扫描迁移率粒径分析仪

增长方法：CVD合成、转移方法：清洁迁移取样法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和投射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、有机发光二极管、正电子发射断层显像板、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

由化学蒸气沉淀形成，转移到多碳孔支持膜横向电磁场的网格上，石墨烯悬浮没有底层，比碳孔高2微米。石墨烯薄膜生长方法：CVD合成、转移方法：干净转移，质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜批签，大小：3毫米，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,800cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：3,500cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，横向电磁场网格：类型：多孔碳支持膜 ?R2/4，孔大小：2微米，孔间距：4微米，孔直径：3毫米，涂层：镀金。

微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片，蛋白质芯片等微阵列芯片而设计，是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片，如DNA芯片，蛋白质芯片和细胞和组织，并适用于各类型的应用研究，如基因表达，基因分型，aCGH，芯片分析片内，微RNA检测的SNP，蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统，兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm（玻璃基板，塑料，透明和不透明），可以扫描生物芯片，有3 1.mu.m/像素的分辨率，同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟（10.mu.m/像素，最大扫描区域），InnoScan900是市场上最快的扫描器，扫描速率可调节，达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管（PMT），非常敏感，整个工作范围（0至100％）线性完美，允许用户简单地改变PMT，调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统，提供的是不敏感的基板的变形，整个扫描表面上完美，均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能，特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序，四扫描器（710，710 U，900 U和900）。该Innoscan® 900和900AL系列（磁带自动加载机）是专为现在和未来的高密度微阵列发展。

波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小，可以分析宽范围内的波长，也可以测量连续波，飞秒级的脉冲辐射，是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器（分析仪）可以轻易地置入自适应光学系统中使用！波前分析仪测量结果显示：桌面： PV, RMS. 以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差（倾斜、离焦、像散、彗差、球面）。 激光束表征参数。 图形窗口： Hartmannogram图像。 各种相位和光束强度（灰度或调色板）的3D,2D图形分布图，合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。 光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。 不同类型的光束孔径（圆形，椭圆，矩形，多边形）。 对齐选项。 报告以多种格式储存，可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面，界面上有菜单，热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心，教育和研究实验室。 生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。 制造业，使用激光辐射为工具用在不同技术领域，特别是必须要精确控制光束的应用 研究光学测试设备的制造业。 医疗和诊断中心。 范例，该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统（AOS）。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射，然后从可变形反射镜发射，穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。 波前分析仪配件: 光学接口：调整系统，让光束准直可达100 mm。 固定支架上是中性密度滤光器（30%，1%，0.1%，直径25mm，光学质量是λ/ 10）。 平面参考波前源（准直器，一个波长的光纤耦合激光器，固定支架）。 STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格 波长范围, mm 400...1100 传感器的孔径（布局）, mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8) 相机分辨率 744х480 pixels（1 / 3“相机的基础版本） 微透镜阵列参数， （间距，mm-焦距，mm）0.15 - 6（基础版本） 微透镜数 30x18 (42x32) 帧速率 60 Hz 波前精度 波长/ 10 波前动态倾斜范围 波长*50 尺寸 55 x 55 x 70 mm

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察（正置和倒置）扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性： 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。

产品特点：安捷伦微阵列解决方案采用SureScan 高分辨技术的安捷伦DNA 微阵列扫描仪工作流程解决方案* 基因表达谱 — 支持多种模式生物，在全基因组水平上研究基因转录* 比较基因组杂交 — 支持从多种样品类型及 FFPE 组织中进行高分辨率的全基因组水平的DNA 拷贝数变化的分析* 小 RNA — 提供最完善的实验室操作流程和及时更新的微阵列设计方案，分析小 RNA 表达谱并研究其在基因调节中的作用* 染色质免疫沉淀法 — 探讨蛋白质 — DNA 相互作用在转录、复制、修饰和修复过程中的作用* DNA 甲基化 — 提供高分辨率的全基因组甲基化谱，进一步了解哺乳动物 DNA 甲基化和基因调节的机理* 靶向序列捕获 — 结合下一代测序技术，关注感兴趣的关键基因组区域，解决费用问题，实现对基因多样性更加深入的研究订购信息：采用 SureScan 高分辨技术的安捷伦 DNA 微阵列扫描仪产品描述部件号高分辨率微阵列扫描仪系统G2565CA扫描仪升级，从 G2565BA 到 G2565CAG2539A 附件杂交炉旋转架G2530-60029杂交芯片夹（不锈钢）G2534A芯片固定夹, 1 阵列/片5 片/包*G2534-60003 芯片固定夹 , 2 阵列/片5 片/包*G2534-60002 芯片固定夹, 4 阵列/片5 片/包*G2534-60011 芯片固定夹, 8 阵列/片5 片/包*G2534-60014 *提供大包装的同样产品

