薄膜综合物性分析仪(导热系数,电导率,电阻率,赛贝克系数,霍尔系数,迁移率 载流子浓度 发射率)同步测量苏需要的热物性参数,消除样品的几何尺寸,样品物质组分和热分布不均的影响,结果非常具有可靠性。可测量30nm-30μm的涂层与薄膜样品,样品面积约25mm²采用芯片式设计,样品于传感器紧密接触,构成一个缩小的热带发导热测量模型,可配置锁相放大器,以适应3ω法对样品的in-plance和cross-plance导热进行测量。可以适应不同材质样品。无论是金属,陶瓷,半导体等无机薄膜还是有机薄膜,都可以用TFA测量模块化设计, 根据需求,添加测量模块。1:瞬态导热测量磨坏:锁相放大器 配置3ω测量单元,可测平面,交叉面导热系数,比热等2: 霍尔效应测量模块: 配置磁场单元,可测霍尔电压,迁移率,载流子浓度。3 低温附件模块:-150°-400°C 样品两侧均安装LN2管道, 有利于样品两侧温度控制。导热系数:稳态热带法,3ω法。电阻于霍尔系数:范德堡法赛贝克:静态直流法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581948_3060548_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581949_3060548_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581950_3060548_3.png
我想请问一下:生产金属化薄膜电容器的厂家需要做哪些方面的化学分析啊,要掌握那些分析仪器呢!谢谢各位指点
现有薄膜标准要求不能超过0.008mm,采用千分尺测量精度只能达到0.01mm,还能采用哪种仪器测量呢?
所传图片为GaN薄膜的断面分析,该图片有点不是太明白,想请各位前辈指导一下。在图中“A”代表什么?“B”是不是薄膜的最外层?“C”是不是超晶格结构层?“D”是不是也是一层GaN薄膜?在该图中基片层是不是没有显示出来?已知该薄膜为在蓝宝石衬底上生产的GaN薄膜,其中有超晶格结构。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902241106_134986_1874631_3.jpg[/img]
CZTS 薄膜的拉曼光谱分析,紫外拉曼找到新的用途,普通拉曼一般无法鉴别CZTS 薄膜中的ZnS,而紫外拉曼可以。
本人在透镜断面分析方面遇到一些问题,想向各位前辈请教一下。下面的几幅图片都是同一个样品的断面分析照片,不知道该怎么分析,希望能够得到各位前辈的指点。谢谢。 该样品是在蓝宝石衬底上生长的GaN薄膜,其中含有超晶格结构。在图片“001”里面,请问“A”“B”“C”“D”分别代表什么层?“B”是不是样品的最外层薄膜?“C”是不是超晶格结构层?“D”是不是里面的一层薄膜?在该图片中,衬底蓝宝石是不是没有显示出来?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902281157_135935_1874631_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902281157_135937_1874631_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902281158_135938_1874631_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902281158_135939_1874631_3.jpg[/img]
我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!
本人最近刚接触拉曼光谱,恳请大侠们不吝赐教!前期做了一些非晶碳薄膜材料,用磁控溅射方法制备,想利用Raman分析薄膜中sp2C和sp3C杂化态及其含量,看文献中介绍D峰和G峰,还是不太明白具体含义,请高手详细解释一下!另外,ID/IG如何获得?其比例能否代表sp2C和sp3C的含量?
我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!
我欲选购如下几种沥青性质分析仪器: 薄膜烘箱分析仪,要求比老式仪器有更好的性能。 自动软化点测定仪。 延长度测定仪。 欢迎各厂家提供详细信息,包括仪器的性能,价格,适用标准,还有哪些厂在使用等等。 原来使用的仪器有些老旧,有的性能无法达到标准要求需更换。 急需这方面的信息!!!请尽快提供。
薄膜分析的基本参数法的原理及数学公式
用MOCVD在a面蓝宝石上渡上GaN薄膜,xrd图谱中去掉背景后变成了三个峰,没有去时,只有一个峰,去掉后的三个峰中面间距差不多,都是五点几埃,有一个最强峰,右边有两个小小的峰,物相分析时无法找到GaN,最强峰可以与蓝宝石吻合,为什么啊,谢谢
主要针对纳米薄膜材料(SnO2基薄膜电池负极材料)在微结构表征分析中的技术难点开展讨论,通过包埋切片的方法快速成功获得可用于界面结构分析的TEM截面样品,结合薄膜光路XRD可以进一步确认薄膜材料相组成、成分以及
谁能详细介绍一下如何用激光拉曼分析薄膜样品
请问:有用xrd软件分析pzt薄膜的特性的吗?我们可以讨论一下?[em07]
请问专家:我单位一台WFX-120型[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度计(南京分析仪器厂产),因维修过程中不小心把雾化器后的薄膜损坏了(暂无备件).我用一块聚四氟乙烯板裁成相同大小换上.可以吗?有危险吗?这个膜的作用是什么?能买到备件吗?
