热场法茎流计

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

主要特点:超高的分辨率最高0.5 nm (15 kV) and 0.7 nm (1 kV).高速精确分析能力稳定的大束流从磁性样品到非导体样品使用范围广泛技术指标：分辨率:0.6nm (15kV)0.7nm (1kV)放大倍数:25 to 2,000,000x加速电压:0.01 to 30kV束流强度:300 nA（15kV)或更高电子枪:浸没式热场发射电子枪物镜设计:超级混合式物镜（无漏磁）样品台:5轴马达驱动

Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（智能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH（闪调）自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo 2 SEM，任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料； 极佳的灵活性非常灵活的处理范围，样品类型广泛，包括绝缘体、敏感材料和磁性样品，收集最重要的数据； SmartAlign技术使用SmartAlign（智能对中）技术，实现光学系统自动调整，减少维护时间； 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH（闪调）技术； 实时定量EDS元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便； 长工作距离唯一在长工作距离（10 mm）具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率： 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）最大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于最低放大倍率29倍）X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为 340 mm 宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3 个（其中2个处于180° 对角位置）样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12 mm）最大样品尺寸，直径122 mm，可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度，到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统：样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3（选配）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器（选配）可伸缩透镜下背散射探测器（选配）控制系统： 操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

InTouchScope&trade 热场发射扫描电子显微镜 JSM-IT710HR 发布—一款好用的扫描电镜—日本电子株式会社(代表取締役社長兼COO 大井　泉)宣布：高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR于2020年8月3日开始全球销售。【开发背景】扫描电子显微镜广泛应用于纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等领域，从基础研究到工厂的品质管理等用途也在不断地扩展。不仅以研究为目的，快速高清晰图像的数据采集和更简便的元素分析的需求也在大大提高。 随着技术的不断创新，观察的样品也越来越小，微小样品的测定已经常态化。 基于此，浸没式热场发射扫描电子显微镜InTouchScope&trade 系列 JSM-IT700HR诞生了。JSM-IT710HR是最新升级版，功能更强大，操作更加简单。该设备最高分辨率1nm（高分辨）、最大探针电流300nA（是之前的15倍，告诉分析），可提供丰富的观测和分析信息。 触屏式用户界面操作，简单，设计紧凑，代表了现代仪器的使用趋势和发展方向；配备大样品室和更好的防震台，实现了从【能见】-【易见】的转变。 在操作导航GUI里增加了【信号深度显示】功能，实时了解在测样品的分析深度（参考），有效用于元素分析中。该机种有低真空观察型JSM-IT710HR/LV和低真空观察分析型 JSM-IT710HR/LA两种型号。【主要特点】 1. 浸没式大束流长寿命热场发射电子枪，可实现高清晰图像观察和高空间分辨率分析2. 光电连用功能（Zeromag），可实现快速的视野搜索3. 实时能谱功能（Live Analysis），实现高效元素分析4. 实时3D成像功能（3D Live image）5. SMILE VIEWTM Lab，易于生成从观察到分析的所有数据报告6. 样品更换导航使样品更换更安全简便7. 电子束自动对中可使电子光学条件维持最佳状态8. 大开门样品室可对应各种形状和大小的样品观察和分析详细技术指标及配置价格请咨询捷欧路（北京）科贸有限公司及其在各地的分公司。

SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品，配置超高分辨率与观察能力。此系列突破了传统SEM产品受安装样品尺寸与重量的限制，通过简单的操作即可实现数据采集。可用于钢铁等工业材料，汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。此外，SE系列包括4种型号（两种类型，两个等级），满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途（如微观结构控制：用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能；异物、缺陷分析：用于提高产品品质）选择适合的产品。产品特点：热场SEM支持低真空，搭载超大样品仓，可扩展实现更多功能电子显微镜是进行材料形貌评价与分析的重要手段，而且直接观察样品的需求很常见。SU3900/SU3800SE系列搭载牢固的多用途样品仓，对于非导电性样品，无需进行导电处理（金属镀膜）；对于超大超重样品，无需进行切割等破环处理，可以直接安装到样品台，实现样品的多角度观察。【SU3900SE/SE Plus】 ф300mm晶圆安装示例 在使用样品交换仓时 也可以安装高度45mm的样品。 130mm 高金属配件安装示例具有更高的分辨率和样品极表面信息观察的能力 此系列搭载新开发的热场电子枪，在高、低加速电压条件下，均可获得超高分辨率图像。高端型号（SE Plus）可以满足对样品极表面的观察需求。并且，标配的低电压高灵敏度背散射电子探测器，可以获取高质量的样品成分和凹凸信息。SE系列的探测系统，通过选配的UVD探测器，还可以获得样品多种类型信息，实现多种模式观察。自动化、辅助功能让操作更便捷SU3900/SU3800 SE系列配备自动光学系统调整功能，可大量简化操作流程。此外，使用选配功能【EM Flow Creator】，可以自动连续获取图像。将条件设置（如放大倍率，样品台位置等）、调整对焦/对比度等SEM功能转化为可组合的模块，生成一系列观察程序。每个客户都可以创建自己的观察程序。通过拖拽模块，可以像流程表一样创建程序。通过执行创建的程序，即可实现自动观察。①确定指定区域，以×300倍率拍摄低倍图像②以×1,000 拍摄同一区域的中倍图像③以×5,000 拍摄同一区域的高倍图像应用案例金属 铁丝断面 可以确认韧性断裂引起的微小孔洞电子元件 电路板 多层陶瓷电容器横截面通过低倍率、高倾斜观察，可以确认贴装元件的立体形状及位置 可以观察到镍电极/电介质层的成分和晶体衬度无机材料 氧化锌颗粒 高熵硬质合金薄膜可以观察到50 nm 左右的细小颗粒及立体形状 可以观察到不同成分/形状的多个颗粒的分布电池材料 锂离子电池正极材料 锂离子电池负极材料可以观察到正极材料颗粒与周围粘合剂的分布 可以观察到负极材料最表面的粘合剂

