射线扫描电镜

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

国仪量子低真空钨灯丝扫描电镜SEM3200扫描电子显微镜SEM3200SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。产品特点（*为选配件）特色功能丰富拓展性扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。背散射电子探测器二次电子成像和背散射电子成像对比背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。应用案例产品参数型号SEM3200ASEM3200电子光学系统电子枪类型预对中型发叉式钨灯丝电子枪（灯丝电流3档可调，可显示灯丝更换时间）分辨率高真空3 nm @ 30 kV（SE）4 nm @ 30 kV（BSE）8 nm @ 3 kV（SE）*低真空3 nm @ 30 kV（SE）放大倍率1-300,000x（底片倍率）1-1000,000x（屏幕倍率）加速电压0.2 kV～30 kV探针电流≥1.2μA，可实时显示成像系统探测器二次电子探测器（ETD）*背散射电子探测器、*低真空二次电子探测器、*能谱仪EDS等图像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG真空系统真空模式高真空优于5×10-4 Pa*低真空5～1000 Pa控制方式全自动控制样品室摄像头光学导航样品仓内监控样品台配置三轴自动*五轴自动行程X: 120 mmX: 120 mmY: 115 mmY: 115 mmZ: 50 mmZ: 50 mm/R: 360°/T: -10°～ +90°能谱仪能谱仪探测器分析型SDD硅漂移电制冷探测器，有效面积≥30 mm2，晶体面积≥50 mm2，高分子超薄窗设计，无需液氮冷却，仅消耗电能能谱仪能量分辨率Mn Ka保证优于129eV元素分析范围B5～Cf98软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航、可自动叠加电镜图片自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散特色功能智能辅助消像散、*大图拼接（选配软件）安装要求房间长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm温度20 ℃～25 ℃湿度≤50 %电气参数电源AC 220 V(±10 %)，50 Hz，2 kVA

在研究先进材料时，首先需要对样品的表面形貌、晶体结构和化学成分有深刻的了解。无论您是想实现下一次技术创新，还是专注于产品研发和生产，这些性息都能帮助您更加了解初始材料的性能，评估缺陷，并确保成品的质量。 Thermo Scientic&trade Apreo&trade ChemiSEM&trade 扫描电镜实现了颠覆性的技术创新，简化了分析流程。通过全面集成用于高分辨率成像、元素分析和结构分析的软件和硬件，Thermo Scientic&trade Apreo&trade ChemiSEM&trade 扫描电镜提供了一个无缝衔接的简化工作流程，可以满足高通量、快节奏的实验室需求，并且可以对各种样品进行高效、可靠的分析。

Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（智能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH（闪调）自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo 2 SEM，任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料； 极佳的灵活性非常灵活的处理范围，样品类型广泛，包括绝缘体、敏感材料和磁性样品，收集最重要的数据； SmartAlign技术使用SmartAlign（智能对中）技术，实现光学系统自动调整，减少维护时间； 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH（闪调）技术； 实时定量EDS元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便； 长工作距离唯一在长工作距离（10 mm）具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率： 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）最大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于最低放大倍率29倍）X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为 340 mm 宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3 个（其中2个处于180° 对角位置）样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12 mm）最大样品尺寸，直径122 mm，可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度，到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统：样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3（选配）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器（选配）可伸缩透镜下背散射探测器（选配）控制系统： 操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

国仪量子钨灯丝扫描电镜SEM2000钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升级30kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数

一、产品概述：扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束扫描样品表面以获取其形貌和组成的信息。SEM能够提供详细的三维表面图像，广泛应用于材料科学、电子工程、生物学和地质学等领域。二、设备用途/原理：设备用途EM主要用于材料表面的形貌分析、微观结构观察和成分分析。它在半导体器件的缺陷检测、金属和合金的微观结构研究、以及生物样品的形态观察中发挥着关键作用。SEM还常用于材料的质量控制和研发过程中的性能评估。工作原理SEM的工作原理是将高能电子束聚焦到样品表面，电子束与样品相互作用产生二次电子、反射电子和特征X射线等信号。通过收集这些信号，SEM能够生成样品表面的高分辨率图像。电子束的扫描可通过计算机控制，实现多角度观察和深度信息提取。由于其高分辨率和大景深特性，SEM能够提供丰富的样品表面信息，助力多领域的研究和应用。三、主要技术指标：1. FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术 、半导体、电子器件、生命科学、材料等域2. 电子枪种类：冷场发射3. 二次电子图象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV4. 放大倍数：20-2,000,000x5. 加速电压：0.5-30kV

