光电发射仪

岛津光电直读光谱仪PDA-8000仪器简介：PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪，集合了岛津光电发射光谱仪之精华，突出了高灵敏度、高稳定性的特点，尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点：1）高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室，可以有效减少元素间的分光干扰。同时，为了提高对C、N等元素的分析精度，通过2次或3次等高次线进行分析，分辨率得到有效提高。2）实时能量监控（REM）功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功，激发能量为0.02J-0.6J（可以0.02J为单位步进进行设定）。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常（是否由于样品本身造成放电异常）从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数，提高分析稳定性。3）定电流放电（CRS）技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析，首次使用了定电流放电技术，即电弧放电后段，电流持续保持在10A，放电持续时间最大可达2msec，从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4）强大的软件控制功能（最新设计，操作简单，实现人机对话功能）中/英文分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口，简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。

岛津光电直读光谱仪PDA-5500S性能特点：1）大型真空直读光谱仪为了分析C、P、S、B等元素及保证高稳定性，采用真空型光谱室设计。与充氩气性光谱室比较，不需要定期更换氩气净化管，后期维护成本低。使用岛津独创设计的直联旋转型真空泵，通过连续抽真空方式，10分钟内真空度可达1.33Pa，故障率极低。同时，也可以很好地防止油倒吸及油蒸气污染。2）最先进的全息离子刻蚀光栅采用目前世界最先进的全息离子刻蚀光栅技术，利用该技术制作的光栅兼具了全息光栅与机刻光栅的特点，从而实现光栅焦距600mm的最优设计，既获得了高分辨率又保证了分析灵敏度。3）先进的数字化光源装置光源装置根据不同元素分别使用高能量放电、重现性良好的电火花放电和灵敏度良好的电弧火花放电等，组合使用，可设定最佳放电条件，适应不同种类的分析样品。4）良好的扩展功能根据客户的要求，可以现场添加通道，提高仪器的扩展功能。5）操作简单便捷中文化分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。集岛津光电发射光谱仪之精华的PDA-5500S：科学人性化设计、易懂易用，良好的扩展功能、高瞻远瞩，低使用成本设计、经济实用，高精度与稳定性、始终如一。 研发历程岛津公司在1935年研发出日本第一台分光摄谱仪，为了满足不同行业客户的需要，随后不断开发新技术、推出新产品，始终保持仪器技术的先进性。岛津光电直读光谱仪PDA-5500S是2009年推出的最新一款专门针对钢铁、铸造行业的直读光谱仪。标准配置岛津独创的时间分解PDA（Pulse Distribution Analysis 脉冲分布分析）测光法，可以同时快速、准确地分析金属的元素组成，是金属质量管理分析中应用广泛的分析仪器。PDA-5500S广泛应用于钢铁、铸造、机械等众多行业，提高对冶炼工业和机械加工工业的工程管理分析、原材料验收及产品出厂鉴定分析等能力。

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

LabICP 1000电感耦合等离子体发射光谱仪，具有非常高的分辨率，即使谱线非常复杂的稀土元素也可以实现分离，避免光谱干扰，非常适合稀土元素合稀土永磁材料的分析。同时也可广泛应用于食品、环境、地矿、有色金属冶炼等各种应用领域。非常高的分辨率，即使谱线非常复杂的稀土元素也可以实现分离，避免光谱干扰，确保分析数据的准确性闭环控制的射频发生器高压供电回路，与传统的升压变压器和高频阻流圈的高压系统相比，功率控制精度提升到优于0.1%高精度分光系统： 反射式分光系统设计，避免引入额外色差； 机械控制精度，确保光谱定位准确； 高分辨率长焦光路设计，实现了优良的信噪比和极低的基体效应；恒温控制光室，提升测量稳定性，光室冲入氩气后可高精度测量 S（180nm）和Sn（190nm）5-6个数量级的动态线性范围，可满足痕量到常量的元素分析优秀的测量精度和元素检出限，ppb量级全面安全保护系统：具有冷却水保护、氩气保护、过压保护、过流保护、灭弧保护等

