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射线扫描电镜

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射线扫描电镜相关的资讯

  • JEOL正式发布扫描电镜、电子探针用软X射线分析谱仪
    日本电子株式会社(JEOL)近期发布了扫描电镜和电子探针用软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer),将扫描电镜和电子探针对材料分析水平、能力和精度大大扩宽。 电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用,产生各种信号,收集不同信号进行分析,可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV,远高于能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)的分辨率;对轻元素的定量分析非常准确,比如B元素的检出极限可达20ppm;还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路(北京)科贸有限公司及其各分支机构。上图:EDS-WDS-SXES谱峰分辨率比较上图:各种氮化物的谱图检测分析上图:各种碳化物的谱图分析上图:锂电池充电过程观察
  • 中国科学院金属研究所470.00万元采购扫描电镜,X射线能谱仪
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目公开招标公告 北京市-海淀区 状态:公告 更新时间: 2022-09-09 招标文件: 附件1 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目公开招标公告 2022年09月09日 15:42 公告信息: 采购项目名称 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 品目 货物/通用设备/仪器仪表/其他仪器仪表 采购单位 中国科学院金属研究所 行政区域 北京市 公告时间 2022年09月09日 15:42 获取招标文件时间 2022年09月09日至2022年09月19日每日上午:9:00 至 11:00 下午:13:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥600 获取招标文件的地点 登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 开标时间 2022年10月09日 09:30 开标地点 北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 预算金额 ¥470.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 佟老师 项目联系电话 024-23971066 采购单位 中国科学院金属研究所 采购单位地址 沈阳市沈河区文化路72号 采购单位联系方式 佟老师;024-23971066 代理机构名称 东方国际招标有限责任公司 代理机构地址 北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 代理机构联系方式 王军、郭宇涵、李雯;010-68290508 附件: 附件1 技术规格-1581.docx 项目概况 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 招标项目的潜在投标人应在登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室获取招标文件,并于2022年10月09日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:OITC-G220311581 项目名称:中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 预算金额:470.0000000 万元(人民币) 最高限价(如有):470.0000000 万元(人民币) 采购需求: 采购项目的名称、数量: 包号 设备 名称 数量 简要用途 到货期 预算 到货 地点 是否允许采购进口产品 1 场发射扫描电镜 1套 能够对各种类型的材料样品表面微观结构进行高分辨率成像观察,获取样品表面微观结构形貌信息、成分衬度信息,可以在低电压下条件下无需镀膜直接高分辨观察样品。配置X射线能谱仪和EBSD附件,可同时对样品表面微观区域内元素成分进行定性、定量分析以及晶体学取向等分析。 合同生效后9个月内 470 万元 中国科学院金属研究所 是 投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。 合同履行期限:合同生效后9个月内到货 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 本项目不属于专门面向中小微企业、监狱企业、残疾人福利性单位采购的项目3.本项目的特定资格要求:1) 投标人须符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条的规定;(具体为供应商参加政府采购活动应当具备下列条件:(一)具有独立承担民事责任的能力;(二)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度;(三)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力;(四)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录;(五)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录;(六)法律、行政法规规定的其他条件。)2) 投标人须在中华人民共和国境内合法注册、有法人资格并符合工商局或相关行业主管部门核准的经营范围或经营许可(进口产品投标必须委托国内代理商投标);3) 进口产品投标必须委托国内代理商投标,同时代理商投标必须有授权书;4) 投标人按照招标公告要求购买了招标文件;5) 投标人不得为招标人或招标代理机构的附属或相关机构;6) 投标人不得为列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商。7) 为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得参加本项目投标;8) 投标单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动。 三、获取招标文件 时间:2022年09月09日 至 2022年09月19日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 方式:登录东方招标平台http://www.oitccas.com/注册并购买 售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2022年10月09日 09点30分(北京时间) 开标时间:2022年10月09日 09点30分(北京时间) 地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、投标文件递交地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 2、招标文件采用网上电子发售购买方式: 1)登陆 东方招标 平台(http://www.oitccas.com/),点击 获取采购文件 链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine)完成投标人注册手续(免费),然后登陆系统寻找有意向参与的项目,已注册的投标人无需重新注册。招标文件售价:每包人民币600 元。如决定购买招标文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。 2)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 3)投标人应在平台上填写开票信息。在投标人足额缴纳标书款后,标书款电子发票将发送至投标人在平台上登记的电子邮箱,投标人自行下载打印。 4)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 3、以电汇方式购买招标文件和递交投标保证金的,须在电汇凭据附言栏中写明招标编号、包号及用途(如未标明招标编号,有可能导致投标无效)。 4、采购项目需要落实的政府采购政策: (1)政府采购促进中小企业发展 (2)政府采购支持监狱企业发展 (3)政府采购促进残疾人就业 (4)政府采购鼓励采购节能环保产品 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中国科学院金属研究所 地址:沈阳市沈河区文化路72号 联系方式:佟老师;024-23971066 2.采购代理机构信息 名 称:东方国际招标有限责任公司 地 址:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 联系方式:王军、郭宇涵、李雯;010-68290508 3.项目联系方式 项目联系人:佟老师 电 话: 024-23971066 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:扫描电镜,X射线能谱仪 开标时间:2022-10-09 09:30 预算金额:470.00万元 采购单位:中国科学院金属研究所 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:东方国际招标有限责任公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目公开招标公告 北京市-海淀区 状态:公告 更新时间: 2022-09-09 招标文件: 附件1 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目公开招标公告 2022年09月09日 15:42 公告信息: 采购项目名称 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 品目 货物/通用设备/仪器仪表/其他仪器仪表 采购单位 中国科学院金属研究所 行政区域 北京市 公告时间 2022年09月09日 15:42获取招标文件时间 2022年09月09日至2022年09月19日每日上午:9:00 至 11:00 下午:13:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥600 获取招标文件的地点 登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 开标时间 2022年10月09日 09:30 开标地点 北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 预算金额 ¥470.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 佟老师 项目联系电话 024-23971066 采购单位 中国科学院金属研究所 采购单位地址 沈阳市沈河区文化路72号 采购单位联系方式 佟老师;024-23971066 代理机构名称 东方国际招标有限责任公司 代理机构地址 北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 代理机构联系方式 王军、郭宇涵、李雯;010-68290508 附件: 附件1 技术规格-1581.docx 项目概况 中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 招标项目的潜在投标人应在登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室获取招标文件,并于2022年10月09日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:OITC-G220311581 项目名称:中国科学院金属研究所场发射扫描电镜采购项目 预算金额:470.0000000 万元(人民币) 最高限价(如有):470.0000000 万元(人民币) 采购需求: 采购项目的名称、数量: 包号 设备 名称 数量 简要用途 到货期 预算 到货 地点 是否允许采购进口产品 1 场发射扫描电镜 1套 能够对各种类型的材料样品表面微观结构进行高分辨率成像观察,获取样品表面微观结构形貌信息、成分衬度信息,可以在低电压下条件下无需镀膜直接高分辨观察样品。配置X射线能谱仪和EBSD附件,可同时对样品表面微观区域内元素成分进行定性、定量分析以及晶体学取向等分析。 合同生效后9个月内 470 万元 中国科学院金属研究所 是 投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。 合同履行期限:合同生效后9个月内到货 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 本项目不属于专门面向中小微企业、监狱企业、残疾人福利性单位采购的项目 3.本项目的特定资格要求:1) 投标人须符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条的规定;(具体为供应商参加政府采购活动应当具备下列条件:(一)具有独立承担民事责任的能力;(二)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度;(三)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力;(四)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录;(五)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录;(六)法律、行政法规规定的其他条件。)2) 投标人须在中华人民共和国境内合法注册、有法人资格并符合工商局或相关行业主管部门核准的经营范围或经营许可(进口产品投标必须委托国内代理商投标);3) 进口产品投标必须委托国内代理商投标,同时代理商投标必须有授权书;4) 投标人按照招标公告要求购买了招标文件;5) 投标人不得为招标人或招标代理机构的附属或相关机构;6) 投标人不得为列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商。7) 为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得参加本项目投标;8) 投标单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动。 三、获取招标文件 时间:2022年09月09日 至 2022年09月19日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine);北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 方式:登录东方招标平台http://www.oitccas.com/注册并购买 售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2022年10月09日 09点30分(北京时间) 开标时间:2022年10月09日 09点30分(北京时间) 地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、投标文件递交地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 2、招标文件采用网上电子发售购买方式: 1)登陆 东方招标 平台(http://www.oitccas.com/),点击 获取采购文件 链接图标,或直接输入访问地址(http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine)完成投标人注册手续(免费),然后登陆系统寻找有意向参与的项目,已注册的投标人无需重新注册。招标文件售价:每包人民币600 元。如决定购买招标文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。 2)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 3)投标人应在平台上填写开票信息。在投标人足额缴纳标书款后,标书款电子发票将发送至投标人在平台上登记的电子邮箱,投标人自行下载打印。 4)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 3、以电汇方式购买招标文件和递交投标保证金的,须在电汇凭据附言栏中写明招标编号、包号及用途(如未标明招标编号,有可能导致投标无效)。 4、采购项目需要落实的政府采购政策: (1)政府采购促进中小企业发展 (2)政府采购支持监狱企业发展 (3)政府采购促进残疾人就业 (4)政府采购鼓励采购节能环保产品 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中国科学院金属研究所 地址:沈阳市沈河区文化路72号 联系方式:佟老师;024-23971066 2.采购代理机构信息 名 称:东方国际招标有限责任公司 地 址:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 联系方式:王军、郭宇涵、李雯;010-68290508 3.项目联系方式 项目联系人:佟老师 电 话: 024-23971066
  • 拉曼光谱、X射线荧光光谱和扫描电镜助力考古
    现代人类的起源与演化是近三十多年的学术热点。通过颜料使用、艺术创作与复合工具等“现代行为要素”追溯早期现代人群的形成、扩散、交流是开展相关研究的重要手段。长期以来,中国乃至东亚缺乏这类考古遗存,被作为现代人群在东亚形成的时间晚于欧亚大陆西部的推论基础。位于河北省西北部和山西省北部桑干河流域、被誉为“东方人类故乡”的泥河湾盆地,再次为我们带来了突破性认识。在盆地东南缘的下马碑遗址发现了我国乃至东亚地区目前已知最早的史前人类颜料加工与细小石器镶嵌使用的关键证据,再现了4万年前东亚人类的生活场景。由河北省文物考古研究院、中国科学院古脊椎动物与古人类研究所等多家中外研究机构合作完成的这一成果,日前在线发表在《自然》杂志上。研究结果显示,下马碑遗址主文化层形成于距今4.1万至3.9万年前。沉积学及沉积物粒度分析显示,下马碑遗址形成于河漫滩环境,孢粉分析结果显示当时为凉干气候下的草原环境,动物化石鉴定结果显示马、鹿和鼢鼠等占比较高。因此,研究推测下马碑古人类生活于河流阶地上,植被以草原景观为主,周边山地存在片状针叶林。下马碑遗址中的赤铁矿加工遗存确定是研究重点。研究通过拉曼光谱、X射线荧光光谱和扫描电镜能谱分析,确定野外发掘中疑似颜料加工区内含有两块大小不同、矿物成分亦有差异的赤铁矿(赭石)小块。进一步显微分析揭示其中较大一块表面有明显的反复摩擦痕迹。研究对伴生的另一块表面明显被染红的长条形石灰岩分析发现,在其表面残留有赤铁矿微屑,犹如发丝。颜料加工区内另一件遗物为表面部分磨光的卵石,虽无明显的残留物,但其部分明显磨光的特征说明其可能作为磨锤或杵使用。此次在下马碑遗址发现的赤铁矿加工遗存是东亚地区首次正式见诸报道的此类发现,将东亚早期人类使用颜料的历史提早到距今4万年前,也使东方古人类艺术创作、审美、认知表达的历史提前。在目前发掘的12平方米的范围内,可以清晰地看到赤铁矿加工区位于遗址西北角,向东有火塘,火塘的灰烬溢出,周边散落石器。这些石器按功能分布在不同位置,可见当时的人们围绕火塘各显其能、各司其职,如此便可以勾勒出4万年前古人类“围炉而息、磨石取彩、嵌石为刃、分享猎物”的鲜活生活图景。距今4万年前是旧石器时代晚期革命和早期现代人群形成、扩散与行为现代化的关键节点。来自田园洞的人类化石和分子生物学证据证实,在距今4万年前后,现代人已在华北地区活动,但关于他们的行为和文化我们知之甚少。下马碑遗址揭示了东亚现代人复杂的文化演进过程,这与欧亚大陆西部人群的技术与文化发展同步。
  • 物理与电子学院210.00万元采购水浴、油浴,扫描电镜,X射线能谱仪,冷水机
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 中南大学物理与电子学院扫描电子显微镜采购项目招标公告 湖南省-长沙市-雨花区 状态:公告 更新时间: 2022-06-20 一、项目基本情况 1、项目编号:HZ20220201-0085 2、采购代理编号:0623-2281N1106059 3、项目名称:中南大学物理与电子学院扫描电子显微镜采购项目 4、预算金额:人民币210万元 5、采购需求: 序号 标的名称 分项项目名称(标的名称) 是否核心产品 是否接受进口 采购项目预算(人民币) 交货要求 代理服务收费标准 交货时间 交货地点 1 高分辨场发射扫描电子显微镜 高分辨场发射扫描电子显微镜主机 是 是 210万元 合同生效后6个月以内。 采购人指定地点 具体收费标准详见本项目“投标须知前附表 2 镜筒内探测器:低位和高位 是3 样品室二次电子探测器 否 4 角分割及环形分割8通道可伸缩背散射电子探头 是 5 集成X射线能谱仪包含实时彩色电镜技术 否 6 空压机 否 7 冷却循环水 否 8 大尺寸自动采集拼接软件 否 9 多功能控制面板 否 10 UPS 电源 否 注:具体详见本项目招标文件第五章采购需求。 6、采购项目需要落实的政府采购政策: 价格评审优惠:政府采购促进中小企业发展(包括政府采购支持监狱企业发展、政府采购促进残疾人就业)。 7、本采购项目接受进口产品投标。 8、采购方式:公开招标 9、合同履行期限:具体内容详见招标文件第五章的“采购需求”。 二、投标人的资格要求 1、投标人的基本资格条件:投标人必须是在中华人民共和国境内注册登记的法人、其他组织或者自然人,且应当符合《政府采购法》第二十二条第一款的规定,即: (1)具有独立承担民事责任的能力; (2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度; (3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力; (4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录; (5)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录; (6)法律、行政法规规定的其他条件。 2、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同投标人,不得参加同一合同项下的政府采购活动。 3、为本采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的,不得再参加此项目的其他招标采购活动。 4、列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单,列入政府采购严重违法失信行为记录名单的,拒绝其参与政府采购活动。 5、联合体投标:本次招标不接受联合体投标。 6、本项目的特定资格要求:无。 三、获取招标文件的时间、期限、地点、方式及招标文件售价 1、时间:2022年06月20日至2022年06月27日(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午09:00至12:00,下午15:00至17:00(北京时间,法定节假日除外)。 2、地点:湖南省招标有限责任公司招标六部(长沙市雨花区湘府东路199号招标大厦1406室)。 3、方式:持法定代表人身份证明原件或授权委托书原件(附法定代表人身份证明原件)、个人身份证原件、投标人营业执照副本复印件购买招标文件。 4、售价:人民币400元/份,售后不退。 四、投标截止时间、开标时间及地点 1、提交投标文件的截止时间:2022年07月13日14时30分(北京时间) 2、投标地点:湖南省招标有限责任公司十二楼开标一厅(长沙市湘府东路199号招标大厦)。 3、开标时间:2022年07月13日14时30分(北京时间) 4、开标地点:湖南省招标有限责任公司十二楼开标一厅(长沙市湘府东路199号招标大厦)。 5、其他要求:逾期送达的或者未送达指定地点的投标文件将拒绝接收。届时请投标人的法定代表人或其委托代理人出席开标仪式,未购买招标文件的单位不得参加投标。 五、公告期限 1、本招标公告在中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn/)、中南大学校园网(http://tz.its.csu.edu.cn/)、中南大学采购与招标管理中心网(http://czzx.csu.edu.cn/)上发布。 公告期限从本招标公告发布之日起5个工作日。 2、在其他媒体发布的招标公告,公告内容以本招标公告指定媒体发布的公告为准;公告期限自本招标公告指定媒体最先发布公告之日起算。 六、疑问及质疑 1、投标人对政府采购活动事项如有疑问的,可以向采购人、采购代理机构提出询问。采购人、采购代理机构将在3个工作日内作出答复。 2、潜在投标人认为招标文件或招标公告使自己的合法权益受到损害的,可以在收到招标文件之日或招标公告期限届满之日起7个工作日内,按《湖南省财政厅关于印发<政府采购质疑答复和投诉处理操作规程>的通知》(湘财购〔2019〕20号)规定,以书面形式一次性向采购人、采购代理机构提出质疑。 七、其他补充事宜 疫情注意事项 项目报名及开评标期间,为做好新型冠状病毒感染肺炎疫情防控工作,防止交叉感染,本次开评标将采取全部人员防护上岗措施,并在开评标场所入口处进行体温检测和人员信息登记。温馨提示: 1、为避免交叉感染,本项目各供应商委派授权委托人最多1人携身份证原件及其他资料参加报名和开标会议。参加开标的投标人代表应确保开标当日居民健康码为绿色,方可参加投标活动。 2、请各供应商人员必须佩戴口罩,尽量提前到达开标现场,并积极配合工作人员进行现场体温检测并进行健康信息登记。 3、进入开标活动现场的人员应无感冒、发烧、咳嗽等症状,并按疫情防护要求做好有效防护措施。 