四探针控制器

标准配备改良过的测量参数自动调整功能，以及简单明了的图形用户界面。因此，即使是刚刚接触SPM的人，或者测量某种全新的样品时，也能取得具有较高再现性的数据。 图标说明*RealTune是日立高新技术科学股份公司在日本的注册商标。 特点1. RealTune® II　最新的测量参数自动调整功能 提升独有的测量参数自动调整功能！此系列开发出一种全新的处理方法，可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数。其通过对样品表面的形状、扫描区域、使用的悬臂及扫描仪等的综合评价，高效率、高精度地调整成最合适的测量条件。 通过新增加了振幅调整功能的测量参数自动调整功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。原来需要熟练操作的测量，现在没有经验的操作员也可以简单地操作。 也可用于很难调整参数的样品。【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）【样品提供：日东电工股份公司】此前的方法此种样品需要对参数进行精细的调整，操作困难，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。新处理方法自动调整成最合适的参数，可在复杂的纤维结构不变形的前提下进行测量。【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）【样品提供：神户大学北村研究室】此前的方法此款样品表面容易损坏，易产生皱痕、step的轮廓也不明确。新处理方法自动调整为最合适的参数，稳定地测量分子级别上的step结构。2. 新图形用户界面（Graphical Use Interface）简单菜单 简单明了易懂的图标、严格筛选的显示信息，无论是无经验者还是熟练操作员，都能够方便地操作！ 可通过选项卡在测量及分析作业领域之间切换，画面简洁明了。可有效地广泛使用。 3. 3D覆盖功能能够将样品形状图像及物理性质图像重合起来显示，并能进一步构画出3D图像，可以通过视觉形象地感受样品的物理性质的分布。4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能具备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样化的分析功能。 5. 小型化设计外形更轻便、更小型化，适合各种放置场所。220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg

卓聚科技 是一家集精密仪器研究、开发、设计、检测为一体的高端科研设备产业化公司。 扫描探针显微镜控制器可以实现扫描探针显微镜针尖的自动逼近、样品扫描、数据收集等功能，低信噪比，具备原子分辨率。扫描探针显微镜控制器特征 1.粗进针控制模块：手动进针，自动进针。输出电压可达350V，频率660Hz。2. Soft-db控制器：可输出±10V的扫描电压、隧道偏压，隧道电流的收集，反馈控制，数据处理。3. 电压放大模块：Soft-db控制器输出低压放大，达到驱动压电陶瓷管的功能，包含4个低压输入通道，放大倍数为15倍。 扫描探针显微镜控制器技术参数：粗进针控制模块输出电压可达350V频率可达1000HzSoft-db控制器输出电压范围±10V扫描范围可达2×2μm分辨率0.1（横向）?0.01（纵向）电压放大器电压增益15输出电压±150V输入幅度±10V通道数4以上就是东莞市卓聚科技有限公司提供的扫描探针显微镜控制器的介绍，了解更多直接咨询： 原文： 随着微电子、纳米科技和人工智能等领域的进一步发展，精密定位不仅在实验室用途广泛，工业界的应用也越来越多。该团队在以往研究基础上，发展出一系列具有自主知识产权的超精密定位产品，填补了国产空白。一个火柴盒大小、外壳包覆金属的小方块，通过电压控制能够实现纳米级别的精密位移，可以用于对精密度要求超.高的科学实验、精密制造和半导体工业等领域。日前，在松山湖材料实验室高.端科研设备产业化团队的实验室内，团队负责人许智展示了该团队拥有核心技术的压电驱动纳米位移台。

R10扫描探针显微镜控制器继美国RHK Technology公司推出的革ming性扫描探针显微镜控制器R9取得大成功之后，其研发团队通过升其软硬件和功能隆重发布了新一代R10扫描探针显微镜控制器。相比于R9控制器，R10扫描探针显微镜控制器性能提升主要包括： 全新的FPGA固件构架大地提高了配置灵活性 对于高测量提供了60多个可用的数据通道 数据流和扫描速度均提高5倍 优化的高压输出电路板，噪声水平降低到R9控制器的1/4 两个扫描探针控制系统 可设置任意密度的网格点进行图谱测量R10扫描探针显微镜控制器产品特点全集成SPM控制平台：模式和测量之间的所有连接都是通过数字域中的软件进行的，提供了大的灵活性和信号纯度。获得的图形硬件和实验设置系统允许快速方便的定制。数字锁定放大器：多2个PLL和6个锁定放大器可配置为立工作或连接在一起以跟踪多个谐波。可以生成并解调1 Hz到10 MHz以上的参考频率。解调带宽从10mHz到100kHz。方法允许跟踪边带，即使参考频率快速移动。反馈回路：增添至9个。在200 kHz时计算反馈回路。开尔文探测：测量多频KPFM。反馈回路测量接触电势。所有交流和直流模式可用。多速率数据通路：革ming性的方法提供同步的高速（16位@100 MHz）和高精度（22位@25 kHz）测量和的同步。探针防护装置/锁防护装置：基于时间的数据采集二次扫描发生器和反馈回路快速、故障安全提示接近，接近在输入设定点检测的5μs内停止。锁定防护装置停止扫描，并在超出范围参数的5μs内取出探头。返回范围后自动继续扫描。基于时间的数据采集：所有数据和事件都会在时间基础上进行捕获，以供以后检查。对测量参数（如扫描速度、反馈回路设定点、偏置电压）的更改以亚像素精度存储在数据文件中，并显示在存储的图像上。二次扫描发生器和反馈回路：一套R10控制器可控制2个立的扫描系统。这可以是带有两个扫描仪（大范围和小范围）的单个扫描头，也可以是两个立的扫描头。数据安全：所有数据都存储在每个扫描线末端的HDD中，以防止断电时数据丢失。所有数据类型（地形、光谱、FFT、示波器记录道）的后100个文件存储在硬盘上，以供将来分析。显微镜诊断工具：瞬态记录器：检测短至10ns的瞬态。瞬态记录器：100 MS/s采集，持续1秒。50MHz带宽FFT；4通道示波器@50kHz；数据记录器多可记录五天的数据。访问所有I/O信号：可配置控制路由和60+I/O信号采集。IHDL/Inventor SDK：交互式硬件开发语言：用户自定义的例程。支持LabVIEW VIshh、MATLAB、Python等，无需添加软件模块。内置偏置调制：用小到10μV的正弦波直接调制输出偏置DAC。调制频率高达10兆赫。Z位置调制多频调制与检测：直接调制输出DAC，正弦波小至10 pmR10扫描探针显微镜控制器基本参数Analog InputsUltra-high speed input channelsSample rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzInput range± 10V, ± 1V switchable under software controlInput impedance50 Ω, 1 M Ω switchable under software controlEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable gainUp to 512x at full bandwidthInput offsetInput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiers.Programmable AD/DC couplingInput signal can be AC or DC coupled as defined in software configuration.Analog Inputs (Continued)High speed input channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 6Input range± 10VAnalog bandwidth1 MHzEffective Resolution24 bit @ 200 kHz, 26 bit @ 12 kHzAnalog OutputsUltra-high speed output channelsOutput rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzOutput range± 1V/ , ± 10V on separate outputsEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable attenuationUp to 1024x at full bandwidthOutput offsetOutput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiersHigh speed output channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 10Analog bandwidth100 kHzEffective Resolution20 hbit @ 1 MHz , 22 bit @ 62 kHz, 24 bit @ 3.9 kHzDigital pulse countingFour channels @ 100 MHz count rateDigital Input/Output32 DIO linesR10扫描探针显微镜控制器设备构造前面板后面板高压放大器内部构造测试数据利用R10采集扫描隧道谱图，允许实时显示10条阈值谱线，且谱线的每个像素点可以单显示和分析。用户单位部分用户名单（排名不分先后），科研成果以及用户评价：清华大学、中科院物理所、中国科学技术大学、华中科技大学、国防科技大学、浙江大学......

