显微定位系统

原理介绍：GaiaMicro-G系列显微高光谱系统是将推扫型高光谱相机与显微镜结合，构成显微高光谱系统的主体，再借助显微镜的光路系统、不同倍率的物镜（可见）、不同倍率的反射物镜（红外）以及二维电控扫描平台来实现的。 可见近红外显微系统采用透射式的光路结构，在不同放大倍率物镜下，可以清楚的观察、采集到相应的显微高光谱数据，系统采用的是二维平移机构，X轴为图像扫描轴，Y轴为调焦轴，实现自动曝光、自动对焦等流程。 近红外显微系统采用半透半反射式光路结构，大功率溴钨灯输出光源能满足光谱响应范围，系统采用的方案：高光谱相机静止不动，通过控制二维平移机构的扫描轴完成图像的采集，通过特殊设计的光路结构，可以实现全透、半透半反模式的光路调整，再通过目镜来观察和手动调整焦距完成整个系统的焦距调试。 优势描述：1、自动调焦、自动曝光、自动匹配扫描速度（显微-可见近红外系统）2、反射率校准、均匀性校准、区域校准等3、二维整体精密电控平移机构4、可见近红外显微系统，可实现反射和透射式的高光谱成像，可利用GaiaField内置扫描结构带动光谱成像系统来完成，也可以借助Image-λ-V10/V10E系列相机和电控二维扫描机构来实现5、近红外显微系统，反射式显微高光谱成像系统借助Image-λ-N17E系列相机和电控二维扫描机构来实现6、高空间分辨率和光谱分辨率 显微高光谱系统主要技术参数：型号GaiaMicro-G-V10-LUGaiaMicro-G-V10E-AZ4GaiaMicro-G-N17EGaiaMicro-G-N17E-HR光谱范围400-1000nm400-1000nm900-1700nm900-1700nm光谱分辨率3.5nm2.8nm5nm5nm数值孔径F/2.8F/2.4F/2.0F/2.0狭缝尺寸30um*9.6mm30um*14.2mm30um*14.2mm30um*14.2mm探测器CCDSCMOSInGaAsInGaAs像素数（空间维*光谱维）1392*10402048*2048320*256640*512光谱通道数256(有效通道240)512(有效通道360)数据输出14 bits16 bits14 bits14 bits连接方式USB 2.0USB3.0USB2.0/GigeUSB2.0/Gige物镜平场无限远长工作距消色差金相物镜（5x、10x、20x、50x)选配：100x反射式物镜10X、40X选配：20X、30X显微系统（标配金相显微系统，透反射测试光路）无限远色差校正光学系统10X目镜30°倾斜，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：54mm~75mm，单边视度调节：±5屈光度，两档分光比R:T=100：0或50：50物镜转换器：内定位五孔转换器注：其它品牌如奥林巴斯、蔡司的生物、荧光、金相显微镜均可进行高光谱相机搭载，具体可与我司销售人员联系。 反射物镜： 反射物镜参数：倍率10倍20倍30倍40倍适用波长350nm～7μm350nm～7μm350nm～7μm350nm～7μm焦距ｆ19.9mm10mm6.7mm5mmNA（数值孔径NA）0.20.350.410.49视场φ1.0mmφ0.5mmφ0.34mmφ0.25mm工作距离 WD16mm7mm5mm3.5mm机械镜筒长80～∞（可変）mm遮光率约36％约36％约36％约36％ GaiaMicro-F系列显微高光谱系统GaiaMicro-F系列显微高光谱系统采用液晶可调滤光片（LCTF）为分光元件，采用高灵敏度科研级制冷型SCMOS相机为成像器件，一体化设计或直接与各种商用显微镜的相机接口（F接口）结合，无需扫描机构，具有高灵敏度、高空间分辨率的特点。 主要技术参数：

仪器简介：最新一代 Dimension系列 AFMDimension Icon 原子力显微镜(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表现，在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台，集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。技术参数：X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，最小85umZ方向扫描范围：10um典型值，在成像及力曲线模式下；最小9.5um垂直方向噪音基底：30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz）X-Y定位噪音（闭环）：0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）X-Y定位噪音（闭环）：0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）Z传感器噪音水平（闭环）：35pm RMS, 典型成像带宽（达到625Hz）整体线性误差（X-Y-Z）：0.5% 典型值样品尺寸/夹具：210mm真空吸盘样品台，直径210mm, 厚度15mm电动定位样品台（X-Y轴）：180mm*180mm可视区域；单向2um重复性；双向3um重复性。显微镜光学系统：五百万像素数字照相机 180um至1465um可视范围 数字缩放及自动对焦功能控制器：NanoScope V型控制器工作台：整合所有控制器、结合人体工学设计，提供直接的物理或可视借口震动隔绝：整体式气动减震台声音隔绝：可隔绝环境中85 dBC的持续噪音主要特点：结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：&bull 专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率&bull 全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力&bull 最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置&bull 高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位&bull 完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验&bull 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式

显微红外热点定位测试系统半导体器件作为现代科技社会的一大进步，却因为各种原因停滞不前，其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题，多种多样的环境因素，五花八门的故障形式，使得制造商不知所措，针对此问题，金鉴实验室联合英国GMATG公司推出显微红外热点定位系统，采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出高精智能化的测试体系，专为电子产品FA设计，整合出一套显微红外热点定位测试系统，价格远低于国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”。金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微光热分布系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术，可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式，通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度，软件数据算法改善信噪比。在IC分析中， 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管，以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的，无需遮光箱。金鉴显微红外热点定位测试系统优点：高灵敏度的锁相热成像缺陷定位配合电测，XRAY等对样品作无损分析选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片对短路及漏电流等分析效果佳0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCHOBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻，但挑战性低于10欧姆金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围，降低漏电阻金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常金鉴显微红外热点定位系统测试依据：GB/T 28706-2012 无损检测 金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷热点锁定（lock in）功能：温度最高点定位聚焦过程只需要一秒应用领域：PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、正向点亮漏电LED芯片,Vf偏低（左图）。反向测试芯片漏电流显示漏电流较大（右图）测试结果：显微红外热点定位热分布测试结果显示：漏电芯片上热分布不均，存在异常热点，热点即为芯片漏电缺陷点。span font-size:14px white-space:normal background-color:#bcd3e5 "="" style="color: rgb(102, 102, 102) font-family: Arial, Helvetica, sans-serif font-size: 14px text-align: justify white-space: normal "存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微红外热点定位热分布系统，利用新型高分辨率微观缺陷定位技术，可在大范围内高效而准确地确定关注区域（异常点）位置。图示为在金鉴显微红外热点定位测试布设备下LED芯片漏电图：LED芯片热点定位图在金鉴显微红外热点定位测试系统中，不同模式调色板下的芯片漏电图如图所示显示：不同调色板下的LED芯片热点定位图对于受损LED来说，缺陷引起的非辐射复合几率增加，在加压增强的情况下，局部的高电场或强复合所引起的红外辐射能量被金鉴显微红外探测系统所接收，可以看到明亮的发光点或者热斑，再经过CCD图像转换处理，将其与器件表面的光学发射像叠加，就可以确认漏电造成发光点的位置。可见光与红外双重成像技术精确定位细微缺陷！案例二：金鉴显微红外热点定位系统查找紫外垂直芯片漏电点客户反馈其紫外垂直芯片存在漏电现象，送测裸晶芯片，委托金鉴查找芯片漏电点。 可见光图和热成像图融合，精准定位LED芯片热点取裸晶芯片进行外观观察，发现芯片结构完整，无击穿形貌，表面干净无污染。通过金鉴探针系统对裸晶芯片加载反向电压后，在暗室中使用显微红外热点定位系统的热点自动搜寻功能定位到了芯片上若干热点。经过可见光与热成像双重成像融合后，可以清晰观察到热点所在，即为芯片漏电缺陷处。案例三：客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH不同加载电流下LED芯片热分布图灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。案例四：某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。对漏电灯珠通电光学显微镜观察：金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。LED芯片光分布图对漏电灯珠显微红外观察：使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。LED芯片热分布图死灯芯片正极金道FIB切割：金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。LED芯片正极金道FIB切割及截面形貌观察案例五：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。对大尺寸的倒装芯片进行观察：开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。加载电流变化下大尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图对小尺寸的倒装芯片进行观察：样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。加载电流变化下小尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图案例五：电源失效分析之热点定位委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试，定位到电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。电源热分布图及热点定位案例六：测试原理：PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下，通常会表现出异常局部功耗分布，最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ，可快速而准确地探测细微缺陷（异常点）位置。 室温24.5℃条件下，对待测区域施加5V电压，此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示，其中红色三角形标识处即为热点所在，红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置，该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。局部漏电PCB样品红外热点定位测试 红外热点定位图 可见光图（测试区域） 红外-可见光融合图