岛津光电直读光谱仪PDA-7000性能特点：PDA-7000标配岛津独创的PDA时间分解测光法——实现了对钢铁中酸溶铝的直接检测。PDA技术是将激发时的每一个脉冲记录下来，并按时间顺序排列，将脉冲按高低频数制作分布图，依据数学统计的原则，选择正常激发信号来进行积分。由于激发钢材后，获得的Al单质与氧化铝发的光谱强度不一样，且两种出现的频率也不一样。PDA时间分解测光法利用这一特点，可以很好的将Al单质与氧化铝的光谱区分开来进行积分，从而实现对酸溶铝及非酸铝的直接检测。研发历程：岛津公司在1935年研发出日本第一台分光摄谱仪，为了满足不同行业客户的需要，随后不断开发新技术、推出新产品，始终保持仪器技术的先进性。岛津公司一直将最先进的光电直读光谱引入中国，目前已有近2000台岛津直读光谱仪应用在中国各行各业。PDA-7000是2005年正式推向市场的一款新产品，集合了岛津光电直读光谱仪的精华于一身，可实现对Fe基、Al基、Cu基、Ni基、Zn基、Mg基、Pb基、Sn基及Ti基等十几种基体材料的元素成分分析，并可实现钢铁中N元素的高灵敏度分析，广泛应用于钢铁、有色、汽车汽配、机械及质检等行业，受到客户的极高认可。售后服务：岛津公司进入中国市场50多年来，拥有大量的客户资源，同时自己拥有一支有经验的、成熟的售后服务队伍（包括安装维修和应用支持），为全国各地的客户提供及时、有效的售后服务及技术支持。同时，我们在北京、上海有备品库，能够更加及时响应客户需求。

仪器简介：与日本冶金行业共同进步的岛津为您提供---光电发射光谱仪 PDA系列岛津多年来向世界提供在金属质量管理中必不可少的光电发射光谱仪，如今又推出了集各项精华于一体的PDA-7000。标准配置岛津独创的时间分解PDA测光法，强有力地支持质量管理分析。· 稳定性提高采用新设计的机身/发光台，使稳定性大幅提高。 · 分析精度提高采用新设计的发光台和适合分析范围的最适合的发光条件，从高含量到微量的元素均可进行高精度分析。 · 钢铁中氮的高灵敏度分析氮的检测下限达5ppm。在炉中分析中，达到了可以代替气体分析仪的水平。 · 标准配备高功能配备一直获得好评的PDA时间分解测光、形态分析处理功能。 · 丰富的产品系列，应对多种用途。&rarr 产品系列的详细内容钢铁、铝、镁、铜、锌、锡、钛、镍、钴等各种固体金属的基体金属、合金中的组成元素、杂质微量元素的定量 ：PDA-7000· 出色的成绩长期以来，与冶金行业共同发展，积累了丰富的技术信息。&rarr 应用实例 ※外观及规格如有变动，恕不另行通知。发射光谱分析：（OES：Optical Emission Spectroscopy） 所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素，根据得到的元素固有的亮线光谱（原子光谱）的波长进行定性，并根据发光强度进行定量的分析方法。 广义上讲，激发放电（光源）还包括使用ICP（Inductively coupled plasma 电感耦合等离子体）作为激发放电（光源）的ICP发射光谱分析。但发射光谱分析（发光分析）或光电测光式发射光谱分析，是指使用火花放电/直流电弧放电 /辉光放电作为激发放电的发射光谱分析。发射光谱分析中，在固体金属样品和与电极之间发生放电。 岛津的发射光谱分析装置是在氩气氛围中进行火花放电，对火花脉冲的发光进行统计处理，采用可提高测定重现性（精度）的方式（PDA测光方式：Pulse Distribution Analysis）。 发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成，是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中必不可少的手段。其他咨询

PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪，集合了岛津光电发射光谱仪之精华，突出了高灵敏度、高稳定性的特点，尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点：1）高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室，可以有效减少元素间的分光干扰。同时，为了提高对C、N等元素的分析精度，通过2次或3次等高次线进行分析，分辨率得到有效提高。2）实时能量监控（REM）功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功，激发能量为0.02J-0.6J（可以0.02J为单位步进进行设定）。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常（是否由于样品本身造成放电异常）从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数，提高分析稳定性。3）定电流放电（CRS）技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析，首次使用了定电流放电技术，即电弧放电后段，电流持续保持在10A，放电持续时间最大可达2msec，从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4）强大的软件控制功能（最新设计，操作简单，实现人机对话功能）中/英文分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口，简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。

