测量显微镜

苏州测量显微镜的使用方法.大家都知道不同测量显微镜虽然外观有所区别,但是他们的操作方法，功能基本相同,如苏州汇光科技的测量显微镜，是一款新型、数字化测量显微镜。主要用于生产车间、计量检测室的产品零件尺寸检测。以及半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。我司供应的测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。使用测量显微镜的方法其实很简单：1、熟知各显微镜专业术语，如工作台的直径，工作距离，测微器分度值，测量台运动范围，测量精度值等等。2、熟知显微镜专业术语后您就可以操作测量显微镜啦。具体如下：1、将被测试样放在测量工作台上，尽量放在玻璃中心位置。?2、转动显微镜调焦手轮，至视线清晰为止，用目视判断最薄点，旋转测量工作台并依靠纵横向的调节，把最薄点方向原始基准调至与十字线相重合，记录测试标志线所对应的刻度值X1.? 3、调节横向手柄，测量工作台沿X线轴向移动，记录另一侧的读数X2，X1?与X2之差即为测量值。?4、旋转测量工作台，依次测出各点读数。? 5、测量电线直径时，可用移动X、Y轴方向分别读取数值。?? 当然，在使用测量显微镜的时候还有许多注意事项,小编在这里就不多说啦，希望大家能够熟练掌握显微镜的操作方法，祝您工作顺利,谢谢！！如有疑问,您也可以直接联系我们，0512-67625945.我们将有专业的技术人员为您答疑解惑哦.

仪器简介：德国UHL高端工具测量显微镜VMM300技术资料参数规格如下：●测量精度：1.8+0.005Lum●二轴或三轴测量，手动或电动控制测量●光电测量系统，读数精度显示分辨率0.1um●X,Y轴测量范围：350X200mm或420X300mm●垂直测量范围：150mmUHL工具测量显微镜包含VMM全系列、徕卡Leica系列北京德华公司提供的工具测量显微镜综合参数规格如下：操作方式：手动、自动测量可选；测量精度：1.8+0.005L可选；读数精度：0.1um显示分辨率X,Y测量行程：50X50到350x200,420x300等并可定制。Z轴测量范围：50mm，100mm，150mm，200mm等可选工业测量显微镜为滚柱轴承导轨，光电测量系统，钢制校准光栅尺。光纤冷光源，亮度可调，功率范围：30W---250W高亮度照明；带视频接口0.4倍，1.2倍& hellip & hellip 连接黑白摄像头、彩色CCD。德国UHL徕卡工具测量显微镜VMM300主要特点：●采用沉稳一体化铸铁机身，测量精度高，最佳的再现性、可重复性●专业滚珠轴承导轨测量工作台，粗精调控制，特殊测量需求可订制●全系列工具测量显微镜光源采用一体化同轴照明光学系统●采用徕卡无限远焦心光学系统专用测量物镜，景深大分辨率高，光学测量的准确性的保障●工具测量显微镜采用的分析软件可进行几何尺寸精确测量与表面分析，自动巡边，自动对焦等功能完备

什么是测量显微镜？他是一款专业用于测量物体的高度的显微镜，就说苏州汇光科技的HJG系列测量显微镜,他是一款新型、数字化测量显微镜。主要用于生产车间、计量检测室的产品零件尺寸检测。该机种广泛采用LED照明，计数器有双轴和三轴两种，根据镜筒、照明装置、升降机构、物镜，以及对焦机构的选择不同，有A、B、BT、U、F等多种子型号可供用户选择。次微米的精度、出色的多功能性，适合高性能零件、电子组件的三维测量。无论是大是小、简单还是复杂、新手还是专业人士，量身定做的MM系列测量显微镜完全满足您量测的需求。您还可根据自己需求选配电脑,软件,相机等,详情可咨询,谢谢苏州汇光供应的测量显微镜还有MS系列精密测量显微镜，STM7奥林巴斯工具测量显微镜，功能效果均不同，详情可浏览.或者您直接电话咨询.我们将有专业的技术人员为您解答哦.

UHL公司简介：1943年由Mr.OskarUhl创立，位于德国黑森州光学城主要以生产精密定位、调节机械零部件，显微镜及配件为主2000年全面收购LEICA测量显微镜VMM系列2006年再次收购LEICA显微硬度计VMHT系列德国沃尔公司（WalterUhltechn.MikroskopieGmbH& Co.KG）是生产测量显微镜的专业厂家，位于德国黑森州光学城Wetzlar–Asslar。沃尔公司历史悠久，1943年开始生产显微镜和精密机械部件，拥有世界范围各个领域的广泛用户。.沃尔公司有自己的产品设计,软件设计,精密测量台加工和客户服务整体团队.主要产品为MS摄像测量显微镜系列，VMM测量显微镜系列,显微镜另部件供应和特殊测量系统。沃尔公司2000年收购了徕卡（LeicaMicrosysteme）测量显微镜，将徕卡的测量显微镜生产转移到了Assla，升级优化后成为目前全新的UHLVMM/MS工具测量显微镜系列。VMM200测量显微镜组成：10倍双目镜，眼睛保护圈徕卡设计测量物镜：1X,2X,5X,10X,20X,50X高倍金相物镜可选配50X,100X.全钢制高稳定性载物台，带T型定位槽滚柱轴承导轨，快速定位粗精调X,Y轴测量范围：250X150mmZ轴高度测量范围：150mm(可选)测量系统：德国海德汉光电钢质光栅尺，分辨率：0.1umSCHOTT冷光源，光纤照明；亮度可调测量精度：1.8um+0.005Lum三轴手动或电机驱动可选QC测量计数器或IMS,OMS等测量软件外型尺寸：356mmX540mmX662mm最大承重：30Kg；仪器重量：125Kg300-500万像素摄像头，拍照及观察样品原厂工控机或商用电脑，预装软件。VMM200测量显微镜原理：测量样品经过物镜的真实放大后呈现中间像，然后再经过测量目镜的再次虚放大，实现了总的放大倍数，所呈现图像在观察者眼睛成像或在电脑显示屏上显现，就实现了样品的放大过程。软件通过摄像头捕捉到该放大图像后，开始配合载物台X,Y方向及Z轴方向的移动，来实现三维方向的精密测量。因为具备X,Y方向上250x150的移动行程，测量显微镜可以实现大范围的尺寸测量，已经高度150mm范围的高度测量。测量的基准是载物台中内置的高精密光栅尺，加上载物台自身高精密的直线性和平行度，具体测量中能实现小于1.5-1.8um+200Lum的测量重复误差，具备极高测量精度。显微镜VMM200特点：最高的测量精度●光学测量,即非接触测量尺寸和形状,能够测量金属,塑料,玻璃,陶瓷等零件.●应用范围广泛:样品研制,样品抽查,批量生产等●可更换不同的测量物镜,放大率可达1000倍及更高●同轴安装的入射光保证最佳的照明，其余斜照明可选●双目观察,无疲劳工作，高眼点，可调屈光度●远焦光束光学系统（无限远光学系统）●可灵活更换配置的物镜系统●光电测量系统,精确的数据显示器，实时显示●增量测量,德国海德汉钢质光栅●透射照明和同轴反射照明,选项:倾斜反射照明●汽车制造工业●航空航天工业,测试实验室,高等院校等●不需要手算的测量●直角图形极坐标系●任意选择坐标零点●直接用鼠标在屏幕上确定测量点●操作方便易学,自动寻找确定边沿,可编程控制测量过程● spanstyle=" font-size:9px font-family:' TimesNewRoman" " ," serif" =" " mso-bidi-font-family:arial mso-font-kerning:0pt' =" " 可设置相匹配的直角,圆,网格屏幕图案,进行快速观察控制（工作区域）