日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA详细介绍日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS），统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色，应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面，也可以是一个切开的面，或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶体的生长或腐蚀的缺 陷。它一方面可更直接地检查纸，纺织品，自然的或制备过的木头的细微结构，生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如：花粉颗粒，硅藻和昆虫。另一方面，它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。电子束与样品作用区内，还发射与样品物质其他性质有关信号。例如：与样品化学成分分布相关的，背散射电子，特征X射线，俄歇电子，阴极荧光，样品吸收电流等；与样品晶体结构相关的，背散射电子衍射现象的探测；与半导体材料电学性能相关的，二次电子信号、电子束感生电流信号；在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电镜样品分析室，用于探测和定性定量分析样品物质的相关信。操作窗口： 直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户：单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造快捷的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像：画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量：适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。标准的全对中样品台，能收录三维照片3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。 从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙分析型扫描电子显微镜配备两台监视 器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视 器。大尺寸画面使操作更加简便与舒 适。维护简便：工厂预置中 心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。可信赖的真空系统：真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。 日本电子扫描电镜JSM-6510A/ JSM-6510LA型的规格保证分辨率3.0nm（30kV）8.0nm（3kV）15nm（1kV）放大倍数5至300,000x加速电压0.5kV至30kV电子枪工厂预对中灯丝聚光镜变焦聚光镜物镜锥形物镜样品台全对中样品台X-Y80mm-40mmZ5mm至48mm旋转360°倾斜－10°至＋90°排气系统（高真空模式）DPx1，RPx1排气系统（低真空模式）DPx1，RPx2日本电子最 大的亮点——方便的导航系统

场发射扫描电镜SEM5000Pro是一款先进的显微镜设备，它结合了场发射电子源和扫描电子显微技术，为用户提供高分辨率的表面成像。该设备适用于各种科学研究和工业应用，能够清晰地观察到纳米级别的细节。SEM5000Pro具备高亮度和高稳定性，保证了长时间运行的可靠性。此外，它还拥有先进的图像处理软件，可以进行精确的图像分析和三维重建。用户可以通过这款设备进行材料分析、生物样本观察以及微电子器件的检查等多种任务。SEM5000Pro的卓越性能源于其强大的硬件支持。它配备了高性能的X射线能谱仪（EDS），能够同时进行形貌观察和成分分析，为用户提供更全面的样品信息。此外，该设备还具备自动化样品台，能够精确控制样品位置，提高检测效率和准确性。在操作便捷性方面，SEM5000Pro采用了直观的图形用户界面，使得用户能够轻松设置参数、调整图像并导出数据。同时，它还支持远程控制和网络共享功能，方便用户在不同地点进行实验操作和数据交流。在应用领域上，SEM5000Pro广泛应用于材料科学、生物医学、地质学、考古学以及微电子工业等多个领域。在材料科学中，它可以用于研究材料的微观结构、相组成和界面特性；在生物医学领域，它可以帮助研究人员观察细胞、组织以及生物大分子的精细结构；在微电子工业中，它则可用于检查半导体器件的缺陷和失效模式。总之，场发射扫描电镜SEM5000Pro以其卓越的性能、便捷的操作和广泛的应用领域成为了科研和工业领域不可或缺的重要工具。此外，SEM5000Pro还具备一些高级功能，进一步提升了其应用价值。例如，它支持低温扫描电镜（Cryo-SEM）技术，能够在接近绝对零度的低温条件下观察样品的形貌，这对于研究生物样品、高分子材料等在常温下易变形的样品尤为重要。通过Cryo-SEM，用户可以捕捉到样品在接近自然状态下的真实形貌，为科学研究提供更为准确的数据支持。同时，SEM5000Pro还具备环境扫描电镜（ESEM）功能，允许在样品室内引入气体或蒸汽，模拟样品在自然环境中的状态。这一功能对于研究材料在特定环境下的行为、腐蚀机理以及生物样品在湿润条件下的形态变化等具有重要意义。在数据分析方面，SEM5000Pro配备了先进的自动化分析软件，能够自动识别和测量样品中的特征元素、颗粒大小、形貌参数等，并生成详细的报告。这不仅大大提高了数据分析的效率和准确性，还为用户节省了大量时间和精力。最后，SEM5000Pro还注重用户的安全和健康。设备采用了低辐射设计，减少了操作人员受到的辐射剂量。同时，它还配备了完善的防护措施和紧急停机装置，确保在发生异常情况时能够迅速切断电源并保护样品和设备的安全。综上所述，场发射扫描电镜SEM5000Pro凭借其卓越的性能、广泛的应用领域、高级的功能以及注重用户安全的设计理念，成为了科研和工业领域中的佼佼者。无论是对于材料科学家、生物医学研究者还是微电子工程师来说，它都是一款不可或缺的重要工具。

