玻璃饮料厚底厚测厚仪

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玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的厂商

  • 厚礼博精密仪器(北京)有限公司是全球顶级热式质量流量控制器(MFC)制造商HORIBA STEC的全资子公司,以研发、生产、销售热式质量流量控制器为主业的高新技术企业。公司采用HORIBA STEC的国际先进技术,以日本品质、中国制造为宗旨,研发、生产、销售具有国际标准并符合国内市场的质量流量控制器。产品广泛应用于太阳能光伏、分析仪器、光纤、真空镀膜等领域,同时在石油化工、热处理、冶金、食品制药等领域也有充分的运用。
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  • 宁波厚亨仪器科技有限公司是一家专业从事计量器具、仪器仪表、检测设备、实验分析仪器研发、销售、技术服务与一体的综合型高科技企业。公司始终坚持以“质量赢得市场,服务铸就品牌,科技改变世界”为经营理念。以“顾客始终满意”为目标与您携手共进。公司自成立以来始终坚持以市场变化为导向、以客户为中心发展各类实验室检测仪器。现已发展成为客户提供全套实验室计量检测设备的专业供应商。目前公司主营产品有影像投影类、材料力学类、材料元素分析类、金相分析类、硬度检测类、三维测量类、工艺试验类、塑料橡胶检测类、环境实验类、状态模拟实验类、无损探伤类、外形轮廓检测类、工量具类、自动化流水线检测类、非标测量检具定做等15大类型产品。为更好的服务客户,公司在全国主要城市均设立有技术服务处。同时公司与全球多家检测设备生产厂家强强联合,把世界上好的计量检测设备带到中国来,为中国的科技发展架起桥梁!我们坚持“以客户始终满意”为目标,为客户提供全面的计量检测方案!
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  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的仪器

  • 玻璃瓶底测厚仪 400-860-5168转3947
    玻璃瓶底测厚仪玻璃瓶在我们的日常生活和工业生产中有着广泛的应用。从食品包装到化学试剂,再到医疗用品,玻璃瓶在其中都扮演着重要角色。为了确保玻璃瓶的品质和安全性,对其壁厚的精确测量显得至关重要。玻璃瓶壁厚测量仪具有许多优点。首先,它能够提供高精度的测量结果。其次,这种测量仪能够快速地完成大量样本的测量,大大提高了生产效率。此外,该设备它不会对样品造成任何损伤,同时也减少了仪器的磨损和维护需求。除了上述优点外,实际应用中的玻璃瓶壁厚测量仪通常还具有其他独特的功能。仪器能够对大量的测量数据进行实时分析,从而发现可能的质量问题。总的来说,玻璃瓶壁厚测量仪是一种对玻璃瓶制造业和相关行业十分关键的设备。它能够提供精确、快速且非破坏性的壁厚测量,确保了玻璃瓶的质量和安全性。这种设备的广泛应用,无疑为我们的生产生活提供了极大的便利和保障。无论是食品包装的品质控制,还是医疗用品的精确测量,玻璃瓶壁厚测量仪都发挥着不可或缺的作用。 技术参数 厚度范围 0-12.5mm 分度值 0.001mm 样品直径 高杆:5-230mm(其他尺寸可定制) 矮杆:5-25mm(其他尺寸可定制) 样品高度 高杆:10-320mm(其他尺寸可定制) 矮杆:0-100mm(其他尺寸可定制) 外形尺寸 高杆:230mmX180mmX600mm(长宽高) 矮杆:230mmX180mmX380mm(长宽高) 重 量 高杆:8Kg 矮杆:4Kg 环境温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 电 源 电池参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准 产品配置 标准配置:主机、测量头 选用配置:测试软件、通信电缆 玻璃瓶底测厚仪此为广告
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  • 口服液瓶壁厚测厚仪_玻璃瓶测厚仪CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上,增加了稳固瓶子的托盘,避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏,微电脑控制,自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示,保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节,让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印,上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件,曲线图显示,数据保存,EXCEL统计,打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理,数据统计及审计功能满足行业要求。口服液瓶壁厚测厚仪_玻璃瓶测厚仪测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术,通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据,进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准: YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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  • DC-1000C超声波测厚仪 型号:DC-1000C品牌:德光产地:中国测量范围:用于测量硬质材质的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属;功能特点:1.具有B系列测厚仪的所有功能,增加以下新功能:2.开机探头自动零位校准,可手动二次校准,更好地消除测量偏差。3. 全新高精度探头设计,自动识别多种探头。 4.预置9种常用材料声速值,方便选用。5.大屏幕高清晰带背光液晶显示6.测量范围扩大至0.65mm – 400mm (不同探头决定不同测量范围)7.手动/自动增益调节 技术参数:点阵液晶+背光 : 128X64自动校零 手动二次校准 测量范围 0.8-300mm  中文菜单 示值精度 0.1mm声速调整 声速测量 公英制转换自定义声速 低电压显示 自动关机 最小值测量   外形尺寸 115x64x27mm重量 220g可选探头探头型号---频率-------测量范围 mm----直径 ----测量温度 D5008:-----5.0 MHz----0.8 - 300------8-------- 60℃D5113:-----5.0 MHz----2.0 - 200-----13 ------- 350℃D7006:-----7.5MHz-----0.7 - 50 ------6---------60℃D7004:-----10.0MHz----0.65 - 20 ---- 4-------- 60℃D2012:-----2.0MHz-----2.0-400.0-----12-------- 60℃标准配置 主机 :DC-1000C超声波测厚仪一台 探头 :D5008耦合剂:75mg耦合剂(瓶) 电池: (7号2节) 随机文件:一份仪器箱:一只
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玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的资讯