4、近一个月内有与新冠肺炎病人有接触史的,必须向代理服务机构特别申报。如不申报,将负法律责任。 八、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名 称:中南大学 地 址:长沙市麓山南路932号 联系人:张老师 联系方式:0731-88836937 2、招标代理机构信息 名 称:湖南省招标有限责任公司 地 址:长沙市雨花区湘府东路199号招标大厦 联系人: 张子怡 王思 联系方式:0731-84511088 3、项目联系方式 项目申购单位:物理与电子学院 项目联系人:刘老师 联系电话:13787082527 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:水浴、油浴,扫描电镜,X射线能谱仪,冷水机 开标时间:2022-07-13 14:30 预算金额:210.00万元 采购单位:物理与电子学院 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:湖南省招标有限责任公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 中南大学物理与电子学院扫描电子显微镜采购项目招标公告 湖南省-长沙市-雨花区 状态:公告 更新时间: 2022-06-20 一、项目基本情况 1、项目编号:HZ20220201-0085 2、采购代理编号:0623-2281N1106059 3、项目名称:中南大学物理与电子学院扫描电子显微镜采购项目 4、预算金额:人民币210万元 5、采购需求: 序号 标的名称 分项项目名称(标的名称) 是否核心产品 是否接受进口 采购项目预算(人民币) 交货要求 代理服务收费标准 交货时间 交货地点 1 高分辨场发射扫描电子显微镜 高分辨场发射扫描电子显微镜主机 是 是 210万元 合同生效后6个月以内。 采购人指定地点 具体收费标准详见本项目“投标须知前附表 2 镜筒内探测器:低位和高位 是 3 样品室二次电子探测器 否 4 角分割及环形分割8通道可伸缩背散射电子探头 是 5 集成X射线能谱仪包含实时彩色电镜技术 否 6 空压机 否 7 冷却循环水 否 8 大尺寸自动采集拼接软件 否 9 多功能控制面板 否 10 UPS 电源 否 注:具体详见本项目招标文件第五章采购需求。 6、采购项目需要落实的政府采购政策: 价格评审优惠:政府采购促进中小企业发展(包括政府采购支持监狱企业发展、政府采购促进残疾人就业)。 7、本采购项目接受进口产品投标。 8、采购方式:公开招标 9、合同履行期限:具体内容详见招标文件第五章的“采购需求”。 二、投标人的资格要求 1、投标人的基本资格条件:投标人必须是在中华人民共和国境内注册登记的法人、其他组织或者自然人,且应当符合《政府采购法》第二十二条第一款的规定,即: (1)具有独立承担民事责任的能力; (2)具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度; (3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力; (4)有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录; (5)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录; (6)法律、行政法规规定的其他条件。 2、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同投标人,不得参加同一合同项下的政府采购活动。 3、为本采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的,不得再参加此项目的其他招标采购活动。 4、列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单,列入政府采购严重违法失信行为记录名单的,拒绝其参与政府采购活动。 5、联合体投标:本次招标不接受联合体投标。 6、本项目的特定资格要求:无。 三、获取招标文件的时间、期限、地点、方式及招标文件售价 1、时间:2022年06月20日至2022年06月27日(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午09:00至12:00,下午15:00至17:00(北京时间,法定节假日除外)。 2、地点:湖南省招标有限责任公司招标六部(长沙市雨花区湘府东路199号招标大厦1406室)。 3、方式:持法定代表人身份证明原件或授权委托书原件(附法定代表人身份证明原件)、个人身份证原件、投标人营业执照副本复印件购买招标文件。 4、售价:人民币400元/份,售后不退。 四、投标截止时间、开标时间及地点 1、提交投标文件的截止时间:2022年07月13日14时30分(北京时间) 2、投标地点:湖南省招标有限责任公司十二楼开标一厅(长沙市湘府东路199号招标大厦)。 3、开标时间:2022年07月13日14时30分(北京时间) 4、开标地点:湖南省招标有限责任公司十二楼开标一厅(长沙市湘府东路199号招标大厦)。 5、其他要求:逾期送达的或者未送达指定地点的投标文件将拒绝接收。届时请投标人的法定代表人或其委托代理人出席开标仪式,未购买招标文件的单位不得参加投标。 五、公告期限 1、本招标公告在中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn/)、中南大学校园网(http://tz.its.csu.edu.cn/)、中南大学采购与招标管理中心网(http://czzx.csu.edu.cn/)上发布。 公告期限从本招标公告发布之日起5个工作日。 2、在其他媒体发布的招标公告,公告内容以本招标公告指定媒体发布的公告为准;公告期限自本招标公告指定媒体最先发布公告之日起算。 六、疑问及质疑 1、投标人对政府采购活动事项如有疑问的,可以向采购人、采购代理机构提出询问。采购人、采购代理机构将在3个工作日内作出答复。 2、潜在投标人认为招标文件或招标公告使自己的合法权益受到损害的,可以在收到招标文件之日或招标公告期限届满之日起7个工作日内,按《湖南省财政厅关于印发<政府采购质疑答复和投诉处理操作规程>的通知》(湘财购〔2019〕20号)规定,以书面形式一次性向采购人、采购代理机构提出质疑。 七、其他补充事宜 疫情注意事项 项目报名及开评标期间,为做好新型冠状病毒感染肺炎疫情防控工作,防止交叉感染,本次开评标将采取全部人员防护上岗措施,并在开评标场所入口处进行体温检测和人员信息登记。温馨提示: 1、为避免交叉感染,本项目各供应商委派授权委托人最多1人携身份证原件及其他资料参加报名和开标会议。参加开标的投标人代表应确保开标当日居民健康码为绿色,方可参加投标活动。 2、请各供应商人员必须佩戴口罩,尽量提前到达开标现场,并积极配合工作人员进行现场体温检测并进行健康信息登记。 3、进入开标活动现场的人员应无感冒、发烧、咳嗽等症状,并按疫情防护要求做好有效防护措施。 4、近一个月内有与新冠肺炎病人有接触史的,必须向代理服务机构特别申报。如不申报,将负法律责任。 八、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名 称:中南大学 地 址:长沙市麓山南路932号 联系人:张老师 联系方式:0731-88836937 2、招标代理机构信息 名 称:湖南省招标有限责任公司 地 址:长沙市雨花区湘府东路199号招标大厦 联系人: 张子怡 王思 联系方式:0731-84511088 3、项目联系方式 项目申购单位:物理与电子学院 项目联系人:刘老师 联系电话:13787082527
  • 250万!高分辨场发射环境扫描电镜采购项目
    项目编号:2022-JF223项目名称:高分辨场发射环境扫描电镜预算金额:250.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):250.0000000 万元(人民币)采购需求:高分辨场发射环境扫描电镜,数量:1套;简要技术要求:高分辨场发射环境扫描电镜用于微塑料样品中的表面形貌的二次电子像、反射电子成像观察及图像处理。高性能x射线能谱仪,能同时进行微塑料样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析;其他详见招标文件。合同履行期限:按招标文件要求。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 扫描电镜操作有难关?免费尝鲜前3讲——《场发射扫描电镜专业进阶20讲》助你攻克技术操作难点
    在科技迅猛发展的今天,我们对微观世界的探索从未停止。扫描电镜,作为揭示物质微观结构的利器,在我国的科研与工业领域扮演着越来越重要的角色。据统计,我国扫描电镜的保有量已超过1万台,每年新增600台,其中场发射扫描电镜占比超过2/3,每年累计的机时超过1500万小时,为科研和工业领域提供了强大的支持。面临的挑战:(1)操作人员专业水平不足:许多操作人员缺乏必要的专业知识和正规培训,限制了他们进行深入分析和获取高质量图像的能力。(2)专业人才短缺:我国在高水平的扫描电镜操作人才方面存在严重短缺,这限制了我们成为扫描电镜使用的强国。(3)高校课程设置不足:大多数高校,包括工科院校,缺乏专门的扫描电镜课程,通常只是将其作为实验方法课的一部分,导致学生获得的相关知识有限。(4)理论更新滞后:随着扫描电镜技术进入场发射和数字化时代,国内的理论教学仍然停留在钨灯丝时代,亟需更新。解决方案:为了解决这些问题,我们特别邀请了李永良教授开设《场发射扫描电镜进阶20讲》课程。(点击图片,购买课程)李教授拥有36年的丰富经验,发表了160余篇论文,其中38篇为第一作者。2024年,他发表了专著《场发射扫描电镜的理论与实践》,并在仪课通平台上开设了扫描电镜课程,旨在帮助学习者更有效地掌握这门技术。现在,我们诚邀您加入这场微观世界的探索之旅,与李永良教授一起,深入学习扫描电镜的奥秘,成为领域内的专家。让我们一起推动我国扫描电镜技术的发展,为科研和工业的进步贡献力量!购课可咨询客服:
  • 扫描电镜能谱技巧分享|4种方法提高扫描电镜能谱的准确性
    扫描电镜能谱技巧分享|4种方法提高扫描电镜能谱的准确性能谱(EDS)结合扫描电镜使用,能进行材料微区元素种类与含量的分析。其工作原理是:各种元素具有自己的 X 射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量 E,能谱仪就是利用不同元素 X 射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。 能谱定量分析的准确性与样品的制样过程,样品的导电性,元素的含量以及元素的原子序数有关。因此,在定量分析的过程中既有一些原理上的误差(数据库及标准),我们无法消除,也有一些人为因素产生的误差(操作方法),这些因素都会导致能谱定量不准确。 飞纳能谱面扫01 根据衬度变化判断元素的富集程度 利用能谱分析能够根据衬度变化判断元素在不同位置的富集程度。 如图 1,我们获得了材料的背散射图像以及能谱面扫 Si 的分布图,其中 Si 含量为20.38%。在背散射图及面扫图中,可以看到不同区域衬度不同,这是不同区域 Si 含量不同造成的。我们选取了点 2-7,其点扫结果 Si 含量分别为 19.26%、36.37%、18.06%、1.54%、20.17%、35.57%。 这种通过衬度判断元素含量的方法在合金(通过含量进而推断合金中含有金相的种类,不同的金相含有的某种元素有固定的含量区间),地质(通过含量判断矿石等的种类)等行业有广泛的应用。 图1. 左图为材料背散射图及能谱点扫位置,右图为能谱面扫 Si 含量的分布 02 判断微量元素的分布 利用能谱,可以寻找极微量元素在材料中分布的具体位置,先通过面扫进行微量元素分布位置的判断,然后通过点扫确定。 如下图,左边为背散射图像,右边分别对应 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P,它们的含量如表 1,通过能谱面扫描分析得到各元素含量,其中 P 的含量为 0.09%。 图2. 材料的背散射图及 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P 元素的分布 表1. 图 2 中 Al、Cr、Fe、Mg、Si、Ca、Ti、P 元素含量 工程师对样品进行点扫确认,位置 7 是面扫结果P元素富集区,其各元素分布如表 2,这个位置的P含量高达 14.56%,局部含量比整体含量高 160 倍。 图3. 背散射图像及样品点扫位置 表2. 样品点扫位置 7 各元素的含量飞纳台式扫描电镜获得高质量面扫结果的原因1. 灯丝亮度决定能谱信号的强度,飞纳电镜采用 CeB6 灯丝,具有高亮度,可以获得高强度的能谱信号。 2. 采用新型 SDD 窗口材料 Si3N4,提高了穿透率,透过率由 30% 提高到 60%。比传统聚合物超薄窗透过率提高 35% 以上。 3. 采用 Cube 技术提高响应速度(计数率)并降低了噪音(分辨率提高),是国际上处理速度最高的能谱系统,解决了计数率与分辨率的冲突。 如图 4 所示,飞纳电镜能谱一体机可以获得更高计数率与更高分辨率的能谱结果。 图4. 飞纳能谱结果 飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 不需要液氮、制冷速度快、信号强度大、分辨率高、体积和重量小,真空密封性高,可以使用更少的能量获得更低的温度。尺寸更为紧凑,适用于不同环境需求。小技巧 - 如何提高能谱的准确性能谱使用前要校准保证样品平整保证分析区域均质、无污染保证样品导电性、导热性良好
  • 铜仁学院1495.00万元采购孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X...
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 贵州省-铜仁市-万山区 状态:公告 更新时间: 2023-04-21 招标文件: 附件1 附件2 附件3 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年05月11日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P52060020230002KG 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 项目序列号:P52060020230002KG 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)】:7000000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)】:7300000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD) 铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET) 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD)。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET)。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年04月21日 17时00分至 2023年04月28日 17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年05月11日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年05月11日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室二 五、公告期限 2023年04月21日17时00分至2023年04月28日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。7.7本项目为货物采购(注:进口设备)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁学院 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览:交易公告.pdf铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X光电子能谱,分子荧光光谱 开标时间:2023-05-11 09:30 预算金额:1495.00万元 采购单位:铜仁学院 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:大成工程咨询有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 贵州省-铜仁市-万山区 状态:公告 更新时间: 2023-04-21 招标文件: 附件1 附件2 附件3 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年05月11日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P52060020230002KG 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 项目序列号:P52060020230002KG 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)】:7000000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)】:7300000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD) 铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET) 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD)。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET)。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年04月21日 17时00分至 2023年04月28日 17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年05月11日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年05月11日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室二 五、公告期限 2023年04月21日17时00分至2023年04月28日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。7.7本项目为货物采购(注:进口设备)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁学院 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览:交易公告.pdf铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf
  • 1272万!超高分辨冷场发射扫描电镜、多场原位测试用扫描电镜等仪器设备
    一、项目基本情况1.项目编号:[350001]CCZB[GK]2023010项目名称:超高分辨冷场发射扫描电镜等仪器设备采购方式:公开招标预算金额:7,225,000.00元采购包1(超高分辨冷场发射扫描电镜):采购包预算金额:3,500,000.00元采购包最高限价: 3,500,000.00元投标保证金: 70,000.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业1-1A02109900-其他仪器仪表超高分辨冷场发射扫描电镜1(套)是详见招标文件3,500,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。采购包2(旋转流变仪):采购包预算金额:900,000.00元采购包最高限价: 900,000.00元投标保证金: 18,000.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业2-1A02109900-其他仪器仪表旋转流变仪1(套)是详见招标文件900,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。采购包3(扫描探针显微镜):采购包预算金额:1,205,000.00元采购包最高限价: 1,205,000.00元投标保证金: 24,100.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业3-1A02109900-其他仪器仪表扫描探针显微镜1(套)是详见招标文件1,205,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。采购包4(凝胶渗透色谱):采购包预算金额:420,000.00元采购包最高限价: 420,000.00元投标保证金: 8,400.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业4-1A02109900-其他仪器仪表凝胶渗透色谱1(套)是详见招标文件420,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。采购包5(广角动静态光散射系统):采购包预算金额:1,200,000.00元采购包最高限价: 1,200,000.00元投标保证金: 24,000.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业5-1A02109900-其他仪器仪表广角动静态光散射系统1(套)是详见招标文件1,200,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。2.项目编号:OITC-G230311159项目名称:中国科学院金属研究所多场原位测试用扫描电镜采购项目预算金额:550.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):550.0000000 万元(人民币)采购需求: 包号设备名称数量简要用途交货期预算交货地点是否允许采购进口产品1多场原位测试用扫描电镜1套高分辨率成像观察,快速获取样品表面微观结构形貌信息、成分衬度信息,原位测试下进行高分辨观察样品。搭载X射线能谱仪附件,可同时对样品表面微观区域内的元素成分进行定性和定量分析;搭载高速高灵敏高分辨EBSD附件,能够对晶体材料进行空间分辨率亚微米级的电子背散射衍射,能够给出结晶学数据。合同生效后9个月550万元中国科学院金属研究所是 投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得转包、分包,评标、授标以包为单位。合同履行期限:合同生效后9个月内交货。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件1.时间: 2023-06-27 至 2023-07-04 ,(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午00:00:00至12:00:00,下午12:00:00至23:59:59(北京时间,法定节假日除外)地点:招标文件随同本项目招标公告一并发布;投标人应先在福建省政府采购网(zfcg.czt.fujian.gov.cn)免费申请账号在福建省政府采购网上公开信息系统按项目下载招标文件(请根据项目所在地,登录对应的(省本级/市级/区县))福建省政府采购网上公开信息系统操作),否则投标将被拒绝。方式:在线获取售价:免费2.时间:2023年06月29日 至 2023年07月06日,每天上午9:00至12:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:登录“东方招标”平台http://www.oitccas.com注册并购买。方式:1)登陆“东方招标”平台(http://http://www.oitccas.com/),点击“获取采购文件”链接图标,或直接输入访问地址(http://http://www.oitccas.com/pages/sign_in.html?page=mine)完成供应商注册手续(免费),然后登陆系统寻找有意向参与的项目,已注册的供应商无需重新注册。磋商文件售价:每包人民币600元。如决定购买磋商文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。(一)采购人信息名称:福建师范大学地址:福建省福州市闽侯县上街镇乌龙江大道18号福建师范大学旗山校区联系方式:郑老师136968399892.采购代理机构信息(如有)名称:福建省承诚招标代理有限公司地址:福州市鼓楼区梁厝路2号华雄大厦3号楼17层联系方式:李杰0591-87554016/87554653/邮箱:fjscczb@163.com3.项目联系方式项目联系人:李杰电话:0591-87554016网址: zfcg.czt.fujian.gov.cn开户名:福建省承诚招标代理有限公司(二)1.采购人信息地址:沈阳市沈河区文化路72号        联系方式:佟老师;024-23971066      2.采购代理机构信息名 称:东方国际招标有限责任公司            地 址:北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层            联系方式:王军、郭宇涵、李雯;010-68290508;010-68290599;010-68290530             3.项目联系方式项目联系人:佟老师电 话:  024-23971066
  • 铜仁学院1495.00万元采购孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X...
