薄膜铝箔手动自动厚仪

适用范围：薄膜/纸张/铜箔/铝箔/等非金属材料试样的拉伸测试 可选A或B型接头：A接头 轴外径20mm长度30mm（配锁 紧母）B接头 内孔20mm深30mm 插销孔径10mm，插销孔中心到接头 端面距离14.5mm。不配接头时夹具体M12内牙夹片规格：宽30*高25mm贴胶面. 夹持试样厚度5mm。单个夹具重量500g

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

Azenta 4ti易撕热封铝箔膜可剥离铝箔封膜；适用于低温储存、高温用途和PCR热密封提供了一种100%有效的孔板密封方法，可实现完全的密封完整 性，此外快速且经济高效 我们的剥离热封是一种与聚丙烯板兼容的层压密封 它可以从聚丙烯板上撕下来，即使是直接从-80℃储存中取出的孔板 剥离热封在孔板上形成一个完整密封，既可用于深低温用途， 包括深低温 储存，也可用于高温用途，如PCR（与加压加热盖一起 使用时） 该密封具有中等的耐溶剂性，可用于室温下短期的化合物储存 该密封可以薄片形式提供，用于手动和半自动密封机，比如我们的半自动单片封膜机 亦可提供多种卷膜形式，兼容指定的自动封膜机，比如我们的全自动卷膜封膜机主要特征 可从聚丙烯和COC板上剥离 密封完整性范围：-80℃至90℃（配合加压加热 盖可达110℃） 良好的耐溶剂性，包括DMSO 可高温高压灭菌（121℃） 不含DNA酶、RNA 酶、人类基因组DNA和内毒素/热原用途 适用于短期室温储存 适用于深低温储存选项 薄片格式：125x78mm，适用于12孔至1536孔的所有标准SBS占地面积 PCR和qPCR板、微孔板、测定板和储存板 卷膜格式：有多种卷膜尺寸可供选择，以适配您选择的自动热封设备 标准型号未经伽马射线处理，伽马射线处理可根据要求提供

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

Azenta 4ti可穿刺铝箔热封膜可穿刺铝箔封膜，高耐溶剂性，可重新密封，适用于 PCR/储存/运输热密封提供了一种100%有效的孔板密封方法，可实现完全的密封完整性，此外快速且经济高效 穿孔型热封与聚丙烯和聚苯乙烯板兼容 该密封具有良好的耐溶剂性，可用于DMSO和有机溶剂中的低温和室温化合物储存 穿孔型热封可以用移液管尖端手动穿孔，或用移液机器人穿孔 该密封可通过在之前穿孔的密封上直接贴上另一层穿孔型热封膜来重新密封 该密封可以薄片形式提供，用于手动和半自动密封机，比如我们的半自动单片封膜机 亦可提供多种卷膜形式，兼容指定的自动封膜机，比如我们的全自动卷膜封膜机 薄片箔上的蓝色条纹清楚地指示非密封表面，以便于密封定位和处理 穿孔型热封片也可在非密封表面上提供印刷网格参考主要特征 可穿刺 可重新密封 密封完整性范围：-20℃至120℃ 良好的耐溶剂性 可高温高压灭菌（121℃） 不含DNA酶、RNA酶、人类基因组DNA和内毒素/热原用途 用于密封聚丙烯和聚苯乙烯板 适用于长期储存选项 薄片格式：125x78mm，适用于12孔至1536孔的所有标准SBS占地面积PCR和qPCR板、微孔板、测定板和储存板 卷膜格式：有多种卷膜尺寸可供选择，以适配您选择的自动热封设备 可提供印刷网格参考（薄片形式，4ti-0531/GR） 标准型号未经伽马射线处理，伽马射线处理可根据要求提供 定制印刷可根据要求提供

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

产品介绍：AF-01铝箔耐破度测试仪专业应用于各类药用铝箔耐破强度试验，是铝箔强度性能检测的基本仪器，是食品、药品 包装厂家、商检、科研等部门的理想检测设备。产品特征：● 液晶屏显示，PVC控制面板，人性化操作设计 ● 全自动测试过程，自动判断破裂度、自动退压 ● 微电脑处理系统，测试压力值微电脑实时采集数据，记忆测试结果 ● 微型打印机打印输出，方便数据快速输出 ● 采用同步电机传动，传动平稳、准确，使输出压力更精确技术参数：测量范围 50~1600kpa 准确率 ≤±0.5% 分辨率 0.01kpa 油压速度 95±5ml/min 上夹环孔内径 φ30.5±0.05mm 下夹环孔内径 φ31.5±0.05mm 试样夹持力 430kpa 外形尺寸 340*400*450mm 重量 45kg执行标准：YBB00152002、GB12255-90 产品配置：主机、甘油、微型打印机、校正片、橡皮膜

