，可为关键应用提供微秒级不间断数据8、可选装全尺寸四极杆，配有专利旁路离子光学，可覆盖整个质量数范围，且无质量偏差

Excitation Process激发过程离子产生和表面灵敏度一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片 只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面，被质量分析器探测出来对于无机材料, 原子离子百分含量 10%对于有机材料，原子和分子离子碎片百分含量可以从 .001% 到 1%只从表面2个分子层激发出的粒子可以以离子态离开表面TOF-SIMS 主要功能采集离子质谱图用于表面元素（原子离子），同位素，分子化学结构（通过分子离子碎片）的表征点或面扫描（2D成像）得到成分分布像，观察不同成分在同一条线或面的分布情况深度剖析和3D成像可以分析不同的膜层结构和成分深度分布信息：多层膜层结构表征，成分掺杂深度，扩散，吸附等表征TOF-SIMS 主要信息所有元素探测– H, He, Li, etc. （H~U)同位素的探测 – 2H, 3H, He, Li, 18O, 13C, etc.详细的分子信息 – 有机和无机分子成像 平行探测–图像中每一像素点都有对应的全质谱表面灵敏 – 样品表面 1-3 个原子 /分子层痕量分析灵敏度高 – 0.1 到 1 ppm 原子浓度快速数据采集 – 通常 1 – 15 分钟 (表面 IMS)高空间分辨率 70 nm （成像模式下） 0.5 μm （保持较好质量分辨率下） 表面物理形貌信息 离子击发出的 SEI （二次电子像） 60 nm 大的立体接收角 ~ 180o可分析所有材料 – 导体，半导体和绝缘材料

Kore Compact EI-TOF-MS紧凑型电子电离飞行时间质谱仪是一款模块化、计算机控制的飞行时间质量分析仪，可作为台式版本提供。该仪器可以很容易地从一个位置运输到另一个位置，例如在汽车或货车中。它为生产和研究应用提供快速、灵敏的气体分析。紧凑型电子电离飞行时间质谱仪EI-TOF-MS易于操作，能够在毫巴至 10 巴的压力下对气体成分进行稳定的长期测量，因此该设备非常适合过程监测、催化研究和反应动力学研究。电子电离 （EI） 是质谱中最早也是使用zui广泛的电离技术之一，已经使用了 100 多年。分析物分子的电离依赖于（通常）70eV电子束在碰撞过程中从分子中去除电子。EI被描述为硬电离；碰撞中的多余能量会产生许多碎片离子。分子和碎片离子的“指纹”或模式可以与丰富的数据库（如NIST）相关联，并允许质谱反卷积。EI电离zui常用于VOC和SVOC的电离。特点：运输Kore EI-TOF-MS的尺寸仅为440 x 280 x 520mm，可运输，可在现场使用（需要230V主电源）。进气系统Compact EI-TOF-MS 标准进样口包括：（1） 用于快速（1 秒）分析无机气体和高浓度 VOC 的毛细管进样入口，（2） 用于提高 VOC 灵敏度（低至 ~50ppb）和无机气体检测的膜进样入口。该仪器可以与气相色谱仪（例如PREFICS）联用，作为快速MS GC检测器，对于定制仪器，我们还集成了一个16端口多位阀，用于工艺气体分析。高时间分辨率模式对于短时间的实验（通常长达 20 分钟），可以将所有检测到的离子的信息流式传输到磁盘，然后以用户想要的实验时间分辨率“回放”数据（并且允许计数统计）。例如，在这种模式下，可以在低至 100 毫秒的时间片上请求完整的质谱图。或者，可以请求任何时间分辨率为 100 毫秒的物质的时间演化图。这种类型的功能可用于从短期实验中提取大多数信息，并且可以使用GRAMS&trade 软件包中的现有GC-MS工具完成。进程监控模式如果实验需要数小时甚至数天进行，连续运行仪器并将每个记录的离子存储到磁盘上是不切实际的。相反，用户可以请求每经过 y 秒的时间获取持续时间为 x 秒的质谱图。然后，该仪器以一种模式运行，其中选定的物质被“实时”绘制在一张图表上，作为经过的实验时间的函数 - 本质上是一种过程监视器类型的操作。对于活体地块，物质事先在设置表中设定。在每个数据点上，完整的质谱图可以保存到磁盘中，因此在实验结束时，用户可以在实验中数据记录频率所决定的时间分辨率下重建任何质量物质的时间演变。选配：加热进气管路进气模块便于运输的软垫木箱应用：催化研究过程监控反应动力学研究挥发性有机化合物监测（环境空气、产品质量控制和测试）洁净室空气质量监测呼气分析食品分析国土安全气味识别（建筑物、工厂等）围栏线监控