这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源，非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。 扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能，允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”（x射线）。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦（35千伏和0.1毫安，取决于阳极材料）。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作，包括在同一样品上使用电子束，同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。 电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别，量化，甚至生成痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。 应用： 艺术与考古 石油EDXRF 化学 药物应用 涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶 化妆品 电镀和电镀浴 环境 木材处理应用 食品应用 其他应用 取证 金属和矿石 矿产和矿产品 ?X 规格 阳极类型 端窗传输 目标材料 Ag，Mo＆W 加速电压 10-35kV 光束电流 0-100μA 阳极点尺寸 500μm 准直器尺寸 200μm，500μm，1000μm（其他可选） 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 传导冷却，不需要风扇 控制/安全 可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示。 连接到SEM，键控上电开关，集成高压电源，HV-On灯，警示灯

总览ID OSA是一款适用于研发和生产测试应用的多功能光谱分析仪，在C波段具有皮米级光谱分辨率。它使其成为一种具有成本效益的光谱监测解决方案。具有不同灵敏度的两个输入端口将可用功率范围提高到90dB以上，从而能够准确分析低功率信号和高功率DWDM频带。该装置非常紧凑和坚固，因为它不包含移动部件，也不需要重新校准。它通过USB或以太网接口进行控制。集成的Web服务器允许在不安装软件的情况下通过任何基于浏览器的设备（如智能手机）控制仪器。L波段光谱分析仪（OSA）pm量级光谱分辨率,L波段光谱分析仪（OSA）pm量级光谱分辨率产品特点312.5MHz/2.5pm扫描分辨率动态范围超过50dBC波段操作超紧凑型-1HE半尺寸19“机架堆叠坚固耐用，无需校准USB和以太网接口SCPI风格的远程命令接口提供直观的GUI外部触发器接口集成Web服务器2赫兹扫描速率L–波段支持支产品应用高分辨率光谱分析&check DWDM传输测试OSNR特性调制信号特性收发器测试网络监控通用参数频率扫描范围 频率[THz] 及 波长[nm]C - Band 频率:191.25-196.125THz ,波长:1528.5 – 1567.5 nm L - Band 频率:186.25-191.05THz ,波长:1569.080 - 1609.731Max. 光谱采样范围312.5 MHz 2.5 pm分辨率带宽 ,3dB -20dB1.7 GHz / 13.6 pm4 GHz / 32 pmjue对频率精度+/- 1 GHz 8 pm测量更新率全范围，全分辨率，15.600点2 Update / s光输入功率范围：标准端口高灵敏端口(High Sensivity Port)-30 – +23 dBm -60 – 3 dBm相对功率精度0.4 dBjue对功率精度+/- 0.7 dB杂散动态范围(Spurious Dynamic Range) 45 dB光回波损耗 35dB光输入连接器FC/APC触发输入/输出3.3V TTL (SMA female)数据接口USB, Ethernet工作温度 无冷凝储存温度0 – 40 °C-20 – 60 °C设备尺寸（H x W x D）19英寸半宽1HE堆叠尺寸44 x 205 x 210 mm 1.7 x 8 x8.2 inch重量1.8 kg集成电源100-240 VAC, 80VA, 50/60Hz,40W操作界面背面接口型号说明ID-OSA-MPD-01 OSA主机，C波段ID-OSA-MPD-11 OSA主机，L波段ID-OSA-ACC-RM-01 19英寸机架安装套件，用于每1个HE 1个单元公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。

纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关，采用纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术，通过激光散射装置（纳米观测）与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合，生成纳米颗粒图像，是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理 纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块，可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此，在超显微图像中，较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。 纳米观测模块 纳米观测模块的设计，可以使其安装在超显微镜，顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。 顶眼超显微镜 顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪，模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。 NTA 软件 上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点，要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法，得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量，当我们知道相关的量后，我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如，可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器，可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是，用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。 MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包，被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序，可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。 MiNan是自带Morphious纳米系统的软件，研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状（形态）和浓度的测量。每个粒子是一个个体，但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果，即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高，同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时，粒子尺寸和浓度，蛋白质聚集和粘度都可以被分析。 纳米颗粒分析仪配件应用 ? 在制药或复合产业研发药物 ? 用于病毒筛查 ? 用于开发纳米生物标记物或毒物筛查 ? 用于蛋白质聚集的动力学模型研究 ? 用于通过膜泡的表征研究疾病 ? 用于促进纳米复合材料的发展 纳米颗粒分析仪配件特色 ? 在同一时间多粒子高通量表征 ? 实时视觉展示粒子，允许用户评估试验，无需额外复杂性 ? 方便和易于使用的软件，允许用户通过宏设置任何实验 ? 添加像高通量自动采样器，泵或加热和制冷配件 ? 自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序，操作轻松舒适 ? 超级高效和购买成本低 ? 该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵 ? 激光波长可选择 ? 通过给过滤器添加电动轮，得到自适应荧光分析 纳米颗粒分析仪配件参数 ? 尺寸 10 nm - 2000 nm* ? 浓度 106 - 109 粒子/ mL ? 荧光检测 纳米颗粒分析仪配件规格 温度范围 15-40 °C 电源 230V AC/115V AC, 50/60 Hz 摄像机 USB3 CMOS分辨率：1936x1216 161帧/秒，像素尺寸5.86μm：颜色校准模块 功耗 18W 激光波长 405nm（紫色），488nm（蓝），532nm（绿），642nm（红色） 尺寸范围 从10 nm到2000 nm (取决于材料) 焦点 电脑控制电动调焦 个人计算机 SDD亿康 II SDSSDHII-120G-G25HDD 西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节 GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM 处理器 英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz 显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB 电源 酷冷至尊 G750M 750w 机箱 酷冷至尊黑 软件 Windows® ＆（或更高）.由Mishell® 供电 Mishell是Microptik BV公司的注册商标。 Windows是微软公司的注册商标。 MiNan尖端程序在Mishell下运行，以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子 尺寸（长×宽×高） 20 x 18 x 30 cm 重量 10.5 kg