Queensgate生产高速、高精度的压电式平台和皮米级分辨率的电容式传感器，用于最苛刻的纳米定位应用。专门从事要求高性能、高负载和高速的定制解决方案，通常适用于要求很高的环境。提供OP400物镜定位器和NanoScan SP纳米定位平台系列产品。最佳步进稳定及定位性能高通量筛选和分析是生物和材料科学成像的支柱。因此，OP400和SP系列的设计考虑到了速度，产品在全行程范围内可提供快速性能以及市场上较快的步进整定时间。这意味着高分辨率的长距离z–stacking在速度上迈入了新的领域。高速扫描会导致振荡，进而影响图像质量和z-stacking，甚至对纳米定位系统造成损坏。Queensgate产品具有高谐振频率；与Queensgate专有的数字控制技术结合，系统可以在没有振荡风险的情况下以同类最佳速度运行。有了Queengate的专业技术，不再需要由于系统不稳定或牺牲z-stack采集速度，而舍弃每个stack开始的图像。速度不会影响性能。SP系列有 400nm 和 600nm 行程范围可选，拥有同级较短行程产品相当或更优越的性能。OP400的线性度是典型压电式物镜定位器的两倍，同时具有良好的线性度和可重复性。这两种产品在实验中都具有极高的轴向分辨率，提供亚纳米分辨率。生物科学家认为，显微镜z轴的机械分辨率显然会高于其成像技术的光学分辨率。根据不同的分析方法，可检测或成像低至0.7nm的形态变化，是半导体或冶金样品表面检测的理想选择。这一系列操作都是通过集成的超灵敏电容式传感器实现的，无论移动速度或系统温度如何，传感器都能提供最高的定位灵敏度。轻松集成，助力实验成功尽管纳米定位设备的性能在市场上有很大优势，但相对于其系统的其他组件来说，用户几乎不需要校准这些纳米设备。产品的最高速度设置可与重达500g的物镜兼容，并为专业物镜提供二次校准。Queensgate的NPC控制器系列可完成其余工作。用户有理由相信Queensgate能够提供适合其实验需求且开箱即用的产品。 OP400和SP系列不仅易于设置，而且能够与各类显微镜兼容。OP400可兼容任何螺纹尺寸的显微镜鼻轮和物镜，包括32mm宽视场系统。NanoScan SP系列与所有的Prior Scientific倒置步进、直线电机平台兼容，也可兼容尼康，奥林巴斯和其他主流显微镜制造商的电动平台，以及东海希多和Okolabs的培养箱。此外，系统还可用于增强Prior的硬件PureFocus 850快速自动对焦系统的性能，为长时间延时实验提供 +/- 50nm 的聚焦稳定性。应用 共聚焦，超分辨，电生理，形貌测量等要求样品绝对稳定性的显微镜应用。

3D超分辨成像系统-单分子荧光成像，-单分子定位荧光显微镜是一种功能强大的技术，它可以对细胞内的特定生物分子进行定位和可视化。然而，传统的光学显微镜在横向尺寸(x-y)和横向尺寸(x-y)上受到光的衍射约为200纳米的限制最近超分辨率成像技术的出现使研究人员能够“打破”衍射屏障，将远低于200纳米极限的亚细胞结构可视化。高分辨率的方法是一系列被称为单分子定位显微镜(SMLM)1的技术。虽然SMLM能够在横向尺寸上精确成像10- 20nm，但它通常缺乏轴向分辨率，尤其是近焦分辨率。双螺旋主轴结合我们的3DTRAXTM软件，使成像超越衍射极限与扩展的3D detail3。它是基于专利双螺旋光工程™ method4,5设计的模块化附加工具。该方法的工作原理是在SPINDLETM模块中插入一个双螺旋相位掩模，该掩模从掩模库中选择，并根据不同的轴向范围、发射光谱和信噪比进行优化。主轴™ 为精密光学从头开始设计，与大多数商业上可用的科学显微镜、EMCCD和sCMOS相机一起工作，并提供了前所未有的横向(x-y)和轴向(z)精密成像的组合。双螺旋光工程™ 将单个分子发出的光分裂成两个叶瓣。两个叶瓣的中心对应发射体的横向位置，它们之间的角度编码发射体的z位置。这些额外的信息有助于在非常高的精度( 30nm)下进行横向和轴向尺寸的超分辨率重建。此外，重要的是，双螺旋结构还扩展了分子可以定位的场的深度。这种亚衍射光学成像与先进的三维信息的结合为生命和材料科学的研究人员带来了大量的可能性无与伦比的精度和深度三维成像和跟踪 双螺旋光学主轴使研究人员能够很容易地捕捉和分析细胞结构的三维图像到单个分子水平。 Current Light EngineeringTM Applications超分辨率:重建三维超分辨率图像的zui佳精度-深度组合和无轴向拼接。用于轴向和横向定位的纳米级精度.三维单粒子跟踪:延长的深度使捕获更长的粒子轨迹和更快的捕获兼容荧光珠，染料和光激活蛋白。主轴采用双螺旋光学专利光学工程技术为基础，可方便地安装在现有显微镜上，实现先进的三维成像和跟踪，具有超高分辨率的能力。内置旁路模式允许轻松返回到非3d实验。? 设计克服了传统的限制，使三维成像具有无与伦比的深度和轴向精度? 优化为您的三维实验所需的发射波长。? 与各种显微镜、物镜和照相机兼容即使在空间有限的环境中，占用空间小也可以方便地安装 输入和输出C-mount适配器为商用和定制的显微镜和相机提供了方便的支持。 高度可靠的系统，没有移动部件。可切换相位掩模墨盒，和辅助发射滤波器支架，以zui大限度地提高实验灵活性。模块化设计将您现有的系统发展成具有超分辨率功能的先进3D成像和跟踪系统。自定义设计的光学精密成像和跟踪? 转化率 95%? 内置校正光学，确保瞳孔平面对准您的显微镜和物镜? 易于安装，相位掩模在中继光瞳平面上的x、y和z位置保持稳定对齐 ? 3DTRAX™ Software, a FIJI plugin provides3d超分辨成像系统，3D单分子荧光成像系统，单分子定位- 3D 定位分子- 3D 渲染- 偏移- 追踪- 具象化

仪器简介：数码显微镜又叫视频显微镜，它是将显微镜看到的实物图像通过数模转换，使其成像在显微镜自带的屏幕上或计算机上。数码显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、液晶屏幕技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。从而，我们可以对微观领域的研究从传统的普通的双眼观察到通过显示器上再现，从而提高了工作效率。技术参数：产品名称：数码定位显微镜产品编号：A12080规格：10倍单价：面议主要特点：数码显微镜在观察物体时能产生正立的三维空间影像。立体感强，成像清晰和宽阔，又具有长工作距离，并是适用范围非常广泛的常规显微镜。它操作方便、直观、检定效率高,适用于电子工业生产线的检验、印刷线路板的检定、印刷电路组件中出现的焊接缺陷(印刷错位、塌边等)的检定、单板PC的检定、真空荧光显示屏VFD的检定等等,它将实物的图像放大后显示在计算机的屏幕上，可以将图片保存，放大，打印.配测量软件可以测量各种数据。