泽攸科技 原位扫描电镜（SEM）基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。原位扫描电镜（SEM） 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒；标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示；原位扫描电镜SEM应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位扫描电镜（SEM）生产厂家，关于原位扫描电镜（SEM）价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

泽攸科技 台式扫描电镜多少钱一台？学校或是公司想买台式扫描电镜，但是给的预算又有限，那么如何选购台式扫描电镜，性价比高的呢？下面泽攸科技小编给大家介绍一下台式扫描电镜价格。扫描电镜价格有几十万到几十万，几百万甚至更高。台式扫描电镜价格不同主要是以下三个方面的质量差异。1、电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。2、镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光屏、检测器等部件。 这些部件通常从上到下组装成一个圆柱体。3、电子透镜用于聚焦电子，是电子显微镜镜筒中很重要的部分。 一般使用磁透镜，有时也使用静电透镜。它利用与镜筒轴对称的空间电场或磁场，使电子轨迹向轴弯曲，形成焦点。其作用与光学显微镜中的光学透镜（凸透镜）一样，使光束聚焦，故称为电子透镜。光学镜头的焦点是固定的，而电子镜头的焦点是可以调节的，因此电子显微镜没有光学显微镜那样的可移动镜头系统。大多数现代电子显微镜都使用电磁透镜，电子被非常稳定的直流激励电流通过带极靴的线圈产生的强磁场聚焦。电子源由释放自由电子的阴极、栅极和以环形加速电子的阳极组成。阴极和阳极之间的电压差需要很高，一般在几千伏到三百万伏之间。它能以均匀的速度发射并形成电子束，因此加速电压的稳定性不低于万分之一。样品可以稳定地放置在样品架上，常有可以改变样品的装置（如移动、旋转、加热、冷却、拉长等）。电子显微镜按其结构和用途可分为透射电子显微镜、扫描电子显微镜、反射电子显微镜和发射电子显微镜。ZEM台式扫描电镜 透射电子显微镜常用于观察普通显微镜无法分辨的精细材料结构，扫描电子显微镜主要用于观察固体表面形貌，也可与X射线衍射仪或电子能谱仪结合形成电子。微探针用于材料成分分析，发射电子显微镜用于研究自发射电子表面。扫描电镜价格只是购买产品或服务过程中的一项指标，如果单纯只比较价格，其实考虑并不是那么周到。价格、质量、服务、口碑、是否合适自己的情况等都需要一起考虑。了解泽攸科技扫描电镜价格请致电（微信同号）原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

