梅特勒托利多电子天平

实验室电子天平校准基础知识——梅特勒-托利多1.哪些允差适用于天平校准？ 允差用于确定天平或秤是否测量足够好，可达到一套特定的过程要求。 允差设置了发出通过/未通过声明的标准。 允差有各种来源，包括法定机构、制造业和过程本身。法定允差：OIML R76或NIST手册44（仅限美国）规定的法定允差用于评估合法中国品要求。 这些允差非常大，使用实验室天平或者在测量范围的低端进行称量时，可轻易达标。制造商允差：制造商允差可确保设备满足制造商规格。 制造商允差不考虑用户的特定过程要求，因此不适合改进称量过程。过程允差：特定过程允差由用户定义，支持过程改进，节省材料，避免浪费和返工。 因此，对于合法中国应用中的秤，除法定允差外，还应使用过程允差。 有关梅特勒-托利多的GWP Verification® 解决方案如何改进称量过程的详细信息，请访问官网。 法定允差可保护消费者但不会考虑特定生产商的要求。 优化应用于测量仪器的过程允差会对过程盈利能力产生巨大影响。2.校准和校正之间是否存在差别？是，两者之间存在重要差别。 遗憾的是，术语“校准”和“校正”经常被混淆。校准国际计量局（BIPM）和计量学联合委员会（JCGM）已创建了一个有价值的工具来帮助标准化称量术语，称为国际计量学词汇（VIM）。 在该词汇表中，项目2.39将校准定义为天平操作方式的一个方面：“在指定条件下的操作，第一步是在量值与测量标准和具有关联的测量不确定性的相应指示提供的测量不确定性之间建立关系，第二步，使用该信息建立关系以从指示中获得测量结果。”换言之，天平或秤要通过校准来理解和记录操作方式。 上述定义还清楚表明，导出测量不确定性是校准中不可分割的一部分。 无测量不确定性声明的天平校准是不完整的，充其量只是抽查。校正校准用于指明天平或秤的操作方式时，而设备校正是更改其操作。 校正在VIM中的定义如下：“在测量系统中进行的一组操作，提供与将要测量的数量的给定值一致的规定指示。”因此，校正天平或秤意味着以特定方式修改其指示，以使它们尽可能地与采用的测量标准的量值相对应。3. 如何确保准确的称量结果？准确的结果是多种主要维护活动的综合，可通过3个简单步骤来实现。 除校准外，日常测试可持续改进天平或秤的准确性。 校准是由授权服务技术人员执行，而日常测试则由仪器用户执行。 日常测试还可确保及早检测到可能的天平不符合称量过程要求的情况。 如果执行次数足够频繁，则可在造成任何损害前检测到超出允差的状态。下图展示了由授权技术人员执行的安装以及定期天平校准。 用户更频繁地检查天平。4.多久必须校准一次天平以及不校准的风险是什么？校准证书将报告执行校准时的结果。 在许多情况下，负责人员将假设校准有效期为一年。 这将得到错误的结论，即一年的校准间隔已足够。理想情况下，校准间隔根据基于风险的方法来确定，例如，某些方面出错的概率是多少以及影响有多大？ 影响大和概率高与高风险相对应，这样就需要更短的校准间隔。 反之，影响小和概率低则意味着低风险，从而可延长间隔。放弃校准是高风险策略。 与未经校准的天平或秤相关联的隐藏成本和风险可能远高于校准成本自身。 使用未经校准的设备会导致生产问题，比如：（1）计划外停产（2）产品质量降低（3）过程和审核问题（4）产品返工和召回环境变化也会导致未检测到的偏移或增加导致性能降低的随机错误数。 定期按计划校准并执行日常测试（请参见以下内容）是降低与校准相关的风险的最佳方法。

p 　　近日，梅特勒-托利多公司发布了旗下MS-TS系列电子天平的升级产品。 /p p 　　升级后的MS-TS系列电子天平配置了以太网接口、USB HOST接口(可连接其他USB设备获取数据，编者注)、USB接口和RS232接口。这些接口有助于电子天平将数据高效便捷的传送至电脑、FTP服务器、U盘或打印机。此外，还可通过平板电脑或电脑浏览器在线访问天平，实现远程查看称量结果和进行去皮与打印等基本操作。选配升级后的无线适配器也也为电子天平WiFi和蓝牙连接其他设备提供了便利。 /p p 　　新MS-TS系列天平可以让用户定制化选择输出称量结果报告，并且支持PDF、TXT、XML和CSV等多种输出格式，便于用户根据自身情况高效存储数据。通过不同的接口，新MS-TS系列电子天平也可以同时进行数据结果的多种操作，如打印称量结果的同时将数据上传到实验室管理日志和FTP服务器中。提高用户天平数据存储效率。 /p p style=" text-align: center " img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/dc1d7249-1019-4b3d-85da-5d5b0057f8c7.jpg" title=" MT ms-ts balance.jpeg" alt=" MT ms-ts balance.jpeg" / /p

p 　　仪器信息网讯 2019年10月23日-26日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019)在北京国家会议中心召开。会议期间，仪器信息网特别采访了梅特勒-托利多集团天平产品部门丁晓栋先生，请他为我们介绍此次梅特勒-托利多集团带来的多款天平产品。 /p p 　　此次，梅特勒-托利多集团带来了多款电子天平参展，可谓各具特色。其中在此次展会展出的新品XPR分析天平，以准确、高效、合规等特点可以满足用户合规、提高效率等多方面的要求。除了XPR系列新品电子天平，梅特勒-托利多集团此次也带来了XPR系列微量电子天平、搭载Smartpan秤盘的精密天平、MS-TS分析天平和HX系列快速水分测定仪等产品。 /p p 　　详细内容请查看视频： /p p script src=" https://p.bokecc.com/player?vid=2B86D02B60F296EE9C33DC5901307461& siteid=D9180EE599D5BD46& autoStart=false& width=600& height=490& playerid=5B1BAFA93D12E3DE& playertype=2" type=" text/javascript" /script br/ /p