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红外扫描器

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红外扫描器相关的仪器

  • 2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s,在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能(s-SNOM)。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm,广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作,被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像;优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图(上图),和相应的近场光谱(下左图)。pNTP分子层的近场光谱(图下右)。
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  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率) 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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  • GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪是一种采用先进的高光谱成像技术的地面遥感器,它的核心是一台带有光学机械扫描器的成像光谱仪,可进行远距离、大范围目标物体的高光谱扫描,得到目标的影像及光谱信息,广泛应用于目标识别、伪装与反伪装研究应用领域以及地面物体遥测、海洋水体遥测、湖泊水体遥测等生态环境研究领域,如农作物生长状况监控、虫害监控、大范围果蔬成熟度监控等。根据光谱覆盖范围的不同,GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪,分为三个光谱波段:VNIR(400-1000nm)、NIR(900-1700nm)和SWIR(1000-2500nm),并根据实际应用的需求,提供三个标准系统规格。GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪主要技术规格*:型号(GaiaField-)V10V10EN17EN25E光谱覆盖范围(nm)VNIRVNIRNIRSWIR标准镜头焦距(mm)25252525垂直方向视角(FOVac,°)20202020垂直方向视角分辨率(IFOVac,°)0.050.01-0.050.050.05水平方向扫描角度范围(FOVal,°)45454545水平方向瞬时视角(IFOVal,°)0.10.050.050.05扫描速度(line images/s)25-12025-120100100扫描幅面(m,垂直×水平,距离10m处)3.5×83.5×83.5×83.5×8可充电电池满电使用时间(小时)8888便携式设计,配备长效电池,便于长时间户外测量GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪采用便携式设计,便于携带和运输,同时配备长效可充电锂离子电池,最长可提供超过12小时的使用时间,可适应长时间的户外测量需求。反射率测量模式GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪,是基于自然光环境下,对植被、湖泊、海洋、森林等进行反射率测量,通过对于吸收光谱的分析,进行相关的研究。右图是典型的植被的全波段反射光谱图。以植被为例,研究表明,影响植被反射率的主要因素有植被的本体颜色特征、细胞组织结构以及水份含量。在对农作物生长进行监控的实际应用中,通常可采用可见光-近红外波段(400-1000nm或400-1700nm)测量,进行叶绿素监控和氮素营养监控,从光谱上来看就是蓝移和红边现象,反映的是植物光合作用的强弱(即植物的活力),蓝移表示活力减弱。针对一些水体的研究和应用,通常采用全波段(400-2500nm)反射率光谱测量,可反映出水体中可溶性物质、叶绿素和悬浮物的情况。全波段可提供超过700个光谱通道,可自由选择GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪采用的高分辨率的成像光谱仪,在可见光波段光谱分辨率高达3nm,在短波红外波段也能达到10nm的光谱分辨率,因而全波段内可以获得超过700个光谱通道,更多的光谱通道意味着更多的信息,可以帮助研究人员通过对连续光谱的分析、反演,获得更多的研究对象的细节。标准三维数据立方体数据格式,可直接通过ENVI软件进行数据处理440nm 550nm670nm 720nm750nmGaiaField-V10-PS—“可见光-近红外型”地物高光谱成像仪系统包含内容:V10高光谱成像仪、数据采集软件、三脚架、电控扫描机构及充电电池等系统主要功能及规格:◇ 可用于远距离、大范围目标物体的高光谱成像◇ 扫描幅面:3.5m×8m(距离10m处)◇ 垂直视场角:20°◇ 水平扫描角度范围:45°◇ 水平扫描角分辨率:0.1°◇ 测量光谱范围:400-1000nm◇ 扫描头可进行俯仰(±90°)和旋转(±180°)方向手动调整◇ 扫描头采用三脚架通用接口◇ 充电电池在满电状态下可以8小时连续供电GaiaField-V10-PS—“可见光-近红外型”地物高光谱成像仪分项规格一)高光谱成像仪1. 成像光谱仪可见光-近红外波段光谱仪波长范围:400nm-1000nm光谱分辨率:3nm光谱采样点:0.63nm狭缝长度:14.2mm狭缝宽度:30μm相对孔径:F/2.4总通光效率:50%杂散光:0.5%2. 配套镜头波长范围:400-1000nm焦距:25mm光圈:F/1.4~F/17接口:C-Mount透光率:≥85%视场角:20°配套CCD探测器CCD满帧像素:1392x1040像元尺寸:6.45*6.45μm数据接口:Ethernet全幅帧速:25 –120fps曝光时间:1μs-120sA/D输出:14bits镜头接口:C-Mount动态范围:60dB3.类型:常温型二) 光谱图像采集配套软件光谱及图像实时采集,界面实时显示光谱数据可视,可存储可通过鼠标选取图像上任何位置(或区域),以获取该位置的光谱并显示CCD参数可自由设置,电控位移台速度设置原始数据可存储为标准raw格式,可供第三方分析软件(如ENVI等)读取分析三) 一体化电控扫描机构电控扫描水平角度:45°扫描角度分辨率:0.05°电控扫描机构控制接口:USB2.0三脚架最大负荷:10kg三脚架最低高度:0.6m充电电池在满电状态下可以8小时连续供电四) 图像处理机CPU: 主频2.0GHz以上内存:不小于2GB硬盘容量:不小于500GB独立显卡:不小于512M独立显存五) 其它主机重量:8Kg外观:手提式一体设计 GaiaField-V10E-PS—“可见光-近红外增强型”地物高光谱成像仪系统包含内容:V10E高光谱成像仪、数据采集软件、三脚架、电控扫描机构及充电电池等系统主要功能及规格:可用于远距离、大范围目标物体的高光谱成像扫描幅面:3.5m×8m(距离10m处)垂直视场角:20°水平扫描角度范围:45°水平扫描角分辨率:0.05°测量光谱范围:400-1000nm扫描头可进行俯仰(±90°)和旋转(±180°)方向手动调整扫描头采用三脚架通用接口充电电池在满电状态下可以8小时连续供电GaiaField-V10E-PS—“可见光-近红外增强型”地物高光谱成像仪分项规格一) 高光谱成像仪1. 成像光谱仪可见光-近红外波段光谱仪波长范围:400nm-1000nm光谱分辨率:3nm光谱采样点:0.63nm狭缝长度:14.2mm狭缝宽度:30μm相对孔径:F/2.4总通光效率:50%杂散光:0.5%2. 配套镜头波长范围:400-1000nm焦距:25mm光圈:F/1.4~F/17接口:C-Mount透光率:≥85%视场角:20°3. 配套CCD探测器类型:常温型CCD满帧像素:1392x1040像元尺寸:6.45*6.45μm数据接口:Ethernet全幅帧速:25 –120fps曝光时间:1μs-120sA/D输出:14bits镜头接口:C-Mount动态范围:60dB二)光谱图像采集配套软件光谱及图像实时采集,界面实时显示光谱数据可视,可存储可通过鼠标选取图像上任何位置(或区域),以获取该位置的光谱并显示CCD参数可自由设置,电控位移台速度设置原始数据可存储为标准raw格式,可供第三方分析软件(如ENVI等)读取分析三)一体化电控扫描机构电控扫描水平角度:45°扫描角度分辨率:0.05°电控扫描机构控制接口:USB2.0三脚架最大负荷:10kg三脚架最低高度:0.6m充电电池在满电状态下可以8小时连续供电四)图像处理机CPU: 主频2.0GHz以上内存:不小于2GB硬盘容量:不小于500GB独立显卡:不小于512M独立显存五)其它主机重量:8Kg外观:手提式一体设计