ML4515 M2激光光束质量分析仪1秒内的M2激光光束质量分析仪是用于测量连续及脉冲激光光束质量参数M2的。它运用高分辨率数字摄像头精确的测定激光光束直径。 beamlux II高级软件包里新M2模块评测出M2为± 3%精度。为预调整产品且易于匹配。当高测量率 5Hz时，激光的测试，调整及优化都可在线进行。规格 CW-扫描测量激光线的整套系统CW扫描系统包括beamlux II CW扫描软件，ML3743摄像头，ML8010电机控制器及一个线型工作台。 FM100焦点监测器适用于高功率密度激光光束及激光光斑FM 100焦点监测器是一个小型光束质量分析仪系统，它由标准ML3743摄像头，ML1201 beamlux II 高级软件及高功率衰减器组成。可高精度地评估高达100W的激光光束及激光光斑。中性密度滤光镜可轻易的变换，以便降低功率来适应CCD摄像头的标准（滤光轮可选）。放大率在5x, 10x, 20x的近场透镜适用于Nd Yag和准分子激光器。特点高功率激光器适用高功率密度激光光斑适用紧凑型装置中性密度滤光镜可互换高放大倍数及高数值孔径的近场透镜规格

磁性样品扫描电镜（SEM）观察不可或缺的工具！通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染，实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。磁性样品SEM效果图产品原理 超薄窗采用半导体工艺制造，表面经处理后，可具亲水性、疏水性或双性兼具，以满足不同的应用需求；分析时，所观察的样品自动紧贴超薄窗，从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计，液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化，获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计，提高使用效率，1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。 使用简便采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。

ACC-H3D-PS18 电源适配器 ：电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

美国TSI 8533，美国TSI 8534颗粒物分析仪，优点，办事处，说明书，操作手册，现货销售热线：15300030867，13718811058，张经理锂离子可充电电池内置和外部电池充电功能可更换鞘气和泵的过滤器测试暂停和重启功能彩色触摸屏 记录测试可编程- 具有手动模式和程控模式- 通过电脑的TRAKPROTM数据分析软件瞬时报警设置，可采用听觉和视觉报警实时数据图形显示可以在采样进行中和采样后查看统计数据 屏幕状态显示标示：流量，激光和滤膜滤膜服务指示器可以进行预防性维护美国TSI 8533，美国TSI 8534颗粒物分析仪，优点，办事处，说明书，操作手册，现货,产品参数型号8533台式 8534手持式传感器类型90光散射气溶胶浓度范围 0.001～150mg/m3 0.001～150mg/m3显示内容PM1,PM2.5，可吸入颗粒物，PM10和全粒径显示。全部同时显示分辨率±0.1%读数，0.001mg/m3取大值零点稳定度±0.002mg/m3 24小时，10秒时间长数粒径范围0.1～15μm流量3.0L/min流量准确度出厂设置点的±5%，内置流量控制温度系数+0.001mg/m3/℃操作温度0～50℃储存温度-20～60℃操作湿度0～95%相对湿度，无凝结时间常数 用户可调节，1到60秒数据记录5MB内存(60,000数据点)1分钟采样间隔，可记录45天记录间隔可调节，1秒到1小时外形尺寸(HWD)13.5x21.6x22.4厘米12.5x12.1x31.6厘米通讯USB，以太网，使用U盘存储数据USB，使用U盘存储数据交流电源115～240VAC模拟输出用户可选，0～5V或2～20mV用户可选择范围比例--报警输出继电器或蜂鸣器继电器听得见的蜂鸣屏幕5.7in，VGA彩色触摸屏3.5in，VGA彩色触摸屏称重采样可更换37mm滤盒(用户提供)--CE规格Immunity：EN61236-1:2006Emissions：EN61236-1:2006

