透射率测量仪

测试薄膜的透射率是怎么测量的？用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗？我在不同的实验室做薄膜透射率时，有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考，这样可以测出透射率为薄膜的透射率，有的老师告诉我不可以这样做，因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的！

各位大侠，我在玻璃基底上镀了一层薄膜，用TU-1901双光束紫外分光光度计测量透射率，在有些波段测量结果居然大于100%。不知是什么原因，各位给点意见吧。顺便问一下，是不是得先测量一下空白基底的透射率？玻璃片的厚度是1mm。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/06/201106121138_299348_1744788_3.gif

光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。　　　　绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。　　　　曾经研究过光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系。所有这些测量都指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。

分光光度计的测量透射率不确定度因素很多，怎么评定测量不确认度？求助有没有实例？网上找得到的都是分光光度计计量结果的测量不确定度评定，没有测量的不确定度评定。

最近用紫外检测某物质的透射率，想了解下透射率反映物质的什么特性？

如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗？要光谱反射和透射的，其中透射需要可以测试漫透射材料，求推荐仪器，波长范围为400到1100

有一块玻璃，用红外显微透射模式在2500nm测得的透射率为10％，用紫外在同一波长测得的透射率却有20％，请问两者为什么有这么大的差异？

αβ表面污染测量仪LB124一、配置：1. 大面积表面污染探测器2. 活度窗二、技术要求：l 显示：单色LCD 192×64像素，电子荧光照明l 探测器：ZnS:Ag闪烁体探测器l 测量模式：α、β同时、分别测量l 探测器尺寸：118mm×145mml 灵敏域：170cm2l 入射窗：金属处理过的塑料、6μm（0.4mg/ cm2）l 保护栅格透射率：80%l 尺寸：240mm×140mm×110mml 重量（带电池）：1300gl 数据记录：1000个测量值l 串行接口：RS232灵敏度l 效率（涉及的放射源面积100 cm2）C-14 11% β通道Cl-36 50% β通道Co-60 34% β通道Cs-137 49% β通道Pu-239 23% α通道Am-241 22% α通道l 本底： 约0.1 cps α通道 约15 cps β通道l γ灵敏度（外场Cs-137）：1μSv/hl β通道：100cpsl 溢出：20% (Po-210) α→β2×10-5 (Sr-90) β→αl 测量范围：(死时间10%)0～5000cps(α通道)0～50000cps(β通道)环境条件l 工作温度：-20℃～+40℃l 储存温度：-40℃～+60℃l 相对湿度：0%～95% （无冷凝）l 防护等级：IP53校准依据ISO 7503-1 或 DIN 44801

新手求助，我想用lamda 950测YAG晶体镀膜在1000-1200nm波段的透射率，但测量几次下来在1100nm波段以上透射率一直是负的（正常应该是比0稍大一点），不知道是什么原因。我先说一下我的测量流程（仪器属于借用，仪器所有者也对950一知半解，另外他们买950是用来测溶液的，无法提供更多帮助）：最开始的时候我是在他们指导下测的，设置好参数，当时根本不知道两条光路是有区别的，一直认为只用外面的光路就行。光路上什么都不放，测了一遍空白，再重新走一遍，测的一条直线，然后外侧样品光路放上晶体，测到一条曲线。第二次测得时候，我在外侧样品光路的出光孔与样品位置之间放一块光阑，因为我的晶体尺寸是3*3的，远远小于光路的截面积，但我不确定是否要放，在那之后我都是会在光路中准备一个圆孔光阑的。第三次的时候那边实验室另一个老师又跟我讲了一遍流程，增加了对测空白的认识，认识到里面的光路是参考光路，原理上就是要两条光路对比的。所以我在里面的参考光路也加了一块光阑，还准备了未镀膜的YAG晶体作为参考。我放完两块光阑后测了一次空白，然后在参考光路上放未镀膜的YAG晶体，样品光路上放镀膜的YAG晶体，测得一条曲线。第四次的时候，我在放完光阑后，两边各方一块未镀膜的YAG晶体测量一遍空白，然后样品光路替换成镀膜的YAG晶体，测的曲线。最近我上网查lamda950的操作流程，看到还有一个"autozero"背景校准步骤，但也有人说调零是针对某一特定波长来说的，整的我也蒙了。请各位大神帮我看看我的测量步骤有什么不对的地方。