岛津光电直读光谱仪PDA-5500S性能特点：1）大型真空直读光谱仪为了分析C、P、S、B等元素及保证高稳定性，采用真空型光谱室设计。与充氩气性光谱室比较，不需要定期更换氩气净化管，后期维护成本低。使用岛津独创设计的直联旋转型真空泵，通过连续抽真空方式，10分钟内真空度可达1.33Pa，故障率极低。同时，也可以很好地防止油倒吸及油蒸气污染。2）最先进的全息离子刻蚀光栅采用目前世界最先进的全息离子刻蚀光栅技术，利用该技术制作的光栅兼具了全息光栅与机刻光栅的特点，从而实现光栅焦距600mm的最优设计，既获得了高分辨率又保证了分析灵敏度。3）先进的数字化光源装置光源装置根据不同元素分别使用高能量放电、重现性良好的电火花放电和灵敏度良好的电弧火花放电等，组合使用，可设定最佳放电条件，适应不同种类的分析样品。4）良好的扩展功能根据客户的要求，可以现场添加通道，提高仪器的扩展功能。5）操作简单便捷中文化分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。集岛津光电发射光谱仪之精华的PDA-5500S：科学人性化设计、易懂易用，良好的扩展功能、高瞻远瞩，低使用成本设计、经济实用，高精度与稳定性、始终如一。 研发历程岛津公司在1935年研发出日本第一台分光摄谱仪，为了满足不同行业客户的需要，随后不断开发新技术、推出新产品，始终保持仪器技术的先进性。岛津光电直读光谱仪PDA-5500S是2009年推出的最新一款专门针对钢铁、铸造行业的直读光谱仪。标准配置岛津独创的时间分解PDA（Pulse Distribution Analysis 脉冲分布分析）测光法，可以同时快速、准确地分析金属的元素组成，是金属质量管理分析中应用广泛的分析仪器。PDA-5500S广泛应用于钢铁、铸造、机械等众多行业，提高对冶炼工业和机械加工工业的工程管理分析、原材料验收及产品出厂鉴定分析等能力。

ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪产品介绍： ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪是公司经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪，用于测定各种物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量，自动化程度高、操作简便、稳定可靠。 ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。工作环境：内容 适应范围贮存运输温度 15℃-25℃贮存运输相对湿度 ≤70％大气压 86-106 kPa电源适应能力 220±10v 50-60MHz工作湿度 ≤70％工作温度 15℃-30℃ 技术指标：固态电源技术指标电路类型：电感反馈式自激振荡电路，同轴电缆输出，匹配调谐，功率反馈闭环自动控制工作频率：27.12MHz±0.05%频率稳定性：＜0.1%输出功率：800W—1200W输出功率稳定性：＜0.3%电磁场泄漏辐射强度：距机箱30cm处电场强度E：＜2V/m 进样系统技术指标输出工作线圈内径25mm矩管，三同心型，外径20mm的石英矩管同轴型喷雾器外径6mm双筒形雾室外径34mm 氩气流量计规格和载气压力表规格1.等离子气流量计（100-1000）L/h (1.6-16L/min)2.辅助气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)3.载气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)4.载气稳压阀（0-0.4MPa）5.冷却循环水：水温20-25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa 单色器技术指标光路：Czerny-Turner焦距：1000mm光栅规格：离子刻蚀全息光栅，刻线密度3600线/mm(可选用刻线密度2400线/mm)线色散率倒数：0.26nm/mm分辨率：≤0.007nm(3600刻线）. ≤0.015nm(2400刻线）扫描波长范围：3600线/mm扫描波长范围：190—500nm 2400线/mm扫描波长范围：190—800nm步进电机驱动最小步距:0.0006 nm出射狭缝：12μm入射狭缝：10μm 光电转换器技术指标光电倍增管规格：R293或R298光电倍增管负高压：0-1000V稳定性＜0.05% 整机技术指标：扫描波长范围：195nm～500nm（3600L/mm光栅）195nm～800nm（2400L/mm 光栅）重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD≤1.5％稳定性：相对标准偏差RSD≤2％

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission MicroscopeFAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission Microscope咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。FAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