土壤颗粒分析吸管分析仪 吸管法由上海书培实验设备有限公司提供，产品规格齐全，土壤颗粒组成（粒径分布）比重计法测定装置土壤分析土壤颗粒分析(吸管法)测定装置使用说明书型号：FX-1 编号：P880780 土壤基质中含有不同数量的各级土粒，完善的表达方式是用粒径分布曲线，一般用对数坐标。曲线的横坐标为粒径 d(mm)，纵坐标为单位质量土样小于某一粒级土粒含量的累积百分数，如以粘土、粉砂壤土和砂壤土为例，图示：一、分析原理 粒径分析目前zui为常用的方法为吸管法和比重计法。吸管法操作虽然繁琐，但精确度较高，计算也比较简单。无论是采用吸管法还是比重计法，土粒的粒径分析大致分为分散、筛分和沉降三个步骤。1、土粒的分散 田间或自然土壤，除风砂土和碱土外，绝大部分或全部都是相互团聚成粒径不同的团粒，微团粒是粘粒直接凝聚而成，粗团粒则主要由腐殖质和某些情况下土壤的石灰物质、游离铁的作用胶结而成。在中性土壤中主要是交换性 Ca2+起作用，在酸性土壤中还有交换性 Al3+的作用，土壤溶液中盐类溶质浓度高也促使粘粒团聚。因此传统的分散处理包括用 H2O2－HCl 处理和添加含 Na+的化合物作为分散剂。H2O2的作用是为了破坏有机质，稀 HCl 的作用是为了溶解游离的 CaCO3和其他胶结剂，并用 H +代换有凝聚作用的 Ca2+、Al3+ 等离子和淋洗土壤溶液中的溶质。交换性 H +也有凝聚作用，必须用分散粘粒的 Na+代换之，所用 Na+的数量不能过多，不能超过土壤的交换量。 凡此种种，不仅手续繁杂费时，且在稀 HCl 淋洗中，也可能淋出一部分粘粒的组分，如无定形的二三氧化物和水合氧化硅等。因此需要收集稀 HCl 淋洗液进行化学分析测定。更重要的是腐殖质和碳酸盐也是土壤固相的一部分，若去除它们则与田间情况不一致。因此近年来常对供分析的土样直接投入可固定 Ca2+、 Al3+离子的 Na 盐，通常是酸性土壤加氢氧化钠，中性土壤加草酸钠，碱性土壤加六偏磷酸钠。然后用各种机械的方法进行搅拌，使其分散完全。常用的方法是煮沸法，也有用震荡法或高于大气压的气流激荡的方法。 2、粗土粒的筛分 粒径大于 0.6mm 的粗土粒，用孔径粗细不同的筛，相继筛分经分散处理的土样悬液，可得到不同粒径的土粒数量。根据标准筛的情况，筛孔＞o.6mm 允许 5%的筛孔偏离规定值，筛孔孔径在 O.6mm～0.125mm 之间为 7.5%，筛孔孔径＜O.125mm 则可高达 10%。所以，常规粒径分析应该只对＞0.25mm 的土粒进行筛分，但由于＞0.1mm 的土壤颗粒在水中沉降速度太快，用吸管吸取悬液常常得不到较好的结果，因此筛分范围可放宽到 0.1mm，即对＞0.1mm 的土粒进行筛分。 3、细土粒的沉降分离 无法筛分的细土粒(＜0.1mm＝依据司笃克斯(G.G.Stokes)定律，按土粒在水中沉降的快慢区分不同粒 2 径的土粒。颗粒在真空中沉降不受任何阻力，只是受重力作用而呈现自由落体运动。在水中沉降除重力作用外，还受与重力作用方向相反的摩擦力作用。摩擦力 Fr 应等于：Fr＝6πηｒυ 式中：η－水的粘滞度(g/cms)；ｒ－颗粒半径(cm)；υ－颗粒沉降速度(cm/s) 颗粒开始沉降，沉降速度随时间增大，摩擦力 Fr 也随之增加，当颗粒所受摩擦力与所受重力在数量上相等时，这时沉降速度不再增加，颗粒以均速(沉降速度)沉降，这时的沉降速度称为终端速度。颗粒所受重力 Fg 可由下式计算：Fg＝4/3 πｒ 3 (ρs－ρf)g 式中：4/3 πｒ 3 是球体颗粒的体积；ρs为颗粒密度(g/cm3 )；ρf为流体(水)的密度(cm/s3 ) g 为重力加速度(981cm/s2 )。当 Fr＝Fg 时可得：υt＝d 2 (ρs－ρf)g / 1800η 式中：υt为终端速度；d 为颖粒直径(mm) 假定沉降速度几乎在终端过程一开始就立即达到，则可计算一定直径颗粒沉降到深度 L(cm)所需时间 (s)：t＝1800Lη / d 2 (ρs－ρf)g 利用沉降法进行颗粒分析，应注意以下几点假设：(1) 颗粒是坚固的球体且表面光滑； (2) 所有颗粒密度相同； (3) 颗粒直径应大到不受流体(水)布朗运动的影响；(4) 供沉降分析的悬液必须稀释到颗粒沉降互不干扰，即每一个颗粒的沉降都不受相邻颗粒影响；(5) 环绕颗粒的流体(水)保持层流运动，没有颗粒的过快沉降引起流体的紊流运动。 以上几点：除(3)、(4)可以大致满足外，(5)很难完全保证，(1)、(2)两条根本无法满足。细土粒不是球形的(大多为扁平状)，表面也不光滑，其密度也不相同，只有大多数硅酸盐的密度在 2.6～2.7 之间，其他重矿物和氧化铁的密度可达到 5.0g/cm3或更高，所以粒径分析只能给出近似的结果。 具体测定各级细土粒的方法，可根据司笃克斯定律，按以上公式计算某一粒径的土粒沉降到深度 L(L 一般取 10cm)所需的时间。在测定前用特制的搅拌棒均匀地搅拌颗粒悬液(见测定步骤)，在沉降一开始记时，按以上公式计算的沉降时间用移液管在深度 L 处缓缓吸取一定容量的悬液，烘干称重，由此可计算小于某一相应粒径土粒的累积量。两次测定的累积量相减可得某一粒径范围的土粒量。二、试剂配置 1、氢氧化钠溶液[c(NaOH)＝0.5molL -1]：20g 氢氧化钠(NaOH，化学纯)溶于水，稀释至 1L(用于酸性土壤)；2、草酸钠溶液[c(0.5Na2C2O4)＝0.5molL -1]：35.5g 草酸钠(Na2C2O4，化学纯)溶于水，稀释至 1L(用于中性土壤)； 3、六偏磷酸钠溶液{c[1/6 (NaPO3)6]＝0.5 molL -1}：51g 六偏磷酸钠[(NaPO3)6，化学纯]溶于水，稀释至 lL(用于碱性土壤)；4、盐酸溶液[c(HCl)＝o.2molL -1]：16.6mL 浓盐酸稀释至 1L； 5、盐酸溶液[c(HCl)＝o.05molL -1]：4.2mL 浓盐酸稀释至 1L；6、盐酸溶液[φ(HCl)＝10%]：10mL 浓盐酸稀释至 100mL；7、过氧化氢溶液[ω(H202)＝6%]：200mL 过氧化氢[ω(H202)＝30%]稀释至 1L；8、氢氧化铵溶液[φ(NH40H)＝10%]：10mL 氨水稀释至 100mL； 9、硝酸溶液[φ(HN03)＝10%]：10mL 硝酸(HN03,ρ＝1.42gcm -3)稀释至 100mL； 10、乙酸溶液[φ(CH3COOH)＝10%]：10mL 冰乙酸稀释至 100mL；11、草酸铵溶液{ρ[(NH4)2C2O4]＝40gL -1}：4g 草酸铵[(NH4)2C2O4，化学纯]溶于水稀释至 lOOmL； 12、硝酸银溶液[ρ(AgN03)＝50gL -1]：5g 硝酸银(AgN03，化学纯)溶于水稀释至 100mL； 13、异戊醇[(CH3)2CHCH2CH2OH，化学纯]；14、浓硫酸(工业用)(H2S04，ρ≈1.84gL -1)。三、仪器结构该测定装置主要由吸管、吸管架、沉降筒(1000ml 量筒，直径约 6cm，高约 45cm)、分样筛(2mm)、洗筛 (直径约 6cm，筛网孔径 0.2mm)、两通活塞、小漏斗、搅拌棒、橡皮头玻棒、真空泵等组成。四、测定步骤1、样品处理(1) 大于 2mm 石砾的处理：称取一定量原始土样 3 份，将大于 2mm 石砾按不同粒级(见附表，不同分级制有不同分法)分开，分别放入蒸馏水煮沸若干次，直至石砾上的附着物完全去净。