RHC020-气氛控制扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 RHC020 是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测温度和湿度变化，附加表面光伏SPV020及表面光电压谱SPS030模块，可对光敏感样品进行强度或波长可变的激发。 技术参数： ● 2mm和50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 50mmX50mm最大扫描面积 ● 318纳米定位分辨率 ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离● 附加手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 ● 50mmX50mm样品加热器 ● 自动相对湿度控制至1%（10-100%RH）选件 ● 直插型探针支架：2mm-50μm ● 自动温度控制 ● 表面光伏模块SPV020和SPS030

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

产品简介标准配备改良过的测量参数自动调整功能，以及简单明了的图形用户界面。因此，即使是刚刚接触SPM的人，或者测量某种全新的样品时，也能取得具有较高再现性的数据。图标说明：*RealTune是日立高新技术科学股份公司在日本的注册商标。特点：㈠RealTuneII　测量参数自动调整功能① 提升独有的测量参数自动调整功能！此系列开发出一种全新的处理方法，可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数。其通过对样品表面的形状、扫描区域、使用的悬臂及扫描仪等的综合评价，高效率、高精度地调整成最合适的测量条件。②通过新增加了振幅调整功能的测量参数自动调整功能（RealTuneII），可实现一键（One Click）测量。原来需要熟练操作的测量，现在没有经验的操作员也可以简单地操作。③也可用于很难调整参数的样品。【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）【样品提供：日东电工股份公司】此前的方法此种样品需要对参数进行精细的调整，操作困难，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。新处理方法自动调整成最合适的参数，可在复杂的纤维结构不变形的前提下进行测量。【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）【样品提供：神户大学北村研究室】此前的方法此款样品表面容易损坏，易产生皱痕、step的轮廓也不明确。新处理方法自动调整为最合适的参数，稳定地测量分子级别上的step结构。㈡新图形用户界面（Graphical Use Interface）简单菜单①简单明了易懂的图标、严格筛选的显示信息，无论是无经验者还是熟练操作员，都能够方便地操作！②可通过选项卡在测量及分析作业领域之间切换，画面简洁明了。可有效地广泛使用。㈢3D覆盖功能能够将样品形状图像及物理性质图像重合起来显示，并能进一步构画出3D图像，可以通过视觉形象地感受样品的物理性质的分布。㈣凹凸分析、剖面轮廓分析功能具备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样化的分析功能。㈤小型化设计外形更轻便、更小型化，适合各种放置场所。220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg

四探针三维样品台，主要用于搭载测试样品，可以三维移动、电性能测试、光电性能测试、光化学测试等。在进行太阳能光电转换实验时， 为了测试实验样品的转化效率，需要在照射的同时测定样品的各项参数，因为常规的万用表测量自身测量原理的局限性，在对半导体材料测量时不能够得到准确的数据。而采用四探针法测量时，配合相应的光电测试系统，得出的、稳定、准确的测试数据。探针平台技术参数平台型号AULTT-FTVMAULTT-FTVAAULTT-FTLMAULTT-FTLM样品放置面垂直垂直水平水平操作模式手动电动，PC控制手动电动，PC控制位移距离50mm50mm50mm50mm平台规格220*190*328mm210*210*278mm166*166*108mm210*210*120mm应用样品垂直放置光束水平照射样品垂直放置光束水平照射样品水平放置，光束由上向下照射样品水平放置，光束由上向下照射 1.AULTT-FTVM手动平台此款探针平台分为手动平台和自动平台，手动平台采用微分头进行手动调整操作。A.三维平台为三个位移平台及直角固定块组合而成，用于接收水平光源照射。B.每个位移台面可移动±25mm的距离，移动精度为0.02mm，可精确对准光源发射点。C.位移台采用丝杆传动，并用2根优质钢导轨作为稳定装置，移动稳定无颤动。D.探针组件固定后可调节位置，可适应边长25mm-45mm的被测样本。E.探针固定到绝缘针套内，保证“被测样本-探针-数据收集”整个测量环节内没有外部干扰，测量信号纯净。F.探针与针套不采用粘合剂固定，如需更换探针简单方便。G.采用正规厂商生产的尖头弹簧探针，表面镀铜工艺，确保接触信号良使用长久。 2.AULTT-FTVA自动平台适用于水平光束照射的自动平台采用步进电机作为驱动，除拥有手动平台的特点外还有以下特点。A.采用步进电机驱动，步进角为1.8°，保证了位移的精确度。B.拥有单独的控制器与位移平台连接，控制平台的运动，并可根据使用需要变更运动速度，最大速度可达到10mm/s。C.采用半闭环控制系统，可根据电机运动状态计算位移状态，可实现较精确的位移操作，重复定位精度可达到±5μ。D.拥有上位机软件，可在PC端对平台进行远距离控制。 3.AULTT-FTLM手动平台适用于光束垂直照射的探针平台同样分为手动平台和自动平台，手动平台的X、Y轴平移采用微分头进行精细调整，升降台采用螺杆调整。A.三维平台为两个位移平台及一个垂直升降台组成，用于接收垂直光源照射。B.每个位移台面可移动60mm的距离，移动精度为0.02mm，可精确对准光源发射点。C.垂直升降台行程为60mm-120mm，采用剪形支撑结构，可承载较大载荷，使用安全可靠。D.位移台采用丝杆传动，并用2根优质钢导轨作为稳定装置，移动稳定无颤动。E.探针组件固定后可调节位置，可适应边长25mm-45mm的被测样本。F.探针固定到绝缘针套内，保证“被测样本-探针-数据收集”整个测量环节内没有外部干扰，测量信号纯净。G.探针与针套不采用粘合剂固定，如需更换探针简单方便。H.采用正规厂商生产的尖头弹簧探针，表面镀铜工艺，确保接触信号良使用长久。 4.AULTT-FTLM自动平台适用于垂直光源的自动平台采用步进电机进行驱动，除拥有手动平台的特点外还有以下特点。A.位移平台采用步进电机驱动，步进角为1.8°，保证了位移的精确度，可达到±10μ。B.垂直升降台由原来的手动升降方式也更改为电机驱动的升降方式，可精确的调整升降高度，精度为5μ，重复定位精度可达到±10μ。C.拥有单独的控制器与位移平台连接，控制平台的运动，并可根据使用需要变更运动速度，最大速度可达到10mm/s。D.采用半闭环控制系统，可根据电机运动状态计算位移状态，可实现较精确的位移操作，重复定位精度可达到±5μ。E.拥有上位机软件，可在PC端对平台进行远距离控制。

高温四探针测试仪 HGTZ-800型号高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 HGTZ-800型号系列采用电子护系统，设备的安全性；选用热电偶保定温度的采集有效值、采用SPWM 电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。 HGTZ-800型号系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电 流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。 应用领域： █ 多晶硅材料█ 石墨烯材料 █ 石墨功能材料 █ 半导体材料 █ 导电功能薄膜材料 █ 锗类功能材料 █ 导电玻璃（ito）材料 █ 柔性透明导电薄膜 █ 其它导电材料等 系统功能： █ 电压、电流、温度实时显示 █ 自动升压功能 █ 循环自动测试 █ 升温速度可控 █ 自动试验报表 █ 过压、过流、超温报警 █ 软件自动升级 █ 试验电压、电流可调 █ 电极方便更换 █ 在线设备诊断 系统特点： 多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试 █ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度， █ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率； █ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能 █ 温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更准确； █ 仪器可自动计算试样的电阻率pv █ 10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠； █ 程控电子升压技术，纹波低、TVS防护系统，保证仪器安 █ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针； █ huace pro 强大的控制分析软件。

TCAT-2小动物温度控制器（Animal Temperature Controller） Physitemp公司的TCAT-2温度控制器系列通过PID自动调谐控制器提供精确的温度控制，可满足各种实验研究，需要配合加热灯或加热垫使用。外科手术或脑立体定向操作时，麻醉动物的体温会发生变化，TCAT-2系列产品就可用于保持麻醉动物的体温，小型加热灯可轻松保持动物笼子温暖；TCAT-2也可用于冷却应用，例如控制独立灌注液冷却系统。考虑到实验室应用的多样性，Physitemp公司可以提供多个型号的TCAT控制器供选择，通常三种配置型号可选。 TCAT-2操作简单易行，只需将反馈传感器与动物和控制器背面相连，并将加热垫、毛毯、灯或冷却装置连接到控制器后部相应的插座上。根据仪器顶部的说明标签设定温度要求（下方绿色显示）。设定温度在设备关闭后会存储于存储器中 TCAT-2AC：该型号仅控制交流供电或冷却设备，如加热灯。 TCAT-2LV：该型号为用电敏感的应用场合提供了低压直流输出，其中交流频率可能会与周围其它监测装置产生干扰，其标配含内置直流电源；可与HP-1M加热板配合使用，用于小型啮齿动物；采用双组点控制电路，以防止在控制系统中因热滞后导致的加热元件对控制点的超调，它可以防止由于不正确的控制设置或反馈传感器出错导致的烧伤。在定制的基础上，Physitemp公司可根据负载功率要求提供各种规格的DC电源。 TCAT-2DF：该型号为组合版本，包含以上两者功能。 所有TCAT-2系列型号都可以与Physitemp公司生产的任意的精确的T型热电偶探头一起使用，这些探头作为温度反馈传感器，常用的是RET系列动物直肠探针，但根据具体应用中的使用，也可以使用IT系列的可植入式柔性探针和MT系列探针。所有仪器均设计为使用110V或230V交流电源供电。 特征控制加热毯、加热灯或加热垫。可用于加热和冷却应用。控制范围为-100℃- 400℃分辨率0.1°C 仪器的参数如下：解析度Resolution±0.1℃准确性±0.5℃环境温度+ 2℃至60℃读数 设定（红色）和运行（红色）温度读数双显示带电阻负载的交流电最大功率输出700瓦特（不适用于TCAT-2LV）直流输出额定值TCAT-2DF和TCAT-2LV：12伏直流，最大2安培交流对地接触电流在110伏交流电下小于1毫安双设定点保护功能TCAT-2DF和TCAT-2LV只有额外的加热垫反馈传感器可以防止温度超过45℃ 外形尺寸10x4.36x7.25 in重量 5 lbs产品选购：货号产品规格TCAT-2ACThis version controls only AC powered heating or cooling devices such as a heat lamp. 台TCAT-2LVThis model provides a low-voltage DC output for electrically sensitive applications where AC frequencies might interfere with other monitoring devices. 台TCAT-2DFThis is a combination version which includes both an AC outlet for controlling primarily resistance loads such as heat lamps, AC powered warming blankets and a low-voltage, low-noise" DC output for heating pads. This version allows you to control a variety of different loads.台备注：TCAT-2提供时带有RET-3温度探头和HL-1发热灯。 可选配件：货号产品规格HL-1Heat Lamp加热灯个HP 1MHeating Plate，4 3/8” W x1/4” H x 8.5”L个HP 4MHeating Plate，1.5” W x1/4” H x 4”L个WB-1Warming Blanket8” x 6” 个WB-2Warming Blanket14” x 14”个