STM7/STM7-BSW测量显微镜值得高度信赖的STM7测量显微镜——以长达一个世纪之久的奥林巴斯技术为依托? 卓越的光学技术实现对极细微样品的逼真成像。? 先进的测量技术实现对样品的准确测量。? 自动聚焦和聚焦导航系统使测量更简单、更精确。? 全面的可追溯系统可以提供可靠和可信赖的测量。通过整合光学显微镜和先进的测量能力实现精确测量满足您的需求而设计的测量显微镜无论待测样品是大的还是小的，测量内容是简单的还是复杂的，测量人员是新手还是专家，奥林巴斯STM7系列就是能满足您需求、为您量身打造的测量显微镜产品。每一种机型均配备0.1 μm读数的3轴测量系统提供适合您样品尺寸的载物台正方形行程解决了测量相关的困扰和问题独特的适配器拓宽了观察的倍率范围和工作距离的范围，扩展了观察的可能性手动调焦和电动调焦两种镜架可供选择一个具有突破性设计的控制单元大幅提升了测量显微镜的操作性大大提高了观察和测量效率的光源管理器可以放置在任意方便使用地方的可拆卸计数器，确保能随时迅速地检查测量结果和设备状态。实现更快、更简单、更精确的高度测量自动聚焦的优势成就快速、高精度的高度测量即使对复杂形状也能实现更快、更简单、更精确的测量放置样品后即可开始测量——无需将样品平行对齐记录重复测量的步骤可以消除测量过程中主观性影响的便捷功能生成定制报告

STM7工具显微镜 测量显微镜具有优良的多用途性，能够以亚微米精度实现对零部件和电气组件的高性能三轴测量。无论待测样品是大的还是小的，测量内容是简单的还是复杂的，测量人员是新手还是专家，奥林巴斯STM7工具显微镜 测量显微镜系列就是能满足您需求、为您量身打造的测量显微镜产品。 多年的显微镜开发经验成就了优异的观察性能STM7工具显微镜 测量显微镜系列采用了当前最先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，此外，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。 明场图像 暗场图像 微分干涉图像 偏光图像 花岗岩精雕细琢而成的载物台基座增强了测量的可靠性TM7-LF FEM 分析为了进一步保证测量精度，STM7工具显微镜 测量显微镜系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的高稳定性，使测量可到达亚微米水平，同时确保最大程度地降低误差。 作为高度测量的先锋，继续提供简单易操作的高精度3轴测量主动反射，共聚焦自动聚焦系统光路随着现代制造技术日益小型化和精密化，高精度测量也日趋重要——不仅是XY轴平面的测量，而且Z轴方向的高精度测量也成为必须。奥林巴斯成为首家成功开发了测量显微镜用采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统的公司，以此响应了这种与日俱增的需求。 严格的可追溯系统确保品质可靠奥林巴斯通过一个严格的可追溯系统控制测量显微镜的精确度。 并且在安装系统时奥林巴斯也提供了可追溯的校准服务。

HM系列测量显微镜产品简介：新型、数字化测量显微镜。主要用于生产车间、计量检测室的产品零件尺寸检测。该机种广泛采用LED照明，计数器有双轴和三轴两种，根据镜筒、照明装置、升降机构、物镜，以及对焦机构的选择不同，有A、B、BT、BTH、U、F等多种子型号可供用户选择。次微米的精度、出色的多功能性，适合高性能零件、电子组件的三维测量。无论是大是小、简单还是复杂、新手还是专业人士，量身定做的工具显微镜完全满足您量测的需求。