3D超分辨率单分子定位显微镜模块（无需扫描）Reveal new findings hiding in the depths3D超高分辨率单分子定位显微镜-SPINDLE可在不改变现有显微镜光路的基础上实现高精度3D成像，不仅突破了衍射极限，还可捕捉到小至横向尺寸10 nm、轴向尺寸15 nm的细节。在该技术中，SPINDLE3D超高分辨率单分子定位显微镜被安装在显微镜和CCD或相机之间，无需改变现有成像系统设置。基于特殊设计的相位掩模版，从工程化点扩散函数 (E-PSF)出发，使用螺旋相位掩模板来控制景深、发射波长和精度，结合3DTRAX软件对3D图像进行重建和分析，SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像可在不需要扫描的条件下即时捕获 3D 信息，得到无与伦比的深度和精度3D图像，横向精度可达20nm, 轴向精度可达25nm，成像深度可达20um。当与其他工具和技术，包括STORM、PALM、SOFI、光片显微、宽场、宽场显微、TIRF、FRET等一起使用时，可释放巨大的潜力，适用于活细胞、固定细胞和全细胞成像、单分子、粒子跟踪和粒子计数等应用。SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像探索未知的3D：用双螺旋光学工程技术看3D单分子结构；SPINDLE与您现有的显微镜、相机或其他光学仪器无缝集成，实现无与伦比的3D成像和跟踪；从我们的工程相位掩模库中选择zui优的深度、发射波长和信噪比组合，以满足您的需求；使用我们的3DTRAX软件进行zui精确的三维单分子定位成像和跟踪。或者，结合我们扩展的景深相位工程和优化的反卷积模块进行全细胞成像。SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像3D超高分辨率单分子定位显微镜应用领域：多粒子 3D 跟踪多色 3D 单分子定位 (SMLM)扩展景深体积成像全细胞 + 单分子成像光片显微镜多色宽视野显微镜SPINDLE2：单相机双通道SPINDLE2可以同时进行多达4个波长的多色成像成像深度是传统光学的30倍，瞬间捕捉3D信息，不需要扫描可调的单点深度成像，多波长可选可匹配您的任何应用集多功能于一体：单分子定位显微镜，全细胞成像，粒子跟踪，粒子计数使用标准的C转接件，连接任何广角显微镜和emccd或scmos相机通过校正光学确保瞳孔平面对准您的显微镜和物镜具有旁路模式，因此您可以进行单通道实验或恢复为2D成像，而无需拆卸当与其他工具和技术一起使用时，释放出巨大的潜力，包括STORM, PALM, SOFI, lightsheet，广域，TIRF, FRET等SPINDLE单分子定位显微镜Double Helix 3D显微成像SPINDLE：适用于单色或连续双色成像应用，与我们的相位掩模库相匹配，它提供了与我们的SPINDLE2相同的深度精度和校正光学。3D超高分辨率单分子定位显微镜产品特点：1.结构紧凑，安装方便；2.输入和输出端口可安装适配器；3.可定制，系统可靠性高；4.可切换相位掩模板；5.宽视野，可追踪粒子3D成像。 3D超高分辨率单分子定位显微镜产品规格：尺寸210mm*84mm*84mm深度范围2.2微米端口数量1传输效率95%波长范围400nm-NIR关于昊量光电：昊量光电，您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司专 注于光电领域的技术服务和产品销售。致 力于引进国 外优 质的光电器件制造商的技术与产品，为国内客户提 供优 质的产品与服务。我们力争在原产厂商与客户之间搭 建起沟通的桥梁与合作的平台。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

型号：IVM-1000（不含脑立体定位仪） 品牌：Scientifica/UK 产品介绍： IVM-1000单轴电动显微操作器是一款超稳定、低噪音、高精度、长工作距离的单轴电动显微操作器，广泛应用于活体电生理、微量注射包括病毒注射等实验。 产品特点： v 超高稳定性：漂移不到1um（2小时内），非常适合于长期微注射 v 低噪音电子器件：适合单通道电生理记录 v 移动平滑性：20nm的移动精度保证精确将电极或探针定位于细胞上 v 移动速度：0.1um/s-4mm/s v 长距离移动：75mm的长工作距离，非常适合组织切片和活体材料 v 面板控制：具有快速、慢速和连续移动方式可选，以及Home、位置记忆功能 v 电脑软件控制：实时显示位置、移动方向、步进大小，记忆位置 v 模块化设计：可选择不同配件与脑立体定位仪或其它微操配套使用 订货信息： 序号 规格 品名 备注 1 IVM-1000 单轴电动显微操纵器 2 IVM-520-00 右直角定位仪连接底座 用于将IVM-1000连接至RWD定位仪操作臂 3 IVM-550-00 右直角定位仪连接延伸底座 与IVM-520-00功能类似，但多了可延伸功能 4 IVM-505-00 IVM - LMB-7固定底座 可将IVM-1000安装到LBM7进针的斜轴上，也可安装到滑槽中，可90度固定或与斜轴方向一致 5 IVM-510-00 IVM - LBM-7可调底座 与IVM-505-00功能类似，但只能将IVM-1000安装到LBM7进针的斜轴上，可旋转并固定在一个合适的角度 6 IVM-530-00 IVM 持针器 可夹持直径为1-2mm的玻璃毛细管 7 PH-1000 楔形持针器 可将bar或者探针固定在IVM-1000上 8 EHB-500 电极夹持器 可与LBM-7微操、PatchStar或IVM-1000连接，夹持直径1-2mm的玻璃毛细管

主要用途宽场荧光显微镜是进行神经元活动光学成像的重要手段。配合相应荧光探针，宽场荧光显微镜可以进行单色、多色（例如双层、三色）神经元活动荧光成像。自动对焦超微型显微成像系统为包含了微型光学器件、微型成像元件和微型镜体结构的微型化宽场荧光显微镜，可精确定位目标区域，极大的提高成像质量，是自由活动动物进行在体神经活动光学成像的理想方案。目前已经开始应用于国内外的神经科学研究中。工作流程及原理◆前期通过注射病毒表达GCaMP6或其它钙离子荧光指示剂，植入GRIN透镜并等待病毒表达。◆神经细胞的活动导致胞内钙离子浓度的升高，从而提高GCMP6等荧光探针的荧光强度，荧光通过埋植的透镜收集后，被CMOS转换为图像信号，并被高速图像采集卡采集。◆图像处理软件进一步分析神经细胞活动和行为的相关性。系统功能特点及优势◆系统组件包括显微镜镜体、固定板、GRN透镜、CMOS、图像采集卡及采集软件等。◆在单细胞分辨水平，记录一群神经元的钙信号；◆适用于自由活动动物的在体实验；◆通过植入GRIN透镜，可以实现深脑成像；◆系统体积小，重量轻，不影响小鼠自由运动和行为实验。 超微型显微成像系统&光遗传系统联用◆采集软件更新升级，体验感更佳；◆采用外置光源减轻了镜体重量，对实验动物的活动影响较小；◆基于全新的光学系统设计，进一步减轻镜体重量，减小了镜体体积，提高了照明光的质量；全新的照明光路设计，可实现更好的荧光激发光和光遗传刺激光的光斑质量，从而取得更好的成像效果；◆外置的光源端可以自由组合，根据不同的情况分别耦合不同的光源，可分别实现多色荧光成像、原位光遗传成像；◆可配视频同步行为学软件。

仪器简介 显微操作系统主要包含:3维电动粗调微操作手，3维液压式微操作手，持针器，持针器夹持架，用于显微镜的支架。l NT88-V3是专为尼康TE2000系列倒置显微镜设计的显微操作系统。广泛用于ICSI、转基因、荧光指示剂微量注射等应用。l NT88-V3是尼康NT88-NE的改进型，新的微操作器体积更小，重量更轻，粗微动一体化设计，显微操作更方便。l &ldquo 同位&rdquo 功能：为了更快速，更简便地更换培养 皿，这一功能使被抬高的微针能迅速地回到原始标准位置.l 为配合快速重定位，驱动机构带有一套X，Y，Z三轴各自独立的刻度指示。l 具有增强防震性能的显微镜接口，能保证更平稳的操作。l 操纵杆结构设计紧凑，节省空间，而且它的高度可调，更适于舒适的显微操作。主要特点Narishige经济实惠的显微操作系统，有电动、半电动、手动三种选择。主要应用于ICSI、电生理、核移植、转基因等方向。

显微拉曼系统，由光纤光谱仪、拉曼稳谱激光器、拉曼探头、LED光源、显微镜等部分构成，通过把光谱模块集成到显微镜上，实现拉曼光谱信息的测量。系统自由灵活，具备对微小区域实时成像和采集该区域物体拉曼光谱的能力，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析。 显微拉曼系统特点：空间分辨率和光谱分辨率高；稳定性好；耦合效率高； 显微拉曼系统应用领域：生物医疗宝石鉴定纳米材料高分子材料细胞探测等。显微拉曼系统参数：物理参数整机尺寸300×200×62 mm整机重量3.7kg（不含显微镜）光谱范围200-4000波数200-3200波数波长分辨率18波数@25μmslit10波数@25μmslit波长稳定性0.01nm/℃(标准)激发波长532±1nm,线宽≤0.2nm785±0.5nm,线宽≤0.08nm激光功率稳定性≤2%RMS(@2hrs)激光器寿命5000hrs10000hrs电源电压100-240VAC@50/60Hz输出功率0-80mW可调滤光片激光截止深度OD8物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜10X 20X 50X转换器内定位5孔转换器CCD成像可成像工作温度0-45℃工作湿度5%-80%机架、照明反射机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构。样品高度78mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。内置100-240VAC 50/60Hz宽电压系统。反（落）射照明器,柯拉照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调。带斜照明装置。100-240V宽电压,单颗大功率5W LED,暖色载物台双层机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节；平台面积175mm×145mm,移动范围：76mm×42mm。透反射玻璃载物台板