ICP3600型全自动发射光谱仪是由射频发生器、试样引入系统、扫描分光器、光电转换、计算控制系统和分析操作软件组成。它的分析过程是：射频发生器产生的高频功率通过感应工作线圈加到三同心石英炬管上，在石英炬管的外层通入氩气并引入电火花使之电离形成氩等离子体，这种氩等离子体的温度可达6000K～8000K。待测水溶液试样通过喷雾器形成的气溶胶进入石英炬管中心通道，受到高温激发后，以光的形式放出特征谱线，通过透镜进入扫描分光器，分光器将待测元素的特征谱线光强，准确定位于出口狭缝处，光电倍增管将该谱线光强转变成光电流，再经电路处理和模数变换后，进入计算机进行数据处理，最后由打印机打出分析结果。由于仪器的稳定性好，测量范围宽，检出限低，因此广泛地应用于稀土分析、环境保护、水质检测、合金材料、建筑材料、医药卫生等科学领域作元素定量分析。

简介Online 5100 MP多参数重金属在线分析仪使用发射光谱来分析溶液中的元素含量。高温状态下，处于基态的原子或离子跃迁到激发态，处于激发态的原子回到基态时又发射出不同波长的光，发射谱线的波长与特定元素有关，而谱线的强度与浓度有关，Online 5100 MP就是基于这一原理进行分析的。功能特点 ▲ 原子发射光谱原理，方法成熟▲ 分析元素包括金属和非金属▲ 多元素同时分析，可扩展应用，多达70多种元素▲ 宽线性范围：ppb~ppm▲ 宽波长范围：176nm~780nm▲ 检测限低：与实验室ICP-AES相当▲ 耐盐高：可耐受高达3%TDS▲ 工业电脑控制，人性化操作界面▲ CCD固态检测器：可同时进行背景及干扰校正▲ 低运行成本：从空气中提取氮气，不使用昂贵气体▲ 安全：无需易燃或氧化气体，消除安全隐患▲ 快速：只需数分钟即可分析多个元素▲ 整体式矩管：省略了矩管调整和气体管路的繁琐连接▲ 氮气等离子体：温度控制在5000K技术参数 分析元素：用户选择 (多达70多种元素可选)测量原理：原子发射光谱准 确 度：优于±2% (标准样品)重 复 性：优于2%线 性：优于0.9999分析时间：约1min/单元素（不含预处理）仪器校准：自动电 源：220V±10% VAC，50±1Hz预 处 理：根据用户情况配置

简单介绍：Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材，高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验，赛默飞世尔科技（原热电公司）研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了 优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。详细介绍：Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪新一代ICP可称得上是小身材，高性能。凭借在ICP市场多年累计得经验，赛默飞世尔科技(原热电公司)研发出这款集小型化、集成化、人性化和智能化于一身得新一代ICP, 从而实现了更优异得仪器性能 高的工作效率 简便的操作 低的运行成本。Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪技术参数当今世界体积zui小的新型iCAP 6000系列等离子体发射光谱仪 优异的仪器性能 高的工作效率 方便的操作 低的运行成本 广泛应用于环境、石化、冶金、食品饮料、地球化学和水泥行业的普通和元素分析实验室Thermo iCAP 6000 ICP-OES全谱直读等离子体发射光谱仪主要特点降低了气体消耗 改善了对于诸如砷（As）、锑（Sb）、硒（Se）和碲（Te）的元素分析性能全自动波长校正和补偿校正保证了长时间的优异稳定性第四代电荷注入式（CID）检测器RACID86 快速、可靠和便捷性能的常规分析，既可采用单一的等离子体炬垂直观测，也可采用双向观测 【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

E5000电弧直读发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析准确度高、稳定性好等优点，E5000发射光谱仪拥有高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计如下： E5000发射光谱仪产品结构设计 ●电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术● Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的常规元素●紧凑的小型台式设计，稳定可靠、易用便捷●防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大●高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供合适的分析方法●多重连锁和监控，确保操作安全可靠●全自动电极激光对准系统●粉末样品直接进样，方便迅速●一键激发，立刻获得分析结果●内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率●软件开放所有高级功能，为客户提供方法开发平台 E5000发射光谱仪全谱测量技术●全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发●基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度- 方便查看谱线及干扰情况- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式●自动谱线去干扰算法- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰●根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保障分析精度- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围 背景扣除 多峰拟合 适配曲线 CCD高速数采系统●防溢出线阵CCD●采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围 Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统● 恒温型全固定光学系统● 全反射式光路● 光室结构紧凑● 一体式固定● 光学器件少，性能稳定● 基于CCD的全谱采集和分析 电弧数控光源●数控光源体积小、效率高●基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节●分析不同含量的元素，选择激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度●可设置及读取不同检测阶段的数据 一键激发及全自动对准电极●样品装载激发一气呵成，方便快捷●多元素同时分析，直接得到最终结果●设计精良的电极挟持旋钮●红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术●水冷电极夹提高检测稳定性 多重连锁和安全保护●可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热●实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒●界面上有关键温度的显示，优先查看仪器的运行情况●排风监控，消除废气影响●特殊的风道设计提高稳定性 分析软件●便捷易用的分析软件- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节 软件界面●强大的多元素分析平台- 便捷的全谱查看- 多元素分析及多谱线选择- 一键激发，直接在软件上得到分析结果- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择●全面智能的软件算法- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法- 处理功能，为客户带来不一样的分析体验 E5000发射光谱仪内置工作曲线及基底扣除● 智能漂移校正技术利用全谱丰富的谱线信息，自动完成仪器校正，使得分析数据更稳定