产品描述* LimiTrol 上限温度控制器提供对实验室加热过程更进一步的安全控制。安装在电源和主温度控制之间，操作人员只需要在上面设置过程的最高允许的温度值。如果主温度控制出现问题或因为任何原因过程控制温度超过了限制值，LimiTrol 将会切断主控制器的总电源，从而大大减少对样品，昂贵仪器或玻璃器皿因为过热而造成的破坏。设备使用手动重置，也就是说电源一直会保持切断直到操作员重置系统。设置温度值以20 ℃为单位调整，负载和热电偶传感器接口在设备背面。使用一个J型6"长浸入式热电偶探针。带指示灯电源开关，LED 显示，保险丝保护，三线制负载连线，三线制电源连线。* 设置点精确度：最大量程的±3% * 耗电量：4 W * 外形尺寸： 203w x 152d x 86h(mm)技术参数定货号电源，功率控温范围热电偶类型重量(kg)PC5247.5A@240V,2,400W0-750℃J型1.4

新一代原子力显微镜控制器FM-AFM-CU产品详细◆ 24位DSP+FPGA双处理器控制系统，嵌入式PID自整定智能调节器，系统自动整定优化参数；◆ 集成数字锁相放大器，3路锁相放大通道（带宽6MHz）；◆ 扫描模式：支持接触模式、横向力/摩擦力模式、轻敲模式（振幅+相位图）、力曲线模式、抬起模式（磁力/静电力成像）,可扩展实现扫描隧道显微模式、导电原子力模式、力调制模式、开尔文探针力模式、压电力模式、扩散电阻/电容模式、纳米刻蚀及压痕模式等；◆ 通讯接口：1 个以太网接口、2 个 USB 接口、2 个串行接口、3 路步进电机接口、 8 个通用 I/O 口，其中以太网口用于和上位机通讯，其余接口用于和其他第三方控制器通讯或脉冲触发/驱动；◆ 模数转换（ADC）通道：14 路（含 4 路 16bit 40MHz 高速 AD，6 路 18bit 1MHz 中速 AD，4 路 24bit 128kHz 低速 AD），用于 AFM 测头光电探测器信号、针尖/样品导电信号、闭环扫描器位移传感器信号及其他模拟信号读取，输入范围±10V；◆ 数模转换（DAC）通道：10 路（含 4 路 16bit 50MHz 高速 DA，4 路 18bit 1MHz 中速 DA，2 路 20bit 1MHz 中速 DA），用于探针振动激励、探针/样品加电、扫描器驱动及其他模拟信号输出，输出范围±10V。◆ 图像采样点：128×128~4096×4096；◆ 扫描速度0.1Hz~100Hz，扫描角度0~360°；◆ 控制器电子噪声水平：Z 向噪声优于 80fm/√Hz；◆ 上位机软件功能：电机控制、CCD 视频显示、激光器控制、光电探测器信号监控、扫描器位置监控、共振峰搜索、驱动频率/振幅设置、扫描参数（模式/范围/偏置/速度/角度/方向/像素/增益/setpoint/力曲线行程/抬高度等）设置、数字滤波参数设置、图像实时显示、数据存储等；◆ 强大的软硬件扩展功能接口，可用于及支持客户二次功能开发定制。