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购 贵州省-铜仁市-碧江区 状态:公告 更新时间: 2023-03-10 招标文件: 附件1 附件2 来源:铜仁市公共资源交易中心 发布日期:2023-03-10 文章 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年03月31日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P520600202300017X 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购 项目序列号:P520600202300017X 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1】:7300000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2】:7000000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1 数量:-1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1采购设备包括:1.扫描电子显微镜(SEM)1套、2.高低温介电阻抗温谱仪1套、3.铁电分析仪1套、4.X射线衍射分析仪(XRD)1套。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2 数量:-1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2采购设备包括:1.波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)1套、2.X射线光电子能谱仪(XPS)1套、比表面积及孔隙度分析仪(BET)1套。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年03月10日 17时00分至 2023年03月17日17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年03月31日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年03月31日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室五 五、公告期限 2023年 03 月 10 日 17 时 00 分至2023年 03 月 17 日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁市碧江区川硐办事处教育园区启航路238号 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览: 交易公告.pdf 9.公开招标(分析测试中心)采购文件(论证版).pdf × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X光电子能谱,分子荧光光谱 开标时间:2023-03-31 09:30 预算金额:1495.00万元 采购单位:铜仁学院 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:大成工程咨询有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购 贵州省-铜仁市-碧江区 状态:公告 更新时间: 2023-03-10 招标文件: 附件1 附件2 来源:铜仁市公共资源交易中心 发布日期:2023-03-10 文章 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年03月31日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P520600202300017X 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购 项目序列号:P520600202300017X 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1】:7300000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2】:7000000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1 数量:-1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1采购设备包括:1.扫描电子显微镜(SEM)1套、2.高低温介电阻抗温谱仪1套、3.铁电分析仪1套、4.X射线衍射分析仪(XRD)1套。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2 数量:-1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2采购设备包括:1.波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)1套、2.X射线光电子能谱仪(XPS)1套、比表面积及孔隙度分析仪(BET)1套。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年03月10日 17时00分至 2023年03月17日 17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年03月31日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年03月31日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室五 五、公告期限 2023年 03 月 10 日 17 时 00 分至2023年 03 月 17 日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁市碧江区川硐办事处教育园区启航路238号 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览: 交易公告.pdf 9.公开招标(分析测试中心)采购文件(论证版).pdf
  • 日立场发射扫描电镜摄影大赛通知
    2011年日立(Hitachi)场发射扫描电镜摄影大赛的通知 为了普及电镜相关知识,提高电镜使用技术水平,增强工作者对电镜应用的技术交流,特别是日立场发射扫描电镜应用体会与交流,由天美(中国)科学仪器有限公司和日立高新技术有限公司共同主办的“2011年日立(Hitachi)场发射扫描电镜摄影大赛”,诚邀日立场发射扫描电镜的研究工作者、爱好者、老师以及在校学生积极参加此次活动。一、大赛宗旨将艺术手法与科学技术融入微观世界,加强行业内技术交流,增强工作者的兴趣与热情,提高使用水平,推动电镜事业的发展。二、大赛主题交流合作,共同提高三、主办单位天美(中国)科学仪器有限公司日立高新技术有限公司四、参赛资格国内大专院校、科研院所及企事业单位等日立场发射扫描电镜的使用者、爱好者、在读博士及研究生。五、参赛办法及要求1、作品必须为日立场发射扫描电镜拍摄的图片。2、同一参赛者(或单位) 最多可提交2幅图片。3、参赛作品必须是参赛者本人亲自拍摄,不得使用或抄袭他人图片参赛。4、为了促进场发射扫描电镜使用者间的技术交流,提交作品请注明参赛作品的制作详情,如:电镜型号,样品类型,制样方法,拍摄时间,拍摄条件等。5、请提供原始图片,无伪彩色,允许适当调整对比度。6、请参赛者对参赛作品做简单介绍说明,便于我们初选图片。7、参赛人员需在11月4日前附件形式提交参赛作品(电子版,格式可为jpg,tif,bmp等。最好附带图片信息的电镜生成的txt文本文件)至邮箱:hitachisem@foxmail.com。8、获奖作品的颁奖仪式将在日立公司在北京举行的新品发布会上进行。9、参赛作品可公开,天美公司和日立公司可在合乎法律范围内并在标注原作者的情况下对参赛作品及获奖作品拥有无偿引用权六、评选标准初评:时间:11月4日~ 11月13日评委:HTG 1人 天美1人 外聘专家 3人评分标准:5分制 高分辨率 样品微小细节清晰,轮廓清楚,细节信息丰富 非常好 较好 好 一般 较差 5 4 3 2 1 印象 第一眼印象,包括图像美观,视觉效果好,对比度协调 难易度 样品的制备困难?容易荷电样品?容易污染?最终入围:20幅作品,入围作品将在日立电镜交流QQ群、仪器信息网等处公布。终评:时间:新产品发布会当日 评委:参加发布会的所有老师 方式:全员投票七、奖项设置特等奖1名 奖品为 ipad2(价值4000元)给力奖2名 奖品为ipod touch 4代(价值2000元)优秀奖2名 Sony um-e463(价值800元)贡献奖15名 奖品为ipod shuffle(价值400元)同时颁发荣誉证书。八、联系方式联系人:武素芳,手机13811904356;秦艳,手机13581554067公司电话:010-64010651 E-mail: hitachisem@foxmail.com联系地址:北京市西城区鼓楼西大街41号天美(中国)科学仪器有限公司九、本次大赛规则解释权归大赛组委会 天美(中国)科学仪器有限公司2011年10月
  • 钢研纳克:高通量(场发射)扫描电镜是扫描电镜技术的一个比较新的技术分支
    同花顺(300033)金融研究中心10月28日讯,有投资者向钢研纳克(300797)提问, 高通量(场发射)扫描电镜,成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。以半导体领域为例:半导体工艺线宽从100nm量级到至今的5nm,工艺制程中的缺陷检测也变的至关重要。半导体元器件进行失效分析往往需要采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。扫描电镜分辨率高(纳米级),景深大而且可以从几十倍到几千倍连续扩大,是半导体材料研究和分析的重要工具。请问这高通量电镜是真的这麽厉害吗?公司回答表示,投资者您好,高通量(场发射)扫描电镜是扫描电镜技术的一个比较新的技术分支。最早应用在半导体产线上的电子束晶圆检测设备(EBI),从发明到现在已经在半导体产线中被成功应用于在线检测设备超过20年。近些年慢慢开始被应用到非半导体领域,如材料表征、生命科学的组织结构观测等等。虽然其有着比较大的速度优势,但是由于技术比较新,适用条件比较严苛,在应用到其他领域时也存在诸多限制,需要持续的技术升级与改进。感谢您的关注!
  • 国产|祺跃科技发布原位高温扫描电镜新品
    仪器信息网讯 2021年10月14日晚,“2021年全国电子显微学学术年会”在广东省东莞市会展国际大酒店召开前夕,祺跃科技原位高温扫描电镜新品发布会在酒店四楼举办,并正式发布祺跃科技自主研制的原位高温扫描电镜。基于新的发展思路、新的设计理念,突破成像温度,引领原位表征技术,实现原位扫描电镜整机国产化。新品发布会现场中国科学院院士、浙江大学教授张泽致辞 张泽院士在致辞中表示,从科研平台发展成为一个商业化产品会面临很大挑战,需要把我们擅长的科学技术转变为大家都可以方便使用的产品,不仅需要各类跨学科人才,还要经历市场考验。而当前时代下,从经济实力、到学术积累,再到国家支持等,让迎接以上挑战具备了条件。此时,若有勇气去做,便是一件很了不起的事。当前,电子显微镜的空间分辨率、能量分辨率、成分分辨率等已经不断推向极致,团队早期牵头完成的国家基金委重大科研仪器专项便希望从材料真正使用环境出发,在苛刻使役环境条件的原位电镜技术发展方面寻求突破。但已有商品化电镜在设计开发时大部分考虑的还是室温成像能力和分辨能力,均不能满足兼顾超高温加热拉伸和实时原位微观表征的能力。扫描电镜可以配置原位拉伸台、热台、以及拉伸加热台等附件,但受限于现有的SEM样品腔室结构和真空系统设计,也无法满足更高温、高应力等苛刻环境的需求,研究面临“蜗居”受限境况。本次原位电镜新品便解决了这些问题,这款电镜大概是目前世界上最大的扫描电镜腔室,长度已经超过半米,如此大的空间,可以提供更多的想象空间和努力方向。将已有扫描电镜分辨率的极致性能与这样的环境条件相结合,可以做许多事情,比如原位分析大数据人工智能等。而这只是基于材料研究的一类模式,无限可能下,更多挑战将待大家探索。浙江祺跃科技公司总经理 浙江大学教授张跃飞介绍新品张跃飞教授表示,祺跃科技成立于2019年3月,主要致力于研发基于扫描电子显微镜、光学显微镜、x射线衍射仪等设备的原位分析装置,涉及的领域包括原位力学、高低温环境控制、力热耦合、电化学测试等多个方向。祺跃科技在原位分析测试领域快速发展的研发基础,主要来自于浙江大学张泽院士牵头的国家基金委重大科研仪器专项的成果转化。祺跃科技原位高温扫描电镜新品当前,扫描电镜在空间分辨、成分分析、晶体取向等方面已经取得很高水平,扫描电镜在“显微”方面已经做的足够好,祺跃科技未来扫描电镜需要进一步开拓扫描电镜的“威”力——在于材料分析的应用场景和过程分析之中,将材料应用场景与扫描电镜显微分析能力结合起来,具体如快速、多场、原位、动态、实时、在线等。新开发的扫描电镜设计理念包括样品室空间从紧凑到合理,样品台承载能力较大、成像探测器承温能力提升、保证高真空足够的抽气能力等,达到追求时序信息的目标。新品视频介绍:本次新品实现整机国产化的核心部件包括高温二次电子探测器、三维移动平台与大载荷拉伸平台、1400度原位加热器、超大结构样品腔室和超高真空系统等。保障电镜极端环境长时间稳定运行的相关模块包括冷阱、等离子清洗、极靴屏蔽、红外测温等。同时兼容EDX和EBSD等,还预留设置了多种通讯接口,为今后拓展更多原位技术留有余地。 最后,张跃飞教授表示,扫描电子显微的发展还有更多的可能性,而祺跃科技从事扫描电镜开发刚刚上路,愿意与国内外电镜厂商共同开拓扫描电镜更多的应用可能,也愿意与更多专家学者开展技术合作与交流,共同推进中国电子显微仪器事业的发展。由于电镜腔室的移动、减震等问题比较困难,所以此次新产品发布会没有把电镜带到发布会现场。但祺跃科技的工作人员通过在线直播的方式,采用东莞与桐庐两地现场直播的方式,在线介绍了实体电镜的各项功能与研发思路等。 浙江大学副研究员王晋协助新品远程演示
  • 飞纳电镜彩色成像,给你的扫描电镜来点“颜色”看看
    随着工业生产日益复杂和产品标准不断提高,部件的质量控制和生产速度变得越来越重要。对于实验室和质量管理负责人而言,往往需要在技术人员较少、时间有限的情况下提供分析结果。目前,标准的行业解决方案是将用于获取结构信息的扫描电子显微镜(SEM)与能量色散 X 射线光谱(EDS)探测器相结合,进行样品的化学元素分析表征。 EDS 提供的元素信息可以给质量分析提供指导方向,然而将扫描电镜(SEM)与 EDS 割裂为两个独立的设备会导致用户体验不够友好。比如:需要不断地在高低倍数间切换来完成样品寻找和成像;需要在两个系统间不断进行数据同步和关联;独立的硬件和软件需求会导致兼容性问题和维护困难;数据分析可能会很麻烦并且需要很长时间;操作人员需要更长时间的专门培训。 飞纳电镜推出的 ChemiSEM 技术,将扫描电镜(SEM)形貌观察与 EDS 成分分析相结合,让工作流程更加流畅,简化了许多材料(包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等)的分析流程:通过彩色元素分布图与扫描电镜(SEM)图像的实时叠加,在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。 ChemiSEM 分析技术在易用性、便利性和速度上的提升,可以更快、更轻松地提供元素信息,降低每个样品分析测试的成本,更好地服务于质量分析过程。 对于您的实验室 ChemiSEM 提供了一个简单易行的解决方案,易于安装和使用,始终处于开启状态,并且能够在最少的训练和培训下提供可靠的结果。 对于您的团队 ChemiSEM 延长了设备有效机时,增加了样品吞吐量,从而提高了材料分析的质量和数量。 PART.01 实时分析获取更深层的信息 所有的 SEM-EDS 分析本质上都是复杂的,对于产品故障分析和污染物识别等应用,研发需要不断改进质量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解决出现的问题。 ChemiSEM 技术的实时分析在质量控制和生产效率提升方面提供了独特的优势。它的 EDS 集成在仪器中,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据,逐步建立样品更全面和详细的信息,帮助您更快地定位到关键质量问题 PART.02 实时定量面扫:不再有分析干扰 传统的元素分析中,复杂样品元素分布和相分布面扫并不能及时得到精确的结果。例如,一个峰的信号有时会被识别为两个元素,产生错误,干扰样品QC 问题的判断。 凭借创新的算法和智能光谱拟合,ChemiSEM 技术可以帮助您的实验室团队实现准确的元素识别和量化——即使在处理多个重叠元素时也是如此。 ChemiSEM 定量面扫 ChemiSEM 技术自动处理原始信号,生成定量面扫结果。数据被很好地解析,能够有效避免和峰和重叠峰的影响。并且使用专利的算法同时处理 BSE(背散射电子)和 EDS 信号,从而可以实时显示样品的形态和元素定量结果。 PART.03 无偏差相分析 传统的相分析高度依赖于对样品的假设,当存在谱峰重叠或强度不足而遗漏了元素时,这可能会是一个问题。 有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技术中的一项新功能)后,可以避免这种情况。复杂样品的分析能够做到完全无偏差,可以基于数据单元中所有光谱结果,系统地识别每个独立的相。随后,数据分析可以在没有任何元素预定义的情况下自动运行,无需丰富经验即可定位次要/微量元素,明确识别主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。 地质切片分析 使用 ChemiPhase 对地质切片的分析,每个相的能谱成分被自动提取和计算,可以将不同矿物相有效区分。 PART.04 自动样品漂移校正 成分分析过程中,准确和有效的定量结果需要一个正确且稳定的样品位置信息。 通常在图像漂移的情况下,研究人员需要多次重新获取分析数据,或者等待样品停止漂移后再获取数据,这两种方式都会降低测试效率。 通过不断监控样品位置,ChemiSEM 软件提供自动样品漂移校正,使高倍率操作和较长时间的能谱采集成为可能。帮助大家节省宝贵的时间和精力,专注于更重要的事情:尽快获取最高质量的数据。 简而言之,ChemiSEM 技术提供高质量的分析结果。它在大量的操作参数范围内进行了优化,即使在存在多个重叠峰的情况下也能提供可靠的数据结果。智能光谱拟合根据精确的参数设置自动验证元素,为获得的结果提供保证。
  • JEOL钨灯丝扫描电镜升级
    日本电子株式会社(JEOL)2021年11月8日全球同步发布钨灯丝扫描电镜升级,升级后的型号为JSM-IT510。主要特点如下: 1.最新简易功能 最新简易功能可帮助用户简单获取观测条件和区域,然后自动财经扫描图像,电镜操作变得更为高效。2.最新型低真空二次电子探头 (LHSED)" 低真空下可同时采集电子和光子信号获得性噪比更好的形貌像。3.扫描电镜图像和能谱的一体化 可提供观察区域的实时成份面分布。4.实时立体三维图像 三维图像(3D)可观察区域提供不平表面的深度的信息。5.实时分析功能 一体化能谱仪提供观察区域实时的能谱谱图。6.新的导航放大功能 新的导航放大功能可提供光镜下4倍的图像,方便寻找视野。7.0 倍放大 使用0被放大功能,可以选择多个区域从光镜下直接切换到电镜倍数。8.显示X射线产生区域 帮助快速理解样品的分析深度。T9.SMILE VIEW™ Lab管理软件 快速生成包含图像和成分分析的报告书。详情请咨询捷欧路(北京)科贸有限公司各分公司。
  • 扫描电镜在微生物腐蚀研究中的应用
