镀层测厚仪

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镀层测厚仪相关的厂商

  • 深圳微科泰仪器仪表有限公司,为精密测试仪器代理商,服务对象为半导体生产行业,PCB 生产行业及一般电镀行业等,集经营销售、技术支持、售后服务于一体。主力经销美国 Thermo X射线镀层测厚仪、韩国Micro Pioneer X射线镀层测厚仪、日本精工SII X射线镀层测厚仪、美国禾威WALCHEM自动加药控制器、美国SCS离子污染测试仪等国外进口仪器。自公司成立以来,公司本着“诚信经营、客户至上”的宗旨,建立了完善的销售及优质技术服务体系,在行业中赢得了优良的口碑!欢迎您来电洽谈合作产品,我们将竭诚为您服务。期待着能与您携手并进,一起为中国的发展做出自己的努力,共创美好明天!欢迎惠顾~~~~以下是我司代理的部分产品:一、韩国micro pioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)二、美国 Thermo XRF、ZXR、LXR、GXR系列X射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)三、日本精工SFT-3200/9100/9200射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)四、进口镀层膜厚标准片(Au、Ni、Ag、Sn、Zn、Cu、Cr)五、美国禾威WALCHEM自动加药控制器1、化学镀镍自动加药控制器 WNI-310/4102、化学镀铜自动加药控制器 WCU-310/4103、电导率检测自动加药控制器 WEC-310/4104、PH/ORP检测自动加药控制器 WPH(ORP)-310/410六、日本KYORITSU水质离子测试包可测定项目(离子浓度):氰化物 / 化学需氧量 / 铬 / 铜 / 镍 / 铁 / 甲醛 / 氟 / 硝酸 / 亚硝酸 / 臭氧 / 酸碱度 / 磷酸 / 硫 / 亚硝酸 / 银 / 铝 / 砷 / 硼 / 钙 / 氯 / 二氧化碳 / 二氧化矽 / 锌 / 镁 / 锰 / 氨 / 过氧化氢等。七、美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪八、美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品九、台湾milum PCB表铜、孔铜测厚仪 1、mm610手持式PCB孔铜测厚仪2、mm125 手持式PCB铜箔检测仪3、mm805桌上型双功能孔面铜厚测厚仪
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
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  • 铂精电子科技限公司是美国优特膜厚仪华南总代理主营美国优特UTX系列镀层测厚仪,膜厚仪,元素分析仪,水质分析仪。美国优特镀层测厚仪,RoHS检测仪器UTX850B,镀层测厚仪,RoHS检测仪器UTX850,镀层测厚仪,RoHS检测仪器UTX750B,镀层测厚仪,RoHS检测仪器UTX750,镀层测厚仪,RoHS检测仪器UTX650等铂精电子科技有限公司是天准华南区一级代理,产品包括二次元/三次元 美国品牌X-ray探伤仪,水滴脚测量仪,水平仪 等各种实验室仪器.深圳市铂精电子有限公司负责其产品中国华南地区销售和服务。,联系人:孟生:13603008525 电话:0755-23065511 传真:0755-23065811 E_mail: Pt-king@foxmail.com
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镀层测厚仪相关的仪器