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

ZURO 发射光谱监控光谱仪25000:1 动态范围 / 小于 1nm 分辨率 / 超过 10000h 验证 ZURO 系列光纤光谱仪 针对集成电路制造工艺设备研发，能在半导体 Fab 环境下长期稳定工作。包含 ZURO-ND 和 ZURO-SM 共 2 款型号产品，适用于不同场景下的刻蚀、去胶、镀膜等工艺的监控。同时，光谱仪可配备 ideaEPD 工业软件，为客户提供全面的刻蚀终点检测解决方案。典型应用领域： 栅极工艺 栅极工艺的多晶硅刻蚀，需要一套高灵敏、高信噪比和大动态范围的光谱仪。 沟槽工艺 IGBT 器件刻蚀要控制深度，需要 in-situ 刻蚀深度监控方案，提高良率。 博世工艺 MEMS 器件加工中，刻蚀与钝化工艺反复交替进行，需要较为强大的复杂过程监控算法。 去胶工艺 Wafer 图形化后去胶，需要多套联用和高通量清洗方案，降低客户 COO 成本。 ZURO 光谱仪 具有以下显著特点： 1 小于 1nm 光学分辨率 ZURO 系列光谱仪采用特殊光路设计，实现较高光学分辨率，能区分间隔相邻的谱线，满足客户的大部分工业监控需求； 2 25000:1 大动态范围 ZURO 系列光谱仪采用了复享光学研发的信号调制方法能获得较大动态范围，实现客户在高强度辉光下测到微弱信号谱线的苛刻要求； 3 超过 10000 小时长期验证 ZURO 系列光谱仪经过半导体厂商长期测试，不掉线且数据稳定，保障客户稳定在线生产； 4 宽波段等离子体谱分析 ZURO 系列光谱仪探测器响应波段覆盖 200~1100nm，安装定制滤光片，保证客户在复杂等离子体信号中能获得正确与真实的元素特征光谱信号，消除虚假特征信号。此外，复享光学深入半导体设备厂商应用，研制用于刻蚀终点检测行业软件 ideaEPD，实现多达 10 腔同时采样监控、自定义终点判断算法、历史数据再查询等功能，并可提供 SDK 开发包，兼容 MES 系统。

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

ET10 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET10 科研级仪器可测量任何不透明材料的发射率 特点： 可同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射率 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 应用： 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度ET10： 用于测量红外测温成像技术的重要参数—红外发射率 利用两个探测器同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能： 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据推算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。　　进行测量时，将仪器对准测量面，按下扳机即可记录数据。测量一次的时间只需要7秒钟。 技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值：发射率 波段：3～5、8～12 微米2个波段 精度：±1% 可重复性：±0.0002 入射角：20° 法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径曲面，12” 半径曲面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(2 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源： 可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25~ 70°C 操作环境 0~40°C, 非冷凝

ET100 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET100 可测量6个波段范围的总反射比， 可取代已经停产的经典红外反射率测定计Gier Dunkle DB 100，并在性能和保养性方面都更优越。 特点： 测量2个入射角、 1.0～21 微米之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60度入射角的定向热发射比 计算半球热发射比 ET100： 软件操作简便 强大的测量和数据处理功能 触摸屏PDA操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能 ET100可以测量6个波段的总反射比，波段的反射比可以转换为光谱信息。使用黑体函数，20度和60度角来计算定向发射比。基于计算的定向反射比来推算半球总反射比。 进行测量时，将仪器对准测量面，压动扳机记录数据。测量一次的时间需要几秒钟。技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值： 定向热发射比 波段： 1.5-2.0, 2-3, 3-4, 4-5, 5-10, 10-21 入射角：20°& 60°法线入射 精 度：±1.5% 表面弯曲： 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(6 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源：可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25～70°C 操作环境 0～40°C, 非冷凝