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  • 坚固耐用、体积小巧的Thermo Scientific™ Gemini™ 分析仪可满足公安、安检及现场应急人员严苛要求,从而帮助操作人员快速、安全和充满自信地执行任务。配置文件在进入危险区前,通过设置“配置文件”(Profiles),用户可以根据需要分析的物质情况和自身的知识和经验来定制扫描参数。这样可确保操作人员一到达现场即可准备好开始取样。灵活的输入操作人员可使用触摸键盘或电阻式触摸屏轻松地操纵各项功能,即使是佩戴了防护手套。除了拉曼扫描延迟,可调激光功率和其他内置安全功能之外,Gemini 还引入了业界首个傅立叶变换红外扫描延迟,该功能是通过自动的ATR 旋钮实现的。小身材,大智慧Gemini 分析仪使操作人员能迅速地切换分析技术。并且,没有因为减轻重量而删减分析性能,操作人员能比以往更快速地获得可靠的分析信息。双重技术:补充性和验证性拉曼和FTIR 是极有针对性的可靠识别方法,各有优点和局限。将两者结合到单台分析仪上后,操作人员可充分发挥各项技术的优势,从而实现更广泛的化学品识别范围。 清晰的分析结果以Thermo Scientific™ FirstDefender™ 和TruDefender™ 产品系列的性能和可靠性为基础,Gemini分析仪提供了精确并带有颜色代码的分析结果,该结果无需用户解读并提供了第一手的物质应急处置概述。根据这些结果,操作人员可充满信心地迅速开展工作。
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  • 本厂生产的板型活套扫描器主要用于板材厂的板材套位控制,采用led面阵做光源,大功率稳压电源作供电电源,ccd感光元件接收,具有线性度好,安全,可靠,无零漂,免维护等特点。板材活套由光源,检测器,供电电源三部分组成,在板材没有进入视场角(套位)时,光源通过物镜所成的像把ccd各个光敏元全部覆盖,ccd输出一定幅度的视频信号,当板材进入套位时,挡住部分光源,所挡住的部分不同,套量也不同,通过后部电子线路处理,变成用户所需的模拟量信号。技术指示1、 接收器接收光谱:600nm~700nm2、 响应时间:10ms3、 套量标准60cm(按用户要求可定制)4、 安装距离:1-11m有效5、 工作温度:-20℃~+70℃6、 检测器及电源箱电源:220vac7、 检测精度:8bit8、 输出模拟量电流:4~20ma,无钢时20ma,高位20ma,低位4ma9、 输出模拟量电压:0~10v,无钢时10v,+10v~-10v等(可根据用户要求设定)10、防护等级:ip6711、绝缘电阻:≥20mω,1500vac/1分钟注意事项:KDD板型活套扫描器 应避免剧烈震动,现场温度高时,应加水冷。KDD视场范围内不应有足够引起干扰的辐射,如电焊光,强太阳等。产品保修一年,免运费!!
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  • TE 69 载荷扫描器 400-860-5168转2004
    TE 69 载荷扫描器设备介绍早先瑞典Uppsala大学材料科学系的教授Sture Hogmark 和 Staffan Jacobson 开发了一台摩擦试验机,凤凰摩擦学科技公司(Phoenix Tribology Ltd)根据这台仪器经过授权后开发了TE 69 载荷扫描器。TE 69与其原型机的最大区别在于,原型机只能同时测试一个试样,而TE 69可同时测两个样品,并且负载可随位移线性变化。另外,在TE 69上还新增了新的测试类型,用于获得材料和润滑剂的摩擦磨损特性。TE 69可同时对两个加长的杆或棒试样测试。两试样的取向和相对运动方向决定着接触斑形态和接触班的运动路径。载荷通过滑轮和弹簧机构施加,其中弹簧两端分别连接加载臂和下试样的支架。若想加载或减载,使试样做一定的相对运动即可。也就是说,载荷与接触点存在一一对应的关系。下试件由滚珠螺旋致动器驱动,相应的动作通过简易的连接传至上试样,从而保证运动的一致性。标准应用: 单向测试组件用于进行涂层的划痕试验。划痕试验中,针尖多为金刚石。TE 69载荷扫描器用于评价涂层的性能,一般情况下,一试样有涂层另一试样为无涂层的基材,与实际应用中的涂层和它的对偶件接触方式一样, 从而可很好的模拟实际工况。TE 69载荷扫描器还可用于重复的往复测试,以期验证单次划痕试验结果 ,也可用于试样从轻微磨损到划伤的特征评价。备选配置: 该备选配置可在锁死上试件支架的情况下,用销或压头换掉上试件, 用盘试件替代下试件,断开加载系统后,在力传感器的帮助下,改用气动波纹管和精密调整器施加稳恒载荷。若上试件支架锁死,横向加载,则在试验机上可进行高压划痕试验。若上试件支架锁死,加载稳恒载荷,则试验机就成了Bowden-Leben试验机,可进行往复式的球板试验。控制与数据采集:专门为TE 67试验机配置了一台电脑,并安装了SLIM2000串行接口模块以及COMPEND 2000软件,现编程控制与数据采集。测得数据以标准电子数据表格形式存储在硬盘里,文件的格式为.csv 或 .tsv。 最大的数据采集频率为2 kHz。测试过程程序化通过编程实现,每一步包括试验参数设置值、数据记录频率和报警信息。试验参数设置值,设置点可有程序的步改变或跳过。除非被操作人员或警报打断,测试序列将顺次执行。另外,在屏幕上手动调整切换设置点。技术参数: 接触类型交叉柱面 交叉平板 销对平板 压头对平板最大载荷2000 N无加热夹具直径3.2 mm 和直径 12 mm可加热夹具直径3.2 mm 和直径 12 mm柱长175 mm载物台最大行程75 mm (each)杠杆臂长比5:1最大滑动速度 0.1 m/s最大磨斑长度&ndash 载荷扫描器100 mm最大磨斑长度&ndash 销对平板75 mm最大往复频率0.3 Hz上杆试样温度室温到600° C (干测试)下杆试样温度室温到600° C (干测试)润滑剂容器温度室温到250° C
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  • InGaAs短波红外(SWIR)线扫描相机:SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台,产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列(FPA)和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等,速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 GL2048R通过Medium Camera Link® 接口将SD-OCT成像扫描速率提升到145 klps,而GL2048L是在base Camera Link® 提供76 klps的扫描速率。这些相机分辨率高、稳定性好。相机结构紧凑机身纤薄,它的特点是2048像素InGaAs阵列,像素间距10um,孔径高度210um。在短波红外(SWIR)波长范围0.99到1.65um之间提供高光谱分辨率。具有优越的稳定性、可重复性和长期工作寿命,可用于医学和工业机器视觉。 特点1024 x 1像素阵列,10um像素间距 0.99-1.65um高量子效率 带快照曝光的固态FPA 用于控制曝光和行周期 线扫描0.1到76 klps或10到145 klps以上 高增益时动态范围大于1200:1 四种增益/满井选项 通过CC1外部触发 封装机身129cm3 OEM尺寸35cm3 低功耗3.3W@6-12V 12位base或medium CameraLink® 接口应用 OCT:1.04、1.31、1.55um 强光谱的高分辨率光谱学 硅晶圆或IC显微 运动物体的SWIR机器视觉 热MV成像150oC 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • InGaAs短波红外(SWIR)线扫描相机:SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台,产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列(FPA)和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等,速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDH2是一款高速1024像素线扫描InGaAs相机,扫描速率可达91911 lps。这一特点可用于1.04μm谱域光学相干层析成像(SD-OCT),瞬间捕获视网膜、神经头和脉络的细致3D体图像。对于1.31μm SD-OCT,基于二极管阵列的OCT系统可为多普勒或偏振灵敏OCT应用提供优越的相位稳定性。LDH2提供12位传输率将数字图像传到Base Camera Link® 接口卡中,最大动态范围可超过2300:1。可选两种像素孔径高度:500μm高度方便SD-OCT系统对准;25μm方形像素,用于高时间分辨机器视觉或PS-OCT。 特点12位对1024像素速率达91911 lpsintegrate-while-read采集 波长响应范围0.8μm~1.7μm,在1.05μm和1.31μm量子效应曲线平坦14位base CameraLink® 兼容输出和控制 高动态范围和量子效率 易于安装到光谱仪 易于安装到光谱仪或MV系统 可选配C和F接口透镜的转接件 应用 SD-OCT 0.8-1.7μm波长范围用于燃烧研究和分子振动带的超快吸收和发光光谱学 用于超高速检测、材料分类筛选的机器视觉、连续过程检测 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • InGaAs短波红外(SWIR)线扫描相机:SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台,产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列(FPA)和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等,速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDM是一款用于机器视觉的紧凑型高速1024像素线扫描相机,用于通过硅片的高分辨率成像,在IC或太阳能电池进行下一步加工前找到未对准、闭塞或破裂等问题,速率可达45956 lps。LDM提供14位传输率将数字图像传到Base Camera Link® 接口卡中,最大动态范围可超过4500:1。