触针显微镜

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

仪器简介： MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。技术参数：1. 显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4µ m× 0.4µ m,竖直(Z)范围0.4µ mAS-12系列：横向(X-Y)范围10µ m× 10µ m,竖直(Z)范围2.5µ mAS-130系列：横向(X-Y)范围125µ m× 125µ m,竖直(Z)范围5.0µ mPF50：横向(X-Y)范围40µ m× 40µ m,竖直(Z)范围20µ m2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （带防震系统的测量值）3. 样品大小：直径&le 15mm, 厚度&le 5mm4. 针尖/悬臂支架： 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选)；电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选) 低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选) 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音： 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ；防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选)主要特点：1. 世界上最高的分辨率2. 出众的扫描能力3. 优异的可操作性4. 非凡的灵活性与功能性5. 无限的应用扩展性Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括： 轻敲模式(Tapping Mode AFM) 接触模式(Contact Mode AFM) 自动成像模式(ScanAsyst) 相位成像模式(Phase Imaging) 横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM) 磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM) 扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM) 力调制(Force Modulation) 电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM) 扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM) 表面电势显微术(Surface Potential Microscopy) 力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement) 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching) 电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM) 皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy) 隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA) 导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM) 扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM) 扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode) 压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode) 其他更多模式.... 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail： 产品咨询热线：

Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用最新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼

详细信息：仪器简介：来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜（LSM）以及探针扫描显微镜（SPM）功能一体机，可以满足不同样品的观测需求。LEXT OLS4500可以轻松实现毫米到纳米的观察和测量，放大倍率由几十倍到高达百万倍。找到观测目标后，可以在光学显微镜模式、激光显微镜模式和探针显微镜模式之间自由切换而不用担心目标消失。可以使用探针显微镜快速而正确的完成观察。 特征及优势： 结合光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜为一体，拥有各自的特长，三种模式可自由转换，无需重新放置样品。探针显微镜拥有多种观察模式（基本模式：接触模式、动态模式、相位模式；选项模式：电流模式、表面电位模式、磁力模式）可以观察、测量样品表面的形状，还可以进行物性分析。涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元，可以无缝切换倍率和观察方法，而且能进行纳米级观测。采用装在电动物镜转换器上的物镜型SPM侧头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端，所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。被精确调整过的电动物镜转换器、SPM侧头、微悬臂支架，只需把已调好的微悬臂位置的支架插入SPM侧头中，即可完成微悬臂的更换，提高了观察和测量的效率。具有向导功能，操作简单，可迅速获得测量结果。应用实例：1、高分子薄膜 2.铝合金阳极氧化膜 3、DVD表面 4、维式硬度计压痕 5、TiO2单结晶电路板 6、IC元件圆孔彩色印刷 a1、光学显微镜 a2、SPM a3、SPM形态分析乳酸菌 b1、LSM b2、SPM b3、SPM截面形状分析墨粉粒子 c1、LSM c2、SPM c3、SPM截面形状分析

布鲁克（BRUKER）探针不为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针

仪器简介：NTEGRA平台是一个革命性的技术概念，在拥有所有SPM技术：原子力/磁力/静电力/表面电势/导电原子/扫描电容/压电力/纳米刻蚀等功能的同时，还能配备近场光学显微镜/共聚焦拉曼/外加磁场/超声原子力/纳米压痕等功能！。Prima则是这个平台中的基础SPM，可以在此基础上根据科 研需求提供多达40 中SPM 功能，其中的每种功能都有一套在其专业领域有着杰出表现的独特配置。可选择配备独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展最大到200x200um。技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um 扫描范围：90× 90× 9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：&le 0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃ 主要特点：Ntegra Prima 是一个基本的SPM 系统，在这平台上可以根据科研需要提供40 种SPM 功能。 Ntegra Aura 是一款能在气氛控制以及低真空环境下工作的SPM，专门用于电磁等测量。 Ntegra Therma 只有10nm/h 热漂移能长时间可靠工作，并且能在-30℃~300℃环境下测量。 Ntegra Maximus 能够测量100mm 的大样品，在半自动模式下可以连续工作。 Ntegra Solaris 是一款近场光显微镜，能够提供所有近场探测模式，从而突破衍射极限。 Ntegra Vita 能与倒置显微镜联用，专门用于生物方面的检测。 Ntegra Tomo 能与超薄切片机联用，且制备用于研究的纳米片层的新鲜表面（也适用于电镜）。 Ntegra Spectra 集成了AFM-SNOM-Confocal-Raman 从而实现针尖增强（TERS）

K&S先进减震系统显微镜减振台/防振台/隔振台SOTO TT系列轻量级紧凑型振动吸收系统减少由各种环境干扰转换到工作环境的不必要的振动性能显著。由工程师、物理学家和具有隔振和精密仪器专门知识的领Xian行业顾问开发，从而有效地吸收振动和减少干扰。 描述：实验室工具例如：微量天平、小型AFM、光学显微镜等Zui具性价比的隔振方案。K&S隔振台主要优势：1、 专利性结构2、 最小的厚度，最轻的质量3、 极大提高设备性能及质量4、 易于集成到工作站中5、 没有调试要求--安装极简6、 全解耦结构隔离来自地板的振动和由工具产生的振动7、 适用大部分反向显微镜8、 高阻尼阶跃响应--对有意或无意干扰的响应9、 可工具内部减震系统串联使用10、 不会产生低频共振，不会造成共振放大11、 对高重心低敏感度，由于高刚度（高于气浮隔振台80倍）和高阻尼水平。产业领域及应用：生物及生命科学：反向显微镜、显微操作器IVF实验室科学实验室：精密天平真空泵和压缩机无振动环境对倒置和光学显微镜极为重要。意想不到的振动可能引起卵胞浆内单精子注射（ICSI）的高变性率减少活检后胚胎的植入潜能较长的工具稳定时间和不准确的测量其他不必要的故障 性能曲线：

