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门积分平均器

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门积分平均器相关的耗材

  • 高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球如海光电
    IS-38-INT积分球IS-38-INT积分球 (高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球)通过9.5mm入光口来接收光能量(波长范围200~2500nm),再经过内部漫反射后,将均匀的光能量到传送到输出端口。输入端口采用SMA905连接器,可直接耦合到光谱仪中,方便使用。该产品可用于测量发光二极管等光源的光谱特性,光通量,色温,光谱分布等参数。产品特点? 材料:漫反射朗伯特性材料 反射率~97%? 外壳:光亮发黑? 内胆直径:38mm? 输出接口:SMA905? 固定孔位:M3, 间距25mm
  • 高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球
    IS-RFLT8C-50反射积分球IS-RFLT8C-50是8°反射积分球(高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球),采用的是反射测量的8/d的标准,8°角照明,散射接收。在相对于8°角光源对阵的方位上,设置光陷阱或者标准反射片,从而实现漫反射和全反射的测量。IS-RFLT8C-50积分球的特点是紧凑的尺寸和耐用的设计,所有的IS-RFLT8C-50积分球有两个SMA-905接口,光输入端有一个用于在光纤接入积分球之前校正光纤的8°角接口,光输出端口与输入端口成90°角(用于连接光谱仪)。另配有一个圆柱形的吸收盖,内部涂有黑色的吸光材料(用于吸收镜面反色光)。这个嵌入件刚好放入一个与积分球顶部成-8°角的接入孔中。每一个积分球都可与光谱仪一起组合成一个系统,用于测量置于积分球的采样口区域内的平面样品的综合反射率。这些积分球可测量杂色的样品及不透明或者高指向性的样品。产品特点? 光纤光学积分球:测量表面总的整体反射率? 积分球采样口直径:9.6mm? PTFE制造,可见光反射率98%。? 直径可选:38mm、50mm。
  • 奥谱天成高均匀性漫射源积分球
    高均匀性漫射源是直径φ500-1000mm的积分球,出口为φ50-200mm,在球内与出口平行的圆周平面上均匀的分布着12只光源,经球内面的多次漫反射之后,出口光斑的均匀性优于99.0%。
  • 高灵敏度积分球 如海光电 辐射积分球;反射/透射积分球
    IS-25-SBL1英寸漫反射积分球 1 产品简介IS-25-SBL是光谱辐射测量场景常用的配件(高灵敏度积分球;辐射积分球;反射/透射积分球;高均匀度积分球;紫外均匀积分球),采用卜型设计;与光谱仪和光纤组合完成光通量、照度、颜色和色温测量。 2 产品特点? 25mm内径,经济实用;? 朗伯特性漫反射材料,?97%的反射率;? 卜型设计。3 规格参数产品规格IS-25-SBL反射率~97%内胆直径25mm
  • 奥谱天成仪器附件球积分球
    这种积分球是专用光学仪器的附件,是为多种光学仪器配套设计的,球的材料有两种,一是我们研制的PTFE漫射材料,用机械加工成各种需要的形状,以满足各种需要,本品的光学性能很好,反射率高,光谱稳定性好,重复性好,可以大批量供货。另一类是金属积分球,在金属球壳的内壁喷涂PTFE漫射涂料,可以根据仪器光路要求设计很适用的附件球。
  • HS5628A积分数字声级计
    HS5628A积分数字声级计 产品介绍 HS5628A型积分声级计既是一种测量指数时间计权声级的通用数字声级计,又是能测量时间平均声级的积分平均声级计和测量声暴露的积分声级计,其性能符合GB/T17181-1997和IEC61672-2002标准对2级声级计的要求。 本仪器结构紧凑、造型美观、功能多,可用于环境噪声的测量,也可用于劳动保护、工业卫生及各种机器、车辆、船舶、电器等工业噪声的测量。 本仪器有两种测量方式: 1. 测量方式1:自动测量Lp、Leq、LAE、Lmax、Lmin、E。测量时间可设定为10s、1min、5min、10min、20min、30min、1h、8h、24h。