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四探针方阻仪

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四探针方阻仪相关的耗材

  • 四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂;晶圆 ITO薄膜电阻探头
    四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件,我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上,稳定性和一致性十分优秀;无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌,打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数: A,探头主体材料及外形尺寸 B,针尖半径 C,针头的间隔 D,针头的负载 E,针头排列,线型,或者正方形。 F,连接方式: 连接器,或导线联接及长度主要的应用领域: 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。
  • 全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针
    全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光 SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年,公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂,在AFM、纳米、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外,我们还与著名高校:University of Tampere (UTA),école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 许多的研究团队合作,密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥,两个可变电阻在悬臂上,两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号,从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上,带有一个小的连接器,用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器,如SEM,TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针,用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。 常规自感应悬臂梁探针(针材质Si) Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的,半径小于15纳米。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w) l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP PRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m 自感应悬臂梁(不含针)Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless) 这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂,没有探针针,可将自己设计制造的针粘在其上或者直接粘上样品,满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量,以及更多的应用。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB 共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP PRS-L100-F400-TL-PCB/CHP 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/m PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m 自感应基础套件(DYI必备) Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测,无法直接用于普通AFM设备里,需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置,可以立即开始使用自感应悬臂(探针)。自感应基础套件包含以下内容: ★ 低噪声悬臂信号前置放大器(下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备(锁定放大器,AFM控制器等)的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂(4)
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP; 2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP 2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造优势:*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 四探针测试探头
    340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm;2mm;3mm探针材质选择:铜/钨钢针探针尖形态选择:尖针,半球型
  • 射频探针T26A
    TITAN&trade 系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围 50 μm 至 1250 μm,频率范围 26 GHz 至110 GHz 可选购。TITAN&trade 射频探针适用于射频、毫米波、至高 110 GHz 电路或连续至高 10 瓦功率型射频组件的特性描述量测,是您晶圆级 S 参数量测的最佳选择优异的点测重现性是 TITAN&trade 射频探针的另一大特色TITAN&trade 26 GHz 探针是理想的 WiFi、Bluetooth 、商用 3G/4G 无线组件开发选择,亦适合教育院所采用Mechanical Characteristics针身材质 镍合金针耐受压力 20g使用寿命(接触次数) 大于1000000接地与信号对准误差 +-3um平坦度误差 +-3um针触足迹宽度 小于30um针触电阻 小于3m欧姆温度范围 -60-175℃特性阻抗 50欧姆频率范围 DC to 26GHzDC电流 小于1ADC电压 小于100VRF功率10GHz 小于5W接头 SMA针距距离 100um-350um step 25um信号规格 GSG
  • 手动多功能微型探针台