PAN式低温扫描探针显微镜系统 Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括：- PAN STM/AFM扫描头体积小（2.96”X1.55”)- 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围- 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针与样品更换- 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体- 与RHK新全数字R9控制器一同使用适用于拓扑缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。 主要技术参数:- 工作模式：STM与非接触式AFM- 温度范围：300mK RT VT HT- X-Y-Z位移范围：5mmX5mmX10mm - 扫描范围：5umX5um （RT）- 样品尺寸：10mmX10mm- 扫描头尺寸：40mmX70mm 结构紧凑，体积小：内置减震系统、可水平或垂直放置 Pan式低温扫描探针显微镜结构其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流阻尼减震系统；根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；初次之外，它兼容常用的低温恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。原位样品与探针更换：操做简单、快速；性能可靠 在低温和超高真空环境中，样品和针的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针更换装置，并提供了多个样品与针的放置室。Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加热、样品剥离、样品轰击等等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。 兼容各种磁体和恒温器为充分满足科学家的要求，RHK与磁体和恒温器制造商紧密合作，开发了低温扫描探针显微镜整机系统和立扫描头模块系统，根据用户的特殊要求提供了一整套的解决方案。 RHK公司将上先进的全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫描探针显微镜中，集中研发力量，推出了噪音低的R9扫描控制系统和IVP-R9前置放大器。应用案例： Si(111)表面7X7重构，4KBi2Se3表面形貌，4K部分用户名单： - University Of Texas- University of Maryland- University of Chicago- Columbia University- Technischen Universitat Berlin- Academica Sinica (2)- Georgia Institute of Technology- Weizmann Institute of Science- Indian Association for the Cultivation of Science......

原子力显微镜主动减振台/减震台 品牌：HERZ型号：AVI-600-XL描述：AVI系列是一款紧凑型模块化的主动隔振系统，有利于为基础研究、应用研究、生产等领域所用精密仪器创造稳定的测量环境。AVI系列可在宽频率范围内进行隔振，为原子力显微镜、非接触式表面轮廓仪、激光干涉仪、微型检测设备等提供优异的隔振性能。适用于各类大型电子显微镜AEM\SEM\ATM\TEM,干扰仪防震台，轮廓仪防震台，电子太平防震台，超快激光系统防震台，时频系统防震台，大型半导体设备防震台，激光设备主动防震！产品亮点： 六个空间方向自由隔振(0.5Hz - 200Hz主动隔振, 200Hz被动隔振) 5-20ms响应时间 低频隔振性能优异,安装和使用简单系统主动检测输入振动并动态消除 紧凑、模块化的多功能设计 稳定性高，能无故障连续使用多年无低频共振、无空气要求 应用范围： 超高真空扫描探针显微镜（UHV-SPM）光刻工具高精度计量工具光谱仪器升级选项：可与LFS低频稳定器配套使用来增强低频隔振效果，隔振频率低频段延伸至0.5Hz。技术参数：型号：AVI-600XL/LP系统配置：独立隔振装置 & 控制装置主动隔振范围：大致为1.0 Hz - 200 Hz 被动隔振范围:大致为200 Hz以上显示屏信号:多路复用信号用于示波器显示器包含和不含隔振的振动水平。 LEDs 指示输出阶段的过载情况。单元尺寸(每个):318 x 856 x 112.5 Hmm控制器尺寸:448 x 286 x 143 Hmm隔振单元重量: 34kg负载能力:1200 kg (同等/低重心) 输入电压: 90 - 125 VAC / 200 - 250 VAC, 50 - 60 Hz功耗：通常27W温度范围：5℃ - 40℃相对湿度：10 - 90 % (5 - 30 ℃)?10 - 60 % (30 - 40 ℃)室内/室外使用：仅用于室内隔振效果：性能对比图：SEM 的研究人员在两种独特条件下进行成像： 不含隔振系统和包含AVI系列隔振台。当使用AVI系列隔振台搭载SEM时，所得图像表明图像质量和整体测量清晰度得到大幅提升。原子力显微镜主动减振台/减震台

减震台：电子显微镜主动减震系统电子显微镜主动减振台/主动防振台电子显微镜Zui先进的主动减震系统KNS ArisMD主动减震模块/主动减震台，能够消除环境振动对电子显微镜造成的影响，使得电镜能够在Zui大的性能情况下持续工作，特别是扫描电子显微镜SEM和透射电子显微镜TEM。轻量级紧凑型结构设计使得ArisMD主动减震模块易于集成到电镜工作站中，安装简易，无须提高电镜以及重新调试。由在精密测量和精密制造领域富有经验的工程师、物理学家以及技术领Xian的工业顾问共同研发，ArisMD主动减震模块/主动减震台在电镜减震以及抗干扰方面的高效性标志着ArisMD已经成为革Ming性以及关键的产品。ArisMD产品主动优势：1、 性能： 6自由度主动减震 主动减震频率从0.5Hz起 解耦的结构体系 阻尼可变2、 轻量型紧凑型更美观的结构设计ArisMD结构尺寸：270mmX230mmX75mm3、 安装简易，易于集成到电镜工作站中，无须提高电镜及重新调试4、 价格低，性价比高5、 功能更高的制动器制动主动减震频率范围可通过软件调节可远程控制6、 内置实时诊断分析工具7、 高度可协调的减震控制：ArisMD能够匹配更具有挑战性的环境条件8、 灵活的内部结构体系，易于定制更满足要求的主动减震系统KNS ArisMD电镜主动减震系统安装方法：其它品牌电镜主动减震系统安装方法：电镜成像质量对比：（有无使用ArisMD主动减震系统） 实际应用案例： 电子显微镜主动减振台/主动防振台