原位拉伸台-扫描电镜疲劳试验机 IBTC-200为满足空间有限的条件下的试验需求，凯尔测控自主研发了用于扫描电镜的原位微型力学试验系统，搭配不同附件可完成多种材料多种方案的测试，具体可实现功能包括：l 实现原位在线观测材料在加载过程中微观组织变化l 微型化设计，适合SEM、AFM、X射线衍射仪等空间有限的环境下使用l 原位拉伸台适用于生物骨材料、生物软组织材料、高分子材料、金属薄片材料、陶瓷材料l 原位拉伸、压缩、循环性能研究，可在SEM内部在线使用或独立使用 用于扫描电镜的微型原位力学试验系统，由进口载荷、位移传感器及滚珠丝杠、自主研发的直流电机等构成，两端夹具同时向相反方向对称运动，保持试样中心位置始终不变，非常适合原位在线观测，配合X射线，同步辐射光源等观测系统可以实现在加载过程中微观组织演化规律的在线表征。配合不同夹具可实现拉伸、压缩、弯曲、剪切、蠕变、松弛、循环加载（疲劳）等力学测试。同时可选配高温环境附件，模拟材料的使用环境，具体参数如下：原位拉伸台产品特点：l 双向对称加载，保证样品中心变形区在SEM视场中心；l 空间布局合理，同时达到二次电子和能谱的优良成像条件；l 微型化设计，尺寸可定制，满足载物台重量需求；l 适配部分SEM、OM、AFM、STM，加载主机通过导电底座，安装固定于SEM内部的XYZ电动平台上方，通过SEM操作软件移动平台，调整观测位置；l 法兰连接器起到加载主机到SEM真空腔体的信号线转接功能，密封效果符合SEM对真空的要求，不需要再次拆卸；l 原位主机的操作方式同其他原位力学试验系统一致，主要功能包括原位拉伸、压缩、蠕变、松弛、循环（疲劳）性能等；l 进口高精度载荷传感器、位移传感器l 商业化的完全自主知识产权的控制器、驱动器，可扩展性极强l 拉伸、蠕变、松弛、疲劳以及自定义试验 试验案例：与蔡司EVO MA15型扫描电子显微镜联用，试样：某导电高分子薄膜；单边缺口试验，拉伸试验，研究裂纹扩展行为；SEM下高倍率在线观测，裂尖形貌如下；用户：天津大学、中国航发商发集团。

扫描电镜高温拉伸蠕变力学原位硏究系统(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是国家重大科学仪器研制专项的成果转化产品,其特征是将宏观材料力学实验置于具有与纳米分辨的扫描电子显微镜內,实现了宏观力学性能与纳米层次结构分析的一体化。主要功能为在纳米分辨的二次电子成像和背散射成像(EBSD)的观察条件下,实现室温至1200°C高温的拉伸、压缩、三点弯曲等原位力学实验。主要用于硏究各类材料在力、热以及耦合条件下的力学性能测试与微观组织结构演变机制硏究。该仪器也可以兼容匹配各类光学显微镜(OM)、X射线衍射仪(XRD)和原子力显微镜(AFM)等材料微观分析仪器。

FEI Quanta 系列包括六款可变压力和环境扫描电子显微镜 (ESEM&trade )。所有这些产品均可满足工业工艺控制实验室、材料科学实验室和生命科学实验室的多种样本和成像要求。Quanta 系列扫描电子显微镜属于多功能、高性能仪器，并具有高真空、低真空和 ESEM 三种模式，能够处理的样本类型之多堪称 SEM 系统之最。所有 Quanta SEM 系统均可配备分析系统，比如能量色散谱仪、X 射线波长色散谱仪以及电子背散射衍射系统。此外，场发射电子枪 (FEG) 系统含有一个用于明场和暗场样本成像的 S/TEM 检测器。SEM 系统中的另一个可变配置是电动工作台的尺寸（分 50mm、100mm 和 150mm 三种）以及电动 Z 轴行程的大小（分别为 25mm、60mm 和 65mm）。Quanta 650 和 650 FEG 都设计了大标本室，能够分析和浏览大型标本。Quanta 的材料科学应用随着 Quanta 50 系列的推出，现在的 Quanta SEM 系列更为灵活。对于材料科学来说，这些全新仪器可满足对众多类型材料进行研究以及表征结构和成分的需求。FEI Quanta&trade 50 系列十分灵活，功能多样，能够应对当今众多研究领域的挑战。观测任意样本并获得所有数据 - 表面和成分图像可与配件结合起来，确定材料属性和元素成分。Quanta 旨在增加您实验室的可发表成果。Quanta 标准环境 SEM (ESEM) 功能可以提供额外的能力，用于处理您之前认为电子显微技术无法处理的样品和应用，同时协助预测长期的材料性能。 对水化物样品成像。 潮湿或热循环期间的结晶或相变。 悬浮或自组装过程中的粒子。 金属腐蚀。 拉伸试验（根据需要加热或冷却）。 Quanta 自身的多功能性使之非常适合用于材料科学。它善于执行传统高分辨率 SEM 成像/分析，在动态原位 实验方面同样游刃有余。Quanta 可以让您研究自然状态下的广泛样品，从而获得最准确的结构和组成信息： 氧化/腐蚀样品 陶瓷材料、复合材料、塑料 薄膜和涂层 软材料：聚合物、药物、凝胶 颗粒物、多孔材料、纤维合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

