静电电压表

抗静电面料通常要考核电荷面密度和静电压半衰期。采用有机导电纤维生产抗静电面料时，会出现电荷面密度达标、而静电压半衰期超标的问题。企业往往会面临这个问题，其采用增加有机导电纤维用量的方法试图解决问题，但实际效果不理想。　　这是由于我们在织物上采用了有机导电纤维后，织物的静电压已经下降，即电荷的逃逸势能下降，静电压可能从原来的上万伏见到几百伏，电荷在几百伏的势能下要比原来几万伏势能逃逸得更慢，即衰减到一半电压时所花的时间将更长，导致静电压半衰期变长。这时，若再增加有机导电纤维的用量只能起反作用，且增加成本。在这样的情况下，应该在染整定型前适度加一点抗静电剂，增加面料在各个地方的电荷逸散的便利程度，就可以很好地解决这个问题了。　　资料转载自：http://www.kangjingdianshebei.com/jslist/list-3-1.html　　标准集团(香港)有限公司

&mdash &mdash &ldquo 国产好仪器&rdquo 活动约稿 　　曾看到一个故事：魏文王问名医扁鹊说：&ldquo 你们家兄弟三人，都精于医术，到底哪一位最好呢?&rdquo 扁鹊答：&ldquo 长兄最好，中兄次之，我最差。&rdquo 文王再问：&ldquo 那么为什么你最出名呢?&rdquo 扁鹊答：&ldquo 长兄治病，是治病于病情发作之前。由于一般人不知道他事先能铲除病因，所以他的名气无法传出去 中兄治病，是治病于病情初起时。一般人以为他只能治轻微的小病，所以他的名气只及本乡里。而我是治病于病情严重之时。一般人都看到我在经脉上穿针管放血、在皮肤上敷药等大手术，所以以为我的医术高明，名气因此响遍全国。&rdquo 这则故事叙述了一个道理：事后控制不如事中控制，事中控制不如事前控制。所谓的事前控制其实就是要做好预防工作，而产品品质的成功之道就是在于预防。 　　我国静电防护普及教育相对滞后、普及率较低，而对于静电防护工作，有很多企业几乎没做或处于刚刚起步阶段。我公司在成立之初，主要精力放在产品研发和量产上，对静电防护工作做得不到位。随着产品的推陈出新、设计和制造经验的不断积累，公司产品线上静电防护措施在逐渐完善，目前已建立较完备的电路板静电防护机制，从电子部件生产环节进行全方位地有效控制。虽然经历了一段曲折的过程，但结果是喜人的，而这一过程给每位参与人员都留下一段难忘的回忆。 　　早在十年前，公司推向市场的产品已基本形成完整的系列，从生产能力到性能指标在国内同行业里已具有一定的影响力，但产品的防护措施做得不到位，品质难以保证。从客服中心整理报出的数据中可以看出，当时保内产品的返修率一直居高不下，问题多出自电路板。按照当时的技术水平，对电路板进行故障排查和维修并不成问题，只要参照电路原理图查出故障电子元器件并更换即可。但这样治标不治本，&ldquo 为什么测试正常的电路板在使用一段时间后故障率如此之高&rdquo 成为当时困扰产品研发和生产制造人员最大的问题。经过对故障电子元器件和电路系统反复比对试验、查阅资料，最终发现是由于操作不当造成电子元器件被静电损坏，从而留下质量隐患。 　　原因找到了，下一步就要采取相应措施以避免问题再次发生。从哪里着手、控制哪些环节、如何有效控制? 　　在整改之前，由技术人员组成的工作小组到现场，对电子元器件使用的全过程展开分析。我们发现，进口厂商提供的电子元器件采用防静电包装物进行包装，而从国内电子市场采购回来的电子元器件多为散装或采用普通塑料材质包装物进行包装 贮存在原材料库中的电子元器件虽已分类，但没有进行有效的防护，出库时更是没有采取相应措施而是直接用手拿取 在电路板焊接、测试及安装现场没有有效防护措施 整机测试和产品使用人员同样静电防范意识淡薄，诸如机壳未有效接地和带电插拔通讯线都是非法操作。可以说任何一个不经意的操作都有可能将携带的静电释放到元器件上，导致其不同程度受损，每一道没有相应防护措施的工作环节都有可能留有质量隐患。 　　电子元器件向着体积小、集成度高的方向发展，芯片内部导线间距越来越小，绝缘膜越来越薄，致使耐击穿电压也越来越低。而电子元器件在采购、检验、进库、贮存、发料、焊接、调测和安装等过程中所产生的静电电压却远远超过导致其击穿的阈值电压，这就可能造成器件受损或失效，影响产品的技术指标，降低其可靠性。 　　由此可见，静电隐患无处不在，静电防护工作刻不容缓。公司对此非常重视，邀请专家对全体员工进行静电防护常识的培训，使大家了解到静电产生的机理和静电防护的相关知识，以提高全员的静电防范意识。公司对电子元器件供货厂商提出严格的储运、包装要求，在源头上控制电子元器件质量。同时，对公司内部原材料库和电路板加工过程实施严格管理。目前已建成较完备的防静电接地系统 工作区域的地面、工作台、座椅、货架及中转箱、中转车均按照专业的静电防护要求进行配备 对于接触电子元器件和电路板的操作人员，从着装、腕带佩戴、静电测试与释放到操作工具等方面均提出严格要求，并不定期抽查、监管。对于测试通过的待入库电路板类产品，全部采用标准防静电材料封闭包装并粘贴防静电标识。 　　随着静电防护工作的开展，莫名损毁的电子元器件大幅减少，电路板耐用性得以保证，产品质量稳步提高。全员静电防范意识的增强、防护设施设备的配备加之合理的监管，为电子电路类产品的可靠耐用打下坚实的基础。虽然对于同一块电路板而言，其设计原理、焊接方式、测试方法、使用强度等都没有改变，但经过全方位地静电防护后，其故障比率降低了、可靠程度提高了 维修数量降低了、工作效率提高了 维护成本降低了、客户满意度提高了。 　　静电防护工作仅仅是提高产品品质和可靠性的诸多工作中的一种，而员工的静电防范意识是质量意识的一个方面。&ldquo 防&rdquo 不代表保守，是为更快更稳地前行做好准备、打好基础，正所谓&ldquo 治病于病情发作之前&rdquo 才是最高境界。预防是提高产品质量的唯一途径。在依利特公司，这样的实例数不胜数，每一件事情背后都有一段故事，正是这一件件看似平凡的小事推动着企业的进步，为公司产品的质量奠定基础、为公司事业的腾飞保驾护航! 　　作者：大连依利特分析仪器有限公司产品部 副部长 刘凯

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本公司于2007年8月 新推出德国原装进口的 静电测试仪EFM 022 仪器特色： 1.单鍵操作，目录式设定，使用简单 2.5 段距离选择，可对应不同测量范围 3.适合各种未知环境，测量静电 (V) 值 4.具 Hold 读值锁定，并可储存记忆体 5.每次测量无需调整归零，可立即使用 6.本机具备 CPS 模式，可选购 "平板充电模拟器" 并搭配外部高电压转换器 适用场所： 适用于各种行业的静电测试工作 screen.width-300)this.width=screen.width-300"

本公司于2007年8月 新推出德国原装进口的 静电测试仪EFM 022 仪器特色： 1.单鍵操作，目录式设定，使用简单 2.5 段距离选择，可对应不同测量范围 3.适合各种未知环境，测量静电 (V) 值 4.具 Hold 读值锁定，并可储存记忆体 5.每次测量无需调整归零，可立即使用 6.本机具备 CPS 模式，可选购 "平板充电模拟器" 并搭配外部高电压转换器 适用场所： 适用于各种行业的静电测试工作

公司新推出德国原装进口的 静电测试仪EFM 022 ，因适用范围广一经推出就得到了客户的认可。 仪器特色： 1.单鍵操作，目录式设定，使用简单 2.5 段距离选择，可对应不同测量范围 3.适合各种未知环境，测量静电 (V) 值 4.具 Hold 读值锁定，并可储存记忆体 5.每次测量无需调整归零，可立即使用 6.本机具备 CPS 模式，可选购 "平板充电模拟器" 并搭配外部高电压转换器 适用场所： 适用于各种行业的静电测试工作 普利赛斯国际贸易（上海）有限公司 联系人：蓝春来 刘轩宏 张莉 Tel：021-64477888 64483377 Fax：021-64476677 64482277 Email：info@precisaitl.com.cn Http://www.precisa.cn

第六届全国静电纺丝技术与纳米纤维学术会议将于2018年11月30日-12月2日在江西师范大学（中国?南昌）召开。会议时间：2018年11月30日 - 12月2日会议地点：江西师范大学会议日程安排2018 年 11 月 30 日：会议报到注册2018 年 12 月 1 日：上午开幕式及大会报告；下午大会报告 (含分会场报告)2018 年 12 月 2 日：上午大会报告 (含分会场报告)；下午颁奖，闭幕式，会后交流会议主题静电纺丝新理论、新技术、新装置；静电纺有机高分子材料纳米纤维；静电纺有机/无机复合材料纳米纤维；静电纺无机材料纳米纤维；静电纺技术在军民两用技术方面的应用，如：生物医学、纳米纺织、功能服装、催化、气/液过滤、能源存储与过滤、柔性器件、3D打印、记忆材料、声波吸收与电磁波屏蔽的应用；产学研论坛（国际贸易、新技术、新产品发布、企业推介、技术合作/转让等）。静电纺丝静电纺丝技术是目前为止获取纳米纤维最简单有效的方法之一。它具有比表面积大、孔隙率高等特点，因而可广泛应用于高效过滤材料、生物材料、高精密仪器、防护材料、 纳米复合材料等领域 。影响静电纺丝纤维的因素有很多。纺丝液自身的性质例如聚合物种类、浓度、导电性、添加剂等都会影响纺丝结果。而纺丝参数设置例如,包括外加电压、喷丝头与接收板之间 的距离、纺丝速度、甚至外界环境温度、湿度等等因素都会对最终结果造成影响。为了摸清这些影响因素的作用规律，获取纺丝样品的形貌照片则显得极为重要。飞纳电镜助力静电纺丝研究飞纳电镜高效的特性特别适合检测静电纺丝此类需要“摸条件”的实验。飞纳电镜抽真空时间只需要 15 秒钟，从装样到得到照片不超过 30 秒。并且，飞纳电镜操作简单，学生经过简单培训就可以自己上手操作。飞纳电镜尺寸迷你，可以放置在任意实验桌甚至办公桌上，且采用高亮度 CeB6 灯丝或肖特基场发射电子源，使得飞纳电镜具有 “小身材，大能量” 的特点。飞纳电镜下的静电纺丝飞纳电镜-纤维统计分析测量系统飞纳电镜的纤维统计分析测量系统（FiberMetric）可以自动测量从纳米到亚微米量级的纤维，数秒之内采集数百纤维的直径信息，同时会对纤维相交产生的孔做出统计。每个数据点均经过 50 次测量取平均值。根据统计信息自动生成纤维直径分布柱状图，并导出数据文件。相对于手动测量，纤维系统软件测量精度高，速度快，效率高，操作简单，它让统计和分析大量不同直径的纤维样品成为可能。纤维系统测量界面 纤维测量图 扫描电镜原图纤维统计图飞纳电镜团队将出席本次会议，期待与参会人员进行扫描电镜在静电纺丝和纳米纤维检测方面的技术沟通。

亲爱的朋友们，你遇到过这些情况吗？脱毛衣的时候，听到噼啪的响声；朋友握手的时候，感到指尖刺痛；早上梳头发，头发会“飘”起来。日常生活中静电给我们带来了各种各样的麻烦，天平称重时，静电也给使用者带来了不小的烦恼。特别是现在寒冷的冬季，这些烦恼更加突出，那么今天小编就为大家一一解决这些困扰，为您排忧解难！烦恼一：静电放电ESDo 每次称重显示不同的称重结果，重复性差；o 重量显示值稳定慢。小贴士：天平称重时，静电的常见载体是玻璃或塑料的称重容器，以及实验人员本身。静电放电会造成几毫克，甚至几百毫克重量的称量误差。烦恼二：静电引力ESAo 粉末样品上带有静电时，在静电引力作用下，粉末粘附在称重容器上，容易产生样品的交叉污染；o 有毒害的样品附着在容器上，会对操作人员自身安全造成威胁。看了那么多现实中的烦恼与困惑，你是不是还在叹气没有方法解决呢？今天我们就为大家隆重推出一款奥豪斯静电消除器可适合各种天平使用，将会是您最佳的静电消除解决方案：奥豪斯解决方案：o 适当增加环境湿度，45%~60%的相对湿度较为适宜。o 使用ION-100A静电消除器，瞬间去除称量样品、容器、操作人员所带的静电，安全又方便。 空气离子化技术——两极放电针，不断释放正负离子，平衡样品上的静电，可避免粉末样品被吹散。 持久耐用 物超所值——工作时限可达15000个小时。 结构紧凑 设计巧妙——节省空间；高度和角度可自行调节。以上是奥豪斯为您推荐的静电消除解决方案，特别是在北方寒冷的冬季非常干燥的环境中极其适合这款消除器配置天平使用。另外，这款消除器适合各种型号的天平产品，越是高精度的天平使用效果越好，例如十万分之一位的天平，搭配使用更加完美！

