扫描成像射线光电子能谱仪

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

高品质的光阑，专为扫描电镜和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪而设计。高精密的钻孔和形状，可以避免电子散射。孔径符合制造商预先设计的严格的公差。材质有铂合金（Pt / Ir ，95:5 ％ ）、钼（Mo），金（Au）。每种孔径厚度的光阑又有A、B、C、D四种不同规格和形状，孔径可用于目前所有品牌的EM系统制造商： FEI /飞利浦，日本电子，日立，蔡司/ LEO ， CAMECA ，拓普康，TESCAN， CamScan等 。用户也可根据自己的实际需要设计加工新的光阑。产品包装实拍图：产品编号产品名称规格产地OZ63400黄金光阑直径：3mm 20um,AU中国

针对计算机硬件的更新换代，一些旧版本操作系统，已不能满足 客户需要。针对这种情况，我公司可根据现有的X射线能谱仪，进 行系统升级或更新。必要时也可更新探头构成新能谱系统。 改造工作采用新的设计思想，在使用原有探测器并保持原有能 谱分辨率的基础上研制了除探测器和前置放大器以外的所有部 件。同原仪器相比，改造后的系统充利用了当今已高度发展了 的计算机技术和电子技术。系统整体性能有所提高，运算速度 快，操作方式简单。而且因采用通用机系列，使你再无难维修 的烦恼。主要软件功能 1、谱数据的实时采集与显示。实时计数率显示。 2、自动背底扣除，任意多点手动扣背底及背底拟合等多种背底扣 除方法。 3、全自动定性分析。 4、全标样、部分标样和无标样定量分析。 5、厚样品和薄样品分析。 6、由元素周期表接口设置感兴趣区域、氧化物表达式，操作 方便。 7、方便的增益、零点校正。 8、返送到电镜观察屏上的面分布和线扫描功能。 9、同时一次收集多个元素面分布或线扫描图到计算机内并精确叠 加到二次电子图象上(须配电镜联机图象处理系统)。 10、可与电镜联机图象处理系统共用一台计算机构成能谱图象 系统。

这款扫描电镜X射线源专门用于电子显微镜设计的X射线源，非常适合扫描电镜的XRF光谱分析,是理想的XRF射线源和X射线荧光光谱仪X射线源。扫描电镜X射线源具有紧凑的设计和滑动安装功能，允许与样品非常接近。 取向在样品表面的小到大的激发区域产生高“通量”（x射线）。 扫描电镜X射线源?XSEMTM提供500μ至25mm的激发区域。 集成的高压电源最大功率为10瓦（35千伏和0.1毫安，取决于阳极材料）。 紧密耦合提供与传统“台式”或“独立”单元相当的XRF分析结果。扫描电镜X射线源?X SEMTM设计使其不影响电子显微镜的正常工作，包括在同一样品上使用电子束，同时同时收集所有元素。不需要特殊的冷却。电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用扫描电镜X射线源?XSEMTM可以轻松识别，量化，甚至生成痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。应用：艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品?X 规格阳极类型端窗传输目标材料Ag，Mo＆W加速电压10-35kV光束电流0-100μA阳极点尺寸准直器尺寸200μm，500μm，1000μm（其他可选）源过滤器可应要求提供冷却要求传导冷却，不需要风扇控制/安全可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示。 连接到SEM，键控上电开关，集成高压电源，HV-On灯，警示灯

形创原装进口数据线，质量可靠，数据阐述稳定，不会出现数据传输延迟。17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

形创3D扫描仪数据线 ，品名 ACC-H3D-CUSB： USB 电缆 3.0，适用于 HandySCAN - 4 米 / USB cable 3.0 for HandySCAN- 4 meters 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