Vitesse飞行时间等离子体质谱仪（TOF-ICP-MS）速度快，灵敏度高，选择性强——Nu Instruments宽质量数范围快速数据采集：适合于激光剥蚀成像和纳米颗粒分析灵敏度高：可分析固体样品中的微米级痕量元素特征，测定纳米颗粒物的元素组成分析物选择性强： 分段式反应池针对多元素分析进行了优化物理分辨率高：飞行时间 (TOF) 质谱仪可提供无干扰分析反应池前可选加一个全尺寸四极杆，增强干扰处理能力Vitesse是一种飞行时间电感耦合等离子体质谱仪，它为高速多元素测试应用而专门设计的终极工具，如激光剥蚀成像和纳米粒子分析。通过一系列的样品附件装置，也可以进行高速的传统ICP-MS分析。反应池前可选加一个全尺寸四极杆，用以增加所使用的化学药剂的选择性，增强干扰处理能力。从 ICP 源采样，获得全部或部分质量数范围的同时离子包，几乎不会丢失样品信息。低至 30μs 的快速读取时间，能够测定单个纳米颗粒物中的所有金属元素和大多数非金属元素。在使用最新激光剥蚀系统时，单激光点样品洗出时间为毫秒级，能够实现从微米大小的样品获得宽范围的元素信息或在几分钟内生成几平方毫米的元素图像。通过组合谱图，可获得更好的数据统计，可获得溶液样品的高度精度的元素和同位素组成。Nu Instruments成立于1995年，是电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)、辉光放电质谱(GD-MS)、同位素比质谱(IRMS)、热电离质谱(TIMS)和惰性气体的市场领导者。Nu的高端质谱仪是用于表征各种样品的同位素或元素组成的分析仪器，提供宝贵的信息，如历史，年龄，来源或纯度。Nu的创新质谱仪安装在世界各地的学术界，政府和工业研究实验室，并服务于广泛的应用，如：测定各种地质样品中的同位素比率以提供数据数据，创建生物医学或地质样品的元素图像，测量同位素比率以确定出处，食物样品的起源，测量纳米颗粒大小和确定材料的纯度。Nu于2016年加入AMETEK。Nu的总部，制造工厂和实验室位于英国北威尔士。

系统配置：■PerkinElmerElan6100ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪■PerkinElmerAS系列自动进样器■GilsonMinipuls3蠕动泵■NeslabCFT-75冷却循环机这台仪器状况良好，已经在SpectraLabScientific进行了测试。所有套件和组件均包含90天保修。仪器实物图：Spectralab在分析设备方面拥有专业知识。欢迎您与我们的专业团队进行联系，您的任何咨询我们都会及时进行回复。我们提供大量翻新的色谱和光谱等分析仪器（各种不同配置），拥有大量现货库存可供快速购买并且提供专业的技术支持。

系统配置：■ PerkinElmer Elan 5000 ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪这台仪器状况良好，已经在SpectraLab Scientific进行了测试。 所有套件和组件均包含90天保修。仪器实物图：Spectralab在分析设备方面拥有专业知识。欢迎您与我们的专业团队进行联系，您的任何咨询我们都会及时进行回复。我们提供大量翻新的色谱和光谱等分析仪器（各种不同配置），拥有大量现货库存可供快速购买并且提供专业的技术支持。感谢您的浏览，我们期待着您的回音！