前文回顾：发明人库尔特的传奇人生——颗粒表征电阻法（上）一、经典库尔特原理在经典电阻法测量中，壁上带有一个小孔的玻璃管被放置在含有低浓度颗粒的弱电解质悬浮液中，该小孔使得管内外的液体相通，并通过一个在孔内另一个在孔外的两个电极建立一个电场。通常是在一片红宝石圆片上打上直径精确控制的小孔，然后将此圆片通过粘结或烧结贴在小孔管壁上有孔的位置。由于悬浮液中的电解质，在两电极加了一定电压后（或通了一定电流后）， 小孔内会有一定的电流流过（或两端有一定的电压），并在那小孔附近产生一个所谓的“感应区”。含颗粒的液体从小孔管外被真空或其他方法抽取而穿过小孔进入小孔管。当颗粒通过感应区时，颗粒的浸入体积取代了等同体积的电解液从而使感应区的电阻发生短暂的变化。这种电阻变化导致产生相应的电流脉冲或电压脉冲。图1 颗粒通过小孔时由于电阻变化而产生脉冲在测量血球细胞等生物颗粒时所用的电解质为生理盐水（0.9%氯化钠溶液），这也是人体内液体的渗透压浓度，红细胞可以在这个渗透压浓度中正常生存，浓度过低会发生红细胞的破裂，浓度过高会发生细胞的皱缩改变。在测量工业颗粒时，通常也用同样的电解质溶液，对粒度在小孔管测量下限附近的颗粒，用 4%的氯化钠溶液以增加测量灵敏度。当颗粒必须悬浮在有机溶剂内时，也可以加入适用于该有机溶液的电解质后，再用此有机 溶液内进行测量。通过测量电脉冲的数量及其振幅，可以获取有关颗粒数量和每个颗粒体积的信息。测量过程中检测到的脉冲数是测量到的颗粒数，脉冲的振幅与颗粒的体积成正比，从而可以获得颗粒粒度及其分布。由于每秒钟可测量多达 1 万个颗粒，整个测量通常在数分钟内可以完成。在使用已知粒度的标准物质进行校准后，颗粒体积测量的准确度通常在 1-2%以内。通过小孔的液体体积可以通过精确的计量装置来测量，这样就能从测量体积内的颗粒计数得到很准确的颗粒数量浓度。 为了能单独测量每个颗粒，悬浮液浓度必须能保证当含颗粒液体通过小孔时，颗粒是一个一个通过小孔，否则就会将两个颗粒计为一个，体积测量也会发生错误。由于浓度太高出现的重合效应会带来两种后果：1）两个颗粒被计为一个大颗粒；2）两个本来处于单个颗粒探测阈值之下而测不到的颗粒被计为一个大颗粒。颗粒通过小孔时可有不同的途径，可以径直地通过小孔，但也可能通过非轴向的途径通过。非轴向通过时不但速度会较慢，所受的电流密度也较大，结果会产生表观较大体积的后果，也有可能将一个颗粒计成两个[1]。现代商业仪器通过脉冲图形分析可以矫正由于非轴向流动对颗粒粒度测量或计数的影响。图2 颗粒的轴向流动与非轴向流动以及产生的脉冲经典库尔特原理的粒度测量下限由区分通过小孔的颗粒产生的信号与各种背景噪声的能力所决定。测量上限由在样品烧杯中均匀悬浮颗粒的能力决定。每个小孔可用于测量直径等于 2%至 80%小孔直径范围内的颗粒，即 40:1 的动态范围。实用中的小孔直径通常为 15 µm 至 2000 µm，所测颗粒粒度的范围为 0.3 µm 至 1600 µm。如果要测量的样品粒度分布范围比任何单个小孔所能测量的范围更宽，则可以使用两个或两个以上不同小孔直径的小孔管，将样品根据小孔的直径用湿法筛分或其他分离方法分级，以免大颗粒堵住小孔，然后将用不同小孔管分别测试得到的分布重叠起来，以提供完整的颗粒分布。譬如一个粒径分布为从 0.6 µm 至 240 µm 的样品，便可以用 30 µm、140 µm、400 µm 三根小孔管来进行测量。 库尔特原理的优点在于颗粒的体积与计数是每个颗粒单独测量的，所以有极高的分辨率，可以测量极稀或极少个数颗粒的样品。由于体积是直接测量而不是如激光衍射等技术的结果是通过某个模型计算出来的，所以不受模型与实际颗粒差别的影响，结果一般也不会因颗粒形状而产生偏差。该方法的最大局限是只能测量能悬浮在水相或非水相电解质溶液中的颗粒。使用当代微电子技术，测量中的每个脉冲过程都可以打上时间标记后详细记录下来用于回放或进行详细的脉冲图形分析。如果在测量过程中，颗粒有变化（如凝聚或溶解过程，细胞的生长或死亡过程等），则可以根据不同时间的脉冲对颗粒粒度进行动态跟踪。 对于球状或长短比很接近的非球状颗粒，脉冲类似于正弦波，波峰的两侧是对称的。对很长的棒状颗粒，如果是径直地通过小孔，则有可能当大部分进入感应区后，此颗粒还有部分在感应区外，这样产生的脉冲就是平台型的，从平台的宽度可以估计出棒的长度。对所有颗粒的脉冲图形进行分析，可以分辨出样品中的不同形状的颗粒。 大部分生物与工业颗粒是非导电与非多孔性的。对于含贯通孔或盲孔的颗粒，由于孔隙中填满了电解质溶液，在颗粒通过小孔时，这些体积并没有被非导电的颗粒物质所替代而对电脉冲有所贡献，所以电感应区法测量这些颗粒时，所测到的是颗粒的固体体积，其等效球直径将小于颗粒的包络等效球直径。对于孔隙率极高的如海绵状颗粒，测出的等效球直径可以比如用激光粒度仪测出的包络等效球小好几倍。 只要所加电场的电压不是太高，通常为 10 V 至 15 V，导电颗粒譬如金属颗粒也可以用电阻法进行测量，还可以添加 0.5%的溴棕三甲铵溶液阻止表面层的形成。当在一定电流获得结果后，可以使用一半的电流和两倍的增益重复进行分析，应该得到同样的结果。否则应使用更小的电流重复该过程，直到进一步降低电流时结果不变。 在各种制造过程中，例如在制造和使用化学机械抛光浆料、食品乳液、药品、油漆和印刷碳粉时，往往在产品的大量小颗粒中混有少量的聚合物或杂质大颗粒，这些大颗粒会严重影响产品质量，需要进行对其进行粒度与数量的表征。使用库尔特原理时，如果选择检测阈值远超过小颗粒粒度的小孔管（小孔直径比小颗粒大 50 倍以上），则可以含大量小颗粒的悬浮液作为基础液体，选择适当的仪器设置与直径在大颗粒平均直径的 1.2 倍至 50 倍左右的小孔，来检测那些平均直径比小颗粒至少大 5 倍的大颗粒 [2]。 二、库尔特原理的新发展 可调电阻脉冲感应法可调电阻脉冲感应法（TRPS）是在 21 世纪初发明的，用库尔特原理测量纳米颗粒的粒度与计数。在这一方法中，一个封闭的容器中间有一片弹性热塑性聚氨酯膜，膜上面有个小孔，小孔的大小（从 300 nm 至 15 m）可根据撑着膜的装置的拉伸而变来达到测量不同粒度的样品。与经典的电阻法仪器一样，在小孔两边各有一个电极，测量由于颗粒通过小孔而产生的电流（电压） 变化。它的主要应用是测量生物纳米颗粒如病毒，这类仪器不用真空抽取液体，而是用压力将携带颗粒的液体压过小孔。压力与电压都可调节以适用于不同的样 品。由于弹性膜的特性，此小孔很难做到均匀的圆形，大小也很难控制，每次测得的在一定压力、一定小孔直径下电脉冲高度与粒度的关系，需要通过测量标准颗粒来进行标定而确定。图3 可调电阻脉冲感应法示意图当小孔上有足够的压力差时，对流是主要的液体传输机制。 由于流体流速与施加的压力下降成正比，颗粒浓度可以从脉冲频率与施加压力之间线性关系的斜率求出。但是需要用已知浓度的标准颗粒在不同压力下进行标定以得到比例系数[3]。 这个技术在给定小孔直径的检测范围下限为能导致相对电流变化 0.05%的颗粒直径。检测范围的上限为小孔孔径的一半，这样能保持较低程度的小孔阻塞。典型的圆锥形小孔的动态范围 为 5:1 至 15:1，可测量的粒径范围通常从 40 nm 至 10 µm。 此技术也可在测量颗粒度的同时测量颗粒的 zeta 电位，但是测量的准确度与精确度都还有待提高，如何排除布朗运动对电泳迁移率测量的影响也是一个难题[4]。微型化的库尔特计数仪随着库尔特原理在生物领域与纳米材料领域不断扩展的应用，出现了好几类小型化（手提式）、微型化的库尔特计数仪。这些装置主要用于生物颗粒的检测与计数，粒度不是这些应用主要关心的参数，小孔的直径都在数百微米以内。与上述使用宏观压力的方法不同的是很多这些设计使用的是微流控技术，整个装置的核心部分就是一个微芯片，携带颗粒的液体在微通道中流动，小孔是微通道中的关卡。除了需要考虑液体微流对测量带来的影响，以及可以小至 10 nm 的微纳米级电极的生产及埋入，其余的测量原理和计算与经典的库尔特计数器并无两致。这些微芯片可以使用平版印刷、玻璃蚀刻、 防蚀层清除、面板覆盖等步骤用玻璃片制作[5]， 也可以使用三维打印的方式制作[6]。一些这类微流控电阻法装置已商业化。图4 微流计数仪示意图利用库尔特原理高精度快速的进行 DNA 测序近年来库尔特原理还被用于进行高精度、快速、检测误差极小的 DNA 或肽链测序。这个技术利用不同类型的纳米孔，如石墨烯形成的纳米孔或生物蛋白质分子的纳米孔，例如耻垢分枝杆菌孔蛋白 A（MspA）。当线性化的 DNA-肽复合物缓慢通过纳米孔时，由于不同碱基对所加电场中电流电压的响应不同，通过精确地测量电流的变化就可对肽链测序。由于此过程不影响肽链的完整性，如果将实验设计成由于电极极性的变化而肽链可以来 回反复地通过同一小孔，就可以反复地读取肽链中的碱基，在单氨基酸变异鉴定中的检测误差率可小于 10-6[7,8]。图5 纳米孔 DNA 测序库尔特原理的标准化 早在 2000 年，国际标准化组织就已成文了电感应区法测量颗粒分布的国际标准（ISO 13319），并得到了广泛引用。在 2007 年与 2021 年国际标准化组织又前后两次对此标准进行了修订。中国国家标委会也在 2013 年对此标准进行了采标，成为中国国家标准（GB/T 29025-2012）。参考文献【1】Berge, L.I., Jossang, T., Feder, J., Off-axis Response for Particles Passing through Long Apertures in Coulter-type Counters, Meas Sci Technol, 1990, 1(6), 471-474. 【2】Xu, R., Yang, Y., Method of Characterizing Particles, US Patent 8,395,398, 2013. 【3】Pei, Y., Vogel, R., Minelli, C., Tunable Resistive Pulse Sensing (TRPS), In Characterization of Nanoparticles, Measurement Processes for Nanoparticles, Eds. Hodoroaba, V., Unger, W.E.S., Shard, A.G., Elsevier, Amsterdam, 2020, Chpt.3.1.4, pp117-136.【4】Blundell, E.L.C.J, Vogel, R., Platt, M., Particle-by-Particle Charge Analysis of DNA-Modified Nanoparticles Using Tunable Resistive Pulse Sensing, Langmuir, 2016, 32(4), 1082–1090. 【5】Zhang, W., Hu, Y., Choi, G., Liang, S., Liu, M., Guan, W., Microfluidic Multiple Cross-Correlated Coulter Counter for Improved Particle Size Analysis, Sensor Actuat B: Chem, 2019, 296, 126615. 【6】Pollard, M., Hunsicker, E., Platt, M., A Tunable Three-Dimensional Printed Microfluidic Resistive Pulse Sensor for the Characterization of Algae and Microplastics, ACS Sens, 2020, 5(8), 2578–2586. 【7】Derrington, I.M., Butler, T.Z., Collins, M.D., Manrao, E., Pavlenok, M., Niederweis, M., Gundlach, J.H., Nanopore DNA sequencing with MspA, P Natl Acad Sci, 107(37), 16060-16065, 2010. 【8】Brinkerhoff, H., Kang, A.S.W., Liu, J., Aksimentiev, A., Dekker, C., Multiple Rereads of Single Proteins at Single– Amino Acid Resolution Using Nanopores, Science, 374(6574), 1509-1513, 2021. 作者简介许人良，国际标委会颗粒表征专家。1980年代前往美国就学，受教于20世纪物理化学大师彼得德拜的关门弟子、光散射巨擘朱鹏年和国际荧光物理化学权威魏尼克的门下，获博士及MBA学位。曾在多家跨国企业内任研发与管理等职位，包括美国贝克曼库尔特仪器公司颗粒部全球技术总监，英国马尔文仪器公司亚太区技术总监，美国麦克仪器公司中国区总经理，资深首席科学家。也曾任中国数所大学的兼职教授。 国际标准化组织资深专家与召集人，执笔与主持过多个颗粒表征国际标准 美国标准测试材料学会与化学学会的获奖者 中国颗粒学会高级理事，颗粒测试专业委员会常务理事 中国3个全国专业标准化技术委员会的委员 与中国颗粒学会共同主持设立了《麦克仪器-中国颗粒学报最佳论文奖》浸淫颗粒表征近半个世纪，除去70多篇专业学术论文、SCI援引近5000、数个美国专利之外，著有400页业内经典英文专著《Particle Characterization： Light Scattering Methods》，以及即将由化学工业出版社出版的《颗粒表征的光学技术及其应用》。点击图片查看更多表征技术