大家好，请问一下如何利用Hitachi U3900H测试薄膜透射率呢？如果利用薄膜支架测试薄膜透射率，对薄膜质量或者衬底有什么要求呢（薄膜镀在FTO上的）？薄膜的大小需要完全遮盖样品槽孔？还有就是为什么镀在FTO上的薄膜不能测试紫外部分的光吸收或者透射率呢？在什么情况下选择用积分球测试薄膜透射率呢？用积分球测试薄膜透射率又该怎么测试呢？

请问利用Hitachi U3900H如何测试薄膜透射率？如果利用薄膜支架，对薄膜质量及衬底有什么要求呢（薄膜是镀在FTO上面的）？薄膜是否要完全覆盖放样品的空洞？能用积分球测试透射率吗？积分球测试透射率又该如何测试呢？

固体紫外在什么情况下测试透射率呢？ 和在什么情况下测试反射率呢 在cary300里，即使是测透射也可以转换成反射的（自带软件可以相互转换的。。。。） 在论坛里，很多帖子都在强调测试的是固体透射还是反射？ 所以搞不清楚，到底什么情况下测透射呢？什么情况下测反射？

检定光度计,发现个别波段透射率偏低,用标准样验证标线( 方法) OK。想问一下，检定透射率偏低,影响检测结果吗??

新买的uv1800，以蒸馏水为参比，进行波长扫描，结果空气，水，邻苯二甲酸的吸光度和透射率图都几乎一样，怎么会这样呢？

刀具测量仪器具有水平及垂直两种光学测量系统，可以在一台仪器上实现刀具的全部测量，是测量复杂刀具的理想工具。刀具测量仪是由花岗石台面作为底座和立柱、精密滚珠丝杆传动、精密线性导轨导向等部件组成，采用独立的工程学设计工作台，配有完整的配电箱，可有效降低温度变化对测量仪器的影响。 刀具测量仪具有使用简捷，高度精确的优点，整个对刀过程不需要在CNC机床上进行，有效避免对工件的损坏以及机订对刀的困难和危险，仪器采用稳定的整体式花岗岩制造，气浮导轨，坚实、抗振动的花岗岩结构和集成的温度补偿器使测量结果能保持可靠的长期稳定性。刀具测量仪采用高分辨率CCD B/W相机，能够用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量，和对刀头几何图形进行表面光测量，采用CNC导轨控制以及4个控制轴。确保了仪器完整的精度，确保了刀具测件能够快速、准确的定位。 刀具测量仪主要适用于测量数控机床、加工中心和柔性制造单元上所使用的镗铣类刀具切削刃的精确坐标位置，并能检查刀尖的角度，圆角及刃口精况。刀具测量仪还可用于钻孔、铣削刀具或是极度复杂的切削刀具以及切削钢的制造或精磨。

用紫外测固体透射率样品太小,出来的结果明显太大,我测的固体是比较接近不透明的,但出来的透射率都是50%以上,这是跟样品太小,没有填满样品槽有关么,样品槽直径有2.6cm,我的样本才1cm.这是要重新弄个样本槽么,要怎么弄,有什么要求呢,重弄了样本槽的话,参比的那个要不要换呢?我是去其他学校做实验,那的老师总是很忙,不怎么讲的?