将石砾移至称量瓶中，放入烘箱烘干称重。(2) 吸湿含水率的测定：称取 6 份(如作脱钙处理，需称取 7 份)过 2mm 筛的定量风干土样(根据测定前对土样质地的估计，通常粘土用 10.00g，其他质地 20.00g 或更多)，其中 3 份放人 105℃～110℃的烘箱烘至恒重(至少 6h 以上)，计算土样吸湿含水率。(3) 去除有机质：对有机质含量较高的土样，分散前应去除有机质。将 4 份风干土样(如不作脱钙处理则为 3 份)分别放人 250mL 的高型烧杯中，加少量蒸馏水使土样湿润。然后加入过氧化氢(试剂 7)20mL，用玻璃棒搅拌，使有机质充分与 H202接触反应。反应过程中会产生大量气泡，为防止样品溢出可加异戊醇消泡。过量的 H202用加热方法去除。(4) 去除 CaCO3 ：根据粒级分析的不同目的，也可用 HCl 脱钙。小心加入 c(HCl)＝0.2 molL -1溶液于土样中，直到无气泡发生。HCl 脱钙过程中应随时除去样品上面的清液，以保证盐酸的浓度。如样品碳酸钙含量高，可适当加大 HCl 的浓度。 经 c(HCl)＝0.2 molL -1溶液处理的样品，需再用 c(HCl)＝0.05 molL -1溶液淋洗 Ca2+。为缩短淋洗时间，每加入一定量 c(HCl)＝0.05 molL -1稀溶液，待滤干后再加入少量稀 HCl 继续淋洗。取淋洗液 5mL 于小试管中，滴入氢氧化铵溶液(试剂 8)中和，再加数滴乙酸溶液(试剂 10)成微酸性溶液，加入几滴草酸铵溶液(试剂 11)稍稍加热。若有白色 CaC204沉淀，说明样品中仍有 Ca2+存在，需继续加稀 HCl 淋洗，直至没有 CaC204沉淀为止。 去掉 Ca2+的土样，还需用蒸馏水淋去多余的 HCl 和其他氯化物。为此，再取少量(5mL)淋洗液于小试管中，加入硝酸溶液(试剂 9)数滴使滤液酸化，再加入硝酸银溶液(试剂 12)l 滴～2 滴，若有白色 AgCl 沉淀， 4 则需继续淋洗，直至无白色沉淀为止。 用蒸馏水淋洗样品，随电解质的淋失，土壤趋于分散，滤液渐趋混浊，说明这时土样中的 C1－含量已极微，可立即停止淋洗，以免土壤胶体损失，影响分析结果。 取一份上述处理过的样品于已知重量的容器(如烧杯)中，先在电热扳上加热蒸干水分，再放人烘箱，在 105℃～110℃下烘至恒重，称重计算 HCl 洗失量。2、制备悬液 将上述处理后的另 3 份样品(如不需去除有机质和 CaCO3，直接用过 2mm 筛的定量风干土样)全部转移到 500mL 三角瓶中，根据土壤的酸碱度，每 10g 样品，酸性土壤可加 c(NaOH )＝0.5 molL -1溶液 10mL，中性土壤可加 c(0.5Na2C2O4)＝0.5 molL -1溶液 10mL，碱性土壤可加 c[1/6 (NaPO3)6]＝0.5 molL -1溶液 10mL。浸泡过夜，然后加蒸馏水至 250mL，盖上小漏斗，将悬液在电热板上煮沸，在沸腾前应经常摇动三角瓶，以防止土粒结底，保持沸腾 1h。煮沸时特别要注意用异戊酵消泡，以免溢出。 分散好的样品转移到 1000mL 的沉降筒中。转移前，沉降筒上置一直径 7～9cm 的漏斗，上面再放一直径 6cm，孔径 0.2mm 标准筛，将分散好的土样全部过筛，并用橡皮头玻璃棒轻轻地将土粒洗擦，用蒸馏水冲洗标准筛，全部样品转移后，将标准筛放入事先装有适量蒸馏水的大烧杯中上下荡涤，确认小于 0.2mm 直径的土壤颗粒全部转移到沉降筒中。特别注意冲洗到沉降筒的水量不能超过 1000mL，然后加蒸馏水到沉阵筒中定容 1000mL 备用。 在小于 0.2mm 孔径的土样颗粒全部转移到沉降筒后，将洗筛上的土粒转移到小烧杯中，倾去清水，在电热板上蒸干，放入 105℃～110℃烘箱中烘至恒重；称量计算 2mm～0.2mm 土粒含量。3、细土粒的沉降分析 测量实验室当时的水温，按水温计算 0.02mm、0.002mm 土粒沉降至 10cm 处所需的时问。用搅拌棒搅拌悬液 1min，搅拌悬液时上下速度要均匀，一般速度为上下各 30 次。搅拌棒向下时一定要触及沉降筒底部，使全部土粒都能悬浮。搅拌棒向上时，有孔金属片不能露出液面，一般至液面下 3～5cm 即可，否则会使空气压入悬液，致使悬液产生涡流，影响土粒沉降规律。沉降时间以搅拌结束为起始时间。 用吸管吸取悬液操作，事先应反复练习，以避免实际操作时的失误。 吸取悬液的负压气源以-0.05MPa 为宜，有各种稳压装置，这里不再介绍，zui简单的方法是用洗耳球代替。吸液时，应在吸取悬液前 20s 将吸管放入沉降筒规定的深度，在吸液时间前 10s 接通气源。 吸管中悬液全部移入 50mL 的小烧杯内，并用蒸馏水冲洗吸管壁，使附着在吸管壁上的土粒全部冲入小烧杯内，然后将小烧杯内的悬液在电热板上蒸干(特别小心防止悬液溅出)，再移至 105℃～110℃的烘箱内烘至恒重，称量(感量 0.0001g)并计算各粒级的百分比。4、分散剂空白测定吸取 10mL 分散剂，放人沉降筒中，定容至 1000mL，搅匀，和样品同样吸取 25mL 于已知质量的 50mL 烧杯中，蒸干，烘至恒重。五、结果计算一般以烘干土为计算基础，但对有机质、碳酸盐较高的土壤，可用经盐酸、双氧水处理过的烘干土为计算基础，其洗失量不包括在各级颗粒含量之内，另列一项供参考。(1) 吸湿水％＝(m1－m2)/m2 × 100(2) 洗失量％＝(m2－m3)/m2 × 100(3) 3.2mm～0.2mm 颗粒含量％＝m4 /m2 × 100(4) 0.02mm～0.002mm 颗粒含量％＝(m5－m6)×ts /m2 × 100(5) ＜0.002 颗粒含量％＝(m6－m7)×ts /m2 × 100(6) 0.2mm～0.02mm 颗粒含量％＝100％一[(2)十(3)十(4)十(5)]％式中：m1 —— 风干土质量 gm2 —— 烘干土质量 gm3 —— 经盐酸双氧水处理后烘干土质量 g 5m4 —— 2mm～O.2mm 颗粒质量 gm5 —— ＜002mm 颗粒与分散剂质量 gm6 —— ＜O.O02mm 颗粒与分散剂质量 gm7 —— 分散剂质量 gts —— 分取倍数 1000/25 ＝ 40测定允许误差：吸管法允许平行误差：粘粒级＜1％；粉砂粒级＜2％。附表： 各种土壤粒级划分方案 注意：本图中水银压力表已改用真空压力表显示调压指示表已改装直管式水银压力表显示配 置 清 单1、 机械分析吸管架 1 套2、 吸管(易损件,多配备用) 2 支3、 真空泵 1 台4、 水银压力表(已改用真空压力表显示) 1 套5、 调压指示表(已装直管式水银压力表) 1 套6、 缓冲瓶(5000ml,配橡皮塞) 1 只7、 真空瓶(2500ml,配橡皮塞) 1 只8、 保险瓶(2500ml,配橡皮塞) 1 只9、 洗气瓶(500ml) 2 只10、两通活塞(易损件,多配备用) 2 只11、洗筛(0.2mm) 1 只12、沉降筒(1000ml,多配备用) 8 只13、搅拌棒 1 支14、橡皮头玻棒 1 支15、三叉玻管 4 只16、三角漏斗(80x140,Φ7mm) 1 只17、管夹 6 只18、塑料连接管(6x9mm) 1 套19、橡胶连接管(6x9mm) 1 套20、土壤筛(2mm,含底盖) 1 只21、使用说明书 1 份自备件：蒸馏水下口瓶 1 只、秒表 1 只、温度计 1 支、烧杯(50ml) 10 只、水银 150g、墨水(红蓝)