Man (人工)。结果可显示或打印,可存储500组单组数据。 2. 测量方式2:连续自动测量Leq,测量时间间隔可以设为1s-10s,可以通过面板按键或通过电脑设置测量的起始时间、结束时间和时间间隔。测量结果可以显示、打印或输往电脑处理。可存储50000个等效声级。 二 主要技术性能 1 传声器:&Phi 12.7mm(1/2&Prime )驻极体测试电容传声器 2 测量范围:30dB~130dB (A)、 35dB~130dB (C) 3 频率范围:20Hz~10kHz 4 频率计权:A、C 计权 5 时间计权:快(F)、慢(S) 6 检波器特性:数字检波技术,峰值因数&ge 3 7 级量程分高、中、低3档,每档线性范围&ge 60dB。高:70dB~130dB 中:50dB~110dB 低:35dB~90dB 8 测量时间设定:测量方式1:10s、1min、5min、10min、20min、30min、1h、8h、24h。Man (人工)。 自动测量功能:Lp、Leq、LAE、Lmax、Lmin、E。 测量方式2:测量时间间隔为1s-10s,自动测量Leq 9 显示器:8× 2点阵式液晶数显 10 输出接口:RS232口打印输出 11 电源:3V(2节5号电池) 12 外形尺寸:l× b× h(mm) 160× 52× 25 13 质量:200g(含电池) 14 工作使用温度:-10℃~50℃、相对湿度20%~90%
  • IS系列高品质积分球
    IS 系列高品质积分球 用于紫外-可见-近红外宽谱段测量的积分球 复 享仪器IS系列高品质积分球具有覆盖紫外-可见-近红外(200-2500 nm)的宽谱段使用范围。IS系列高品质积分球采用进口高品质的PTFE材料,能在200-2500 nm波段内提供超高反射率。IS系列高品质积分球能够测量反射、透射、荧光和辐射光谱,在各行业中都有广泛的应用。 复享仪器IS系列高品质积分球端口都为SMA905标准接口(也可以定制接口)。垂直光路8°激发输入并且端口都配置了复享FIBH准直镜。输出端口为90°垂直积分球输出。 复享的产品远远优于市面上价格低廉的硫酸钡内胆积分球,从而获得更好的Lambertian 反射表面。主要区别如下: 1 内胆更高的反射率,更细腻的内部表面结构。 2 更稳定的材质不会因为与空气发生氧化反应而发黄变质。宽泛的适用性 每一个IS系列积分球都有宽泛的适用性,能够配合复享科技的光纤光谱仪和光纤光源一起组合成一个系统进行各种样品测量。适合于测量各种样品,例如粗糙样品 表面反射率、粗糙样品透过率、光源辐射等等。这些积分球非常适合测量杂色的样品,同样适合测量不透明或者高指向性的样品。 此外,带光陷阱的IS系列积分球还能够区分样品的镜面反射和漫反射,并加以分别测量。更多优惠信息:http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=IS 应用案例 复享有足够的附件和经验为用户搭建光谱测量系统 复享积分球测试陶瓷表面反射率比 复享积分球测试Lamda滤片透过率比 典型图谱:产品特点 1、积分球具有紧凑型设计,两个SMA905光纤接口,垂直光路8° 设计 2、积分球采用PTFE内胆材质,适用200-2500 nm波段 3、积分球适用于符合CIE标准的漫射照射/垂直测量模式和垂直照射/漫射测量模式 4、积分球适用于压花玻璃等毛糙样品的透过率测量 5、积分球适用于LED、灯泡等光源的辐射测量6、积分球具有丰富的选择,样品口直径尺寸6-10 mm(接受定制)产品性能产品参数 项目 值 尺寸: IS-20积分球: 直径:45 mm,高40 mm;IS-30积分球:直径59 mm,高58 mm;IS-50积分球:直径80 mm,高58 mm 构架: 330 g (IS-30) 730 g (IS-50) 730 g (IS-50-GT) 光谱范围: 200 – 2500 nm 内胆材料: 进口高品质PTFE制作积分球内胆 内胆直径: 20 mm, 30 mm, 50 mm, 三种积分球内胆规格 样品口直径: 6 – 10 mm,可接受客户对积分球样品口的定制 反射率: 98% (400-1500 nm) 95%(250-2500 nm)更多信息访问:http://www.ideaoptics.com
  • 积分仪
    我公司提供积分仪,价格优惠,欢迎定购!!!!!!!!!!!