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STM7通过整合光学显微镜和先进的测量能力实现精确测量多年的显微镜开发经验成就了优异的观察性能奥林巴斯测量显微镜STM7系列采用了当前光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，此外，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。 明场图像 暗场图像 微分干涉图像 偏光图像 花岗岩精雕细琢而成的载物台基座增强了测量的可靠性为了进一步保证测量精度，STM7系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的高稳定性，使测量可到达亚微米水平，同时确保程度地降低误差。STM7-LF FEM分析 作为高度测量的先锋，继续提供简单易操作的高精度3轴测量随着现代制造技术日益小型化和精密化，高精度测量也日趋重要——不仅是XY轴平面的测量，而且Z轴方向的高精度测量也成为必须。奥林巴斯成为首家成功开发了测量显微镜用采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统的公司，以此响应了这种与日俱增的需求。主动反射，共聚焦自动聚焦系统光路 严格的可追溯系统确保品质可靠奥林巴斯通过一个严格的可追溯系统控制测量显微镜的精确度。并且在安装系统时奥林巴斯也提供了可追溯的校准服务。测量显微镜溯源系统 STM7的阵容每一种机型均配备0.1 μm读数的3轴测量系统手动Z轴调焦机型STM7-SF配备50mm×50mm的载物台或100mm×100mm的载物台STM7-MF配备200mm×200mm的载物台STM7-LF配备300mm×300mm的载物台 电动Z轴调焦机型STM7-SFA配备50mm×50mm的载物台或100mm×100mm的载物台 STM7-MFA配备200mm×200mm的载物台 STM7-LFA配备300mm×300mm的载物台 STM7在设计上非常重视易用性提供适合您样品尺寸的载物台常见问题 短测量行程无法满足较大样品的测量需求。 目前为止，大型载物台在X轴方向提供了足够的测量行程，但是Y轴的行程仍然较小。在测量过程中需要通过旋转样品来补偿比X轴覆盖范围要短的Y轴行程，这样的做法费事费时，效率不高。 由于可测量的范围窄，无法将数量较多的样品排列在载物台上，以实现一次性同时测量。 STM7解决方案 共有四种独特的正方形测量行程的载物台可供选用(50 mm x 50 mm, 100 mm x 100 mm,200 mm x 200 mm,和300 mm x 300 mm)。不管是大的样品还是小的样品，总有一款载物台会适合您要测量的样品。 采用离合器系统可以在粗调和微调之间实现快速切换。具备了这种切换功能之后，载物台也可以沿着X轴和Y轴方向迅速移动，并且可以在XY平面上自由穿梭。 300 mm长的方形载物台在X轴和Y轴方向上可以提供相同的测量行程，这意味着可以不旋转样品就实现大型样品的全部测量，比如300 mm的晶圆和印刷电路板。 STM7-CS50(50mm x 50mm) STM7-CS100(100mm x 100mm) STM7-CS200(200 mm x 200 mm) STM7-CS300(300 mm x 300 mm) 使用相同的显微镜进行低倍率和高倍率观察常见问题 大部分传统的测量显微镜只可以专用测量物镜或专用金相物镜，无法同时满足多种观察要求。 STM7解决方案 STM7可以通过安装一个测量物镜适配器使用测量物镜，而更换为物镜转盘后，便可使用金相物镜。这意味着，STM7将金相光学系统和测量光学系统同时结合在一台测量显微镜中。通过这种方式，无论是测量大型样品还是精细样品，或是表面高度差异大的样品，STM7系列都可以对应并协助用户选择观察方法。 测量物镜由于测量物镜具有非常长的工作距离，因此可以在对表面起伏较大的样品进行聚焦的时候，无需担心物镜与样品之间发生接触。此外，借助测量物镜的低倍率能力，可以一次观察到较大的视场。可以得到和光学显微镜相媲美的高倍率和高分辨率观察能力。更重要的是，在明场观察之外还可以对应暗场，偏光和微分干涉观察。 金相物镜 明场图像 暗场图像 手动调焦和电动调焦两种镜架可供选择STM7系列包括手动调焦和电动调焦两个系列聚焦控制提供手动型和电动型两种可选方案。请根据样品和测量内容选择符合您需求的机型，而不需要考虑载物台的尺寸。所有的镜架均内置Z轴线性标尺，各种型号STM7都可以对应3轴测量。 手动Z轴调焦机型手动Z轴调焦机型提供了卓越的成本效益——通过操作被广泛使用的调焦旋钮，可以快速的上下移动Z轴。为测量具有各种高度样品的用户提供了方便。 电动Z轴调焦机型使用电动调焦装置可以大幅提高操作性，并减少了进行聚焦和高度测量时的操作疲劳。粗微调焦的同轴旋钮设计使使用者可以以习惯的类似手动的方式进行操作，同时电动机型还可以配备自动聚焦单元。 一个具有突破性设计的控制单元大幅提升了测量显微镜的操作性常见问题 其他功能需要添置额外的操作单元。操作者无法快速找到相应的操作单元，因而显著降低测量效率。 众多操作装置和电源箱、控制箱散布在主机的周围，占用了宝贵的工作空间。 STM7解决方案操作装置对于奥林巴斯测量显微镜STM7系列，只要使用单一的操作装置能够执行几乎所有的测量显微镜操作，包括重置计数器、照明控制、调焦和自动聚焦等功能。为了提高效率和方便性，您可以将装置放在任何想要放置的位置，并可以轻松地单手操作。 控制箱各个单元的电源和通信均被集成在一个单一的控制箱中。即使是添加一些可选功能比如聚焦导航功能也不需要增加额外的电源装置，这样的设计可以大程度地减少占用工作空间。 用于手动Z轴调焦机型:STM7-HS手动操作装置 用于电动Z轴调焦机型：STM7-MCZ电动操作装置 大大提高了观察和测量效率的光源管理器常见问题 传统测量显微镜使用的模拟旋钮调节方式不能实现光强的定量控制。这样每次测量时的光强无法保持一致，导致测量值也发生变化。 使用传统测量显微镜时，每次切换物镜后都需要调节光强，这使得工作流程非常低效。 STM7解决方案能够定量掌握光源亮度的数字式显示STM7的光强可定量显示，这样就能保证始终在相同条件下实施观察和测量。 物镜切换时，无需手动调节光强 光强度管理器可以与编码物镜转盘配置配套使用。带编码物镜转盘会自动识别目前使用的物镜，结合光源管理器的预设值功能，可以为每个物镜注册照明方式和光强。这样每当切换物镜后，可以自动调节光强和调整照明方式。象以前每次切换倍率后手动调节光强的操作，现在就可以省略了。 5x物镜光强50 20x物镜光强70 100x物镜光强120 可以放置在任意方便使用地方的可拆卸计数器，确保能随时迅速地检查测量结果和设备状态。常见问题 需要检查诸如照明状态等设备运行状以及测量结果时，因为是在不同单元上显示使操作变得非常繁琐。 STM7解决方案能一目了然确认当前状态的计数器计数器带有显示设备状态和设置的指示灯，可以简单的实现对设备当前设定状态的确认。X、Y和Z轴的最小单位可以在0.1 μm和1 μm之间切换，此外，还可以在毫米、微米、英寸和密耳之间切换显示单位。计数器安装在镜架上 可满足个性化需求自由放置的可拆卸式计数器无论是安装在镜架上还是放置在工作台上，可拆卸式计数器都可以根据用户的使用状况和使用习惯放置在优选位置。当用户站着进行测量时，可以将计数器安装在和观察位置大致相同高度的镜架一侧，以方便轻松的观察和检查结果。当用户通过数码相机在显示器上进行观察和测量，或使用电动Z轴调焦机型时，只需将计数器和操作装置放在工作台上即可轻松地坐在椅子上进行作业。计数器放置在工作台上 自动聚焦系统具有卓越的重复性实现更快、更简单、更精确的高度测量常见问题 进行目视测量时，不同的操作者会测得不同的高度测量值。此外，这种测量方法非常耗时，效率低下。 STM7解决方案具有优越的重复性、简单且高度精确的聚焦系统通过将图案投影在视场范围内，由操作者确认上下图案的重合情况，奥林巴斯的聚焦导航系统实现了重复性高的高度测量操作。普通的目测观察进行高度测量时，即使是看上去非常清晰的已经完全合焦的图像，也会出现微小误差。而使用STM7的聚焦导航系统，只需匹配标记便可进行测量，因此减少了操作者的主观性对测量结果造成的影响。目视高度测量 聚焦导航系统 焦点下方 焦点位置 焦点上方 自动聚焦的优势成就快速、高精度的高度测量常见问题 进行目视测量时，不同的操作者得出的高度测量结果也会不一样。 手动高度测量需要操作者反复进行移动载物台，使用旋钮调焦的操作，这使测量既耗时又低效。 很难对微小的物体聚焦，比如引线。 STM7解决方案专用自动对焦单元：出色的再现性和聚焦速度无论操作者的经验如何，使用STM7专用自动对焦单元均可以在最短时间内实现高度精确的高度测量。即使是粗糙或倾斜的样品表面，利用主动反射、共聚焦方法都可以实现稳定对焦，而小直径的激光，也能保证对微小物体，比如引线的自动对焦。 单次对焦模式执行自动聚焦后，可瞬间完成从大致的聚焦状态转为视场中心的清晰对焦。 追踪模式启用具有特色的追踪模式后会随样品表面的高低起伏自动对焦，即使在移动工作台的情况下，也可以始终保持合焦状态。这使得操作者在手不需要离开X和Y手柄的情况下也能实施观察，从而极大地提高了Z轴的测量效率。 实现观察与测量范围拓展的配件带编码物镜转盘将编码物镜转盘与数码照相机配套使用可以在观察过程中在屏幕上显示物镜的放大倍率，以方便您记录倍率。同时切换倍率时也能与软件中记录的校准值和光强连动调整设置。有明场物镜和明暗场物镜两种供您选择 MM6-EMO /正像单目镜筒正立图像用单目镜筒。可与MM6-OCC10×（带十字线的目镜）配套使用。 STM7-FS/ 脚踏开关实现了不需要用手进行数据传输，使操作者可以在手不离开X和Y手柄的情况下完成测量。 SZ-LW61/ 白光LED照明单元具有小型，轻便，使用寿命长，功耗低等特点。此外，这款高性价比的LED照明单元也不会发生闪烁和亮度波动。 SZX2-ILR66+SZX-RHS/LED环形照明装置+手动控制单元SZX-RHS手动控制单元可以实现SZX2-ILR66反射LED环形照明装置的四段独立照明，并提供具有较高色温的清晰图像。可以从13种模式中选择照明。 旋转载物台使用微调旋钮可以轻松实现对样品的平行对齐。 STM7-RS100用STM7-CS100 100 mm×100 mm载物台STM7-RS200用于STM7-CS200 200 mm×200 mm载物台 STM7-RS300用于STM7-CS300 300 mm×300mm载物台 专为更先进测量而设计的系统测量支持系统对于显示测量显微镜输出的数据和图像来说，看的越清楚也就能更方便更快捷地使用和测量。推动以更高精度实现复杂的测量正是开发全新奥林巴斯测量软件的原因所在。该软件亦可与数码相机结合使用。 放置样品后即可开始测量——无需将样品平行对齐直接测量接受STM7输出的坐标信息进行测量。 再调用测量经过测量或计算之后得到的坐标还可以再用于随后的测量。这样就避免了重复同样的工作，从而实现了更顺畅和更高效的工作流程。 虚拟点测量通过绘制直线和圆形可以形成交点、中点、长度，以及一系列其它的测量项，然后可以在已采集的样品图像上将这些测量项作为参考点保留。 对齐测量原点与X轴均可根据样品而设置，这样即使当样品没有和载物台对齐平行时，也可以进行测量。 原来的轴 新轴 XZ平面测量传统的测量显微镜以从俯视观察到的XY平面的测量为主。为了响应用户从侧视的角度测量断面方向的需求，奥林巴斯在STM7-BSW中内置了XZ平面测量功能。以前很难实施的测量现在已经变得容易多了——例如半球形物体垂直截面的半径测量，或与基准线相比具有弯曲底部的凹槽的深度测量等。 半球形样品的半径测量 凹槽底部与参考线之间的高度测量 记录重复测量的步骤宏注册可以将经常使用的对齐和其它测量步骤组合并定义成单个宏按钮，这样每次启动显微镜后，无需从零开始。 重复执行测量通过根据已记录的教学列表的指示，简单地移动载物台、获取坐标值，可以轻松地进行重复测量，完成所有的作业。此功能可用于对相同类型样品重复执行相同的测量项目。此外，如果在已记录的教学列表中设置了设定值和公差，当测量值超过规格时，软件可以自动判定。NG结果示例 重复执行测量的测量点导航这个功能可以显示移动到下一个测量点的方向和距离，从而消除了操作者在这一环节上的苦恼。该功能还省去了每此移动前需要在图纸上确认下一个测量点的麻烦，在重复测量的时候提高了操作者作业的速度。 可以消除测量过程中主观性影响的便捷功能自动边缘检测这个功能检测样品的边缘，自动获取样品的坐标并测量。因此，操作者不再需要指定坐标，这大程度地降低了操作者的主观性对测量的影响。自动边缘检测的另外一个特色是具有定时功能，实现了到规定的时间后自动获取坐标。定时功能和脚踏开关功能，使操作者能够在手不需要离开载物台手柄的情况下专心测量。 圆形内的自动边缘检测 多点自动边缘检测 异常点消除边缘检测过程中，可以自动将金属毛刺等异常点排除在外。这样，不管样品的状态如何，都会得出一致的测量值计算结果。此外，也可以将被排除的异常点以不同的颜色显示在屏幕上。 带有异常点的样品 异常点消除功能 照明控制显微镜照明的光强也可以通过软件精确地控制。当注册重复执行测量的教学列表时，也可以保存光强的设置，这样在重复执行测量或自动边缘检测过程中，实现了在相同的照明条件下实施测量。 自动倍率识别（可选配，仅适用于编码物镜转盘的配置）通过使用编码物镜转盘，在切换物镜时，可以自动调用先前设定好的校准值。这样可以始终在显示器上显示合适的刻度尺。 生成定制报告一键生成报告测量结果可以一键输出为Excel格式，这避免了在记录数据过程中发生错误的可能性。图像也可以与测量结果一起粘贴，从而实现了更高效地生成报告。 可选功能：多图拼接（MIA）功能拼接多个图像可以获得一个具有高倍率的广域图像。因为图像是根据坐标数据拼接而成，因此系统能够产生高可靠度的图像。 可选功能：景深扩展（EFI）功能对于具有不均匀、复杂表面形状的样品，EFI功能能非常有效地获取在整个高度范围内都有良好聚焦的图像。使用EFI功能时，移动Z轴获得多张不同焦点位置的图像，再进行图像处理，后合成为一张全面对焦的图像。如果使用电动Z轴模块可以实现一键自动图像合成。STM7规格参数小型镜架中型镜架大型镜架光学系统UIS2光学系统(无限远校正)显微镜镜架观察方法BF/DF/DIC/KPO*1反射/透射反射/透射照明系统白色：用于反射光照明，绿色：用于透射光照明，耗电量：10W聚焦电动/手动手动 [手动型]电动 [电动型]行程175 mm145 mm*2FOCUS按钮: 粗移速度8 mm/s [电动型](来源：成贯仪器)微调焦速度 (可变)800 μm/400 μm/200 μm/50 μm(旋转一周移动量)4档可选[电动型]测量高度175 mm*3, 120 mm*4145 mm*3,90 mm*4物镜测量物镜/金相物镜观察筒正像单目镜筒，正像三目筒(100:0/0:100)载物台行程50(X)x50(Y)mm200(X)x200(Y)mm300(X)x300(Y)mm100(X)x100(Y)mm测量精度50 mm行程:(3+L/50)μm(3+4L/200)μm(3+6L/300)μm100 mm行程:(3+L/100)μm计数器显示轴数3轴单位毫米/微米/英寸/密耳计数器显示 最小分辨率0.1μm(来源：成贯仪器)外形尺寸[手动型]466(宽)x583(长)x651(高)mm606(宽)x762(长)x651(高)mm804(宽)x1024(长)x686(高)mm[电动型]466(宽)x583(长)x811(高)mm606(宽)x762(长)x811(高)mm804(宽)x1024(长)x844(高)mm重量[手动型]约84kg约152kg约277kg[电动型]约92kg约159kg约284kg备注*1:简易偏光观察 *2:使用大型镜架STM7-LF/STM7-LFA时，可以将高度为100 mm或以下的样品放置在光轴后方180 mm或以上距离的地方。(来源：成贯仪器)*3:采用金相显微镜使用的物镜*4:采用测量显微镜使用的物镜

