温度表

CEM公司发明的微波马弗炉，是世界上唯一内置NIST可追踪温度标定和验证的微波马弗炉，可实现精确闭环温度控制，LCD屏显温度设定，实际炉内温度和升温指示，控制参数：加热速率（斜率），温度保持（闭锁）。双重TYPEK热电偶传感提供反馈信号，快速进行符合ISO和GLP的可溯源温度校正的温度计量标定和验证要求。 符合ASTM D5630-94热塑灰份测定，ASTM D1506-94b碳黑灰份测定，USP281灼烧残渣（硫化灰化测定）和USP733烧失量测定等标准。 1. 数字温度表标定梯度升温的参比精度； 2. NIST溯源标定器的快速标定； 3. 提供标定服务和证书，标定器溯源证明。 美国 CEM Phoenix 微波马弗炉/微波快速灰化系统 更多详情请浏览 http://www.pynnco.com , 或咨询培安公司：电话：010-65528800，传真：010-65519722，邮件 sales@pynnco.com

润滑脂宽温度滴点测定器安装与使用、注意事项A3012技术指导产品介绍产品名称：润滑脂宽温度滴点测定器产品型号：A3012概 述：润滑脂宽温度范围滴点测定仪适用于测定润滑脂宽温度范围滴点。适用标准：GB/T 3498《润滑脂宽温度范围滴点测定法》安装与使用1.仪器应放置在固定牢靠的地方，仪器电源应有良好接地线。送电前先将传感器和LED灯插头插到相应的插座上。2.传感器控制箱背面有一个三芯的插座，传感器的测温头插到铝浴后部的插孔内，数显温度表才能显示正常温度。注：测温头往铝浴后部插孔内插时，一定要插到底，才能保证测温的准确性。注：插测温头时，注意不要将LED灯管碰坏。 注：传感器插头和LED灯插头在插接时，必须先断电源，并先确定三芯或四芯后再插。3.照明灯 仪器背面有一个6瓦LED灯，“开关”在控制面板上，如需观察滴点时可将开关打开，LED灯亮，便于观察。LED灯是通过一个四芯插头插到控制箱背面，开关打开时与电源接通。 4.温度设定试验时，首先打开电源，控制单元左侧是温度显示窗口，下有三个元件，左边为“实测、设定”无锁按钮，中间为恒温指示灯，右侧为“调节”电位器。按下“实测、设定”按钮，右旋“调节”电位器旋钮，将温度控制器的温度设定在所需温度，此时恒温灯亮，表示加热，当温度接近设定温度，进入恒温状态时，恒温灯开始亮灭交替工作。此时观察蒸发浴温度计是否稳定所需温度，如果温度稳定到所需的温度，即可按GB/T 3498标准的操作步骤进行试验。注：恒温铝浴工作时温度较高，易烫伤，操作时请注意。注：测定恒温铝浴的温度应以插在恒温浴上的温度计读数为准，如果达不到预期温度，可适当调节控制器面板上的“调节”旋钮，使其达到预期温度。注：恒温铝浴温度与滴点高限温度对应值如下表：恒温铝浴温度℃ 滴点高限温度℃121±3116232±3221288±3277343±3330注意事项1.恒温浴温度较高，注意手臂及头部不要触及到浴壳及上盖。2. 仪器电源要有良好的接地。3.仪器出现故障，不准乱拆乱卸，应请专业人员维修或通知本公司。4. 本仪器保修期一年。

获取材料甚至是器件整体的热学特性，是相关研究与开发当中非常有意义的课题。随着研究对象特征尺寸的不断减小，研究者们对具有高热学分辨率和高水平方向分辨率的表面温度表征方法以及与之相应的仪器的需求也日益显著。在诸多潜在的表征技术当中，扫描热学显微镜（Scanning Thermal Microscopy）是其中颇为有力的一种，它可以满足特征线度小于100 nm的研究需求。然而，这种表征方法，对纳米探针的结构及功能特性有比较高的要求，目前商用的几种纳米探针受限于各自的结构特点，均有一定的局限性而难以满足相应要求，也就限制了相应表征方法的发展与应用。着眼于上述问题，奥地利格拉茨技术大学的H. Plank团队提出了基于纳米热敏电阻的三维纳米探针，用于实现样品表面温度信息的超高分辨表征。相关成果于2019年六月发表在美国化学协会的期刊ACS Applied Materials & Interfaces上（ACS Appl. Mater. Interfaces, 2019, 11, 2522655-22667. Three-Dimensional Nanothermistors for Thermal Probing.）。 图1 三维热学纳米针的概念、结构、研究思路示意图 H. Plank等人提出的这种三维纳米探针的核心结构是一种多腿（multilegged）纳米桥（nanobridge）结构，它是利用聚焦离子束技术直接进行3D纳米打印而获得的，因而可以直接制作在（已经附有许多复杂微纳结构与微纳电路、电的）自感应悬臂梁上（self-sensing cantilever, SCL）。由于纳米桥的每一个分支的线度均小于100 nm，因而需要相应的表征策略与技术来系统分析其纳米力学、热学特性。为此，H. Plank研究团队次采用了有限元模拟与SEM辅助原位AFM（scanning electron microscopy-assisted in situ atomic force microscopy）测试相结合的策略来开展相应的研究工作，并由此推导出具有良好机械稳定性的三维纳米桥（垂直刚度达到50 N/m?1）的设计规则。此后，H. Plank引入了一种材料调控方法，可以有效提高悬臂梁微针的机械耐磨性，从而实现高扫描速度下的高质量AFM成像。后，H. Plank等人论证了这种新式三维纳米探针的电响应与温度之间的依赖关系呈现为负温度系数（?(0.75 ± 0.2) 10?3 K?1）关系，其探测率为30 ± 1 ms K?1，噪声水平在±0.5 K，从而证明了作者团队所提出概念和技术的应用潜力。 图2 三维热学纳米针的制备及基本电学特性 文中在进行三维纳米探针的力学特性及热学响应方面所进行的AFM实验中，采用了原位AFM技术，堪称一大亮点。研究所用的设备为奥地利GETec Microscopy公司生产的AFSEMTM系统，AFSEMTM系统基于自感应悬臂梁技术，因此不需要额外的激光器及四象限探测器，即可实现AFM的功能，从而能够方便地与市场上的各类光学显微镜、SEM、FIB设备集成，在各种狭小腔体中进行原位的AFM测试。此外，通过选择悬臂梁的不同功能型针，还可以在SEM或FIB系统的腔体中，原位对微纳结构进行磁学、力学、电学特性观测，大程度地满足研究者们对各类样品微区特性的表征需求。着眼于本文作者的研究需求来讲，比如探针纳米桥的分支在受力状态下的力学特性分析，只有利用原位的AFM表征技术，才可以同时获取定量化的力学信息以及形貌改变信息。当然，在真空环境下使用原位AFM系统表征微区的力、热、电、磁信息的意义远不止于操作方便或同时获取多种信息而已。以本文作者团队所关注的微区表面热学分析为例，当处于真空环境下时，由于没有减小热学信息成像分辨率的、基于对流的热量转移，因而可以充分发挥热学微纳针的潜能，探测到具有高水平分辨率的热学信息。 图3 利用AFSEM在SEM中原位观测nanobridge的力学特性 图4 将制备所得的新型纳米热学探针安装在AFSEM上，并在SEM中进行原位的形貌测量：a）SEM图像；b）AFM轮廓图像