图形分析系统

AMCS-Mining自动矿石特征分析系统是AMCS – Advanced (Automatic) Mineral Characterization System 系列自动矿物特征分析系统产品之一，是由国际工艺矿物专家团队主持开发的第三代自动矿物定量分析系统，该系统与高分辨率扫描电镜完美结合，适用于矿业、煤炭、地质等领域，是科学家及工程技术人员对样品进行工艺矿物学定量分析的有力帮手。AMCS-Mining自动矿石特征分析系统可实现的功能有：矿物颗粒的尺寸及面积、组成矿物颗粒的每一单体矿物颗粒的面积、单体矿物颗粒的颗 粒边界、单体矿物颗粒的X射线图谱；自动矿物分类，根据单体矿物颗粒的X射线图谱，确定单体矿物颗粒的矿物成分；经矿物分类的样品测量信息通过计算可得到 各种样品测量结果，包括样品的矿物组成，矿物颗粒及矿物单体颗粒的矿物组成，样品的元素组成，矿物颗粒及矿物单体颗粒的元素组成，矿物元素的分布，矿物颗 粒及矿物单体颗粒的分布，矿物颗粒及矿物单体颗粒尺寸、形态、比重信息，矿物及剂矿物元素回收率及品味估算，矿物生存关系，矿物矿相表面积比，矿物的连生 关系，矿物的解离度等信息。AMCS-Mining自动矿石特征分析系统分析流程： AMCS-Mining自动矿石特征分析系统系统的特点：先进的全自动矿物识别技术 系统采用了先进的第三代自动矿物识别技术。矿物识别无需人工干预、无需人工建立编辑矿物数据标准。大大降低了系统的复杂性，将操作人员从繁琐、复杂的矿物数据标准库建立维护工作中解放出来，同时最大限度地减少人为因素造成的矿物识别错误，使矿物识别更为精准、更快速。完整的矿物数据库矿物数据库矿物种类齐全，数据完整。全新先进的图形处理技术 在分析过程中，系统采用了全新先进的图形处理技术实现分离矿物颗粒，区分矿物边界。不仅处理速度及处理能力（处理图形面积的大小及复杂性）几倍、几十倍于第二代自动矿物所采用的图形处理技术，且结果更为精准。快速在线矿物分类 矿物分类在测量过程中同时进行，用户可以随时监视测量过程。测量完成后立即就可以输出简单的测量结果，如矿物成分及颗粒数。样品测量结果数据分析图表颗粒尺寸分布表颗粒比重分布表矿物连生关系表矿物元素构成、面积及重量百分比矿物解离度分析矿物生存关系分析矿物理想回收率、品位估算表 元素理想回收率、品位估算表案例分析工艺矿物学研究不深入导致工程失败BHP Beenup砂矿-20世纪80年代发现-丰富的钛铁矿和锆石砂矿-九十年代后期投入生产-2000年关闭-损失3亿美元失败的主要原因：-砂矿石比较坚硬，而设计爬斗过大（40米深），爬斗齿因掉落，采矿进度受影响-矿中有较多的粘土矿物，矿物分离困难，影响了钛铁矿和锆石的回收率-矿尾砂含有丰富的黄铁矿，在空气中暴露会变成硫酸，破坏矿区及周围的环境某私企金矿并购案-高品位的黄金矿-收购后的工艺矿物学分析发现80%以上的黄金的生存状态是以1微米或1微米以下的微细颗粒嵌生于石英颗粒中，属难选矿，企业为此蒙受了重大的经济损失。失败的主要原因：-经典的因对矿石的矿物进行特征分析不利而造成的投资失败-告诉我们富矿不一定等于好矿-再一次说明对矿物进行特征分析的重要性南非英美铂业利用矿物自动分析优化选矿，-系统地收集贵金属在源矿中有用矿物的赋存状态，-分析贵金属选场流程中的去向，分析贵金属遗失在尾矿中的原因，-优化选矿工艺使遗失在尾矿中的贵金属从百万分之1%到百万分之0.5%，贵金属回收率上升5%左右，-增收1.75亿美金/年。成功的主要原因：-重视对矿石的工艺矿物学分析-长期投资矿物自动分析技术国内某钨钼矿开发利用矿物分析优化选矿工艺，低品位的复杂钨钼矿床，-传统全浮方法难以保证合理的产品品位和合理的回收 率，被认为是一个难以利用的矿。-深入的工艺矿物学发现94%的目标元素在非磁性矿物中，磁性矿物占矿物总量40%，强磁预丢尾先浮钼后浮钨的选矿方案， 消除磁性矿物对浮选过程的干扰影响，保证浮选的指标，可增大浮选的生产能力，降低浮选药剂成本，综合回收资源中的有价成分，提高资源综合利用率成功的主要原因：-自动矿物参数分析系统的应用可以改变一个矿的命运-深入矿石矿物特征分析使这一本认为是难以利用的矿成了有利用价值的好矿

扫描探针图像处理软件，SPIP&trade 多年来，SPIP&trade 扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。 SPIP&trade 图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。 无论您是一个资深用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP&trade 图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。 SPIP&trade 图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。 SPIP&trade 图形分析软件亦被广泛用于学术研究和论文出版。在我们的网站您可以看到751篇使用SPIP&trade 进行图形分析的论文列表。 SPIP&trade 软件目前支持92种格式数据文件。目前SPIP&trade 最新版本于2013-05-23发布，版本编号6.0.14，见修订历史。 服务 我们的服务包括新的文件格式，培训，实现图像的分析，以及专门的解决方案开发。

美国k-Space公司kSA400 RHEED图像分析系统（kSA 400 Analytical RHEED System），适合各种RHEED系统和薄膜沉积系统（如：脉冲激光沉积设备PLD,溅射系统Sputtering,分子束外延MBE, 金属有机化学气象沉积MOCVD等）！目前第四代系统结合优质的硬件和功能强大的软件为客户提供广泛的RHEED分析信息。超500个用户，国内如南京大学、中科院半导体所、电子部11所、中国科技大学、复旦大学、上海技术物理研究所等；技术参数：CCD系统：高速、高分辨和高灵敏度光学系统：RHEED定量分析及成像分析标准接口法兰 主要特点：-图像分析：单一图像分析（静态分析）模式，用户选择多图像模式，聚焦模式（实时剖面、表面区域形貌、表面等高分析），扫描模式，录像模式，交互图像叠加模式，2D和3D图像分析； -多个衍射特性实时显示分析，在薄膜生长、退火等过程中；-实时薄膜生长速率监控、晶格间距和表面均匀性分析 -原位表面诊断分析-功能强大的软件分析功能 -RHEED振荡追踪检测-包含锁相外延生长（PLE）、低能电子衍射（LEED）、俄歇电子能谱/光电子能谱（Auger/XPS）等可选功能；