25um孔径相机具有高空间和时间分辨率;可选500um像素高度,它牺牲时间分辨率增加光照成像时的灵敏度。 特点 高动态范围和量子效率 integrate-while-read快照采集 预定义行扫描速率80-45956 lps用户可编程设置 波长响应范围0.8μm~1.7μm 1024 x 25-μm像素间距,孔径高度25或50μm 14位base CameraLink® 兼容输出和控制 易于安装到光学元件和MV系统 可选配C和F接口透镜的转接件应用 检测抛光的硅片晶圆 用于超高速检测、材料分类筛选的机器视觉、连续过程检测,比如食品和农产品筛选 0.8-1.7μm波长范围用于燃烧研究和分子振动带的超快吸收和发光光谱学 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • InGaAs短波红外(SWIR)线扫描相机:SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台,产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列(FPA)和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等,速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDH线性数字高速InGaAs相机对于1024像素的传输速率超过46000 lps,用于谱域OCT、NIR光谱学和机器视觉。该相机将提供14位数字捕获到base Camera Link® 接口卡,使用线性阵列的LC串联,特点是双扫描、integrate-while-read采集、低噪声、提供这些应用的高动态范围要求。这些相机可选500μm高像素,方便在SD-OCT系统中对准;也可选25μm方形像素,用于高时间分辨机器视觉或PS-OCT。特点波长响应范围:0.8μm~1.7μm25μm像素间距,孔径高度25μm或500μm1024像素阵列对于1024像素超过46000lpsintegrate-while-read采集14位base CameraLink® 兼容输出和控制 高动态范围和量子效率 易于安装到光谱仪可选配C接口、F接口或FD接口透镜的转接件 应用 OCT 机器视觉、连续过程检测800-1700nm波段分子振动带高速光谱学远程通信光纤和波导对准 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • 型号SC-2SC-3SC-5SC-10SC-20SC-21SC-25SC-30镜面尺寸6mm,7x6mm ,10x6mm5mm dia.,7mm dia.8x7mm12x7mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm6mm dia,6x6mm,7x7mm10x10mm7x7mm,8x8mm,10x10mm,20x20mm25x25mm8x8mm,10x10mm,12x12mm,15x15mm,20x20mm30x30mm6x6mm,8x8mm,10x10mm,12x12mm,20x20mm30x30mm3x4mm,4x5mm,5x6mm,7x8mm,8x9mm,10x10mm25x25mm扫描角度20°-50°可选20°-50°可选25-60°可选10-60°可选10-60°可选24-70°可选24-60°可选5-30°可选频率125Hz-800Hz 可选110Hz -1860Hz 可选100Hz to 2200Hz 可选100Hz to 3000Hz 可选10Hz to 1500Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选15Hz to 2000Hz 可选200Hz to 16KHz 可选EOPC扫描振镜产品应用:微型激光扫描仪3D激光成像激光雷达生物医学成像共聚焦显微镜机器视觉及机器人智能交通系统共振扫描振器特别适用于专用的大批量OEM工业应用,这些应用可以轻松集成到小型手持式和便携式仪器,子系统和系统中。扫描仪用于连续检测系统,以执行 100% 检测,以使用一台扫描仪或多线扫描检测缺陷。对于大批量 OEM 制造,我们会考虑提供免费信息来构建驱动程序,将其整合到现有或新的驱动电子设备中,或将其构建为所需的尺寸。我们提供标准和定制的扫描系统:– 光学扫描仪相位锁定到稳定的外部时钟信号– 扫描系统,将两个相同频率的扫描仪锁定在主/从模式下以生成重复图案(例如:圆形或椭圆)– X,Y 扫描系统将两个扫描仪锁定为主/从模式以生成重复图案(例如: 光栅扫描或李萨如图案)– 由共振扫描仪和振镜扫描仪生成的X,Y光栅(面积)扫描系统光学扫描和偏转系统EOPC扫描振镜SC-SYS-1S 型号PLD-1S驱动器相位将任何共振扫描器(SC型,超小型扫描器除外)锁定到外部时钟信号,以提供稳定的扫描频率[子]系统。该系统可以在实验室中用作“独立”单元,也可以集成到更大的仪器/系统中。扫描仪是一个固定频率,从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。您需要指定确切的时钟频率(精确到小数点后 4 位)。不建议在温度敏感应用中使用此系统。请参阅:http://eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/driver_pld1s_cad.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld1s.htmlhttp://www.eopc.com/sys_pld1s_extern.html http://eopc.com/PLD-1S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SSC-SYS-2S扫描系统由两个相同的共振光学扫描仪(SC型)组成,扫描仪“A”和扫描仪“B”,在MASTER/SLAVE模式下锁定,以生成圆形或椭圆或锁定两个扫描仪相位或0度或180度。该系统可以用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器,或集成到更大的仪器/系统中。两个相同的扫描仪各有一个固定频率,从10 Hz到16 kHz的范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备,并且不会辐射任何电磁干扰(EMI)。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于 1 弧秒。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。请参阅:http://www.eopc.com/sys_pld2s_master.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s_cad.htmlhttp://eopc.com/driver_pld2s.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜型号SC-SYS-2SXYSC-SYS-2SXY扫描系统由两个不同频率的共振光学扫描仪(SC型,超小型扫描仪除外)组成,锁定在MASTER/SLAVE模式下以产生重复图案,例如:光栅扫描或李萨如图案。扫描仪“X”是高频,扫描仪“Y”是低频。两个扫描仪各有一个固定频率,从 5 Hz 到 16 kHz 范围内选择。它们是体积小、重量轻、成本低、寿命长的设备。它们需要低功耗驱动电子设备,并且不会辐射任何电磁干扰(EMI)。扫描仪具有高振幅稳定性和非常低的振幅抖动 摆动小于1弧秒,该系统可用作实验室中的“独立”单元或便携式仪器,或集成到更大的仪器/系统中。扫描仪具有红外、可见光、紫外和高真空功能。提供参考信号和位置输出。X,Y扫描系统为涉及光束偏转的应用提供廉价的高性能:电视,HDTV,用于2D和3D扫描对象,用于分色,生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上,生成数据和/或将数据直接传输到生产单元(CAD / CAM)以及检测系统等等。扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统以及高速、高分辨率显示系统和机器视觉。参见:http://www.eopc.com//sys_pld2sxy_raster.htmlhttp://www.eopc.com/driver_pld2sxy.htmlhttp://eopc.com/PLD-2S%20DRIVER%20data%20sheet.pdfEOPC扫描振镜模型SC-SYS-XYGSC-SYS-XYG 扫描系统锁定共振光学扫描仪(SC 型),用振镜锁定共振扫描仪以生成 X,Y 光栅扫描。 PLD-XYG 驱动器将谐振扫描振(固定高频,“X”)与振镜(线性扫描仪,“Y”)锁定,以生成光栅扫描(X 和 Y,如电视屏幕)。您可以使用我们制造的任何“X”方向共振扫描振器,但最常选择8 KHz和16 KHz的SC-30型高频共振扫描振器。SC-30型高速共振扫描器具有连续的正弦波运动。扫描仪的谐振频率由每帧所需的线数乘以所需的帧速率决定。振镜扫描仪的频率(Y 轴的帧速率)由共振扫描仪生成。它是一种具有快速飞返的波浪形式(恒定速度)的斜坡类型。我们提供的基本光栅扫描系统包括以下内容:-共振扫描器-振镜-两个扫描器的支架-带电源的PLD-XYG驱动器盒-附加功能是可选的。PLD-XYG驱动器与前面板扫描角度控制完全集成(遥控器是可选的)。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器(X轴,高频),以扫描器的谐振频率,并且还产生Y信号以驱动振镜扫描器(Y轴,低频)。PLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出,并且可选配远程扫描角度(振幅)控制。无需外部函数发生器即可操作XYG系统。