MultiMode平台应用广泛的扫描探针显微镜（SPM），MultiMode扫描探针显微镜的ScanAsyst模式，采用的自动图像优化技术，使得用户能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中获得研究成果。技术参数：1. 显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头 AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4μm×0.4μm,竖直(Z)范围0.4μm AS-12系列：横向(X-Y)范围10μm×10μm,竖直(Z)范围2.5μm AS-130系列：横向(X-Y)范围125μm×125μm,竖直(Z)范围5.0μm PF50：横向(X-Y)范围40μm×40μm,竖直(Z)范围20μm2. 噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃 （带防震系统的测量值）3. 样品大小：直径≤15mm, 厚度≤5mm4. 针尖/悬臂支架： 空气中轻敲模式/接触模式(标准) 液体中轻敲模式/力调制(可选) 空气中力调制(可选)；电场模式(可选) 扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件) STM转换器(可选) 低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选) 电化学AFM或STM液体池(可选) 扭转共振模式(可选)5. 防震和隔音： 硅胶共振模式(可选) 防震三脚架(可选) ；防震台(可选) 集成的防震台和隔音罩(可选)

RIN针内窥显微镜 GRIN针内窥显微镜用于深度组织成像，可以将微米级的组织图像传递到针尖内窥显微镜的另一端。它们多数是用于多光子荧光成像（设计波长860nm）或者落射荧光成像（设计波长520nm）。 内窥显微镜可生产成GRIN单透镜，两侧面NA都是0.5；或者生产成GRIN双透镜，其物镜NA等于0.5，像方NA等于0.19。物方工作距离规定为水中或者组织中，像方为空气。双透镜长度不同，因为在GRIN转像透镜（NA=0.19）上增加了0.5周期长度。杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

显微镜专用隔振台+AVI-600系列主动隔振，主动减振，主动除振，主动防振系统。为各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜。白光干涉仪，光刻机，微纳米结构和加工仪器！超低频隔震台、防震台、减震台、除震台。AVI-600 WORKSTATION精密防震工作台，支持纳米技术的最佳解决方案。产品特点 主控频率 0.5Hz - 200Hz 被动防振频率 200Hz 5-20 毫秒的响应时间安装简单,容易使用 能无故障连续使用多年 紧凑、模块化的多功能设计产品应用 SEM TEM UHV-SPM 光刻 UHV-SPM 光刻 隧道显微镜 隧道显微镜 大型的对震动敏感的仪器产品优势 系统主动检测输入震动并动态消除 六个角度自由隔振 内部反馈回路抑制所有机械共振 提供优秀的低频段隔振能力 无低频共振并没有空气要求精密防震工作台AVI-600 WORKSTATION是一款紧凑型主动 隔振系统.对升级和整合到现有的需要低频隔振功能的设备来说是 理想的选择.AVI-600 WORKSTATION这款设备允许在一定的大 小范围内增设额外的模块以用于支持更大的仪器载重量.(最高9000磅)主动隔振，主动减振，主动除振，主动防振系统。为各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜。白光干涉仪，光刻机，微纳米结构和加工仪器！超低频隔震台、防震台、减震台、除震台。

仪器简介：Optiflex 系统既可以由动力装置控制，也能够手动控制，两种控制都具备达到最佳聚焦的能力。简易的手动控制能够实现快速调焦，而电动脚踏控制装置能够精确地将图像定位在最清晰的视野景象内。绕轴摆动的机械构造使手术医师能够快速简便地将非使用中的镜片移离手术区域。该系统既精简了手术操作的步骤和减轻了助手工作量又保证了现有技术所能实现的最佳视野景象。 Optiflex 能与所有顶级手术显微镜兼容，既能方便地连接到显微镜上，也能够从显微镜上拆下进行消毒杀菌处理。该产品由钛材料制成，即便经过反复的高压灭菌循环处理也能确保其长久的使用寿命。可以选择自动或手动 Reinverter (ROLS(R)) 。主要特点：精巧的调焦系统确保精确的镜头定位。高质量、可高温消毒的光学部件提供给您最佳分辨率的成像图像。使手术操作步骤化繁为简，无需助手帮助。优质的钛合金材质，更经久耐用。手动、自动翻转倒像装置可供选择。

技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃

同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜（SPM）具有很高的分辨率，实用性强，从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置，仪器成本合理，适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统，测量准确性，而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时，从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品，都可进行实验操作，且获得原子级分辨率，测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件；替换探针或样品等操作简便易行；集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统，可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计，包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台，超低噪音电子器件，都做了优化，具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置，对样品均可准确测量，高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面，包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件，都做了优化，得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描，达到对尺寸均可准确测量，而不管扫描尺寸，偏移量，扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像，并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外，闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描，而不用更换扫描器，且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转，图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用：您的应用是什么—Innova都已准备好：• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征

仪器简介：扫描探针显微镜(SPM)平台是为了在纳米尺度研究样品的表面性质而设计的。它能够让我们在几微米到几个埃的尺寸下肉眼观察并定量测量样品的力学性质（硬度，弹性，粘度），电学性质（导电性，电容性，表面电荷分布）以及磁的性质。Solver 平台拥有超过40 种测量方法，并且实现在大气，气氛控制以及液体环境下进行工作。技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描测量头部：AFM和SPM，可选配液相模式最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度10mm。针尖扫描：样品无限制XY样品定位装置：移动范围5× 5um，精度5um光学系统：根据客户需求配置样品温度控制：室温~130℃ 主要特点：Solver P47-PRO SPM 是一种可以在空气、液体和室温～ 130° C 的可控气氛下对不同的样品进行高精度综合分析的通用仪器。此型号不仅适合小公司或学校的试验室使用，同样适合大的研究中心使用。其现代化的设计提供了最高的测量精度和大量的SPM技术。可选配独一无二的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。该型号仪器现已装备到全世界600多个实验室，其中中国大陆正在使用的用户达40多个。