    手动多功能微型探针台是一款手动多功能探针台,可用于4' ' 晶圆或4“x6.5”印刷电路板。为用户提供了价格低廉而功能强大的选择。手动多功能微型探针台特点它的重量轻,非常灵活多用,非常方便用户转移或携带出去实验,可手动从前部操作,没有阻挡物,用户可以增加显微镜方便探针定位。磁性安装面方便定位手动多功能微型探针台应用可用于晶圆测量,也可用于毫米波,微波测量,差分探针,单探针,RF的PCB测量师,汽车以及手持式测量。可以用在实验,办公室,还可以用在其它地方。可以为用户定制用于特别应用,比如多孔连接器,PCBA等手动多功能微型探针台参数尺寸:22x9x 8英寸重量:4.5Kg
  • 【NCHV-A探针】bruker 原子力显微镜探针
    【NCHV-A探针】bruker原子力显微镜探针概述一组硅探针。数量为10用于TappingMode成像的Bruker'sValueLine蚀刻硅探针TM在空气中的非接触模式,具有反射涂层。这种探头也可以不使用铝反射涂层作为模型 NCHVO规格:几何■矩形 齿顶圆角半径nm尺寸:8 频率赫兹尺寸:320最小:270最大:400 弹簧常量Nm尺寸:40最小:20最大:75 长度pm尺寸:117最小:115最大:120 宽度pm尺寸:33最小:28最大:38 悬臂梁背面的铝反射涂层使激光信号增加了2.5倍。对于一般成像,通常不需要有反射涂层。反光涂层推荐用于薄悬臂梁、反光非常强的样品和机器视觉应用。几何形状:矩形悬臂梁数量:1悬臂厚度Nom:3.5um悬臂厚度RNG:2.8~4.2um背面涂层:反光铝
  • ESI自动取样探针
    AS-90/90A/90plus/91/93plus/S10 取样探针组件订货信息:ESI自动取样探针产品描述部件编号自动取样探针自动取样探针(0.15 mm)N0777221自动取样探针(0.20 mm)N0777222自动取样探针(0.25 mm)N0777223自动取样探针(0.30 mm)N0777224自动取样探针(0.50 mm)N0777225自动取样探针(0.80 mm)N0777226样品探针高流速、碳纤维支撑、内径0.8mm(蓝色)N0777285低流速、碳纤维支撑、内径0.8mm(蓝色)N0777266样品探针管线的托架N0777227载体探针高流速、碳纤维支撑、内径0.5mm(橙色)N0777286低流速、碳纤维支撑、内径0.5 mm(橙色)N0777267
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 拉曼探针/近红外光纤探针 L1320002
    坚固耐用且用途广泛的拉曼光纤探针和附件近红外光纤探针适用于Raman IdentiCheck、RamanStation400F、RamanFlex 400 和RamanMicro 200F珀金埃尔默的光纤探针可将光谱仪移到样品近处,从而使结果更容易收集。只需点击几次,您就能对一系列样品类型进行分析——甚至在环境不受控或空间有限的情况下也不例外。这种简单易用的附件可提供诸如原位分析和反应监测等相当多的附加功能,从而将使您的实验室从中受益。近红外光纤探针产品描述部件编号拉曼探针 不锈钢探针、7.5 mm工作距离、5米电缆;光谱范围是230-3500 cm-1L1320002浸液套筒 它是拉曼探针的一个选配附件,由带有蓝宝石窗片的不锈钢壳体组成。该套筒允许拉曼探针在温度高达200°C时浸入液体内。L1320030触发式光纤拉曼探针,5 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、5 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320030触发式光纤拉曼探针,20 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、20 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320031用于触发式光纤探针的浅(10 cm)浸液套筒;这是光纤探针的一种可选不锈钢浸液套筒L1320070拉曼探针:长不锈钢探针,350 mm长,适用于非接触式浸液,可在不超过200°C / 1500psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320011拉曼探针:最长不锈钢探针,适用于非接触式浸液,可在不超过500°C / 3000 psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320012用于拉曼探针的吹扫护套:最大规格,当最大号探针在200°-500°C的温度下运行时必须配备此部件L1320013活动触头 7.5 mm工作距离、替换部件;可通过直接接触样品而对光纤探针的工作距离进行优化并降低Spectrum外源光线受污染的风险L1320324用于光纤探针和触发式光纤探针的工作距离超长型透镜:这种附件可将工作距离从7.5mm提高到25 mmL1320071
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030
  • 射频探针|MPI T67A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针|MPI T40A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针| MPI T26A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针| MPI T50A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 布鲁克台阶仪探针
    Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针,是布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 单点开尔文扫描探针系统配件
    单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统,具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中,探针头与振荡薄膜一起使用,预放大器集成到探针头中,方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺,底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径:40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器
  • SiR-DNA 生物成像探针
    SiR-DNA生物成像探针试剂盒SiR-DNA (SiR-Hoechst*)是一种远红色,荧光性,细胞渗透性和高度特异性的活细胞DNA探针,用于细胞核和DNA的荧光成像。包装:试剂盒含有50 nmol SiR-DNA和1 umol维拉帕米产品描述SiR-DNA (SiR-Hoechst*)是一种基于DNA小槽粘结剂双苯并胺的活细胞核染色剂,它可以在活细胞中标记DNA,具有高特异性和低背景。SiR-DNA具有荧光性、细胞渗透性和DNA高度特异性。Sir-DNA染色活细胞的细胞核,不需要基因操作或过度表达。它在远红色的发射最小化光毒性和样品自身荧光。SiR-DNA与GFP和/或m-cherry荧光蛋白兼容。SiR-DNA是DRAQ5的无细胞毒性替代品。它可以用标准的Cy5滤光器成像。SiR-DNA可用于活细胞和组织的宽视场、共聚焦、SIM或STED成像。探针数量允许50 - 200个染色实验用途:科研你知道吗?我们的新产品SPY650-DNA是SiR-DNA的改进版本。SPY650-DNA染色细胞具有更强的信号和更少的背景,同时仍然兼容超分辨率。在这里了解更多信息:SPY650-DNA备注:*SiR-DNA与SiR-Hoechst是相同的,在上面的《自然通讯》文章中,这个探针的名字是SiR-Hoechst。**基于以下条件:0.5 - 1ml染色液/ 0.5 - 1um探针浓度的染色实验。染色实验的数量可以通过减少体积或探针浓度来进一步增加。