Soptop MS系列测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力，和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能，具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能。可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。MS系列测量显微镜采用优异的无限远光学系统，搭配长工作距金相物镜，配合六孔电动转换器 ，在满足大视野观测、大工作距测量需求的同时，还提供了高倍率和高精度的保障。无论是测量大型部件还是精细元件，或是表面高度差异大的样品，MS系列都能为用户提供最佳的解决方案。功能高度集成的一体式设计MS 既预留了台式主机的位置，又在使用者面前放置了可收起的键盘。两个方向上的手轮以及各类按钮，均符合人体工程学，使用者无需站立，便可轻松实行操作。仰角可调观察筒。这款观察筒倾斜角在 5°至 35°之间可调。无论是站立或坐着，都能最大限度满足用户的操作需求，同时也无需担忧用户的身高差异。大行程载物台有多种行程的载物台可供选择 , 分别为 200mm×100mm、300mm×200mm、300 mm×300mm、400 mm×300mm。无论样品大小，均能满足用户的测量需求。若用户有特殊需求，也可按需求定制平台。精密测量功能SOPTOP MS 测量显微镜采用0.1um读数的3轴测量系统，Z 轴最大行程可至150mm，利用集成在机架上的高精度电动控制器控制 Z 轴。三档不同调速可供选择，调焦可操作性强，提高效率，降低疲劳。独立裂像光源辅助对焦独立的裂像光源控制器，可根据样品不同背景进行光源亮度调节，清晰准确显示最佳焦面。有两种裂像图案可供选择，并随意切换。自主研发测量软件MS 系列测量显微镜配备了操作简单，功能强大的测量软件，客户可根据需要设置测试偏好。配合电动转换器，倍率自动识别，减少客户手动倍率选择错误。即使对复杂的形状，也可以进行高精度的测量。应用实例

仪器简介：X/Y测量范围：150x100mmZ轴测量范围：150mm选配分辨率：0.1um选项测量精度：1.8& micro m+0.005L& micro m(Linmm)物镜放大倍数：标配2倍物镜(1,5,10,20,50,100可选)，放大10-1000倍摄像显示：CMOS彩色摄像1280x1024高分辨率照明：LED环形光纤照明器；同轴光透反射照明器重量：约35kg内置电脑软件，自带液晶屏幕同步显示测量结果。视频测量显微镜特点：内置测量软件及LCD显示测量一体化便携式一体化整机设计高稳定性全封闭无易损件行业内高精度高重复性测量●专业测量台厂家保证高精度测量功能完备专业精致●光电测量系统,精确的数据显示器●增量测量,德国海德汉钢质光栅一体化设计，稳定性高徕卡光学系统，高档测量成像质量最佳

XYZ 三轴测量显微镜，工具显微镜，内置光栅尺试试3D测量，精度0.001mm.用于电子半导体，球高，球径，打线弧高度测量。最大测量范围300X400mm苏州纳光电子科技有限公司苏州工业园区和顺路58号新海宜二期南楼4层F17B室Mobile: E-mail: Lewis.liu@nano-opto.com

中图仪器VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。白光共聚焦陡峭角度测量显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力，而且由于探测器前有针孔掩模，大大减小了不想要的闪烁和散射光所形成的噪声，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