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

Signatone四点探针与电阻率测试设备 Signatone 公司生产制造的QuadPro 制程发展电阻率测量系统包含了手动和自动的测量系统。手动系统包含一个滚珠轴承的四点探针机台，为因应使用的需要，手动机台往后可以升级增加自动机台的功能．自动机台系统是由计算机控制马达带动的，在测量100毫米、125 毫米、150 毫米、200 毫米、300 毫米的待测样品时，可设定自动测量9、25、49、或121 个测试点．系统使用四点探针，双架构测试方式，并整合了目前最佳的测量仪表可达到在1mΩ/□至2MΩ/□间小于1% 的误差．系统的准确度(Accuracy)与校准(Calibration)可追朔至美国国家标准局(NIST)。其它特点：平均电阻率(Resitivity)、电阻率标准差(Standard Deviation)、平均片电阻(Sheet Resistance)、片电阻标准差电阻温度系数(TCR, Temperature Coefficient of Resistance)使用自动温度控制器与温控待测样品载台(选用)及仪表测量电阻温度系数测量结果可以用二维(2D)或三维(3D)方式图形表示采用双架构测试方式(Dual Configuration)以达到最佳的系统准确性(Accuracy)与重复性(Repeatability)待测样品大小可由10 毫米到300 毫米在每个待测样品可上可自动测量高达49个可追朔至美国国家标准局的测试点QuadPro Automatic System (自动系统)自动的QuadPro 系统包括计算器、歩进马达控制单元、机台本体、200 毫米或者300 毫米隔离的待测样品载台(Isolated Chuck)。系统软件的设计让使用者可针对测量需求选择在每个待测样品上测量1、5、9、25 或者49 个自动测试点，并可自动绘图显示测量结果。使用者并可设定测试点在待测样品上的分布为方型或圆性。为提升测量数据的准确性与统计的有效性，软件可定义待测样品边缘的测量数据是否被采用。在测量开始时，系统软件自动搜集阻值范围，并据以作最佳的仪表设定。系统采用的双架构测试方式可消除因四点探针头结构误差所产生的测量误差，以提升系统测量的重复性和准确度。系统软件会控制并纪录每个测量点的位置与测量值，测量的结果如片电阻、电阻率和V /I(电压/电流)可在同一个测量结果的表格中表示。在完成全部测试点测量时，系统会用等高线图展示测量结果，此等高线图可在二维图与三维图间轻易的切换观看．电阻率与片电阻的平均值及标准差都会显示在等高线图上 QuadPro TCR Option (电阻温度系数测量选用项)电阻温度系数量测选用项整合了待测样品温度控制、仪表控制与温度系数运算的能力以完成电阻温度系数量测的功能。Signatone 提供了多种温度范围的温控待测样品载台系统供使用者选用。使用者可依测量需要设定开始温度、截止温度与在每个温度点停留多少时间后在开始量测。温度与量测得到的电阻值会存在同一个表格或图表内，以方便后续的分析使用。一般最常被采用的温控待测样品载台系统为室温至350°C。但是除了350°C 温控待测样品载台系统之外，Signatone 也提供低至-55°C 与高至600°C 的温控待测样品载台系统。一般QuadPro 的系统架构包括一台吉时利(Keithley)的2400 仪表(Source Measurement Meter)。吉时利2400 可测量的电阻范围为1mΩ至2MΩ。若使用者要测量更高电阻的材料，QuadPro 的系统架构将包括安捷伦(Agilent)的4156 参数分析仪，并采用隔离式的三轴系统架构，如此架构的QuodPro 系统的电阻测量范围为100mΩ 至10GΩ。为达到最佳的量测准确度，QuadPro 采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Four Point Probe Head (四点探针头)Signatone 提供了两大系列的四点探针头供使用者选用；SP4 系列和HT4系列．SP4 系列四点探针头是被大多数应用所采用的四点探针头，它是由直线排列的塑钢探针所组成．SP4 系列四点探针头提供了下列选项以适应各种应用：探针间距：0.040、0.050、0.0625 英寸探针针压：45、85、180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸HT4 系列四点探针头表面看起来与SP4 系列四点探针头类似，但是HT4系列四点探针头适用陶瓷做的，故适用于高温与高电阻的测量，HT4 系列四点探针头可工作至650oC，而且HT4 系列四点探针头的耐高温同轴接线设计使其可测量的电阻值高达10GΩ．探针间距：0.050、0.0625 英寸探针针压：180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸QuadPro Test & Calibration (测试与校准)Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Manual Four-Point Probe with Computerized Measurement System(Pro4 手动四点探针台与测量软件)Signatone 自1968 年就已经开始提供业界四点探针电阻率量测系统，其中的Pro4 系列手动四点探针台提供了简易且方便量测片电阻率(Sheet Resistivity)与体电阻率(Bulk Resistivity)的有效方法。使用者只要手动下针并操作软件上的量测按键，软件会自动控制吉时利仪表做最佳的电流设定并得到准确的量测。Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Software (软件)使用者只需输入待测样品的大小、形状、待测样品边缘不包括部分的大小与测量点数，Pro4 软件会控制系统的测量、测量资料的撷取、显示、打印与资料的输出(Export)，使用者可设定要显示的参数(如电阻、片电阻或电压/电流)，也可以定义良品/不良品(Pass/Fail)的条件．测量点会在软件上以图样标示出来，同时提醒使用者将探针移至待测点．测量结束，测量数据的平均值、标准差、最大值与最小值会被标示出来，同时可打印测量数据含良品/不良品的报表．Pro4-4400 configuration (系统架构) Pro4-4400 系统与Pro4-440N 相同，但是不含计算器．使用者需自备计算器，计算器需含窗口软件与一个RS-232 接口．Pro4 用于测量芯片或其它材料的电阻率或片电阻． Pro4 使用双架构测试方式和自动设定仪表以保证测量的准确性．系统包括手动四点探针台、二个四点探针头、吉时利仪表(Keithley 2400)与软件． Pro4-4000 configuration (系统架构) Pro4-4000 不包括计算器与仪表，但是包含软件．使用者需自备计算器与吉时利仪表(Keithley 2400)系统包括手动四点探针台、二个四点探针头与软件．Manual Four-Point Probes (手动四点探针台)Signatone 生产各式电阻率测量设备，包括简易型四点探针台与四点探针头． S-302-4右图是四吋的四点探针台，可测量大至四吋的芯片，含四吋铁氟龙(Teflon)待测样品载台。四点探针台也有6"、8”与12”的． Four Point Probe Heads (四点探针头)除了四点探针台之外，Signatone 也生产四点探针头。SP4 系列四点探针头是设计给在室温使用的。HT4 系列四点探针头是设计给在高温使用的。一般四点探针头是由四支直线排列的探针组成，但是Signatone 也提供不同排列方式的订制探针头，例如四支针成矩形排列．

四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE　ResMap&ndash CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏特点：1）针尖压力一致2）适用于各种基底材料3）友好的用户界面4）快速测量5）数据可存储 应用：1）方块电阻2）薄片电阻3）掺杂浓度4）金属层厚度5）P/N类型6）I/V测试