请问高手:xrd如何分析pzt薄膜的有效弹性系数?
XRD掠入射衍射是分析薄膜表面结构的极为有效的放发,可以对薄膜进行深度分层分析,其参与散射的晶面接近垂直于薄膜表面。采用位敏探测器,可以在固定的入射角度同时记录散射强度随出射角的变化,等同于晶体截断杆扫描,扫描时晶体绕平行于表面法向的轴转动,因而可以记录在不同Qz处QxQy面内的散射强度分布。那么可不可以采用掠入射衍射方法表征垂直于薄膜便面的结构呢?比如说一个1-3型的薄膜样品,一相以柱状结构embedded in另外一相的matrix中。可不可以这样:扫描不同Qz层的强度分布,如果每层的分布强度一样或者接近,则可认为存在这样1-3型的柱状结构?
摘要:本文简要介绍了流延聚丙烯薄膜(CPP)在生产工艺、生产设备、原料等几个方面的技术进展,对一些新产品进行初步探讨,根据市场状况提出一些看法。关键词:聚丙烯 流延 薄膜 技术进展 市场前言 我国CPP薄膜起步于20世纪80年代,刚开始由国外引进单层流延设备,宽只有1~1.5m,年生产能力约1000~1500吨/台,进入90年代,从奥地利兰精公司、日本三菱重工、德国Reifenhauser 、 W&H 、 意大利Colines、 Dolci、 美国Battenfeld等引进了多层共挤流延膜生产线,宽2~2.5 m,年生产能力3000~4000吨/台,2000年以来更是突飞猛进,引进了更为先进的生产线,宽4~4.5 m,年生产能力5000~6000吨/台的多层共挤流延膜生产线。同时,国产设备也得到快速度发展。原料从刚开始完全依赖进口到现在均聚、二元共聚料国产料已基本可以替代进口;产品从刚开始单一的复合级发展到现在有镀铝级、蒸煮级、印刷级及其他功能性薄膜;CPP薄膜已发展成为最主要的包装薄膜之一,当然市场供求关系亦从原来的供不应求发展到现在生产能力过剩的状态。
我想做塑料薄膜中的氯元素的定性分析,不知道用什么方法?请各位大虫指教一二。怎么做法?
请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么?
聚甲基丙烯酸叔丁酯薄膜的二维红外相关谱分析[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=151883]聚甲基丙烯酸叔丁酯薄膜的二维红外相关谱分析[/url]
在网上看见这篇文章,摘来大家看看,希作者别见怪!薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定严湘青1,吴旭梅2(1.浙江省计量科学研究院,杭州 310013;2.杭州泰林生物技术设备有限公司,杭州 310052)摘要 目的:建立薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定方法。方法:分析了测量过程中不确定度的主要来源,即工作曲线的不确定度、测量仪器读数分辨率导致的不确定度、测量不重复性引起的不确定度、标准溶液引起的不确定度等,分别量化后合成标准不确定度,得到总有机碳测量的扩展不确定度。结果:通过对HTY-2500总有机碳分析仪在2000μg• L-1测量点测量结果不确定度的评定,其扩展不确定度为U95 = 49(μg• L-1)(k=2)。结论:本方法所建立的测量结果不确定度评定方法准确、可靠,可为薄膜-电导率法总有机碳分析仪的测量结果不确定度评定提供较为准确简便的方法。关键词:总有机碳;测量不确定度;薄膜—电导率法中图分类号:R917 文献标识码:A 文章编号:0254-1793(2008)12-0-0Evaluation of Measurement Uncertainty for the Total Organic Carbon Analyzer with Membrane Conductmetric Detection Technology YAN Xiang-qing1,WU Xu-mei2(1.Zhejiang Province Institute of Metrology, Hangzhou, 310013, China 2. Hangzhou Tailin Bioengineering Equipments Co. LTD, Hangzhou, 310052, China)Abstract: Purpose: The article set up an evaluation method of measurement uncertainty for the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Method: The article analyzed the main resources of the uncertainty of the measurement, which include uncertainty of the working curve, uncertainty of the resolution ratio of the instrument, uncertainty of measure unrepeatability, uncertainty of standard solution, etc. It quantified these uncertainties respectively and composed them to a standard uncertainty. Finally it got the expanded uncertainty of the total organic carbon measurement. Result: It evaluated the measurement uncertainty of the total organic carbon analyzer at 2000μg• L-1 and got the expanded uncertainty which is U95 = 49(μg• L-1)(k=2). Conclusion: The evaluation method of measurement uncertainty set up by the article is accurate, reliable, and it can offer comparatively exact and convenient method for measurement uncertainty evaluation of the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Key words: total organic carbon uncertainty of a measurement membrane-conductometric detection technology
[i]最近有很多老师的科研是在玻璃(或者石英等其他)衬底上沉积一层膜,比如说氧化锌薄膜,拿来做紫外吸收,以前做的都是溶液,现在这个膜的如果按照溶液的方法来做可不可以?不知道怎么才能给他们做好。请专家帮忙分析一下,最好从开始基线扫描那一步开始,详细给我建议,谢谢了![/i]