CORES回流焊模拟器回流焊 + 观察显微镜 + 测量显微镜

• MF-U系列的电动型。X、Y和Z轴均为电动控制，工作台可由控制手柄进行操作。• VisionUnit(选件)能使影像自动对焦。• 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡(必选)。• 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量。• 标准测量显微镜，配有种类繁多的可选附件，包括各种CCD数码相机。• 使用经过验证的FS光学系列高NA物镜(长工作距离型)。• 金相显微镜和测量显微镜的功能相结合，提供了高分辨力观察和高精度测量的方案。• 高倍放大目镜，观察倍数高达4000X。• MF-UE/UF能够进行激光自动对焦。标准激光自动对焦功能还带有追踪功能，即使在工作台移动时，也能保持对焦。规格Z轴电动型测量显微镜MF-U系列型号MF-UJ2017DMF-UJ3017DMF-UJ4020D货号176-894*1176-895*1176-896*1型号

产品优势徕科光学研发的LK-DLS全大理石结构系列金相测量显微镜包括LK-DLS3020DS、LK-DLS3030DS、LK-DLS4030DS、LK-DLS5040DS四款型号，基座、XY移动平台均采用花岗岩结构设计，搭配光学 显微镜系统、照明裝置及高清数字相机，通过选配可以具备明暗场、微分干涉、偏光等多种观察功能；可广泛应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光电通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等多个领域。本款产品结合了金相显微镜的高倍观察能力和影像测量仪的 X、Y、Z 尺寸测量功能，且具有高精度线性測量和观察的多功能量测仪器。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-DLS全大理石结构系列金相测量显微镜依靠着科技感和创新感双强的研发力量，能够以稳扎稳打的专业核心技术为不同客户制定出高性价比的解决方案和内核稳定的售后方案，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，真正成为了一款“小价格、大惊喜”的产品。依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为专业服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为LK-DLS全大理石结构系列金相测量显微镜产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍1、光路：采用国际领先的无限远双重校正光路设计（UISC）下图左图为有限远光路，右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路（左图）与无限远光路（右图）下观察到的情况对比：2、光源：明暗场反射照明器为12V100W卤素灯照明，并带有光强预设功能，可快速切换到预设亮度，带明暗场切换机构；透射光源为单颗大功率5W白色LED，并带有NA0.5聚光镜。透射照明与反射照明可独立控制，即透反照明可同时开启，亦可单独开启。传统卤素光源 传统卤素光源+色温平衡滤片3、观察方法：明场观察( 透射 )、暗场观察、DIC微分干涉观察、偏光观察明场观察( 透射 )：明场图例：暗场观察：暗场图例：DIC微分干涉观察：DIC微分干涉图例：简易偏光观察：简易偏光图例：4、智能化图像处理方法：5、图像测量功能6、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能： 实时景深叠加(EFI) 实时多视场拼图(MIA)7、产品特点：Z轴通过电动手脉进行精准对焦（最小位移可精细到0.0005mm） ●标配明场物镜和明场光路（可选配明暗场） ●Z轴可选配辅助对焦模块实现测高功能 ●可选配手动鼻轮或电动鼻轮 ●可支持长工作距离物镜进行对接 ● 采用优异的无限远光学系统，提高成像衬度和清晰度，用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像，可实现明暗场，偏光，微分干涉等多种成像； ● 拥有优越的光学性能和超高测量精度，搭配主体的操作平衡性，让之前不可见或几乎不可见的物件如今不仅能观察，还能被测量； ● 适合高性能零件、电子组件的三维测量； ● 可轻易测量易碎工件及具有极小细节的工件！ ● 快速释放裝置便于测量大工件或多个数量工件时快速移动工作台。图例1：图例2：图例3：产品参数产品型号LK-DLS3020DS LK-DLS3030DSLK-DLS4030DSLK-DLS5040DS 型号说明DS:Z轴手脉电动控制 测量范围mm300×200×150300×300×150400×300×150500×400×150 玻璃台面尺寸mm360×260330×330460×360560×460 工作台面尺寸mm456×366456×466556×466706×606 外形尺寸L×W×H mm780×580×1000780×680×1000950×680×11001080×880×1100 机器重量KG150180250300 镜筒/图像双目镜筒，带有标准的TV摄像机端口 观测方法标配明场物镜(可选明暗场、偏光及DIC微分干涉以及辅助对焦模块实现测高功能) 目镜双目10X 物镜无限远明场金相物镜：5x,10x,20x,50x(100x选配) 转换器内定位5孔转换器 反射照明装置带滤色片插槽与偏光装置插槽，带5WLED灯源，亮度可调；可选配明暗场反射照明器，带切换装置 透射照明装置LED高亮度光源 调焦系统手脉电动精准对焦控制光栅尺分辨率XYZ0.0005mm/0.0001mm(可选配)测量精度(μm)X-Y≤(2.5+0.02L)μm Z≤(4+0.02L)μm L为被测长度(单位：mm)机器电源220v±10%/110v±10%(AC) 50Hz留言或致电我们，获取更多方案。

• 可观察清晰无闪光正像，且视场开阔。• 测量精度在同类设备中最高(符合JISB7153标准)。• 使用经过验证的FS光学系列高NA物镜(长工作距离型)。• 金相显微镜和测量显微镜的功能相结合，提供了高分辨力观察和高精度测量的方案。• 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡(必选)。• 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量• 各类尺寸的标准工作台，最大达到400×200mm。• 快速释放装置，用于快速移动工作台。• 粗调/细调进给手柄作为标准配置安装在立柱两侧，便于精确聚焦与观察测量，不受用左手或右手习惯的影响。• 高倍目镜观察，最高达4000X。规格BF（亮视场）X和Y轴（2轴型）型号MF-UA1010DMF-UA2010DMF-UA2017DMF-UA3017DMF-UA4020D货号176-871*1176-872*' 176-873*1176-874*' 176-875*1

适用于要求高质量和灵活性的应用中。Hawk Duo单个系统结合了光学测量和视频测量两种技术，因此，无论您测量什么样的部件，它都是最理想的选择。测量范围可达400mmx300mmDynascope™ 光学显微镜技术能够提供清晰度无与伦比的图像，使测量得以精确、轻松地完成。集成了视频测量，实现终极控制功能和灵活性。英国工业显微镜有限公司将符合人机工学要求的测量显微镜与视频测量系统相结合，创造了Hawk Duo。Hawk Duo能够灵活测量常规和难以观察的部件，因此，无论您测量哪种部件，它都是最理想的选择。Hawk Duo 能够极其精确地重复性测量所有材质的复杂零件，在常规和难以观察的零件的测量方面特别突出，例如黑色或者透明塑料-这是多合一系统！两种测量系统二合一 - 扩展更多功能光学和视频双测量技术使得Hawk Duo成为以下应用情况下的理想之选检测那些边缘容易识别，但是某些特征难以观察的对象，例如：彩色塑料。同时需要常规测量和关键尺寸测量的对象，例如医疗器械。需要批量检测和一次性检测的零部件。系统详细信息* 相关配置。**以10倍微距物镜为基础（100倍系统放大倍率）。其中L=测得的长，单位mm（200倍系统放大倍率，采用受控条件）。

深圳市斯诺顿仪器设备有限公司PCB切片测量整体解决方案PCB取样设备：手动取样/视觉自动取样研磨设备研麻材料表面处理方式测量显微镜测量软件报表导出MES导出

• MF系列的电动型。X、Y和Z轴均为电动控制，工作台可由控制手柄进行操作。• VisionUnit(选件)能使图像自动对焦。• 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡。• 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量。• 标准测量显微镜，配有种类繁多的可选附件，包括各种CCD数码相机。• 使用ML系列，专门为MF系列设计的高NA物镜(长工作距离型)。• 高倍目镜观察，最高达2000X。规格Z轴电动型测量显微镜MF系列型号MF-J2017DMF-J3017DMF-J4020D货号176-891176-892*1176-893*1观察图像BF（亮视场）/正像目镜屈光度调节10X（