在研究先进材料时，首先需要对样品的表面形貌、晶体结构和化学成分有深刻的了解。无论您是想实现下一次技术创新，还是专注于产品研发和生产，这些性息都能帮助您更加了解初始材料的性能，评估缺陷，并确保成品的质量。 Thermo Scientic&trade Apreo&trade ChemiSEM&trade 扫描电镜实现了颠覆性的技术创新，简化了分析流程。通过全面集成用于高分辨率成像、元素分析和结构分析的软件和硬件，Thermo Scientic&trade Apreo&trade ChemiSEM&trade 扫描电镜提供了一个无缝衔接的简化工作流程，可以满足高通量、快节奏的实验室需求，并且可以对各种样品进行高效、可靠的分析。

此次推出的SU7000采用全新设计的探测器，使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。以前我们要根据不同的观察信号来调整样品与透镜之间的距离（工作距离／以下简称WD），以获得最佳的观察与分析条件，而SU7000通过新研发的样品仓以及检测器系统，可在同样的WD的条件下更高效地接收各种信号，缩短了样品观察和分析的时间，提高了测试效率。　而且，SU7000还配置了可同时6通道显示界面（前代机型只能同时显示4通道），进一步升级电镜控制系统，大幅提高了信号获取速度，由此实现了样品的高效率观察。它还标配超大样品仓，增设了附件接口，可适用于各种样品的观察与分析。主要特点：在相同的WD条件下，可同时实现二次电子，背散射电子观察与X射线能谱分析。可同时实现6通道检测与显示；成像分辨率最大可达10240x7680像素；配置18个附件接口，支持低至300Pa的低真空模式观察；（选配）

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断扩展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。　在细微结构分析中，SU8600可以实现低加速电压观察，对高分子等易受电子束照射影响的材料进行高分辨观察。该系列产品的特点如下：1．支持自动获取数据在FE-SEM的观察和分析中，需要根据测量样品与需求调整观察条件。调整所需时间的长短取决于用户的操作熟练度，这是造成数据质量与效率差异的因素之一。此系列产品标配自动调整功能，可避免人为操作导致的差异。此外，随着仪器性能的提升，需要获取的数据种类与数量也在增加，手动获取各种大量数据会大大增加用户的作业负担。此系列产品可选配“EM Flow Creator”，用户可根据自身需求设定条件，自动获取数据，这对于未来通过获取大量数据实现数据驱动开发起到重要作用。2．增加获取信息的种类与数量通过SEM能够收集到多种信号，且此系列产品最多可以同时显示和存储6个检测器的信号。在减少图像获取次数的同时能够获取多种信息。此外，为一次性获取大量信息，像素扩展到了40,960 x 30,720（选配），是之前型号的64倍。利用这一功能，可凭借一张数据图像有效评估多处局部的细微结构。3．增强信号检测能力　SU8600开发了多个新型选配检测器，加强了对凹凸信息、发光信息的检测能力。此外，还提高了背散射电子信号检测的响应速度。

国仪量子场发射扫描电镜SEM4000Pro场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流最大可达200 nA，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高，30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计，束流可调范围大，最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV，SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头（光学导航+样品仓内监控）行程X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mmT: -10°~+70°，R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器（ETD）低真空二次电子探测器（LVD）插入式背散射电子探测器（BSED）选配能谱仪（EDS）背散射衍射（EBSD）插入式扫描透射探测器（STEM）样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials Integration为代表，其应用领域及用途在不断扩展，短时间内获取大量数据，减轻作业负荷成为市场的一大需求。为满足这一需求，此次特推出的SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。SU8700可配置各种分析附件，适用于从低加速观察到高束流的EBSD分析，支持陶瓷、金属等不同材料的解析。该系列产品的特点如下：1．支持自动获取数据在FE-SEM的观察和分析中，需要根据测量样品与需求调整观察条件。调整所需时间的长短取决于用户的操作熟练度，这是造成数据质量与效率差异的因素之一。此系列产品标配自动调整功能，可避免人为操作导致的差异。此外，随着仪器性能的提升，需要获取的数据种类与数量也在增加，手动获取各种大量数据会大大增加用户的作业负担。此系列产品可选配“EM Flow Creator”，用户可根据自身需求设定条件，自动获取数据，这对于未来通过获取大量数据实现数据驱动开发起到重要作用。2．增加获取信息的种类与数量通过SEM能够收集到多种信号，且此系列产品最多可以同时显示和存储6个检测器的信号。在减少图像获取次数的同时能够获取多种信息。此外，为一次性获取大量信息，单次扫描像素扩展到了40,960 x 30,720（选配），是之前型号的64倍。利用这一功能，可凭借一张数据图像有效评估多处局部的细微结构。3．增强信号检测能力SU8700的样品仓设计巧妙，可使用短工作距离进行EDS分析，通过提高EDS分析的空间分辨率，能够实现更微小部位的分析。