InXight X射线成像模块InXight是Xeuss 3.0的X射线成像可选模块，它可以在X射线散射测量和X射线成像之间进行快速自动切换。这大大提高了Xeuss 3.0仪器的测试能力，测量尺寸范围从埃米级到毫米级。全面认识您的样品对聚合物，泡沫，复合材料，生物材料等新应用的开发，不仅需要了解他们的材料结构，还需要评估生产过程和使用条件的影响。通过测量加工材料或异质材料的宏观结构，结合Xeuss 3.0散射测量，其中InXight模块有助于理解宏观结构的非均质性和纳米或原子结构之间的关系。大面积X射线探测视野以及低至几十微米的分辨率，是进行局部区域测量的理想选择。通过快速切换测量配置，InXight可以在进行原位动态研究时同时采集X射线图像和X射线散射图谱。分析的典型材料包括聚合物、复合材料、玻璃或薄的无机样品。X射线源在散射和成像之间的自动快速切换InXight正在申请专利的测量配置包括一个X射线成像源，该X射线成像源产生一个锥形光束，大范围照射位于Xeuss 3.0样品台上的样品，并将X射线透射图像投射到Q-Xoom探测器上。 X射线源快速自动切换，可确保在同一样品上连续自动进行X射线散射和X射线成像。InXight X射线成像模块 具有InXight X射线成像模块的Xeuss 3.0 获取从埃米级到毫米级的样品结构信息 通过成像选取目标，研究散射信息 在原位SAXS/WAXS实验过程中，结合X射线成像可监测样品变化。

X-Checker性能校验装置是一个标准的1" (即25.4 mm)金属装置，它可以应用于任何型号的扫描电子显微镜（SEM），监测SEM/X射线能谱仪（SEM/EDS）系统性能，在铝管内含有一系列标准物质，可在锰或镍上确定探测器的分辨率（即最大半峰宽）和能量标度，检查窗口是否玷污，检测原子序数小的原子灵敏度，校准图像分析软件。可在铝、铜上校准光谱，提供的碳可在光谱最低值校准窗口探测器。 CP602-2样品中加入硼、镍可以更灵敏地对窗口探测器和无窗探测器进行低能量光谱校准。 此校验装置可对EDS（Energy Dispersive Spectrometer）和SEM以下性能进行校验。 1) 铝和铜的光谱校准 2) 碳和铝的低能量光谱校准 3) 锰的最强峰的半峰宽分辨率测量 4) 低能量灵敏度测试（用于检查探测器窗口污染程度） 5) 高、低放大倍率的两种镍栅格（用于校准图像处理软件和放大倍率） 6) 背散射电子探测器 7) 氮化硼检测光谱低能量端的性能 8) 氟源（PTFE）检测光谱低能量端的分辨率 9) 铍（Be）栅格检测高效探测器低能量端的灵敏度 10) 内置的法拉第杯 规格： 测量误差：± 5％。 样品台基底：铝。 尺寸： 周长：1"或25.4 cm；高：7.5 mm） 镍载网孔径规格：40 &mu m x 40 &mu m、18 &mu m x 18 &mu m

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析（单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C和S的比例元素分析C H O N S的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S百分含量同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试（氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值

用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘，可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明，但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。

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超高分辨率非破坏性3D成像 Nano XCT-100是世界唯一的对微米体积样品进行3D观察的实 验室超高分辨率CT扫描系统。精密的X射线聚焦光学系统提供了 50nm的成像分辨率,将X射线CT的能力大大延伸至纳米尺度。当吸 收衬度很低时,集成的Zernike相位衬度成像技术增强了所有边缘和 界面的可视性。nanoXCT-100提供了可靠的3D体积信息,而其它截 面成像技术和破坏性方法只能获得部分信息。 应用: - 生命科学和生物医学研究 - 半导体封装技术开发和失效分析 - 先进材料科学研究 - 石油天然气勘探分析

ACC-H3D-PS18 电源适配器 ：电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

用途：扫描电镜光阑尺寸：如图所示后期处理： ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点： ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化，加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工，而且加工的质量稳定，品控体系严格交货期：根据产品规格另作商量，一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商，从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外，我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和Ｘ射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001ｍｍ。欢迎您的咨询，期待为您服务！