对于 OEM 制造,我们可能会考虑提供免费信息来构建驱动程序,以便您可以将其整合到您的驱动电子设备中或将其构建为所需的尺寸。要构建XYG扫描系统,我们需要知道:-每帧的行数-对于(X)共振扫描器:扫描角度[度,PTP光学]光束尺寸,所需的镜子尺寸[mm]波长和激光功率(源)频率[Hz]固定频率共振扫描镜:增强型铝保护涂层镜是我们的标准镜子镀金(保护)和镀银(保护)镜子,铍/金属镜,是可选的或客户提供的。-对于(Y)振镜扫描仪:帧速率(扫描仪X的频率与扫描仪Y的频率之比)。振镜:银镜是标准配置。-对于激光(源):光束尺寸[毫米] 光束功率 波长[nm]参见:http://eopc.com/sys_pldxyg_raster.htmlhttp://eopc.com/driver_pldxyg_cad.htmlhttp://eopc.com/SC-SYS-XYG%20SCANNING%20SYSTEM%20data%20sheet.pdf http://eopc.com/PLD-XYG%20DRIVER%20data%20sheet.pdfPLD-XYG 驱动器具有用于 X 和 Y 扫描仪的模拟位置输出,并具有可选的远程扫描角度(振幅)控制。它与前面板扫描角度控制完全集成,遥控器是可选的。驱动器以自振荡模式操作谐振扫描器(X轴,高频),以扫描器的谐振频率,并在锁相模式下生成Y信号形式以驱动振镜扫描仪(Y轴,低频)。无需外部函数发生器即可操作系统。应用:扫描系统为无限应用提供廉价的高性能:HDTV,2D和3D成像,光刻,颜色分离,高分辨率显示系统,激光扫描,生成存储在计算机内存中的图像并将其投影到屏幕上,生成数据和/或将数据直接传输到生产单元(CAD / CAM)和检测系统。高速、高分辨率显示系统和机器视觉。许多应用是在红外和紫外波长,高真空或低温条件下。系统可以安装在移动的车辆、检测系统的移动臂或机器人上。 扫描系统用于机器人、医疗非侵入性研究和测试、运输、非冲击打印和激光扫描、检查系统和机器视觉。许多航空航天和军事应用都是在红外和紫外线波长,高真空或低温条件下。
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  • **********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的探针尖端发出,NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制,因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验,通常有四种NSOM操作模式: * 透射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明,光通过样品并与样品相互作用后被收集探测;* 反射模式成像&mdash &mdash 样品经过探针照明,光从样品表面反射并被收集探测;* 收集模式成像&mdash &mdash 样品经远场光源照明(从上或下面均可),探针将光信号从样品表面收集;* 照明收集模式成像&mdash &mdash 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光; 在近场光学领域,部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成,因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测,通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数:原子力扫描表征-接触模式(可选)-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体,使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射,例如应变硅纳米刻蚀-纳米&ldquo 笔&rdquo 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等,并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强,通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 (3D 扫描台&trade )-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台(3D 扫描台&trade )模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位: XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位:-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈(标准)-激光反射反馈(可选)常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品:例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针,针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率;50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米(RMS)-XY 横向分辨率:根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高,要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 º C-测量阻值改变速率为0.38 &Omega /º C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学,共聚焦光学,近场,微区拉曼,扫描电子显微镜(SEM)或者聚焦离子束(FIB)整合优势 -样品扫描台上下光路开阔,可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将多形式的光学显微镜整合在一起,包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了多种标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有多种常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置,下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描,无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT, APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点: 独特的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试,光纤探针各自独立控制,可以同时分别、独立进行如滴液、加压,电学,热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔,可以将上,下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上,在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描,光学测量,力学测量,热学电学测量等测试手段,节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换,不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是优势技术,并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作,即可以探针不动,样品移动;或者样品不动,探针移动。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高,Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台,XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式,在所有AFM 电镜中是独特的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈,具有噪音大,调试困难,受干涉情况;尤其在液体中或者做光学测试的时候,例如近场光学,AFM-Raman测试中,容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病,安装简单,结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道,光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型,用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针,也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针,提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um,非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌,而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道,可同时和正置与倒置显微镜配合使用,实现透射式、反射、照明模式、收集模式(Nanonics独有的)等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能,这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性,可与拉曼光谱仪整合,例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描,拉曼Mapping,自动共聚焦,提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman,并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台,AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品,这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术,与其他涂层探针相比,不会因在长时间使用后,受到激光影响而脱落,更为稳定,效率更高。配合独特的扫描台设计,可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其独特功能。