Apreo功能最为丰富的高性能 SEMApreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针，以提高低电压下的分辨率，并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜，不但提高了分辨率，还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm（无电子束减速或单色器）。Apreo 拥有透镜内背散射探测器 T1，其位置紧靠样品以便尽可能多地收集信号，从而确保在很短的时间内采集数据。与其他背散射探测器不同，这种快速的探测器始终可保证良好的材料对比度，在导航时、倾斜时或工作距离很短时也不例外。在敏感样品上，探测器的价值凸现出来，即使电流低至几 pA，它也能提供清晰的背散射图像。复合末级透镜通过能量过滤实现更准确的材料对比度以及绝缘样品的无电荷成像，进一步延伸了 T1 BSE 探测器的潜在价值。它还提供了流行选项来补充其探测能力，例如定向背散射探测器(DBS)、STEM 3+ 和低真空气体分析探测器 (GAD)。所有这些探测器都拥有独一无二的软件控制分割功能，以便根据需求选择最有价值的样品信息。每个 Apreo 都按标准配备各种用以处理绝缘样品的策略，包括：高真空技术，例如 SmartSCAN™ 、漂移补偿帧积分(DCFI) 和电荷过滤。对于最有挑战性的应用，Apreo 可提供电荷缓解策略。其中包括可选的低真空（最高为 500 Pa）策略，通过经现场验证的穿镜式差分抽气机构和专用低真空探测器，不但可以缓解任何样品上的电荷，还能提供绝佳的分辨率和较大的分析电流。随着分析技术的使用越来越常规化，Apreo 仓室经过全新设计，以便更好地支持不同的配件和实验。仓室最多容纳三个 EDS/WDS 端口，可实现快速敏感的 X 射线测量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并与（冷冻）CL、拉曼、EBIC 和其他技术兼容。所有这些功能都能通过简单的样品处理和熟悉的 xT UI 获得，节省了新用户和专家级用户的时间。可自定义的用户界面提供了诸多用户指导、自动化和远程操作选项。

产品简介日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像--日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独有的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

产品介绍：　　日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点，不仅具有强大的观察分析能力，同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求，也满足了电镜初学者对高质量图片的需求，是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点：1.　高稳定性热场发射电子枪2.　全新的EM Wizard软件，无需设置参数即可获得高质量图片3.　高分辨率和强大的分析能力4.　样品适用性强：不导电样品直接观察（低真空功能，10-300Pa）5.　全新的multi-finder功能，方便快捷的寻找样品6.　附件功能强大：拉伸台，冷热台，电子束曝光，红外CCD，离子束清洁系统等。

特色高性能电子光学系统二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kV)＊高灵敏度: 高效PD-BSD, 超强的低加速电压性能，低至100 V成像大束流(200 nA): 便于高效微区分析 性能优异压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配备高灵敏度低真空探测器(UVD)＊开仓室快速简单换样(最大样品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)微区分析: EDS, WDS, EBSD等等*：选配附件 规格项目内容分辨率1.2 nm @ 30 kV3.0 nm @ 1 kV2.0 nm @ 1 kV 减速模式*13.0 nm @ 15 kV 低真空模式*2放大倍率10 - 600,000× (底片倍率), 18 - 1,000,000× (800 × 600像素)30 - 1,500,000× (1,280 × 960 像素)电子光学系统电子枪ZrO /W 肖特基式电子枪加速电压0.5 - 30 kV (0.1 kV 步进)着陆电压减速模式: 0.1 - 2.0 kV ＊1最大束流 200 nA探测器低位二次电子探测器低真空模式*2真空范围: 10 - 300 Pa马达台马达台控制5 - 轴自动 (优中心)可动范围X：0～100mmY：0～50mmZ：3～65mmT：-20～90°R：360°最大样品尺寸最大直径: 200 mm最大高度: 80 mm选配探测器 高分辨率顶位二次电子探测器＊1高灵敏度低真空探测器 (UVD)5分割半导体探测器 (PD-BSD)*3能谱仪 (EDS)波谱仪 (WDS)背散射电子衍射探测器 (EBSD) *1：减速功能（包含高分辨率顶位二次电子探测器）*2：低真空功能（包含5分割半导体探测器）*3：空压机(本地采购)应用案例样品: 氧化锌粉末着陆电压: 1 kV 倍率: 120,000x低电压下顶位二次电子探测器成像样品: PTFE加速电压: 3 kV 倍率: 13,000xUVD探测器可在低加速电压(3 kV)和低真空(40 Pa) 下获得高质量图像

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。 产品规格： 主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。 ＜特点＞ JSM-7200F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪 浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统） TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此JSM-7200F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加） JSM-7200F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。

主要特点:超高的分辨率最高0.5 nm (15 kV) and 0.7 nm (1 kV).高速精确分析能力稳定的大束流从磁性样品到非导体样品使用范围广泛技术指标：分辨率:0.6nm (15kV)0.7nm (1kV)放大倍数:25 to 2,000,000x加速电压:0.01 to 30kV束流强度:300 nA（15kV)或更高电子枪:浸没式热场发射电子枪物镜设计:超级混合式物镜（无漏磁）样品台:5轴马达驱动