  • 晶圆探针台
    晶圆探针台,硅片探针台由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询!晶圆探针台适合显微镜使用,尺寸小,重量轻,价格低硅片探针台适合科研院所和企业的实验室使用。非常适合小于4英寸的晶圆测量,也可用于LED/LD/PD灯光的光强和波长测量晶圆探针台主要指标:硅片探针台chuck stage (吸盘位移台):3' ' x3' ' 行程 晶圆探针台chuck theta (吸盘theta角):0-30度硅片探针台platen (压盘):6个微定位器晶圆探针台工作环境要求:晶圆探针台电力:110VAC, 60Hz 硅片探针台真空:-250mmHg, 7Liter/min晶圆探针台尺寸:320x320x400mm ( WxDxH,带显微镜尺寸)硅片探针台重量:20kg (带显微镜重量)晶圆探针台附件:晶圆探针台chuck stage push to position硅片探针台chuck stage vacuum based movement晶圆探针台microscope tilting mechanism and quick right angle switchover硅片探针台light intensity/wavelength measurement adapter晶圆探针台RF prob/cables硅片探针台acitive probeslow current/ capacitance probeshigh voltage probeultrasonic cutterCCTVPhotomicrographicspackaged device holderPCB holderThermal systemsLiquid crystal kit晶圆探针台Vibration free tabletop硅片探针台shielding box晶圆探针台Test bench硅片探针台Instrument case晶圆探针台chuck vacuum pattern硅片探针台gold plated chuck晶圆探针台和欧洲进口的硅片探针台,显微镜使用,适合小于4英寸的晶圆测量,是理想的硅片仪器.
  • 探针微定位器
    微定位器,探针微定位器由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询!探针微定位器适合各种探针和探针台的定位器。探针台定位器行程:12x12x12mm 线性运动探针微定位器尺寸:90x130x90mm (WxDxH) 探针台定位器重量:1kg 探针微定位器主要特色: 探针台定位器亚微米内部回路探针 探针微定位器线性运动探针台定位器choice of Triaxial/Coaxial Tip Holder 微定位器四个方向(东西南北)RF探针定位器探针微定位器DC 到40---120GHz探针台定位器多接触楔 DCto 40-67GHz 探针微定位器标定衬底带软件探针微定位器5度连线,不需要ELBOW连接头探针台定位器30度E-Z探针倾斜探针微定位器可维修探针台探针微定位器钨尖可选探针台定位器无后冲移动探针台定位器附件探针微定位器triaxial tip holder /coaxial tip holder探针台定位器Magnet, vacuum& Locking screw based探针微定位器Soft probing tilting mechanism探针台定位器RF Theta Mechanism探针微定位器Semi-Rigid Cables探针台定位器Active Probes探针微定位器Ultrasonic Cutter探针台定位器Low current/capacitance ProbesHigh Voltage Probes微定位器和欧洲进口的探针微定位器,适合各种探针和探针台的定位器.
  • 大面积扫描开尔文探针系统配件
    大面积扫描开尔文探针系统配件能够在垂直方向移动开尔文探针实现电动控制开尔文探针与样品的距离。 样品安装到真空吸盘上,真空吸盘可带着样品移动150x150mm位移,从而实现开尔文扫描探针系统大面积扫描样品表面。大面积扫描开尔文探针系统配件特色: 电动控制开尔文探针与样品的距离 电动控制样品XY移动范围150 mm x 150 mm 具有编码器的主动定位定位追踪系统 Z方向步进大小: 625 nm X - and Y-方向: 5 μm / microstep 功函分辨率:: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 框架表面镀金 开尔文探针头采用纯金工艺 最大外形尺寸: 50 cm (W) x 60 cm (D) x 25 cm (H) 最大样品尺寸: 150 mm x 150 mm 真空样品吸盘 包含参考样品标准: HOPG, Au on Si, Al/Au-edge, Potential Check 可选配温度和湿度传感器
  • 射频探针| MPI TS 110GHz 探针
    MPI射频探针MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。 最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 布鲁克 ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读: 关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室 *先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖 探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。 1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍 1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。 6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140
  • 接触式探针
    uniqprobe? :uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针,探针侧面:部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针,探针侧面:部分铜涂层PLATINUMSILICIDE:导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂(硅化铂反射) SPM探针Advanced TECTM:AdvancedTECTM SPM硅探针,接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针,接触式硅悬臂, 探针侧面和针尖:铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针,接触式硅悬臂, 探针侧面和针尖:铜涂层
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
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