立体显微镜在观察物体时能产生正立的三维空间影像。立体感强，成像清晰和宽阔，又具有长工作距离，并是适用范围非常广泛的常规显微镜。立体显微镜操作方便、直观、检定效率高，适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷（印刷错位、塌边等）的检定、单板PC的检定、真空荧光显示屏VFD的检定等等。配测量软件可以测量各种数据。二、技术参数：1.目镜类型放大倍数视场（mm）目镜10Xφ202.物镜变倍范围 0.7X-4.5X3.显微镜为连续变倍，变倍比为 6.5：14.双瞳距调节范围 55-75mm5.移动工作距离 ： 200mm6.总放大倍数 ： 7—45X 深圳市力创仪器有限公司是华南区的运营中心，致力于营销、技术一体化公司。是一家光学显微镜、各类光学元件及部件的专业制造商，有着多年的光学设计、制造技术的积累，有一支专门从事产品开发和工艺研究的技术团队和管理团队。多年来，深圳力创仪器有限公司秉承以客户需求为中心，为各行业的客户不同需求提供高性能，高清晰，高品质的光学计算机结合的光学仪器产品，公司解决方案和最合适的产品为客户提供全方位的协助。优质、用心的服务博得了众多客户的信任和好评，公司逐渐奠定了在中国光学仪器行业中的地位,在国内、国际市场树立起良好品牌。公司主营产品：生物显微镜，体视显微镜，视频显微镜，金相显微镜，各种光学镜头以及光学元件等。公司发展理念:注重品质,精益求精!

产品介绍 致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM利用微悬臂探针结构可对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征，可实现大晶圆级大样品形貌表征,电动样品定位台与光学图像相结合,可在 300X300 mm 区域实现1 um的定位精度,激光对准,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作。致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM设备性能XY方向噪声水平0.2 nm闭环,0.02nm开环★Z方向噪声水平0.06nm闭环,0.03nm开环★XY方向非线性度0.15% Z方向非线性度:1%扫描范围90umX90umX9um(典型值)80umX80umX8.5um(最小值)鸢0.58 x~7 x光学变倍镜头,光学分辨率可达3.45 um,可3 mm焦距微调样品尺寸:可检测12英寸晶圆并且向下兼容8、6、4英寸以及碎片样品,可自动上下料(选配)全自动探针逼近系统,行程35 mm,步进精度50 nm致真精密仪器-晶圆级原子力显微镜AFM设备特色工作模式:接触模式、轻敲模式、非接触模式、相位成像等工作模式适配环境:空气、液相可旋转式扫描头，更方便于更换探针以及多功能探针夹自动化位移台搭配0.58x~7x变倍光学变倍镜头更方便寻找样品适配12英寸晶圆并向下兼容各种晶圆尺寸多功能配置:力曲线/力谱测量、表面电势测量、横向力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜、压电力显微镜、扫描开尔文探针显微镜 刻蚀和纳米操作

NTEGRA Spectra系统简介： NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 它将原子力显微镜、扫描近场光学显微镜，激光共聚焦显微镜、荧光光谱和拉曼光谱等各种分析手段完美地结合到一起。借助于针尖增强拉曼散射效应（TERS），其拉曼散射光谱和图像测量的分辨率达到了50nm！ Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系统将激光共聚焦显微镜、拉曼光谱、光学显微镜和扫描探针显微镜完美结合，提供了荧光光谱与Raman散射的空间3D分布测量，而扫描探针显微镜也兼备了纳米压痕、纳米操纵和纳米刻蚀加工等功能！ Scanning probe microscopy system NTEGRA Spectra在进行光学观测的同时，NTEGRA Spectra系统也可以通过多种模式对样品进行SPM表征，包括：原子力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描隧道显微镜、扫描近场光学显微镜、力曲线等等多大40种功能。这种独有的设计将光学与探针方法联合的设备，赋予了用户对样品同时进行多种性能表征的能力，使得用户可以观测样品的光学性质、化学性能、电学性质、力学性质和磁学性质等等！ System for the investigation of optical properties beyond the diffraction limit NTEGRA Spectra系统区别于其他光学设备的性能在于它能在超过衍射极限的分辨率下，对样品光学性质进行研究。扫描近场光学显微镜与局域的针尖增强拉曼散射效应使得用户可以对光转移、光散射和光极化进行成像，其Raman散射的空间分辨率达到了50nm！ NTEGRA Spectra系统的工作模式 原子力显微镜（力学、电学、磁性质等，纳米操作等多大40种功能） 扫描近场光学显微镜（透射、反射、收集、荧光） 激光共聚焦显微镜、共聚焦拉曼成像、荧光成像、光学成像 针尖增强拉曼散射-TERS（正置+倒置）扫描近场光学显微镜 ( SNOM / NSOM ) 环境控制：温度、气氛控制、液相操作、电化学环境、外加磁场不仅能将原子力显微镜-近场光学显微镜-光学显微镜-共聚焦显微-拉曼光谱完美的联用。此外每个功能还能单独使用即提供了：独立的AFM/独立的SNOM/独立的光学显微镜/独立的共聚焦显微镜/独立的拉曼光谱，所有功能都能在同一个软件下实现联用，并且能够同时得到测量结果。为了更好的体现Ntegra 的扩展性，该系统不但能和NT-MDT 的拉曼系统联用， 也同和市场上主流的拉曼进行联用，例如Renishaw，JY 等拉曼系统联用。

压电响应力显微术 (PFM) 生物材料与铁电材料等的成像 许多材料的机电耦合行为，如生物基细胞膜和蛋白质，铁电和压电材料从现在开始都可以用压电响应力显微镜来表征。 这一成像技术在开发基于铁电畴变等的新型电子设备方面引起了极大的关注，在对将来电脑存储等领域的诸多应用方面的发展有着巨大的潜力。 压电响应力显微术是在扫描探针显微镜的基础上，在接触式扫描过程中对探针施加一个交流电压，利用材料自身逆压电效应来探测样品表面形变的一类技术总称（见图1）。压电响应力显微术已经成为铁电材料研究的重要手段，广泛应用于纳米尺度畴结构的三维成像、畴结构的动态研究、畴结构控制和微区压电、铁电、漏电等物理性能表征等领域。其最大的优势就是同时具有极高的分辨率（~10-20 nm）和灵敏度（~0.1 pm/V）。