惠然科技FE-SEM整机“风”系列F-6000介绍惠然科技FE-SEM整机“风”系列F-6000是一款高分辨广适配热场发射扫描电子显微镜，采用惠然科技自主研发的电子光学系统，具有行业标准的纳米级分辨率，最高可达1 nm，配置多种类型探测器，可实现二次电子和背散射电子同时成像，兼容多种应用模式，可覆盖生命科学、材料科学、失效分析、地质科学等多学科科研应用场景，标配五轴高精度运动平台及自主设计样品载台，可实现多个钉台同时放样或单一大尺寸样品的观测。F-6000采用多项自主研发专利技术，主要具有三大核心技术特点：大视野、高速、全自动技术优势：1、“视情式” WR-AdapColTM电子光学镜筒设计，采用双物镜组合，最大视场达到8 mm且无畸变，实现宏观到介观到微观的沉浸式成像体验；2、WR-HybriColTM磁电混合式电子束扫描偏转系统，在实现大偏转范围的同时保证高偏转速度，最短有效驻留时间为15 ns，将SEM跨越至视频级纳米摄像机时代；3、优化设计的图像算法三键成像：抽真空、ABC（自动亮度对比度）、AFC&ASC（自动聚焦消像散），可实现全景导航，快速样品定位，亮度、对比度自动调节，自动对焦等功能，简化步骤、操作易上手。4、搭配高效的AI图像后处理能力，图像快速降噪、锐化的同时，最大限度保留图像有效信息，并可根据应用场景定制化开发粒径分析、特征提取、图像拼接和分割等功能模块。产品竞争力：①国产电镜，区别于逆向仿制和复制，惠然科技坚持核心技术的正向自主研发，分辨率性能达到通用型科研电镜水平，支持产品的后续迭代和再开发；②数据安全，软件系统自主开发，可支持Windows、Linux、麒麟等系统，满足客户信息与数据的安可和信创需求；③操作方便，界面中文为主，支持英文，可选专家级页面模式和极简模式，适应不同类型用户应用习惯；④客户定制，核心技术的自主正向研发和研发团队的工程化产品化能力，可根据用户需求和不同应用场景，定制化开发硬件系统和升级软件系统；⑤优质售后服务，先进的售后理念和完善的运维体系，最快的速度响应用户的需求，支持用户的应用；⑥供应链国产化率高，零部件不受国外技术封锁影响，可以保证电镜按时交付以及电镜的售后维保。产品参数：惠然科技有限公司FE-SEM整机“风”系列高分辨广适配热场发射扫描电镜-F6000

FLGS-TDP利用Granier热扩散原理测量植物茎干茎流速度，特别适用于茎干较粗的高大乔木。根据树体直径，每棵树安装1~4套传感器即可。该系统还可整合其他类型的传感器，进而测量诸多环境因子：空气温湿度，光合有效辐射、土壤温湿度等。主要特点整机原装进口，出厂时经过严格校正，避免组装系统造成的信号衰减，保证测量精度AVRD节电模式：智能自适应的节电模式契合植物自然生长双探针，Granier设计。探针易插拔，可重复使用恒温加热，采用热扩散方法，而不是准确度较差的热脉冲方法可以连续测量（热脉冲方法不可以，有等待周期）足量数据存储空间：可保存8个月的茎流计算数据应用领域 水分利用效率、区域水分平衡、冠层导度、精准灌溉控制、植物耗水量监测、植被修复工程、森林生产力评估、全球变化、植物病虫害、肥效、城市绿化… … 技术指标数据采集器 标配4M（可扩展到16G microSD闪存卡），每小时读数，可存贮400天数据基本输入 32对差分通道，可连接32个TDP10/30/50探针或16个TDP80或10个TDP100通道扩展 最多可连接128个TDP10/30/50探针精度 ±0.03℃分辨率 0.0083℃AVRD电压调节器 可同时调节4路电压（1.5~10 V），每路5 A充电器 110~60 Hz/220~50Hz V AC可切换，4.5 A传感器电缆 标准配置为3 m，可延长系统尺寸 45×35×16 cm重量 11.5 kg系统组成项目产品描述FLGS-TDP系统主机数采，1个复路器（可扩展至4个复路器，最多可连接128个TDP10/30/50或64个TDP80或40个TDP100），2个AVRD，Micro-B型USB、Ethernet接口、分析软件、电池和充电器、密封箱、安装工具包、太阳能板（可选）。传感器、电缆、计算机需单独选配FL32-GS8Flow32 TDP探针扩展工具包传感器（选配）TDP-10、TDP-30、TDP-50、TDP-80、TDP-100，根据测量植物选择电缆（选配）可延长7.6m、15 m 或22.8 m供电系统（选配）20W、30W或53W太阳能板，带支架和调节器；12V铅酸电池，保障系统电力供应订货指南FLGS-TDP系统主机 FLGS-TDP系统主机 数采，1个复路器（可扩展至4个复路器，最多可连接122个TDP10/30/50或60个TDP80或40个TDP100），2个AVRD，RS-232接口、分析软件、电池和充电器、密封箱、安装工具包、太阳能板（可选）。传感器、电缆、计算机需单独选配 FL32-GS8 Flow32 TDP探针扩展工具包EXTP-25 扩展电缆，7.6 m/5芯EXTP-50 扩展电缆，15 m/5芯EXTP-75 扩展电缆，22.8 m/5芯EXTP-25D 适用TDP-80扩展电缆，7.6 m/6芯EXTP-50D 适用TDP-80扩展电缆，15 m/6芯EXTP-75D 适用TDP-80扩展电缆，22.8 m/6芯EXTP-25T 适用TDP-100扩展电缆，7.6 m/7芯EXTP-50T 适用TDP-100扩展电缆，15 m/7芯，带接头EXTP-75T 适用TDP-100扩展电缆，22.8 m/7芯，带接头MSX53R 53 W太阳能板，带支架和调节器MSX30R 30 W太阳能板，带支架和调节器MSX20R 20 W太阳能板，带支架和调节器 TDP探针型号长度（mm）直径（mm）热电偶数探针间距（mm）功率（W）电缆规格加热电阻（Ω）运行电压（V）信号输出（μV℃-1）TDP-10101.201400.08~0.123 m/5芯262.040TDP-30301.201400.15~0.203 m/5芯503.040TDP-50501.651400.25~0.303 m/5芯775.040TDP-80801.652400.453 m/6芯1227.040TDP-1001001.653400.5~0.63 m/7芯1448.5~940相关产品Agrisensors 植物茎流（液流）监测云服务平台SGDC外皮包裹式植物茎流（液流）传感器SapIP茎流（液流）监测网络EXO-Skin 外皮包裹式茎流（液流）传感器Flow32-1K包裹式植物茎流（液流）计FLGS-TDP插针式热耗散植物茎流（液流）计 产地与厂家：美国Dynamax公司

捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机JSM7000F采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。产品规格：主要选配件可插拔式背散射电子探头（RBED）高位二次电子探头（USD）低真空二次电子探头（LV-SED）能谱仪（EDS)波谱仪（WDS）电子背散射衍射系统（EBSD)阴极荧光系统（CLD）样品台导航系统（SNS）电子束曝光系统 产品特点：捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的最大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。＜特点＞捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电子光学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能进行高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电磁场叠加的混合式物镜。 浸没式肖特基电子枪浸没式肖特基场发射电子枪为日本电子的专利技术，通过对电子枪和低像差聚光镜进行优化，能有效利用从电子枪中发射的电子，即使电子束流很大也能获得很细的束斑。因而可以实现高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。 TTLS（through-the-lens系统）TTLS（through-the-lens系统）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速电压下能进行高分辨率观察和信号选择的系统。 利用GB（Gentle Beam 模式）通过给样品加以偏压，对入射电子有减速、对样品中发射出的电子有加速作用，即使在低加速电压（入射电压）下，也能获得信噪比良好的高分辨率图像。 此外，利用安装在TTLS的能量过滤器过滤电压，可以调节二次电子的检测量。这样在极低加速电压的条件下，用高位检测器（UED）就可以只获取来自样品浅表面的大角度背散射电子。因过滤电压用UED没有检测出的低能量电子，可以用高位二次电子检测器（USD，选配件）检测出来，因此捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F能同时获取二次电子像和背散射电子像。 混合式物镜（电磁场叠加）捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F的物镜采用了本公司新开发的混合式透镜。 这种混合式透镜是组合了磁透镜和静电透镜的电磁场叠加型物镜，比传统的out-lens像差小，能获得更高的空间分辨率。 捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以观察和分析磁性材料样品。日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 信息由科沃安科技（苏州）有限公司为您提供，如您想了解更多关于日本JEOL热场发射扫描电子显微镜捷欧路JEOL热场发射扫描式电子显微镜JSM7000F 报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

SFM1植物茎流/液流计产品概述： SFM1x茎流/液流计具备独立数据采集能力，用于测量植物中的茎流或蒸腾。SFM1x物联网版茎流/液流仪主要是通过使用热比率法（ HRM)原则来测量茎流速率。 SFM1x能够测量小型及大型树木的茎和根的高、低和反向茎流流速。同热场变形（HFD）原理一样，采用HRM法的SFM1茎流计也可以测量零茎流和反向茎流流量。 SFM1x物联网版通过物联网（IoT）技术，可以将数据传输到您办公室电脑的软件上，这样就可以实时的对植物水分利用进行监控，从而为植物的灌溉计划作出决策。 特点： 电源管理： 内置锂聚合物电池 电源开关 内部电压调节 光隔离防雷保护 记录： 独立记录 Micro SD扩展内存 无线数据传输 IP68等级防水外壳 免费Windows实用配置软件 应用： 测量低液流和零液流速率 测量反向液流速率 研究夜间水分损失 茎的大小10毫米 根液流 贫瘠生态系统及干旱 径向液体流速表 葡萄藤的液流 植物水分精确测量案例 茎流& 水分利用数据显示 SFM1x通过软件可以非常容易的进行编程来实时显示现场数据情况，从而进行随时的下载。葡萄树茎流速度和相应的日需水量的时间图； 南澳大利亚DATAVIEW软 件 以 升 / 小 时 和 升 / 天 为单 位 计 算 植 物 茎 流 流 量 。 可 以 在现 场 实 时 计 算 ， 也 可 以 通 过 云 端A P I 实 时 计算显示。技术参数：测量输出选项原始温度：0℃（仅SD-Card采集）热脉冲速率： cm hr-1茎流速率： cm3 hr-1范围-70到 +70cm hr-1精度0.01 cm hr-1准确度0.5 cm hr-1采样间隔用户可调，最小10minutes数据计算机接口USB、2.4 GHz无线数据存储MicroSD Card 8GB（标准）内存容量可扩展到16GB，数据存储格式为CVS工作条件热脉冲用户可调：约20焦耳（默认）。功率内部电池18560：3450mAh Li-lon,4.2V外部电源设备8-30V DC，非极性尺寸传感器探针直径：1.3毫米探针长度：35毫米热电偶：每个探针有两个尺寸长度：170毫米宽度：80毫米深度：35毫米重量400克 SFM茎流/液流仪传感器配置： SFM1x共有3个根探针； 位于上部和下部的两个探针包含两套相匹配且经过标定的高精度热敏电阻，分别位于距离每个探头尖端的7.5毫米和22.5毫米处。第三个位于茎中部的探针是一个线状加热器，在茎部液流中传输均匀且精确的热脉冲。该热脉冲在加热器和热敏电阻之间传播所花费的时间可以计算出植物的用水量。

Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（智能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH（闪调）自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo 2 SEM，任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料； 极佳的灵活性非常灵活的处理范围，样品类型广泛，包括绝缘体、敏感材料和磁性样品，收集最重要的数据； SmartAlign技术使用SmartAlign（智能对中）技术，实现光学系统自动调整，减少维护时间； 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH（闪调）技术； 实时定量EDS元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便； 长工作距离唯一在长工作距离（10 mm）具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率： 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）最大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于最低放大倍率29倍）X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为 340 mm 宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3 个（其中2个处于180° 对角位置）样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12 mm）最大样品尺寸，直径122 mm，可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度，到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统：样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3（选配）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器（选配）可伸缩透镜下背散射探测器（选配）控制系统： 操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

产品介绍：　　日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点，不仅具有强大的观察分析能力，同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求，也满足了电镜初学者对高质量图片的需求，是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点：1.高稳定性热场发射电子枪2.全新的EM Wizard软件，无需设置参数即可获得高质量图片3.高分辨率和强大的分析能力4.样品适用性强：不导电样品直接观察（低真空功能，10-300Pa）5.全新的multi-finder功能，方便快捷的寻找样品6.附件功能强大：拉伸台，冷热台，电子束曝光，红外CCD，离子束清洁系统等。