  • 机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试
    在塑料薄膜的生产与质量控制中,准确测量薄膜的厚度是至关重要的环节。机械接触式塑料薄膜测厚仪以其高精度、高可靠性和自动化程度,成为了行业内的首选工具。本文将深入探讨机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试,从原理、操作到应用进行全面解析。一、机械接触式测厚仪的基本原理机械接触式塑料薄膜测厚仪主要由测量传感器和测量电路组成,其工作原理基于机械接触式测量技术。测量过程中,传感器与薄膜表面直接接触,通过感受薄膜厚度的变化并转化为电信号输出,再由测量电路进行处理和分析,最终得出精确的薄膜厚度值。这种测量方式具有高精度和稳定性,能够有效避免因非接触式测量可能带来的误差。二、多点测试的必要性在塑料薄膜的生产过程中,由于原料、工艺、环境等多种因素的影响,薄膜的厚度可能会存在不均匀性。为了确保薄膜的质量,需要对不同位置进行多点测试,以获取全面的厚度数据。多点测试不仅有助于提高测量的准确性,还能及时发现生产过程中的问题,为工艺调整提供数据支持。三、实现多点测试的具体步骤1. 设备准备与检查首先,确保机械接触式塑料薄膜测厚仪电量充足或已正确连接电源,检查外观是否完好,显示屏是否清晰可见。同时,根据被测材料的类型和特性,选择合适的测量探头。对于塑料薄膜,通常选用接触面积为50mm² 的探头,以确保测量的准确性。2. 样品准备与摆放被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质,确保表面干燥且无残留物。将截取好的薄膜样品平整地铺放在测量台面上,保持试样整洁、干净、平整无褶皱。为了进行多点测试,可以通过人为挪动试样,选择不同位置进行测试。3. 设定测试参数机械接触式塑料薄膜测厚仪通常具有自动化程度高的特点,用户可以根据需要设定进样步距、测量点数和进样速度等参数。在多点测试中,可以根据样品的尺寸和测试要求,合理设定这些参数,以确保测试的全面性和准确性。4. 进行多点测试启动测厚仪后,测量头会在机械装置的驱动下,按照预设的进样步距和速度,自动或手动地移动到薄膜样品的不同位置进行测试。每次测量时,传感器都会与薄膜表面紧密接触,瞬间捕捉并记录下该点的厚度数据。同时,测厚仪内部的测量电路会实时处理这些电信号,转换成直观的厚度值显示在屏幕上。5. 数据记录与分析完成多点测试后,测厚仪通常会提供数据记录功能,用户可以将所有测试点的厚度数据保存下来,以便后续的数据分析。通过对比不同位置的厚度值,可以评估薄膜的均匀性,并识别出潜在的厚度偏差区域。此外,一些高级测厚仪还具备数据分析软件,能够自动生成厚度分布图、统计报告等,帮助用户更直观地了解薄膜的质量状况。6. 结果反馈与工艺调整基于多点测试的结果,生产人员可以及时发现薄膜生产过程中的问题,如原料配比不当、挤出机温度控制不准确等。针对这些问题,可以迅速调整生产工艺参数,如改变挤出速度、调整模具间隙等,以改善薄膜的厚度均匀性。同时,这些测试数据也为后续的产品质量控制和工艺优化提供了宝贵的参考依据。综上所述,机械接触式塑料薄膜测厚仪通过其高精度、高可靠性和自动化程度,实现了对塑料薄膜的多点测试。这一技术的应用,不仅提高了薄膜厚度测量的准确性和效率,还促进了生产工艺的改进和产品质量的提升。在未来的发展中,随着技术的不断进步和创新,机械接触式塑料薄膜测厚仪将在更多领域发挥重要作用,为塑料薄膜行业的发展贡献更多力量。
  • 哥伦比亚制定食品、饮料接触性陶瓷或玻璃材料技术要求
    据2010年5月27日安第斯共同体秘书处通报消息,哥伦比亚于近期制订了另一项食品接触性材料技术标准——与食品、饮料接触性陶瓷或玻璃材料、容器、物品、设备的技术要求。  法规文本主要包括如下几部分:目标、范围、定义、良好生产规范、基本要求、总的和特定物质迁移量限量,玻璃制品铅(Pb)的迁移限量,物质迁移量测定方法,监督、检查与合格评定,复审与更新等方面。  其中,对物质迁移限量的规定如下:  陶瓷、珐琅、釉彩等材质的食品、饮料接触性物体或容器的总物质迁移限量:50mg/kg水,或者8mg/dm2接触面 特定物质迁移量:对于非盛装性物体,(Pb): 0.8 mg/dm2 (Cd): 0.07 mg/dm2 对于盛装性容器,(Pb): 4.0 mg/L (Cd): 0.3mg/L 对于烹饪用具、容量大于3L容器,(Pb):1.5 mg/L (Cd): 0.1mg/L。  对于水晶/玻璃材质的食品、饮料接触性物体或容器,特定物质铅(Pb)迁移限量(LME)为:非盛装性物体LME: 0,8 mg/dm2 容量低于600ml的容器LME: 1.5 mg/L 容量介于600~3000ml的容器, LME: 0.75 mg/L 容量大于3L的容器,LME: 0.50 mg/L。
  • Coatmaster发布 手持非接触式湿膜测厚仪新品
    这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化,其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度,避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用,并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理,测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯,测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试,Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制,可用于金属,塑料,橡胶,木材,碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外,也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计,易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量(不含电池)1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点:Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器,解决了传统涂层喷涂厚度测试中,需要接触测试(会破坏涂层表面)以及无法测量复杂表面的工件(如拐角、边角、曲面等),无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理,测量时无需与涂层表面接触,不受基材材质的影响,且不受涂层的颜色影响,可实现即时测量,并得出读数,即可实现涂层喷涂厚度的即时检测,修正喷涂厚度不良的问题,缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。

玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的方案

玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的资料

玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的论坛

  • 【讨论】中空玻璃测厚仪的相关问答

    1、 林上科技有几款中空玻璃厚度仪?与市场上的同类仪器比较如何? 答:有两款,LS200中空玻璃厚度仪和LS210数码中空玻璃厚度仪,均为我司原厂研发生产(LS是林上科技的首字母缩写)。LS200与德国美林的厚度仪具有可比性,价位只有其1/3。LS210是数码型的玻璃厚度仪,直接读取阿拉伯数字,使用方便。目前美国EDTM 一款厚度仪可做比较,但其功能复杂,英文菜单,价格昂贵。2、 这两款厚度仪的准确性如何? 答:LS200的精度是0.5mm,LS210的精度是0.2mm。均可以获取国家计量院校准。3、 像这样的测厚仪,维修的概率高吗? 答:测量厚度的仪器,一般不能有磕碰,跌落,否则光学器件松动,破裂才会造成维修。正常使用的情况下,概率非常非常低。4、 那这两款厚度仪,出现问题一般在哪些方面? 答:LS200使用时间过长,按下按键无反应,首先应该排除是否没电。请客户自行更换索尼CR2302纽扣电池。 LS210数码幕墙厚度检测仪如果出现第一层玻璃、空气层、第二层玻璃数据不准确,请检查仪器背部的光学玻璃是否有裂痕,一旦有裂痕数据肯定是不准确的。 如果有其他问题,可咨询客服!

  • 玻璃瓶检测仪器/CH-1A玻璃瓶测厚仪

    CH-1A 型玻璃瓶测厚仪一.简介:CH-1A 型玻璃瓶测厚仪的测量原理是在被测的玻璃瓶罐内放入一粒钢珠,当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量探头时,测量探头上的磁场引力就把钢珠吸在瓶罐的内壁上,这时钢珠与测量头之间的距离就是被测瓶罐的厚度。该厚度与磁场的作用强度成反比关系,通过内部单片机系统测量该磁场强度并矫正线性、补偿温度系数就测出了相关厚度。仪器具有的专业技术如下:1. 测量直观方便、无损2. 对玻璃瓶的瓶身、瓶肩、瓶底等部位均可进行测量3. 仪器设有按键可以显示最小厚度和锁存厚度4. 所有数据可以通过 RS232 接口传输到电脑或其他外设二.主要技术指标:1. 测量范围:0~8.0mm2. 测量误差:小于 2.5%F.S3. 电压及消耗功率:AC220V 10W4. 外形尺寸:240mmX180mmX130mm(长 X 宽 X 高)5. 环境温度允许范围:0~40℃6. 环境湿度允许范围:小于 95%相对湿度三.标准配置:φ5mm 测量用钢珠 10 个、合格证、使用说明书点击打开链接

  • 使用超声波测厚仪需要注意的事项

    使用超声波测厚仪需要注意的事项是什么?超声波测厚仪是用来测量金属材质、管道、压力容器、板材(钢板、铝板)、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度的一种现代化仪器,除了测量以上材料的厚度外也可以用来测量工件表面油漆层等带涂层的材料。  使用超声波测厚仪需要注意的事项  1、铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大,超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减,被散射的超声波沿着复杂的路径传播,有可能使回波湮没,造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头(2.5MHz)。  2、探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗糙度增加,导致灵敏度下降,从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。  3、被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。  4、被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。  5、当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%,此时可用超声波探伤仪或者带波形显示的测厚仪进一步进行缺陷检测。  6、工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。  7、工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径专用探头(6mm ),能较精确的测量管道等曲面材料。  8、检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。

玻璃饮料厚底厚测厚仪相关的耗材

  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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