    近年来,随着科学技术的不断发展,人类对海洋的探索和需求不断深入。而船舶是海上运输的主要工具,由于海上环境的复杂性,对船舶所用钢材的结构性能及耐腐蚀性的要求极高,不但要耐大气腐蚀、耐海水腐蚀,还要耐微生物腐蚀(microbially influenced corrosion,MIC)[1,2]。 1891年Garrett提出微生物腐蚀后,Gaines于1910年从埋设地下管线的腐蚀产物中提取出铁嘉氏杆菌,指出了细菌参与管道腐蚀的证据[3] 。荷兰学者Von Wlzoge K ü hr自1922年开始,做了大量关于硫酸盐还原菌SRB的研究工作,并于1934年提出了著名的阴极去极化理论,自此,科技界才开始关注微生物作用下的腐蚀。 腐蚀微生物主要是在自然界中参与硫、铁元素循环的菌类,包括好氧菌和厌氧菌。好氧菌有硫杆菌属,如氧化硫杆菌、氧化亚铁硫杆菌和排硫杆菌等。它们分布于含硫的酸性矿水、土壤及海洋淤泥中,通过氧化元素硫和还原性硫化物,产生硫酸而腐蚀金属、混凝土构件等。厌氧菌主要是硫酸盐还原菌(SRB),广泛分布于pH6~9的土壤、淡水、海水、淤泥中。微生物腐蚀常给地下管线、海底电缆、工业注水系统等工业设施带来严重危害,造成经济上的损失。 图1 管线钢的微生物腐蚀 微生物腐蚀都是电化学过程,要对所得的电化学数据和腐蚀机制作出合理的解释,必须借助于表面分析技术。在微生物腐蚀的研究中,常用的表面分析技术有:环境扫描电镜(ESEM)、扫描电子显微镜(SEM)、能谱(EDS)、俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)等。本文对微生物腐蚀的样品制备及检测进行了简要介绍。 图2 微生物样品的制备方法 扫描电镜可以观察生物样品的种类繁多,特异性很大,制备的方法不可能完全相同,对于含水较多的样品通常可采用如上方法。 本文所用到的样品制样过程如下:1、钢铁样品在含有SRB的培养基中培养数日;2、浸入含有缓蚀剂的酸洗溶液中去除样品观察表面的腐蚀产物及杂质;3、在2%的戊二醛溶液中浸泡1h;4、分别用25%、50%、75%、100%的乙醇溶液进行脱水,脱水时间各15min;5、样品在空气中干燥。 图3扫描电镜下的硫酸盐还原菌(SRB) 离子溅射仪镀膜后放入赛默飞场发射扫描电子显微镜Apreo 2S内进行检测。如图3所示,在SEM下可清晰观察到SRB在样品表面的附着状态,研究人员往往可通过SRB的附着数量、附着位置及附近的腐蚀情况等进一步研究。 注:SEM/EDS 由于在高真空下进行测试 ,需要对试样进行固定、脱水和喷导电涂层,试样制备过程较复杂,会破坏生物膜的结构,因此,SEM形成的图象具有一定的误差,在分析实验结果时应考虑到这一点。 参考文献1. 安闻迅. 船用钢海水腐蚀与检测研究。2. 陈鸿海. 金属腐蚀学。3. 凌云, 陈志刚. 材料的微生物腐蚀研究与进展。
  • Webinar 回放|Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜
    科研工作者或工艺开发人员如果想发现新的应用,开发新材料或创造更高质量的产品,提高产品性能,往往需要在极高放大倍数下,观察材料清晰的微观形貌。然而光学显微镜和传统钨灯丝扫描电镜无法提供高分辨率的成像,这时,就需要应用场发射扫描电镜(FEG - SEM)。 场发射灯丝可以提供稳定、高亮度电子束,因此纳米颗粒的形貌、薄膜中的极微小的缺陷、绝缘材料或对高能量电子束敏感的材料,只有通过使用场发射扫描电镜才能得到良好的表征效果。 铜钾晶体 众所周知,落地式场发射扫描电镜体积大,通常需要一个专门的房间以及磁场、震动屏蔽设备,同时操作也较为复杂。因此,许多拥有落地式场发射电镜的单位会限制设备使用,只允许受过高阶培训的人员操作。许多研究小组、部门或公司会将场发射扫描电镜的测试需求外包给第三方实验室或测试中心,以避免在 FEG-SEM 的管理和使用中出现问题。 现在,这种顾虑已经消失了。Phenom Pharos G2 是全球唯一的台式场发射扫描电镜。它非常容易安装和操作,可以使研究小组、部门或公司拥有自己的 FEG-SEM,不再依赖外部测试服务。 Phenom Pharos G2 对占地面积要求较小,只需一张承重 150kg 的桌子,不仅节省空间,同时也不需要配备其他附加设备。 光学显微镜具备可变焦、明暗场成像功能,在整个 SEM拍摄过程中辅助我们导航和定位需要观察的特征位置。一键式进入 SEM,全自动送样,抽真空,开高压,自动对焦,全程仅需 30 秒,即可快速得到高清图像,轻松获得所需要的放大倍数。 Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜作为一款高效且易于使用的桌面式扫描电镜,为各种材料提供高分辨率成像,也可以对各类电子束敏感样品进行成像,将研究领域扩大到药物、聚合物和有机材料等。 与其他扫描电镜相比,场发射电镜在低加速电压下仍具有较好性能,无需对样品进行特殊处理,就可直接对绝缘材料和电子束敏感材料进行成像,同时不会损坏样品,不会掩盖纳米级特征。 Phenom Pharos G2 的电子束能量范围大,利用低电压能够对电子束敏感的样品成像。例如,用于水净化的沸石,常用药片或胶囊的药物粉末,以及以尼龙、聚酯、氨纶和芳纶为原料的聚合物纤维。对于这些样品,如果使用高能量的电子束进行成像,样品会受到明显损伤,所以需要使用低能量电子束进行成像。 沸石 聚合物纤维 药物粉末 Webinar 回放 Phenom 台式扫描电镜重新定义了速度、简易性和优异性能的完美统一。所有 Phenom 台式扫描电镜都支持选配 X 射线能谱仪(EDS),且元素分析与扫描电镜有机结合到一起,形成统一、用户友好的软件操作界面,任何操作者都能在几分钟内获得 SEM 图像和元素分析结果。简单、易操作的飞纳电镜是材料科学者的理想选择,不同研究背景的人员都能获得想要的测试结果。
  • 国产高端场发射枪扫描电镜产品首次亮相高交会
    11月15日,第二十五届中国国际高新技术成果交易会(以下简称“高交会”)在深圳开幕。  记者在中国科学院专馆看到,作为尖端科学仪器和真空技术领军者——北京中科科仪股份有限公司携其全资子公司科仪光电带来了具有自主知识产权的场发射枪扫描电子显微镜产品KYKY-EM8100。据悉,这是该产品首次在高交会亮相。中国科学院专馆  场发射枪扫描电镜是纳米技术、生物技术、医学、化学、物理学研究的重要工具,在半导体集成电路加工、微机电系统、微型传感器等信息技术支撑领域和环境保护领域也发挥着重要作用,广泛应用于金属、陶瓷、矿物、冶金、高分子、复合材料、微生物、新能源材料的表面形貌进行观察及微区的点、线、面成分分析。  同时,场发射枪扫描电镜在虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、产品质量鉴定等方面也有广泛的应用,对于我国的基础科学研究、生产工艺控制、各分类学科的研究有着不可替代的重要地位。  针对基础科学研究和高精尖工业制造对国产场发射枪扫描电镜的迫切需求,2013年,中科科仪牵头,联合北京大学、中国科学院微电子研究所、中国科学院生物物理研究所、国家环境分析测试中心、清华大学等单位,承担国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”,在2014年成功推出了国内首台肖特基场发射枪扫描电镜KYKY-EM8000,并在此基础上提升电子光学系统综合性能,于2017年推出了国产高端场发射枪扫描电子显微镜产品KYKY-EM8100,分辨率优于0.9nm@30kV,3nm@1kV,解决了高分辨率电子光学成像系统、系统集成调试等关键技术,成为国内首创、达到国际同类产品技术水平、具有完全自主知识产权的肖特基场发射枪扫描电子显微镜。  KYKY-EM8100场发射枪扫描电镜的技术优势主要有方面:一是自主设计制造了低像差物镜;二是突破了电子束镜筒加速技术;三是自主研制了电子光学智能化控制系统,实现了自动灯丝加热、自动偏压、自动孔径角、自动聚焦、自动亮度/对比度等电子光学智能化控制功能,还实现了图像增强、图像锐化、样品尺寸测量、形貌拟合、颗粒度分析等功能,大大提升了产品的功能性与使用便捷性,助力打好科技仪器设备国产化攻坚战。  据介绍,该款扫描电镜是北京中科科仪股份有限公司承担科技部国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”研制成果的一部分。该设备目前已完成科技成果转化及产业化落地,并形成批量销售。
  • TESCAN 扫描电镜全球销量突破3000台
    TESCAN 全球第3000台扫描电镜 — TESCAN AMBER X 氙气等离子双束 FIB 已在德国弗莱堡大学(University of Freiburg)完成了安装调试。TESCAN AMBER X 是 TESCAN 公司近年来最新推出的第四代电镜中的一员,它完美地结合了超高分辨 SEM 和等离子 FIB,用于样品表面成像以及刻蚀加工等。 这台 TESCAN AMBER X 安装在弗莱堡大学的微系统工程系(IMTEK),近期实验室为新设备举办了技术讲座,除了扫描电镜的演示之外,还介绍了这款设备即将发挥重要作用的两个研究项目。第一个研究项目是弗莱堡大学正在研发的先进神经反馈义肢,将在假肢上集成有“感觉”的反馈系统来实现缺失的神经系统的功能,患者使用这种特殊的义肢接触物体后,就产生“触感”,例如可以感知到物体的表面信息和硬度等。另一个研究项目是燃料电池,最终目的在于能够发现新的解决方案。TESCAN 德国子公司的 Sven Gosda 总经理表示:“ TESCAN AMBER X 已经被证明广泛适用于各类科研。对于我们的电镜能为这两个宏伟的科研项目提供帮助,我完全无法抑制内心的喜悦。”去年,位于布尔诺的 TESCAN 工厂生产了近300台电镜,其中绝大部分出口到全球各大城市。TESCAN 全球营销总监 Maro? Karabino? 表示:“TESCAN 是全球著名的电子显微镜和聚焦离子束供应商,我们非常高兴看到这台对 TESCAN 具有重大纪念价值的电镜能够在德国安装,我们一向重视德国市场并有长期发展的计划。” 这也不是弗莱堡大学第一次选择 TESCAN 的产品,自2016年开始 TESCAN 第三代扫描电镜就已经是弗莱堡大学实验室设备中的一员。TESCAN 公司在德国一直有着良好的口碑。为了能够给客户提供更优质的服务,TESCAN 公司在2018年正式收购了原德国经销商 EOElektronen-Optik-Service GmbH ,成立 TESCAN 的德国子公司 TESCAN GmbH。关于扫描电镜扫描电子显微镜不仅可以用于样品观察,还可以使用聚焦离子束(FIB)实现精确地定位切削和沉积加工,是微纳尺度加工和制样必不可少的工具。TESCAN 是全球首家将等离子 FIB 集成到扫描电子显微镜(SEM)中的制造商,并于去年底推出了新一代的 TESCAN AMBER X 和 TESCAN SOLARIS X。其中 TESCAN AMBER X 完美地结合了可用于样品精确加工的氙等离子体 FIB 和无漏磁的超高分辨成像的 SEM,适合于各类材料的显微结构表征。氙等离子体 FIB 与传统的金属镓离子的 FIB 相比,在小束斑的大离子束流上具有明显的优势。因此,TESCAN AMBER X 可以用更快的速度完成样品切削工作,并且仍然能完成精细加工和抛光,并实现15 nm的高分辨率成像。弗赖堡的阿尔伯特路德维希大学 (Albert Ludwig University of Freiburg) 是首批尝试使用这种新技术的机构之一。关于 TESCAN 公司TESCAN 公司位于欧洲电子光学研发和制造基地捷克布尔诺市,主要研发和生产扫描电子显微镜。公司成立于1991年,由原世界电子光学设备制造的领航者 TESLA 的研发人员和售后工程师创建。TESCAN 于1996年推出了首台仪器 PROXIMA,并凭借该系列产品跻身世界知名设备供应商之列。2013年,TESCAN 与法国公司 ORSAY PHYSICS 组建控股公司 TESCAN ORSAY HOLDING,在全球范围内进行扩张并建立多家子公司,公司总部、生产和研发部门仍然位于布尔诺-科胡图维斯。每一台 TESCAN 扫描电镜都在布尔诺生产,其中大约95%会运往全球各地。TESCAN 的主要客户包括大学,研究中心以及各个行业的工业企业和生产企业。TESCAN ORSAYHOLDING 拥有600多名员工,各类电镜的年产量约为300台,每年的营业额达到20亿捷克克朗。 2018年,TESCAN 收购了 X射线CT 领域著名的制造商 XRE NV 公司,开始生产商业化可用于大尺寸样品三维、四维原位动态分析的 XCT 设备,可研究各种样品在真实环境(原位)下的材料演变,为科学研究及工业应用提供成熟的亚微米尺度分析解决方案。我们的 XCT 客户快速增长,截止2019年底,全球已有近20家科研院所和知名企业和 TESCAN 达成了合作协议并采购了 XCT,包括华威大学、鲁汶大学、CWI 研究所、美国国家能源技术实验室、加拿大国家研究院、沙特阿拉伯国王科技大学和 P&G 等高端科研和工业用户。TESCAN 公司不会停下前进的步伐,我们将致力于为更多的客户提供有价值的综合解决方案,以更好的产品质量以及应用售后团队服务于全球客户!
  • 日本电子发布大样品仓热场发射扫描电镜JSM-IT300HR
    基于50年的扫描电镜研发经验,16-17下半财年伊始,日本电子株式会社发布了具有颠覆性设计的场发射扫描电镜JSM-IT300HR,并且在今年的法国欧洲里昂举行的电镜会上进行了JSM-IT300HR实机展示,大受好评。  作为业内第一款易用型场发射扫描电镜,JSM-IT300HR拥有众多领先业界的特性:  1) 摆脱了冷却循环水和空气压缩机,更不需要氮气瓶。第一次在场发射扫描电镜上实现只要有电源就可以安装。  2) 样品仓超大,12英寸硅片(300mm直径)可直接放入观察。重样品可五轴方向移动。具有12个扩展接口。  3) 标配低真空(可变压力)模式,兼顾材料科学与生命科学样品。  4) 触摸屏点击操作,可摆脱键盘鼠标的束缚,实现远程操作。  5) JEOL是世界上唯一同时生产电子显微镜和X射线能谱仪的厂家,哪怕是球差校正TEM上,JEOL的EDS技术也可以轻松实现原子级的分辨率。现在,JEOL将这种技术移植到SEM上来,JSM-IT300HR可配置一体化分析系统,实现一台显示器无缝切换SEM/EDS。  6) 支持蒙太奇与光电光联显微镜技术。
  • 中国地质大学(武汉)采购扫描电镜!
    p style=" text-align: left " & nbsp & nbsp 根据《中华人民共和国政府采购法》等有关规定,现对搭载EBSD系统的低真空热场发射扫描电镜进行公开招标,欢迎合格的供应商前来投标。 /p p br style=" text-align: left " / /p p style=" text-align: left " 项目名称:搭载EBSD系统的低真空热场发射扫描电镜 /p p style=" text-align: left " 项目编号:20181110 /p p style=" text-align: left " 预算金额:360.0 万元(人民币) /p p style=" text-align: left " 项目联系方式: /p p style=" text-align: left " 项目联系人:徐老师 /p p style=" text-align: left " 项目联系电话:18995636129 /p p style=" text-align: left " 采购单位联系方式: /p p style=" text-align: left " 采购单位:中国地质大学(武汉) /p p style=" text-align: left " 地址:武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉) /p p style=" text-align: left " 联系方式:徐老师 18995636129 /p p style=" text-align: left " 投标截止时间:2018年11月20日 09:00 /p p style=" text-align: left " 开标时间:2018年11月20日 09:00 /p p br style=" text-align: left " / /p p style=" text-align: left " 采购详情: /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 采购搭载EBSD系统的低真空热场发射扫描电镜1套。该系统能将高级的分析性能与高分辨场发射扫描技术相结合,利用成熟的电子光学元件,对颗粒、表面或者纳米结构快速获得清晰图像。可对多种样品(导电、非导电、含水、含油和加热样品等)进行高分辨的静态和动态显微结构、表面形貌、化学成分分布观测。EBSD用于晶体取向、微织构分析、物相鉴定、应变和真实晶粒尺寸测量等。该系统应同时实现高分辨形貌观察、微区成分测量和显微结构分析。可搭载和X射线能谱仪(EDS)用于微区成分分析,并具备点、线、面分析功能,对样品表面进行微区成分定性和定量分析。 /p p br style=" text-align: left " / /p
  • 探索全新扫描电镜成像技术——BEX
    探索全新扫描电镜成像技术——BEX什么是BEX?BEX是集背射电子和X射线成像于一体的新型微区分析技术,可以在SEM下同步、高效采集背散射电子图像和元素面分布图。BEX技术能带来哪些新体验?此前,基于SEM的显微分析大多是静态的、逐步进行的,并且高度依赖用户经验。操作人员通常根据SE/BSE灰度图中的形貌或原子序数衬度进行样品导航,并借助EDS完成精细的成分分析。如果当前区域没有感兴趣的特征,则需要重复以上繁琐步骤。在BEX技术的支持下,即使样品台移动过程中也能实时呈现试样的形貌、晶体取向、原子序数和元素分布等信息,让复杂样品分析极尽简便迅捷之能。只需稍作停留即可获得高分辨、高质量的元素面分布图,无论是开展更精细的分析还是继续样品导航都如丝般顺滑。SEM成像技术发展二次电子成像自SEM诞生以来二次电子(SE)成像一直是最常见的成像技术之一。SE是样品与高能电子束发生非弹性散射后逸出试样表面的电子,其产额与入射角度相关。它们具有较低的能量(~50 eV)和逸出深度(~10 nm),能够提供丰富的形貌信息。Everhart-Thornley探测器是一种常见的二次电子检测装置,由带正电的法拉第笼、闪烁体和光电倍增管组成。二次电子(绿色)从样品表层逸出,当电子束入射角度偏离法线时,SE产额增加。SE图像的灰度反映样品表面的起伏情况。加速电压:20 kV,束流:1 nA,采集时间:15 s背散射电子成像入射电子经弹性散射逸出样品表面形成背散射电子(BSE)。与SE探测器不同,BSE探测器的核心结构是位于极靴正下方的p-n半导体,可以有效地采集能量更高、激发深度更深的BSE信号。BSE产额随试样的平均原子序数增加而升高,在BSE图像中,越亮的区域意味着更高的原子序数。通过逻辑运算,具有两个或多个分割区域的半导体BSE探测器还可以显示试样表面的起伏信息。背散射电子(红色)的逸出深度更深,BSE图像的灰度反映了样品的平均原子序数衬度。加速电压:20 kV,束流:1 nA,采集时间:15 sBEX成像BEX成像系统在极靴正下方集成了BSE与X射线传感器。后者通常是硅漂移探测器(SDD),用于分析特征X射线,其工作原理与EDS相同。软件算法能够自动识别谱图中存在的元素并进行配色,最终输出与BSE信号叠加的彩色图像。与SE或BSE成像技术相比,BEX成像技术在相同采集时间和工作条件下提供了更丰富的样品组成和元素分布信息。与常规EDS系统相比,BEX系统具有更大的立体角和更高的X射线计数率。此外,BEX系统的特殊设计消除了样品表面起伏在元素面分布图中产生的阴影效应,并拓宽了X射线成像时可用的工作距离范围。同步检测BSE(红色)和X-ray信号(蓝色);(b)BEX成像结果。加速电压:20 kV,束流:1 nA,采集时间:15 s
  • 2011年日立场发射扫描电镜图片大赛评选结果揭晓
    2011年11月22日,由天美公司和日立高新共同组办的“2011年日立场发射扫描电镜图片大赛”评选结果在“日立场发射扫描电镜最新技术研讨会”上揭晓,最终,上海硅酸盐研究所吴伟拍摄的“分子筛/内核为Fe3O4上SiO2纳米材料负载Ce2O3”在众多参赛作品中脱颖而出,摘得特等奖,喜获ipad一部。 这幅作品所用样品内核为Fe3O4的SiO2纳米球(直径100nm左右)负载了Ce2O3纳米颗粒。 SiO2与Ce2O3导电性差,尽量分散粉体减少团聚、使用4号光镧减少入射电流,同时LA5混合少量BSE信号等方法,有效减少荷电现象。作品充分体现了S-4800电镜的低加速电压优势,样品表面细节清楚,分辨率高,混入了背散射电子信号,突出了成分差异。 获得本次大赛特等奖作品“分子筛/内核为Fe3O4上SiO2纳米材料负载Ce2O3”(吴伟拍摄) 此次大赛是由天美公司和日立高新领导及工程师组成评委会,经过激烈讨论,严格选拔,最终选出20余幅参赛作品作为入围作品,并在2011年11月22日举办的“日立场发射扫描电镜最新技术研讨会”上由参会专家及用户代表投票选出图片所获奖项,除一等奖外,另评出给力奖2名,分别是微电子所余嘉晗拍摄的金属栅刻蚀以及高能所田甘/周亮君的艺术感强的图片,优秀奖2名,分别是安徽大学林中清的大工作距离高分辨率的磁性样品/Al2O3模板图片和昆明植物所的任宗昕老师拍摄的南瓜花粉。贡献奖15名,分别是:北京师范大学李永良、广州能源所苏丽芬、中国石油大学(华东)李彦鹏、四川大学史进春、苏州纳米所张琰/黄凯、河北师范大学李纪标、南京工业大学黄小健、厦门大学吴元菲、复旦大学曹惠、同济大学胡惠康、北京理化测试中心邓平晔、第四军医大学李艳玲、工信部第五研究所施明哲、苏州大学王思兵、以及长春光机所赵海峰。详细信息请参看“日立场发射扫描电镜摄影大赛初选作品公示”。 给力奖作品“金属刻栅”(余嘉晗拍摄) 给力奖作品“SnO2 /ZnO”(高亮君/田甘拍摄) 优秀奖作品“磁性样品及难拍的Al2O3模板”(林中清拍摄) 优秀奖作品“南瓜花粉”(任宗昕拍摄) 本次大赛从9月底发出通知,到11月4日截稿,共有70余人参赛,共收到来自全国各地的样品图片100多幅,样品种类各异,金属材料,高分子材料,石墨烯,水泥,分子筛等等。再次感谢各位老师的踊跃参与和积极投稿,我们将响应各位老师的要求,以后多举办此类活动。
  • 含场发射扫描电镜、质谱等19类仪器设备 厦门大学近期采购计划汇总