仪器介绍植物茎流测量仪采用热消散探针法测量树干瞬时茎流密度，可以长期连续观测树木的液流，有利于研究树木和大气之间的水分交换规律，并以此为观测手段，长期监测森林生态系统对环境变化的影响。对于造林绿化、森林管理和林业管理等具有重要的理论指导意义和应用价值。工作原理植物茎流测量仪采用法国学者Granier在20世纪80年代后发明的一种测定Sap Flow的新方法，即热消散探针法（恒定热流传感器法）。该方法的数据采集具有准确稳定的特点，而且可以连续不间断的读取数据，因而数据具有系统性。该测 定系统由一对长33mm的热消散探针组成，安装时将探针上下相隔10cm-15cm插入树木的边材中，上方的探针缠绕电阻丝，供以直流电加热，下方探针不 加热，保持与周围边材组织的温度相同，两探针的温差变化反应树木的液流密度。仪器特点双探针，配有相应的钻孔工具，容易插拔，可以反复使用采用热消散法，可恒温加热可以长期连续监测不锈钢探针，采用Teflon涂层，持久耐用采用高精度T型热电偶直接与数据分析仪连接采用大容量SD卡存储技术指标测量指标：瞬时液流密度测量通道：单通道存储容量：2GB采样时间间隔：1-99分钟可调显示：320×160液晶显示屏电源：8.4V可充电锂电池(也可选用太阳能电池供电)工作温度：10℃-60℃工作湿度：0-100%RH

产品简介"Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌，包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升级 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240"，共4个机型，均实现了分辨率和操作性的强化。 扫描电子显微镜（SEM）被广泛应用于纳米技术，半导体?电子行业，生命科学，材料科学等领域的材料结构观察。近年来，新一代的电子器件应用中受到广泛期待的新型碳材料，高分子材料，复合材料等的研究作为先进科学技术的中坚技术，在全世界范围内受到热捧。扫描电子显微镜广泛用于这些材料的观察?评价，但仅仅具有超高分辨率还远远不够。还要求能在低加速电压下对表面细微结构的观察和高灵敏度的元素分析。除此之外，在长期的研究过程中还追求电镜的性能的持续稳定和信赖性。 本次发布的新品牌 "Regulus系列" 电子光学系统进行了优化处理，使得着陆电压在1kV时分辨率较前代机型提高了约20％。"Regulus8220/8230/8240"达到0.9nm，"Regulus8100"为1.1 nm的分辨率。另外，最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大，并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了200万倍。除此之外，为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能，还对用户辅助工能进行了强化，如信号检测系统的操作辅助功能，维护辅助功能等。主要特点搭载了色差极小的适合低加速电压高分辨率观察的冷场电子枪跟前代机型相比分辨率大约提高了20%（Regulus8220/8230/8240：0.9 nm/1 kV，Regulus8100：1.1 nm/1 kV）最大倍率从原来的100万倍提高到200万倍*1用户辅助功能，帮助用户把仪器的高性能完全发挥出来主要参数名称Regulus8100Regulus8240/8230/8220二次电子分辨率0.8 nm（加速电压 15 kV）0.7 nm（加速电压 15 kV）1.1 nm（着陆电压 1 kV）*20.9 nm（着陆电压 1 kV）*2加速电压0.5~30 kV0.5~30 kV着陆电压*20.1~2 kV0.01~20 kV倍率20~1,000,000倍*320~2,000,000倍*3马达台控制3轴自动*?5轴自动*1 仅限 Regulus8240/8230/8220*2 减速模式观察*3 127 mm × 95 mm 视野的画面倍率*? 5轴马达台为选配项

"Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌，包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升级 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240"，共4个机型，均实现了分辨率和操作性的强化。　　扫描电子显微镜（SEM）被广泛应用于纳米技术，半导体?电子行业，生命科学，材料科学等领域的材料结构观察。近年来，新一代的电子器件应用中受到广泛期待的新型碳材料，高分子材料，复合材料等的研究作为先进科学技术的中坚技术，在全世界范围内受到热捧。扫描电子显微镜广泛用于这些材料的观察?评价，但仅仅具有超高分辨率还远远不够。还要求能在低加速电压下对表面细微结构的观察和高灵敏度的元素分析。除此之外，在长期的研究过程中还追求电镜的性能的持续稳定和信赖性。　　本次发布的新品牌 "Regulus系列" 电子光学系统进行了最优化处理，使得着陆电压在1kV时分辨率较前代机型提高了约20％。"Regulus8220/8230/8240"达到0.7nm，"Regulus8100"为0.8 nm的分辨率。另外，最适合低加速电压下高分辨观察的冷场电子枪可将样品的细节放大，并获得高质量的图片。最大放大倍率也由之前的100万倍提高到了200万倍。　　除此之外，为了能更好的应对不同样品的测试和保持并发挥出高性能，还对用户辅助工能进行了强化，如信号检测系统的操作辅助功能，维护辅助功能等。主要特点搭载了色差极小的适合低加速电压高分辨率观察的冷场电子枪跟前代机型相比分辨率大约提高了20%（Regulus8220/8230/8240：0.7 nm/1 kV，Regulus8100：0.8 nm/1 kV）最大倍率从原来的100万倍提高到200万倍*1用户辅助功能，帮助用户把仪器的高性能完全发挥出来主要参数名称Regulus8100Regulus8240/8230/8220二次电子分辨率0.7 nm（加速电压 15 kV）0.8 nm（着陆电压 1 kV）*20.6 nm（加速电压 15 kV）0.7 nm（着陆电压 1 kV）*2加速电压0.5~30 kV0.5~30 kV着陆电压*20.1~2 kV0.01~20 kV倍率20~1,000,000倍*320~2,000,000倍*3马达台控制3轴自动*45轴自动*1 仅限 Regulus8240/8230/8220*2 减速模式观察*3 127 mm × 95 mm 视野的画面倍率*4 5轴马达台为选配项