工具测量显微镜Swift PRO EliteSwift PRO Elite 光学测量显微镜操作简易、功能强劲，可完成对各种精密部件的精确测量。即便是黑色或透明塑料这样难以测量的对象也不例外。测量范围达 200mm x 100mm简单易用的二维与三坐标测量系统出色的重复性与再现性Swift PRO Elite 是一款高精度光学测量显微镜，旨在提升您的测量与检测能力。通过 Swift PRO Elite 的独家专利无目镜光学观察头体，可以呈现光学显微级分辨率，观察小型精密、复杂零件，甚至是难以观察的样品（如透明塑料），确保轻松完成精确测量。Swift PRO Elite 功能强劲，结实耐用，非常适用于车间生产，可以简单而精准地测量精密零件。产品优势十分适合测量复杂零件上的细小特征Z轴可选，三坐标测量可测高度Dynascope 无目镜光学技术可清晰界定测量对象边缘，提供绝佳的分辨率和对比度。测量范围达 200mm x 100mm可选配结实耐用的微处理器，或是界面直观的 PC 软件 传统工具显微镜或轮廓投影仪的理想升级替代之选Swift PRO Elite 是提升测量与检测能力、改进质量控制的完美起点。什么是 Dynascope™ 无目镜光学技术？Swift PRO Elite 采用 Dynascope 无目镜光学技术，无需传统显微镜的目镜，可以为用户提供观察对象的高质量图像。黑色背景上测量黑色物体？ 白色背景上测量白色物体？ 透明物体？ 可以极其详细地查看所有难以观察的特征，并轻松实现精确测量，这并非轮廓投影仪或者其它视频测量系统所能完成的。简易 耐用 精确Swift PRO Elite 旨在应对繁忙生产环境的需求，配备了Vision Engineering久经证明的 200mm x 100mm 精密测量台。该平台在出厂前完成了非线性误差修正（NLEC）校准，可确保最佳精度，可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。Swift PRO Elite 设备体积小，不会占据太多空间，却能让您的产品质量有很大飞跃。应用范围… … 全世界各行业客户将Vision Engineering的测量系统用于多种多样的非接触式测量应用领域，包括：塑料零件（例如接头、瓶子、模塑件）医疗器械（例如植入介入器材、管件、血管支架）精密工程零件（例如航空航天、汽车、国防）钟表制造一般制造业NLEC 测量台校准非线性误差修正（NLEC）是当前可用最精确的修正方法，该方法采用软件算法计算并修正整个测量台上的所有误差。 所有测量台安装前都已在工厂完成 NLEC 校准。技术参数

中图仪器VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜基于光学共轭共焦原理，以转盘共聚焦光学系统为基础，能在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。自设计之初，VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。在材料生产检测领域中，共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中也具有广泛的应用。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

• 可观察清晰无闪烁正像，且视场开阔。• 测量精度在同类设备中最高(符合JISB7153标准)。• 使用ML系列，专门为MF系列设计的高NA物镜(长工作距离型)。• 照明装置(反射/透射)可选用高亮度LED灯泡或卤素灯泡。• 利用可变孔径光阑(反射/透射)可进行无衍射观察测量。• 各类尺寸的标准工作台，最大达到400×200mm。• 快速释放装置便于在测量工件大或测量工件数量多时快速移动工作台。• 粗调/细调进给手柄作为标准配置安装在立柱两侧，便于精确聚焦与观察测量，不受用左手或右手习惯的影响。• 高倍目镜观察，最高达2000X。• 标准测量显微镜，配有种类繁多的可选附件，包括VisionUnit影像装置与各种CCD数码相机。不帯Z轴测量型号MF-A1010DMF-A2010DMF-A2017DMF-A3017DMF-A4020D货号176-861*1176-862*1176-863*' 176-864*' 176-865*1带有

盲孔测量显微镜别名：激光盲孔检测仪、镭射盲孔显微镜?产品信息SN-MF300盲孔测量显微镜是一款集光机电于一体的高精密检测仪器，主要检测镭射盲孔的外观品质、孔的圆度、孔的深度测量与孔内良率，是镭射现场品检利器，可随时管控镭射机的工作状态。仪器采用先进的光学测量系统，保证测量的准确性与图像成像的高还原性。?产品特点采用全新光学设计的无限远校正光学系统，光效率高，成像质量还原性更高，图像输出稳定。三目成像结构，目视检测，直观景深更强，视野明亮宽阔。电子成像配合显微成像系统，倍率成像更大，测量功能更强大，可进行多样化与多维度测量，测量结果可视化高，测量结果可存储。紧凑稳定的机台，可在多种环境中保持仪器的测量精度与稳定性。双层XY测量工作台面，可根据需求配不同大小的工作台，应对于大面积产品的测量。XYZ三轴数显测量，使现场快速测量更快捷。 ?产品参数SN-MF300镭射盲孔检测仪名称SN-MF304SN-MF304NSN-MF304ND测量范围（mm)X400400400Y300300300Z150150150平台模式手动自动自动自动测孔无无是工作台面（mm)载物台600×500600×500600×500玻璃台450×350450×350450×350承重20kg20kg20kg测量精度测量分辨率0.001mmX/Y轴(3+L/200)umZ轴（5+L/200)um重复性0.0002mm观察与测量系统光学系统无限远校正光学系统观察光学头三目观察光学头CCD接口0.5X/1X目镜PL10X/22物镜5X/0.13（明场无限远长工作距），WD：10.8mm10X/0.30（明场无限远长工作距），WD：10.0mm20X/4.0（明场无限远长工作距），WD：4.0mm50X/0.55（明场无限远长工作距），WD：7.8mm调焦系统手动粗微调同轴/最小调节2um照明系统反射柯勒照明系统，24V/150W光纤冷光源透射5W/LED照明偏光系统反射系统起偏镜、检偏镜电源AC90-240V/50HZ仪器重量350kg配件CCDUSB相机/HDMI工业测量相机测量软件多功能测量软件，点、线、圆、角度、真圆度、3D孔深等几何测量，图像输出校正片0.01刻度尺电脑品牌电脑，2G内存，500G硬盘，19寸显示器