Microscope显微镜主动减振台/主动防振台主动隔振台：显微镜主动减震系统描述：轻量型、紧凑型的桌面式主动隔振系统，用于抵消工作环境对灵敏度高的精密设备产生的不必要振动，提高精密设备的性能。流线型的结构设计允许它无缝地成为工作站环境的一部分，安装简易并且不需后续的调整。由工程师、物理学家和具有精密结构专业知识的领Xian工业顾问开发，ArisTT在减少振动和干扰方面的高效性标志着它是实验室使用隔振的革Ming性和关键性工具。可内置特殊振动模块：* 允许测试目标系统或设备在不同振动条件下的性能。* 不同频率和振幅可调* 模拟真实世界环境条件* 验证目标系统或装置内部部件对振动的响应* 使用标准外部传感器了解振动和振动引起的内部部件共振对目标系统性能的影响* 提供学习目标系统限制的能力* 通过振动传递性的图表收集和分析数据产品规格：1、 专利性结构2、 6维主动隔振3、 主动隔振频率范围：0.5～100Hz4、 高阻尼阶跃响应5、 没有调试要求—安装极简6、 完美适用大多数实验室AFM、SEM隔振7、 可与工具的内部隔振串联操作产业领域及应用：分析工具：高分辨率台式显微镜AEM、SEM、ATM、TEM半导体设备：光刻纳米测量：纳米压痕机、轮廓仪、干涉仪精密测量：分析天平、硬度测试性能曲线图：KNS主动减震台显微镜减震实际应用案例：

卓聚科技 是一家集精密仪器研究、开发、设计、检测为一体的高端科研设备产业化公司。 扫描探针显微镜控制器可以实现扫描探针显微镜针尖的自动逼近、样品扫描、数据收集等功能，低信噪比，具备原子分辨率。扫描探针显微镜控制器特征 1.粗进针控制模块：手动进针，自动进针。输出电压可达350V，频率660Hz。2. Soft-db控制器：可输出±10V的扫描电压、隧道偏压，隧道电流的收集，反馈控制，数据处理。3. 电压放大模块：Soft-db控制器输出低压放大，达到驱动压电陶瓷管的功能，包含4个低压输入通道，放大倍数为15倍。 扫描探针显微镜控制器技术参数：粗进针控制模块输出电压可达350V频率可达1000HzSoft-db控制器输出电压范围±10V扫描范围可达2×2μm分辨率0.1（横向）?0.01（纵向）电压放大器电压增益15输出电压±150V输入幅度±10V通道数4以上就是东莞市卓聚科技有限公司提供的扫描探针显微镜控制器的介绍，了解更多直接咨询： 原文： 随着微电子、纳米科技和人工智能等领域的进一步发展，精密定位不仅在实验室用途广泛，工业界的应用也越来越多。该团队在以往研究基础上，发展出一系列具有自主知识产权的超精密定位产品，填补了国产空白。一个火柴盒大小、外壳包覆金属的小方块，通过电压控制能够实现纳米级别的精密位移，可以用于对精密度要求超.高的科学实验、精密制造和半导体工业等领域。日前，在松山湖材料实验室高.端科研设备产业化团队的实验室内，团队负责人许智展示了该团队拥有核心技术的压电驱动纳米位移台。

R10扫描探针显微镜控制器继美国RHK Technology公司推出的革ming性扫描探针显微镜控制器R9取得大成功之后，其研发团队通过升其软硬件和功能隆重发布了新一代R10扫描探针显微镜控制器。相比于R9控制器，R10扫描探针显微镜控制器性能提升主要包括： 全新的FPGA固件构架大地提高了配置灵活性 对于高测量提供了60多个可用的数据通道 数据流和扫描速度均提高5倍 优化的高压输出电路板，噪声水平降低到R9控制器的1/4 两个扫描探针控制系统 可设置任意密度的网格点进行图谱测量R10扫描探针显微镜控制器产品特点全集成SPM控制平台：模式和测量之间的所有连接都是通过数字域中的软件进行的，提供了大的灵活性和信号纯度。获得的图形硬件和实验设置系统允许快速方便的定制。数字锁定放大器：多2个PLL和6个锁定放大器可配置为立工作或连接在一起以跟踪多个谐波。可以生成并解调1 Hz到10 MHz以上的参考频率。解调带宽从10mHz到100kHz。方法允许跟踪边带，即使参考频率快速移动。反馈回路：增添至9个。在200 kHz时计算反馈回路。开尔文探测：测量多频KPFM。反馈回路测量接触电势。所有交流和直流模式可用。多速率数据通路：革ming性的方法提供同步的高速（16位@100 MHz）和高精度（22位@25 kHz）测量和的同步。探针防护装置/锁防护装置：基于时间的数据采集二次扫描发生器和反馈回路快速、故障安全提示接近，接近在输入设定点检测的5μs内停止。锁定防护装置停止扫描，并在超出范围参数的5μs内取出探头。返回范围后自动继续扫描。基于时间的数据采集：所有数据和事件都会在时间基础上进行捕获，以供以后检查。对测量参数（如扫描速度、反馈回路设定点、偏置电压）的更改以亚像素精度存储在数据文件中，并显示在存储的图像上。二次扫描发生器和反馈回路：一套R10控制器可控制2个立的扫描系统。这可以是带有两个扫描仪（大范围和小范围）的单个扫描头，也可以是两个立的扫描头。数据安全：所有数据都存储在每个扫描线末端的HDD中，以防止断电时数据丢失。所有数据类型（地形、光谱、FFT、示波器记录道）的后100个文件存储在硬盘上，以供将来分析。显微镜诊断工具：瞬态记录器：检测短至10ns的瞬态。瞬态记录器：100 MS/s采集，持续1秒。50MHz带宽FFT；4通道示波器@50kHz；数据记录器多可记录五天的数据。访问所有I/O信号：可配置控制路由和60+I/O信号采集。IHDL/Inventor SDK：交互式硬件开发语言：用户自定义的例程。支持LabVIEW VIshh、MATLAB、Python等，无需添加软件模块。内置偏置调制：用小到10μV的正弦波直接调制输出偏置DAC。调制频率高达10兆赫。Z位置调制多频调制与检测：直接调制输出DAC，正弦波小至10 pmR10扫描探针显微镜控制器基本参数Analog InputsUltra-high speed input channelsSample rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzInput range± 10V, ± 1V switchable under software controlInput impedance50 Ω, 1 M Ω switchable under software controlEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable gainUp to 512x at full bandwidthInput offsetInput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiers.Programmable AD/DC couplingInput signal can be AC or DC coupled as defined in software configuration.Analog Inputs (Continued)High speed input channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 6Input range± 10VAnalog bandwidth1 MHzEffective Resolution24 bit @ 200 kHz, 26 bit @ 12 kHzAnalog OutputsUltra-high speed output channelsOutput rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzOutput range± 1V/ , ± 10V on separate outputsEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable attenuationUp to 1024x at full bandwidthOutput offsetOutput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiersHigh speed output channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 10Analog bandwidth100 kHzEffective Resolution20 hbit @ 1 MHz , 22 bit @ 62 kHz, 24 bit @ 3.9 kHzDigital pulse countingFour channels @ 100 MHz count rateDigital Input/Output32 DIO linesR10扫描探针显微镜控制器设备构造前面板后面板高压放大器内部构造测试数据利用R10采集扫描隧道谱图，允许实时显示10条阈值谱线，且谱线的每个像素点可以单显示和分析。用户单位部分用户名单（排名不分先后），科研成果以及用户评价：清华大学、中科院物理所、中国科学技术大学、华中科技大学、国防科技大学、浙江大学......