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场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

总览扫描镜用于激光材料加工，使激光束在工件上快速灵活地移动。 它们的背面通常被磨成片状。 由于这种特殊的设计，它们非常薄且轻，以实现方向的快速改变。扫描镜是 LAYERTEC 产品系列的重要组成部分。 为此目的开发的层设计提供了高性能稳定性和必要的反射角不变性。 尤其是金属基镜与介电层的组合可增加功率激光器的反射率，从而允许在加工区域区域直接成像。LAYERTEC 激光反射扫描镜 (用于材料加工),LAYERTEC 激光反射扫描镜 (用于材料加工)通用参数扫描镜按型号9条型号规格正/背面形状及涂层涂层参数Turning Mirror 103512Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRu(22.5°,355nm)99%Scanning Mirror 100490Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(0-45°,420-670nm)99.9%Turning Mirror 168353Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(0-45°,420-670nm)99.9%Scanning Mirror 111448Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,470-490nm)99.8%Scanning Mirror 100542Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,532nm)99.9%Turning Mirror 107010Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,633nm)99.95%HR(0°,580-745nm)99.95%HRs,p(45°,545-660nm)99.95%Scanning Mirror 126680Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(22.5-45°,960-1090nm)99.9%Scanning Mirror 112673Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 3.05  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRu(0-45°,1064nm)99.8%Scanning Mirror 100482Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRu(0-45°,1064nm)99.8%扫描镜 按涂层波长共7条类型波长范围R(反射率)T(透射率)D(群延迟色散)入射角偏振规格种类HR355  nm  99  %22.5°unpol.1HR420  -  670  nm  99.9  %0  -  45°s,p-Pol.2HR470  -  490  nm  99.8  %0  -  45°s,p-Pol.1HR 532  nm  99.9  %0  -  45°s,p-Pol.1HRHRHR633  nm580  -  745  nm545  -  660  nm  99.95  %  99.95  %  99.95  %0  -  45°0°45°s,p-Pol.unpol.s,p-Pol.1HR960  -  1090  nm  99.9  %22.5  -  45°s,p-Pol.1HR1064  nm  99.8  %0  -  45°unpol.2公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机

