材料分析测试服务联盟

仪器信息网讯 2012年12月19日，由北京材料分析测试服务联盟主办的“2012年材料测试服务业发展高峰论坛”在北京召开。国家工信部原材料司副司长潘爱华、国家科技部工业发展处调研员李治农、国家认监委实验室与检测管理部副主任沈军、国家标准委工业标准一部副处长袁晓鹏、北京市质监局总工程师喻红、北京市科委处长许心超出席了会议。本届论坛紧密围绕测试服务业发展在政策需求、产业发展和服务业发展、实验室建设和管理、技术创新、标准建设、产业链合作和协同、公共平台等方面的主题进行了深入研讨。110多位来自检测机构、科研院所、生产企业等单位的专家出席了此次会议。 国家科技部高新司工业发展处调研员李志农说：“党中央国务院非常重视服务业，相继发布了关于加快发布服务业的若干意见，关于加快服务业若干政策措施的实施意见、十二五服务业发展规划等文件，来促进服务业的发展。在党的十八大报告中明确指出，经济发展更多依靠现代服务业和战略性基础产业的带动，加强技术创新、技术集成和商业模式的创新，推动现代服务业发展壮大。”　　李志农强调说：“科技部高度重视现代服务业的发展。十一五期间，科技部发布了《现代服务业科技发展行动纲要》，启动了现代服务业科技行动，在国家周计划中部署了一批现代服务业科技项目，累计投入国防经费10多亿元。为促进十二五现代服务业的发展，科技部采取了多项措施，一是组织编制了现代服务业科技发展十二五多项规划，着力推动生产型服务业、新兴服务业、科技服务业三个重点方向发展，共建现代服务业技术支撑、科技创新和产业发展。针对测试服务业、十二五规划中明确指出：推进测试服务业市场化的进程，积极支持第三方测试服务机构发展，培育一批综合性的测试服务机构。二是开展近代服务业的推进和示范，初步形成以示范城市、试点园区、产业化基地和示范企业为现代服务业的发展格局。三是把服务业作为一个单独领域，加大现代服务业科技创新的支持力度。据统计，从去年到今年科技部一共批复科技服务业项目19项，共计3亿元。”更多内容http://www.instrument.com.cn/news/20121221/087510.shtml

香港城市大学材料微观分析及性能测试专业服务Materials Micro-analytical Characterization and Testing Services( M2CTS )香港城市大学深圳研究院材料微观分析与性能测试专业服务地址：深圳市南山区科技园虚拟大学园A-413电话：0755-26712113传真：0755-26017717 邮箱：indshuogong@cityu.org.cn联系人：龚硕 先生http://www.cityu.org.cnhttp://www.cityu.org.cn/service/demo_file.pdfhttp://www.cityu.org.cn/service/introduction_file.doc主要实验室一、金相实验室• Leica DM/RM 光学显微镜主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。• Leica 体视显微镜主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷；2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。• 热振光模拟显微镜• 图象分析仪• 莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码 照相装置二、电子显微镜实验室• 扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335)主要特性：1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。• 透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200）主要特性：1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。三、X射线衍射实验室• XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性：1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。2、可升温（加热）使用。• XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪主要特性：1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。5、可测尺寸由φ 10 × 10mm至φ280×120mm；最大探测深度：10μm• XRD-Bruker—X射线衍射仪主要特点 ：1、有二维探测系统，用于快速测定金属及粉末样品的晶体结构（如密排六方、体心立方、面心立方等）、晶型、点阵类型、晶面指数、衍射角、布拉格位移矢量。2、用于表面的残余应力测定、相变分析、晶体织构及各组成相的含量及类型的测定。3、测试样品的最大尺寸为100×100×10(mm)。• 能量散射X-射线荧光光谱仪 (EDXRF)主要特点：1、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、 S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等。2、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。3、最大可测尺寸为：φ280×120mm目标• 领导技术服务发展潮流，在珠江三角洲地区为广大厂家包括制造业，能源业，建筑及建材业等提供高水平的材料微观分析和性能测试专业服务。• 通过提供服务，促进城大与广大工业厂商之间的专业技术合作交流，推动科技成果转化。适用客户半导体，建筑业，轻金属业，新材料，包装业，模具业，科研机构，高校，电镀，化工，能源，生物制药，光电子，显示器。

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