MultiMode平台是世界上应用最广泛的扫描探针显微镜（SPM），已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于其领先的高分辨率和高性能，无与伦比的多功能性，以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在，MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式，采用其先进的自动图像优化技术，使得用户无论具备什么技能水平，也能在材料科学，生命科学，聚合物研究领域的研究中最迅速地获得符合要求的研究成果。 SPM的控制电路也是影响性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构：具有高数据带宽，低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力。布鲁克的最先进的技术已经开创工业上的新标准，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。 Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷，适合于生物学，聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35º C到250 º C范围内对样品进行温度控制；并可以在水，溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时，采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

MinusK BM-4原子力显微镜AFM防震台/减震台/隔振台Zui具成本效益的台式减震平台，在水平和垂直方向可达到0.5Hz。重量：约21kg，规格： 427mm W x 427mm D x 216mm H产品型号：承载重量：25BM-4 0 - 25 lb (0 - 11 kg) 50BM-4 20 - 55 lb (9 - 25 kg) 100BM-4 50 - 105 lb (23 - 48 kg) 150BM-4 90 - 155 lb (41 - 70 kg) 200BM-4 145 - 205 lb (63 - 93 kg) 性能：整个载荷范围内均可达到1/2 Hz的垂直频率或更低。 水平频率取决于载荷，额定载荷或接近额定载荷时可达1/2 Hz或更低。产品优势：隔振效果通常比高性能空气隔振系统高出10-100倍； 无需空气动力或电力； 使用方便，设置和调节简易，无磨损，无需维修。典型性能曲线图： MinusK BM-4原子力显微镜AFM防震台/减震台/隔振台

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。产品特点：+ 可以测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。+ 的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。主要技术参数： + 位置定位精度：单向 0.05 μm；双向 1 μm+ 大扫描区域：100 mm × 100 mm 典型值+ 局部测量精度：5 μm（与该区域的热传导有关）+ 信号测量精度：100 nV（采用高精度数字电压表）+ 测量结果重复性：重复性误差优于3%+ 塞贝克系数测量误差： 3% (半导体)； 5% (金属)+ 电导率测量误差： 4%+ 测量速度：测量一个点的时间4-20秒应用领域：1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察材料退化效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、固体电介质材料中的传导损耗6、阴材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分+ 三矢量轴定位平台及其控制器+ 定位操纵杆+ 加热、测温探针+ 力学接触探测系统+ 模拟多路器+ 数字电压表+ 锁相放大器+ 摄像探测系统+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机+ 样品台与样品夹具样品夹具加热测温探针部分测试数据1、塞贝克系数测量Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）2、接触电阻测量存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中ΔR正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）全球部分用户名单：Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University