四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

Instec来自液晶先驱院校美国科罗拉多大学的精密温控装置与液晶检测设备" _ue_custom_node_="true" 功能特点 可编程精密控温。可独立控制，也可从上位机软件控制软件可拓展性强，可提供LabView等语言的SDK#温度# 可选100℃ /200℃ / 400℃ / 600℃#温度# 可选 -190℃ / -40℃ / 常温 / 其他#腔体密封性# 可选 气密腔室 / 真空腔室#样品观察# 可选 透射光观察 / 反射光观察 / 无#样品区# 可选22x22mm / 35x35mm / 其他#台面电位# 可选 电接地 / 电悬空#电测试接口# 可选 BNC/电悬空BNC/Triaxial三同轴#探针类型# 可选 弯针探针 / 直针探针#探针支架# 可选 杠杆式 / 磁吸式#探针移动性# 可选 探针外部移动 / 探针开盖移动#霍尔效应测试# 可用非磁性材料制作，用于霍尔测试可做改动或定制，详询上海恒商另有可升至1000℃以上的超高温探针台，详询上海恒商 " _ue_custom_node_="true" 技术参数 通用性能温度分辨率0.001℃温度稳定性±0.05℃(at 100℃) 可提升稳定性控温速度±0.1℃/小时温度传感器100Ω铂质RTD温控方式开关式PID 可升级为LVDC式PID结构尺寸物镜距离8 mm样品腔高度2.5 mm 具体由探针决定样品观察范围26.5 mm 反光孔径腔室接口快速接头 (气密型号)KF16 (真空型号)*其他技术参数请参考 具体型号的彩页介绍 " _ue_custom_node_="true" 配置列表 标准温控探针台√mK2000温度控制器 软件免费，控制线有多种接口供选√选配件液氮制冷系统 包含液氮泵与液氮罐，使样品降至负温外壳水冷配件 用常温水或冰水循环防止外壳过热安装支架 把台体固定在使用平台上，防止滑动温控联动显微镜相机 温度-图像联动工作，附软件线性可变直流电源(LVDC) 装在温控器里，抑制电噪音 真空系统(真空腔型号适用) 真空泵、真空计、真空管路*注：产品有多种配置变化，详询上海恒商 " _ue_custom_node_="true" 杠杆式探针支架.vs.磁吸式探针座 杠杆式探针支架，对样品点针更准确，点针力度更大，电接触性更好。磁铁吸式探针座则通过底部的磁铁吸附于探针台外壳底座上，探针移操作方便。 欲咨询产品请访问本公司官网联系我们 本公司为美国Instec中国区总代理、瑞典FLCE(FLC Electronics)中国区代理，不经过中间商直接与原厂接触，能提供优惠的价格。

四探针测试仪产品名称：四探针测试仪产品型号：HCTZ-2S品牌：北京华测 一、产品介绍HCTZ-2S四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。HCTZ-2S双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。二、四探针测试探头1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴承，量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内运动，持久耐磨，测量精度高、重复性好。A.探头间距1.00㎜B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.5㎜ D.探针材料：碳化钨，常温不生锈E探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。 2、手动测试架手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 三、产品应用HCTZ-2S四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。四、产品特点 1.TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的jue对防护。 2.本仪器的特点是主机配置三个数字表，在测量电阻率的同时，一块数字表适时监测全程的电流变化，及时掌控测量电流，一块显示2、3探针间的测量电压，另一块是显示当前1、4探针测量使用的电压，可以适当调整测量电压避免材料耐压不够而电压击穿被测材料。 3.主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护薄膜。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。 4.探针采用碳化钨硬质合金，硬度高、常温不生锈，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配测量软件，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。软件平台5.HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流。6.仪器通过USB转RS232连接线与电脑连接，软件可对四探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线，兼容性：适用于通用电脑7.测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。五、软件功能具有试验电压设置功能；可选择试验标准可选择是否自定义或自动试验截止条件：时间/电压/电流 语音提示:可选择是否语音提示功能。统计报告：可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式分析功能：可对测试的数据进行统计。zui大/最小值、平均值等。 六、技术参数测量范围电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω电阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□数字电压表量程：20.00mV~2000mV误差：±0.1%读数±2字数控恒流源量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A误差：±0.1%读数±2字四探针探头碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调 七、注意事项1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针

KP Technology继续支持材料进步，使我们的客户能够提高他们的科学能力并加强他们的研究。我们提供一系列专用的开尔文探头系统，专为各种环境中的应用而开发，从环境和受控气氛到超高真空。针尖材料/直径2 mm 不锈钢针尖功函数解析1 - 3 meV样品扫描50 x 50 毫米相对湿度控制自动： 20 - 80%大气控制氧气 1%光学系统彩色摄像机示波器用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品金和铝样品试验板基底面900 x 600 毫米提供控制带有专用软件的电脑检测系统Off-null with parasitic capacity rejection

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，压强 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。1.双电测四探针法测试薄层样品方阻计算和测试原理如下：直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：四探针测试结构当电流通过1、2探针，4、3探针测试电压时计算如下：从以上计算公式可以看出：方阻RS只取决于R1和R2，与探针间距无关．针距相等与否对RS的结果无任何影响，本公司所生产之探针头全部采用等距，偏差微小，对测试结果更加精准。

BRAHMA燃气燃烧器控制器RE3由离子探针或者紫外线光电管测得的火焰信号（模拟量电流信号）转换为开关量信号。可作为远程监控火焰使用。上海益斯特130 6167 0309BRAHMA燃气燃烧器控制器RE3配合UV紫外线探测管或者离子探针使用。电源：220-230V 50/60Hz 220V 50/60HZ。可根据要求生产提供以下电源：240V 50/60Hz工作温度 0...60oC环境湿度 90%（在40oC）保护等级 IP40BRAHMA程控器G22 G22/A GF2 GF2/A GF3 GF3/A G33 OR1 OR2 OR3 OR3/B OR1/Z F22 FR1 FR2 SR3 VE3 BV3 GV3 GV2 VE3.2 VM41 VM42 MF2 M300 SM592.2 SM592.2/S SM152.2 CM192.2 CM381 CE11V BRAHMA点火变压器TC1...A TC1...AF TC2...A TC2...AF TC1...S TC1...SF TC2...S TC2...SF TD1...A TD1...AF TD1...AF TD2...AF TD1...S TD1...SF TD2...S TD2...SF T8/... T16/D T18/... T20/... BRAHMA燃气电磁阀EG15*A*BE6*A3C EG15*A*BE6*AFP EG15*A*BE6*AFD EG15*S*BE6*C3C EG15*S*BE6*CFP EG15*S*BE6*CFD EG15*S*BE6*GMO EG15*SR*BE6*C3C EG15*SR*BE6*CFP EG15*SR*BE6*CFD EG15*SR*BE6*GMO EG15*L*BE6*GMO EG25*S.1*BE10*GMO EG25*S.3*BE8*GMO EG25*SR.1*BE10*GMO EG25*SR.3*BE8*GMO EG25*L.1*BE10*GMO EG25*L.3*BE8*GMO EG30*S.1*BE8*GMO EG30*S.3*BE9*GMO EG30*SR.2*BE8*GMO EG30*SR.5*BE9*GMO EG30*L.2*BE8*GMO EG30*L.5*BE9*GMO EG40*S*BE9*GMOA EG40*SR*BE9*GMOA EG40*L*BE9*GMOA GVC15*S*S GVC15*S*SR GVC15*S*L GVC25*S1*S1 GVC25*S1*SR1 GVC25*S1*L1 GVC25*S3*S3 GVC25*S3*SR3 GVC25*S3*L3 GVC30*S2*S2 GVC30*S2*SR2 GVC30*S2*L2 GVC30*S5*S5 GVC30*S5*SR5 GVC30*S5*L5 GVC40*S*S GVC40*S*SR GVC40*S*L