    为便于供应商及时了解政府采购信息,根据《财政部关于开展政府采购意向公开工作的通知》(财库〔2020〕10号)等有关规定,现将厦门大学近期政府采购意向公开。本次仪器采购意向为10月以来发布,共计22项,总金额超过6000万元。其中涉及超高分辨率场发射扫描电镜、电感耦合等离子体质谱仪、X-射线检测机等19台/套仪器设备。以下为采购详情:序号项目名称预算金额(万元)发布时间预计采购时间查看1超高分辨率场发射扫描电镜4002022/10/18Dec-22意向原文2黄朝阳楼新风系统改造(二期)20002022/10/14Dec-22意向原文3黄朝阳楼卫生间升级改造2252022/10/14Jan-23意向原文4常态化校园核酸检测服务7002022/10/11Nov-22意向原文5电感耦合等离子体质谱仪2002022/10/7Nov-22意向原文6同步热分析-质谱联用仪1602022/10/7Nov-22意向原文7氮化硅级微通道装置(全自动)1202022/10/7Nov-22意向原文8回焊炉1292022/10/7Nov-22意向原文9凝胶色谱-多角度光散射联用仪1602022/10/7Nov-22意向原文10场发射扫描电镜3602022/10/7Nov-22意向原文11电子化学品废水处理系统1092022/10/7Nov-22意向原文12形状测量激光纤维系统1382022/10/7Nov-22意向原文13电子化学品回收精制系统2002022/10/7Nov-22意向原文14离子色谱仪1502022/10/7Nov-22意向原文159N纯化器1002022/10/7Nov-22意向原文16制备级纯化高效色谱装置1402022/10/7Nov-22意向原文1712寸全自动晶圆电镀机23002022/10/7Nov-22意向原文18槽式去胶机1252022/10/7Nov-22意向原文19封装基板中试线3002022/10/7Nov-22意向原文20X射线检测机2202022/10/7Nov-22意向原文21原子层沉积设备3002022/10/7Nov-22意向原文22金属刻蚀机1252022/10/7Nov-22意向原文
  • 高分辨 不挑样:蔡司新一代Gemini场发射扫描电镜线上发布【附宣传片】
    2021年3月24日下午,由蔡司显微镜主办,仪器信息网协办的“蔡司新一代场发射扫描电镜新品发布会”成功线上举办,蔡司新一代Gemini场发射扫描电镜系列——GeminiSEM 360,GeminiSEM 460,GeminiSEM 560在云端悉数亮相。会议吸引近500名电镜用户及“蔡粉儿”报名参会。【文末彩蛋:发布会完整暖场视频】经典传承,历久弥新。蔡司此次发布的Gemini扫描电镜新品再一次进化升级,GeminiSEM 360,GeminiSEM 460,GeminiSEM 560也正是Gemini电子光学系统也针对不同的应用场景衍生出的三款型号。Gemini系列新品,左至右:GeminiSEM 360,GeminiSEM 460,GeminiSEM 560本次云端新品发布会由新品主题报告、特邀专家报告,及拓展应用报告组成。首先,蔡司显微镜高级应用专家蔡琳玲为大家分享了本次发布蔡司新一代Gemini场发射扫描电镜的详细产品信息及创新细节。据介绍,GeminiSEM 360搭载1型Gemini镜筒,是一款高通用性成像工具。其物镜为静电透镜+磁透镜复合透镜,在提高其电子光学性能的同时将它们对样品的影响降至更低。即使对极具挑战的样品(例如磁性材料)也能进行高品质成像。Beam booster技术具有镜筒内的电子加减速功能,可确保获得小束斑和高信噪比;Gemini镜筒内带有平行设计的镜筒内二次电子和背散射电子探测器,可实现信号的高效采集,同步获取形貌衬度和成分衬度像。GeminiSEM 460搭载2型Gemini镜筒,专为应对复杂的分析工作而设计。它除了复合透镜和镜筒内加减速设计以外,利用双聚光镜设计实现更加灵活的束流调节。您可以在小束流的高分辨成像模式与大束流的分析模式之间进行无缝切换,对称设计的EDS接口可让您获得无阴影的成分分布图,而物镜无漏磁设计可以让您获得无畸变的大面积EBSD花样。您还可以通过加装各种原位实验附件将Gemini 460升级为一个自动化原位实验平台。GeminiSEM 560搭载3型Gemini镜筒,带给您极致的高分辨成像体验。该款镜筒拥有两个可协同工作的电子光学系统:Nano-twin透镜和新型电子光学引擎Smart Autopilot,可通过聚光镜优化所有工作条件下的电子束会聚角,进一步提升分辨力;还可实现1倍到200万倍的无缝过渡,大视野导航和亚纳米成像一镜到底。此外,新一代Gemini扫描电镜还拥有一系列功能和附件,可进一步丰富您的应用场景、降低操作难度。接着,复旦大学信息科学与工程学院陈宜方教授结合课题组研究进展,为大家分享了蔡司扫描电镜在纳米科技和工程建设中的应用。报告讲解了其团队从2013年至今,利用纳米加工技术(电子束光刻、纳米压印光刻、光学光刻、STM光刻等)与蔡司电镜检测技术作为基础工具,在纳米科学方面开展的广泛应用工作,包括纳米仿生学研究、光子纳米喷射效应的超分辨聚焦透镜、超表面光场调控、新型光电器件、同步辐射X射线光学系统关键部件、微波/太赫兹波段MMIC通讯技术等。相关的丰富的研究成果也获得广泛的国内国际合作。最后,蔡司显微镜高级应用专家李洪进一步为大家分享了蔡司关联显微分析解决方案。蔡司多维度&多尺度&多手段显微镜技术包括:一站式关联显微解决方案(ZEN core+Altlas 5软件与LM-SEM-FIB-XRM硬件);丰富的样品信息,让分析更全面(BF,DF,C-DIC,POL,FL等光镜和能谱EDS信息);向导式操作流程,专门的关联样品夹具让分析更简单;图像自动测量,高级图像处理和自动测量,机器学习分割等,让分析更高效等。彩蛋1:暖场视频之蔡司显微镜彩蛋2:暖场视频之蔡司显微镜Seeing beyond
  • 日立场发射扫描电镜摄影大赛初选作品公示
    自从9月末发布“日立场发射扫描电镜图片大赛”通知以来,来自各高校、院所使用日立电镜的老师踊跃参与,积极投稿。挑战电镜拍摄极限的样品,发挥电镜优势的样品,金属氧化物,无机非金属,高分子,生物材料等等形貌各异的样品令我们目不暇接。天美公司电镜应用专家及日立电镜部门历经长时间的层层挑选,激烈讨论,艰难取舍,最终选择20余幅优秀图片作为入围作品,现在此进行公示,以期与广大电镜使用爱好者共同交流、共同学习。并将在11月22日举办的“日立场发射扫描电镜最新技术研讨会”上由与会嘉宾全体投票,决选最终大奖。样品1名称:镍铁氧体简要说明:该样品为未磁化的磁性样品,八面体结晶形态。颗粒较小因此倍率做到80万。采用较大的工作距离以避免磁性材料被物镜漏磁磁化 。推荐理由: 磁性样品,难以拍摄,大工作距离高倍率很难得。 样品2名称:ZnO推荐理由:栉比如林。 样品3名称:硫化铋 推荐理由:图片景深好,形如花。 样品4名称:细胞组织附着在钛片纳米管上。推荐理由:体现了细胞组织在氧化钛纳米管上的附着形态。 样品5名称:生物胶束推荐理由:制样困难,拍摄倍率高。 样品6名称:分子筛推荐理由:减速模式下的高分辨。 样品7名称:集成电路静电击穿点,硅片上的氧化硅推荐理由:使用高加速电压穿过表面不导电钝化层,图片无荷电,且信噪比好,S-4300拍摄。 样品8名称:TiO2表面 推荐理由:初学SEM者拍摄,水平提高迅速。 样品9名称:ZnO 推荐理由:艺术感强,图片漂亮。 样品10名称:石墨稀推荐理由:难拍样品,大工作距离下的高分辨。 样品11名称:硫化钼推荐理由:景深好,视角选择恰当,体现球中球的结构。 样品12名称:聚苯乙烯球推荐理由:极易受电子束损伤的样品,利用极低加速电压拍摄。 样品13名称:多孔二氧化硅推荐理由:介孔材料表面细节清晰,减速模式下的高分辨。 样品14名称:分子筛/静电纺丝 推荐理由:较难做的样品,减速模式下的高分辨。 样品15名称:自组装的纳米金八面体推荐理由:图片细节清楚,艺术感强。 样品16名称:氧化钛多孔膜表面 推荐理由:不导电样品,未喷涂,高倍率。 样品17名称: SnO2 /ZnO推荐理由:构思巧妙,艺术性强。 样品18名称:分子筛/内核为Fe3O4的SiO2纳米球负载了Ce2O3纳米颗粒样品说明:内核为Fe3O4的SiO2纳米球(直径100nm左右)负载了Ce2O3纳米颗粒。 SiO2与Ce2O3导电性差,尽量分散粉体减少团聚、使用4号光镧减少入射电流,同时LA5混合少量BSE信号等方法,可有效减少荷电现象推荐理由:体现减速模式下高分辨优势;样品表面细节清楚,掺入BSE, 突显成分差异。 样品19名称:花粉推荐理由:大工作距离下的大景深,上下探头混合立体效果好。 样品20名称:金属删刻蚀推荐理由:低加速电压高角度BSE,体现微细结构的成分衬度。 再次感谢各位老师的支持与参与,感谢各位老师分享他们的做样技巧及拍摄成果! 声明:1、所有以上所有图片未经天美(中国)科学仪器有限公司批准不得转载。2、本活动的最终解释权归天美(中国)科学仪器有限公司所有。
  • 国内第一台扫描电镜高温力学原位研究系统新品
    p style=" text-align:center " img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201906/pic/4479fa41-fec1-4836-90f5-abdeb6ad0d71.jpg!w400x400.jpg" alt=" 扫描电镜高温力学原位研究系统" / /p p span style=" font-family: 微软雅黑 font-size: 16px " 扫描电镜高温力学原位硏究系统(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是国家重大科学仪器研制专项的成果转化产品,其特征是将宏观材料力学实验置于具有与纳米分辨的扫描电子显微镜內,实现了宏观力学性能与纳米层次结构分析的一体化。主要功能为在纳米分辨的二次电子成像和背散射成像(EBSD)的观察条件下,实现室温至1200° C高温的拉伸、压缩、三点弯曲等原位力学实验。主要用于硏究各类材料在力、热以及耦合条件下的力学性能测试与微观组织结构演变机制硏究。该仪器也可以兼容匹配各类光学显微镜(OM)、X射线衍射仪(XRD)和原子力显微镜(AFM)等材料微观分析仪器。 /span /p p span style=" font-size:12px font-family:& #39 Calibri& #39 ,& #39 sans-serif& #39 " br clear=" all" style=" page-break-before:always" / /span /p p 创新点: br/ /p p 国内第一台可以在SEM扫描电镜下使用的高温拉伸力学研究系统。最高温度可达1200℃。 /p
  • 《场发射扫描电镜的理论与实践》新书发布会圆满召开!
    北京师范大学测试中心研究员李永良,从事扫描电镜的教学和测试工作30多年,从最初的钨灯丝扫描电镜到现在的场发射扫描电镜,深刻感受到扫描电镜技术进步带来的巨大变化。很多新技术的出现,如新型场发射电子枪、浸没式物镜、穿镜二次电子探测器、模拟背散射等,大大提高了扫描电镜整体性能,但目前在国内论述场发射扫描电镜的专著较少。因此李永良老师撰写了《场发射扫描电镜的理论与实践》,希望为读者正确理解扫描电镜提供帮助。4月29日,仪器信息网联合北京师范大学测试中心研究员李永良召开了《场发射扫描电镜的理论与实践》新书发布会,近4000名来自行业内的相关专家和学者线上参与了此次会议,共同探讨了场发射扫描电镜的前沿技术与应用,总观看人数超过了6000次,会议氛围热烈。北京师范大学测试中心 研究员 李永良《场发射扫描电镜的理论与实践——理论部分》场发射扫描电镜的出现,标志者扫描电镜进入一个崭新的时代,扫描电镜取得的巨大进步:新型电子枪、浸没式物镜、穿镜二次电子探测器、模拟背散射、E×B和电子束减速等新技术的应用,极大地提高了扫描电镜的性能,场发射扫描电镜已经成为各类分析测试实验室必备的仪器。系统地论述了扫描电镜中电子束和样品的相互作用、场发射扫描电镜的结构和成像原理,通过实操案例详细地介绍了场发射扫描电镜的调试过程和工作参数的选择,重点介绍了样品制备及场发射扫描电镜在生物、环境和材料等领域的应用。燕山大学亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室 高级实验师 张兵《电子背散射衍射技术及其新进展》电子背散射衍射是利用装配在扫描电镜上的附件对晶体材料的微区取向以及结构进行分析的一种表征手段。日前,电子背散射衍射技术有了新进展,不仅涵盖了测试方式、硬件设备以及标定算法的变化,更拓宽了其应用范围广泛应用于多个领域,包括织构、取向分析;晶粒尺寸和形状分析;晶界、亚晶及孪晶性质的分析;局部应力分析;变形行为及方式分析;材料失效分析;物相分析及鉴定等,可见电子背散射衍射技术将在材料科学领域发挥更加重要的作用。布鲁克(北京)科技有限公司 应用科学家 陈剑锋《拓展电镜的检测领域——微纳尺度里高端元素分析及表征技术》主要介绍了布鲁克的纳米分析仪器的技术特色及应用领域。其中,XFlash7具备一系列技术特色,、包括Slim-line技术、最大化探测器立体角、高达1000kcps的输出计数率、无与伦比的信号处理速度、可视化谱峰剥离、EDS空间分辨率估算等,可广泛应用于多个领域。北京师范大学测试中心 研究员 李永良《场发射扫描电镜的理论与实践——实践部分》首先详细讲解了扫描电镜的新技术:新型电子枪、浸没式物镜、穿镜二次电子探测器、模拟背散射、E×B和电子束减速。接着指导了读者如何进行像散校准,要仔细调试电子束电磁对中、找出消像散时的初始位置、一边消像散,一边微调聚焦,时刻保持图像清楚。在校正像散过程中从2万倍开始(如像散太大,还要降低倍数),再校正5万、10万、15万和20万像散。当聚集时图像不会出现拉长现象,只会在模糊和清晰之间来回变化,就表示像散校准完成。最后介绍了场发射扫描电镜在植物花粉、纳米材料、PM2.5、建材、沉积膜、磁性粉末和纳米催化剂等方面的应用。各位专家的精彩讲解视频将实时同步至会议页面:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/fesem240429/ ,一旦视频回放上线,我们将第一时间通过会议平台及官方渠道告知各位。您也可以通过仪器信息网-视频号观看回放,随时回顾专家的精彩见解。
  • 高分子表征技术专题——扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用
    2021年,《高分子学报》邀请了国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。更多专题内容详见:高分子表征技术专题高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读.期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来.高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献.借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意!扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用ApplicationsofScanningElectronMicroscopyinPolymerCharacterization作者:郑鑫,由吉春,朱雨田,李勇进作者机构:杭州师范大学材料与化学化工学院,杭州,311121作者简介:李勇进,男,1973年生.1996年和1999年在同济大学分别获学士和硕士学位,2002年获上海交通大学博士学位.2002~2011年,历任日本产业技术综合研究所JSPS博士后和研究员.2011年加入杭州师范大学,主要从事高分子材料成型加工研究.先后获得高分子成型加工新锐创新奖(2017年)、冯新德高分子奖提名奖(2018年和2020年)、国际高分子加工学会(PPS)的MorandLambla奖(2019年)、浙江省自然科学奖(2020年)等.摘要扫描电子显微镜(scanningelectronmicroscope,SEM)是表征高分子材料微观结构及其组成信息重要的手段之一,具有操作简便、信号电子种类多样且对样品损伤较小等特点.本文系统阐述了SEM的工作原理,通过与透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscope,TEM)进行比较,突出了其优势与特色.详细讨论了该技术的测试方法,包括样品制备、仪器参数设定、操作技巧与图像处理,并揭示了获得高质量SEM图像的关键技术.介绍了SEM不同的信号电子成像、SEM与其他仪器联用及SEM原位分析技术在高分子材料表征中的应用与进展.最后,对SEM的发展趋势进行了展望.AbstractScanningelectronmicroscopy(SEM)isoneofthemostimportanttoolsforthecharacterizationofpolymermaterials' microstructureandcomposition.First,itiseasytooperate thentherearevariouselectronicsignalsavailablewhichcontaindifferentsampleinformationforSEMimaging besides,therearelittlesampledamageduringSEMobservation.Inthiswork,theworkingprincipleofSEMwaselucidatedsystematically.Also,acomparisonwasmadebetweenSEMandTEMwithrespecttoworkingprinciple,resolutionandmagnification,viewanddepthoffield,samplepreparation,sampledamageandpollution.Therefore,theadvantagesandfeaturesofSEMwerehighlighted.Inaddition,theexperimentmethodsofSEMwereillustratedindetail,includingsamplepreparation,instrumentparametersettings,operationskillsandimagetreatment.ThekeyfactorswhichdeterminesthequalityofSEMimagewererevealed.ThemainapplicationsofSEMinpolymercharacterizationwereintroduced.Specifically,thesecondaryelectronsimagingwasusedtoinvestigatethemicrostructureofpolymercomposition,compatibilityofpolymerblends,crystalstructureofpolymer,morphologyofpolymerporousmembrane,biocompatibilityofpolymermaterial,self-assemblebehaviorofpolymerandsoon.Besides,thebackscatteredelectrons,characteristicX-ray,transmittanceelectronswerealsousedtorevealthemorphologyandcompositioninformationofpolymersystems.ThecombinationofSEMwithRamanspectrometerandFocusedionbeamandtheinsituSEMtechniqueswereillustrated.Finally,therecenttrendsofSEMdevelopmentwereprospected.关键词扫描电子显微镜  高分子材料  微观结构  组成信息  应用KeywordsScanningelectronmicroscopy  Polymermaterial  Microstructure  Composition  Application 材料的宏观特性是由其组分及微观结构决定的,因此,深入了解材料的微观结构,明确微观结构与宏观特性之间的内在联系对于开发新材料、提升已有材料性能是至关重要的.电子显微镜技术是探测微观世界的重要研究手段之一,在材料的研究和发展历程中发挥了巨大的作用.电子显微镜是在光电子理论的基础上发展起来的,包括扫描电子显微镜(scanningelectronmicroscope,SEM)和透射电子显微镜(transmissionelectronmicroscopy,TEM)两大类.二者在结构、工作原理、对样品的要求等方面有着本质的区别.下文将对其进行详细阐述.由于二者的成像原理不同,所反映出来的样品信息也不尽相同,因此在实际应用中,往往需要二者相互配合,才能揭示材料最真实的微观结构.与TEM相比,SEM具有更大的视野和景深,样品制备相对简单且对样品厚度要求不严格,并且不容易造成样品的损伤和污染,是快速表征材料微观形貌结构的首选技术.自1965年第一台商用扫描电镜问世以来,经过不断的创新、改进和提高,扫描电镜的种类和应用领域也在不断拓展[1].现有的扫描电镜主要包括钨丝/六硼化镧扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、扫描透射电镜(STEM)、冷冻扫描电镜(Cryo-SEM)、环境扫描电镜(ESEM)等[2].此外,通过配置功能附件,如X射线能谱仪、X射线波谱仪、阴极荧光谱仪、二次离子质谱仪、电子能量损失谱仪、电子背散射衍射仪等,许多扫描电镜除了研究材料微观结构之外,还兼具微区物相分析的功能[3].