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  • Polytec全场扫描式激光测振仪PSV-500 德国Polytec公司专业从事研发和生产激光测振仪,拥有超过50年的专业技术经验,已成为世界公认的非接触式激光测量技术的领导者,代表了激光非接触式振动测量的最高技术水平! PSV-500是Polytec全场扫描式激光测振仪的第五代产品,是全球第一台全数字式扫描式激光测振仪! PSV-500可在距目标0.125米~50米距离上测试,一次扫描完成从几个厘米小器件到数十米大结构的模态测量,测量点数可多达数十万点。用户无需建模,可在实物视频图像上快速、直接完成测量网格布置,并以每秒30点以上速度扫描,具有极高的工作效率! 扫描完毕后迅速以生动的三维动画或二维彩色图片等多种方式显示振型。该系统具有测量直观、高动态范围、高精度和高效率等技术优势,适应于物体的离面振动模态分析。 PSV-500让模态测试变得很简单 与传统多通道接触式传感器相比,PSV-500的操作更直观、更简单。启动系统、获取形貌数据、定义扫描网格-即可开始扫描测试。交互式设置 通过导入CAE/FEM文件或使用系统内的形貌扫描单元来获取被测物形貌数据。直接在视频图像上定义扫描区域,设置扫描点的密度、布点方式等。通过对话框一次性完成带宽、分辨率、振动激励、通道等参数的设置。快速扫描 整个扫描过程由系统自动完成。扫描过程中,激光始终保持最佳聚焦状态,信噪比始终保持最佳,并实时显示振动信号及参考信号的时域和频谱图。在宽带激励时,PSV-500完整记录每个测量点的频谱信息及被测表面的振型。快速扫描模式可在最短时间内输出振型(几秒内可扫描数百个测量点)。完美可视化 PSV软件包提供给用户大量的振动信息:各部位的振动状态,振幅大小及频率响应,各阶频率振型,传递涵数等。可显示任意频率下的频谱图,且能分析出共振点的位置,并将测量结果以图表、图形和动画的形式显示出来。这些图片和动画均可应用于演讲和报告,给人留下深刻印象。灵活分析 Polytec信号处理器是高性能分析工具,对测试结果做大量的数学和统计运算。系统配有开放式数据存取接口,测量结果可导入至外部软件包或公司内部软件,用于模态分析、声场或功率流计算。 PSV-500共有四种型号,每种型号都可根据用户需求安装大带宽数字解码器。 型号氦氖扫描头红外扫描头PSV-500-(N)A50kHz(100kHz), 12m/s50kHz(100kHz), 30m/sPSV-500-(N)B50kHz(100kHz), 12m/s50kHz(100kHz), 30m/sPSV-500-(N)H100kHz, 12m/s100kHz, 30m/sPSV-500-HV25MHz, 12m/s25MHz, 30m/s PSV-500的应用:振动无处不在● 汽车行业- 汽车刹车片、发动机等零部件的模态测试 - 确定噪声来源和声频特性提高NVH性能● 航空航天工业- 航空发动机、涡轮叶片等模态测试● 数据存储系统 - 硬盘读写头的动态特性测试和振动分析● 回转体的动态特性测采用光学旋转解码器PSV-A-440对回转体进行跟踪采样,获取回转体的动态特性● 机械设备、精密器件、大型结构等的整体及其零部件的振动状态测试- 洗衣机、真空吸尘器、电动牙刷或电气工具的性能优化和质量控制● 超声马达、超声波测试等● 建筑物、桥梁或者其他大型户外构筑物等振动测试● 声学领域- 小提琴等乐器的振动测试及振型优化● 生物医药领域- 听力测试等 宝利泰测量技术(北京)有限公司Polytec China Ltd.北京市东城区朝阳门北大街5号五矿广场B座4层402室(100010)电话: 黄女士传真: E-mail: 中文网址:
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  • 仪器简介:我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜(SPM)领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年,在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像;同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统;提供近场光学(NSOM)/原子力显微镜(AFM)低温系统,Raman-AFM系统,多探针AFM系统和扫描电镜(SEM)/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一,其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下,今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质,其产品涉足的领域从科研到工业,从生物学到半导体,从化学制品到无线电通讯,应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM,近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器,我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中,为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司,我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学(NSOM)探针到热学,电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始,我们就区别于其它竞争对手,为你提供高素质的技术专家安装设备,提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的探针尖端发出,NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制,因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验,通常有四种NSOM操作模式: * 透射模式成像 样品经过探针照明,光通过样品并与样品相互作用后被收集探测;* 反射模式成像 样品经过探针照明,光从样品表面反射并被收集探测;* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可),探针将光信号从样品表面收集;* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光; 在近场光学领域,部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成,因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测,如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测,通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数:原子力扫描表征-接触模式(可选)-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射,反射,收集,激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体,使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射,例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等,并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强,通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 (3D 扫描台&trade )-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台(3D 扫描台&trade )模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位: XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位:-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈(标准)-激光反射反馈(可选)常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品:例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针,针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率;50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米(RMS)-XY 横向分辨率:根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高,要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学,共聚焦光学,近场,微区拉曼,扫描电子显微镜(SEM)或者聚焦离子束(FIB)整合优势 -样品扫描台上下光路开阔,可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起,包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置,下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描,无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT, APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点: 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试,光纤探针各自独立控制,可以同时分别、独立进行如滴液、加压,电学,热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔,可以将上,下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上,在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描,光学测量,力学测量,热学电学测量等测试手段,节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换,不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术,并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作,即可以探针不动,样品移动;或者样品不动,探针移动,其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高,Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台,XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式,在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈,具有噪音大,调试困难,受干涉情况;尤其在液体中或者做光学测试的时候,例如近场光学,AFM-Raman测试中,容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病,安装简单,结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道,光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型,用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针,也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针,提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um,非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌,而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道,可同时和正置与倒置显微镜配合使用,实现透射式、反射、照明模式、收集模式(Nanonics独有的)等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能,这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性,可与任何拉曼光谱仪整合,例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描,拉曼Mapping,自动共聚焦,提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman,并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台,AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品,这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术,与其他涂层探针相比,不会因在长时间使用后,受到激光影响而脱落,更为稳定,效率更高。配合独特的扫描台设计,可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。
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  • 硬件解码,解码速度200次/秒。可识别PDF417/MICRO PDF417/DATAMXTRIX/QR/MAXICODE/AZTEC等二维码
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  • Polytec三维全场扫描式激光测振仪PSV-500-3D德国Polytec公司专业从事研发和生产激光测振仪,拥有超过50年的专业技术经验,已成为世界公认的非接触式激光测量技术的领导者,代表了激光非接触式振动测量的最高技术水平!PSV-500-3D三维全场扫描式激光测振仪,基于非常成熟的PSV扫描式测振技术设计而成,兼具PSV-500所有功能,堪称目前世界上最顶尖的三维测振技术!系统采用三台独立的高精度激光干涉仪,计算机控制这三路激光在扫描过程中始终照射在目标的同一位置,扫描完毕后,由软件自动完成多区域扫描三维数据的拼接,迅速输出三维振型。用户无需建模,直接在实物视频图像上快速完成测量网格布置,操作简单直观。此外,PSV-500-3D还可通过激光扫描建立目标三维轮廓数据,是一款用于复杂结构的三维振动模态测量的不可替代的工具! PSV-500-3D让模态测试变得很简单 与传统多通道接触式传感器相比,PSV-500-3D的操作更直观、更简单。启动系统、获取形貌数据、定义扫描网格-即可开始扫描测试。交互式设置 通过导入CAE/FEM文件或使用系统内的形貌扫描单元来获取被测物形貌数据。直接在视频图像上定义扫描区域,设置扫描点的密度、布点方式等。通过对话框一次性完成带宽、分辨率、振动激励、通道等参数的设置。快速扫描 整个扫描过程由系统自动完成。扫描过程中,激光始终保持最佳聚焦状态,信噪比始终保持最佳,并实时显示振动信号及参考信号的时域和频谱图。在宽带激励时,PSV-500-3D完整记录每个测量点的频谱信息及被测表面的振型。快速扫描模式可在最短时间内输出振型(每秒钟可扫描数百个测量点)。完美可视化PSV软件包提供给用户大量的振动信息:各部位的振动状态,振幅大小及频率响应,各阶频率振型,传递涵数等。可显示任意频率下的频谱图,且能分析出共振点的位置,并将测量结果以图表、图形和动画的形式显示出来。这些图片和动画均可应用于演讲和报告,给人留下深刻印象。灵活分析 Polytec信号处理器是高性能分析工具,对测试结果做大量的数学和统计运算。系统配有开放式数据存取接口,测量结果可导入至外部软件包或公司内部软件,用于模态分析、声场或功率流计算。 PSV-500-3D的应用领域 起初主要用于测量汽车、飞机及其零部件的振动特性的3-D扫描式激光测振仪,如今已成为通用的、不可替代的振动测量工具。PSV-500-3D测量快速、操作简单,而且还可以搭配工业机器人实现完全自动化测试。原来可能需要几周甚至几个月的测试任务(如大型物体的模态测试),如今仅需几个小时便可高精度完成。 汽车发展 汽车车身及零部件的试验模态分析 刹车盘、轮胎、车门等噪音控制 特别优势:全自动化控制、高效率、多路输入输出、不受被测表面影响、CAE接口、模态分析 电子设备和数据硬盘 动态测试及振动分析,如:硬盘驱动的读写头 健康监测:印刷电路板、汽车及飞机内部电子设备的缺陷分析 特别优势:极小体积物体的振动测量,部件间的相对运动,宽测量频带 航空航天业 航天航空零部件的结构动力学测试 航空材料的疲劳及缺陷检测 特别优势:对轻型、温敏结构无任何附加质量影响 可在真空环境下测试超声应用 超声传感器、超声制动器、超声工具、超声马达的振动特性测试及优化 产品设计、医疗科技和车辆构造 特别优势(PSV-500-3D-M):宽频带、测量点高精度定位、小样品测试 3-D扫描式测振系统-您当前和未来的选择! PSV-500-3D采用开放式设计思想,是功能强大的数据采集平台,可以无缝集成至IT环境中。系统提供连接CAE/FEM软件包输入接口,或直接通过集成的形貌扫描单元,以获取被测物的三维形貌数据。所有的测试结果均可应用于第三方软件。此外,PSV软件包括高性能信号分析模块,对测试结果进行大量的数学运算以作后处理。3-D扫描式系统有两种配置:一种适用于结构动力学和声学振动测量(PSV-500-3D-H);另一种适用于高频振动测量(PSV-500-3D-HV)。型号氦氖扫描头红外扫描头PSV-500-3D-H100kHz, 12m/s100kHz, 30m/sPSV-500-3D-HV25MHz, 12m/s25MHz, 30m/s 宝利泰测量技术(北京)有限公司Polytec China Ltd.北京市东城区朝阳门北大街5号五矿广场B座4层402室(100010)电话: 黄女士传真: E-mail: 中文网址:
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  • 设备组成:瑞士Nanosurf公司生产的NaioSTM 型一体化扫描隧道显微镜一套,具体结构组成如下:1、一体化控制器;2、扫描隧道显微镜扫描探头;3. 自带大理石防震基座与防震阻尼底座;4、样品台;5. 标准样品(HOPG与金样品)6. 针尖7、测量分析软件光盘;8、电子版产品说明、使用手册;技术指标:* 集成控制器、扫描器、样品台与防震隔声装置与一体的扫描隧道显微镜系统;* 扫描器XY向测量范围:500nmX500nm* 扫描器XY分辨率:7.6pm分辨率;* 扫描器Z向测量范围:200nm * 扫描器Z向分辨率:3pm;* 最大电流:100nA;* 马达控制自动逼近;* 样品台尺寸: 10mm直径;* 最大样品厚度3mm;* 测量模式:恒电流模式与等高模式;* 谱线测量模式:电流-电压曲线, 电流-距离曲线;* 采样成像点数最大2048X2048;最大谱线测量点数32768;* XY斜率补偿功能:硬件补偿,保证样品倾斜的准确测量;* 软件测量及分析软件;* 自带防震大理石机构与阻尼防震基座;* 软件接口:USB接口,与台式机或笔记本即可联用工作,多系统支持;* 机台尺寸204mmX204mmX104mm,重量仅3.45kg,方便移动到任意位置测试;北京亿诚恒达科技有限公司:
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  • vivaCT 80是提供最大的视野的活体内microCT扫描器(80 mm)和最佳的决议(5 μm)因此在它的类别并且是老鼠、鼠和兔子活体内X-射线微计算X线体层照相术想象的最多才多艺的扫描器。vivaCT 80受益于狭窄的锥体光束孔径角几何和最佳的图象质量的机械上可调整的视野在低辐射剂量。 新的扫描器技工支持在中间和低分辨率的快速的扫瞄速度。新的联合监视和给装门的系统允许至善至美动物处理和高生产量。 互换性的单位给同时监测多个动物的可能性: 当扫描主题,下一个可以沉着,并且时它的温度和心率可以被监测和被记录。 动物然后被装载入扫描器用它热忱的监护系统,因而使整体准备过程更加高效率。 观察照相机、热化,周围温度监视和呼吸装门也在系统集成并且从接触显示是受控的。
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  • 硬件芯片解码,解码速度300/s。可识别EAN-8 EAN-13 UPC-A UPC-E CODE39 CODE93 CODE 128 EAN128 等一维条形码及其预设前置码。USB通讯及供电
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  • 技术参数:测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式:样品扫描测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸:直径20mm,厚度10mmXY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进:0.3um扫描范围:100×100×10um(三维全量程闭环控制扫描器),3×3×2um(低电流模式扫描器)XY方向非线性度:≤0.1%(闭环控制扫描器)Z方向噪音水平(带宽10~1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.03nm,最大0.04nm),低电流模式扫描器(0.02nm)激光光路系统:电动调节,全自动准直视频显微系统:软件控制电动变焦和连续变倍,软件控制变换视野,分辨率2um样品温度控制:室温~150℃主要特点:全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路(悬臂—激光—四象限光电探测器)软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式,软件自动调节最优参数人体工程学设计
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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  • 产品优势◆ 小型化及可拆卸化设计,非常便于携带及课堂教学◆ 检测头和样品扫描台集成一体,结构非常稳定,抗干扰性强◆ 单轴驱动样品自动垂直接近探针,使针尖垂直于样品扫描◆ 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品◆ 侧面CCD观察系统,实时观察探针进针状态与定位探针样品扫描区域◆ 弹簧悬挂式防震方式,简单实用,防震效果好◆ 集成扫描器非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%技术参数应用案例
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  • Solutionix C500 全自动蓝光三维扫描仪C500专为中小型物体而设计的全自动3D扫描器凭借强大的扫描引擎和低成本、高效益的高CP值,新扫描器是针对功能爱好者和入门级用户的理想选择。200/500万点高阶双镜头模块提供高质量的扫描细节运用新的光学技术已非一般雷射系统所能比拟,实现无噪声3D扫描资料。自动化扫描平台全新C500 拥有全自动化扫描平台,体积轻巧,只需一个按键即可完成物件扫描,简单又快速。大范围扫描提供100mm,200mm,400mm扫瞄范围,适用于中小型物件。色彩以全新技术捕捉扫描数据鲜艳的色彩质感,可以根据物件的颜色选择数据处理的方法来扫描。智能主动侦测扫描路径的错误,并自动执行正确的扫描路径。高效能的CCD摄相机装备高质量CCD相机能够精密及精确测量并撷取更细致扫描细节。创新设计舒适简洁的外观设计适用于任何办公室环境操作更简易的安装步骤与设定。全新软件操作界面全新软件操作界面,更直觉、快速、简易的操作环境,让您有更好的操作体验。蓝光扫描科技全新蓝光扫描技术,减少了表面喷涂时间无论是黑色物体或是多颜色物体皆可直接扫描。机械手臂于自动化生产的过程中,机器人系统集成是一个有吸引力的方案,为企业自动化的生产流程,我们也提供了API界面,提供自动化控制系统使用。Solutionix C500不需要更多复杂、费时的校正。一旦放置校正面板,只需点击校正向导,即可自动引导校正程序准确对合,不需要标记点。适用于高精度的中、小型物体,是全自动化扫描器中不二选择。自动路径检测和校准使用者透过简单鼠标点击动作就可得到物件的3D数据。第一次扫描后,缺少的部分自动检测功能开起时,会自动补充额外扫描,使用者还可以选择手动添加增加新的扫描路径到设定值。 质量检验利用3D扫描数据,可以自动化测量检验产品。比较CAD模型和实际物品的差异,差异性会以色偏差图呈现。可以发现在设计阶段的系统或造型中可能发生结构、功能性缺陷并且产生解决方案。 逆向工程逆向工程使您能开发新产品、修正加工数据,缩短开发、设计到批量生产的时间,并有效降低成本,也可应用于更新旧有产品尺寸。过去无法提供3D CAD档案或是尺寸的旧有产品,现在都能透过扫描设备收集各种材料的详细尺寸。 定制集成新的API用户可使用Solutionix提供的 API来控制 C500 和处理扫描数据。此外,能于使用各种软件和插件的过程中,导入使用者自己的扫描应用程序。 技术规格Solutionix C500 具有不同的细节。对应各种工件大小,可以选择不同扫描范围的扫描设备。镜头像素5 M光源来源蓝光LED扫描科技多向扫描扫描范围90 / 175 / 350 / 500设备尺寸315 x 270 x 80设备重量2kg色彩纹理√旋转平台3轴自动旋转校正系统全自动校正传输界面USB3.0输出格式STL作业系统Window 10电源供应AC 85V~265V(自动切换)
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  • PluraScan 条形码阅读器* 二维数据矩阵条形码的阅读器* 匹配WHEATON KeepIT 81 & 100 Boxes 和WHEATON CryoELITECryogenic 瓶 and Cryule安瓿瓶* 灵活的软件集成* 适用于多种软件* 阅读广泛的生产商和标签印刷厂生产的二维码技术参数订货号规格/ 描述单位包装数量W986010-FPluraScan 阅读器台 1代码格式 SingleScanPluraScan一维线性格式√ - 二维数据矩阵格式√ √ ISO 16022 格式√ √ 方形丨矩形格式√ √ ECC 200 格式√ √ 0-20 网格尺寸√ √ 黑白格式 √ √ 数字格式 √ √ 字母数字格式 √ √ 感应类型130 万像素CMOS 感应器CCD 图像感应器光源 630nm 处Class 2M 可见激光二极管CCFL尺寸(W×D×H) 61mm x 167mm x 41.2mm75cm x 50cm x 30cm电源 USB Hub (5V)交流电100 -240V,少于8W用户界面键盘插槽WHEATON GUI, 包括Windows 操作系统接口USBUSB 2.0丨USB 1.1(B 型) 操作系统兼容Windows 操作系统以及非windows 操作系统Window7,2000,XP工作温度5-50℃储存温度-20-65℃工作湿度(无冷凝)5-95℃