2013年2月25日，国家质检总局网站公布了17个国家计量技术法规的公告，此次为2013年继2013年第7号公告后第二次公布新的计量技术法规。详情如下： 质检总局关于发布JJG308-2013《射频电压表检定规程》等17个国家计量技术法规的公告 2013年第28号 　　根据《中华人民共和国计量法》有关规定，现批准JJG308-2013《射频电压表检定规程》等17个国家计量技术法规发布实施。 编 号 名 称 批准日期 实施日期 备 注 JJG308-2013 射频电压表检定规程 2013-02-16 2013-08-16 代替 JJG279-1981 JJG308-1983 JJG319-1983 JJG773-2013 医用γ射线后装近距离治疗辐射源检定规程 2013-02-16 2013-08-16 代替 JJG773-1992 JJG1083-2013 锚固试验机检定规程 2013-02-16 2013-05-16 JJF1261.7-2013 平板电视能源效率标识计量检测规则 2013-02-16 2013-05-16 JJF1261.8-2013 电动洗衣机能源效率标识计量检测规则 2013-02-16 2013-05-16 JJF1388-2013 数字脑电图机及脑电地形图仪型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1389-2013 数字心电图机型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1390-2013 脑电图机型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1391-2013 心电图机型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1392-2013 动态（可移动）心电图机型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1393-2013 心电监护仪型式评价大纲 2013-02-16 2013-05-16 JJF1394-2013 无线路测仪校准规范 2013-02-16 2013-05-16 JJF1395-2013 音频分析仪校准规范 2013-02-16 2013-05-16 JJF1396-2013 频谱分析仪校准规范 2013-02-16 2013-08-16 代替 JJG501-2000 JJF1397-2013 静电放电模拟器校准规范 2013-02-16 2013-05-16 JJF1398-2013 燃油加油机制造计量器具许可考核必备条件 2013-02-16 2013-08-16 代替 JJF1061-1999 JJF1399-2013 膜式燃气表制造计量器具许可考核必备条件 2013-02-16 2013-08-16 代替“煤气表制造计量器具许可证考核必备条件” 　　特此公告。 　　质检总局 　　2013年2月21日

静电并不是静止的电，而是宏观上暂时停留在某处的电荷。纸页之间的静电会使纸张粘合在一起，难以分开，给印刷带来麻烦；制药厂里，静电吸引尘埃，使药品达不到标准的纯度；在煤矿行业，严重的静电会引起瓦斯爆炸，导致工人死伤，矿井报废。生活中静电带来的不便和危害比比皆是，实验室中静电问题同样存在。在干燥环境下粉末状样品通常会遇到静电的干扰，天平读数很难稳定，自然也很难获取精确的称量结果。静电引发的原子的正负电荷不平衡的现象在实验操作中无法避免，那我们究竟要如何消除静电对精准称重的影响呢？ 奥豪斯旗下ION-100A 静电消除器可用于奥豪斯天平，保证您称量非常微量的样品时可获得“额外的精确度”。 ION-100A 可消除塑料、玻璃容器等导致称量误差的静电，从而帮助您获得精确的称量结果。 选择ION-100A 静电消除器的理由提升称量精准性静电消除器能够中和测试管与天平间的电子尤其可提升对于微量样品的称量精度。 中和静电且不干扰样品ION-100A的电极通过无叶风扇直流电晕技术产生双极性离子，不会干扰微量样品的称量。 内置或作为备选件Explorer 的自动门型号准微量天平标配内置静电消除器。其他型号天平可选配此产品。其实被静电困扰的用户不在少数，前不久在某专业科技论坛期间就有行业用户提出北方地区秋冬季节容易产生静电，如何做到精准称量？下图为奥豪斯工作人员现场为某食品科研单位研发主管演示Explorer准微量天平的静电消除功能。 失之毫厘，谬之千里，静电的危害不容小觑，可轻松消除样品静电的ION-100A 静电消除器将成为方便千万实验人的好搭档。欲了解更多产品信息，请与我们联系！

4月18日，“质”造新未来，“谱”写新征程——安益谱高端质谱新品发布会在苏州举行。我国首台/套自主研发的高分辨傅里叶静电阱气质联用仪Anyeep Cassitrap 120K正式发布。　　安益谱从2004年起开始气相色谱质谱技术的自主研发，经过十多年的技术积累与沉淀，在2018年成功推出了7700高性能双腔单四极杆气质联用仪，2021年，推出了首款气相色谱串联三重四极杆质谱仪，并在2022年完成了国产液质三重四极杆产品Anyeep TQ9100的开发工作。　　此次安益谱推出的高分辨傅里叶静电阱质谱Cassitrap 120K融合了四极杆和傅里叶静电阱的优势。具有越小质量越高分辨、单谱较高动态范围、高质量精度、更高效的全谱等特点，其精确定性定量模式可以实现更高的分辨率、更准确的定量和更快的速度，并且在二硫化碳同位素结构的研究以及对18种多氯联苯的测定等应用上表现优秀。　　安益谱总经理张小华介绍，“Cassitrap120K配备了用户友好的操作界面和强大的数据处理软件，提供更便捷、高效的分析体验，能够胜任各种复杂分析任务，轻松获得信息丰富的数据和结果。无论是在科学研究、环境监测、食品安全，还是在石油化工等工业生产领域，都可以确保在化合物鉴别、定量和非靶向分析中获得极高的可靠性。”　　中国仪器仪表学会分析仪器分会理事长、中国计量科学研究院院长方向表示，致力于高端质谱的研发，一直是全体质谱人共同的梦想。Cassitrap 120K傅里叶变换静电阱高分辨气质联用仪的发布，不仅标志着我们在超高分辨率质谱领域取得了重大突破，更是中国高质量质谱技术迅猛发展的起点。期待这台仪器成为中国人的好质谱，成为人人能用得起的好质谱，期待中国质谱技术能够迅速占领市场，引领行业潮流。

对于一般人而言，玻璃常被误认为是一种透明固体。而严格地说，玻璃其实是一种被称为“非晶态过冷液体”的物质，表面与固体相似，内部结构又与液体相似，是介于固体与液体之间的一种具有独立形态的物质。但对于其形成过程却没有几个人能做出解释。据美国生活科学网3月31日报道，美国物理学家的一个研究项目或许能解开这让人困惑不已的“玻璃之谜”。 　　负责该项研究的美国华盛顿大学圣路易斯分校物理学家肯尼斯凯尔顿称，他们正在建造一个被称为“中子静电悬浮室(NESL)”的实验装置。该装置将使一滴液态金属悬浮在真空中，从而对其在由液态冷却为玻璃的过程中的内部原子活动进行观察。研究人员称，该设备有望在原子层面对玻璃的独特属性做出解释，同时也将会让人们对液体到玻璃的转化过程产生更好的理解。 　　凯尔顿表示，所有的液体都可以转化为玻璃，区别仅存在于转化的难易程度上。早在4000多年前，美索不达米亚地区的人们就开始使用玻璃，但直到现在为止，人们却仍然不理解液体转化为玻璃的具体过程。 　　该实验计划用钛、锆、镍、铂以及合金为研究对象。如果冷却得足够快，这些金属就能形成玻璃而非固体。但其前提是，整个过程中液态金属滴必须悬浮在真空当中，不能与任何物体接触。 　　NESL将通过电极在金属液滴表面加载电荷，之后用电磁场使其保持在一个稳定的悬浮状态。橡树岭国家实验室另一台被称为“散变中子源”的仪器将产生中子束，“照射”悬浮金属液滴。研究人员计划用这种方法使中子起到“光线”的作用，从而能够形成一个中子显微镜，来观察整个过程中悬浮液滴中原子的变化。 　　据了解，这座造价为165万美元的中子静电悬浮室将建造在美国田纳西州橡树岭国家实验室，预计在3年内完成制造并投入使用。

纺织加湿器，纺织厂空气加湿除静电少不了【新闻导读】现如今，环境因素对纺织品的生产工艺和品质的重要性逐渐被越来越多的纺织厂所重视；湿度过低所导致的静电作用增强，断头率高以及飞花毛羽增多等无疑是很多纺织厂都存在的一些问题，势必会给企业带来不小的经济损失；而且长期处于低湿干燥的环境下，对工作人员身体健康也是非常不利的！ 在纺织厂的生产中，湿度的变化直接影响纺织加工工艺和纺织品质量；因环境湿度过低而产生的静电干扰，断头率上升以及飞花毛雨增多等一系列问题一直都是纺织厂所面临的难题；因此，任何一个纺织厂要改善纺织生产环境，提高纺织品品质就必须要考虑并采取有效的加湿措施，来确保达到最适宜的湿度环境！那么，纺织厂该如何进行空气加湿呢？ 在以前，有的纺织厂采用过往地面、机台下面洒水或用湿拖把拖地的土办法，虽然生产会好做些，但湿度不够稳定和均匀，无法真正满足纺织工艺的湿度要求（40-60%RH之间）；还有的则采用空调加湿，虽可满足工艺要求，但电耗，成本都是十分惊人的。为此，正岛电器在这里向大家介绍一款最为适合纺织厂加湿的正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备，希望对大家有所帮助！ 正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备产品对纺织厂的生产有着很大的促进作用： 1、减少纬缩，布面平整，减少瑕疵点； 2、纱线纤维不脆弱、不易被打断、减少短绒，减少飞花； 3、消除纺织车间静电、棉网不易破裂，皮圈、皮辊易剥离； 4、棉条不发毛，棉网破边少，不易绕皮辊，粗纱不松散，断头少； 5、纱线强力增加，卷绕紧，纱线不发毛，易成形，筒经断头减少，张力均匀。正岛ZS系列超声波工业用加湿器生产厂家：正岛电器，产品优势区别与对比，谨防假冒！备注目前市场部分加湿器厂家仿冒正岛加湿器ZS系列型号低配置低价格在销售请客户区别以下：品 牌电 源风 机外 壳正 岛变频电源 防水等级IP68(低能耗、低故障)特制防水风机全不锈钢外壳及内胆仿冒变压器(高耗能、高故障高、维修频率高)普通风机(易烧毁)普通钣金(易锈)正岛电器郑重承诺：整机保修一年，完善售后服务体系；以质量第一，诚信至上为企业宗旨。 欢迎您来电咨询纺织加湿器，纺织厂空气加湿除静电少不了的详细信息！工业用加湿器种类有很多,不同品牌工业用加湿器价格及应用范围也会有所不同,而我们将会为您提供全方位的售后服务和优质的解决方案。 正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备控制方式，技术参数： 控制方式加湿量 1.8kg/h加湿量 3kg/h加湿量 6kg/h加湿量 9kg/h加湿量 12kg/h加湿量 18kg/h开关控制ZS-06ZS-10ZS-20ZS-30ZS-40ZS-F60时序控制ZS-06SZS-10SZS-20SZS-30SZS-40SZS-F60S湿度控制ZS-06ZZS-10ZZS-20ZZS-30ZZS-40ZZS-F60Z出雾方式单管单管单管双管双管三管消耗功率180W300W600W900W1200W1500W净重15kg18kg22kg30kg38kg55kg 正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备产品六大核心配置优势： 优势一：【全不锈钢箱体】 优势二：【集成式雾化器】 优势三：【IP68级防水电源】 优势四：【轴承式防水风机】 优势五：【耐碱酸陶瓷雾化片】 优势六：【高精度湿度传感器】 本站新闻记者核心提示：室内环境空气湿度过低或者说太干燥了，对于纺织厂车间的正常生产,以及纺织品的品质等各个方面都是非常不利的！在低湿干燥的环境中进行纺织作业，极易受到静电的干扰，还有车间内飘舞的飞花也会越来越多；而且过于干燥的空气使纱线里的水分快速被蒸发，使纱线变得易绕辊、起毛、粘连、断头；导致纺纱难度增加、废品增多、产品质量相应降低； 从上面的详细内容中可以看出，为了避免纺织厂出现以上种种问题的产生，使用正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备来增加空气湿度，并使之保持一个最为适宜的，稳定的湿度环境是必不可少。 因此，正岛ZS-40Z纺织加湿器及ZS系列纺织厂空气加湿除静电设备已经成为纺织厂车间空气加湿，预防和消除静电，以及纱线增湿回潮的得力"助手"；有效的确保了纺织厂的生产安全，产品品质的稳定，同时为工作人员的身体健康保驾护航。以上关于纺织加湿器，纺织厂空气加湿除静电少不了的最新相关新闻报道是正岛电器为大家提供的！

工厂静电危害不可小觑，运用工业加湿机应对有方【新闻导读】在工业生产中，静电危害不可小觑；静电所过之处对车间内一些精密机械设备的正常运行，产品的品质以及工人的身体健康等各个方面都是极为不利的；在每年的秋冬季节，不管是北方地区，还是南方地区的相对 湿度都会相对较低，如果碰上天气异常干燥的时候，很多工厂企业的生产车间环境的空气也是非常干燥容易产生静电的，这对车间的正常生产和产品的品质造成的影响是很大的，常常让车间生产人员不知所措； 因此，工业生产中的静电问题必须得以彻底解决是至关重要的！那么，该如何解决生产车间的静电问题呢？要想解决静电问题其实也不是一件难事，首先要了解静电产生的原因；大家都应该知道这样一个常识，在湿度越低，空气越干燥的环境中是最容易产生静电的；一般情况下，当环境湿度低40%RH时就很容易产生静电！ 而如果将湿度提高至50-60%RH之间，那么在这样的环境中不仅静电消失了，粉尘也减少了，空气质量也得到了改善！因此，工厂解决车间生产环境的静电之法--根据现场工况配置相应的正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿机就可以帮你轻松搞定，从而确保车间生产顺利进行，产品品质也因此有很大的提升。 现如今，全国各地已经有很多工厂企业都选择了使用正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿机来进行合理的加湿，使工业生产环境湿度满足加工工艺的要求，从根本上预防和消除静电问题所造成的影响和危害；这样一来，就算是在寒冷干燥的冬天，你的工厂或企业再也不用担心静电会来捣乱了。 正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿机产品，对于其他加湿方式的加湿器而言，具有【雾化颗粒细】 、【使用能耗低】 、【雾化能效高】，【加湿速度快】的显著优势；具有空气加湿、净化、防静电、降温、降尘等多种用途；既可以较大空间进行均匀加湿，也可对特殊空间进行局部湿度补偿，具有较高的使用灵活性。 电话：0571- 8673 1596 139 5811 5553 正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿机控制方式，技术参数： 欢迎您来电咨询工厂静电危害不可小觑，运用工业加湿机应对有方的详细信息！工业用加湿器种类有很多,不同品牌工业用加湿器价格及应用范围也会有所不同,而我们将会为您提供全方位的售后服务和优质的解决方案。 查看更多工厂静电危害不可小觑，运用工业加湿机应对有方的详细信息尽在：正岛电器 核心提示：静电现象虽然看不到摸不着，在很多时候也不容易被我们所察觉，但不管是在日常生活，工作中，还是工业生产中，一旦产生静电现象往往都会给我们带来许多不利的影响和意想不到的损害，对此很多人应该都有切身体会吧！特别是在天气干燥的时候，静电现象相对来说就比较频繁，对工业生产的影响和危害也就越大； 这也是在天气干燥的秋冬季节，很多工厂企业在工业生产中容易产生静电的原因所在。因此，从环境湿度方面入手可以有效的解决静电的问题；最简捷有效的方法无疑就是通过使用正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿机来对湿度进行合理的调节，使环境湿度保持在40-60%RH之间这一最适宜的范围之内，即可从根本上预防和消除静电隐患！以上关于工厂静电危害不可小觑，运用工业加湿机应对有方的全部新闻资讯是正岛电器为大家提供的，希望对大家有所帮助！