鉴于扫描电镜在材料微观结构表征中的重要作用,本文将从扫描电镜的结构与工作原理出发,通过与透射电镜进行对比,突出其性能和特点;详细讨论扫描电镜的实验方法与操作技巧,揭示获得高质量扫描电镜图像的关键技术;总结扫描电镜在高分子材料表征中的应用与最新进展;最后,对扫描电镜的发展趋势进行展望.1扫描电镜的结构与特点1.1扫描电镜的结构扫描电镜的内部结构较为复杂,可分为电子光学系统、样品仓、信号电子探测系统、图像显示与记录系统、真空系统这5个主要部分[3].下文将针对这5个主要部分详细展开.扫描电镜实物图及其主要部件如图1所示.Fig.1TheHitachiS-4800cold-fieldemissionSEManditsmaincomponents.1.1.1电子光学系统电子光学系统主要包括电子枪、聚焦透镜、扫描偏转线圈等.其作用是产生用于激发样品产生各种信号的电子束.为了获得较高的信号强度和图像分辨率,通常要求电子束具有较高的亮度、稳定的束流及尽可能小的束斑直径.因此,电子光学系统是扫描电镜中尤为重要的组成部分.电子枪阴极用来提供高能电子束,常见的有钨丝电子枪、六硼化镧电子枪和冷/热场发射电子枪.表1汇总了几种电子枪的性能及相关参数[4].Table1Severalelectrongunsandthemainperformanceparameter.由电子枪阴极发射的电子束初束尺寸通常较大,需通过聚焦透镜将其大幅度缩小方可照射样品并获得较高分辨率的扫描图像.聚焦透镜分为强激磁、短焦距的聚光镜和弱激磁、长焦距的物镜,二者均通过磁场作用改变电子射线的前进方向而使电子束产生汇聚.扫描系统是扫描电镜一个独特的结构,包含扫描发生器、扫描偏转线圈和放大倍率变换器,其作用是使电子束在样品表面和显示屏中作光栅状同步扫描,以获得样品表面形貌信息.这即是扫描电镜的工作原理,可简单总结为“光栅扫描,逐点成像”.下文将对其进行进一步说明.此外,通过改变电子束在样品表面的扫描振幅还可获得不同放大倍数的扫描图像.1.1.2样品仓样品仓位于物镜的下方,用于放置样品和信号探测器.内设样品台,并提供样品在X-横向、Y-纵向、Z-高度3个坐标方向的移动,以及样品绕自身轴旋转R和倾斜T的动作.通过对这5个自由度的选择性控制,可以实现对样品全方位的观察.其中“Z”方向的距离称为工作距离,通常在2~50mm范围内,工作距离越大,观察的视野越大.1.1.3信号电子探测系统信号探测系统包括信号探测器、信号放大和处理装置及显示装置,其作用是探测样品被电子束激发出的各种信号电子,并经放大转换为用以调制图像的信号,最终在荧光屏上显示出反映样品特征的图像.图2给出了电子束激发样品所产生的主要信号电子,包括二次电子(SE)、背散射电子(BSE)、特征X射线、透射电子(TE)、俄歇电子(AS)、阴极荧光(CL)等,及其所反映的样品性能特征的示意图.而不同的信号电子要用不同的探测系统,目前扫描电镜的探测器有电子探测器、阴极荧光探测器和X射线探测器三大类.Fig.2Theoverviewofmainsignalelectronsgeneratedduringtheinteractionbetweenelectronbeamandsample.1.1.4图像显示与记录系统图像显示与记录系统由显像管和照相机组成.显像管的作用是将信号探测系统输出的调制信号转换成图像显示在阴极射线荧光屏上,并由照相机将显像管显示的图像、放大倍率、标尺长度、加速电压等信息拍摄到底片上.1.1.5真空系统为了确保电子光学系统能正常、稳定地工作,防止样品污染,电子枪和镜筒内部都需要严格的真空度.以场发射扫描电镜为例,通常要靠一台机械泵、一台分子泵和一台离子泵联合完成.真空度越高,入射电子的散射越少,电子枪阴极的寿命越长,同时高压电极间放电、打火等风险隐患也会降低.1.2扫描电镜的性能和特点扫描电镜和透视电镜是分析材料微观形貌的2种常用表征手段.为了明确扫描电镜性能和特点,本文将扫描电镜与同为电子显微镜的透射电镜进行全方面比较说明.1.2.1成像原理结合扫描电镜的结构,其成像原理如下:在高压作用下,由电子枪阴极发射出的电子束初束,经聚光镜汇聚成极细的电子束入射到样品表面的某个分析点,与样品原子发生相互作用而激发出各种携带样品特征的信号电子,通过相应的探测器接收这些信号电子,经放大器放大后进行成像,即可分析样品在电子束入射点处的特征.同时,通过扫描线圈驱动入射电子束在样品表面选定区域作从左到右、从上到下的光栅式扫描,实现对选定区域每个分析点的采样,从而产生一幅由点构成的图像.其工作原理如图3(a)所示.扫描电镜是信号电子成像,主要用来观察样品表面形貌的立体(三维)图像.Fig.3SchemeofthestructureandimagingprincipleforSEM(a)andTEM(b).作为电子显微镜的另一大类,透射电镜的总体工作原理与扫描电镜有着显著差别[2].在透射电镜中,由电子枪发射出的电子束初束同样通过聚光镜汇聚成极细的电子束照射在极薄的样品(50~70nm)上.与扫描电镜不同的是,透射电镜通过穿过样品的电子,即透射电子,来反映样品的内部结构信息.携带了样品信息的透射电子经过物镜的汇聚调焦和初级放大后,形成第一幅样品形貌放大像;随后再经过中间镜和投影镜的2次放大,最终形成三级放大像,以图像或衍射谱的形式直接投射到荧光屏上,通过配有电荷耦合器件(chargecoupleddevice,CCD)的相机拍照或直接保存在计算机硬盘中.其工作原理如图3(b)所示.透射电镜是透射成像,用来观察样品在二维平面内的形态和内部结构.1.2.2分辨率和放大倍数分辨率表示对物点的分辨能力,指的是能够清晰地分辨2个物点的最小距离.显微镜的理论分辨率(γ0)可用贝克公式(公式(1))表述.显然,仪器所用光源波长越短,分辨率越高.根据德布罗意公式(公式(2))和能量公式(公式(3)),电子显微镜的电子束波长随加速电压增加而缩短,进而明显提高电子显微镜的分辨率.而仪器的有效放大倍率(M有效)与仪器的理论分辨率是直接相关的.由公式(4)可知,仪器分辨率越高,有效放大倍率越大.当仪器分辨率确定后,其有效放大倍率也随之确定.因此,分辨率才是评价显微镜的核心指标.而我们通常意义上说的放大倍率实际是图像放大倍率,也即屏幕输出比(M)(公式(5)).在超高真空条件下,扫描电镜的水平和垂直分辨率分别可达0.14和0.01nm.放大倍数从10倍到1.5×106倍连续可调;透射电镜的最高分辨率可达0.1nm,放大倍数从几百倍到1.5×106倍连续可调.式中λ为光源波长,n为显微镜内介质的折光率(真空环境时n=1),α为透镜孔径半角.式中h为普朗克常数,m为电子质量,v为电子运动速度.式中e为电子电荷量,U为加速电压.式中γe为人眼分辨率(0.2mm).式中Lm为荧光屏成像区域边长(通常为10cm),Ls为电子束在试样上的扫描区域边长.1.2.3视野和景深视野指的是能看到的被检样品的范围,与分辨率和放大倍率有关;景深指可获得清晰图像的深度范围.扫描电镜的视野(10mm~10μm)比透射电镜(1mm~0.1μm)大得多,景深也比透射电镜大.如图4所示,扫描电镜图像更有立体感,更适合观察样品凹凸不平的细微结构[5].Fig.4TheSEM(a)andTEM(b)imagesforthesamesample(ReprintedwithpermissionfromRef.[5] Copyright(2019)ElsevierLtd.).1.2.4样品制备扫描电镜的样品制备比较简单,对样品的厚度要求不严格,不导电的样品要经过镀膜导电处理(后文将以高分子材料为例,详细介绍扫描电镜样品的制备方法),强磁性样品需消磁后方可观察;而对于透射电镜来说,电子必须穿过样品才能成像,因此样品要很薄,通常要经过特殊的超薄切片进行制备,过程相对复杂.1.2.5样品的损伤和污染在用扫描电镜观察样品时,照射在样品上的束流(10-10~10-12A)、电子束直径(5nm)和加速电压(2kV)都较小,故电子束能量较低.此外,电子束在样品上做光栅状扫描,因此观察过程中对样品的损伤和污染程度较低;而使用透射电镜时,为了使图像有足够的亮度,要用较强的束流(~10-4A)和加速电压(100kV),因此电子束能量较高,且固定照射在样品的某处,因此引起样品的损伤程度较大,易造成样品和镜筒的污染.综上所述,扫描电镜的性能和特点显著,如成像立体感强,放大倍数范围大、分辨率高,不仅对样品具有普适性,且制样简单,观察时对样品的损伤和污染小,此外还可以通过调节和控制各种影响成像的因素和参数来改善图像质量(详见下文),因此是观察材料显微结构的重要工具.2实验方法与技巧要获得一幅优质的扫描电镜图像,需掌握样品制备技术、熟知操作要点并对图像进行必要的处理.下文将以高分子材料为例,对扫描电镜的实验方法与操作技巧进行阐述.2.1样品制备高分子材料扫描电镜样品的制备方法根据要观察的部位、样品形态及高分子本身的性质有所不同.观察块状或薄膜样品表面时,只需将大小合适的样品表面朝上用导电胶黏贴在样品台上;观察块状或薄膜样品内部结构时,通常要将样品置于液氮中,通过淬断获得维持形貌的断口,然后再将断口朝上用导电胶固定在样品台上进行观察.对于较薄且自支撑性较差的薄膜样品,可带支撑层一起淬断.如将载有纳米纤维膜的锡箔纸,或将纤维膜浸水之后进行淬断,更便于得到其断面.此外,黏贴样品时应尽量保持样品平稳、牢固,减少样品与导电胶之间的缝隙,以增加其导电和导热性.有时,为了分辨高分子复合体系的组分分布情况,还需要对样品进行适当的刻蚀,利用选择性溶剂去除复合体系中的某一相,以暴露更多微观细节[6~8],之后再进行清洗、干燥、黏贴、镀膜等步骤.观察粉末样品时,要保证粉末与样品台粘接牢固,在样品仓抽真空时不会飞溅导致电镜污染.根据粉末样品的尺寸,可选择用干法或湿法来制备扫描样品.其中,干法适用于制备尺寸大于2μm的粉末样品.通常在导电胶上负载薄薄一层粉末样品后,要用洗耳球等从不同方向吹掉粘接不牢固的粉末;湿法适用于制备尺寸在2μm以下的粉末样品.首先选择合适的分散液(如水、乙醇等),将粉末样品通过超声处理均匀地分散在其中,随后用滴管将样品溶液滴加到硅片上,待溶剂挥发后固定在样品台上进行下一步处理.对于导电性好的高分子样品,只要用导电胶将要观察的部位朝上粘接在样品台上即可观察[9,10];而大部分高分子材料都是绝缘的,经过高能电子束的持续扫描,样品表面会产生电荷积累,不仅会排斥入射电子,还会干扰信号电子,影响探测器对信号电子的接收,造成图像晃动、亮度异常、出现明暗相间的条纹等现象.这就是所谓的“荷电效应”[11~13].为了解决这个问题,除了要用导电胶将其粘接在样品台上,还可以选择对其进行镀膜处理以提高样品的导电性[11].通常,5nm的镀膜厚度足以改善样品的导电性.对于具有特殊结构的样品,如表面不致密或者起伏较大的样品,可以适当增加镀膜厚度.常用的镀膜材料有碳膜、金膜、银膜、铂膜等.其中,金膜二次电子产率高、覆盖性好,在中低倍(1.5×104倍)以下观察时较常使用.在进行更高放大倍数、更高分辨率分析时,通常会选择颗粒较小的铂膜或金-铂合金膜.而镀膜可以通过真空镀膜和离子溅射镀膜技术来实现.镀膜层的厚度以能消除荷电效应为准.但是,镀膜会掩盖一些样品的微观形貌细节,使得观察结果产生偏差;此外,对于还要进行能谱分析的样品,镀膜也会对结果产生不利影响.此时,可以选择在低压模式下对样品进行观察(详见3.4节),即使不镀膜也可以观察到细微的结构.当使用常规扫描电镜观察时,磁性样品要预先消磁,所有样品还需要经过彻底的干燥处理后方可观察.2.2实验技巧2.2.1仪器参数样品制备完成后,需要对扫描电镜进行操作,调整相应的参数,获取扫描电镜图像.通常,一幅优质的扫描电镜图像要能够清晰、真实地反映样品的形貌,需具备较高的分辨率、适中的衬度、较高的信噪比、较大的景深等.其中,信噪比指一个电子设备或者电子系统中信号与噪声的比例.当扫描过程中采集的信号电子数量太少时,仪器或测试环境的噪声太大,信噪比太低,会导致显示屏上出现雪花状噪点,从而掩盖了样品图像的细节.而较高的分辨率是高质量扫描电镜图像的首要特征.此外,图像的分辨率、衬度、信噪比、景深等特征之间是相互关联的,通过调整电镜的参数可以改变上述特征发生不同效果的变化.(1)加速电压加速电压升高,束斑尺寸减小,束流增大,有利于提高图像的分辨率和信噪比.此外,升高加速电压还能提高二次电子的发射率,但与此同时,电子束对样品的穿透厚度增加,电子散射增强,这些反而会导致图像模糊、分辨率降低.因此,应根据样品的实际情况进行适合的选择.对于高分子材料来说,由于其耐热性和导电性均不佳,为了避免观察、拍摄过程中样品发生热损伤及荷电效应导致图像不清晰,应适当采取较低的加速电压.(2)束流束流是表征入射电子束电子数量的参数,束流与束斑直径之间的关系可用公式(6)表示:其中,i束流,d是束斑直径,β是电子源的亮度,α是电子探针的照射半角.由此公式可知,当其他参数不变时,束流增大,束斑尺寸也会相应变大,此时分辨率会下降,而由于束流增大有利于激发出更多的信号电子,故信噪比提高.所以,束流对分辨率和信噪比的影响是相反.通常,随着观察的放大倍数增加,图像清晰度所要求的分辨率也要增加,因此可适当减小束流,而信噪比可以通过其他途径,如延长扫描时间等手段来弥补.(3)工作距离工作距离是指物镜最下端到样品的距离,对入射至样品表面的电子束的束斑尺寸有直接影响.缩短工作距离可以减小束斑尺寸,进而提高图像分辨率.然而,缩短工作距离会导致电子束入射半角α增大,因此景深变小,图像立体感变差.因此,要得到高分辨率的图像时,需选择较小的工作距离(5~10mm);而要观察立体形貌时,可选用较长的工作距离(25~35mm),获得较大的景深.(4)物镜光阑物镜是扫描电镜中最靠近样品的聚光镜,多数扫描电镜在物镜上都设有可动光阑,用于遮挡非旁轴的杂散电子并限定聚焦电子束的发散角,同时还兼具调节束斑尺寸的功能.所用的光阑尺寸越小,被遮挡的杂散电子越多,在一定的工作距离下,孔径半角越小,因此景深变大,图像立体感变强,同时束斑尺寸减小,图像分辨率提高.另一方面,光阑孔径小会导致入射电子束束流减小,激发出的信号电子数量减少,导致信噪比变差.因此,对于放大倍率不高的扫描样品,或者需要使用能谱仪对样品微区进行化学组成成分分析时,应选用较大孔径的光阑,获得较大的束流和较高的信噪比.通过上述分析可知,影响扫描电镜图像质量的各个因素之间是有内在联系的,在实际操作过程中,需根据样品的自身性质及拍摄的具体需求选择合适的条件参数.2.2.2操作要点为了获得高质量的扫描电镜图像,除了选择合适的仪器参数,还应掌握正确的操作方法.(1)电子光学系统合轴在扫描电镜中,由电子枪阴极发射的电子束通过聚光镜、物镜及各级光阑,最终汇聚成电子探针照射到样品表面并激发出电子信号.其中,到达样品表面的电子束直接决定了扫描电镜的图像质量.因此,在观察样品前必须使上述各部件的中轴线与镜筒的中轴线重合,使得电子束沿中轴线穿行,将光学系统的像差减到最小,这就是“合轴”‍.合轴主要通过镜筒粗调和电子束微调来实现.镜筒粗调又称机械合轴,一般仪器安装后会由专业的维修工程师进行操作.此外,仪器使用过程中发现光斑偏离过大也需要进行机械合轴.以日立SU8000扫描电镜为例,通过调节对应位置的螺丝和旋钮,依次进行电子枪、聚光镜光阑、物镜光阑、各级聚光镜、像散合轴等,此时屏幕中心应会出现一个既圆又亮的光斑,说明机械合轴完成.随后,还要利用扫描电镜的对中电磁线圈所产生的磁场拖动电子束进行精确合轴,又称电子对中.相较于机械对中,电子对中幅度小、合轴精确度高,一般在完成机械对中的基础上进行.实际使用扫描电镜时,如在调焦或消像散时发现图像位置移动,说明电子束对中出现问题,需对其进行校正.电子对中可通过倾斜(tilt)和平移(shiftX/Y)实现.Tilt用于调整电子束的发射倾斜角度,ShiftX/Y用于电子束平面X、Y方向的移动.在调整过程中注意观察图像的亮度,亮度最大时调整结束.(2)放大倍数和视野选择根据观察要求,选择合理的放大倍数及视野,确保观察部位具有科学意义,通过观察到的样品形貌能够回答要解决的研究问题.此外,所观察的画面和角度要符合传统的美学观点,同时具有良好的构图效果.(3)电子束聚焦和相散消除电子束聚焦和相散消除是电镜操作中最核心的步骤.聚焦是指通过旋转Focus旋钮调节物镜的励磁电流,使其在欠焦、正焦、过焦这3种状态下反复切换,并通过对比图像的清晰度来确认正焦的位置,此时束斑直径最小.调焦过程中电子束在样品表面的变化如图5所示.在过焦和欠焦状态下,图像在相互垂直的方向上出现拉长的现象,且在正焦状态下也不清晰,此时就表明出现了像散.在消除像散时,首先要把图像聚焦到正焦状态,随后通过调节消像散器的X、Y旋钮,辅以调焦操作,并观察图像是否被拉长,再根据实际情况,重复上述过程,直到图像清晰为止.图5也展示了不同聚焦状态下有无像散的电子束斑形状及尺寸.显然,消除像散后正焦时电子束斑尺寸更小,因此此时的图像具有更高的清晰度.Fig.5Theshapeandsizechangeofelectronbeamduringfocusingprocessbeforeandaftertheastigmatismbeingeliminated.(4)衬度和亮度调整图像中最大亮度和最小亮度的比值就是图像的衬度,也称对比度或反差,可通过改变扫描电镜中光电倍增管的电压进行调整.亮度则是通过改变电信号的直流成分进行调节.实际上,反差增强时直流成分也会增加,因此相应地亮度也会提高.在进行扫描电镜观察与拍摄时,应交替调节衬度和亮度,保证图像具有清晰的细节和适当的明暗对比.(5)扫描速度调整扫描速度要结合样品自身的性质与观察要求进行调整.通常情况下,低倍观察时用快速扫描,高倍观察时用慢速扫描.当图像要求高分辨率时常用慢速扫描.对于导热性和导电性较差的高分子材料,为避免热损伤和荷电效应,通常要采用快速扫描.(6)样品台角度调整表面较为光滑的样品通常其形貌衬度较弱,通过调整样品台的角度,可以使更多二次电子离开倾斜的样品表面,提高信号电子的强度(如图6所示),进而改善图像衬度和分辨率[14].Fig.6TheSEescapedfromthehorizontal(a)andtilted(b)sample.(7)图像拍摄在实际观察与拍摄时,通常要先在较低的倍率下对整个样品进行观察,之后选择具有代表性的区域再进行放大.遵循“高倍聚焦、低倍拍照”的原则,在高于所需拍摄放大倍数的状态下(1.2~2倍放大倍数)进行聚焦,后回调至所需放大倍数进行拍照,可获得清晰度更高的图像.此外,为了使SEM图像更具有代表性和准确性,一方面,要对具有代表性的观察区域进行一系列放大倍数的拍摄,此时可按从高倍率到低倍率的顺序进行拍摄,过程中无需反复执行电子束聚焦的步骤,仍可获得高清晰度的图像;另一方面,也要进行多点观察,即对样品不同区域进行观察.2.3图像处理图像处理是指在探测器的后续阶段,通过各种图像处理技术,对图像的衬度、亮度或噪声等进行改善,获得一幅细节更清晰、特征更明显的图像.在此过程中,不应改变样品的原始信息.表2总结了仪器参数和操作要点对图像质量的影响[3,4].Table2TheinfluencefactorsoftheSEMimagesandthecorrespondingadjustment.3扫描电镜在高分子材料表征方面的主要应用总体而言,扫描电镜是一个功能十分强大的测试平台,除了最基本的成像功能之外,通过搭配不同的信号电子探测器,或与其他仪器(如拉曼光谱、单束聚焦离子束系统等)联用,或引入原位分析手段等方法,可以对材料的微观结构、元素、相态等进行分析.3.1不同信号电子在高分子材料表征方面的应用常用于高分子材料表征的信号电子为二次电子(SE)、背散射电子(BSE)、特征X射线、透射电子(TE).其中,SE、BSE和特征X射线对样品厚度没有要求,当高能电子束入射至样品后,这3类信号电子的逃逸深度及大致对应的扫描电镜图像分辨率如图7所示[15].而TE要求样品的厚度在100nm以下,因此需要超薄切片处理,且为了获得足够的衬度,通常要对共混物的其中一个组分进行染色处理.通过在SEM平台搭配不同的信号电子探测器,可以得到不同的SEM成像方式.Fig.7TheescapedepthofSE,BSEandcharacteristicX-rayandtheirapproximateimageresolution.3.1.1二次电子成像高能入射电子与样品原子核外电子相互作用使其发生电离形成自由电子,并克服材料的逸出功,离开样品的信号电子即为二次电子SE,其产额为每个入射电子所激发出的二次电子平均个数.二次电子是扫描电镜中应用最多的信号电子.由于其能量较低且容易损失,只有样品表面或亚表面区域所产生的二次电子才能离开样品到达探测器[16].此外,表面形貌的变化对二次电子产额影响较大,图8展示了不同表面形貌,如尖端、平面、斜面、空洞、颗粒等,对二次电子产额的影响.显然,凸出的尖端、较为倾斜的面以及颗粒在经电子束照射后逃逸的SE较多[17].在成像时,SE产额较多的表面形貌通常更亮.这种由于形貌差异导致的图像亮度不同而获得的图像衬度即为形貌衬度.二次电子提供的形貌衬度是扫描电镜最常用的图像衬度.通过搭配二次电子探测器,可以做如下研究:Fig.8SchemeoftheSEyieldondifferentsurfacemicrostructure.(1)高分子复合材料微观结构以高分子为基体,通过引入增强材料(如各种纤维[18~20]、晶须[21~23]、蒙脱土[24,25]、粒子[26~28]等)作为分散相,可以获得具有优异特性的复合材料.通常,其性能强烈依赖于增强材料的尺寸、分散性等.SEM在开发高性能高分子复合材料中发挥了重要作用.于中振等制备了一种具有良好电磁屏蔽性能的聚苯乙烯(PS)/热还原氧化石墨烯(TGO)/改性Fe3O4纳米粒子的复合材料[29].由扫描电镜图像可以清晰地分辨不同形貌的填料,如改性的零维Fe3O4颗粒结构(图9(a))与二维还原氧化石墨烯(RGO)的片层结构(图9(b)).此外,扫描电镜图像也能反映填料的分散情况.如图9(a),RGO在PS基体中表现出明显的聚集,而从图9(c)可见,TGO和改性的Fe3O4纳米颗粒(Fe3O4-60)在PS基体中可以很好地分散.