InTouchScope&trade 热场发射扫描电子显微镜 JSM-IT710HR 发布—一款好用的扫描电镜—日本电子株式会社(代表取締役社長兼COO 大井　泉)宣布：高通量新型扫描电子显微镜JSM-IT700HR于2020年8月3日开始全球销售。【开发背景】扫描电子显微镜广泛应用于纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物学等领域，从基础研究到工厂的品质管理等用途也在不断地扩展。不仅以研究为目的，快速高清晰图像的数据采集和更简便的元素分析的需求也在大大提高。 随着技术的不断创新，观察的样品也越来越小，微小样品的测定已经常态化。 基于此，浸没式热场发射扫描电子显微镜InTouchScope&trade 系列 JSM-IT700HR诞生了。JSM-IT710HR是最新升级版，功能更强大，操作更加简单。该设备最高分辨率1nm（高分辨）、最大探针电流300nA（是之前的15倍，告诉分析），可提供丰富的观测和分析信息。 触屏式用户界面操作，简单，设计紧凑，代表了现代仪器的使用趋势和发展方向；配备大样品室和更好的防震台，实现了从【能见】-【易见】的转变。 在操作导航GUI里增加了【信号深度显示】功能，实时了解在测样品的分析深度（参考），有效用于元素分析中。该机种有低真空观察型JSM-IT710HR/LV和低真空观察分析型 JSM-IT710HR/LA两种型号。【主要特点】 1. 浸没式大束流长寿命热场发射电子枪，可实现高清晰图像观察和高空间分辨率分析2. 光电连用功能（Zeromag），可实现快速的视野搜索3. 实时能谱功能（Live Analysis），实现高效元素分析4. 实时3D成像功能（3D Live image）5. SMILE VIEWTM Lab，易于生成从观察到分析的所有数据报告6. 样品更换导航使样品更换更安全简便7. 电子束自动对中可使电子光学条件维持最佳状态8. 大开门样品室可对应各种形状和大小的样品观察和分析详细技术指标及配置价格请咨询捷欧路（北京）科贸有限公司及其在各地的分公司。

产品详情日本JEOL热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F JEOL新一代场发射扫描电子显微镜的旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其最佳性能。 产品规格：分辨率1.0 nm (0.5 kV)0.7 nm (1 kV)0.6 nm (15 kV)3.0 nm (5 kV、WD: 10 mm、5 nA)倍率×10 ～ ×1,000,000加速电压0.01 ～ 30 kV探针电流数 pA ～ 500 nA检测器（标配）高位检测器(UED)、低位检测器(LED)电子枪浸没式肖特基Plus场发射电子枪最佳光阑角控制镜内置物镜超级混合式物镜/SHL自动功能自动聚焦、自动消像散、自动调节亮度、自动调节衬度大景深模式(LDF)内置样品台全对中测角样品台样品移动X:70mm Y:50mm Z:2 ～ 41mm 倾斜轴:-5 ～ 70° 旋转:360°马达驱动5轴马达驱动样品交换室最大直径: 100mm 　最大高度: 40mm抽真空系统SIP、TMP、RP 主要特点：◇ Neo Engine（New Electron Optical Engine）新一代电子光学控制系统Neo Engine（New Electron Optical Engine），是JEOL电子光学技术荟萃的结晶。 它综合了透镜控制系统和自动化技术，即使改变电子光学条件，光轴的偏离也极小，大大提高了可操作性及观察精度。 无论是谁都可以很简便地发挥出仪器原本的功能。 ① 提高了自动功能 样品 : 用CP 制备的矿物截面（树脂包埋） 入射电压 : 5 kV，检测器 : RBED，观察倍率 : ×100,000 不仅提高了自动功能的精度，而且只需要几秒钟就可以聚焦。 ② 提高了倍率的精度 样品 : 测长用的样品（MRS5） 入射电压 : 10 kV， 观察倍率: ×50,000 大幅度地提高了倍率的精度，而且实现了高精度测长。 ③ 能量过滤器更加易用 样品 : 名片 入射电压 : 1.5 kV， 检测器 : UED， 观察倍率 : ×3,500 即使大幅度改变能量过滤器的设定值，视野或聚焦位置基本不会偏离。 ◇ GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High resolution Stage bias mode)GBSH 是在低加速电压下提高分辨率的一种方法。 新开发的GBSH-S可以给样品台施加高达5 kV的偏压。 因此，使用GBSH模式不需要使用专用的样品杆就可以无缝过渡到其他模式。※GENTLEBEAM™ 通过给样品施加偏压，起到了对入射电子减速，对出射电子加速的作用。 ◇ 新型背散射电子检测器　※ 选配件采用新开发的超高灵敏度的背散射电子检测器，可以在清晰的衬度下进行观察。 灵敏度比以往的产品提高了很多，特别是在低加速电压下能得到高衬度的成分像。旧机型 新机型 样品 : Cu的截面 入射电压 : 3 kV 观察倍率 : ×10,000 WD： 4.5 mm ◇ 新型外观设计 外观设计紧凑，大大节省了安装空间，可以支持多种安装环境。 ◇ 新的样品交换方式 采用新设计的样品交换系统（load lock），操作简单了，不仅减少误操作还提高了通量和耐用性。 ◇ SMILENAVISMILENAVI 是为初学者在短时间内学会基础操作而开发的操作导航系统。 操作人员按照流程，只要点击图标，SEM操作画面就会联动，依照提示引导即可操作。① 强调操作按钮只要将鼠标光标挪到SMILENAVI的指南键上，SEM的GUI上的相应键会出现方框。 在SMILENAVI指南里点击按键后，SEM的GUI会变成灰色来强调相应键。 ② 显示照片在SMILENAVI的指南里点击按键后，会显示该按键位置的照片。 ③ 显示操作顺序的视频 SMILENAVI的指南里有介绍操作顺序的视频。 继承了旧机型的高性能 ◇ 浸没式肖特基 Plus 电子枪浸没式肖特基Plus FEG 通过与电子枪和低像差聚光镜的组合，性能进一步得到改善，达到了更高的亮度。 能有效地收集从电子枪发射出的电子，即使在低加速电压下，也能获得数pA ～数10 nA 的探针电流，不用交换物镜光阑也能进行高分辨观察和快速元素面分布及EBSD 分析。 ◇ ACL（最佳光阑角控制镜）ACL（最佳光阑角控制镜）位于物镜的上方，自动优化整个电流范围内的物镜光阑角。 因此，即使改变探针电流量，也能调整入射电子的扩散，始终可以获取最小的电子束斑。不管是高分辨观察还是X 射线分析，对探针电流的大幅度变化都能轻松对应。 ◇ 超级混合式物镜 / SHLJSM-7900F 标配了JEOL 开发的电磁场叠加物镜 —“超级混合式物镜（SHL）”，对任何样品包括磁性和绝缘材料都能进行超高空间分辨率观察和分析。 ◇ 检测器系统能够同步采集多达4 种检测器的信号。标配低位检测器（LED）和高位检测器（UED）。 此外，还可以安装选配件：可插拔式背散射电子检测器（RBED）和高位二次电子检测器（USD）。 ◇ 高空间分辨率观察利用GBSH，即使在极低的加速电压下也能进行高分辨率观察。 GBSH下，高空间分辨率观察应用● 氧化物纳米材料