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

53种矿物该载物台包含53种精选的矿物和化合物（可提供分析数据），每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性，并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒（FC）。所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上，其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化铊TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO44种金属1.铍Be12.铁Fe23.钌Ru34.钨W2.氮化硼BN13.钴Co24.铑Rh35.铼Re3.碳C14.镍Ni25.钯Pd36.锇Os4.镁Mg15.铜Cu26.银Ag37.铱Ir5.铝Al16.锌Zn27.镉Cd38.铂Pt6.硅Si17.锗Ge28.铟In39.金Au7.钪Sc18.砷化镓GaAs29.锡Sn40.溴碘化铊Tl(Br,I)8.钛Ti19.硒Se30.锑Sb41.铅Pb9.钒V20.锆Zr31.碲Te42.铋Bi10.铬Cr21.铌Nb32.铪Hf43.钍Th11.锰Mn22.钼Mo33.钽Ta44.铀U该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物，共计44种不同元素材料，适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属，后来由于硼、镓、铊在稳定性和制备方面的问题，我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉，而是保留了"44种金属"的特征。多年来，一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99％，多数甚至超过“99.99％”。我们可以为您提供具体的纯度列表。那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素，也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台，每个也内置有法拉第筒，适于连接到SEM载台。能谱检测标样X射线能谱仪标样的主要功能：1.便于用户可以更好地对比和检验各个能譜厂家产品的优劣，有利于用户的订货和仪器的验收。2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检，及时了解仪器的状态，有利于分析测试参数的及时调整。因此，每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求，我们特研制了这一组合。15种稀土金属及氟化物晶体1.钇金属Y6.钐金属Sm11.钬金属Ho2.氟化镧LaF37.氟化铕EuF312.铒金属Er3.氟化铈CeF38.钆金属Gd13.铥金属Tm4.氟化镨PrF39.铽金属Tb14.镱金属Yb5.氟化钕NdF310.镝金属Dy15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中，此载物台是UHV兼容的，并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆，保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样，其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。15种稀土“五磷酸盐”晶体我们现为X射线能谱仪（EDS）及波谱仪（WDS）微量分析系统提供一种独特的新型载物台，它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“专利”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”，化学式均为ReP5O14，其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样，该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容，且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台，但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。 特征：与其他替代产品一样, 这些稀土标准样也具有同样的化学式ReP5O14，其中稀土元素处于标准样常用浓度范围。如同其他精致标准样一样，在干燥环境中其抛光表面非常稳定，可以防止退化。组成该标准样的15种晶体化合物均获得中国微量分析协会（CMAS）的认证，作为一种有证参考物质（CRM）也达到了CMAS参考物质的标准。每一稀土(ReP5O14) 的实际尺寸都在0.5mm级，个别制造难度较大的稀土其尺寸可能只有0.2mm。尽管如此，他们均匀性相当好，而且CRM级别的经特殊合成用于微量分析应用。该标准样采用其他SPI微量分析标准样常用的格式：为便于识别和方便用于显微镜和微探针，每个有证参考物质（CRM）都内置法拉第筒并在背面用电子束刻有标识。该标识可是“普通”模式，也可是“镜像”标签模式。我们认为这种形式的标准样比纯金属、氧化物粉末、一些稀土元素（REE）或某些稀土（REE）卤化物在性能上要好很多。而个别纯稀土（REE）金属甚至根本不能使用，因为正常实验室中的水分就会使其迅速氧化，即使储藏于干燥器中也无法避免。稀土（REE）氧化物通常以微粒粉末形式存在，即使很短时间内其熔融物也不稳定。一些含量较低的稀土元素（REE）不能满足现实中样本分析的要求。这就是ReP5O14系列中15种样本受到多数EPMA实验室青睐的原因，也是我们相信该系列是客户最佳选择的理由。曾经使用过这种最新SPI微量分析标准样的客户告诉我们，此种标准样使分析师的分析过程更快捷、全面。因此，尽管这一新型稀土标准载物台在价格上高于最初稀土标准样，但综合考虑ReP5O14标准晶体化合物提供的卓越品质，我们相信它绝对物有所值。所购买的产品均附送一份详尽的手册，列明各种成分。每个标准样都附带一张照片及该物质的X射线光谱。查看每个标准样文件时，请注意一下我们更新的Spiffy Manuals?，即由我们制作的15稀土“五磷酸盐”标准样。我们保存了每个标准样的Acrobat PDF文档，以便您随时需要随时拷贝。 15种标准ReP5O14晶体化合物及其化学式组成如下：稀土化合物组成元素ReP5O14Re2O3P2O5RePO1.镧LaP5O1431.3168.5226.7029.9043.232.铈CeP5O1431.6268.2927.0029.8043.113.鐠PrP5O1431.7368.2827.1029.8043.114.钕NdP5O1432.1967.8327.6029.6042.825.钐SmP5O1432.9367.1428.4029.3042.376.铕EuP5O1433.2366.9128.7029.2042.247.钆GdP5O1433.7066.9129.3029.2042.188.铽TbP5O1433.9666.0029.5028.8041.669.镝DyP5O1434.4365.5430.0028.6041.3710.钬HoP5O1434.5965.3130.2028.5041.2011.铒ErP5O1434.7665.0830.4028.4041.0412.铥TmP5O1434.7264.8530.4028.3040.8713.镱YbP5O1435.0764.3930.8028.1040.5614.镥LuP5O1436.0564.1631.7028.0040.5115.钇YP5O1424.1375.8519.0033.1047.88贮藏条件 W我们建议将所有暂时不用的SPI Supplies人造微量分析标准样保存在干燥器中。随着时间的推移，有些元素会被侵蚀或氧化，虽然被侵蚀或氧化的过程会渐渐变缓。59种金属/矿物组合1.铍Be16.锌Zn31.碲Te45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B17.锗Ge32.氟化钡BaF246.透辉石MgCaSi2O63.碳C18.砷化镓GaAs33.铪Hf47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg19.硒Se34.钽Ta48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al20.锆Zr35.钨W49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si21.铌Nb36.铼Re50.透长石KAlSi3O87.钪Sc22.钼Mo37.锇Os51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti23.钌Ru38.铱Ir52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V24.铑Rh39.铂Pt53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr25.钯Pd40.金Au54.天青石SrSO411.锰Mn26.银Ag41.方铅矿PbS55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe27.镉Cd42.铋Bi56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co28.磷化铟InP43.钍Th57.辰砂HgS14.镍Ni29.锡Sn44.铀U58.方解石CaCO315.铜Cu30.锑Sb59.磷灰石Ca5(PO4)3F内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物，既有合成物，也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表，指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别，又方便样本批量生产。载物台高4mm，直径25mm，台体为不锈钢框架结构，内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台，为了降低一下产品的价格。其实，由于该产品已实现批量生产，其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台，其成本反而会更高。当然，我们愿意满足每一位用户的需求，但如果订量少于10个的话，不含法拉第筒的载物台绝对不会比含法拉第筒的价格低。 注意：目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台，以满足扫描电镜载台的需要。