仪器简介：Optiflex 系统既可以由动力装置控制，也能够手动控制，两种控制都具备达到最佳聚焦的能力。简易的手动控制能够实现快速调焦，而电动脚踏控制装置能够精确地将图像定位在最清晰的视野景象内。绕轴摆动的机械构造使手术医师能够快速简便地将非使用中的镜片移离手术区域。该系统既精简了手术操作的步骤和减轻了助手工作量又保证了现有技术所能实现的最佳视野景象。 Optiflex 能与所有顶级手术显微镜兼容，既能方便地连接到显微镜上，也能够从显微镜上拆下进行消毒杀菌处理。该产品由钛材料制成，即便经过反复的高压灭菌循环处理也能确保其长久的使用寿命。可以选择自动或手动 Reinverter (ROLS(R)) 。主要特点：精巧的调焦系统确保精确的镜头定位。高质量、可高温消毒的光学部件提供给您最佳分辨率的成像图像。使手术操作步骤化繁为简，无需助手帮助。优质的钛合金材质，更经久耐用。手动、自动翻转倒像装置可供选择。

主要用途宽场荧光显微镜是进行神经元活动光学成像的重要手段。配合相应荧光探针，宽场荧光显微镜可以进行单色、多色（例如双层、三色）神经元活动荧光成像。自动对焦超微型显微成像系统为包含了微型光学器件、微型成像元件和微型镜体结构的微型化宽场荧光显微镜，可精确定位目标区域，极大的提高成像质量，是自由活动动物进行在体神经活动光学成像的理想方案。目前已经开始应用于国内外的神经科学研究中。 工作流程及原理◆前期通过注射病毒表达GCaMP6或其它钙离子荧光指示剂，植入GRIN透镜并等待病毒表达。◆神经细胞的活动导致胞内钙离子浓度的升高，从而提高GCMP6等荧光探针的荧光强度，荧光通过埋植的透镜收集后，被CMOS转换为图像信号，并被高速图像采集卡采集。◆图像处理软件进一步分析神经细胞活动和行为的相关性。 系统功能特点及优势◆系统组件包括显微镜镜体、固定板、GRN透镜、CMOS、图像采集卡及采集软件等。◆在单细胞分辨水平，记录一群神经元的钙信号；◆适用于自由活动动物的在体实验；◆通过植入GRIN透镜，可以实现深脑成像；◆系统体积小，重量轻，不影响小鼠自由运动和行为实验。 超微型显微成像系统&光遗传系统联用◆采集软件更新升级，体验感更佳；◆采用外置光源减轻了镜体重量，对实验动物的活动影响较小；◆基于全新的光学系统设计，进一步减轻镜体重量，减小了镜体体积，提高了照明光的质量；全新的照明光路设计，可实现更好的荧光激发光和光遗传刺激光的光斑质量，从而取得更好的成像效果；◆外置的光源端可以自由组合，根据不同的情况分别耦合不同的光源，可分别实现多色荧光成像、原位光遗传成像；◆可配视频同步行为学软件。

显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼、反射和透射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。 系统由光谱仪、激光器（或其他光源）、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析； 特别是，此系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维空间扫描测量功能 显微光谱测量系统应用领域：植物叶片研究；激光材料评价；半导体材料分析；生物和细胞测试；光子晶体测试；珠宝、古籍检测 纳米材料分析； 显微光谱测量系统搭建模式：拉曼测量 拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量.荧光测量 显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接，也可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。另外，模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量. 反射/透射测量 使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射反射/光谱测量.显微光谱测量系统参数：产品名称显微拉曼显微荧光光谱范围200-4000波数 @532nm185-1100nm分辨率18波数@25μm 狭缝2.5nm@5um狭缝设计思路显微镜+便携式光谱仪连接方式SMA905光纤，一端接口连接光谱仪SMA905光纤，另一端连接激光器；或自由空间输入光源激发源532nm拉曼专用激光器功率：0～300mw连续可调复合光源(汞灯等)激光器(405nm/532nm/785nm等)信噪比500:1(若需更高信噪比，可更换为制冷型CCD，信噪比可达到1000:1)A/D16位探测器滨松科学级，薄型背照式CCD杂散光 0.1% @ 600nm线性度99%动态范围10000:1暗噪声50RMS@18位积分时间4ms-65 s显微镜4X平场消色差物镜，数值孔径：0.1，工作距离：30mm10X平场消色差物镜，数值孔径：0.25，工作距离：10.2mm40X平场消色差物镜，数值孔径：0.65，工作距离：0.7mm100X平场消色差物镜，数值孔径：1.25，工作距离：0.2mm二维平移台手动调节 双层钢丝结构载物平台（康宁玻璃台面），尺寸：302mm×152mm；78mm×32mm，1mm/格，精度0.1mm 电动调节（选配） 行程：50mmx50mm；重复定位精度：2um；移动分辨率：1um；

西格玛光机显微镜用载物台系统 l 适用于透过、落射照明的各种显微镜。l 在所有的样品检查、图像获取中发挥作用。l 利用内置的线性光栅的反馈控制可以进行高精度的重复定位。正立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-S系列适用波片或培养皿的高精度自动载物台。适用于奥林巴斯BX系列，尼康80i50i的各种正立显微镜。可以把原有的手动载物台改换为精密定位自动载物台。有不与照明聚光镜相互干扰的薄体标准型，薄体长行程型。倒立显微镜用XY轴载物台系统　BIOS-T系列可以方便地搭载在现有的显微镜上的高精度自动载物台。适用于奥林巴斯IX系列，尼康TE2000Ti的各种倒立显微镜。可以把原有的手动载物台改换为精密定位自动载物台。在时间分辨荧光分析系统中发挥作用。

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

产品概述数码立体显微成像系统(SL-120A)，是西安瑞丰仪器设备有限责任公司研发的一款立体显微成像设备。以全新的数码立体成像技术为理念，以传统的体视显微镜为依托，融合了数码与光镜两者的优点，开发出了先进的数码立体显微成像系统，搭载了全电动操作控制系统，极大的提高了用户的使用体验。SL-120A的放大倍数为7x-45x，变倍比1：6.4，工作距离为100mm，操作方式为全电动调节，立体图像的观察方式为数码立体眼镜。本产品改变了传统体视显微镜只能在固定位置进行三维立体图像的观察方式，使用者能够在任意位置实时观察三维立体图像；提供多人同时三维立体图像观看；对观察物进行全方位、多角度的观察；对大标本的局部进行显微观察；远程进行操作及立体图像的观察；对立体图像进行录制及存储，方便随时观看；通过鼠标控制设备的移动，操作更便捷。本品可选装瑞丰图像处理软件，能够对观察物进行标定，对其角度、长度、面积、周长等进行测量；可在图像中实时绘制圆、线、点、矩形、多边形等多种规格图形，也可绘制不规则图形；测量完成后可一键将信息生成表格进行导出；可在图像中进行注释及文字标注；能够对图像进行电子放大；可对亮度、曝光、增益、白平衡、色温、对比度、饱和度、锐度、降噪效果进行实时调整。本产品可应用于科学研究、动植物学、昆虫学、解剖学、医学、实验教学、考古、电子产品、海关、公安等领域。

IMEXT FTAFission Track Analysis System裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍IMEXT FTA裂变径迹分析系统Fission Track Analysis System1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备；项目化管理、流程化操作；主要用于矿物裂变径迹分析。系统所配软件包，专为裂变径迹应用开发，可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄；可满足裂变径迹测量的各种需求。设备图：控制软件主界面图：测量分析流程：1) 新建样品项目，开始裂变径迹分析；或者打开已有样品项目，继续分析；2) 样品全貌图扫描；3) 样品光薄片/云母片定位；4) 样品观察方式配置；样品拍照模式配置；5) 目标颗粒选择；6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描；7) 目标颗粒裂变径迹参数测量；8) 裂变径迹数据统计；9) 专用裂变径迹分析报告；3、 样品全貌图扫描 Sample MAP 系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片，生成样品全貌图；包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP 系统支持样品粗定位和精细定位两种模式；确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时，需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析，需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位，让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察，该模块提供了记录功能，可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置，对目标颗粒进行重定位，方便下次观察和分析。5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control 系统支持智能显微镜控制，支持透射/反射、明场/偏光等观察方式，与样品位置Grain/Mice随动，支持智能光强管理，支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。6、 目标颗粒选择 Object Grain Select 系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒，用于后续拍照和测量。7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列，支持单颗粒超景深照片合成；支持多颗粒批量扫描，提高工作效率。扫描过程照片自动抓拍、自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；提供图片浏览功能，可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能；8、 径迹参数测量 Track Measurement支持多种径迹参数的自动测量和人工测量，包含径迹数量、面积、最大，最小卡规直径及其比率等颗粒参数，且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。9、 径迹统计&报告 Statistics&Report支持多种径迹参数的标准统计，包含最大值、最小值、平均值、标准差等。10、 数字薄片 Digital Slice支持按照样品项目管理，扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化，方便长期保存和后期分析，以及数据追溯。11、 用心服务放心使用全面的服务在于您的需要不只是一件产品，而在于您的企业或科研发展的同时，有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。系统自问世以来，深受广大学及研究所等用户的信赖和支持；一旦获取，终生免费升级。