Nanonics多探针平台在纳米材料表征和加工应用中的独特性石墨烯的发现开启了新一代材料的进化史.这引领了低维度纳米材料和混合材料的多样发展.这些材料的发现也导致了对研究平台的反思,新的平台必须适应这些下一代基础材料的纳米表征和加工,以及相应的应用和新器件开发. 对于这种平台的一个基本的要求就是具有能将纳米成像和纳米操作以及其他探测台整合的能力.在Nanonics Imaging Ltd公司进行这一开拓之前,这种联用通常需要在线的扫描电镜（SEM）来有效的指导纳米操作探针进行纳米材料的研究。FEI Inc公司提供的SEM集成纳米操作台正是实例。但是，即使有SEM的指导的纳米操作台也会对这种纳米材料造成物理损伤或者引入有害的电荷。用户真正需要的是能够在原子级别来反映样品结构和性能的平台，这涵盖了高灵敏度的电学，热学，光学甚至化学的纳米表征。这正是Nanonics Imaging Ltd. MultiProbeMultiView 4000 (MV 4000)平台的独特之处。 这个多探针平台可以充分的集成所有扫描探针显微镜的功能，包括结构和性能的纳米成像。 同时保证纳米探针的超精细分辨率，又不会引入电子束伤害。并可以有效地使用常规的纳米探针用于纳米操作应用。因此，Nanonics多探针平台将多探针AFM探针同时用于结构和性能应用测试，并将先进的纳米操作台开放的联用起来。这项技术将扫描探针显微镜和探针塔的所有优势结合了起来。 为了提供这样的系统，Nanonics不仅在仪器设计方面取得了突破，而且还开拓了NanoToolKitTM专利探针的设计用于超精细的结构和性能成像。这些探针实现了一个探针能够真正的碰触另外一个探针。 这甚至可以允许一个AFM探针对另外一个AFM探针或者纳米操作探针进行成像。纳米操作探针和AFM探针的区别是不具有反馈和成像功能。 为了开启这一新领域，Nanonics在建立之后的20年中一直致力于研究现有单探针或多探针AFM设备中灵敏的AFM反馈机制。这种方法采用了音叉反馈。这种反馈机制非常的灵敏，甚至允许用户用于研究单个光子的作用力。 除了使用这种特有的成像模式，Nanonics平台也可以使用常规的AFM激光反馈模式和AFM硅悬臂达到出色的AFM扫描效果。这种悬臂探针需要反射的激光用于反馈调节。另外，这些探针无法相互之间接触因此无法进行多探针应用，这是他的固有限度。并且由于这种反馈机制明显很低的力灵敏度，纳米材料和元器件的研究并不想采用。 一个主要的局限是这种基于激光束的反馈会在材料上引入电荷，在基本表征测试中引入背景噪音。这些电荷会掩盖这些材料与众不同的物理现象。因此，能够在没有干扰的情况下测试电学，热学和光学特性是对于理解材料基本物理和器件功能必不可少的要求。除却多探针的优势以外，不束缚于外部激光反馈干扰的测试这些功能特性与传统的AFM技术相比具有更大的优势。 无光学干扰的优势对于多探针AFM集成的功能测试也尤其重要，如此探针才能真正物理意义上的接触彼此。这才能实现在两个探针纳米量级的距离变化情况下进行传导机制的测试。 因此，Nanonics多探针集成SPM平台实现了多种独特的测试功能。这是首个被引入国家科学基金会支持的报告的系统。Nanonics平台还在多个方面继续创新。首先，在这些研究中真空环境搭配加热/制冷的环境控制具有重要意义。Nanonics平台可将环境控制与扫描探针显微镜领域的成像功能结合。在我们的研究中需要将温度升至最高350摄氏度，这通过Nanonics平台是可以实现的。这一需求还需要搭配改进后的常规纳米操作台用于样品的精确操纵，这也可以通过Nanonics的系统来实现。而且，这些系统的设计都保证了完全开放自由的光学轴。这使标准的研究级光学显微镜可以与系统完美集成，用于从高真空系统的上方和下方观察样品。这种光学的灵活性在以往从未被实现。为了实现这一目的，SPM系统的结构和探针的设计都必须保证没有任何光学吸收，这对于器件研究尤为重要。传统AFM系统中都无法实现这样沿着光轴上下观察的设计。Nanonics系统提供的全视野不仅对于上述提到的未来升级非常必要，而且利用研究级高放大倍数的光学显微镜用户可以快速的将探针之间的距离缩短到微米量级。当然，所有的功能都同时保证AFM扫描的极限噪音在0.2nm级别伸直更低。新一代材料研究的中心还在于在线光谱表征。这些材料都具有很多重要的光谱特性，是非常必要的表征手段。除此之外，光致发光和振动光谱的研究也很必要。Nanonics是在1990年度就将振动光谱和扫描探针显微镜联用起来的公司。为了这一联用，Nanonics研发了第一台探针和样品都可以扫描的系统。样品扫描对于振动光谱是必要的，而Nanonics这种联用系统的首篇文章在1999年就发表了。这种联用功能现在可以复制到多探针系统上，实现了基于上述所有扫描探针，探针台，和真空功能的化学表征，用于研究材料在电运载过程中的化学性质改变。自从开发了第一套集成扫描探针和振动光谱联用系统，Nanonics多年来也一直努力创新于近场扫描成像领域，将独特的等离子探针引入振动光谱测试，实现纳米级别的振动光谱联用，如TERs（针尖增强拉曼测试）。 Nanonics在近场光学成像领域的专业性早已获得世界范围内的认可，使用多探针系统的成果也很广泛的用于顶级文章的发表。这些功能考虑到了纳米光学成像的多样性。针对这些新材料，还有一个重要应用就是使用纳米光源在没有背景干扰的情况下激发纳米光电效应。这对于研究这些低维度材料及其合成材料在金属接触的局部效应下的能量级非常必要。最后，多探针表征和纳米加工的特有结合也可以通过这个平台实现。在最近发表的一篇文章中，具有Nanonics NanoToolKitTM专利设计的纳米加工探针用于在纳米级别氧化一个纳米结构，并记录由于氧化引起的化学势变化。市面上其他能提供气体纳米加工的系统都结合了SEM和聚焦离子束技术，如FEI Inc和Hitachi High-Technology Corporation公司提供的双束产品。这种设备的价格都超过了一百万美金，并且不能提供实时在线测试以及其他Nanonics平台提供的很多优势。比如上面Patsha用户发表的文章中强调的扫描探针显象模式中的在线化学势成像是这种双束系统所不能提供的。总而言之，专利获奖的Nanonics探针平台可以允许科研人员有效的完成多种独特的测试表征功能。