请问各位大侠,在测量薄膜的紫外可见最大吸收波长时,要求薄膜时透明的吗?乳白的的可以吗?我的是PET薄膜,通过不同的溶解方法再旋转涂膜得到两种完全不同的薄膜,见图,一种是乳白色不透明,一种无色透明我的实验目的是在PET薄膜中加入一种染料使其变色,以不加染料的PET薄膜作为参比,测量加染料薄膜的紫外可见最大吸收波长请问各位大侠前辈哪种才适用于我的目的呢?现在还没有做出加染料的薄膜。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435158_2341438_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435159_2341438_3.jpg
http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/08/201108112134_309901_2355867_3.jpg这是磁控溅射制备的氧化铝薄膜,厚度30-50nm, S1是制备样品,P1是经过750度处理后的样品,想对比变化,可是峰位怎么都对不上啊?? 基底材料用的是氧化硅wafer, 请这里的大师兄们给帮忙分析一下吧??? 急啊,老板要我解释呢 小师妹先在这里谢谢大家了!!
大家好,我是刚加入这个论坛的,能加入这样的一个论坛,真的是很荣幸呀!以后还请大家多多帮忙了!呵呵[em01] 现在我想求助一个问题:石英基片的透明薄膜样品,该怎么做TEM分析?也要像硅基底的样品那样,先用手工磨,然后再用离子减薄机减薄吗?期待你的帮助,多谢!
大家好,我是个新手,对红外光谱不熟悉,我现在做塑料袋的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]定性分析,就是只要确定是PVC,PP,PE就可以了。我用的仪器是岛津uv3100,扫描波长是500-2600nm的范围,但是这个仪器没有中文的使用方法。所以求各位有这方面资料的,帮帮忙!现在我们老师帮我弄出来的实验光谱的尖峰很少的,根本没有我查到的资料里的图谱信息多,不过他们是用傅利叶红外光谱分析仪的,这个图谱会差很多吗?为什么阿?还有如果有塑料薄膜方面的图谱的话,给我做个参考,谢谢! 我的光谱图在附件中,麻烦大家了,帮我分析分析吧,谢谢,谢谢!![img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=18953]光谱图[/url]
最近做了两个薄膜样品, 其中一个是透明薄膜. 另外一个是在透明薄膜的基础上镀了一层特殊的反光材料,为黑色 客户想让我们帮着看看镀上的这层特殊材料是什么 我两个样品都做了红外 然后发现结果完全吻合 大家说说在红外行不通的基础上 还有什么更好的分析方法 来分析 这层镀层的成分
[color=#000000][b][color=#336666]会议报名请点击:[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][/color][color=#336666][b]课程结束参与评价还可以拿电脑包和更多公仔![/b][/color][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091444586535_7755_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动,特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货,全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外,活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][color=#000000][b]背景介绍:[/b][/color][color=#000000]薄膜,通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域,譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键,最终影响薄膜的物性;对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据,改善薄膜材料性能。[/color][color=#000000][/color][color=#000000][b]活动日程:[/b][/color][table][tr][td=1,1,99]时间 [/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词,公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]朱京涛,[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]多晶薄膜应力和织构分析[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]王林,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]钟明光,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]熊佳星,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][b][/b][color=#000000][b]重要内容抢先看:[/b][/color][color=#000000]【同济大学,朱景涛教授】将分享X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用,主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息;[/color][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区,XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量多晶薄膜的残余应力和织构分析方法;【马尔文帕纳科亚太区,半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在半导体薄膜领域的专业分析解决方案;【马尔文帕纳科中国区,XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在涂层镀层无损分析中的应用。[b][color=#336666]专题页面:[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]