图9(c)所显示的具有许多小空间的微观结构有利于电磁波的衰减.Fig.9SEMimagesof(a)PS/RGO,(b)PS/Fe3O4-60and(c)PS/TGO/Fe3O4-60composites(ReprintedwithpermissionfromRef.[29] Copyright(2015)ElsevierLtd.).刘欢欢等通过扫描电镜对MWCNTs在PP基体中的分散进行了观察,扫描电镜图像中PP基体和MWCNTs表现出明显的衬度差异(图10(a)),是由于二者不同的形貌造成的[30].在较暗的PP基体中出现了大块较亮的MWCNT团聚体,说明其分散性较差.通过引入马来酸酐接枝PP(MAPP)作为增容剂,同时引入Li-TFSI离子液体帮助MWCNTs分散后,图10(b)的扫描电镜图像呈现均一的衬度和亮度,说明此时MWCNTs在PP基体中的分散性有大幅改善.Fig.10SEMimagessofimpactfracturesurfaceofPP/MWCNTs(a)andPP/MWCNTs/Li-TFSI/MAPP(b)(ReprintedwithpermissionfromRef.[30] Copyright(2019)ElsevierLtd.).(2)高分子共混体系相容性对现有高分子材料进行共混是获得高性能新材料的有效途径.共混体系组分之间的相容性是共混改性的基础,其对共混体系的性能起到了决定性的作用[31].因此,对共混体系相容性的研究十分重要,通常要用多种方法,如DSC、FTIR、NMR、SEM等,从不同角度进行研究分析[32].其中,SEM可以直接反应共混物的相形貌,能粗略、直观表征共混体系的相容程度,因此相较于其他方法应用更为广泛.近年来,李勇进和王亨缇等针对不相容共混体系做了一系列工作,通过设计合成并添加反应性增容剂,制备了众多高性能功能化的高分子共混物[5,33~39].在其工作中,大量运用扫描电镜对增容共混体系的相结构、微区尺寸、两相界面等进行研究,并结合透射电镜与红外等其他表征手段,系统研究了不同反应性增容剂的增容机理.图11(a)的扫描电镜图像中,较大的分散相尺寸以及较差的界面黏附性说明了增容前的共混体系是完全热力学不相容的;加入反应性接枝共聚物作为增容剂后,分散相尺寸明显细化,并形成了双连续的相形貌,同时界面也有显著增强(如图11(b)所示).图11(c)的透射电镜图像同样印证了增容后共混体系相容性得到改善的结论[36].Fig.11(a)SEMimageofpolyvinylidenefluoride(PVDF)/poly(lacticacid)(PLLA)=50/50blendwithoutcompatibilizer SEM(b)andTEM(c)imagesofPVDF/PLLA=50/50blendwithcompatibilizer(ReprintedwithpermissionfromRef.[36] Copyright(2015)AmericanChemicalSociety).(3)高分子的晶态结构晶态和非晶态结构是高分子最重要的2种聚集态,其对材料的性能有着重要的作用.扫描电镜为研究高分子的结晶形态提供了更直观的视角[40~42].为了更清晰地观察晶体及其细微结构,如片晶等,通常要对样品进行选择性的刻蚀,以去除晶体中的无定形区[43~46].Aboulfaraj等用扫描电镜对等规聚丙烯(iPP)的球晶结构进行了详细的研究[46].扫描样品经抛光处理,得到平整、光滑的观察面,随后浸泡在含1.3wt%高锰酸钾、32.9wt%浓H3PO4和65.8wt%浓H2SO4的混合溶液中去除PP球晶中的无定型部分,经清洗、干燥、喷金后用扫描电镜进行观察.从图12(a)~12(d)的SEM图像中可以分辨出衬度明显不同的2种PP的球晶结构,其中暗的是α-球晶而亮的是β-球晶.之所以出现这种对比效果,与电子束照射在不同表面形貌的样品上时二次电子的产额不同有关.首先,α-球晶的片晶沿径向和切向交互贯穿呈互锁结构,因此刻蚀后表面平整,在进行扫描电镜观察时,入射电子的径向扩散很弱;作为对比,β-球晶以弯曲的片晶和束状晶体结构为特征,因此刻蚀后表面较为粗糙,可以产生更多的二次电子供探测器接收.通过调整样品台的旋转角度,可以根据衬度的变化清楚地分辨出PP的2种球晶.不同旋转角度对应不同二次电子的产额,如图12(e)和12(f)所示.Fig.12SEMimagesofPPplateobservedatdifferenttiltangles:(a)0°,(b)20°,(c)40°and(d)60° Schemeofthereflectionoflightraysbytheetchedsectionsofα‍-andβ‍-spherulitesunderconditionsofdirect(e)andlow-angle(f)illumination.(ReprintedwithpermissionfromRef.[46] Copyright(1993)ElsevierLtd.).傅强等用扫描电镜研究了高密度聚乙烯(HDPE)/多壁碳纳米管(MWCNTs)复合材料注塑样品从皮层到芯层的微观结构和晶体结构[44].扫描样品同样经过了刻蚀处理.扫描电镜图像明显揭示了复合材料中的纳米杂化shish-kebab晶体,其中CNTs作为shish,而HDPE的片晶作为kebab(图13).此外,由于注塑成型过程中的剪切梯度和温度梯度的影响,纳米杂化shish-kebab晶体结构沿着复合材料注塑样条厚度方向发生变化.Fig.13SEMmicrophotographofthenanohybridshish-kebabatthelayerof400μmalongthethicknessdirectionintheHDPE/MWCNTscomposite.ThesamplewasetchedbeforeSEMobservation.(ReprintedwithpermissionfromRef.[44] Copyright(2010)ElsevierLtd.).此外,扫描电镜在研究结晶-结晶[45,47~49]、结晶-非晶[50,51]聚合物共混体系中的晶体形态方面也有重要的应用.李勇进等系统研究了聚乳酸(PLLA)/聚甲醛(POM)结晶/结晶聚合物共混体系的结晶形态及结晶动力学,通过用氯仿刻蚀掉共混物中的PLLA组分,利用扫描电镜对POM的结晶形态、PLLA的分布等进行了研究[45].由图14可见明显的聚甲醛环带球晶结构,说明即使在PLLA存在的情况下,POM仍会发生结晶形成连续的晶体框架.此外,在POM的环带球晶中观察到许多周期分布的狭缝孔,说明此处原本是PLLA的聚集区.Fig.14SEMimagesobtainedfromquenched(a),141℃(b)and151℃(c)isothermallycrystallizedPOM/PLLA=50/50blendinwhichthePLLAwasetched.(ReprintedwithpermissionfromRef.[45] Copyright(2015)AmericanChemicalSociety).(4)高分子多孔膜的形貌表征膜分离技术是解决水资源、能源、环境等领域重大问题的有效手段,其核心是分离膜[52,53].高分子多孔膜是一类成本相对较低、应用较为广泛的分离膜,但由于其普遍疏水的特性,在实际应用中容易造成污染,导致膜孔堵塞,通量下降,分离效率降低等问题[54].广大专家学者发展了多种改性方法来提高高分子多孔膜的亲水性及防污性[55~59].扫描电镜在开发高性能多孔膜的过程中发挥了重要的作用.徐志康等利用扫描电镜对比了改性前后PP微孔膜的表面孔形貌变化[60];魏佳等研究了不同Gemini表面活性剂体系对多孔膜污染类型及堵塞指数的影响,并用扫描电镜对膜表面形貌和污损情况进行了观察[61];靳健等用扫描电镜表征了聚酰胺(PA)纳滤膜(NF)表面褶皱结构的形成过程[62].从图15的扫描电镜图像中可以清晰地分辨纤维结构、纳米颗粒结构、孔结构及随着反应时间延长所产生的形貌变化.Fig.15Thepreparationofpolyamide(PA)nanofiltration(NF)membranewithcrumpledstructures:Top-viewSEMimagesofpristinesingle-walledcarbonnanotube(SWCNTs)/polyethersulfone(PES)compositemembrane(a),polydopaminemodifiedMOFZIF-8nanoparticles(PD)/ZIF-8loadedSWCNTs/PEScompositemembrane(b)andmorphologychangeofthemembraneimmersedintowaterindifferenttimeafterinterfacialpolymerizationreactiononPD/ZIF-8nanoparticlesloadedSWCNTs/PEScompositemembrane(c-f)(Thescalebarofimagesis1μm).(ReprintedwithpermissionfromRef.[62] Copyright(2018)SpringerNatureLimited).(5)高分子材料的生物相容性聚醚砜(PES)是一类十分重要且应用十分广泛的生物医用膜材料,表现出优异的化学稳定性、机械性能及成膜性[63].然而,其疏水性极大地限制了其在临床领域的应用.为了提高PES作为血液透析膜的使用性能,赵长生等展开了一系列改性研究,旨在改善PES膜的血液相容性[64~66].通过扫描电镜观察血小板在生物材料表面的黏附情况是评估材料血液相容性的重要手段.由图16所示的扫描电镜图像可见,未改性的PES膜有较多的血小板黏附,说明血液相容性较差;而改性过后的PES膜血小板黏附情况有明显改善,对应了较好的血液相容性[65].Fig.16SEMmicrographsoftheadheredplateletsonsurfacesofPES(a)andmodifiedPESHMPU-2(b)andHMPU-8(c).(ReprintedwithpermissionfromRef.[65] Copyright(2014)ElsevierLtd.).(6)高分子自组装行为高分子自组装可以获得具有特定结构和功能的聚合物超分子体系.利用扫描电镜对其组装结构进行观察是揭示其构效关系的重要手段.ByeongduLee等合成了一系列不同接枝密度的嵌段共聚物,并利用SEM对的自组装形貌进行了研究[67].如图17所示,所合成的聚乳酸-聚苯乙烯嵌段共聚物(PLA-b-PS)自组装成了长程有序的片层状结构,且从扫描电镜图像中可以明显看出,随着接枝密度的降低,其片层尺寸也有明显的减小.SEM观察到的这种标度行为为嵌段共聚物及其材料的设计提供了新的思路.Fig.17SEMimagesofpoly(D,Llactide)‍-b-polystyrene(PLA-b-PS)with(a)z=1.00,(PLA)100-b-(PS)100 (b)z=0.75,(PLA0.75-r-DME0.25)110-b-‍(PS0.75-r-DBE0.25)110 (c)z=0.50,(PLA0.5-r-DME0.5)104-b-‍(PS0.5-r-DBE0.5)104 and(d)z=0.25,(PLA0.25-r-DME0.75)112-b-‍(PS0.25-r-DBE0.75),inwhichthegraftingdensities(z)changedbysubstitutingPLAwithendo,exonorbornenyldimethylester(DME)andPSwithendo,exonorbornenyldi-n-butylester(DBE).(ReprintedwithpermissionfromRef.[67] Copyright(2017)AmericanChemicalSociety).2004年,颜德岳和周永丰等创新性地制备了一类两亲性超支化多臂共聚物,其可以在丙酮溶剂中自组装成宏观多壁螺旋管,首次实现了具有不规整分子结构的超支化聚合物的溶液自组装及分子的宏观自组装[68].在之后的工作中,高超和颜德岳等利用这类两亲性超支化聚合物制备了具有高度有序蜂窝状孔结构的多孔膜,并用SEM对其结构进行了详细研究[69].从图18(a)的扫描电镜中可以明显观察到,几乎所有孔都是规整均匀的六边形孔,孔径宽度为5~6mm.此外,由图18(b)和18(c)可见,每个六边形单元都像一个有六面双层墙壁的巢室.这里应用了2个扫描电镜的观察技巧:图18(b)是将样品台倾斜了45°所观察到的形貌,而观察图18(c)时所使用的加速电压高于20kV,此时被顶层覆盖的下层骨架也可以显示出来.Fig.18RepresentativeSEMimagesofthehoneycombpatternedfilmspreparedfromanamphiphilichyperbranchedpoly(amidoamine)modifiedwithpalmitoylchloride(HPAMAM10KC16)onasiliconwafer(a-c).Thesamplewastilted45°intheimagesof(a)and(b).Theacceleratingvoltagewas20kVfor(c).Thescalebarsare20mm(a),2mm(b),5mm(c).(ReprintedwithpermissionfromRef.[69] Copyright(2007)Wiley-VCHVerlagGmbH&Co.KGaA,Weinheim).3.1.2背散射电子成像高能入射电子受到样品原子核的散射而大角度反射回来的电子称为背散射电子BSE,其产额为样品所激发的背散射电子数与入射电子数的比值.当加速电压大于5kV时,背散射电子产额可用公式(7)表示[3]:其中,φ为样品倾斜角,Z为原子序数.显然,背散射电子的产额随样品倾斜角和原子序数的增加而增加,尤其原子序数越高时,其对应的背散射电子图像越亮[70].这种由于原子序数差异导致的图像衬度称为成分衬度.通过在高分辨扫描电镜平台上搭配背散射电子探测器,不仅可以对高分子材料的总体相形态进行分析[71~73],还可以显示出更细节的片晶结构[74,75].其优势在于,BSE成像既不需要像TEM那样的超薄样品,也不需要像二次电子检测或原子力显微镜成像的高压,仍可以显示出较高的衬度、分辨率和信息量.张立群等用原位动态硫化的方法制备了一种可再生的热塑性硫化橡胶(TPV)作为3D打印材料,该TPV包含一种生物基弹性体PLBSI和聚乳酸PLA[72].SEM-BSE图像清晰了反映了动态硫化过程中共混体系的相态变化,其中PLA是亮相而PLBSI是暗相(如图19所示).此外,Bar等利用SEM-BSE观察了聚丙烯共聚物、乙丙共聚物等样品的片晶结构[75].不同于SE成像时通过形貌衬度观察结晶性高分子的晶体及其片晶结构,BSE成像则是通过成分衬度突出片晶形貌.Fig.19SEM-BSEmicrographsofpoly(lactate/butanediol/sebacate/itaconate)bioelastomers/poly(lacticacid)(PLBSI/PLA)(70/30)thermoplasticvulcanizate(TPV)samplescollectedatA(a),B(b),C(c),D(d),E(e)andF(f)pointintorquecurvewhichvariedwithblendingtime(g)andthechemicalreactionofinsitudynamicalvulcanization(h).(ReprintedwithpermissionfromRef.[72] Copyright(2017)ElsevierLtd.).3.1.3X射线能谱分析高能入射电子作用于样品后,部分入射电子打到核外电子上,使原子的内层(如K层)电子激发并脱离原子,而邻近外层(如L层)电子会填充电离出的电子穴位,同时产生特征X射线,如图20所示.该X射线的能量为邻近壳层的能量差(ΔE=EK-EL=hc/λkα)[3].由于不同原子壳层间的能量差值不同,因此利用能量色散X射线光谱仪(EDX)对特征X射线的能量进行分析,可以研究样品的元素和组成[76~80].需要注意的是,EDX通常用于分析原子序数比硼(B)大,含量在0.1%以上的样品,且加速电压必须大于被测元素线系的临界激发能,加速电压对分析的深度、面积、体积等起到重要影响.此外,EDX又包括3种分析方法:点分析、线扫描分析及面分布分析.其中,点分析是指高能入射电子固定在某个分析点上进行定性或定量的分析,当需要对样品中含量较低的元素进行定量分析时,通常只能选用点分析方法;线扫描可以分析样品中特定元素的浓度随特征显微结构的变化关系,是电子束沿线逐点扫描的结果;面分布分析则是指高能入射电子在某一区域做光栅式扫描得到元素的分布图像,又称Mapping图.背散射电子像可以通过图像衬度粗略反映出所含元素的原子序数差异,而特征X射线的Mapping图则可以精确反映出元素构成及其富集状态.在Mapping图中,不同元素可以用不同颜色进行区分,元素富集程度不同则元素的颜色深度不同,因此可以获得彩色的衬度图像.该衬度为元素衬度.在上述的3种分析方法中,点分析灵敏度最高,面分布分析灵敏度最低,但可以直接观察到相分布、元素分布的情况及均匀性.具体实验中,应根据样品自身特点及分析目的等选择合理的分析方法.图21(a)、21(b)和21(c)~21(e)分别为典型的EDX点、线、面分析结果[78,79].Fig.20ThegenerationmechanismofcharacteristicX-ray.Fig.21PointEDXscanonoutersurfaceoftheglassfiber(a)(ReprintedwithpermissionfromRef.[78] Copyright(2011)AmericanSocietyofCivilEngineers) lineEDXscanforCainglassfiber-reinforcedpolymer(GFRP)(b)(ReprintedwithpermissionfromRef.[78] Copyright(2011)AmericanSocietyofCivilEngineers) SEMimage(c)andthecorrespondingEDXmappingscanspectraofC(d)andF(e)elementofpoly(acrylicacid)graftedPVDF(G-PVDF)hollowfibermembrane.(ReprintedwithpermissionfromRef.[79] Copyright(2013)ElsevierLtd.).3.1.4透射电子成像当样品厚度低于100nm时,部分高能入射电子可以穿透样品,从样品下表面逃逸,这部分信号电子称为透射电子TE,其携带了样品内部的结构信息.扫描透射电子显微镜(STEM)是一种通过位于样品正下方的TE探测器接收TE信号的新型SEM,它同时具备了TEM信息量丰富和SEM分辨率较高的优势.在高分子材料表征中,可以利用STEM得到样品的内部形貌、化学成分及晶体结构等信息[36,81~85].如图22(a)和22(b)所示,STEM及其EDX元素分析为研究反应性增容体系的内部形貌及增容剂纳米胶束的分布提供了直观的图像[36];图22(c)的STEM图像揭示了嵌段共聚物的微相分离结构[84];此外,STEM还可用于观察聚合物的片晶结构,由于晶区密度高于无定形区密度,这种密度差提供了衍射衬度,故在STEM图像中晶区更明亮而无定形区较暗(图22(d))[83].Fig.22STEMimagesoftheselectivedispersionofnanomicellesinP((S-co-GMA)‍-g-MMA)compatibilizedPVDF/PLLA=50/50blend(a)anditscorrespondingFelementmapping(b),thesamplewasstainedbyRuO4.(ReprintedwithpermissionfromRef.‍[36] Copyright(2015)AmericanChemicalSociety) STEMimage(darkfieldTEMmode)ofpolystyrene-polyisopreneblockcopolymer(PSt-PI-1)(c),inwhichthebrightanddarkpartsareattributedtothePImoietiesWstainedwithOsO4andPStmoieties,respectively(ReprintedwithpermissionfromRef.‍[84] Copyright(2008)TheRoyalSocietyofChemistry) STEMimageofHDPEspecimenshowingdiffractioncontrastoflamellae(d)(ReprintedwithpermissionfromRef.‍[83] Copyright(2009)AmericanChemicalSociety).综上所述,本文对SE、BSE以及特征X射线成像的特点进行了总结,详见表3.Table3Featuresofimagesobtainedfromdifferentsignalelectrons.3.2SEM与其他仪器联用在高分子材料表征方面的应用3.2.1拉曼光谱(Raman)-SEM联用Raman光谱在高分子科学中应用十分广泛,它提供了各种关于化学结构、分子构象、结晶、取向等的定量信息[86].SEM与共聚焦Raman光谱的联用(RISE)是显微镜学一个重要的里程碑.如图23所示,利用RISE既可以获得高分辨率的电镜图像,还能获得关于化学和结构组成的信息[87].