外腔型垂直表面发射激光器 外腔型垂直表面发射激光器结合了半导体和薄片激光器的重要优点。半导体增益结构的波长多功能性，以及薄片概念的散热能力和外腔架构共同构成了通用的激光技术平台。这种组合提供了宽波长覆盖、高功率和可调谐窄线宽操作的高质量光束。利用分子束外延技术的专业知识制造高质量的半导体增益结构，在 630 nm 至 3 μm 的波长范围内具有定制特性。一、外腔型垂直表面发射激光器产品特点从近红外到可见光谱的高效腔内倍频宽波长范围单频、可调谐卓越的光束质量二、外腔型垂直表面发射激光器型号及参数（1）VALO SHG SF - 单频 VIS VECSEL 系统VALO SHG SF 是一种独特的可调谐单频 VECSEL 系统，具有高效的腔内二次谐波生成功能。这种新开发的激光器目前在 350-750 nm 之间提供瓦级输出功率，并匹配近红外 VALO SF 产品线相同的交钥匙 VECSEL 平台。产品参数：中心波长350 – 750 nm连续波长功率0.5 - 2 W 集成泵浦光调节中心波长±1nm锁线宽100 kHz (10 ms)尺寸大小320 mm x 190 mm x 100 mm (L x W x H)（2）VALO SF - 单频 NIR VECSEL 系统VALO SF 是一种单频 VECSEL 系统，可在 700–2100 nm 之间使用。VALO 在一个紧凑的封装中结合了一组独特的激光特性；即高功率连续波操作（1-4 W CW）、窄线宽（100 kHz）、宽调谐（~10 THz）和出色的光束质量（M 2 1.1）。该系统包括一个带有集成泵浦激光器的 VECSEL 头、一个控制单元和一个低振动冷却器。使用外部泵浦激光器可以达到 10 W 的输出功率。产品参数：中心波长700 – 2100 nm连续波长功率1–4 W集成泵浦光/12W外部泵浦激光调节中心波长~10 THz锁线宽100 kHz (10 ms)尺寸大小320 mm x 190 mm x 100 mm (L x W x H)更多详情欢迎直接联系昊量光电!关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

产品说明 垂直腔面发射激光器阵列芯片（SLD）是边发射半导体光源。垂直腔面发射激光器阵列芯片（SLD）的独特特性是与输出激光二极管（LD）类似的高输出功率和低光束发散度，但具有更宽的光谱和低相干性，类似于发光二极管（LED）。超辐射发光二极管（SLD）在几何形状上与激光器类似，但是没有内置的LD反射机制用于受激发射以实现激光。与LD相比，超辐射发光二极管（SLD）操作的主要区别是：有源区内的增益更高，电流密度更高，光子的不均匀性和载流子密度分布更强。超辐射发光二极管（SLD）具有与LED相似的结构特征，通过降低刻面的反射率来抑制激光作用。超辐射发光二极管（SLD）本质上是高度优化的LED。虽然超发光二极管（SLD）像低电流水平的LED一样工作，但是它们的输出功率在高电流下也是超线性地增加。产品特点： 中心波长：750-1640nm 典型3dB带宽：10-110nm 典型输出功率：0.2-45mW 典型波纹：0.1-1dB产品参数： 中心波长(nm)光谱宽度(nm)输出功率(W)孔距(um)数组大小(um)型号9051035122 x 1222440 x 2430IPVSC09019401035122 x 1222440 x 2430IPVSC0902