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  • 同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜(SPM)具有很高的分辨率,实用性强,从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置,仪器成本合理,适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统,测量准确性,而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。 使用Innova检测样品时,从亚微米级的小尺寸样品到90微米的大尺寸样品,都可进行实验操作,且获得原子级分辨率,测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件;替换探针或样品等操作简便易行;集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统,可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域高分辨率 Innova的机电设计,包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台,超低噪音电子器件,都做了优化,具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用的超低噪音数字闭环线性化扫描,不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置,对样品均可准确测量,高分辨成像。性能 Innova 机电设计的方面,包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件,都做了优化,得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。 Innova利用的超低噪音数字闭环线性化扫描,达到对尺寸均可准确测量,而不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像,并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外,闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描,而不用更换扫描器,且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转,图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。行业应用:您的应用是什么—Innova都已准备好:• 材料科学• 纳米刻蚀• 生命科学• 聚合物• 器件表征
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  • 仪器简介:Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的,无需制备样品。此外,机械运动平台允许批量的,预编程测量,使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域,用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单,是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司,全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商,在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验,一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持,同时还提供纳米技术的OEM 客户定制,外包等业务。技术参数:原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜,真正非接触式原子力显微镜,横向力/摩擦力显微镜(LFM),导电原子力显微镜,磁力显微镜(MFM),开尔文探针(Kelvin Probe),扫描热原子力显微镜(SThM),电容和静电力显微镜(EFM),高级的纳米光刻和纳米操作能力,音叉原子力显微镜,三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围:110um X & Y range,22um Z range ● 大尺寸样品台,全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台,马达驱动 ● 专利批处理软件,自动图像拼接缝合技术,可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器,专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统, XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点:● 原子力显微镜扫描器最大测量范围:110um X & Y range,22um Z range● 大尺寸样品台,全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台,马达驱动● 专利批处理软件,自动图像拼接缝合技术,可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器,专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统, XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发
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  • 产品说明扫描镜是扫描成像显微镜必须使用的成像镜头。随着精密仪器对体积和重量的要求,很多小型仪器中需要使用微型扫描镜与微型物镜搭配使用,实现所需视场范围的成像。TVS-MSLE系列微型扫描镜作为微型化双光子系统的核心光学元件,在宽光谱(740-1050 nm)范围内具有高性能、大扫描角度、高远心度等特点,以确保通过扫描器件(MEMS或Galvo)后的激光能准确进入到成像物镜中,实现高质量的成像。TVS-MSLE系列微型扫描镜与TVS-MOBJ系列微型物镜可组成高分辨、大视场成像系统,分别使用两款不同焦距的扫描镜与TVS-MOBJ-3 X物镜配合,实现物方0.7和0.45 NA分辨率的成像,原理图如下:产品应用微型化双光子显微镜、双光子显微镜共聚焦显微镜、宽场荧光显微镜拉曼显微镜产品优势体积小、重量轻扫描角大:≥10°像方远心定制化:可根据用户需求定制其他参数的微型扫描镜
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  • 傅里叶红外被动扫描遥测成像仪基于傅里叶红外变换光谱技术,利用待测气体与遥测背景之间的等效辐射亮温差产生的红外光谱指纹特征信息,实现对多种有毒有害气体的快速扫描定性识别和半定量浓度反演,并实时呈现有毒有害气体在扫描区域的动态分布及扩散趋势,并对超标气体进行光声预警。应用领域:适用于危险性无法判知的情况下,远距离无接触式的对危险空间进行风险评估,获取空间区域内危险气体分布及对应的化学组分的扩散趋势。项目参数测量组分光谱数据库包含300多种组分,挥发有机物(VOCs)、硫化物、氮氧化物、苯系物等工业污染气体,以及沙林(GB)、芥子气(HD)、维埃克斯(VX)等化学毒剂(可按需定制)最大遥测距离3km最低检出限ppm*m量级;以氨气(NH3)为例,1ppm(云团厚度50m,温差2℃,充满视场)噪声等效温差20mk光谱分辨率1cm-1测量波段8~15μm(常规气体),3.5~15μm(高温热烟羽)微光夜视系统分辨率1920×1080,变焦12倍扫描范围水平360°,俯仰-45°~+45°,精度±0.01°探测器制冷方式斯特林制冷机(斯特林制冷工作寿命不小于8000小时)红外光谱视场角10mrad(0.57°,1km处视场直径10m)红外光谱准直系统φ80mm运动中检测3级公路,时速≤30km(选配)工作温度-20℃~+55℃
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  • 产品说明TVS-SMM系列MEMS二维扫描振镜是一种基于静电力式的矢量扫描器件,具有四个静电双向旋转器,通过特殊的硅支架连接。当给定稳态模拟高压驱动信号MEMS镜像会产生的稳态模拟转角,并且高度可重复。同时,它也可以工作在谐振模式下,器件在较低的工作电压下即可得到更大的扫描角度。因此,通过改变驱动信号的形式,可以很容易的得到3种扫描模式,即点对点扫描模式(双轴准静态)、栅格扫描模式(快轴近谐振,慢轴准静态)和李萨如扫描模式(双轴近谐振)。该MEMS扫描镜具备体积小、扫描角较大、双轴可同时兼容准静态及谐振控制、功耗极低等特点,在生物成像、激光雷达、抬头显示等领域具有很大应用空间。产品应用激光雷达、激光测量、抬头显示、投影双光子成像、共聚焦成像、光学成像产品优势体积小、重量轻:集成款基于LCC20封装,集成度高控制形式丰富:双轴都可以转静态或谐振控制,支持3种扫描模式速度与扫描角的平衡:多款型号可选,可以同时满足扫描频率与扫描角的要求低功耗:基于静电力式驱动,功耗基本可忽略不计定制化:输出接口可定制化
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  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率) 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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