  • 用于λ (Lambda)35分光光度计的积分球
    用于λ(Lambda)35分光光度计的50 mm积分球 本品可简化包括固体、粉末、糊状物和液体在内的各类样品的分析过程。该积分球用来测定散射透射率和漫反射率。本品带有Spectralon涂层,其波长范围为250-1100 nm。 用于λ(Lambda)35分光光度计的50 mm积分球订货信息:所适用的λ(Lambda)分光光度计的型号部件编号35分光光度计C6951014
  • 平均粒度仪配件
    平均粒度仪技术参数l 粒度测量范围:0.2μm(微米)─50μm(微米)l 孔隙度范围:0.25-0.40μm(微米)、0.40-0.80μm(微米)、0.80-0.95μm(微米)l 精度:3%l 工作环境:相对湿度不大于80%,温度:25±10℃l 电源:220v/50-60Hzl 功率:25wl 重量:12kgl 外型尺寸:755*400*260l 测试原理:空气通过法l .标准: GB 11107/GB 3249l 读取方式:读数板或数显平均粒度仪特点l 采用进口美式针阀控制气体流量l 直接读取数值或由测量软件读取数值l 静音稳压泵无振动,可持续提供稳定的测试压力l 对团聚的有吸附性或磁性的粉末也可以测量(只有费氏粒度仪)l 配置DPSK针盘式扭力计获得最佳孔隙度,解决了不同操作者压制粉末试样时的力量误差,使测量数据更趋准确。 平均粒度仪简介及应用范围AODE-305系列为第四代气体透过法粒度测定仪(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“空气透过法”,该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准:GB11107-89 /GB 3249-82/GBT 11107-2018/GB3249-2009和国际标准:ISO10070-91.仪器带有快速计算板,无须复杂计算,可直接读出粒径值,使用操作非常方便。Aode-305型平均粒度测试仪改进了在对被测粉末试样施压时使用无科学依据的压力校正器,采用DPSK针盘式扭力计,可使任何操作人员在对粉末测试过程中均可达到相同的压制力,得到同一种佳孔隙度,消除了人为误差,使被测粉末粒径更加准确,同时本仪器配有双向扩展读数板,孔隙度范围由原来的0.80—0.40μm(扩到0.95—0.80μm、扩到0.40—0.25μm),满足了对各种粉末的测试需求。平均粒度仪工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下,气体透过粉末压缩床,气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时,就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。
  • 用于λ (Lambda)分光光度计的扣入式积分球
    用于λ(Lambda)650/750/850/950/1050分光光度计的扣入式积分球珀金埃尔默的扣入式积分球系列是对众多样品类型进行全反射率、漫反射率和漫透射率测定的行业标准。150mm积分球是在玻璃制品行业内用来测定太阳光全反射率和透射率以及在汽车行业内用来测定喷涂薄膜的紫外透射率的建议附件。许多国家级实验室将其用于研究开发以及校准测定。60mm积分球用来进行漫反射率和漫透射率常规测定。该检测器球包括安装在次要样品室位置的扣入式模块内的一个60mmSpectralon检测器球。这可使主要样品室保持空闲以备用于诸如V-N绝对反射附件、透射样品夹具和起偏器/解偏器驱动装置等附件。特点和优势:测量范围:200-2500 nm(UV/Vis/NIR)、200-900nm(UV/Vis)InGaAs产品可在近红外范围内提供更高的灵敏度取样模式包括入射角为8°时的全反射和漫反射以及在正常入射角(0°)下的全透射和漫透射。用于λ(Lambda)650/750/850/950/1050分光光度计的扣入式积分球订货信息:产品描述部件编号150 mm积分球*L602020460 mm积分球L602020360 mm检测器球*L6020209150 mm InGaAs积分球*L602032260 mm InGaAs积分球*L6020323*不适用于λ(Lambda)750
  • 奥谱天成PTFE发泡积分球
    PTFE发泡积分球是一种新产品,它不同于用PTFE涂料喷涂的积分球,它是PTFE 粉料经改性、发泡,再机加工成球壳形,最后经抛光、清洗而成。其最大优点是涂层壁厚,永不脱落。本品的光学性能很好,反射高,光谱中性,稳定性好。不透光,效率高;涂层强度高,整体性好,不怕潮湿,甚至可以用于水底测量,还可以用于更恶劣的环境中,如酸、碱、盐水溶液中光测量。球体加工精度高,外形多变,可以适应各种仪器光路设计,在光学仪器中广泛应用。这种积分球的尺寸在Φ20-150mm之间。
  • 积分仪墨盒5181-1220
    产品特点:积分仪、积分仪配件和电缆信息的产生及展示从未如此重要。安捷伦了解数据处理备件是必不可少的。我们提供一种方便的途径使您可以在购买其他实验室备件的同时购买墨盒和积分仪备件,以确保您在紧要关头不出现短缺。墨盒 5181-1220订购信息:说明部件号墨盒,Agilent 3397A、3396 系列 III、3396A 和 B、3395、33945181-1220用于 3388A 和 5880A 的打印头19350-60540用于安捷伦 3397A,3396 系列 II 和 3396A/B/95/94 积分仪的打印纸和备件说明单位部件号Z 型折叠纸,按序号排列,8.5 x 11 英寸,500 张/包,喷墨5/包5062-3561穿孔纸,8.5 x 11 英寸,卷,喷墨4/包5181-1219穿孔纸,按序号排列,8.5 x 11 英寸,卷,喷墨4/包5183-2009穿孔纸,A4 型卷,Inkjet4/包5181-1255换纸卷轴03394-20500更换纸卷架2/包03396-40050用于安捷伦 3390/92/93 的热敏纸说明单位部件号热敏打印纸,蓝印,4.209 英寸(106.9806 mm)宽 x 400 英尺4 卷/包5080-8800用于安捷伦 338X/5830/3370 的热敏纸说明单位部件号Z 型折叠纸,黑印,8.5 英寸宽8 包/箱9270-0658
  • 积分球用粉末池