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

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这款电镜X射线发生器是专门为电子显微镜设计的X射线发生器，广泛用于电子显微镜的X射线荧光光谱分析，是理想X射线荧光光谱X射线发生器。电镜X射线发生器紧凑的设计和滑动安装允许与样品非常接近。 专利的多毛细管光学聚焦x射线激发下降到10μ的样品斑点尺寸。 Xb提供10μm和40μm的斑点尺寸。 集成的高压电源最大功率为50瓦（35-50千伏，取决于阳极材料为1.0毫安）。 紧密耦合提供与传统“桌面”或“独立”单元相当的XRF分析结果。 Xb被设计成不干扰电子显微镜的正常操作，包括在同一样品上使用电子束，同时收集所有元素。不需要特殊的冷却电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用Xb低ppm级别的元素可以轻松识别，量化，甚至产生痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。电镜X射线发生器应用：艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品电镜X射线发生器规格?X 规格阳极类型侧窗目标材料Ag，Cu，Mo，Rh＆W加速电压0-50kV光束电流最大1mA阳极点尺寸10，20，40μm准直器尺寸专利聚毛发聚焦光学源过滤器可应要求提供冷却要求风机冷却功率 100瓦控制/安全可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示，内部互锁快门。 联锁到SEM，键控上电开关，HV-On灯，警示灯

X射线透射显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线（例如碳边吸收谱），100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下： 　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定（粗糙度小于1nm），对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 同步辐射X射线（紫外或极紫外）透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜（薄膜直接沉积在窗口上）。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献：PRL