泽攸科技 ZEM15原位拉伸-扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm 加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒； 标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示； 原位拉伸-扫描电镜应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位拉伸-扫描电镜生产厂家，关于原位拉伸-扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品介绍：　　日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点，不仅具有强大的观察分析能力，同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求，也满足了电镜初学者对高质量图片的需求，是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点：1.　高稳定性热场发射电子枪2.　全新的EM Wizard软件，无需设置参数即可获得高质量图片3.　高分辨率和强大的分析能力4.　样品适用性强：不导电样品直接观察（低真空功能，10-300Pa）5.　全新的multi-finder功能，方便快捷的寻找样品6.　附件功能强大：拉伸台，冷热台，电子束曝光，红外CCD，离子束清洁系统等。

追求ji致性能！完成具挑战性的纳米分析工作。TESCAN推出了全新yi代S8000系列扫描电镜，目前包括：S8000型超高分辨场发射扫描电镜和S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜。S8000 FE-SEM全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。 S8000 FE-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及S8000G FIB-SEMS8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员，是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-3 S8000 系列（NEW ! ）S8000 FE-SEM全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。S8000 FE-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析 配置4个新yi代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并du家实现与Raman联用S8000 系列（NEW ! ）S8000G FIB-SEM S8000G是TESCAN新S8000系列扫描电镜的第yi个新成员，是yi款超高分辨双束FIB-SEM系统，它可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，并能以ji佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作，可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。S8000G FIB-SEM的优点： 新yi代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析 配置4个新yi代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，并du家实现与TOF-SIMS、Raman联用 新yi代操作软件和自动功能，FIB镜筒具有全自动的离子镜筒对中，极大简化了操作北京亚科电子（山东）设备咨询电话：

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配：根据实际配置和需求 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

TESCAN--场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供you xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics&trade ）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing&trade ），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航维修简单现在保持电镜处在you xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面（包括了EasySEMTM模式）不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理，报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域，等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建，等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 北京亚科电子（山东）欢迎来电咨询 ！

扫描电镜加热和冷却样品台系统是完全独立的，包括：一个热隔离的样品支架，单级或双级帕尔贴装置，真空法兰，冷水机组/电源机组，用于数字温度读出和控制的键盘。n 保持样品的含水化n 易于安装和拆除n 适用于大多数扫描电子显微镜 推荐用于：高真空扫描电子显微镜结合x射线EDS检测，DEBEN冷却台允许在高真空下同时进行化学分析和温度控制。 环境扫描电镜 提供了研究液态水与材料的相互作用的能力，并通过防止脱水来维持动植物的结构的能力。低真空扫描电子显微镜通过在低真空中冷却试样，可以尽量减少脱水引起的试样结构的变化；延长观察时间。聚焦离子束双束电镜不需要液氮冷冻系统。减少对由离子源产生的样品的热损伤。应用领域：n 生物材料n 生物制药n 聚合物n 温度敏感材料n 低熔点材料n 植物微观结构

泽攸科技 ZEM桌面台式扫描电镜，使用方便，操作简单，稳定性好，速度快，小巧方便，在使用ZEM桌面台式扫描电镜时只需要找一张桌子，供电后就可以正常工作，软件操作也很简单，可以看操作手册。桌面台式扫描电镜应用安徽泽攸科技有限公司是ZEM桌面台式扫描电镜生产厂家，关于ZEM桌面台式扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨（UHR）扫描电镜的综合分析平台，能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。TESCAN AMBER X 配置了氙（Xe）等离子 FIB 镜筒和 BrightBeam™ 电子镜筒，能够同时提供高效率、大面积样品刻蚀，以及无漏磁超高分辨成像，适用于各类传统或新型材料的二维成像以及大尺度的 3D 结构表征。拥有 AMBER X 不仅能够满足您现阶段对材料探索的需求，也为您将来的研究工作做好充分的准备。AMBER X 等离子 FIB 不但能轻松应对常规的样品研磨和抛光工作，而且能快速制备出宽度可达1 毫米的截面。氙等离子束对样品的损伤最小，且不会导致注入引起的污染和非晶化。氙是一种惰性元素，所以可以实现对铝等材料进行无污染的样品制备和加工，不用担心传统镓离子 FIB 加工时由于镓离子污染或注入可能导致的微观结构和/或机械性能改变。镜筒内 SE 和 BSE 探测器经过优化，可以在 FIB-SEM 重合点位置获得高质量的图像。TESCAN AMBER X 更有利于安装各类附件的几何设计为样品的综合分析提供了前所未有的潜力，而且还能够进行多模态的 FIB-SEM 层析成像。TESCAN Essence™ 是一款支持用户可根据需求自定义界面的模块化软件。因此，TESCAN AMBER X 可以轻松的从一个多用户、多用途的工作平台转变为用于高效率、大面积 FIB 样品加工的专用工具。主要特点：● 高效率、大面积样品刻蚀，最大宽度可达1毫米的截面。 ● 无镓离子污染的样品加工。 ● 无漏磁的场发射扫描电镜，实现超高分辨成像和显微分析。● 镜筒内二次电子和镜筒内背散射电子探测器。 ● 束斑优化，可确保高效率、多模态 FIB-SEM 断层扫描的效果。● 超大的视野范围，便于样品导航。 ● 可轻松操作的模块化电镜控制软件 Essence™ 。