产品简介红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是，根据基尔霍夫定律（Kirchhoff’s Law），任何物质在温度高于绝对零度时，其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级，在返回基态能级时通过发射释放能量；并且在热平衡条件下，物质的发射能量和其吸收率的比值，仅和物质的温度和发射的波长有关，即在热平衡时，物质发射的能量一定等于吸收的能量。黑体是最理想的吸收体，其发射率也是最大的。按照应用领域的不同，黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下，平板式黑体适用的温度范围在200°C以内，空腔式黑体适用的温度更高，有的甚至到达2000°C以上。在计算某些材料的发射率时，往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度，接着立即测量样品的发射谱图强度，然后将两者相除，即可归一化得到该温度下，该材料不同波长的发射率。下图为三种不同温度下黑体的发射谱图，我们可以从谱图中了解到，随着温度的不断升高，发射的强度是逐渐增大的，这是由普朗克定律（Planck’s Law）所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外，我们也发现，不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的，温度越高，峰位极大值越向高波数位移，也就是移向短波的方向，该现象符合维恩位移定律，nmax=1.93T。 黑体IR-563/301的技术参数n 温度范围：50 – 1050 °Cn 温度调节精度：0.1 °Cn 发射口最大尺寸：1英寸n 发射率：0.99n 发射源类型：空腔黑体n 8个可调光阑 FOLI 10-RE是荧飒光学自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台，可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FOLI 10-RE也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图变形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。 产品应用领域n 研究材料的发射谱图特性n 计算材料的发射率n 艾柱燃烧的发射光谱n 陶瓷片在不同温度下的发射光谱n 医疗器械中各种理疗仪的测试n (近)红外光源的测试n 超高温样品的光谱测试n 等离子体的发射测量n 人体穴位的发射研究n 玻璃及建筑材料的发射测量n 太阳能集热管的发射测量n 各类织物的发射测量 产品特点n 干涉仪：高级迈克尔逊干涉仪，光路永久准直，稳定性极佳，10年质量保证n 固态激光器：性能稳定，使用寿命达10年以上n 发射源：聚焦光路，用户的样品或者热源或者黑体n 分束器：ZnSe材质分束器和ZnSe窗片，防止光学器件潮解（可选KBr、石英分束器）n 检测器：内置双检测器位置，可选择常温检测器或者低温MCT、铟镓砷，可以实现软件自动切换n 光路设计：专用的发射光路设计，简洁紧凑，降低辐射损失，提高辐射通量 n 发射附件：可定制各种附件满足客户的实际测试需求 产品技术参数n 光谱范围：标准范围500～5000 cm-1（可选400-7500cm-1、400-10000cm-1、或扩展到近红外12500 cm-1）n 光谱分辨率：优于2 cm-1，通常使用8 cm-1n 测量方式：将样品放置在聚焦点，可以选择不同的温控仪或者黑体n 工作条件：工作温度：-5～40℃；工作湿度：0～100%R.H. n 电源：100～240VAC，50～60Hz, 20W；n 重量：12kgn 尺寸：44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含发射挡板) 产品配置选型 型号名称说明FOLI 10-RE傅里叶变换红外发射光谱仪单检测器(DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选) FOLI 10-RE Pro傅里叶变换红外发射光谱仪双检测器，软件自动切换，DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选FOLI 10-RE NIR傅里叶变换红外发射光谱仪近红外检测系统，软件自动切换（铟镓砷检测器和石英分束器） IR-563/301黑体适合高温发射平板式加热装置适合中低温样品的实验空腔式加热装置 适合高温样品的实验聚焦附件等方便用户聚焦 对于室温下的物质的红外发射测量，荧飒光学提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询荧飒的应用工程师。

THA2700氦等离子体发射光谱分析模块仪器功能 THA2700氦等离子体发射光谱分析模块可以安装于气相色谱分析仪，作为色谱分析的检测器，用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度，因此适合不同浓度范围的分析，尤其适合微量或痕量气体分析，并使得色谱分析更加简便，分析结果更加准确。工作原理氦等离子体发射光谱分析模块采用高频高压电源电离气体，产生正电荷离子和自由电子，形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞，离子和电子将自身能量传递给原子，使得气态原子被激发。原子被激发后，其外层电子发生能级跃迁，在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测，分析出各种气体成分的浓度。技术参数 工作环境温度: (5～40)℃；输出信号：-2.5V～+2.5V；24V直流电源：≥10W，纹波电流≤120mVp-p；气路接口：1/16英寸；流量范围：10mL/min～100mL/min；常规流量：20mL/min。技术指标分析成分：H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等；载气：高纯氦气；检出限：≤10×10-9；含尘量：≤0.1um；重量：约1.5kg；尺寸：170*111*90mm。技术优势u 原子发射光谱，灵敏度高，准确度高。u 高频高压电离源，稳定性好，无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件，仪器使用寿命长。典型工程应用领域u 空分氦气分析u 高纯气体分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱

产品概述 ICP-5000是集中阶梯光栅的二维分光系统、自激式全固态射频电源、科研级高速CCD为一体的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪，可以同时分析72个元素，覆盖元素周期表绝大多数金属元素和非金属元素；检出能力达到ppb级别。小型、智能化ICP-5000告别了过去的单道扫描时代，带您体验快速、全谱分析技术！ 电感电感耦合等离子体发射光谱仪-ICP-5000 产品特点分析准确 中阶梯二维分光系统，具备较高的分辨能力；防溢出背照式百万像素CCD检测器，紫外响应高，无紫外荧光膜，使用寿命长；多种背景校正技术可供选择；稳定可靠 全固定无运动部件的光学系统；稳定的质量流量氩气集成控制系统；可视化的安全联锁和运行监控。便捷易用 采用可拆卸炬管，内置自动化的炬管准直、光源优化功能。使用成本低 智能光室吹扫，紧凑的光室设计等多项措施降低氩气消耗；免费保外技术指导和平价现场服务。全面的分析软件 层次化的软件界面，操作直观、便捷，可满足不同层次客户的使用需求；丰富的方法库和版本化的管理方式更利于方法的传承、学习和维护。典型用户 高校、质检中心、环境监测站、企业、农业系统、地质地矿典型应用点 环境保护、地质冶金、电子电器、食品安全、化工制药

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

模块化红外光发射灯头（Modular Infrared Light Head）研究者有时需要红外光源来非侵入式观察动物的行为，有时候目标动物较小，需要用体视显微镜来观察，怎么便捷实现呢？介绍SFA-LH-IR850给你：红外光发射灯头，发出850nm红外光，与NIGHTSEA的体视显微镜荧光适配系统通用！可以直接插入适配系统中的灯座。这个灯头并不是荧光观测的必备件，可以作为补充件备用！条件允许的话，你可以单独购买灯头和灯座，作为一个独立的实验室红外光源使用！该灯头采用高功率850 nm LED和中等光束宽度的扩散透镜，以创造一个平滑的照明区域。输出以850nm为中心，具有大约50nm的FWHM(半宽度上限)，在波长小于750 nm的情况下，几乎没有发射。请注意，红外光对于人眼和许多照相机是不可见的。您需要一个适当的相机来记录观察结果。货号产品描述规格SFA-LH-IR850Modular Infrared Light Head个SYS-IR850Modular Infrared Light Head w/DIM Base个

5W无线充电接收器pcba发射方案pcb电路板生产厂家无线充电方案介绍：本方案采用国际一流IC智能充电，支持Android跟IOS手机无线充电；2A输出，快速为手机充电；单线圈无线充电，感应面积大。无线充电应用领域：小型直流用电设备中的通讯仪器仪表、智能手机、微型计算机、小型便携式家用电器等。无线充电方案参数：5V 输入，推荐5V2A的适配器；兼容WPC V1.1标准，单线圈无线充电器；高集成度，节省BOM成本；效率高达到73%；外来异物检测（FOD）功能；Dynamic Power Limiting 功能；ATB （自动温度平衡），保证放置很差的情况下温度不超过50°C。骊微电子的5W单线圈无线充电发射方案产品适用所有符合QI标准的无线充电设备，实行一对一的充电模式。输入电压：DC 5V~9V ，最大功率：10W（苹果快充7.5W），发射距离：5-8mm。因涉及核心技术，以上图片只是我司样品图片，一切以实际实物为准。所有的PCBA根据您的需求依具体尺寸要求进行定制。骊微电子主营业务：1、无线充电发射接收芯片：5W、10W、15W2、无线充电发射/接收方案： 1) 小功率：5-15W无线充电发射/接收方案；应用于智能手机无线充电器，小功率直流供电设备（如：便携式仪器仪表、对讲机、微型便携计算机、医疗手术工具、POS机、应急灯等无线充电产品），消费类电子产品（如：台灯、移动电源无线充电器、蓝牙音箱、蓝牙耳机、音乐播放器、便携智能电子产品、智能穿戴产品等无线充产品），办公室、会议室、机场、咖啡厅、餐厅、商城等地点的家具无线充电功能扩展配件。 2) 中功率：24-200W无线充电发射/接收方案；应用于AGV小车、安防设备、笔记本电脑、便携式仪器仪表、电动车、电动工具、儿童电动车、摩托车、工业机器人、广告照明灯、机械手臂、无人机、吸尘器、液晶显示器、医疗设备、中功率照明灯等 3) 客制化定制方案：根据用户需求，接受客制化无线充电发射/接收方案订制 等