四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

WIGGENS 温度控制器详细说明PL524 pro 数字式温度控制器* 0.1 级测量精度。根据外围的设备配置，控温精度可以达到 0.1~0.5℃* 标配长度 170mm 浸入式探针的 PT100 温度传感器，其他传感器类型及尺寸的传感器可以选配。适合与加热套* 或其他加热元件配合使用。* 具备人工智能调节PID 控制 , 具有自整定、自学习功能，无超调及无欠调的优良控制特性。* 可支持加热/报警（冷却）双输出功能, 可控制加热功率最大4KW的加热元件,可输出一路报警信号，报警信号也可以用于制冷回路电磁阀的开启和关断(220VAC 电磁阀根据管路大小选择)* 支持上限、下限、偏差上限及偏差下限等多种报警功能，具备上电免除报警等功能，避免上电报警误动作。* 具有显示设备当前运行状态的LED 灯带。* 可定义参数查看及修改的权限，及允许用户自定义密码。* 抗干扰性能符合在严酷工业条件下电磁兼容（EMC）的要求。* 可选配模拟电压电流输入输出功能。* 可选 RS485 或 RS232 通讯接口，可作为智能分布式控制系统、分体式无纸记录仪及触摸屏控制系统的下位机。标配为RS-232 通讯接口。PL524 Premium 程控型智能温度控制器* 功能强大的温度控制器/ 调节器，具有记录、报警、通讯功能，可以支持30段编程控制，可自由选择各种热点偶、热电阻传感器，0.1 级精度。* 全新工业级触摸屏式操作：主要参数设置在一个界面内轻松完成，客户可以像使用手机一样轻松地使用。* 可靠硬件设计：整机低功耗，双 CPU 处理模式，一颗 ARM 芯片用于处理图形人机操作界面及数据记录功能；独立的单片机CPU 用于保证控制及采样实时性，满足严格的工业现场要求；通过4KV 群脉冲抗干扰测试。* 全新AI人工智慧逻辑PID算法：实现对复杂长滞后对象的无超调无欠调控制，用于工业、科研的精密温度控制。* 编程及数据记录功能：仪表带丰富的数据记录功能，可以显示实时趋势、光柱及历史趋势，并提供报表形式的记录数据及报警记录功能。拥有150M的存储空间。存储的数据不仅可以在仪表液晶屏上以曲线和数值进行回放，也可以通过U 盘导出在电脑上做进一步分析处理。WIGGENS 温度控制器技术参数型号TCSSTCSS-1PL524prePL524 ProPL524 Lite名称程控智能温度搅拌控制器程控智能温度搅拌控制器程控型智能温度控制器专业型智能温度控制器智能温度控制器Screen5"TFT 触摸屏●●●LED●●控制功能加热●●●●●制冷●●●程序控温●●●搅拌●●安全温度●●●●特色配置RS485●●●RS232●●●●●Ethernet●●●USB-A●●●Alarm●●●●●可选配件及配套使用的设备Pt100○○○○○热电偶○○○○○加热套○○○○搅拌型加热套/ 顶置搅拌器( 选择其一）○1 型、2 型、3 型、4 型（注3）○ 制冷电磁阀（220V）○○WH260 系列○注1：●标配 ○选配注2：TCSS，PL524 Pre，PL524 Pro 需要配置2 根传感器使用，PL524 Lite，PC524 需要配置1 根传感器使用。注3：-1 型：搅拌型加热套，-2 型：WB2000-C 搅拌器，-3 型：WB1800-D 系列搅拌器，-4 型：WB1800-C & WB1800-EC 搅拌器注意：在订货时请注明选配项。

Thermconcept根据加热炉型号不同标配有不同的控制器, 微处理器控制不仅确保控温精度而且操作简单, 显示屏幕简单明了。控制系统具有很强的拓展性, 可根据需要任意进行扩展, 如选配软件管理控制器和在线监测系统及可视化软件, 或配有西门子S7控制系统和西门子触摸屏作为操作界面。另外, 还可根据用户的使用习惯和特殊要求, 为您定制控制器。程序控制器根据加热炉的系列可配多种控制器, 能满足绝大多数用户的需求。 专业的控制设备根据客户需求, 提供基于西门子S7硬件的PLC控制器。 Thermconcept操作界面标准的操作界面能满足绝大多数用户的需求, 不仅能在界面上显示加热炉的功能和完整的图形化, 而且还能存储和读取数据。 程序记录仪可用几种图形, 线形, 或点状图 控制分析软件· 几个加热炉同时操作· 一个PC控制· 符合DIN ISO9000温度-时间标准· 数据库文件管理 控制面板技术· 加热元件由开关, 继电器或半导体控制· DC电源装置· 多区控温· 串联和探针控制· 远程控制系统 德国Thermconcept公司总部设在德国不莱梅, 拥有丰富的研发、设计和生产的各种马弗炉和加热炉系统的经验，加热炉的温度范围从50℃到2000℃，能够满足绝大多数用户的应用需求。Thermconcept马弗炉和加热炉能够在全世界范围满足客户的需求, 原因是： 技术先进Thermconcept马弗炉和加热炉由世界知名供应商提供的最好材料制成。因而能够保证*实验效果、运行可靠以及长使用寿命。 实用设计Thermconcept马弗炉和加热炉设计和生产均严格遵循国际标准, 我们的目标是提供技术先进的和高性价比的产品。 定制解决方案Thermconcept提供定制实用可靠的加热炉服务，满足您具体的应用需求。 专业服务Thermconcept专业的技术人员会为您提供全方位的专业服务。Themconcept马弗炉和加热炉将会是您实验室的可靠伙伴！ 更多产品请登陆德祥官网：德祥热线：联系我们(终端用户)联系我们(经销商)邮箱：