日立HITACHI扫描电镜SU8600系列高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列*设备照片包含选配项。 SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还提升了高通量、自动数据获取能力。 特点*高分辨成像日立的高亮度电子源可保证了即使在低着陆电压下，也可获得高分辨的图像。高衬度的低加速电压背散射图像3D NAND截面观察 在低加速电压条件下，背散射电子信号能够显示出氧化硅层和氮化硅层的衬度差别。快速BSE图像：新型闪烁体背散射电子探测器(OCD)*由于使用了新型的OCD探测器，即使扫描时间不到1秒，也仍然可以观察到Fin-FET清晰的深层结构图像.自动化功能*EM Flow Creator 允许客户创建连续图像采集的自动化工作流程。EM Flow Creator将不同的SEM功能定义为图形化的模块，如设置放大倍率、移动样品位置、调节焦距和明暗对比度等。用户可以通过简单的鼠标拖拽，将这些模块按逻辑顺序组成一个工作程序。经过调试和确认后，该程序便可以在每次调用时自动获得高质量、重现性好的图像数据。灵活的用户界面原生支持双显示器，提供灵活、高效的操作空间。6通道同时显示与保存，实现快速的多信号观测与采集。 技术参数机型SU8600 系列电子光学系统二次电子像分辨率0.6 nm@15 kV0.7 nm@1 kV *放大倍率20 to 2,000,000 x电子枪冷场发射电子源，支持柔性闪烁功能，包含阳极烘烤系统。加速电压0.5 to 30 kV着陆电压 *0.01 to 20 kV探测器（部分为选配项）上探测器(UD)UD ExB能量过滤器，包含SE/BSE信号混合功能下探测器(LD)顶探测器(TD)TD能量过滤器镜筒内背散射电子探测器(IMD)半导体式背散射电子探测器 (PD-BSED)新型闪烁体式背散射电子探测器(OCD)阴极荧光探测器(CLD)扫描透射探测器(STEM Detector)附件（部分为选配项）导航相机、样品室相机、X射线能谱仪(EDS)、背散射电子衍射探测器(EBSD)软件（部分为选配项）EM Flow Creater、HD Capture( 40,960×30,720 像素以下）样品台马达驱动轴5轴马达驱动（X/Y/R/Z/T）马达驱动轴X：0~110 mmY：0~110 mmZ：1.5~40 mmT：-5~70°R：360°样品室样品尺寸直径可达：150 mm*减速模式下