[b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前，首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量，大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机，在用户中逐渐兴起，到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域，1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像，再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向，在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起，大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们，当时也没有规范的市场，大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了，失败，一点点的进步，喜悦，分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备，特性是放大倍数低，成像面积大，光线均匀的亚显微成像设备，抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大，只是还没有开发出来。比如：微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测；机械行业中洁净度检测，精密配件的形态差异；环保领域：藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数；农林业：种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等；医药行业中用到成像的地方就更多了，我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比（R/G/B法）。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分：现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式，作用是把微生物培养出可计算的物质后，扫描出高质量电子图片，有透射光、反射光、紫外荧光成像，（抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄；菌落计数用的是反射光扫描；凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描）逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机，一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图，而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。（电脑的内存要大）逐行扫描因是移动扫描，所以光线是一条直线光源，扫描出图像光很均匀；成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分： 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版，此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件，可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能：随意对图象切割、测量、计数、分类；HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算；电泳条带分析；荧光强度分析等，可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少，抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目，以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说，抑菌圈测量仪是计算机的外部设备，是随着计算机的技术进步而进步，十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命，现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大，所以现在的高端抑菌圈测量仪，这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。（显微镜最大缺点是成像面积小）目前这个技术方向研究的人很少，国外的设备也不多，国内就北京和杭州有几个老师在研究，各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法：[/b]抑菌圈法的分类：1.KB法（纸片法）；2.管碟法；3.打孔法首先要了解用户是用什么方法，药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析；疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析；各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

哪位大哥有ASTM E2193-08 单乙二醇紫外线透射率的测试方法(紫外线光谱光度测试方法)，给我一份，谢谢

最近试验中遇到一个棘手问题，就是透明样品的法向发射率测量问题。样品其实就是硅片。目前的实现方案： 硅片压在加热器上加热（例如300度），测量其发射光谱，利用该光谱和标准黑体比较计算发射率。问题： 从理论上讲，硅片是透红外光的，因此加热器的背景辐射也透了过来，这就导致了测量得到的发射率偏高。虽然加热器的背景辐射很容易测量出来，但无法知道样品此时的反射率和透射率（似乎目前国内有测量高温反射率的地方，但还没有测量高温透射率的机构）因此，无法进行计算。不知道大家有没有什么高招啊？

在新标准GBZ/T189中对超高频辐射测量使用的仪器要求是“选择量程和频率适合于所检测对象的测量仪器”，对高频电磁场的测量仪器要求是“[font=宋体]量程范围能够覆盖[/font][font=']10V/m-1000V/m[/font][font=宋体]和[/font][font=']0.5A/m-50A/m[/font][font=宋体]，频率能够覆盖[/font][font=']0.1MHz-30MHz[/font]”，对于工频电场的测量仪器要求是“[font=宋体]采用灵敏度球型（球直径为[/font][font=']12cm[/font][font=宋体]）偶极子场强仪进行测量，场强仪测量范围为[/font][font=']0.003kV/m-100kV/m，其他类型的场强仪最低检测限应低于0.05kV/M[font=宋体]”，市场上仪器种类繁多，如何选择测量超高频辐射测量仪器和工频电场的测量仪器，不知大家有没有好的仪器推荐~期待高手答复。[/font][/font]

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

二次元影像测量仪使用及维护保养事项1、 在测量和归位时，移动工作台要注意不要大力撞击工作台两端，放置在撞击过程中损坏光栅尺。2、 仪器镜头是精密光学部件。在对仪器镜头倍率大小调整时，请注意调整方向和力度，以免损坏。3、 对仪器专用电脑的使用时要尽量避免电脑中毒，在使用杀毒软件是要主要不要将仪器的驱动插件删除。4、 不要擅自输入软件密码，修改软件的校准参数，除非得到我公司专业售后人员的同意和指导。5、 使用完毕后，关闭表面光和透射光的电源，延长LED灯使用寿命。6、 仪器使用完毕后，罩上防尘罩，避免灰尘进入。7、 放置工件时，要轻拿轻放，防止玻璃台面、或大理石台面划伤。8、 工作台导轨，Z轴升降导轨要定期喷涂防锈油，防止生锈，影响机台精度。9、 如果仪器需要搬动，请将工作台固定板和Z轴固定板锁紧，方可进行。10、仪器各紧固件及电气接插件都已经连接牢固，可靠、客户不得自行拆卸。11、请尽量保持仪器放置区域的温度、湿度符合要求，以提高仪器使用寿命和测量精度。本文转发自：http://www.yhyvm.com

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

使用折光仪测量。折光仪即是将光的折射原理应用于实际的一种测量仪器，即当某种物质的密度增加时，其折射率的增大与之成正比。折光仪是在20世纪早期由德澳科学家Ernst Abbe先生首先制造出来的。折射率的测量通常采用两类测量系统：透射系统或反射系统。

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。