此外,在SEM图像中衬度较弱的样品还能通过其光特性的差别突出显示[88].如图24所示,在SEM图像中不明显的PS微球,通过拉曼成像,可以清晰地分辨其位置.此外,由于拉曼信号强度强烈依赖于颗粒数量,因此拉曼成像中颗粒的亮度也反映了颗粒数量.Fig.23(a)SEMimagesofthematrix(M)ofrecycledpolyvinylchloride(PVC)powders(RPP)andtheselectednanoparticles(P1,P2,andP3)onRPPsurface (b)RamanspectraofnanoparticlesonthesurfaceofRPPrecordedwiththeconfocalRaman-in-SEMsystem(532nmlaser)(ReprintedwithpermissionfromRef.[87] Copyright(2020)AmericanChemicalSociety).Fig.24(a,d)SEMimagesof500nmPSbeads,inwhichtheredsquareindicatedselectedregionforRamanimaging (b,e)Ramanimagesoftheindicatedregionsshowingtheintensityofthe1001cm-1bandafterspectralintegrationovertherangefrom970cm-1to1015cm-1,indicatedbytheblackcrossesin(c).(f)ThespatiallyintegratedRamanintensity,shownin(b)and(e),foreverysingleorclusterofpolystyreneparticles.(ReprintedwithpermissionfromRef.[88] Copyright(2016)JohnWiley&Sons,Ltd.).3.2.2聚焦离子束(focusedionbeam,FIB)-SEM联用FIB是一种将离子源产生的离子束经离子枪加速并聚焦后对样品表面进行扫描的技术.与SEM联用成为FIB-SEM双束系统后,通过结合各种附件,如纳米操纵仪、各种探测器和样品台等,FIB-SEM可用于快速制备TEM样品[89,90]和进行微纳加工[90],此外基于其层析重构技术还能实现材料微观结构的三维重建及分析[91~94].图25(a)~25(a' ' )为利用FIB-SEM制备TEM样品的示意图及原位观察得到的样品SEM图像[89,90].FIB-SEM联用为精确定位制样区域,高效制备TEM样品提供了新的方向.图25(b)和25(b' )展示了FIB在聚合物薄膜样品上铣削微米尺寸孔洞的SEM和TEM图像[90].FIB-SEM在材料的精细加工领域表现出明显的优势.图25(c)的SEM图像中,暗相对应较深的孔,亮相对应较浅的孔,而中等亮度区域对应乙基纤维素(EC)固体.在其对应的三维重构图中(图25(c' )),较硬的多孔EC骨架结构是黑色的,而白色的区域表示孔洞结构[91].三维重构是理解晶粒、孔隙及分相等微结构与性能之间关系的重要手段,通常要经过SEM传统的二维成像手段结合FIB连续切片获取不同位置截面信息,再经过图像处理获得二值化数据之后方可进行三维重构.该方法具有较高的空间分辨率,但同时也存在重构范围有限,重构效率低等不足,这也是后续扫描电镜等技术发展的重要方向.Fig.25(a)SchematicoftheShadow-FIBtechniqueforTEMsamplepreparation(ReprintedwithpermissionfromRef.[89] Copyright(2009)MicroscopySocietyofAmerica) SEMimagesofpoly(styrene-b-isoprene)(PS-b-PI)filmonthesiliconwafers(a' )beforeand(a' ' )aftershadowFIBpreparation(ReprintedwithpermissionfromRef.[90] Copyright(2011)ElsevierLtd.) (b)SEMimageof100pAFIB-milledholesinthepoly(styrene-b-methylmethacrylate)(PS-b-PMMA)diblockcopolymersheetand(b' )thecorrespondingBFTEMimageofPS-b-PMMAsheetmilledfor9s(ReprintedwithpermissionfromRef.[90] Copyright(2011)ElsevierLtd.) (c)SEMimageoftheporousnetworkofleachedethylcellulose(EC)/hydroxypropylcellulose(HPC)filmwhichcontained30%HPC(HPC30)and(c' )itscorresponding3DreconstructionsoftheporousstructureofHPC30.(ReprintedwithpermissionfromRef.[91] Copyright(2020)ElsevierLtd.).3.3原位表征技术在高分子材料表征方面的应用通过配置专门的样品台,如制冷台、加热台、拉伸台,可以在电镜样品室内对样品进行诸如加热、制冷、拉伸、压缩或弯曲等操作,并可以用SEM实时观察样品的形貌、成分等的变化.冷冻扫描电镜(Cryo-SEM)是一种集冷冻制样、冷冻传输与电镜观察技术于一体的新型扫描电镜,需配置制冷台.常规的扫描电镜要求高真空环境,因此样品需干燥无挥发组分.而一些特殊样品,如囊泡、凝胶、生物样品等,在干燥过程中会发生结构变化,通过常规扫描电镜无法观察样品的真实结构.Cryo-SEM则弥补了这一不足,适用于含水样品的观察.图26展示了Cryo-SEM在表征高分子囊泡[95]、凝胶[96]与乳胶[97]方面的应用.显然,Cryo-SEM最大限度地保留了样品的原始结构.Fig.26(a)Cryo-SEMimagesofpolymervesiclesarmoredwithpolystyrenelatexspheres(ReprintedwithpermissionfromRef.[95] Copyright(2011)AmericanChemicalSociety) (b)High-pressurefrozen-hydratedpoly(acrylicacid)(PEG-AA)microgels(ReprintedwithpermissionfromRef.[96] Copyright(2021)AmericanChemicalSociety) (c)Plasticallydrawnparticlesfromfrozensuspensionsofpolystyrenelatexwithadiameterof500nm.(ReprintedwithpermissionfromRef.[97] Copyright(2006)AmericanChemicalSociety).加热台常用于分析金属或合金样品的腐蚀、还原或氧化反应[98,99],在高分子材料表征中少有应用.此外,拉伸台在高分子材料表征中较为常用.图27(a)为碳纤维/环氧树脂共混物薄片沿加载方向的破坏情况[100];图27(b)展示了循环荷载的炭黑填充天然橡胶体系的裂纹尖端演变[101].显然,原位分析可以清晰地反映材料性能变化的第一现场.Fig.27(a)InsituSEMimageof:initialfailureinacarbonfiberreinforcedpolymer(HTA/L135i(902/07/902))laminate(ReprintedwithpermissionfromRef.[100] Copyright(2006)ElsevierLtd.) (b)Evolutionofacracktipduringcyclicloadingafter1,10and21insitucycles,respectively.(ReprintedwithpermissionfromRef.‍[101] Copyright(2010)WileyPeriodicals,Inc.).3.4其他扫描电镜技术在高分子材料表征方面的应用高分子材料通常具有较高的电阻值和较差的导热性,当高能入射电子束在样品表面持续扫描时,样品极易发生荷电效应并受到热损伤,这些对扫描电镜的观察均会造成不利影响.因此,在使用常规扫描电镜时,为了消除荷电效应,提高样品的导热性,一般要在样品表面镀上一层导电薄膜.但是,镀膜有时会掩盖样品表面的形貌信息.低压扫描电镜(LV-SEM)通过低能电子束照射样品,能够实现对高分子材料的极表面进行无损伤的测试观察,因此可以反映材料最真实的微观结构[102~104].LV-SEM对样品表面形貌的灵敏度由图28可见.图28(a)和28(b)均是聚氨酯/二氧化硅复合物的扫描电镜图像,其中,图28(a)样品经过了镀碳处理,且是在20kV加速电压下捕捉的;图28(b)未经镀膜处理,观察所用加速电压为1kV[15].显然,在较低的加速电压下,样品表面细节更清晰,而在较高电压下,由于电子束穿透深度更大,因此表面以下的二氧化硅颗粒也显现出来.Fig.28SEMimagesofpolyurethanesamplefilledwithsilicamicroparticlesobservedatdifferentacceleratingvoltages:(a)20kV(carboncoated),(b)1kV(uncoated).(ReprintedwithpermissionfromRef.‍[15] Copyright(2014)DeGruyter).4扫描电镜的发展趋势随着高分子材料科学的发展,扫描电镜及其应用技术也在不断改进.首先,低压成像技术的发展为观察绝缘、耐热差的高分子材料表面的微观结构提供了可能.同时,即使不喷镀导电膜也能清晰成像,因此可以获得更真实、更细节的微观结构.此外,用传统的扫描电镜无法观察的特殊样品也可以利用低压技术成像,如含水高分子材料或生物样品,几乎不需要对样品进行处理.现有水平下,1kV加速电压成像的分辨率也可以达到1~1.8nm[3].如何在超低压下获得更高分辨率的扫描电镜图像是后续扫描电镜发展要解决的问题.其次,如文中介绍,电子束与样品相互作用所产生的信号电子种类较多,每种信号电子都携带了样品大量的特征信息,通过配置不同的功能附件,可以获得高分子样品形貌、结构、化学组成等信息.一方面,对高分子材料来说,很多信号电子所携带的信息未能被充分解析.如背散射电子(BSE),除了直接成像,其对应的衍射(EBSD)技术还可以揭示材料的晶体微区取向和晶体结构等信息.然而由于高分子材料通常结晶度不能达到100%,因此很难通过EBSD进行检测.另一方面,开发功能更强大的扫描电镜附件也是重要的发展方向.此外,扫描电镜的原位分析技术也为高分子材料科学的发展提供了有力支撑,二者的有效结合实现了对材料宏观-微观多层次结构的分析.最后,基于扫描电镜的二维图像进行拼接、重构三维图像几近年来也获得了极大的发展.这种跨多维度的扫描电镜分析技术在高分子材料的表征中目前还存在很大限制.综上,扫描电镜的发展将会为高分子材料提供更为便捷、信息量更丰富、更准确的表征手段.致谢感谢南京大学胡文兵教授在论文修改过程中给予的帮助和指导.参考文献1PeaseRFW.AdvImagElectPhys,2008,150:53-86.doi:10.1016/s1076-5670(07)00002-x2GuoSuzhi(郭素枝).ElectronMicroscopeTechnologyandItsApplication(电子显微镜技术及应用).Xiamen(厦门):XiamenUniversityPress(厦门大学出版社),20083RenXiaoming(任小明).ScanningElectronMicroscope/PrincipleofEnergySpectrumandSpecialAnalysisTechnique(扫描电镜/能谱原理及特殊分析技术).Beijing(北京):ChemicalIndustryPress(化学工业出版社).20204ZhangDatong(张大同).ScanningElectronMicroscopeandX-RayEnergyDispersiveSpectrometerAnalysisTechnics(扫描电镜与能谱仪分析技术).Guangzhou(广州):SouthChinaUniversityofTechnologyPress(华南理工大学出版社).20085WeiB,LinQ,ZhengX,GuX,ZhaoL,LiJ,LiY.Polymer,2019,185:121952.doi:10.1016/j.polymer.2019.1219526ParkJ,EomK,KwonO,WooS.MicroscMicroanal,2001,7(3):276-286.doi:10.1007/s1000500100747ZhengX,LinQ,JiangP,LiY,LiJ.Polymers,2018,10(5):562.doi:10.3390/polym100505628SumitaA,SakataK,HayakawaY,AsaiS,MiyasakaK,TanemuraM.ColloidPolymSci,1992,270(2):134-139.doi:10.1007/bf006521799SainiP,ChoudharyV,DhawanSK.PolymAdvTechnol,2012,23(3):343-349.doi:10.1002/pat.187310LiW,BuschhornST,SchulteK,BauhoferW.Carbon,2011,49(6):1955-1964.doi:10.1016/j.carbon.2010.12.06911EgertonRF,LiP,MalacM.Micron,2004,35(6):399-409.doi:10.1016/j.micron.2004.02.00312HeinLRO,CamposKA,CaltabianoPCRO,KostovKG.Scanning,2013,35(3):196-204.doi:10.1002/sca.2104813RaviM,KumarKK,MohanVM,RaoVN.PolymTest,2014,33:152-160.doi:10.1016/j.polymertesting.2013.12.00214JoyDC.JMicrosc,1987,147(1):51-64.doi:10.1111/j.1365-2818.1987.tb02817.x15ŠloufM,VackováT,LednickýF,WandrolP.Polymersurfacemorphology:characterizationbyelectronmicroscopies.In:PolymerSurfaceCharacterization.Berlin:WalterdeGruyterGmbH&CoKG,2014.169-206.doi:10.1515/9783110288117.16916SeilerH.JApplPhys,1983,54(11):R1-R18.doi:10.1063/1.33284017JoyDC.JMicrosc,1984,136(2):241-258.doi:10.1111/j.1365-2818.1984.tb00532.x18SathishkumarTP,SatheeshkumarS,NaveenJ.JReinfPlastCompos,2014,33(13):1258-1275.doi:10.1177/073168441453079019KarataşMA,GökkayaH.DefTechnol,2018,14(4):318-32620ForintosN,CziganyT.ComposBEng,2019,162:331-343.doi:10.1016/j.compositesb.2018.10.09821WangWenjun(王文俊),WangWeiwei(王维玮),HongXuhong(洪旭辉).ActaPolymericaSinica(高分子学报),2015,(9):1036-1043.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2015.1500722FavierV,ChanzyH,CavailléJY.Macromolecules,1995,28(18):6365-6367.doi:10.1021/ma00122a05323ConverseGL,YueW,RoederRK.Biomaterials,2007,28(6):927-935.doi:10.1016/j.biomaterials.2006.10.03124RameshP,PrasadBD,NarayanaKL.Silicon,2020,12(7):1751-1760.doi:10.1007/s12633-019-00275-625YangJintao(杨晋涛),FanHong(范宏),BuZhiyang(卜志扬),LiBogeng(李伯耿).ActaPolymericaSinica(高分子学报),2007,(1):70-74.doi:10.3321/j.issn:1000-3304.2007.01.01326LiShaofan(‍李‍少‍范),WenXiangning(‍温‍向‍宁),JuWeilong(‍鞠‍维‍龙),SuYunlan(‍苏‍允‍兰),WangDujin(‍王‍笃‍金).ActaPolymericaSinica(高分子学报),2021,52(2):146-157.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2020.2018927HuangDengjia(黄‍登‍甲),SongYihu(宋‍义‍虎),ZhengQiang(郑‍强).ActaPolymericaSinica(高分子学报),2015,(5):542-549.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2015.1436528FuZhiang(傅志昂),WangHengti(王亨缇),DongWenyong(董文勇),LiYongjin(李勇进).ActaPolymericaSinica(高分子学报),2017,(2):334-341.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2017.1628829ChenY,WangY,ZhangH,B,LiX,GuiC,X,YuZ,Z.Carbon,2015,82:67-76.doi:10.1016/j.carbon.2014.10.03130LiuH,GuS,CaoH,LiX,JiangX,LiY.ComposBEng,2019,176:107268.doi:10.1016/j.compositesb.2019.10726831SeyniFI,GradyBP.ColloidPolymSci,2021,299(4):585-593.doi:10.1007/s00396-021-04820-x32KrauseS.Polymer-polymercompatibility.In:PolymerBlends.NewYork:AcademicPress,1978.15-113.doi:10.1016/b978-0-12-546801-5.50008-633WangH,YangX,FuZ,ZhaoX,LiY.LiJ.Macromolecules,2017,50(23):9494-9506.doi:10.1021/acs.macromol.7b0214334FuZ,WangH,ZhaoX,LiX,GuX,LiY.JMaterChemA,2019,7(9):4903-4912.doi:10.1039/c8ta12233d35WangH,FuZ,ZhaoX,LiY,LiJ.ACSApplMaterInterfaces,2017,9(16):14358-14370.doi:10.1021/acsami.7b0172836WangH,DongW,LiY.ACSMacroLett,2015,4(12):1398-1403.doi:10.1021/acsmacrolett.5b0076337FuZ,WangH,ZhaoX,HoriuchiS,LiY.Polymer,2017,132:353-361.doi:10.1016/j.polymer.2017.11.00438DongW,HeM,WangH,RenF,ZhangJ,ZhaoX,LiY.ACSSustainChemEng,2015,3(10):2542-2550.doi:10.1021/acssuschemeng.5b0074039WeiB,ChenD,WangH,YouJ,WangL,LiY,ZhangM.Polymer,2019,160:162-169.doi:10.1016/j.polymer.2018.11.04240GanZ,KuwabaraK,AbeH,IwataT,DoiY.PolymDegradStabil,2005,87(1):191-199.doi:10.1016/j.polymdegradstab.2004.08.00741ChenX,DongB,WangB,ShahR,LiCY.Macromolecules,2010,43(23):9918-992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