德国Attocube Systems AG公司成立于2002年，作为纳米科学领域年轻的仪器供应商，Attocube Systems AG以其掌握的纳米精度定位成果和强大的技术实力，在短短的几年中研制开发了低震动无液氦磁体与恒温器、多种低温磁场下工作的扫描探针显微镜、端环境应用纳米精度位移器、皮米精度位移激光干涉器等系列产品，深受用户赞誉。自成立以来，Attocube Systems AG已经获得了许多荣誉，包括Finalist for the 27th Innovation Award of the German Ecomomy 2007和 00 Innovation Award 2013 等。 无液氦低温强磁场扫描探针显微镜德国attocube公司推出的attoDRY Lab系列无液氦低温强磁场扫描探针显微镜系统基于attoDRY系列无液氦强磁场超低震动恒温器和多种扫描探针显微镜插件，特别适应于低温光学实验、扫描探针显微镜等应用，产品优异的稳定性为超高分辨率的表面表征研究奠定了坚实的基础。不止于此，产品还早集成了简单易用的触摸屏控制系统以方便自由控制温度大小与磁场强度的商业化恒温器。扫描探针显微镜插件包括：attoAFM/MFM/cAFM/PRFM原子力、磁力、导电力、压电力显微镜；attoCFM共聚焦显微镜；Raman与光致发光谱；atto3DR双轴旋转平台等。参数与技术特点： + 无液氦，闭路可循环系统+ 特设计，超低震动（0.12 nm RMS）+ 温度范围：1.5 K...300 K 或 4 K...300 K+ 磁场强度：高可达15T + 多功能测量平台：AFM/MFM/ct-AFM/PRFM/CFM/RAMAN+ 超高温度稳定性+ 全自动控制，触摸屏控制 + 快速冷却：1-2小时样品冷却相关阅读：1、无液氦低温强磁场共聚焦显微镜 - attoCFM2、低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜 - attoAFM/attoMFM/attoSHPM3、磁共振显微镜/低温强磁场磁共振显微镜 - attoCSFM4、低震动无液氦磁体与恒温器 - attoDRY系列5、atto3DR低温双轴旋转台部分发表文献：1. Chaoyang Lu et.al, Coherently driving a single quantum two-level system with dichromatic laser pulses, Nature Physics, 15,941-945,(2019)2. Chaoyang Lu et.al, Towards optimal single-photon sources from polarized microcavities. Nature Photonics, 13, 770–775 (2019)3. Yuanbo Zhang et. Al, “Signatures of tunable superconductivity in a trilayer graphene moiré superlattice”Nature, 572, 215-219 (2019)4. P. Maletinsky et. Al, Probing magnetism in 2D materials at the nanoscale with single-spin microscopy, Science, 364, 973 (2019)5. Haomin WANG et al, “Isolating hydrogen in hexagonal boron nitride bubbles by a plasma treatment”.Nature communications, 10, 2815 (2019)6. Mingyuan Huang et.al, Magnetic Order-Induced Polarization Anomaly of Raman Scattering in 2D Magnet CrI3, Nano Letters, 2020,20,1, 729-7347. Alexander H?gele et. al, Cavity-control of interlayer excitons in van der Waals heterostructures, Nature communications, 2019,10:3697.8. Hanxuan Lin, et al. Unexpected Intermediate State Photoinduced in the Metal-Insulator Transition of Submicrometer Phase-Separated Manganites. Phys. Rev. Lett. 120, 267202(2018)9. Chaoyang Lu et.al, High-efficiency multiphoton boson sampling. Nature Photonics, 11, 361-365, (2017)10. K. Yasuda, et al. Quantized chiral edge conduction on domain walls of a magnetic topological insulator. Science 2017, 358, 1311-131411. Zhu, Y. et al. Chemical ordering suppresses large-scale electronic phase separation in doped manganites. Nature communications, 2016,7:11260.12. Yang, W. et al. Electrically Tunable Valley-Light Emitting Diode (vLED) Based on CVD-Grown Monolayer WS2. Nano Letters 2016, 16, 1560-1567.13. Surajit Saha et al. Long-range magnetic coupling across a polar insulating layer, Nature communications, 2016,7:11015.14. He, Y. M. et al. Single quantum emitters in monolayer semiconductors. Nature Nanotechnology 2015, 10, 497-502.15. Nazin, G. et al. Visualization of charge transport through Landau levels in graphene. Nature Physics 2010, 6, 870-874.16. Proton magnetic resonance imaging using a nitrogen–vacancy spin sensor. Nature Nanotechnology, 2015,10,120-124.17. Nanoscale nuclear magnetic imaging with chemical contrast. Nature Nanotechnology, 2015, 10, 125-128.18. Observation of biexcitons in monolayer WSe2. Nature Physics, 2015, 11, 477-481.19. Visualization of a ferromagnetic metallic edge state in manganite strips. Nature Communications, 2015, 6:6179.20. Observation of Excitonic Fine Structure in a 2D Transition-Metal Dichalcogenide Semiconductor. ACS Nano, 2015, 9, 647-655.21. Energy losses of nanomechanical resonators induced by atomic force microscopy-controlled mechanical impedance mismatching. Nature Communications, 2014, 5:3345.22. Deterministic and electrically tunable bright single-photon source. Nature Communications, 2014, 5:3240.23. Dynamic Visualization of Nanoscale Vortex Orbits. ACS Nano, 2014, 8, 2782-2787.24. Transition from slow Abrikosov to fast moving Josephson vortices in iron pnictide superconductors. Nature Materials, 2013, 12, 134-138.25. Stray-field imaging of magnetic vortices with a single diamond spin. Nature Communications, 2013, 4:2279.26. Realization of pristine and locally tunable one-dimensional electron systems in carbon nanotubes. Nature Nanotechnology, 2013, 8, 569-574.27. Strong magnetophonon resonance induced triple G-mode splitting in graphene on graphite probed by micromagneto Raman spectroscopy. Physical Review B, 2013, 88, 165407.28. Origin of negative magnetoresistance of GaAs/(Ga,Mn)As core-shell nanowires. Physical Review B, 2013, 87, 245303.29. Magnetic Imaging on the Nanometer Scale Using Low-Temperature Scanning Probe Techniques. Microscopy Today, 2011, 19, 34-38.30. Visualization of charge transport through Landau levels in graphene. Nature Physics, 2010, 6, 870-874.部分用户列表 attocube公司产品以其稳定的性能、高的精度和良好的用户体验得到了国内外众多科学家的认可和肯定。attocube公司的产品在国内也得到了低温、超导、真空等研究领域著名科学家和研究组的欢迎......北京大学清华大学中国科技大学南京大学中科院物理所中科院半导体所中科院武汉数学物理所上海同步辐射中心中科院上海应用技术物理研究所北京理工大学复旦大学哈尔滨工业大学中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所… …