静电问题何以解忧，唯有工业加湿器可防治【新闻导读】在每年的秋冬季节，不管是北方地区，还是南方地区的相对 湿度都会相对较低，如果碰上天气异常干燥的时候，很多工厂企业的生产车间环境的空气也是非常干燥容易产生静电的，这对车间的正常生产和产品的品质造成的影响是很大的，常常让车间生产人员不知所措； 静电现象虽然看不到摸不着，在很多时候也不容易被我们所察觉，但不管是在日常生活，工作中，还是工业生产中，一旦产生静电现象往往都会给我们带来许多不利的影响和意想不到的损害，对此很多人应该都有切身体会吧！特别是在天气干燥的时候，静电现象相对来说就比较频繁，对工业生产的影响和危害也就越大； 那么，该如何解决生产车间的静电问题呢？上面的内容已经详细为你详细介绍了解决之法--根据现场工况配置相应的正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿器就可以帮你轻松搞定，从而确保车间生产顺利进行，产品品质也因此有很大的提升。 现如今，全国各地已经有很多工厂企业都选择了使用正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿器来进行合理的加湿，使工业生产环境湿度满足加工工艺的要求，从根本上预防和消除静电问题所造成的影响和危害；这样一来，就算是在寒冷干燥的冬天，你的工厂或企业再也不用担心静电会来捣乱了。 正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿器产品，对于其他加湿方式的加湿器而言，具有【雾化颗粒细】 、【使用能耗低】 、【雾化能效高】，【加湿速度快】的显著优势；具有空气加湿、净化、防静电、降温、降尘等多种用途；既可以较大空间进行均匀加湿，也可对特殊空间进行局部湿度补偿，具有较高的使用灵活性。 电话：0571- 8673 1596 139 5811 5553 正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿器控制方式，技术参数： 欢迎您来电咨询静电问题何以解忧，唯有工业加湿器可防治的详细信息！工业用加湿器种类有很多,不同品牌工业用加湿器价格及应用范围也会有所不同,而我们将会为您提供全方位的售后服务和优质的解决方案。 查看更多静电问题何以解忧，唯有工业加湿器可防治的详细信息尽在：正岛电器 核心提示：静电所过之处，对机器设备的正常运行，产品的品质以及工人的身体健康等都是不利的；因此，工业生产中的静电问题必须得以彻底解决是至关重要的！要想解决静电问题其实也不是一件难事，首先要了解静电产生的原因；大家都应该知道这样一个常识，在湿度越低，空气越干燥的环境中是最容易产生静电的；一般情况下，当环境湿度低40%RH时就很容易产生静电！ 这也是在天气干燥的秋冬季节，很多工厂企业在工业生产中容易产生静电的原因所在。因此，从环境湿度方面入手可以有效的解决静电的问题；最简捷有效的方法无疑就是通过使用正岛ZS-40Z及ZS系列超声波工业加湿器来对湿度进行合理的调节，使环境湿度保持在40-60%RH之间这一最适宜的范围之内，即可从根本上预防和消除静电隐患！以上关于静电问题何以解忧，唯有工业加湿器可防治的全部新闻资讯是正岛电器为大家提供的！

大家好，奥豪斯小讲堂开课啦！我是又帅又酷的讲师小奥今天我要和大家分享奥豪斯今年新上市的重磅产品PX系列电子天平的日常操作 第一课 静电消除篇秋天到了，天气越来越干燥实验室里做称量实验自己先成了导电体手和金属勺子上都带静电影响称量精准度 别怕，PX系列电子天平的独家专利ESR红色接地静电消除条让你一个动作3秒消除人体静电和金属静电快来看看到底是怎么回事儿吧https://v.qq.com/x/page/d07117wjcw9.html?温馨提示：时长53秒，请在WiFi下观看。- 分 步 讲 解 -Step1做称量实验，样品匙也会带静电 Step2累积的静电量超过100伏 Step3静电产生的吸引力和排斥力会对精密称量造成几毫克的误差影响称量结果 Step4静电消除条由ABS永久防静电原料制成提供了便捷的接地方式 Step5样品勺接触静电消除条3秒后即可去除静电 Step6称量一下样品匙的静电已经去除了 Step7现在可以轻松取样啦 PX天平除静电的方法是不是很酷呢？ 本期“奥豪斯小讲堂”结束啦！我们下期再见！（不要太想小奥哦！）如果您想了解奥豪斯PX系列天平的详情，请联系我们或者进入「奥豪斯展台」，留下您的信息， 我们的专业工程师将竭诚为您服务！

空气湿度多少会产生静电？车间太干燥就得用加湿器【新闻导读】成也湿度，败也湿度 对于电子、印刷、纺织等行业的很多工厂或企业来说是非常贴切，湿度在这些工厂或企业的车间生产时扮演着非常重的角色，几乎每个工序都与湿度有密不可分的关系。电子产品、印刷产品、纺织产品的加工工艺对生产环境的湿度有着严格的要求，当车间内的空气湿度过低的时候，就容易发生静电问题，特别在进入秋冬季季以后，都会经常感觉空气干燥。　　空气湿度多少会有静电?一般情况下，当环境空气的相对湿度低于30%RH时，有利于磨擦产生静电，稍不留意就会被“电”到。而如果将室内环境空气的相对湿度达到40%RH以上，就不易产生静电了。也就是说，相对湿度越低，也就越容易产生静电。因此，在电子厂、印刷厂、纺织厂等工厂或企业的生产车间中，普遍要求的相对湿度范围是40%~70%RH，这个区间是全国各地的总范围。　　车间太干燥了怎么加湿?其实，很多工厂或企业的车间都会有很干燥的时候，为了提高工人的工作效率和产品的质量,会严格要求车间空气的相对湿度,虽然有的人采用向地面洒水或喷水、湿拖把拖地等方式增加湿度 但是,效果并不理想!为此，现在较多的还是使用工业加湿器来进行喷雾加湿,效果好,可远程控制,还节能人力,适用性广泛,在各个厂房车间都有使用,尤其是电子、印刷、纺织等车间加湿防静电多选择安装工业加湿器，但是，并不是一年四季都需要开的，至于什么时候开，车间湿度在多少的时候开，要看是什么车间，以及工艺要求等各个方面!　　在电子厂、印刷厂、纺织厂等工厂或企业的生产车间中除了静电问题还有严重的粉尘，容易出现呼吸道疾病，这也从另一面说明安装工业加湿器的重要性，而正岛ZS-40Z车间干燥用加湿器及ZS系列超声波工业加湿器喷出的水雾会吸附空气中的灰尘，并在重力的作用下下沉，达到除尘的作用。　　相对于其他加湿方式的工业加湿器而言，正岛ZS-40Z车间干燥用加湿器及ZS系列超声波工业加湿器具有【雾化颗粒细】 、【使用能耗低】 、【雾化能效高】，【加湿速度快】的显著优势。具有空气加湿、净化、防静电和粉尘、降温、降尘等多种用途 既可以较大空间进行均匀加湿，也可对特殊空间进行局部湿度补偿，具有较高的使用灵活性。欢迎您查询空气湿度多少会产生静电？车间太干燥就得用加湿器的详细信息!　　正岛ZS-40Z车间干燥用加湿器及ZS系列超声波工业加湿器控制方式，技术参数：　　产品型号--------------加湿量--功率(220V)-----主机尺寸---------出雾口　　ZS-10/ZS-10Z--------3KG/H----200(W)---530×250×400(mm)--◎1×110mm　　ZS-20/ZS-20Z--------6KG/H----400(W)---530×250×400(mm)--◎1×110mm　　ZS-30/ZS-30Z--------9KG/H----600(W)---630×320×480(mm)--◎1×110mm　　ZS-40/ZS-40Z--------12KG/H---700(W)---630×320×480(mm)--◎1×110mm　　ZS-60/ZS-60Z--------18KG/H---1050(W)--630×320×480(mm)--◎2×110mm　　ZS-80/ZS-80Z--------24KG/H---1200(W)--630×320×480(mm)--◎2×110mm　　ZS-100/ZS-100Z------30KG/H---1400(W)--630×320×480(mm)--◎3×110mm　　ZS-F3600/ZS-F3600Z--36KG/H---1550(W)--710×400×360(mm)--◎3×110mm　　ZS-F4200/ZS-F4200Z--42KG/H---1750(W)--710×400×360(mm)--◎4×110mm　　ZS-F4800/ZS-F4800Z--48KG/H---2100(W)--710×400×360(mm)--◎4×110mm　　◎计算公式：H=体积*p*温度系数*(X2-X1)/1000*换气次数*损耗系数 公式说明：H-所需加湿量(kg/h)、p-空气密度(kg/m3)=1.2、V-体积(加湿场所面积*高度)、1000-g换算为Kg、损耗系数-1.2(包括人员，环境的密闭效果和材料等因素)、换气次数-通常为2-3次、温度数系-1.2(冬天往上加，夏天就按照1.2或往下减)、X2- X1-每立方米空气的水分重量即绝-对湿度(X2为加湿后，X1为加湿前) 　　◎选型参考：加湿器选型需要考虑的因素较多，比如室内空间体积大小、环境温度、设备发热量、通风情况、空调排风都会影响室内环境的湿度以及加湿效果，在计算加湿量时一般需留出一定余量，也就是相应的加大加湿量，而且要从低湿度状态增湿到理想湿度范围来综合计算该空间内所需的加湿量和相对应的加湿器型号。查看更多空气湿度多少会产生静电？车间太干燥就得用加湿器的详细信息尽在：杭 州 正 岛 电 器 设 备 有 限 公 司　　综上所述：不管是电子车间，还是其他的印刷车间、纺织车间等工厂或企业的车间，对其进行加湿、降温、除尘、除静电时都会用到工业加湿器，在湿度过低时开启设备，能很好的解决湿度低引起的各种问题。正岛ZS-40Z车间干燥用加湿器及ZS系列超声波工业加湿器可自行加湿恒湿，简单方便，性价比高。　　正岛电器会根据不同车间的面积大小、初始湿度、灰尘浓度等综合考虑制定方案，满足包括印刷、纺织、电子、冶金以及料棚、蔬菜大棚、注塑等行业厂房车间的加湿、降温、除尘、除静电。可以为您提供一对一量身定制的空气加湿、预防静电以及除尘降温解决方案!以上关于空气湿度多少会产生静电？车间太干燥就得用加湿器的全部新闻资讯报道是正 岛 电 器提供的，仅供大家参考!

根据标准ISO 16890-4中的测试要求，被测滤料或过滤器应经过IPA处理。为进一步评价被测过滤材料或过滤器的性能，满足标准的测试要求，德国TOPAS设计并研发出TDC-585，尤其适合小型滤料或过滤器的处理。设备基于TDC-584的基础上研发而成，TDC-584可对大型过滤器进行IPA静电消除处理。这样也能消除试验过程中的安全隐患，此外，TDC-585需置于ATEX通风柜下。二、仪器应用l 满足ISO 16890-4测试要求：l 对小型滤材或过滤器进行IPA静电消除处理：l 操作简便、具有可视观察窗l 可重复调整液位和排空l 无需电源和压缩空气三、仪器规格参数l 仓内容积：480*240*45mml 处理溶液：IPAl 设备大小和重量：550*282*270mm 8kg 创新点：1.满足最新的国际通用标准ISO 16890中的测试要求，对小型过滤器或滤材做IPA静电消除处理，满足测试要求； 2.直接用气态IPA对滤材或过滤器进行处理，无需浸入液体IPA； 3.设备使用便捷，具有可视化窗口，方便观察 TDC 585小型静电消除仓ISO16890

近日，国家纳米科学中心蒋兴宇课题组在纳米技术与重大疾病早期诊断方面取得新进展，相关结果发表在最新出版的《先进材料》杂志上。 　　早期准确快速的诊断是发现并控制重大传染性疾病(艾滋病、禽流感、乙型肝炎等)的必要条件。预防人类免疫缺陷病毒(HIV)目前仍然没有有效的疫苗，抗病毒治疗也不能有效的将病毒从体内清除，并且现有的HIV确认试剂盒诊断所需的时间较长，价格昂贵。因此，开发有效的、高灵敏度快速准确地诊断HIV感染者的检测方法，可以有效防止病毒的继续传播。 　　现在对于HIV的检测其技术原理主要是基于蛋白质(抗原或抗体)之间的相互作用。微流控芯片技术具有制备简单、试剂用量少、操作方便等优点，因此在生化分析中的应用越来越受到重视。 　　蒋兴宇和其博士生仰大勇与中国疾病控制中心性病艾滋病中心的马丽英、邵一鸣合作，采用静电纺丝技术制备纳米纤维薄膜，应用于微流控芯片，检测HIV。与商业薄膜相比，静电纺丝纳米纤维薄膜具有更大的比表面积，对于被检测物的吸附提高了一个数量级，从而使得检测的灵敏度有很大提高，在一个小时内就能完成检测工作，使用的试剂为常规用量的几十分之一。 　　这是一项将纳米技术应用于疾病诊断领域的成功例子，该工作开辟了静电纺丝应用的一个新领域，同时这种结合微流控技术和静电纺丝的新芯片系统具有廉价、操作方便、便携、灵敏度高的特点，将推动重大流行疾病早期诊断的研究和产品开发。 　　上述工作得到了科技部、国家自然科学基金和中科院的支持。