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！正置时间分辨荧光显微系统MicroTime 100由德国Picoquant公司研发的Micro Time100是研究固体样本（晶圆，半导体或太阳能电池材料）时间分辨光致发光的理想工具。整套系统是基于常见的正置显微镜（Olympus）构建的，可以用于观测各种规格大小的样品。同时，Micro Time 100可以集成厘米或微米级别分辨率的手动扫描方式和3D平面压电扫描台。为满足研究方向的多元化,该系统提供了多种波长（375nm-900nm）的脉冲二极管激光源以及相应的多功能PDL系列驱动单元.利用单光子灵敏度的探测器，再配合皮秒级别时间分辨的技术模块，可以实现对诸如FLIM，FCS等荧光方面的研究。在软件交互方面，高度智能化的SymPhoTime64可以提供针对不同实验的一键化操作方式，包括数据的收集和分析,图像化输出等。特点：集成激发光源, 正置显微镜和多通道探测模块的一体化系统脉冲二极管激光器波长从375到1060nm可选多探测器选项，最多可达4个探测通道通过XYZ-压电扫描平台实现三维寿命成像可选大范围扫描台，扫描行程可达几厘米应用：荧光寿命成像（FLIM）磷光寿命成像（PLIM）时间分辨光致发光 (TRPL) 成像MicroPL 测量（与 PL 光谱仪耦合）反束相关（g(2)）测量载流子扩散成像SHG 和 2PE 成像参数：激发模块l 带紧凑型光纤耦合单元的皮秒二极管激光器(功率/重复频率可调,最大80MHz)l 波长范围 375-1060nml 支持单通道或多通道驱动显微镜模块l Olympus BX43或其他正置显微镜l 预留左侧和背面接口,可做拓展应用(如用于宽场成像或TIRF)l 已包含透射照明部件l 手动样品固定台物镜规格l 标准20X和40X物镜l 可选多种特殊物镜(水/油镜,红外/紫外强化,TIRF或超长工作距离型等)扫描方式l 三维 XYZ 压电物镜扫描，扫描范围为 80 µ m x 80 μm x 100 µ m，标称定位精度为 1 nm，采用物镜扫描方式安装l 可选：大面积扫描工作台，扫描范围为 7.5 cm x 7.5 cm，标称定位精度为 400 nm主要光学部件l 具有多达四个用于PMA和PMA Hybrid检测器的并行检测通道，两个用于SPAD检测器的检测通道l 预对准可更换型主二向色镜架l 所有光学元件都可更换和调节探测器l 单光子雪崩二极管(SPAD)l 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT)l 光电倍增管(PMT)数据采集方式l 基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式l 最多支持独立双通道同步采集交互软件l SymPhoTime 64(用于FLIM和FCS)l EasyTau 2 (单点的寿命测量)升级选项MicroTime 100-BXFM大大提升Z轴成像距离&bull MicroTime 100-BXFM安装在面包板或光学台上&bull 样品扫描装置（选配）可安装在立柱上，以增加Z轴到表面的距离。这样，可以轻松实现在共聚焦显微镜下安装镜片或光学机械装置，用于透射实验，例如泵浦探针。&bull XYZ压电物镜扫描装置可用于扫描或采用XY样品扫描装置用于移动样品，同时光束路径保持不变升级选项PL光谱仪耦合（配合高性能荧光寿命和稳态光谱仪FluoTime300）钙钛矿太阳能电池的TRPL成像和载流子扩散

1 研究级倒置显微镜1.1 显微镜镜体，U型光路 ,备有聚焦机构同轴粗、微调旋钮（小微调刻度单位：1μm），行程≥10mm，粗调旋钮扭矩可调，备有上限调节系统，高眼点目镜，10×，视场直径：22★1.2 光学系统：无限远校正光学，齐焦距离45mm1.3 透射光照明：100W卤素灯透射光照明装置，视场可变光阑可调1.4观察镜筒：人机工程学、正象、可倾斜式观察筒, 观察角度35-85°, 眼点高度调节范围0－65mm可调, 瞳距50－76mm, 视场数221.5带编码6孔物镜转盘1.6精确定位功能手动载物台，具备XY锁定和复位功能；控制手柄扭力可调；尺寸：240mm(D) x 444.5mm(W)；移动范围Y≥75mm，X≥114mm；1.7聚光镜：长工作距离聚光镜, N.A. 0.55, W.D. 27mm；可以安装DIC、相称等配件★1.8相衬环板：4×、10×、20×、40×1.9 物镜1.9.1 平场半复消色差相差物镜4X（N.A.≥0.13, W.D.≥17.0mm）1.9.2 平场半复消色差相差物镜 10X（N.A.≥0.3, W.D.≥10mm）1.9.3 长工作距离平场半复消色差相差物镜20X（N.A.≥0.45, W.D.≥6.6-7.8mm）1.9.4 长工作距离能平场半复消色差相差物镜40X（N.A.≥0.6, W.D.≥3.0-4.2mm）2.0 反射荧光系统2.0.1 激发块转盘：编码型8孔位激发块转盘，无需拆卸可更换激发块，内置光闸，防水设计； 2.0.2 荧光光源：12V100W超高压汞灯，中性密度滤色片2.0.3通用高性能荧光紫外、蓝色、绿色激发滤色镜组，滤色镜均带有干涉镀膜。2.1 原装进口高分辨率制冷显微专用图像采集系统2.1.1 像素：≥2070万像素（高分辨率5760 × 3600），相机类型：单芯片彩色相机2.1.2感光度：0.5X/1X/2X/4X/8X/16X (ISO 200 / 400 / 800 / 1600 / 3200 / 6400)2.1.3制冷系统：Peltier制冷2.1.4芯片尺寸：1/1.2 英寸彩色CCD全局快门，静态图像传输时间：5760 x 3600 (3 × 3): 大约4 s； 1920 x 1200 (1 × 1): 大约0.3 s2.1.5实时帧速：1920 × 1200 (1 × 1): 60 fps*2, 1920 × 1080 (1 × 1): 60 fps*22.2显微图像控制及分析软件2.2.1 合成透射光和荧光通道图像，显示荧光在细胞上的定位图像；2.2.2 方便的输入硬件信息即可实现添加标尺功能，从而显示图像的放大比例关系；2.2.3 可以做离线白平衡、市场平整度以及背景校正等处理，便于后期图像处理

特点　 可调节稳频激光，避免波长漂移及样品损坏 优化的共焦模块，保证激光焦平面与物镜视场焦平面重合以达到共焦 高稳定性探测器，提高了光谱采集效率及准确性 模块化设计，可自行组装，操作简单，携带方便 波长范围及分辨率可定制应用　 鉴定药片上微米级的杂质，并对其分布 进行表征 区分药片中的有效活性成分和辅料，表征其分布状态与稠密度 对矿石和艺术品中不同成分颗粒的边界进行定位 对矿物和岩石内所含的物质进行表征和定位 法检微量物证的现场鉴定，如纺织物、药品、爆炸物等 ■ 产品型号 Mic-R-Sys 405/ 532/ 785系列型号 ■ 基本组成 拉曼模块、拉曼检测系统、显微镜 ■ 产品参数显微镜显微镜型号GMM-580Z轴调焦系统粗微动同轴调焦微动格值：2um带锁紧和限位装置X/Y移动平台尺寸210mm*140mm平台移动范围50mm*75mm相机500万像素成像系统ISH500 (可选择)显微物镜5X-100X (可选择)相机图像芯片CMOS, 彩色, 逐行扫描芯片尺寸1/2.5 英寸有效像素500 万像素尺寸2.2um*2.2um分辨率(H×V)2592*1944帧频5fps(2592 ×1944 全分辨率)21fps(1280*960)25fps (1024 ×768)38fps (640 ×480)色彩深度24bit信噪比54dB工作温度(℃)0-60数据接口高速USB2.0镜头接口标准C-mount激光器波长(nm)405±0.5532±0.5785±0.3模式单模单模单模光谱线宽(cm-1)—0.52透光纤输出功率(mW)1-5001-1000350, 450功率稳定性(pk-pk,4小时)1%,3%,5%1%,3%,5%2%光纤参数100um@0.22NA100um@0.22NA100um@0.22NA振幅噪声—0.5%0.5%,1%操作模式CWCWCW预热时间(分钟)5105工作温度(℃)10-3515-3510-40预期寿命(小时)100001000010000保修期1年1年1年光谱仪波长范围405-500nm(405nm激发)532-700nm(532nm激发)785-1100nm(785nm激发)光学分辨率18-24cm-1(405nm激发)8-12cm-1(532nm激发)5-8cm-1(785nm激发)像素数量2048 pixels像元尺寸14um*14um尺寸(mm)149*109*50重量(g)1000信噪比1000:1积分时间17ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin拉曼探头激发波长(nm)405532785探头焦距(mm)7.5探头主体材料探头材料2A12，经染黑处理；探头顶端为不锈钢材质光纤配置两根排列的单芯光纤（100um激发光光纤, 200um标准集光光纤）N.A.=0.22, PVC护套/金属护套. 光纤长度：1m软件光谱分析Spectral Analysis软件 / Raman Analysis 2.0 软件相机成像Imaging操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位)