产品简介 奥林巴斯大尺寸测量显微镜STM6-LM搭载了大型载物台，对应大型样品的型号。它搭载了250 mm× 150 mm规格的载物台和电动调焦机构，能高速、高精度的测量大型样品，所有的X轴和Y轴移动都有离合控制，只需简单移动一个手柄即可迅速实现粗动和微动之间的切换。在X/Y轴和X/Y平面的自由运动使超大型试样能够得到快速和精确的检测。并可在镜台上同时实现对多个试样的测量。 充分利用空间的电气系统一体型机体 着重考虑了仪器的空间利用性和操作方便性，在机体内组装了电气系统，实现了计数器一体型机体。此外，在机体上内置了RS232C数据通信接口，向电脑传送数据和连接打印机等外部设备变得更加容易。不仅如此，还可以使用表计算软件，将电脑读取的数据存到数据库。 带离合器的大型载物台，能够快速进行大范围检查 搭载了250 mm× 150 mm大测量范围的载物台。X、Y轴的驱动装置采用了离合器控制机构，只使用一个控制杆就能快速切换粗调和微调。载物台的随意伸缩，实现了大型样品的快速检查。另外，还可以在载物台上放置多个样品连续测量。 历经时间考验的高度刚性机体和载物台 对测量仪器来说精度是最重要的，为了长时间维持仪器的精度不变，奥林巴斯开发出了坚固、不变形的高度刚性机体和载物台。在导轨上采用了能得到高直度的线性引导机构，还内置了独创的光栅尺，确保了仪器精度的可靠性。 光栅尺实现了亚微米级的分辨率 光栅尺的精度直接影响测量显微镜的精度。奥林巴斯采用独创的高精度光栅尺读取系统将光学信息转化为电信息来准确测量。此外，奥林巴斯还根据阿贝定理（需要测量的长度和标尺，在其测量方向上并排成一条直线时，误差最小）确定标尺的内置位置，最大程度的减少了误差。 快速完成Z轴测量的电动调焦机构 采用了电动调焦机构，大幅度提高了调焦和测量高度、深度时的操作性能。使用Z控制器可以轻松切换粗调和4个级别的微调（800、400、200、50 &mu m），在很大程度上减轻了工作疲劳。 配置在易于观察位置上的计数器 计数器与显微镜机体一体化，它的显示器部分与观察员的视线几乎等高，易于观察。稍微移动视线就可以确认测量值，便于集中精神观察样品、调节样品位置。 提高边缘检测能力、外观检查能力的UIS2光学系统和LED照明 采用了有着高分辨率和高对比度的UIS2光学系统，以及能忠实的再现样品色彩、色调不受照明亮度影响的LED照明。这种设计大幅度提高了边缘的可见性和测量能力、外观检查能力。此外，LED照明不会出现灯光闪烁不定和亮度变化，能减轻长时间工作时的眼部疲劳。 考虑了人眼分辨能力的米字线，使位置调节变得简单 在测量显微镜中如何正确的对准测量物体和米字线是很重要的。直线校准时，与使用一根直线相比，使用米字线和虚线能得出更为正确的结果。奥林巴斯分析了人眼的这种特性和人眼的分辨能力，在焦面板上加入米字线和虚线，提高了对准的精度。 易于追加的高精度自动调焦系统 搭载了单次对焦和跟踪对焦两种模式。需要谨慎而细密的操作才能完成的目视测量高度和深度，通过灵活运用操作模式可以实现自动化。这样，不仅消除了因个人差异产生的偏差，还能够手不离开XY手柄完成观察，大幅度提高了Z轴测量的效率。搭载了多种功能的运算装置 无需对样品和载物台进行平行校准，将样品放入载物台后能立即开始测量。只要输入点数据就能进行2维运算处理，并在显示器上显示测量中的校准项目和测量项目的说明。测量结果由内置打印机输出。 此外，可以将获得的测量数据传送到电脑，使用表计算软件加工数据。 国际标准的溯源体系 为了实现高精度的产品质量，从制造到装配的每一个阶段，奥林巴斯都配备了日本国内一流的生产环境。在管理严格的恒温工厂中，技能娴熟的员工精密加工仔细挑选的原材料，精心打造每一件产品。此外，从零部件到成品，所有的生产步骤都实行了严格的溯源体系管理。 产品规格 光学系统 UIS2光学系统（无限远校正） 机身 观察方法 明视场/暗视场/微分干涉/简易偏振光 反射/透射 反射/透射 照明系统 10 WLED白色照明（反射照明用），10 WLED绿色照明（投射用） 对焦单元 电动/手动 电动 行程 205 mm 粗调速度 4.8 mm/sec 微调速度（可选） 800 &mu m/400 &mu m/200 &mu m/50 &mu m （旋钮旋转一周） 四个级别 最大样本高度 205 mm（金相物镜），150 mm（测量物镜） Z轴测量范围 205 mm（金相物镜），150 mm（测量物镜） 物镜 测量物镜/金属物镜 镜筒 正像单目观察筒，正像三目观察筒（100：0/ 0：100 ） 载物台 行程 250（X）× 150（Y）mm 测量精度 X轴：（3+5L/250）&mu m，Y轴：（3+3L/150）&mu m［L：测量长度（mm）］ 计数器 最小读数分辨率 0.1 &mu m/0.5 &mu m（可选） 选件 运算装置/自动调焦/辅助对焦 外形尺寸 684（W）× 579（D）× 843（H）mm 重量 170 kg（标准组合）

XJP600多功能精密测量显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级精密测量金象显微镜使用，可用来鉴别、分析、测量各种金属、合金的组织结构以及半导体、LCD、TFT、PDP、太阳能电池板的检测。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。技术规格 光学系统 无限远光学系统 观察头 正像，30°铰链式，可调瞳距50mm-75mm 目镜 WF10×/23mm 超宽视场平场目镜 WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板 物镜 95mm无限远平场复消色差长工作距离物镜 5X/0.15（W.D.44mm） 10X/0.30（W.D.44mm）20X/0.35（W.D.44mm）50X/0.50（W.D.44mm）转换器 带DIC插孔四孔转换器，中心可调 平台 平台尺寸: 286mm×286mm移动范围：100mm×100mmX轴和Y轴快速移动功能 调焦 粗微动同轴调焦，微动规格0.002mm Z轴升降范围：150mm 光源 表面照明 带孔径光缆和视场光栏的Kohler照明，卤素灯12V/50W,AC85V-230V,亮度连续可调轮廓照明； 远心照明，卤素灯12V/50W,AC85V-230V,亮度连续可调 偏光装置 检偏镜可360°转动。起偏镜、检偏镜均可移出光路 显示装置 轴数：2轴或3轴 分辨率：0.0005mm 功能：凋零，方向转换，数据输出，TTL讯号 电源：AC85V~230V 检测工具 0.01mm测微尺 可供附件 目镜：WF10X/25mm、WF15X/17mm、WF20X/12.5mm 物镜：95mm平场无限远复消色差长工作距离物镜 2X/0.05（W.D.20mm）、100X0.80（W.D.4.0mm） 二维测量软件 专业金相图像分析软件 测微目镜 摄影装置及CCD接口：0.5X、0.57X、0.75X 130万、200万、300万、500万、1000万 像素电子目镜 彩色1/3寸 CCD700条线 各款工业相机

CORES回流焊模拟器回流焊 + 观察显微镜 + 测量显微镜

概述Swift PRO Elite 是一款高精度光学测量显微镜，旨在提升您的测量与检测能力。通过 Swift PRO Elite 的独家专利无目镜光学观察头体，可以呈现光学显微级分辨率，观察小型精密、复杂零件，甚至是难以观察的样品（如透明塑料），确保轻松完成精确测量。Swift PRO Elite 功能强劲，结实耐用，非常适用于车间生产，可以简单而精准地测量精密零件。产品优势十分适合测量复杂零件上的细小特征Z轴可选，三坐标测量可测高度Dynascope 无目镜光学技术可清晰界定测量对象边缘，提供绝佳的分辨率和对比度。测量范围达 200mm x 100mm可选配结实耐用的微处理器，或是界面直观的 PC 软件 传统工具显微镜或轮廓投影仪的理想升级替代之选Swift PRO Elite 是提升测量与检测能力、改进质量控制的完美起点。详细信息什么是 Dynascope™ 无目镜光学技术？Swift PRO Elite 采用 Dynascope 无目镜光学技术，无需传统显微镜的目镜，可以为用户提供观察对象的高质量图像。黑色背景上测量黑色物体？ 白色背景上测量白色物体？ 透明物体？ 可以极其详细地查看所有难以观察的特征，并轻松实现精确测量，这并非轮廓投影仪或者其它视频测量系统所能完成的。简易 耐用 精确Swift PRO Elite 旨在应对繁忙生产环境的需求，配备了Vision Engineering久经证明的 200mm x 100mm 精密测量台。该平台在出厂前完成了非线性误差修正（NLEC）校准，可确保最佳精度，可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。Swift PRO Elite 设备体积小，不会占据太多空间，却能让您的产品质量有很大飞跃。应用范围… … 全世界各行业客户将Vision Engineering的测量系统用于多种多样的非接触式测量应用领域，包括：塑料零件（例如接头、瓶子、模塑件）医疗器械（例如植入介入器材、管件、血管支架）精密工程零件（例如航空航天、汽车、国防）钟表制造一般制造业NLEC 测量台校准非线性误差修正（NLEC）是当前可用最精确的修正方法，该方法采用软件算法计算并修正整个测量台上的所有误差。 所有测量台安装前都已在工厂完成 NLEC 校准。软件Swift PRO Elite 可选配结实可靠的微处理器，也可选配功能强大的 M 系列测量软件，以获得完整的解决方案。 直观的 PC 软件直观的 M 系列软件核心特色在于“简易”，可简化复杂的工作步骤，所以轮班工人可以像高级用户那样轻松使用。PC 版测量软件十分直观，可在大尺寸显示器上查看快速进行轮廓与表面测量，无需预编程序轻松导出报告和数据类似CAD的零件视图标记，方便检测测得数据。ND 122 微处理器这台经久耐用的微处理器既结实耐用又操作简单，非常适用于车间环境，能减少操作人员误差，同时可以最大限度缩短培训时间。QC 3000 微处理器QC 3000 采用美观而坚固的工业设计，非常适合在恶劣生产环境下轻松快捷地测量 2D 几何特征。光滑的铝质外壳，集成电源和无风扇被动散热装置，极其坚固耐用并能承受多种不利影响。12.1 英寸触摸屏采用特殊钢化玻璃制成，支持多点触控手势控制，并可戴手套操作。突出优势用于测量常见几何特征的快捷方式图标（例如点、线、圆形、凹槽和矩形）轻松创建报告，测量之后立即生成结实耐用的 IP65 防泼溅触摸屏面板，十分适合车间环境技术测量不确定度（X，Y）不确定度公式 U952D = 5+(6.5L/1000)μmL = 长度，以 mm（毫米）为单位，在标准测量平面上采用放大 100 倍的受控条件 通过缩短测量长度和原位系统校准可提高准确度。(Z) Z 轴精度 10μm，采用放大 100 倍的受控条件光学器件专利双光瞳单目镜 Dynascope™ 无限远修正光学系统，十字光标网格已经预先居中与双眼对齐。可定制网格并使其预先居中与一只眼睛对齐。放大倍率选项（系统总放大倍率）快速更改放大倍率选项：物镜 1 倍，总放大倍率 10 倍物镜 2 倍，总放大倍率 20 倍物镜 5 倍，总放大倍率 50 倍物镜 10 倍，总放大倍率 100 倍测量台精密测量台，其标准配置均在出厂前完成非线性误差修正（NLEC）校准。测量范围（X，Y）：200mm x 100mm 或 150mm x 100mm 测量台选项(Z) 适用于 3 轴版：98mm最大负荷10Kg高度调节100mm 高度调节。编码器分辨率X = 1μm Y = 1μm Z = 0.5μm照明底部照明和表面照明可协助测量轮廓和表面特征。增强底部照明分区表面照明，采用修正色温的冷色调 LED通过软件控制照明底部照明光栏调节尺寸A = 680mm（最大）B = 515mmC = 480mm