高压漏电起痕试验机的测试原理是什么？实验原理：漏电起痕试验是在固体绝缘材料表面上，在规定尺寸（2mm×5mm） 的铂电极之间，-施加某一电压并定时（30s）定高度（35mm）滴下规定液滴体积的导电液体（0.1%NH 4CL），用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能，测定其相比电痕化指数（CT1） 和耐电痕化指数（PT1） 。主要配件 序号型号产地1箱体(可选不锈钢箱体)宝钢A3钢板,喷塑2变压器浙江二变3调压器正泰4继电器及底座正泰5漏电保护器正泰6按钮正泰7计时器欧姆龙8短路电流智能表上海9温控器日本欧姆龙10导线上海启帆11计数器欧姆龙12无线控制器上海埃微自主研发13电磁阀亚德克在操作过程中要注意的事项：1、在操作过程中，人员应该注意个人防护，避免漏电受伤或被溶液沾染到口、眼部位造成伤害2、输入电源AC220±2%。3、排气管应通出窗外。4、在对样品进行时,请勿打开仓门,待试验完之后或当实验失效产生火烟时，先打开风扇排除烟雾后，再打开仓门进行作业。5、实验前须确认设备是否在计量有效期内，如超期则不能进行实验6、电源应用有地线的三极插座，保证接地可靠。主要技术指标：1） 空气环境：0~40°C；2） 相对湿度：≤80%；3） 无明显振动及腐蚀性气体的场所；4） 工作电压：AC220V±2% 50HZ±1%，1KVA；5） 试验电压：100~600V连续可调数显，电压表显示值误差：1.5%，显示值为:r.m.s；6） 延时电路：试验回路在（0.5±10%）A（r.m.s）或更大电流时延时（2±10%）S后动作；电极：a: 5㎜×2㎜矩形铂金电极和黄铜电极各一对；b: 电极尺寸要求：（5±0.1）㎜×（2±0.1）㎜×（≥12）㎜,其中一端凿尖角度为（30±2）°（即试验端呈30°±2°斜角）,凿尖平面宽度为0.01㎜~0.1㎜；c: 电极间所成角度为60°±5°,间距为（4±0.1㎜）；d: 对样品压力为:1.00N±0.05N；7） 滴液系统：a: （30±5）秒（开启滴液时间28S+开启滴液持续时间2S）自动计数、数显（可预置），50滴时间：（24.5±2）min b: 滴液针嘴到样品表面高度:35㎜±5㎜（附一个量规作测量参考） c: 滴液重量:20滴:0.380g~0.489g 50滴:0.997g~1.147g 8） 短路电流：两电极短路时的电流可调至（1±0.1）A,数显±1%,电流表显示值为有效值（r.m.s） 9） 仪器外形尺寸（宽*高*深）1100*1150*550㎜（0.5立方）；700*385*1000㎜（0.1立方）；10） 箱体由1.2厚的304不锈钢板制成，可订制0.75立方；11） 样品支撑平板：厚度≥4㎜的玻璃；12） 针嘴外径：A溶液：0.9㎜~1.2㎜B溶液: 0.9㎜~3.45㎜13） 滴液大小根据滴液系统而定；14） 风速：0.2M/S。产品特点：1、 本仪器支持5路试样同时进行试验，每路都有独立的控制系统进行控制2、 本仪器核心控制系统由西门子PLC控制，通过光电隔离方式进行采集电压和电流，有效解决抗干扰问题使数据采集保持稳定3、 本仪器显示部分是9寸触摸屏，操作方便，数据显示直观，能够实时显示每个试样的泄露电流4、 可以自由设定泄露电流数值，当实验中的电流超过设定电流值时，能够提示报警，并切断高压电源，并不影响其它试样继续做试验5、 滴液流量大小可根据实际需求自由设定6、 通过手动旋钮顺时针调到指定试验电压。7、 可以手动自由设定试验时间8、 本仪器具有排风和照明功能漏电起痕试验仪是IEC60112 ： 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》是按GB4207、IEC60112等标准要求设计制造的专用检测仪器，适用于对电工电子产品、家用电器的固体绝缘材料及其产品模拟在潮湿条件下相比漏电起痕指数和耐漏电起痕指数的测定，具有简便、准确、可靠、实用等特点。满足标准：GB/T6553-2003 及 IEC60587：1984《评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐电痕化和蚀损的试验方法》GB_T3048.7-2007电线电缆电性能试验方法_第07部分：耐电痕试验漏电起痕试验仪是IEC60112 ： 2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》

浅谈仪器仪表雷电防护的必要性 静电放电（ESD）和电快速瞬变脉冲群（EFT）X寸仪器仪表系统会产生不同程度的危害。静电放电在5 ~20tMHz的频率范围内产生强烈的射频辐射。 此辐射能量的峰值经常出现在35~45MHz之间发生自激振荡。许多信息传输电缆的谐振频率也通常在这个频率范围内，结果电缆中便串入了大量的静电放电辐射能量。电快速瞬变脉冲群也产生相当强的辐射发射，从而耦合到电缆和机壳线路。当电缆暴露在4 ~8kV静电放电环境中时，信息传输电缆终端负载上可以测量到的感应电压可达到600V这个电压远远超出了典型数字仪器仪表的门限电压值0~4V典型的感应脉冲持续时间大约为400ns仪器仪表在使用中经常会遇到意外的电压瞬变和浪涌，从而导致电子设备的损坏，损坏的原因是仪器仪表中的半导体器件（包括二极管、晶体管、可控硅和集成电路等）皮烧毁或击穿。据统计仪器仪表的故障有75%是由于瞬变和浪涌造成的。电压的瞬变和浪涌无处不在，电网、雷击、爆破，就连人在地毯上行走都会产生上万伏的静电感应电压，这些，都是仪器仪表的隐形致命杀手。因此，为了提高仪器仪表的可靠性和人体自身的安全性，必须对电压瞬变和浪涌采取防护措施。 防雷端口根据仪器仪表应用的工程实践，仪器仪表受雷击可大致分为直击雷、感应雷和传导雷。但不论以哪一种形式到达设备都可归纳为从以下4个部位侵入的雷电浪涌，在此把这些部位称为防雷端口，并以仪器仪表举例说明。 外壳端口比如说，我们可以把任何一个大的或小的仪器仪表或系统视为一个整体的外壳，如传感器、传输线、信号中断、现场仪表、DCS系统等，它们都有可能完全暴露在环境中受到直接雷击，造成设备损坏。 标准规定，当设备外壳受到4kV的雷电静电放电时，都会影响仪器仪表或系统的正常运行。例如放置于室外的传感器端子箱有可能受到雷电接触放电；位于机房内的DCS机柜有可能受到大楼立柱泄流时的空气放电。 信号线端口含天馈线、数据线、控制线等。 在控制系统中，为了实现信号或信息的传递总要有与外界连接的部位，如过程控制系统的信号交接端的总配线架、数据传输网的终端、微波设备到天线的馈线口等等，那么这些从外界接收信号或发射信号出去的接口都有可能受到雷电浪涌冲击。因为从楼外信号端口进来的浪涌往往通过长电缆，所以采用10/7（0Fs波形，标准规定线到线间浪涌电压为05kV，线到地间浪涌电压为1kV.而楼内仪器仪表之间传递信号的端口受到浪涌冲击相当于电源线上的浪涌冲击，采用1.2/50（8/20）Ms组合波，线到线、线到地浪涌电压限值不变。一旦超过限值，信号端口和端口后的设备有可能遭受损坏。 电源端口电源端口是分布最广泛也最容易感应或传导雷电浪的部位，从配电箱到电源插座这些电源端口可以处在任何位置。标准规定在L 2/50（8/20）Ms波形下线与线之间浪涌电压限值为Q 5kV线到地浪涌电压限制为1kV但这里的浪涌电压是指明工作电压为220V交流进入的，如果工作电压较低则不能以此为标准，电源线上受较小的浪涌冲击不一定立即损坏设备，但至少寿命有影响。 接地端口尽管在标准中没有专门提到接地端口的指标，实际上信息技术设备地端口是非常重要的。在雷电发生时接地端口有可能受到地电位反击、地电位升格地满□高影响，或者由于接地不良、接地不当使地阻过大达不到电位要求使设备损坏。接地端口不仅对接地电阻接地线极（长度、直径、材料）、接地方式、地网的设置等有要求，而且还与设备的电特性、工作频段、工作环境等有直接的关系。同时从接地端还有可能反击到直流电源端口损坏直流工作电压的设备。综上所述，信息技术设备的防雷可以考虑从四个关键的端口入手，如所示。 仪器仪表防雷的四个关键的端口，仪器仪表的端口保护外壳端口仪器仪表的外壳端口保护不仅仅是建筑物外壳，也应当包括某个设备的外壳或者某套系统的外壳，比如说机柜、计算机室等。按照EC 1312-1雷电电磁脉冲的防护第一部分（一般原则）的适用范围为：建筑物内或建筑物顶部仪器仪表系统有效的雷电防护系统的设计、安装、检查、维护。其保护方法主要有三种：接地、屏蔽及等电位连接。 接地EC1024-1已经阐述了建筑物防雷接地的方法，主要通过建筑物地下网状接地系统达到要求。仪器仪表系统防雷时还要求对相邻两建筑物之间通过的电力线，通信电缆均必须与建筑物接地系统连接起来（不能形成回路）以利用多条并行路径减少电缆中的电流。 仪器仪表系统的接地更应当注意系统的安全性和防止其它系统干扰。一般来说工作状态下仪器仪表系统接地不能直接和防雷地线相连，否则将有杂散电流进入仪器仪表系统引起信号干扰。正确的连接方式应当在地下将两个不同地网，通过放电器低压避雷器连接，使其在雷击状态下自动连通。 屏蔽从理论上考虑，屏蔽对仪器仪表外壳防雷是非常有效的。但从经济合理角度来看，还是应当从设备元器件抗扰度及对屏蔽效能的要求来选择不同的屏蔽方法。线路屏蔽，即在仪器仪表系统中采用屏蔽电缆已被广泛应用。但对于设备或系统的屏蔽需要视具体情况而定。EC提出了采用建筑物钢筋连到金属框架的措施举例。 表系统的主要电磁干扰源是由一次闪击时的几个雷击的瞬时电流造成的瞬态磁场。如果包含仪器仪表系统的建筑物或房间，用大空间屏蔽，通常在这样的措施下瞬时电场被减少到一个足够低的值。 等电位接连等电位连接的目的是减小仪器仪表之间和仪器仪表与金属部件之间的电位差。在防雷区的界面处的等电位连接要考虑建筑物内的仪器仪表系统，在那些对雷电电磁脉冲效应要求最小的地方，等电位连接带最好采用金属板，并多次与建筑物的钢筋连接或连接在其它屏蔽物的构件上。对于仪器仪表系统的外露导电物应建立等位连接网，原则上一个电位连接网不需要直接连在大地，但实际上所有等电位连接网都有通大地的连接。 信号线端口信号线端口保护现在已经有许多类型的较为成熟的保护器件，比如仪器仪表信号网络不同接口保护器、天馈线保护器、终端设备的保安单元等。在保护器选择时除了保护器本身的性能外，应该注意保护设备的传输速率、插入衰耗限值、驻波比、工作电压、工作电流等相关指标，如果在同一系统（或网络）使用多级保护还应该考虑相互配合问题。值得提出的是，当前由于商业因素，在同一网络中有过多使用保护器的倾向，其反而带来降低速率、增大衰耗、传输失真、信息丢失等问题。因此对某一网络的信号端口保护应在网络信号进出的交界面处安装合适的保护器即可。 在信号端口窜入的瞬态电流最容易损坏信号交换或转换单元及过程控制计算机，如主板、并行口、信号接口卡等。事实上瞬态电流或浪涌可能通过不同途径被引入到信号传输网络中，EEE 802-3以太网标准中列出了四种可能对网络造成威胁的情况。（1）局域网络元件和供电回路或受电影响的电路发生直接接触。（2）局域网电缆和元件上的静电效果。（3）高能量瞬态电流同局域网络系统耦合曲网络电缆附近的电缆引入）（4）彼此相连的网络元件的地线电压间有细小差别（例如两幢不同建筑的安全地线电压就有可能略有不同）。 以数据通信线为例，在R-232的串、并行口的标准中，用于泄放高能浪涌和故障电流的地线同数据信号的返回路径共享一条线路，而小至几十伏的瞬态电压都有可能通过这些串、并行口而毁坏计算机及打印机等设备，信号传输线也能直接将户外电源线上的瞬态浪涌传导进来，而信号接口能够传导由闪电和静电泄漏引起的浪涌电压。 用户应当对数据线保护器慎重选择有些保护器虽然起到了“分流”作用，但常常是将硅雪崩二极管（SAD）接在被保护线路和保护器外壳之间，测试表明SAD的钳位性能很好，但它电涌分流能力有限。同时压敏电阻（MOV池不能在数据线保护器上使用。先进的过程控制系统的信号接口防雷保护装置无论是R-232串等通信接口还是计算机同轴网络适配器接口）目前均采用瞬态过电压半导体放电管，其冲击残压参数指标很重要。有条件能够采取多级保护设计电路效果更佳。 天馈线保护器基本采用波导分流原理，其中发射功率400W，额定测试放电电流（8/20s）5kA传输频率25GH插入损耗08响应时间100ns 23电源端口原则上采用多级SPD做电源保护，但信息系统的电源保护由于其敏感性必须采用较低的残压值的保护器件，且此残压应当低于需要保护设备的耐压能力。同时还必须考虑到电磁干扰对仪器仪表系统的影响，因此带过滤波的分流设计应当更加理想。 所以对于仪器仪表系统电源保护特别注意的两点是：前两级采用通流容量大的保护器，在仪器仪表终端处则采用残压较低的保护器。最后一级的保护器中最好有滤波电路。对仪器仪表系统电源端口安装SPD时应注意以下问题。 多级SPD应当考虑能量配合、时间配合、距离配合。如果配合不当的话，效果将适得其反。 （2）连接防雷保护器的引线应当尽量粗和短。 （3）全保护时尽可能将所有连接线捆扎在一起。内容来自看仪器网