数字气压式显微注射系统是历时两年的研发及数百次测试的成果，其精确度高，价格低，性能稳定，已经有数十家科研实验室在使用，深获好评。型号：PCO-1500产品特点：1. 采用日本进口高精度调压阀：压力输出稳定不会上下飘移造成回吸现象；2. 可达 Pico Liter (Pl)，且每次量一致；3. 操作方便、换针快速；4. 数字式压力与时间显示面板；5. 具备记亿功能及程序组别记忆功能；6. 时间控制达 0.02 秒的精准度；7. 具吸取功能：不需要 Loading tip 来 Loading 样本，可以直接吸取注射样本；应用举例：可选配：气动式注射器专用压力泵 具高效能空器净化器，可有效过滤空气中杂质及水气(保护显微注射器) 操作简单，无须购买气体钢瓶 超静音，不占空间，安全性高 不用一直填充气体，即插即用 最多可接二台注射器显微注射器可搭配使用的相关设备：玻璃毛细管有多种型号可选，部分长度和规格：B100-75-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB100-50-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB100-58-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB150-86-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mm品牌：SUTTER显微操作器用于需要高稳定性、高精确度的精细操作和定位实验。其主要作用是固定玻璃微电极在很小的范围内调节其行程，可夹持玻璃电极并插入到细胞内部。电极夹持型 型号：M-3101 通过电极夹持器夹持玻璃微电极，进行细胞或微小组织的微量注射操作；根据客户的习惯，可以选择左手型和右手型； 根据操作系统，可以选择基础款和数显型；电极夹持器需单独采购；微电极拉制仪用于玻璃毛细管的拉制，适合于细胞注射、电生理、膜片钳等多种实验。型号：PC-100垂直拉制仪，自动双模式这个拉制仪使用垂直拉制法拉制玻璃毛细管。具有两个模式，提供多种功能。单步拉制：拉制在一个设置下一次完成。双步拉制：在拉制过程中设置改变。因而PC-10可以制作长薄的用于注射用途的微玻璃管，或者用于膜片钳的结实玻璃微电极。可选择两个配重（轻和重）用于张力调整。 请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

数字气压式显微注射系统是历时两年的研发及数百次测试的成果，其精确度高，价格低，性能稳定，已经有数十家科研实验室在使用，深获好评。型号：PCO-1500产品特点：1. 采用日本进口高精度调压阀：压力输出稳定不会上下飘移造成回吸现象；2. 可达 Pico Liter (Pl)，且每次量一致；3. 操作方便、换针快速；4. 数字式压力与时间显示面板；5. 具备记亿功能及程序组别记忆功能；6. 时间控制达 0.02 秒的精准度；7. 具吸取功能：不需要 Loading tip 来 Loading 样本，可以直接吸取注射样本； 应用举例：可选配：气动式注射器专用压力泵具高效能空器净化器，可有效过滤空气中杂质及水气(保护显微注射器)操作简单，无须购买气体钢瓶超静音，不占空间，安全性高不用一直填充气体，即插即用最多可接二台注射器 显微注射器可搭配使用的相关设备：玻璃毛细管有多种型号可选，部分长度和规格：B100-75-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB100-50-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB100-58-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mmB150-86-10型：长度10cm，外径1.0mm，内径0.75mm品牌：SUTTER显微操作器用于需要高稳定性、高精确度的精细操作和定位实验。其主要作用是固定玻璃微电极在很小的范围内调节其行程，可夹持玻璃电极并插入到细胞内部。 电极夹持型 型号：M-3101 通过电极夹持器夹持玻璃微电极，进行细胞或微小组织的微量注射操作；根据客户的习惯，可以选择左手型和右手型； 根据操作系统，可以选择基础款和数显型；电极夹持器需单独采购；微电极拉制仪用于玻璃毛细管的拉制，适合于细胞注射、电生理、膜片钳等多种实验。型号：PC-100垂直拉制仪，自动双模式这个拉制仪使用垂直拉制法拉制玻璃毛细管。具有两个模式，提供多种功能。单步拉制：拉制在一个设置下一次完成。双步拉制：在拉制过程中设置改变。因而PC-10可以制作长薄的用于注射用途的微玻璃管，或者用于膜片钳的结实玻璃微电极。可选择两个配重（轻和重）用于张力调整。请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！单分子时间分辨共聚焦荧光显微系统MicroTime 200在许多尖端科学领域，单分子研究具有重要意义。例如分子运动的量化研究和分子交互性的研究。这些研究领域对设备仪器的灵活性和多样性提出了更高的要求。德国PicoQuant公司的Micro Time 200系统的多功能性恰好可以胜任这些工作。作为当前世界顶尖的时间分辨共聚焦荧光显微成像系统，Micro Time 200具备了针对单分子级别相关实验和分析的能力。 Micro Time 200可选配多种波长的皮秒二极管激光光源，还拥有皮秒级别的时间分辨率，支持最多4个完全独立的探测通道，可以全面支持当今生物和物理方面的单分子研究课题，如FLIM，FRET，FCS（包含自相关和互相关）以及各向异性的研究，以及同时进行AFM/FLIM或者深紫外探测。同时配备了稳定， 精确的扫描系统， 完美满足单分子应用需求。MicroTime200家族又新增了空间分辨率高达50nm的MicroTime 200受激发射减损超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统（STED）。该系统配套的SymPhoTime 64能够提供强大、全面的数据采集和处理功能，而且针对以上提到的实验，提供了一键式运行模块，最大程度降低了操作的复杂程度，进一步提高了实验效率，是荧光相关领域研究的绝佳选择。特点：集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元针对FCS和FLIM快速动力学研究，有时间相关单光子计数（TCSPC）和TTTR两种模式适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台两个额外光路输出口用于拓展应用匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级可提供STED附件，用于超分辨率成像FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量基于后口激发的“二维载流子扩散成像”套件功能：荧光寿命成像（FLIM）及深层组织FLIM荧光共振能量转换FRET 及脉冲交错激发FRET（PIE-FRET）荧光强度相关光谱（FCS）及互相关光谱（FCCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）及互相关光谱（FLCCS）双聚焦FCS各向异性检测深紫外探测串序脉冲荧光分析（Burst Analysis）参数：激发系统光纤整合型皮秒脉冲半导体激光器（功率/重复频率可调, 最大80MHz）支持外部激光器（如钛蓝宝石激光器）375~900nm波长范围支持Solea超连续白光光源支持单通道或者多通道驱动支持266nm紫光激发显微镜OlympusIX73或IX83倒置显微镜预留左侧和背面接口，可做拓展应用（如TIRF）包含透射照明部件独特的25x25mm手动样品固定台标准样品架（用于20x20mm载玻片）可选落射荧光照明可选低温恒温器用于低温型实验可选与原子力显微镜整合物镜规格标准20x和40x物镜可选多种高端特殊物镜（水/油镜, 红外/紫外强化, 超长工作距离型等）扫描台80 μm x 80 μm规格2D压电扫描台（1nm定位精度）PIFOC 3D立体成像（行程80 μm，定位精度1nm）80 μm x 80 μm物镜扫描（1nm定位精度）可选厘米级别大范围扫描台主要光学部件最多可支持4通道的共聚焦探测模块多种规格的分光部件额外的输出接口易于更换型二向色镜支架模块用于光斑分析的CCD相机和光电二极管所有光学元件都可替换和调整探测器单光子雪崩二极管（SPAD）混合型光电倍增管（Hybrid-PMT）光电倍增管（PMT）数据采集方式基于时间相关单光子计数TCSPC 的TTTR测量模式独立4通道同步采集分析软件SymPhoTime 64