产品优势徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜包括LK-CS2020、LK-CS3020、LK-CS4030三种型号，该系列专为高端全自动金相量测市场量身定制，其具有高倍观察测量、CNC编程、精准定位、重复测量、SPC报表统计、自动测量结果输出等功能，能快速高效地解决高倍观察量测产品的批量检测需要。本机X、Y、Z三轴均为伺服驱动，由鼠标、键盘及摇杆操纵，通过专用的全自动金相测量软件，具有自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术；可在使用夹具或工件随意放置的情况下，进行批量检测；独家使用专业订制的高精准细分脉冲金相测量电机，三轴均可转换通过电脉精准控制，可以实现快中慢三档调速来控制XYZ三轴移动；在选择低速档时，可让电机脉冲量的最小化设置跟传动机构的最优化调校，可以保证机台移动时，精细到0.5UM（甚至更低的分辨率）移动精度，从而有效地杜绝金相显微镜在高倍率下Z轴无法精准对焦及XY无法精准抓取产品图像边缘的情况。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜依靠着科技感和创新感双强的研发力量，能够以稳扎稳打的专业核心技术为不同客户制定出高性价比的解决方案和内核稳定的售后方案，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，真正成为了一款“小价格、大惊喜”的产品。依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为专业服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为LK-CS系列全自动三轴电动手脉金相测量显微镜产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍1、光路：采用国际领先的无限远双重校正光路设计（UISC）下图左图为有限远光路，右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路（左图）与无限远光路（右图）下观察到的情况对比：2、光源：明暗场反射照明器为12V100W卤素灯照明，并带有光强预设功能，可快速切换到预设亮度，带明暗场切换机构；透射光源为单颗大功率5W白色LED，并带有NA0.5聚光镜。透射照明与反射照明可独立控制，即透反照明可同时开启，亦可单独开启。传统卤素光源 传统卤素光源+色温平衡滤片3、观察方法：明场观察( 透射 )、暗场观察、DIC微分干涉观察、偏光观察明场观察( 透射 )：明场图例：暗场观察：暗场图例：DIC微分干涉观察：DIC微分干涉图例：简易偏光观察：简易偏光图例：4、智能化图像处理方法：5、图像测量功能6、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能： 实时景深叠加(EFI) 实时多视场拼图(MIA)7、产品特点：●由移动工作台、三轴电子光栅尺和运动专用控制盒组成数据传动控制系统； ●双重闭环运动控制，XYZ三轴伺服驱动，软件控制及电动手脉精准控制随机切换； ●采用全花岗平台结构，外观简洁大方，永不变形，永不生锈； ●具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,使观察测量与办公完全结合在一起； ●标配明场物镜和明场光路（可选配明暗场）； ●Z轴可选配辅助对焦模块实现测高功能； ●可选配手动鼻轮或电动鼻轮； ●可支持长工作距离物镜进行对接； ● 采用优异的无限远光学系统，提高成像衬度和清晰度，用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像，可实现明暗场，偏光，微分干涉等多种成像。图例1：图例2：图例3：产品参数产品型号LK-CS2020LK-CS3020LK-CS4030型号说明CS:全自动+XYZ三轴手脉电动控制测量范围mm200×200×150300×200×150400×300×150玻璃台面尺寸mm260×260360×260460×360工作台面尺寸mm366×366466×366640×540外形尺寸L×W×H mm780×550×965880×550×9651150×750×1100机器重量KG125150250镜筒/图像双目镜筒，带有标准的TV摄像机端口观测方法标配明场物镜(可选明暗场、偏光及DIC微分干涉)目镜双目10X物镜无限远明场金相物镜：5x,10x,20x,50x(100x选配)转换器内定位5孔转换器反射照明装置带滤色片插槽与偏光装置插槽，带5WLED灯源，亮度可调；可选配明暗场反射照明器，带切换装置透射照明装置LED高亮度光源调焦系统软件控制+手脉电动精准对焦控制光栅尺分辨率XYZ0.0005mm/0.0001mm(可选配)测量精度(μm)X-Y≤(2.5+0.02L)μm Z≤(4+0.02L)μmL为被测长度(单位：mm)机器电源220v±10%/110v±10%(AC) 50Hz留言或致电我们，获取更多方案。

PCB线宽线距测量仪 ◆产品信息SN-C1000 PCB视频线宽线距测量显微镜，一体式结构设计，采用优良的宽视野光学系统，从高倍变焦到低倍物距固定，无需过多的调节焦距，配备高清数字输出CCD，画像清晰逼真，色彩还原强，测量软件简单易学，应用于PCB外观检查、线路线宽线距测量，金手指测量等工序。 ◆产品特点多功能测量系统，机器运行稳定，不受外部干扰。0.35-2.25X光学放大倍，135X的电子视频放大倍率。最大视野可观察20mm，像质清晰分辨率高。全程放大倍率可实现齐焦定距功能。高清CCD相机配合系统测量软件，视频输出稳定，高清画质输出。软件带有自动寻边，逐个EXCEL数据输出，可轻松完成各种表格。使用磨砂LED照明，减少光画对成像的干扰。 ◆产品外形 ◆产品参数型号SN-C1000线宽线距测量仪CCD像素200万/500W软件功能颜色调节高光与亮度调节测量工能，点、线、平行线、圆、矩形、多线段、多边形等测量。校正功能：手动校正图片保存放大倍率21X-135X视野3mm-20mm物距80-120mm中心距150mm照明5W可调磨砂LED ◆图片效果

VT6000大倾角超清纳米共聚焦测量显微镜用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。它是基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。应用案例1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000大倾角超清纳米共聚焦测量显微镜可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中具有广泛应用。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000大倾角超清纳米共聚焦测量显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。