直接观察用样本舱（QX Capsules）QX Capsules是电子显微领域一重大的具有里程碑意义的技术突破，它的出现，使扫描电镜的样品准备、图像获得发生了质的飞越。 结束了以往扫描前必需的样本制备过程，油质、含水组织、活细胞、空气粒子等各类“含水”物质可以直接在电镜下扫描。获得的结果更加真实客观，重复性更强；节省您大量的宝贵时间；不需要购置各类样品制备设备。产品特征：l 样本制备时间显著减少或完全消除l 湿体（含水）直接成像（食物、墨水、化妆品、细胞、组织等）l 湿体成分可通过X射线进行微量分析l 适用多种染料染色的组织和细胞，同时对未经染色或固定的组织、细胞同样可以观察l 对粘着或未粘着细胞均可成像l 高精度的组织病理成像l 扫描电镜的细胞内成像l 细胞完整表面成像l 液体结构成像及保存性能l 操作简便产品信息：货号产品名称规格QX-102-24QX-102 Capsules ：for cell biology and general liquid sample24/pkMP-10-2Multi-well Plate2/pkMA-4Multi-well Aspirator1个AT-60Aspirator Tips60/pkIB-64QX-102 Imaging Buffer1支RT-56QX-102 Calibration Capsule1个SP-202-24QX-202 Capsules24/pkSP-202-48QX-202 Capsules48/pkQX-302-6QX-302 Capsules6/pkMP-12-2MP-12 Multi-capsule Plate2/pkIB-74QX-302 Imaging Buffer1支RT-58QX-302 Calibration Capsule1个

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X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 （Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术，而不是基于传统微光子技术，它不需要维护，不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology，这种技术的探测器噪音较大，而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题，法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器，使用钢合金替代原有材料，使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1430# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1430# 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1430 ： 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 100

X射线探测器是一种位置灵敏性探测器 （Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术，而不是基于传统微光子技术，它不需要维护，不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology，这种技术的探测器噪音较大，而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题，法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器，使用钢合金替代原有材料，使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。http://www.f-lab.cn/radiation-detectors/psddector.html

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【技术参数】样品室玻璃腔体尺寸120mm ? x 120mm H，高强度不锈钢结构（可选150mm x 165mm）样品台尺寸可放置12个标准钉形样品台，高度可在 60mm内调节溅射头低电压平面磁控管，靶材更换快速，环绕暗区护罩溅射靶材金（标配），铂，金/钯，铂/钯, 银等靶材尺寸直径57mm x 0.1mm 厚度溅射控制系统微处理器控制，远程电流/电压感应；最大电流40mA，程序化数字控制；提供真空安全联锁装置，配有过流保护；模拟计量真空 Atm - 0.001mb 电流: 0 – 50mA控制方式自动气体换气和放气功能，带有“暂停”控制的数字定时器（0－300s）机械泵2L/s工作媒介气体氩气，纯度最低99.9%工作电压220V, 50/60HZ膜厚监控仪（选配）通过6MHz石英晶体进行原位监控，显示纳米级厚度，可精确到0.1nm适用配套Zeiss, JEOL, Hitachi, FEI, Tescan, Phenom等扫描电镜 【产品详情】Agar 全自动喷金仪（离子溅射仪）为英国进口设备，操作简单，适用于扫描电镜样品制备，可喷金、铂、金/钯、铂/钯、银等。喷金仪使用小贴士：1）需要溅射喷金的样品a)第一类样品是电子束敏感的样品，主要包括生物样品，塑料样品等。SEM中的电子束具有较高能量，在与样品的相互作用过程中，它以热的形式将部分能量传递给样品。如果样品是对电子束敏感的材料，那这种相互作用会破坏部分甚至整个样品结构。这种情况下，用一种非电子束敏感材料制备的表面镀层就可以起到保护层的作用，防止此类损伤；b)另一类样品是非导电的样品，由于样品不导电，其表面带有“电子陷阱”，这种表面上的电子积累被称为“充电”。为了消除荷电效应，可在样品表面镀一层金属导电层，镀层作为一个导电通道，将充电电子从材料表面转移走，消除荷电效应。在扫描电镜成像时，溅射材料可以增加信噪比，从而获得更好的成像质量。2)溅射材料常用的溅射材料为金，导电性高。喷金仪的真空度越高，所溅射的金属颗粒越小，可以减少样品表面形貌失真的情况。当需要超高分辨率成像时，首选高真空喷金仪，同时还可以选用其他溅射材料，如：铬，铱等，溅射的晶粒更细小。此外，如果需要做EDS能谱分析的话，建议选择喷碳仪，因碳的X射线峰不会与其他元素的峰值发生冲突。产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。