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。 显微拉曼荧光寿命成像系统，型号：MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。lS&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/l变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/l适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。 lMonovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等。 低波数性能： Stokes/Anti-Stokes spectrum from L-Cystine显微拉曼荧光寿命成像系统特点：l深紫外到近红外波长范围l多达 4 个集成多线激光器，可选配外接大型激光器端口l紫外和可见光/近红外双光束路径l自动控制激光选择l自动对准，聚焦和校准功能l超高拉曼光谱分辨率，例如 FWHM＜25px -1 @ 633 nml利用低波数拉曼附件，低波数可测试到 +/- 10 cm-1 l高波数范围可达 225000px-1（@ 532nm），适用于光致发光l热电制冷和液氮制冷探测器l正置/倒置/双显微镜l步进电机和压电驱动 XYZ 位移台l快速拉曼 mappingl集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器l可结合拉曼成像和原子力显微镜成像l自动控制的偏振光谱功能 硬件与激光选择软件自动切换 荧光扣减与背景抑制功能 同一样品不同成分的拉曼成像图显微拉曼荧光寿命成像系统定制应用案例 Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

显微荧光光谱测量系统，可视化定位使观测者可以检测样品上不同表面状态的荧光信号，同时在计算机上同步显示所检测位置的微区状态，便利了荧光微区检测，使得“所见即所测”成为可能。该平台将优化的共焦显微模块与优良的荧光测量系统相结合，光学设计匹配无限远显微光学系统，优化的光路设计，灵活的结构模块组合，可依据客户要求定制不同波长的显微荧光检测平台，同时新产业公司提供的的激光器和光谱仪设备，为客户提供了更多的选择空间。特点　 可调节稳频激光，避免波长漂移及样品损坏 保证激光焦平面与物镜视场焦平面重合以达到共焦 高稳定性探测器，提高了光谱采集效率及准确性 模块化设计，可自行组装，操作简单，携带方便 波长范围及分辨率可定制应用　 晶体微区荧光光谱检测 微区稀土元素荧光光谱检测 量子点荧光标记微区光谱测量 微纳光子器件微区PL光谱测量 ■ 产品型号 Mic-F-Sys 405/ 532系列型号 ■ 基本组成 荧光模块、荧光检测系统、显微镜 ■ 产品参数 显微镜显微镜型号GMM-580Z轴调焦系统粗微动同轴调焦微动格值：2um带锁紧和限位装置X/Y移动平台尺寸210mm*140mm平台移动范围50mm*75mm相机500万像素成像系统ISH500 (可选择)显微物镜5X-100X (可选择)相机图像芯片CMOS, 彩色, 逐行扫描芯片尺寸1/2.5 英寸有效像素500 万像素尺寸2.2um*2.2um分辨率(H×V)2592*1944帧频5fps(2592 ×1944 全分辨率)21fps(1280*960)25fps (1024 ×768)38fps (640 ×480)色彩深度24bit信噪比54dB工作温度(℃)0-60数据接口高速USB2.0镜头接口标准C-mount激光器波长(nm)405±5 (波长可定制)532±1 (波长可定制)模式Near TEM00TEM00功率稳定性1%,3%,5%1%,3%,5%操作模式CWCW预热时间(分钟)510工作温度(℃)10-3510-35预期寿命(小时)1000010000保修期1年1年光谱仪波长范围200-1100nm（光谱仪波段及分辨率可订制）光学分辨率(nm)0.75nm FWHM像素数量(pixels)3648像元尺寸8um*200um尺寸(mm)149*105*46重量(g)840信噪比300:1积分时间4ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin荧光探头光谱范围(nm)405-850532-1100激发波长(nm)405532探头焦距(mm)7.5探头主体材料黑色阳极氧化铝材质光纤配置两根排列的单芯纤 (100μm激发光光纤, 200μm接收光纤) , N.A.=0.22, SMA905接口, PVC护套/金属护套，光纤长度：1m 软件光谱分析Spectral Analysis 软件相机成像ISCapture操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位)

显微拉曼荧光寿命成像系统 德国S&I GmbH成立于1995年，是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司，也是美国普林斯顿仪器（Princeton Instruments）在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性，高灵敏及易操作性著称。MonoVista CRS+系列产品定位：服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案；l 根据用户的应用需求，适用并可拓展不同的配置；l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下，适合各种光学测试；l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/ l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/ l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境，如大样品系统，低温，强磁，高温等。l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统；l 应用领域：高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料，钙钛矿材料，生物细胞研究等MonoVista CRS+ 特点：激光器深紫外到近红外波长范围多达内置4个波长激光器，外置外接大型激光器紫外和可见光/近红外双光束路径自动控制激光选择自动对准，聚焦和校准功能超高拉曼光谱分辨率 ＜0.9cm-1 @ 633 nm低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）热电制冷和液氮制冷探测器正置/倒置/双显微镜空间分辨率：XY 1um Z 2um步进电机和压电驱动XYZ位移台快速3D拉曼Mapping荧光寿命成像Mapping功能集成控制液氮温度冷热台集成液氦温度低温恒温器可结合拉曼成像和原子力显微镜成像自动控制的偏振光谱功能L-Crystine的超低波数拉曼（正反斯托克斯）CCL4的超高拉曼分辨率TCSPC荧光寿命测试功能2 激光波长从375纳米到810纳米2 时间通道数：65536 ,分辨精度：4ps 2 各通道采集延时调节范围 ：± 100 ns，2 寿命时间抖动误差：12ps2 最大计数率：10MHz 最大同步率：84 MHz2 多种探测器选项，探测器通道：2个2 二维寿命成像，XY扫描压电位移台2 扫描台，范围可达几厘米，XY扫描精度优于500nm 2 固有响应时间：95ns2 仪器响应函数（IRF）200ps荧光寿命测试曲线荧光寿命MappingVistaControl硬件控制界面拉曼Mapping与显微图像对比MonoVista CRS+ 定制系统应用案例Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM Monovista与低温，强磁测试条件(HPSTAR)

PARISS这是一款弧形棱镜反射式面阵高光谱图像分析系统，配合研究型显微镜组成具有分析样品光谱细节特性的多为显微高光谱图像分析系统。PARISS高光谱显微影像分析系统作为显微镜附件，不改变显微镜结构，适用于四大显微镜品牌的多数产品。 由于显微光谱成像技术能够同时提供定性、定量和定位信息，将光谱分析技术与图像分析技术融合形成的全新分析检测技术，在现代生物、生命科学、医学、法医学、环境、生态、材料、制药、分析化学、临床检验、微电子等等有着广阔的应用前景，是近年来世界各国高科技界广泛重视的热点科研方向。