全自动炭纸及双极板电阻仪 炭纸四探针电阻其它物性测试仪GEST-20042b产品名称：全自动炭纸及双极板电阻仪 产品型号：GEST-20042参考标准：GB/T20042.7-2014质子交换膜燃料电池第7部分_炭纸特性测试方法GB/T 20042.6-2011 质子交换膜燃料电池 第6部分：双极板特性测试方法一、产品概述：本仪器主要应用于测试质子交换膜燃料电池用炭纸、及双极板电阻特性测试专用仪器。本仪器完全依据用户的实际测试需求研发，为用户降低最大的采购成本，本仪器既可以测试垂直方向电阻率，也可以测试水平方向电阻率，真正实现了一台设备，解决炭纸、双极板电阻特性的测试需求。本仪器结构组成以下部分组成：1、力值加载系统：由伺服电机为动力源进行加载，精确控制压力，无噪音，连续加载2、电阻测量系统：电阻测量范围宽，满足多种测试量程的需求3、系统控制采集：10寸触摸屏进行控制操作，页面实时显示测试数据，并可以打印测试数据4、镀金测量电极：50mm镀金电极测试二、优势特点：1、14寸/10寸触摸屏显示，支持远程升级2、同时支持水平电阻测试（四探针法）和垂直电阻测试（2探针法）3、测试过程实时显示压力、压强、压缩厚度、压缩率、电压、电阻、电流、电阻率、电导率4、电阻率显示单位及电导率多种单位可选5、可对单点测试的试验结果进行打印6、多种测试模式：恒压力、恒压强、梯度压力、梯度压强、压缩比7、梯度多点测试结果，能够自动统计各梯度之间的电阻差值，并自动计算百分比8、可以梯度模式测试的结果进行在线查看及数据导出9、测试过程全自动化，试验完成后自动复位

特性偏振控制的确定性机械和热稳定性360° 旋转，精密的偏振控制支持FC/PC和FC/APC连接器Thorlabs的能让你做到将任意偏振态的输入转化为任意偏振态的输出。控制器使用了单轴FiberBench，它的两个FiberPorts安装在HCA3壁装插座板上。使用安装在两个FiberPorts之间的1/4波片-1/2波片-1/4波片（按照这个顺序）可以使得输入偏振态变为确定已知的输出偏振态。每个片提供360° 精确连续的旋转。优于传统的光纤浆状控制器FiberBench控制器有与传统的光纤浆状控制器相同的功能，但是它的偏振操控更确定更稳定。没有旋光仪的话，浆状控制器的SOP不能直接确定。由于它没有滞后，如果只有SOP的话有可能在任何时刻预测控制器的输出偏振态（SOP）。不同于传统的光纤浆状控制器，这个控制器能与偏振保持光纤或者单模光纤配合使用，并且不需要拼接。此外，它还得益于FiberBench系列先进的设计，及其高的热稳定性和机械稳定性。360° 连续旋转和精确控制的波片使得用户在使用时能够有比桨状控制器更多的可控性和更稳定的平台。可变偏振分束器套件特性功率由光纤限制至10瓦(连续光，典型的)机械和热稳定性好连续可调的分束比可用作可变的1 x 2耦合器可兼容FC/PC和FC/APC偏振器P分量的平均透过率96%(表面反射1.5%)，S分量的平均反射率98%，因此有极好的消光比。更多信息请查看曲线标签。透过的P分量和反射的S分量的消光比1000:1。分光比从0至30dB连续可调，取决于输入保偏光纤的偏振消光比和&Delta &lambda &le 3纳米时的光谱线宽。点击放大Click to Enlarge --

硅基叉指电极结构高低温探针台KT-Z4019MRL4T 叉指电极传感器主要包括四个结构参数，分别为:叉指电极对的对数、叉指宽度、相邻叉指之间的间隙距离以及叉指电极的厚度。这四个参数对基于叉指电极的生化传感器关键性能指标都有很大影响。通过分析叉指电极阻值的计算公式可发现，叉指的长宽比越大，叉指的密度越大，叉指电极的初始电阻越小，从而传感器的灵敏度和响应速度就会越高。当叉指电极结构尺寸减小到微米量级以下，叉指电极结构间的微弱的电阻变化可以被灵敏地检测到，叉指电极传感器的灵敏度得以显著提高。叉指电极结构周围的电场分布可以通过理论分析以及数值模拟计算得到，计算结果表明叉指电极传感器的电场强度与电极厚度成近似反比关系，电极越厚，电场强度越小。因此，通过优化叉指电极传感器的相关结构参数可以提高生物化学传感器的性能，当应用于不同的传感检测领域时，可能需要使用不同结构参数的叉指电极结构。硅基叉指电极结构高低温探针台KT-Z4019MRL4T 参数真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 低温7℃/min温控仪温度显示 7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

名称：四探针电阻测量仪图片：品牌：KLA 集团旗下品牌 Filmetreics型号：R50用途：金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测。优势 :1)接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)2) 100mm Z行程，高精度控制 3)导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用 4)测试点自定义编辑，包括矩形、线性、极坐标 以及自定义配置 5)200mm XY电动平台 6)RSMapper软件灵活易用 7)兼容KLA所有电阻测试探针应用市场：1）半导体 2）化合物半导体 3）先进封装4）平板和VR显示 5）印刷电路 6）穿戴设备 7）导电材料8）太阳能