    HITACHI 紫外光谱仪 U-4100,U-3010,U-3310,U-3900,U-3900H 配用积分球。用于粉末材料漫反射测试。提供测试方法和聚四氟乙烯粉末用于基线测试。特别适合少量粉末的漫反射和漫透射测定。
  • Restek被动积分采样器22934 Soil Gas Sampling Kit 1
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 10 hour Tee fitting w/0.0014" orifice
  • Restek被动积分采样器22931 Soil Gas Sampling Kit 3
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 30 minute Tee fitting w/0.0055" orifice
  • Restek被动积分采样器22933 Soil Gas Sampling Kit 4
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 4 hour Tee fitting w/0.0020" orifice
  • Restek被动积分采样器22932 Soil Gas Sampling Kit 1
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 1 hour Tee fitting w/0.0040" orifice
  • Restek被动积分采样器22930 Soil Gas Sampling Kit 2
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 20 minute Tee fitting w/0.0065" orifice
  • Restek被动积分采样器22936 Soil Gas Sampling Kit O
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit OFFER customer PN 22931 as an alternative 30 minute Tee fitting w/0.0055" orifice Siltek treated
  • Restek被动积分采样器26264 Grab Sampling Kit Inclu
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0020" orifice 10 micron frit Stainless Steel
  • Restek被动积分采样器26265 Grab Sampling Kit Inclu
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0030" orifice 10 micron frit Stainless Steel
  • Restek被动积分采样器26282 Siltek Grab Sampling Ki
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Siltek Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0030" orifice 10 micron frit Siltek Treated
  • Restek被动积分采样器26266 Grab C Includes 6" samp
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Grab C Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0040" orifice 10 micron frit Stainless Steel
  • Restek被动积分采样器26287 Siltek Grab Sampling Ki
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Siltek Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0130" orifice 10 micron frit stainless steel
  • Restek被动积分采样器26286 Siltek Grab Sampling Ki
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Siltek Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0090" orifice 10 micron frit stainless steel
  • Restek被动积分采样器26267 Grab Sampling Kit Inclu
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0055" orifice 10 micron frit Stainless Steel
  • Restek被动积分采样器26336 Soil Gas Sampling Kit 3
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Soil Gas Sampling Kit 30 minute or 3 hour sampler Tee fitting w/0.0025" orifice
  • Restek被动积分采样器26269 Grab Sampling Kit Inclu
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/ 0.0090" orifice 10 micron frit Stainless Steel
  • Restek被动积分采样器26281 Siltek Grab Sampling Ki
    Restek 瑞思泰康 被动积分采样器 Siltek Grab Sampling Kit Includes 6" sample inlet fitting w/0.0020" orifice 10 micron frit Siltek Treated
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