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" text-indent: 2em " 【作者按】 /span /strong span style=" text-indent: 2em " 扫描电镜测试条件的选择主要包括以下四个方面：加速电压、束流与工作距离、探头。前两个主要影响样品信息的溢出，后两者影响着信息的接收。测试条件选择的是否合适，决定了您能获得怎样的测试结果。 /span br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 本人在第一篇32载经验谈《扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系》一文中，就加速电压与图像分辨力的辨证关系进行了深入的探讨。充分分析了改变加速电压会给表面形貌像的分辨力带来怎样的变化；解答了为什么获取高分辨像，钨灯丝扫描电镜要选择较高的加速电压（10KV以上），而场发射扫描电镜需要选择较低的加速电压；阐述了场发射电镜为什么会比钨灯丝电镜有着更高的分辨能力。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 除了对图像分辨力的影响，加速电压的改变还会在样品的信息特性、荷电的产生及应对等方面对测试结果产生较大的影响。一直以来，许多专业人员对此，普遍存在一种单调的思维模式及处理方法，这将给最终的测试结果带来偏差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 这种认识上的偏差也存在于束流的选择上，对最终测试结果同样会形成很大的影响。错误的束流选择，你将无法获得完美的测试结果，还会给仪器的调整带来麻烦。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 本文将通过大量的实际测试事例，为大家充分展示，选择不同的加速电压及束流究竟能给测试结果带来怎样的影响。分析形成这种结果的原因，以及传统观念在加速电压和束流选择上存在怎样的认识偏离。为今后大家在进行扫描电镜测试时，合理的选择加速电压和束流提供一些参考。 /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px " strong 一、& nbsp 加速电压的选择 /strong /span & nbsp & nbsp /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压的选择除了对表面形貌像的细节分辨力存在极大影响，还在以下几个方面影响着测试结果：1. 获取的样品信息在样品中所处的位置，表层还是内层；2. 荷电场形成的位置及强度。而无论在那一方面，改变加速电压所带来的变化都充满了辨证法的规律。下面将以充分的事例来加以展示。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.1& nbsp 加速电压与图像分辨力的关系 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压与图像分辨力的辨证关系，前文有充分的探讨，在此将只做简单的描述。本节主要是以充分及清晰的事例来展示，改变加速电压将带来怎样的图像分辨力变化。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 提升加速电压对图像分辨力会产生两种相互对立的影响： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1. 从信息扩散来说，不利于获取高分辨形貌像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2. 对电子束发射亮度的提升，有利于高分辨图像的获取。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 这两方面的共同结果必然是存在一个最佳值或最佳范围。这个值与样品特性和其它测试条件的选择都有关联。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 实际测试中，应先对图像所显示的样品信息特征作出正确研判，然后再做出正确的调整来找到这个最佳值。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " br/ /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/fa2635bd-6b96-4bce-9171-265cc0bb3c82.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 想获取更好的介孔形态必须降低加速电压。改用小工作距离测试，可缩少电子束裙散和透镜球差形成的弥散并增加探头对信号的接收效果，使得对电子束发射亮度的要求降低。此时选择1KV加速电压即可获取更佳的图像效果。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/9d154d57-9819-4674-bf25-23c1d0da39ff.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 实例二、小工作距离、减速模式的加速电压选择（kit-6介孔） /strong /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " & nbsp img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/23ccfeb0-85bf-47d4-b1ee-9189f64bb660.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" / /p p style=" text-indent: 0em " br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2 加速电压与样品中的信息分布 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品中的信息分布：指样品信息所处位置，表层？内部？ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压的提升，电子束在样品表层激发的信息将减少，内部信息的激发会增多。选取不同加速电压对样品进行分析，有助于获取更全面、更充分的样品信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例一、二氧化钛与银的复合膜& nbsp /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 该样品是将二氧化钛与银颗粒分层蒸镀在玻璃表面，银颗粒起先分布在极表层。高温烧结后观察薄膜表面形貌的变化及银颗粒存在的位置。先采用XRD与XPS检测银含量的变化，均未检测到银的存在。扫描电镜检测的结果如下： /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/71cf90d7-a4fc-4797-bc79-d5f88a725f06.jpg" title=" 4.png" alt=" 4.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 上例我们可以看到，任何测试条件的选择都有其局限性，很难单独给出全面的样品信息。需要不停的改变测试条件，综合分析才能够获取更全面且充分的样品信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例二，含有钴颗粒的核壳结构碳球 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 内部为结构紧密的碳球，包裹一个球形的碳壳层，中间有钴纳米量子点存在。以下组图将给我们提供完整信息： /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/b149b0cd-9014-4a7f-b45d-0f5e58750392.jpg" title=" 5.png" alt=" 5.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 这组照片，合在一起才能提供样品的完整信息：一个核壳结构的碳球，内部是高密度球体，中间为絮状夹层，钴颗粒镶嵌于絮状夹层中，极表层较为平实。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/87b50fb1-9fcb-41ae-9720-81e2eb095201.jpg" title=" 6.png" alt=" 6.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例三、石墨烯的观察 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 单层石墨烯厚度仅不到一个纳米，个人观点：较难形成可被扫描电镜观察到的衬度。一般说，十来层左右的碳层被观察到的可能性更高，加速电压较低可观察到的碳层也较薄。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/652f21c2-13d1-45a3-ac00-f2be0b08c4c5.jpg" title=" 7.png" alt=" 7.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 对簿膜样品加速电压选择低一些，效果较好，但有个度。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.3改变加速电压对样品荷电场强度与位置的影响 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品的荷电现象：高能电子束轰击足够厚的样品，如有电子驻留在样品中漏电性较差的部位，将形成静电场影响该部位及附近电信号的正常溢出。出现异常亮、异常暗或磨平的现象，这就是样品的荷电现象，该静电场也称“荷电场”。（关于样品的荷电现象，后期将有专文加以深入探讨）。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 影响样品荷电场形成的因素有许多，加速电压正是其中最为重要的一个方面。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压对样品荷电场的影响主要表现在以下几点： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.加速电压的升高，发射亮度增加，使得注入样品的电子数增加，荷电场强度得以加强，将加重样品的荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.加速电压的升高，电子击入样品的深度增加，形成荷电场的位置下移，达一定值时，对样品电信号溢出的影响将会减弱直至消除。但SE2的增加，会影响表面细节的分辨。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.加速电压的升高，使得背散射电子能量增加，背散射电子能量越大，其溢出量受荷电场的影响也就越小。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例一、介孔材料KIT - 6不同加速电压下的荷电现象 & nbsp /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f1a4138c-34fa-47e0-9b73-51fa3f0e6e15.jpg" title=" 8.png" alt=" 8.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/e691f38e-c9b1-4ea9-9cd5-c67cf0df65d4.jpg" title=" 9.png" alt=" 9.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例二、二氧化硅小球，减速模式的加速电压与荷电 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二氧化硅小球。形态松软，容易形成样品的荷电现象。主流观点：减速、低电压是解决样品荷电问题的最佳方案，且加速电压越低，荷电现象越弱。真实情况却未必如此。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 用减速模式500V、1KV，观察得出的是如下结果： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/764fd804-f00b-4e93-bed6-03b652d70f53.jpg" title=" 10.png" alt=" 10.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " & nbsp /span br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 实例三、钼化铬纳米颗粒 /strong /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f222ae41-0b71-45ac-9969-ca0e2806ff94.jpg" title=" 11.png" alt=" 11.png" / /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上三例可见，无论采用何种模式，加速电压与样品的荷电现象之间都存在一个辩证的关系。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压升高，会增加注入到样品中的电荷总量，提升样品中的荷电场强度，加重样品的荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 提升加速电压，电子注入样品的深度增加，自由电子在样品中形成堆积的位置下移至更深处，荷电场位置也将下沉。荷电场的下沉会逐步减弱其对样品表面电子溢出量的干扰，荷电现象也将逐步减弱，但这是一个量变到质变的过程。当加速电压达到一定值，荷电场接地形成电荷通道，此时样品中多余的自由电子完全消失，样品中也就不存在荷电场。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压的提升，可以增加背散射电子的能量，达到一定值，背散射电子信息将克服荷电场对其正常溢出的影响，减弱并消除形貌像所显现出的样品荷电现象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 因此不能简单的认为：低加速电压是不蒸金解决样品荷电的唯一有效途径。以辩证的思维方式来综合评估各方面的影响，合理选择加速电压才是应对样品荷电的有效方式。 /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px " strong 二、束流大小的选择 /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 目前主流的观点认为：束流越大，电子束斑的直径越大，束斑直径越大，图像的分辨率越差。各电镜厂家的工程师在进行分辨率测试时，都会选用小束流，但观察的都是信号量充足的标准样品（金颗粒）。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 实际测试时，常发现小束流下样品的整体信息量较差& nbsp ，很难形成高质量表面形貌像。那么该怎样选择合适的束流？ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 依辩证法的观点，降低束流强度将得到以下两个矛盾的结果： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.& nbsp 束斑直径降低，信号溢出区面积减小对图像清晰度有利且能降低荷电场强度，削弱样品荷电的影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.& nbsp 减少注入样品的电子量，信号量将减弱，不利图像分辨。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 而现实的操作中，在主流观点的影响下，往往把眼光只放在第一点上，夸大束斑直径的影响，忽视束流强度不足所引起的信号量缺乏，故常常无法获得高质量的高分辨图像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 特别在面对氧化物、高分子等本身信号较弱的材料时，信号量常常是关键点，小束流的模式很难获得满意的结果。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " span style=" font-size: 16px " strong style=" font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em " 实例一、钴纳米颗粒和碳材料，不同束流下图像质量的比较 /strong strong style=" font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em " /strong /span /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/29ecf822-c796-4da0-a394-fa93a248c2d0.jpg" title=" 12.png" alt=" 12.png" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " span style=" text-indent: 2em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/858092ec-e7c9-4e0e-a8e3-a1564d3b4800.jpg" title=" 13.png" alt=" 13.png" / & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f8de383e-1046-4e7d-a4d1-540843a72d14.jpg" title=" 14.png" alt=" 14.png" / span style=" text-indent: 0em " & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " & nbsp img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/34a0c424-2f08-44fe-8f0c-cd31c149f9ab.jpg" title=" 15.png" alt=" 15.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上四例说明：束流的选择同样也遵循辩证法的规律，束流改变带来的往往是正、反两方面影响。如何平衡这些影响获取最佳的结果，还与样品的特性有关，必须全面考虑。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品本身信号量充足且漏电能力较差，束流适当选择较低一些，可以减少荷电的影响，提升图像的清晰度，但图像信噪比就是牺牲的对象。反之，束流应当选择稍高一些，可以获得的样品信号量更为充分，图像的质量更佳。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 依据个人的测试经验，起始条件选择的束流大一些，综合效果会更好。选择小束流，常常会使得图像的信息量不足，分辨力减弱过多，很多细节反而分辨不清。欲对仪器做出适当的调整，看清信息是基础，信息太弱会失去调整的方向。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 任何测试条件的选择都应当坚持适度性原则。具体问题、具体分析，摒弃单调的思维模式，才能找到最佳的测试条件，获得满意的测试结果。 /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) " strong 三、结束语 /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 本文通过大量的实例给大家展示，不同加速电压及束流的选择，究竟能带给我们怎样的测试结果。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 辨证的观点要求我们能够做到具体问题、具体分析。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 摒弃单调的思维模式，有助于我们选择正确的测试条件，获得满意的测试结果。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 同样的样品、不同的测试条件获取的样品信息不同。单一的测试条件往往很难带给我们完整且充分的样品信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 要获取充分的样品信息，需要测试者能准确预判出测试条件的改变对测试结果会产生怎样的影响。做到这一点，测试者的经验积累十分重要。希望本文的各种实例，能对大家在加速电压和束流选择方面的经验累积提供一些帮助。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 参考书籍： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 华南理工出版社 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 & nbsp & nbsp & nbsp 2009年1月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 中科大出版社 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 《自然辩证法》 & nbsp 恩格斯 & nbsp 于光远等译 1984年10月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 人民出版社 & nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《显微传》 & nbsp 章效峰 2015年10月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 清华大学出版社 /p p style=" text-indent: 2em " strong 作者简介： /strong /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 80px height: 123px float: left " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/6dc1a11e-8c90-4ad2-be79-65574928318f.jpg" title=" 741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" alt=" 741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" width=" 80" height=" 123" border=" 0" vspace=" 0" / 林中清，1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。& nbsp /p p style=" text-indent: 2em " strong 延伸阅读：& nbsp /strong /p p style=" text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200414/536016.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜操作实战技能宝典——安徽大学林中清32载经验谈（7） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200318/534104.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈（6） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" http://二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5）" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问（下）——安徽大学林中清32载经验谈（5） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" http://二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4）" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈（4） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" http://电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3）" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈（3） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈（2） /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 /span /a /p