HS6298B+噪声测试频谱分析仪 产品介绍 HS6298B+型噪声频谱分析仪既是一种测量指数时间计权声级的通用声级计，又是能测量时间平均声级的积分平均声级计和测量声暴露的积分声级计，它还能测量累计百分声级（统计声级），其性能符合GB/T17181-1997、GB/T3785和IEC61672-2002标准对1级声级计的要求，同时也符合IEC1260和GB/T3241-1998对1级倍频程滤波器的要求，适用于各种工业环境噪声测量及环境噪声普查测量，尤其适用于对噪声进行频谱分析。对射频场敏感度属X类。 主要功能和特点 1. 具有内置1/1倍频程滤波器。可手工及自动扫频测量。自动扫频测量数据可自动保存12组。 2. 有积分及统计功能，单组测量数据储存可达800组，整时测量可达6天。储存的数据可以调阅及打印。整时测量暂停时 可以检查已采数据。 3. 采用数字检波技术替代以往一些传统的数字声级计，稳定性和可靠性大大提高。 4. 采用大屏幕显示，显示清晰直观。有动态刻度显示。 5. 可以通过RS-232接口与计算机或打印机连接，数据可显示、打印输出，也可送计算机进行分析处理。 主要技术性能 1 传声器：Ф12.7mm（1/2&Prime ）测试电容传声器 2 频率范围：10Hz~20kHz 3 频率计权：A计权、C计权、Lin(线性) 4 测量范围：25dB~130dB（A） 5 量程控制：手动，分三档，线性范围&ge 60dB。 6 量程范围：25dB &ndash 90dB（动态刻度显示10-100） 50dB &ndash 110dB（动态刻度显示30-120） 70dB &ndash 130dB（动态刻度显示50-140） 7 仪器精度：符合IEC61672 1级或GB3785 1型 8 时间计权：快（F）、慢（S）对数平均及线性平均 9 混响测量 0.1 &ndash 15.0 秒 10 滤波器： 内置1/1倍频程滤波器。 11 显示：大屏幕动态液晶显示，瞬时声级，具有模拟电表显示。 12 输出接口：交流信号输出、RS-232接口。 13 校准：使用1型声级校准器或活塞发声器。 14 电源：内部用LR6（5#）碱性电池，可连续工作24小时。外接电源6V50mA。 15 外形尺寸：l× b× h(mm):230× 72× 30 16 质量：300g（连电池） 17 使用条件：-10℃~50℃