失效分析检测公司推荐的设备，功能多多，科研利器！显微红外热分布测试系统金鉴显微红外热分布测试系统（GMATG-G5）由金鉴实验室和英国GMATG公司联合推出，采用法国的非晶硅红外ULIS探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出一套高精智能化的显微红外热分布测试体系。这套测试体系专为微观热成像设计，价格远低于国外同类产品，除传统红外热成像的优势外，还具有更高精度的成像系统、更高的温度灵敏度，更便捷的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。金鉴显微红外热分布测试系统已演化到第五代：配备20um的微距镜，可用于观察微米级别芯片的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5μm，能看清芯片金道；高低温数显精密控温体系，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，根据被测物上的不同材质，设置不同发射率，才能得到最真实的温度值；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉，性能卓著，值得信赖。与传统红外热像仪相比，金鉴显微红外热分布测试系统优点显著：应用领域：适用于LED、半导体器件、电子器件、激光器件、功率器件、MEMS、传感器等样品的研发设计、来料检验、失效分析、热分布测量、升温热分布动态采集。金鉴显微热分布与传统设备大PK：金鉴显微热分布测试系统特点：1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。 LED芯片热分布图 2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效。电子元器件性能受温度的影响较大，金鉴显微热分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题 3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测。金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，可全面的观测分析温度与时间的关系、温度与空间的关系，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。灯具温升变化图 灯珠芯片温升变化图4. 热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小温差和更小目标，提供更清晰的热像。 专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。5. 定制化的热像分析软件，为科研和分析提供专业化的数据支持。金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR，针对不同测试样品开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，纠正多种错误测温方式，具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。（1） PC和手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。 手机软件主界面 PC软件主界面（2）支持高低温自动捕捉，多个点、线、面的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。 （3）多达15种调色板，适用于不用的测试样品和场景需求，显示颜色的变化不影响温度的测试。（4） 微小器件由不同材质组成，不同材质、不同粗糙度等都影响发射率，图像上大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起的，因此发射率校正显得尤为重要。金鉴显微热分布测试系统可灵活设置不同区域的发射率，实现不同材质单独测量，温度测试更加准确。 （5）视频录制触发与自由定义帧频，最快25帧/秒，可精准捕捉有效的温度数据和视频图像。 （6）切换图像模式，可实现热像图和可见光图融合，可查看画面中高温区域或温度变化较大区域。 图像模式热成像-可见光融合图（7）导出热像图全部像素点温度数据值，为专业仿真软件建立温度云图等分析提供原始建模数据。 （8）温差模式，可直观获取任意两张热像图的温度差异，分析更快速精准。测试案例:案例一：不同环境温度下热分布测试金鉴显微热分布测试系统配备高精度控温体系，可实现器件在不同温度下的热分布测试。本案例模拟灯具芯片在不同环境温度下的结温及热分布状态，测试结果表明，控制环境温度达到80℃时，芯片结温122℃，继续升高环境温度可能导致芯片发光效率低下甚至芯片受损。案例二：不同厂家芯片光热分布差异以下案例中A款芯片发光最强，发热量最小，光热分布最均匀，量子效率最高。强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据！做好光热分布来料检验，可以使LED最亮，温度最低，而成本最低，质量更可靠。 案例三：多芯片封装，电流密度均匀性需把控某款灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 案例四：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，金鉴显微热分布测试分析显示，芯片负极焊盘区域温度比正极焊盘区域温度高约15℃。因此，推断该芯片电流密度均匀性较差，导致正负极焊盘位置光热分布差异较大，局部热膨胀差异过大从而引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例五：显示屏模组热分布监测PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！ 案例六：IC器件热分布测试未开封的IC器件也可观察到表面热分布图。无需化学或激光开封，金鉴的红外热分布测试系统使用更高灵敏度的探头以及更先进的图像优化技术，即可了解器件内部热分布高点和低点的区域，真正实现无损检测。案例七：LED灯具热分布测试日常使用的灯具过热容易引起电子器件故障，缩短产品使用寿命，严重甚至造成安全隐患，检测LED灯具发热均匀情况能帮助设计产品，合理布置发热部件，有效防止过热。LED灯具热分布 案例八：定位电源失效区域电源失效案例中，金鉴使用红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。 电源热分布图及热点定位 案例九：OLED热分布测试OLED发光材料像素在不同温度下表现出不同的发光特性，温度的分布不均会使得OLED显示面板中各处的薄膜晶体管的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进而导致整个显示面板出现发光亮度不均。 案例十：集成电路芯片温度测试通过金鉴显微红外热分布测试系统可测试封装后集成电路芯片工作时的温度及温度场分布，也可以直接测试芯片微米大小区域的温度数据，观察芯片的温度场分布，轻松发现温度聚集点，并且能够测试芯片开启后的温升曲线，判断芯片达到热稳定的时间。 集成电路芯片工作时的热分布及局部放大热分布图 集成电路芯片通电开启后的温升曲线 集成电路芯片通电开启热分布瞬态图案例十一：热分布测试应用于PCB领域红外热分布测试用于PCB板的检测，可直观显示电路板各区域和元件的温度分布，设计阶段可用于分析电路板布局设计是否合理，最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。生产阶段也可及时发现可靠性隐患，因为异常组件的升温速度通常比正常的要快，通过热分布测试，许多缺陷在出厂前就能被发现。案例十二：热分布系统全辐射视频录像功能应用于GaN器件领域 电子元器件器件实际应用过程中，进行单一热像图的分析往往是不够的，例如某GaN器件，其工作时的各项性能参数受温度影响较大，因此需要监控器件开始工作瞬间直至稳定的整个温度变化过程，这就涉及到金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像功能。金鉴显微红外热分布测试系统全辐射视频录像功能采样速率可达到25帧/秒，可实现1TB单个视频录制，轻松捕捉器件通电瞬间温升变化。通过逐帧分析器件的升温过程全辐射视频录像可以看出，器件通电瞬间开始升温，这个瞬间时长仅有几十个毫秒左右，并在开始通电后2分钟左右达到温度稳定，同时各项电性参数也达到稳定。GaN器件工作过程温升变化曲线 GaN器件工作过程电流变化曲线案例十三：电器开关柜红外热分布测试电气设备在生产中已广泛采用，而电气故障是不可避免的，如何排查电气故障是面临的一大问题。电气设备的初期异常通常伴随温度的变化迹象，采用红外热分布测试可在不断电状态下进行检测工作，及时发现和诊断问题。

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Imager M2m制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司产地：德国 ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。 总体描述蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统，实现智能自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。 产品特点 ◆最佳优化的操作理念 ◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统◆全自动Z轴自动聚焦模块 ◆保证最大稳定性和免振动工作的创新设计 ◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史 技术参数硬件光学系统：ICCS光学系统1、 专业分析物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、 自动扫描台：行程130X85mm，步距为 0.1μm，重复精度小于1.0μm3、 变倍转换器：1.25X,1.6X4、 图像采集：彩色数码冷CCD:500万像素，信实时采集，同步捕捉图像，传输速度快，同时显示。5、 分析系统：自动识别待测对象，自动定位及查找功能，自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量Dpar、Dper值等。所有的测试及结果（图片、表格、报告）均自动保存至数据库，可随时调用并返回当时的测量参数，保证可追溯测定结果；用途矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。 组成蔡司全自动科研级显微镜蔡司Axio vision强大分析软件 自动扫描平台 Relocation功能自动物镜转换器 ManualMeasure功能自动模块盒 AutoMeasure功能自动光强控制管理 应用矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。其中，统计受热中子照射的磷灰石、锆石等单矿物的裂变径迹数，可计算地质体的退火年龄；测量自发裂变径迹长度，统计裂变径迹长度分布，可计算地质体热演化历史；并用于观察透明或不透明矿物、岩石、包裹体的结构等岩相学特征。 原理1.理论依据根据矿物中 U、Th放射性同位素自发裂变碎片的径迹而计时的一种方法。径迹数目与矿物年龄成正比。矿物中能产生裂变径迹的重核有 238U、235U和232Th。它们的自发裂变半衰期分别是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然样品中238U的裂径迹约占99.97%以上，而235U和232Th的裂变径迹在年龄测定中可忽略不计。 若假定自发裂变径迹在矿物中的分布是均匀的，则单位体积内的裂变径迹数目(C)与U含量、矿物存在时间及U的自发裂变常数成如下关系裂变径迹法式中238U为每立方厘米样品中238U的原子数,λf为238U的自发裂变常数（6.85×10-17/年），λ为U的总衰变常数,t为矿物年龄。 自然状态的裂变径迹非常细小。通过选择适当的化学试剂在一定条件下对矿物磨光面进行腐蚀处理(蚀刻)，蚀刻后的径迹,在显微镜下可放大到200～1000倍。若自发裂变径迹和诱发裂变径迹（即通过热中子照射产生的径迹）的蚀刻条件完全相同，则裂变径迹法计算年龄的公式为裂变径迹法式中ρs为在蚀刻表面观察到的径迹密度,ρi为蚀刻后看到的诱发裂变径迹密度,σ 为235U的热中子诱发裂变截面(582×10-24平方厘米),Φ为热中子剂量，I=238U/235U=137.88。 应用此公式计算年龄时须满足下列要求：①自发裂变的半衰期是恒定的；②238U/235U比值是一个常数 ③所有的自发裂变径迹是238U产生的,而所有的诱发裂变径迹都是235U经热中子照射诱发产生的 ④自发裂变径迹和诱发裂变径迹的蚀刻条件相同；⑤样品形成以后保持封闭体系。 裂变径迹法测定年龄的样品适应性广，只要样品中产生的自发裂变径迹密度大于1～10／平方厘米,均可选用。如磷灰石、榍石、锆石、白云母等。 2. 解决方案（1）ZEISS显微镜所配的AxioVision软件具有强大的图像拍摄和处理功能，可完成裂变径迹显微镜镜下图片拍摄。（2）AxioVision软件模块中的FissionTrack模块，专为裂变径迹应用开发，可满足裂变径迹测量的各种需求。该模块包含三大功能：针对互为镜像样品定位和查找问题，Relocation功能可以实现自动化的样品镜像定位。针对裂变径迹长度、角度等数据的测量问题，ManualMeasure功能实现简单高效的在线测量功能，并自动将测量数据按照指定格式，导出为EXCEL表格。针对裂变径迹颗粒数量、面积等数据的统计问题，AutoMeasure功能实现自动化的统计，包含数十项可选的颗粒数据描述。