仪器信息网讯4月18日，安益谱“质”造新未来，“谱”写新征程——高分辨傅里叶静电阱质谱新品发布会在苏州狮山国际会议中心举行。会上重磅发布国内首台套自主研发的高分辨傅里叶静电阱质谱Cassitrap120K，并就产品创新优势、技术突破和应用领域等进行了深度解读。发布会现场活动现场嘉宾云集，中国工程院院士林君、中国计量科学研究院院长方向、宁波大学材料科学与化学工程学院院长丁传凡、安益谱董事长兼总经理张小华出席现场并致辞。超过百名业界专家、新闻媒体等嘉宾齐聚一堂，共同见证安益谱创新成果的发布。安益谱（苏州）医疗科技有限公司董事长兼总经理 张小华致辞中国工程院林君院士致辞中国计量科学研究院方向院长致辞宁波大学材料科学与化学工程学院丁传凡院长致辞安益谱在其总经理张小华博士的带领下，从2004年起开始气相色谱质谱技术的自主研发，经过十多年的技术积累与沉淀，在2018年成功推出了7700高性能双腔单四极杆气质联用仪，赢得了第三方检测行业等众多用户的广泛认可。2021年，安益谱再接再厉，推出了首款气相色谱串联三重四极杆质谱仪，并在2022年完成了国产液质三重四极杆产品Anyeep TQ9100的开发工作。今天，在这个意义非凡的日子里，安益谱隆重推出国内首套高分辨傅里叶静电阱质谱Cassitrap120K。新品揭幕随后，安益谱董事长兼总经理张小华对此次发布的新款质谱仪进行了全面介绍。安益谱（苏州）医疗科技有限公司董事长兼总经理 张小华高分辨傅里叶静电阱质谱Cassitrap120K融合了四极杆和傅里叶静电阱的优势。既包含了安益谱单四极杆质谱的全部功能，又充分结合了傅里叶静电阱的超高分辨率、高质量精度和全谱优势。Cassitrap120K配备了用户友好的操作界面和强大的数据处理软件，提供更便捷、高效的分析体验，能够胜任各种复杂分析任务，轻松获得信息丰富的数据和结果。无论是在科学研究、环境监测、食品安全，还是在石油化工等工业生产领域，都可以确保在化合物鉴别、定量和非靶向分析中获得极高的可靠性。随后，发布会邀请到了中国计量科学研究院化学计量与分析科学研究所陈大舟研究员，并带来了Anyeep Cassitrap 120K GC-MS 新型应用报告分享。中国计量科学研究院化学计量与分析科学研究所 陈大舟研究员“质”造新未来，“谱”写新征程， 多年来，安益谱始终专注于质谱产品的研发与生产，致力于为用户提供多样化的应用质谱仪、实验室质谱仪和便携式质谱仪。公司秉持着“精耕细作，做中国好质谱”的立业理念，坚持自主创新，不断在国产质谱领域取得国际水准的先进技术和多项核心专利。未来，安益谱还将继续推动国内高端分析仪器行业的高质量发展，推动人类科学发展，为捍卫人类健康提供有力的技术支撑。

第八届全国静电纺丝技术与纳米纤维学术会议将于 2021 年 5 月 28 - 30 日在天津社会山国际会议中心召开。飞纳电镜诚挚邀请各位专家学者参加此次会议，共同推动静电纺丝科技事业创新发展。会议时间：2021 年 5 月28 日 - 30 日会议地点：天津社会山国际会议中心 飞纳电镜展位号 20 号 飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos 台式扫描电镜表征静电纺丝 应用 静电纺丝与碳化静电纺丝 静电纺丝 碳化静电纺丝 应用 用过的滤网的 EDS 分析 应用 轻松观察纤维截面 纤维测量 + AIM 由于传统扫描电镜只能给出图片，导致研究人员只能测量少量的数据，或者通过直观的“感觉”来判断纤维的特征。为了解决这一问题，飞纳电镜推出了全自动纤维测量系统，将 SEM 的“图片”转化为“数据”，自动导出纤维直径的柱状分布图，并导出数据文件。 VSParticle - 纤维纳米负载仪 在纤维表面负载纳米粒子是获得功能性纤维材料的重要途径，而对于静电纺丝一类的材料，原位合成负载纳米粒子方式会有很大的工艺局限性。而 VSParticle 推出的纤维纳米负载仪采用先进的火花烧蚀技术产生纳米气溶胶，利用类似“口罩”过滤的原理将纳米粒子沉积在纤维表面与内部孔隙中，同时避免其它方法造成的纤维热或机械损伤。该方法可以实现多种材料的在线式负载，实现静电纺丝的功能化，已在包括环境水处理，催化，导电织物，抗菌等领域得到验证，是一种全新的纳米纤维改性技术。 静电纺丝负载 Au 纳米粒子 VSParticle 的纤维负载仪只需要你做三件事便可以获得均匀负载的样品：1. 放入目标纳米粒子对应的靶材2. 放入纤维基底3. 按下开关 三步一键，纳米粒子轻松负载 对纤维基底的要求：标准 47mm 直径，可透气可以沉积的样品种类：超过 60 中元素的金属单质、氧化物、合金以及碳材料，部分半导体材料也是可行的方法的独特优势：1. 温和沉积，不会破坏纤维基底表面2. 普世性强，尤其是合金类材料的混合3. 不需要真空环境，在常温常压下运行4. 无化学前驱体5. 气溶胶沉积技术，保障了负载的均匀性

“TESCAN电镜学堂”又跟大家见面了，利用扫描电镜观察样品时会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其他分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的拍摄条件，有时甚至相互矛盾。 今天主要谈一谈如何根据样品类型以及所关注的问题选择合适的加速电压？ 这里是TESCAN电镜学堂第9期，将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看)，帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况，将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能！ 第三节 常规拍摄需要注意的问题 平时电镜使用者都进行常规样品的观察，常规样品不像分辨率标准样品那么理想，样品比较复杂，而且有时候关注点并不相同。因此我们要根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件。 关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其它分析的需要等等，不同的关注点之间需要不同的电镜条件，有时甚至相互矛盾。因此我们必须明确拍摄目的，寻找最适合的电镜条件，而不是贸然的追求大倍数。 电镜的工作条件包括很多，加速电压、束流束斑、工作距离、光阑大小、明暗对比度、探测器的选择等。这一期将为大家介绍加速电压的选择。 §1. 加速电压的选择 任何电镜都是加速电压越高分辨率越高，但并不意味着任何试样都是电压越大越好。电压的选择是电镜中各个工作条件中最重要的一个。有各种因素需要考虑，而各个因素之间也有矛盾相悖的，这个时候还需要适当进行综合考虑或者采取其它办法。 ① 样品损伤和荷电因素 选择的加速电压不能对试样产生明显的辐照损伤或者荷电，否则观察到的图像不是试样的真实形貌。如果有荷电的产生，需要将电压降至到V2以下，这点在前面电荷效应中已经详细阐述，这里不再重复。 对于金属等导电导热均良好的试样，可以用较高的电压进行观察，如10kV及以上；对于一些导电性不是很好但是比较稳定的试样，可以中等加速电压，如5kV左右；对一些容易损伤的样品，比如高分子材料、生物材料等，可能需要较低的电压，如2kV或以下。 ② 电子产额因素 对于单相材料来说，因为成分没有差别，我们选择电子产额最大的区间V1～V2即可，但是对于混合物相材料来说，我们希望在有形貌衬度的同时还能有较好的成分衬度，这样的图片显得衬度更好，信息量也最大，往往我们也会认为这样的图片最清晰。因此我们需要选择二次电子产额相差较大的区域进行拍摄。 如图5-13，左图是碳和金的二次电子产额，中间图片是金颗粒在1kV下的二次电子图像，右图是200V下的二次电子图像。显然，在200V下碳和金的产额一样，所以此时拍摄的图像仅呈现出形貌上的差别，而碳和金的成分差异无论怎么调节明暗对比度也不会出现。而在1kV下，碳和金的电子产额差异达到最大，所以除了形貌衬度外，还表现出极好的成分衬度。 图5-13 金和碳在电子产额（左）及1kV（中）、200V（右）电压下的SE图像 对于一些金属材料来说，往往较高的加速电压下有相对较大的产额差异，而对于一些低原子序数试样，较低的电压往往电子产额差异更大。 如图5-14，试样为碳银混合材料。左图为5kV SE图像，右图为20kV SE图像。5kV下不但能表现出比20kV更好的成分衬度，还有更好的表明细节。 图5-14 碳银混合材料在5kV（左）、20kV（右）电压下的SE图像 如图5-15，试样为铜包铝导线截面，左图为5kV SE图像，右图为20kV SE图像。20kV下能够更好的将外圈的铜层和内部的铝层做更好的区分。 图5-15 铜包铝导线截面在5kV（左）、20kV（右）电压下的SE图像 对于有些本身差别很小的物相，如果能找到二次电子产额差异最大所对应的电压，也可将其区分。当然有的产额没有参考曲线，需要经过诸多尝试才能找到。比如图5-16，试样为掺杂半导体基底上的本征半导体薄膜，其电子产额差异在1kV达到最大，对应1kV的图像能将两层膜就行区分，而其它电压则没有太好的衬度。 图5-16 半导体薄膜在不同电压下的衬度对比 ③ 衬度的平衡 虽然通过上一点提到的加速电压的选择可以将成分衬度达到最大，但有时该条件并不是观察形貌最佳的电压。此时我们需要考虑究竟是注重形貌还是注重成分衬度，使用二次电子来进行观察，还是用背散射电子进行观察，或者用折中的办法进行观察。这都需要操作者根据电镜照片想说明的问题来进行选择。 要获得好的形貌衬度图像和原子序数图像所需的电压条件一般都不一样，也有另外的办法可以适当解决。对最佳形貌衬度和最佳原子序数衬度单独拍摄照片，后期在电镜软件中通过图像叠加的方式，将不同的照片（位置需要完全一样）按照一定的比例进行混合，形成一张兼有两者衬度的图片。 ④ 有效放大率因素 一般电镜在不同的电压下都有着不一样的极限分辨率，其对应的有效放大率也随之而改变。拍摄特定倍数的电镜照片，特别是高倍照片，需要选择电压对应的有效放大率能够达到需求。否则，视为图像出现了虚放大。虚放大后，图像虽然也在放大，但是并没有出现更多的信息，而且虚放大而会有更多环境因素的影响。 所以如果出现虚放大，可以提高加速电压，以增加有效放大率；如果电压不能改变，可以考虑增加图像的采集像素，来获得类似放大的效果。此时受环境因素或者样品损伤因素更小。 ⑤ 穿透深度因素 前面已经详细的讲述了加速电压和电子散射之间的关系。加速电压越高，能量越大，电子的散射区域就越大。那么产生的二次电子或背散射电子中，从更深处发射的比例则更多。因此较大的加速电压虽然有更好的水平方向的分辨率，但是却忽略了试样很多的表面细节；而低电压虽然水平方向分辨率相对较差，但是却对深度方向有着更好的灵敏度，可以反映出表面更多的形貌细节。 如图5-17，试样为表面修饰的二氧化硅球，5kV电压看不出任何表面细节，而2kV下则能观察到明显的颗粒。再如图5-18，纳米颗粒粉末在不同电压下的表现，因为颗粒团聚严重，所以在5kV电压下无法将团聚颗粒很好的区分，显得粒径更大，而1kV下则能观察到相对更细小的颗粒。 图5-17 SiO2球在5kV（左）、1kV（右）电压下的图像 图5-18 纳米颗粒在5kV（左）、1kV（右）电压下的图像 当加速电压降低到200V左右的超低水平后，电子束的作用区域变得很小，常规的边缘效应或者尖端效应基本可以去除，如图5-19。 图5-19 200V左右的电压可以消除边缘效应 更多详情内容请关注“TESCAN公司”微信公众号