90200 高氯酸镁 90210 碱石棉 14072 陶瓷热保护罩 14130 燃烧管 11180 过滤器 11185 纸质过滤器 90270 舒茨试剂 71030 清扫刷 70120 O型圈 提供所有埃尔特分析仪上用进口备件和耗材，所有产品现货供应。 服务热线：4000-180-007

石墨烯膜增长方法：CVD合成、质量控制：光学显微镜&拉曼检测，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子在三氧化二铝上的迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管在二氧化硅上的电子迁移率：4,000cm2/Vs,电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm。

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm。

单层石墨烯膜增长方法：CVD合成、质量控制：光学显微镜&拉曼检测，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子在三氧化二铝上的迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管在二氧化硅上的电子迁移率：4,000cm2/Vs,电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，基材铜铝箔：厚度：18μm。

高精度XRF分析仪配件M3L是专为固定和移动实验室检测设计的X射线荧光光谱分析仪, XRF Analyzer。它具有轻元素（钠，镁，铝，硅）测量极高灵敏度，配备了氦气吹扫通道系统（在大气压0.5-1atm下，流量为30-45ml/分钟）。高精度XRF分析仪配件M3L特色具有宽敞测量室，室内安装有用于大尺寸样品分析的照明灯。内置热敏打印机可直接打印输出测量数据。内置通风系统和过滤元件加强了防尘保护。 高精度XRF分析仪配件M3L特点 对每一种金属组件进行成分分析 快速可靠地识别所有合金级别 评估钢和铸铁中的碳含量 分析特殊合金，包括钛、镁、镍/钴，等 测量合金中的贵重的金、银和其他贵重的金属含量高精度XRF分析仪M3L度量数 从12mg镁到92U铀（可选11Na），在一个单一的测量中同时确定元素 被测元素的含量范围0.005-100 % 元素检测限制-1ppm 测量时间- 少于1分钟。 （一般为10- 30秒。）高精度XRF分析仪配件M3L规格 操作持续时间 自备电源内部系统的时间 电源-交流电，50 / 60Hz 功耗测量单元 操作温度范围 工作温度范围内的相对湿度 测量室尺寸 所测样品的最大重量 测量单元尺寸 测量单元重量 无限 至少6小时 100-240 V 50 W +10C to +45C 90% 300x150x240 mm 20 kg 412x312x312 mm 16 kg

蔡司ZEISS标记点，GOM三维扫描仪标记点，GOM标记点，三维扫描仪标记点

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