产品概述：SFM1 茎流计具备独立数据采集能力，用于测量植物中的茎流或蒸腾。SFM1包含液流传感器，数据记录器和接口软件。利用热比法（HRM）原理，SFM1 Sap流量计能够测量小型及大型树木的茎和根的高、低和反向茎流流速。同热场变形（HFD）原理一样，采用HRM法的SFM1茎流计也可以测量零茎流和反向茎流流量。特点：电源管理：l 内置锂聚合物电池； l 电源开关；l 内部电压调节； l 光隔离防雷保护；记录：l 独立记录； l Micro SD扩展内存；l USB连接； l 无线数据传输；l IP68等级防水外壳；l 免费Windows实用配置软件；应用：l 测量低液流和零液流速率；l 测量反向液流速率； l 研究夜间水分损失；l 茎的大小 10毫米；l 根液流； l 贫瘠生态系统及干旱；l 径向液体流速表； l 葡萄藤的液流 技术规格：测量输出选项原始温度：0℃热脉冲速度： cm hr-1液体速度： cm hr-1 液流：升/小时范围-100到 +100cm hr-1分辨率0.01 cm hr-1精确度度0.5 cm hr-1响应时间120秒数据计算机接口USB、2.4 GHz无线数据存储Micro SD卡内存容量4GB扩展到16GB工作条件热脉冲用户可调：约20焦耳（默认）。相当于2.5秒热脉冲的持续时间，自动调整。用户可调：最小间隔3分钟，建议至少10分钟。功率电源960毫安锂聚合物电池电池寿命A.1天，有每小时记录间隔，20焦耳B.如有11瓦太阳能板，则为无限寿命充电电压8-30伏直流尺寸传感器探针直径：1.3毫米探针长度：35毫米 热电偶：每个探针有两个尺寸长度：170毫米宽度：80毫米深度：35毫米重量400克 产地：澳大利亚

技术指标：分辨率：1.3nm@15kV，2.1nm@1kV，5.0nm @0.1kV，2.0nm@30kV(VP模式)，1.0nm@15kV，1.7nm@1 kV，4.0nm@0.1kV，2.0nm@30kV(VP模式)　　放大倍数：12 - 900,000x　　加速电压：0.02 - 30kV　　束流：4 pA - 10 nA(可选配20 nA)　　电子枪：热场发射型

详情页介绍：蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，助您轻松实现构建成像和分析程序，同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像，它采用低电压，能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。使用Sigma系列，畅游高端纳米分析世界。Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观成像工作流。可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和对比度。可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。对聚苯乙烯样品进行断裂，以了解聚合物界面处的裂纹形成和附着力。Sigma 360，C2D，3 kV，NanoVP lite模式，样品室压力60Pa。可在极端条件下完成可变压力成像用于分析和成像的NanoVP lite模式新NanoVP lite模式和新探测器很容易在电压低于5 kV时，从非导体中轻松获取高质量数据。这样，就可增强成像和X射线能谱分析的性能，提供更多表面敏感信息，缩短采集时间，增强入射电子束流，提高能谱面分布分析速度。aBSD1（环形背散射电子探测器）或新一代C2D（级联电流）探测器可确保在低电压条件下采集到出色图像。将多模式实验与Connect Toolkit相结合，或使用Materials应用程序分析显微结构、晶粒尺寸或涂层厚度直观成像工作流为您指引方向从设置到获取基于人工智能的结果，每一步都清晰明了，使您是新手用户，也能轻松获得专业结果。Sigma系列获取图像迅速，易于学习和使用的工作流可节省培训时间，简化从导航到后期处理的每个步骤，让您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。接下来，ZEN core便可大显身手：它配备针对具体任务的工具包，适用于后期处理。我们十分推荐人工智能工具包，它可助您基于机器学习进行图像分割。可在1 kV和更低电压条件下分辨差异增强的分辨率。优化的衬度