  • 镀层测厚仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:产 品 介 绍: 订购编号:20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途:广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合,多功能、耐用的设计,专为适应恶劣的工作环境而制造,典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 (涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一,我们是牛津测厚仪中国一级代理,专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题) (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数:应用范围: 磁性基材上的非磁性涂层,例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层,例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法:磁感应或涡流式 ●测量精度:1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率:0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸);25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量:12,400条读数 ●低铁和无铁层厚度:12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池) ●单位:英制和公制,可转换 ●电池:9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,高值,低值,由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口:RS-232串行输出端口 ●显示:1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国主要特点:品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头:配备有世界上的检测探头 □测量精度:1%或± 0.1&mu m依照参考标准片,分辨率:0.1&mu m □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
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  • X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表,首饰,眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB(线路板)
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  • 镀层测厚仪 400-860-5168转5992
    高性价比上照式光谱测厚仪,对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。可靠的高性能:测试精度、稳定性高,在提供高质量的同时减少浪费和停机时间。更高的性价比:制造工艺升级,更具性价比,大大节省使用成本。前沿检测技术:高级成垂直光路系统,采用先进的解谱技术和影像识别算法,实现精准、快速、智能、自动检测,满足企业检测需求。使用寿命更长:模块化设计,聚焦节能,搭载自动休眠模式,延长使用寿命。核心EFP算法:先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便,而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。四焦一体装置:搭载高集成四焦技术,可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件。上照式设计:上下位机管理分工,可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量。适用性强:精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析。自动:可编程自动位移平台,无人值守、自动检测样品;一次编程,便可实现成百上千个样品点的高效检测。智能:实现自动AI影像智能寻点,编程档案自动匹配测试位置,在面对大批同类型样品检测时,具备明显的优势。在线:根据客户要求,可个性化定制产线在线式检测,为工业4.0提供在线检测整体解决方案,提高检测效率,实现自动智能化工厂。XD-1000上照式光谱测厚仪,对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件,如线路板、引线支架、卫浴产品等
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镀层测厚仪相关的资讯

  • 天瑞镀层测厚仪Thick 800A取得技术突破
    天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。   镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。   在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已达0.2mm以下。   在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下,公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作,我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析,摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术,并应用了几项本公司的发明专利,终于攻克技术难关,取得了突破性进展。据对比测试结果分析,国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm,我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm,天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。   为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求,本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段,目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产,最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱,和广大客户会面。
  • 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演
    Thick 800是我司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞最新科技与智慧的结晶,领先国际水平,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。 Thick 800可精确测量各类镀层的厚度,精确度达到0.01&mu m,同时镀层分析能力多达5层,能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等优秀特点。 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演于5月16日在深圳启动,历东莞、广州、厦门、昆山、嘉兴、温州等地,于6月13日在青岛胜利结束。经公司领导密切关注和亲临指导,整个路演活动非常成功。顾客对镀层测厚原理、Thick800的性能特点、Thick800的比较优势有了全面的了解。 在深圳、东莞站,许多顾客对仪器表现出浓厚的兴趣,他们仔细询问了仪器的技术指标、配置、功能等。在昆山站,顾客围着仪器进行了仔细的观摩,他们认真察看了操作人员的演示。在温州站,顾客踊跃提问,积极表达自己的关切点,主动了解公司的售后服务、仪器应用和销售等情况。他们纷纷表示,参加我司的全国路演活动,不但了解了一款技术领先的仪器,而且了解了一个魅力四射的公司,体验了一种服务顾客、关注需求的企业文化。 至此,我司Thick800镀层测厚仪全国路演活动胜利落下帷幕。 天瑞仪器副总经理胡晓斌在昆山站作Thick800镀层测厚仪专门报告 主持人正在演示Thick800的产品说明、技术参数及配置 客户仔细聆听路演报告 客户向主持人询问产品的性能及售后服务等问题
  • 新品发布!浪声新品ScopeX PILOT镀层测厚仪重磅上市
    浪声重磅发布了新一代桌面式镀层测厚仪—ScopeX PILOT,ScopeX PILOT采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微焦技术,旨在为您提供最优化的镀层分析解决方案。 新品ScopeX PILOT镀层测厚仪的特点包括: l可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。l多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。l下照式设计从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。l无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。l变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。l高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台,高精度可达25μm,使微区测量更便捷。 浪声一直秉承创新精神和匠心精神,拥有十几年的镀层分析专业知识沉淀,开发了多种镀层应用,其中包括一系列产品:微焦斑、台式和手持式XRF仪器,还提供多样的光斑尺寸、探测器、样品台配置,为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。浪声一直坚持以客户为导向,不断的创新,持续提升核心竞争力,不遗余力助力国产科学仪器自主创新。 更多关于ScopeX PILOT镀层测厚仪,请联系我们!

镀层测厚仪相关的方案

镀层测厚仪相关的资料

镀层测厚仪相关的试剂

镀层测厚仪相关的论坛

  • 求购镀层测厚仪

    请问涂层测厚仪与镀层测厚仪有什么区别,求购镀层测厚仪,联系电话,13695244645。

镀层测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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