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数： 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示，精度1度 安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压 片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单 制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数： 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示，精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 23µ m厚 卷状尼龙薄膜硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 25µ m厚 卷状尼龙薄膜

产品及型号 编号 型号 尺寸（mm） 数量 RMB（含税） 2-4373-01 F-10102 102× 102 1箱（100片） 代替品编号:咨询 2-4373-02 F-10130 130× 130 1箱（100片） 代替品咨询 2-4373-03 F-10203 203× 203 1箱（100片） 代替品咨询特点 1. 衬里使用特殊聚酯薄膜的铝箔，可高压灭菌。 2. 进行了叠层加工，不易产生针孔。

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

适用范围：薄膜/纸张/铜箔/铝箔/等非金属材料试样的拉伸测试 可选A或B型接头：A接头 轴外径20mm长度30mm（配锁 紧母）B接头 内孔20mm深30mm 插销孔径10mm，插销孔中心到接头 端面距离14.5mm。 不配接头时夹具体M12内牙夹片规格：宽65*高25mm贴胶面夹持试样厚度5MM 单个夹具重量700g

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

铝箔采气袋采用五层铝箔复合膜、全氟膜夹套式结构，具有化学性质稳定、操作简单、轻便易携带等特点。铝箔复合膜、全氟膜材质气体采样袋可在较长时间内贮存ppm（10-6）级到百分含量的一般工业气体、石油化工气体等并能确保浓度不变，亦可在规定时间内贮存低浓度的腐蚀性和化学活性气体。并具有极好的耐腐蚀性，适用于强腐蚀性气体如二氧化硫、硫化氢、二氧化氮等。铝箔复合膜/全氟膜夹套式结构气体采样袋，能够有效延长微量腐蚀性气体组份在气体采样袋的存放时间，适于进行微量腐蚀性气体分析时使用。 ★该产品广泛运用于疾病预防、环境监测、劳动保护、安监、军事、气象、科研教学、冶金、石油化工、铁路、建材等部门的气体采样及存储。既可用于充装各种高纯气体，也可用于充装CO、H2S、PH3及碳氢化合物等各种标准混合气，是橡胶球胆的理想替代产品。★独特的阀门结构，使操作更加方便快捷。 ★不与样品发生反应，不会污染或吸附样品。 ★极低的渗透率，无样品损失。 ★具有更加优良的物理强度，可重复使用。 ★有金属接头和金属阀门两个系列多种规格可供选择。 ■采样袋使用方法及注意事项： ★直杆金属开关阀与全塑料开关阀组合型，开关阀通过阀杆操作，阀杆顺时针旋转到底为关，逆时针旋转到底为开；开关阀只能全开或全闭，不能调节流量大小； ★型开关阀上帽为阀的开关，通过旋转上帽开启开关，使气体由阀的侧管引入，关闭开关后，可以上帽的针头取样囗注射取样； ★使用前应用样品气或惰性气体置换气袋； ★充气压力不宜超过3000pa；直观观察为气袋充分鼓起；但用手指按压并不十分绷紧。 ★使用温度：其它为-30℃～+50℃； ★贮存和使用时，应远离明火及高温；不能与坚硬物触碰，以免刺破膜材； ★各种接口与仪器设备、装置连接宜采用相应软胶管过渡； ★可用针头取样； ★采集或储存有腐蚀性气体，建议选择全塑料开关阀气袋。 ★硅胶连接软管可用于气体样品采集。 ★双连球为用于采集气体样品的简易工具。

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：20 尺寸（mm）：48×48

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：50 尺寸（mm）：48×95

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：200 尺寸（mm）：100×100

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：100 尺寸（mm）：70×100

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L)：20 尺寸（cm×cm）：48×48

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L)：10 尺寸（cm×cm）：38×38

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L)：4 尺寸（cm×cm）：28×32

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L)：30 尺寸（cm×cm）：48×65

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：0.1 尺寸（mm）：16×9

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：3 尺寸（mm）：24×28

铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：5 尺寸（mm）：28×38

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铝箔复合膜采样袋是由高聚物膜和铝箔多层复合而成，化学性质稳定，可在较长时间内储存一般工业气体，确保浓度不变 铝箔气袋适合于手机百分含量的氢、氧、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳，工业气体，石油化工气体，环境气体和温室气体 使用温度：-30℃~+60℃ 如进行非甲烷总烃（NMHC）等非稳定气体时，存储超过8h，建议加热至40℃以后进行测量 品牌：德霖 容量（L）：40