随着科技的不断进步和应用领域的不断拓展，电子显微镜在材料科学、生物医学、工业制造等领域的应用日益广泛。中国电镜市场规模在近年来呈现出快速增长的态势，已成为电镜保有量的大国。在许多实验室，一些经过岁月洗礼的电镜仍然被作为重要的科研工具用于科研一线，见证着中国科学技术的不断变革和进步。此背景下，仪器信息网与知名电镜品牌赛默飞世尔科技携手，共同开启探寻扫描电镜瑰宝之旅，历经岁月，传承科学，通过系列采访相关领域知名专家，再现这些电镜背后的故事。中国科学院上海硅酸盐研究所测试中心主任曾毅研究员我们有幸采访到中国科学院上海硅酸盐研究所测试中心主任曾毅研究员。2002年，曾毅老师加入测试中心的扫描电镜组，一方面从事扫描电镜相关技术研究，包括成像技术、能谱仪与EBSD等电镜附件相关新方法研究等。另一方面利用扫描电镜获得的信息，对涂层材料工艺性能和显微结构关系进行研究。近年来，曾毅老师还承担了若干仪器研制项目，开展了系列扫描电镜相关附件的仪器研制工作。二十余年来，曾毅老师在扫描电镜及附件技术方法与应用方面积累了丰富经验。接下来，让我们一同走进硅酸盐所测试中心的扫描电镜实验室，踏上本次科学探索之旅。走进上海硅酸盐研究所测试中心：不断走在电镜技术应用前沿1997年，中国科学院上海硅酸盐研究所将当时的热学组、力学组、结构组、化学组等整合并成立了分析测试中心（以下简称“测试中心”）。测试中心主要从事各种材料的检测与表征，以及有关的理论和应用研究工作。中心成立之初便成为中国科学院系统最早通过CMA认证的实验室之一，随后也通过了ISO9001民用和军用的质量认证、CNAS等认证，并连续多年在科技部大型科研仪器开放共享评价考核中获得优秀成绩。中国科学院上海硅酸盐研究所测试中心的电镜实验室在二十余年的发展中，逐渐积累了自己的一些特色。首先，电镜实验室很重视先进仪器技术的引进，比如实验室的Magellen 400就是国内科研院所引进的第一台具备单色器的超高分辨扫描电镜。其次，实验室非常重视电镜方法的研究，包括图像本身的技术、低电压技术等，同时，除了电镜技术本身的研究，也在材料的结构工艺性能关系方面做了大量工作，近年来每年以实验室为一作的文章保持在10篇以上。再次，在提供公共服务方面，电镜的服务量很高，每年的使用机时都超过3000小时。《低电压扫描电镜应用技术研究》 曾毅，吴伟，刘紫薇著历经岁月：近十五年 Magellen低电压优势助力科研曾毅老师见证了电镜实验室的不断发展，从自己刚加入实验室时组里只有一台电子探针，到后来陆陆续续购置十几台电子显微镜，目前硅酸盐所大致配置电子显微镜25台套，其中测试中心电镜实验室配置9套，这些电镜设备中扫描电子显微镜包括赛默飞的Magellen 400和Verios G4。电镜实验室的Magellen 400（左）和Verios G4（右）关于Magellen 400和Verios G4的购置背景，曾毅老师回顾道，当时所里开展介孔材料研究比较多，而介孔材料孔径很小，而且它要求在非常低的电压下来获得高清晰度的图片。在调研后发现了Magellen 400是国际上首款空间分辨率达到亚纳米的带单色器的扫描电镜，于是在2009年进行了购置，整体使用效果很好。接着，又在2018年购置了Magellen 400的升级产品Verios G4。曾毅老师表示，使用十多年来，Magellen 400的两个应用特点让自己印象深刻。首先，其低电压性能很好，虽然十多年过去了，实验室目前还一直在使用150V、300V、500V等常见的低电压拍图片，且低电压下的空间分辨率依旧很好。其次，在设计方面，其分析工作距离比较短，保证了在进行能谱分析时分辨率较高。截至目前，Magellen 400配能谱一直是实验室进行实验比对和能力验证的最佳设备，这或许就得益于Magellen 400的设计优势。低电压下获取高空间分辨率是Magellen 400和Verios G4扫描电镜的优势。关于低电压电镜的操作，曾毅老师表示，低电压电镜不可避免要用到减速模式和低电压条件，需要进行多个参数的调节，例如像散、焦距等。如何在低电压模式下得到高分辨率，需要对电镜技术人员进行特别培训，同时，技术人员也要多看、多想、多摸索，根据不同的材料选择着陆电压、工作距离、束流等，这些都对电镜操作者提出了比较高的要求，这也是电镜技术人员在操作超高分辨率扫描电镜时面临的挑战。传承科学：Magellen见证扫描电镜技术不断发展十多年来，Magellen 400见证了扫描电镜技术的不断发展，其独到的单色器技术对于扫描电镜技术的发展具有重要意义。关于单色器技术，曾毅老师表示，扫描电镜的分辨率主要取决于电子束斑直径的大小，在理想状况下，束斑直径与电子束流、电子能量、透镜孔径半张角等有关，但同时不可避免的存在着球差和色差。尤其在扫描电镜亚纳米尺度情况下，色差的影响会比较大。而色差与能量扩展范围ΔE密切相关，ΔE越小，由色差引起的束斑直径的弥散斑直径就越小，对应图像的分辨率就会更高。Magellen 400和Verios G4的单色器设计，便是让能量扩展范围变小从而进一步降低色差，进而提高图像的分辨率。多年来，Magellen 400和Verios G4支撑了测试中心诸多科学研究。曾毅老师也分享了两个印象深刻的案例。其一，实验室刚配置了Magellen 400时，大家都特别兴奋，因为它可以将介孔材料拍的非常清楚。实验室人员花了很长时间来摸索拍摄技术，并在将介孔孔道拍的很清楚的基础上，大家做了另一个尝试，即把介孔材料里面的孔当作一个原子做了傅里叶变换，第一次在扫描电镜中获得了类似选区电子衍射的图，对介孔材料的结果进行了表征，并发表了不错的成果。其二，去年实验室利用Verios G4对热障涂层在高低温循环热冲击的过程中，裂纹产生的机制机理做了研究。相当于在Verios G4中先观察裂纹的情况，然后做了几十次1200度热冲击以后，再离位观察同一个位置裂纹扩展的情况。发现有些地方更容易产生裂纹，接着利用Verios G4图像和EBSD找到了为什么有些地方更容易产生裂纹、有些地方更容易阻止裂纹扩展的原因，相关研究热障涂层结合强度及寿命的提高提供了关键技术支撑。SBA-15介孔颗粒表面、内部有序性对比图(Magellen 400)热障涂层热冲击样品EBSD 花样衬度图与IPF图(Verios G4)赛默飞电镜产品技术的更迭展现着电镜技术的发展历程，曾毅老师也谈了自己对扫描电镜技术发展趋势的看法。曾毅老师认为，接下来，扫描电镜会向这些方面不断发展：一是更高的空间分辨率；二是低电压下能力，也希望不远将来低电压的分辨率会更高；三是与更多的设备联用，除了与能谱、EBSD、原位拉伸、纳米压痕、拉曼、阴极荧光等技术联用获取更多的信息，相信后续还将有更多的联用技术不断呈现。在采访结尾，曾毅老师回顾了与赛默飞的合作历程。从2009年购置第一台Magellen 400，到后面的FIB、Verios G4等，赛默飞一直是扫描电镜领域最大的创新者之一，比如首次引入单色器技术将扫描电镜分辨率提升到亚纳米尺度、采用多探头获取更多电子信号、使用恒定功率透镜、静电扫描线圈、固体背散射探测器进行多个CBS、ABS分区等创新技术。未来，也希望可以在扫描电镜与附件技术发展的方向上，与赛默飞有更多深入的合作。

近日，国家中医药管理局办公室、国家药品监督管理局综合和规划财务司联合印发《古代经典名方关键信息表(25首方剂)》(以下简称《信息表》)，旨在贯彻落实《中医药法》、《中共中央国务院关于促进中医药传承创新发展的意见》，加快推动古代经典名方中药复方制剂简化注册审批。此次发布的25首方剂分别是桃核承气汤、芍药甘草汤、半夏泻心汤、真武汤、黄芪桂枝五物汤、瓜蒌薤白半夏汤、大建中汤、麦门冬汤、温胆汤、小续命汤、开心散、当归饮子、泻白散、清心莲子饮、羌活胜湿汤、当归补血汤、地黄饮子、清金化痰汤、金水六君煎、济川煎、清肺汤、保元汤、半夏白术天麻汤、易黄汤、宣郁通经汤。《信息表》涵盖每首方剂出处、处方、制法及用法、药味名称、基原及用药部位、炮制规格、折算剂量、用法用量、功能主治等信息。附件：古代经典名方关键信息表(25首方剂).pdf

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在模拟的世界里，微弱电流信号的测量通常是工程师需要面对的棘手挑战。随着各种仪器仪表的产品性能迭代以及各种新应用的层出不穷，对于微弱电流的测量范围已经从微安级（μA）提升到了皮安级（pA），提升了足足一百万倍！ br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为了测量微弱的电流，通常工程师将运放进行跨阻方式连接，见图1所示。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture1.png" / br/ /p p br/ /p p style=" text-align: center " 图 1 跨阻放大器 br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 理想运算放大器的反相输入端处于虚地，输入端所有电流流经反馈电阻 R& nbsp f& nbsp ，因此输出电压Vout& nbsp = R& nbsp f& nbsp × I& nbsp d& nbsp 。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 所以工程师只需要选择一个Rf为10GΩ的电阻，就可以将1pA的电流信号变换成10mV的电压信号了吗？答案是否定的。工程师会面临非常多的挑战：来自运放自身的偏置电流误差，环境温度与湿度的变化，PCB板的泄漏电流，输入端与线路噪声，电磁干扰等等，这些都是摆在精密测量方面的难题。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 选择一款超低偏置电流的放大器成为了工程师挑战系统性能的关键。1987年，一款JFET放大器AD549横空出世，成为了精密电流测量应用三十年来经久不衰的经典产品。光谱仪，气相色谱仪，静电计应用中处处可见其身影。其低至100-250fA的输入偏置电流（图2）以及优异的温漂曲线以今天的眼光来看，都是几无对手。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture2.png" / /p p style=" text-align: center " 图2 摘自AD549数据手册 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以超越致敬经典，这成为了ADI人对技术的一种追求。2015年底，ADA4530-1正式亮相。以CMOS的工艺实现了JFET的性能挑战。其失调电压最大50μV，偏置电流在?40° C 至+85° C范围内均不超过20fA —— 高温性能比AD549提升了几百倍。& nbsp br/ /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture3.png" / /p p style=" text-align: center " 图 3 摘自ADA4530-1数据手册 /p p style=" text-align: justify " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture4.png" / /p p style=" text-align: center " 图 4 ADA4530-1与AD549对比表 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 有了优异的器件，如何将其性能发挥出来，从系统设计的角度去满足皮安级电流测量的性能要求？针对中国工程师的需求，世健上海技术团队挑战难关，在原有设计的皮安级电流计量评估套件的基础上做了大幅度的改进，于2020年10月正式发布了可商业化的超高精度皮安计模块 EPSH-PAM2.0 （以下简称PAM2.0模块）。& nbsp br/ /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 世健技术支持部的高级副总裁戈一新表示道：“精心的模块设计，严格的工艺制作，保证了PAM2.0模块的性能与质量。50µ V（相当于5fA）的RMS底噪，能满足绝大部分微弱电流信号测量用户的需求。”& nbsp & nbsp br/ /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture5.png" / /p p style=" text-align: center " 图5 外观与软件界面 br/ /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " PAM2.0模块采用4层板布局及FR-4 PCB板材。工程师巧妙的采用了AD549国内经典的反相端悬空柱接方式，使得FR-4板材的效果依旧可以媲美ROGERS4350板材而成本大大降低。PAM2.0模块的输入端子为SMA接口。模块套件包含了一根BNC转SMA高性能屏蔽线，便于与各种电流输入源对接。模块采用了双金属屏蔽罩降低各种噪声和干扰。在设计和生产过程中，工程师对不同供应商的10GΩ电阻进行了全方位的评估测试，从中挑选出性能优异的电阻确保模块的性能。PAM2.0模块简化了电源设计，使用LTC3260 双路低噪声LDO为ADA4530-1供电。在次级信号的放大选择上，客户既可以使用ADA4522-1与ADG1608的组合进行硬件电路放大，亦可使用AD7124-4片内PGA软件程控放大，从而灵活的比较两种方式的性能和成本。ADC选择了最新的AD7124-4, 它具有24位19.2KSPS最高输出数据率，并提供三种功耗模式（低/中/全性能），从而让客户在设计便携式测量应用时无需更改硬件。若客户需要更高的采样率ADC，亦可从TP2端与各种ADC评估板进行对接。精心设计的LABVIEW GUI提供了模块配置、实时波形显示、直方图和统计分析、测试数据导出成Excel文件等功能。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " img src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture6.png" style=" text-align: center max-width: 100% max-height: 100% " / br/ /p p style=" text-align: center " 图6 系统框图 /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 匠心设计的收获是显而易见的：使用Keithley 6220源表进行测试，PAM2.0模块在0-20pA的I-V曲线测试中，线性度达到了0.9999x；在0-100pA的测试中，线性度达到了0.999999x。PAM2.0每款模块均进行出厂线性度评估并配发85点测试报告。 br/ /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://excelpoint.com.cn/sites/default/files/PAM2-picture7.png" / /p p style=" text-align: center " 图7 0-100pA 21点I-V线性度测试图 br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 世健的超高精度皮安计模块旨在从系统设计角度出发，提供给客户快速设计原型，让产品迅速推向市场。& nbsp & nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 该模块将会在11月16-18日，于上海新国际博览中心的慕尼黑上海分析生化展上展出。目前该模块已经上线世健网店，感兴趣的朋友可以在线咨询购买。 /p

说明粉体在流动过程中会产生静电荷。电荷的出现是由于摩擦电效应，这是两个固体接触时电荷的交换。当粉体在设备内流动时(例如搅拌机、料仓、输送机等)，摩擦电效应发生在颗粒之间的接触处，颗粒与设备之间的接触处。因此，粉体的特性和用于制造该装置的材料的性质是重要的参数。原理GranuCharge自动精确地测量粉体在与选定材料接触过程中产生的静电荷量。粉体样品在振动的V型管中流动，落在与静电计相连的法拉第杯中。静电计测量粉体在V形管内流动时所获得的电荷。为了获得可重复的结果，采用旋转或振动装置有规律地给V形管进料。优势高精度(精度接近0.5nC)，高重复性(误差率接近4%)测量方法简单、快速且易于解释。可以测量粉体的初始状态电荷和流动后的电荷通过直观的软件，电荷是通过时间来测量的。它还允许对结果进行比较。所有数据都是自动收集和存储，以备后处理。便捷的数据传输，并能自动生成报告。采用封闭系统，满足安全要求。环境条件可控 (如温度、湿度、气体环境)。可记录的标准操作程序，增加测量的重复性。通过其构造简洁的设计，GranuCharge提高实验效率。它由模块组成，每个模块都可以互换，以避免需要大量实验条件切换而浪费的时间。GranuCharge可以测量各种规格的粉体。零件容易清洗。独特性设计和原理是完全具有专利性的，并且也是独特的。管道表面材料可更换，以研究每种应用中所涉及到的不同材料带来的不同效果。可以测量电荷密度随时间的变化。应用通过检测粉体对不同材料管道的相应程度，帮助客户选择最佳的管材组合，从而对改进气动真空输送工艺优化的可能性提供了可靠依据。此举可有效避免颗粒团聚和粉体粘附在管道表面的情况发生。对粉体加工性能进行分类。提供粉体表面特性的信息，从而为增材制造中的粉体回收工艺优化提供了依据。可选配件校验套件标准配置316L不锈钢管道，但可另行选择其他不同材质的管道（玻璃/HDPE/PVC/铝制）离线分析软件授权许可：一台计算机运行测量，同时可使用另一台计算机分析数据，从而提高实验和数据分析效率。GRANUCHARGE 参数图1: 石墨添加剂对玻璃微珠样品电荷密度的影响图2: 气动传输工艺优化创新点：1.设计和原理是完全具有专利性的，并且也是独特的。 2.管道表面材料可更换，以研究每种应用中所涉及到的不同材料带来的不同效果。 3.可以测量电荷密度随时间的变化。 粉体静电吸附性能分析仪 Granucharge