扫描电镜RISE — 拉曼成像与扫描电子联用显微镜（拉曼-SEM） 与TESCAN电镜联用的 RISE 显微镜世界首款完全集成的拉曼成像与扫描电子显微镜 RISE 显微镜是一款新型联用显微镜，它将 SEM 和共聚焦拉曼成像结合在一起。通过 RISE 显微镜，可以将超微结构表面特性与分子化合物信息关联起来。 RISE 显微镜将SEM 和alpha300共聚焦拉曼成像显微镜的所有功能都融于一台仪器中：在拉曼和 SEM 测量之间快速、简便切换自动将样品从一个测量位置移动另一个位置集成化软件界面，方便用户进行测量控制测量结果关联与图像叠加独立的SEM 和拉曼成像性能 与ZEISS电镜联用的 RISE 显微镜RISE 显微技术 利用 RISE 显微镜，在整个测量程序中，可以将样品在 SEM 真空室内从一个测量位置自动转移到另一个位置，从而简化了工作流程，大大提高了仪器的易用性。 扫描电镜RISE应用实例 仓鼠脑组织切片的拉曼-SEM叠加图像。彩色编码的拉曼图像：绿色：脑白质；红色：脑灰质；扫描范围:100 x 100 μm，300 x 300 像素 = 90,000 光谱，每光谱测量时间 50 ms。 砷化镓 (GaAs) 样品的拉曼-SEM叠加图像。彩色编码的拉曼图像：黄色：金基底；红色：GaAs；蓝色：生产残留物；扫描范围:50 x 50 μm，300 x 300 像素 = 90,000 光谱，每光谱测量时间 34 ms。 PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM叠加图像。 彩色编码的拉曼图像：绿色：聚苯乙烯；红色：聚甲基丙烯酸甲酯。 RISE 显微镜与地质样品的 EDX 同区域对应分析。左：叠加的 SEM-EDX 图像：可以区分三种不同元素组（橙色：Si、O；紫色：Si、Al、Fe、Ca；绿色：Na）。中间：同一样品区的拉曼-SEM叠加图像，呈现分子化合物的空间分布。右：相应的拉曼光谱。红色：绿帘石；绿色：石英；棕色：斜长石（钠长石）；额外其他分子化合物。 扫描电镜RISE主要特点l 扫描电镜可以对样品进行各种各样的分析，而RISE技术把拉曼与电镜结合起来，使在电镜内部直接分析样品的化学组分成为了可能l 共聚焦拉曼显微镜l WITec的RISE共聚焦拉曼成像拥有电镜拉曼联用市场上最高的成像速度，成像灵敏度及成像空间分辨率l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 532激发的拉曼mapping可获得400nm的水平方向空间分辨率l 532激发的拉曼mapping可获得900nm的竖直方向空间分辨率l 超高光通量的透镜式光谱仪可获得最高的光谱灵敏度及光谱分辨率性能l 超快拉曼成像选项可达到每张光谱0.76ms 的超快采谱速度l 非破坏性成像技术，无需对样品进行染色或者标记 RISE 显微技术是您的最佳选择对于入门操作者来说：简易的操作流程让您更容易上手对于有经验的操作者来说：在一台设备上同事实现原位的电镜拉曼联用图像，可以让用户获得更多的样品信息 扫描电镜RISE适用领域：材料科学，纳米技术，高分子科学，地质学，生命科学，制药业

Agilent 桌面场发射扫描电镜 安捷伦8500FE-SEM为研究者提供场发射扫描电镜。这个紧凑、创新的系统优化了低电压成像，特别是表面高对比度，可以得到一般在更大，更昂贵的场发射显微镜才能得到的分辨率。8500安装使用很方便，不需特别的场地要求，只需一个接线板。设计紧凑，为实验室中的研究者提供了以前只有传统场发射电镜才能得到的性能。8500经过精心设计，可以提供持续，可重复的性能，成本是业界最低的。 特征和优势：分辨率和成像质量等同于传统的场发射扫描电镜结构优化，核心元件达到晶元尺度，在低压条件下，得到高分辨的成像结果可变低电压可以消除电荷，样品不需要镀膜（不用喷金喷碳直接看不导电样品）程序设计的XYZ样品台确保用户精细调整，扫描和储存信息，操作简单快速静电透镜的设计确保良好的重复性，消除了磁滞现象，不需反复调整机体紧凑确保便于安装，不需特别的场地，不需通冷却水，不需特别隔振维护非常简单，不需频繁更换发射源

钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款先进的显微成像设备，它利用钨丝作为电子源发射电子束，通过聚焦和扫描样品表面，产生高分辨率的图像。该产品适用于各种材料科学、生物学、地质学等领域的研究和分析工作。SEM2000具备出色的成像能力，能够提供样品表面的三维形貌信息，同时其高真空系统确保了在不同环境下的稳定运行。此外，该扫描电镜还配备了先进的电子探测器和图像处理软件，以实现快速、精确的分析结果。SEM2000钨灯丝扫描电镜还具备以下特点和优势：1. **高分辨率与放大倍数**：SEM2000能够实现从低倍到高倍的连续放大，最高分辨率可达到纳米级别，确保了对微小结构和细节的精确观测。2. **大样品室设计**：为了满足不同尺寸和形状样品的观察需求，SEM2000采用了大样品室设计，方便用户放置和移动样品，同时也便于安装各类样品台和附件。3. **灵活的操作与控制**：该设备配备有直观易用的操作系统和界面，用户可以通过触摸屏或计算机远程控制，轻松调整扫描参数、观察角度和焦距，实现高效、便捷的样品观测。4. **多样化的成像模式**：SEM2000支持多种成像模式，包括二次电子成像（SEI）、背散射电子成像（BSE）等，可以根据不同的样品特性和观察需求选择合适的成像方式，以获得最佳的图像效果。5. **强大的数据分析能力**：集成的图像处理和分析软件能够自动对图像进行增强、滤波、测量等操作，并提供丰富的统计分析功能，帮助用户快速提取样品表面的有用信息，进行定性和定量的分析。6. **可靠的性能与稳定性**：SEM2000采用高品质的组件和先进的制造工艺，确保了设备的长期稳定运行和出色的性能表现。同时，它还具备完善的保护机制和故障诊断功能，降低了用户的维护成本和风险。7. **广泛的应用领域**：由于其出色的成像和分析能力，SEM2000在材料科学、生物学、地质学、物理学、化学等多个领域得到了广泛应用。无论是观察材料的微观结构、分析生物组织的形态特征，还是研究地质样品的矿物组成和微观构造，SEM2000都能提供有力的支持。综上所述，SEM2000钨灯丝扫描电镜是一款功能强大、操作简便、性能可靠的显微成像设备，它将为您的科学研究提供有力的帮助和支持。

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。配件： 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择 概述：分析潜力 GM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 GMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 GMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。 软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM选配：根据实际配置和需求

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 LM样品室配备有5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵抽真空保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 LMH大样品室高真空式电镜，配备有可延长的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 LMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。 软件标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM选配：根据实际配置和需求 技术规格 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头 等，各种配件可供选择

二手日立S-4300场发射电镜设计具有以下特点：1） 高亮度光源肖特基场发射扫描电子显微镜2） 高探针电流3） 长、短程电子束稳定4） 高分辨率S－4300SE可以与多种附件相结合，如阴J发光（CL），背反射电子衍射图形（EBSP），X－射线能谱（EDX），电子描画(EB)。技术指标二次电子成像分辨率：1.5nm(30kV), 5.0nm(1kV)20x～5,000,000x电子光学:电子枪:ZrO/W 肖特基发射电子源 (内置阳J加热)加速电压:0.5～30 kV (0.1kV/步)透镜系统:2级电磁透镜物镜光阑:4孔光阑，真空外选择和调校,加热自清理薄光阑板.象散校正:电磁象散校正器扫描线圈:2级电磁系统肖特基场发射扫描电子显微镜样品台:(1)标准台X:0～25 mmY:0～25 mmZ:5～ 30 mm 倾斜: -5～+45°(优中心)旋转:360°(连续)样品尺寸:直径120mm (Z大)(2)大样品台X:0～100 mm Y:0～50mmZ:5～35 mm 倾斜: -5～+60°(优中心)旋转:360°(连续)样品尺寸:直径160mm (Z大)(3)大的优中心样品台X:0～100mm Y:0～50 mm Z:5～35 mm倾斜: -5～+75°(优中心) 旋转:360°(连续)样品尺寸:直径160mm (Z大)肖特基场发射扫描电子显微镜图像显示系统:CRT显示语言:100 mmdia. × 17mm HPC操作系统 :(150 mmdia. × 6 mm H 可选)二手日立S-4300场发射电镜操作:显示器:英语（日语）自动调整功能:PC/AT兼容, Windows NT图像过程: 17 或 21 英寸彩色CRT图像储存:自动聚焦,自动象散校正,自动亮度、对比度调节,自动启动,自动摄像图像编辑:文件格式:SEM数据管理软件自动数据显示:640 x 480,1,280 x 960,2,560 x 1,920pixels 具有多种搜索功能的图像数据库.电子图像移动：BMP (TIFF, JPEG)真空系统:加速电压,放大微米标尺,微米值,胶卷号,工作距离,日期,时间,摄像放大倍率,检测器.离子泵:±30 μm (WD = 30 mm)前级泵:气动阀全自动控制涡管泵:~10-7 Pa (电子枪), ~10-4 Pa (样品室)