表面分析科学与技术应用学术会

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  • 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议举行
    仪器信息网讯 2013 年8 月20日,&ldquo 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班&rdquo 在北京举行,本次会议为期两天。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。   本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办,国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。 会议现场   北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法介绍说:&ldquo 作为固体表面分析的重要手段,上个世纪90年代在我国掀起了表面分析技术的研究热潮,当时国内相关会议较多。但近年来,随着表面分析技术的发展成熟,其研究也进入了低谷期,国内已经多年没有召开过相关的会议。&rdquo   2012年,清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织了全国表面分析科学与技术应用学术会议,今年是该会议第二次举办。 北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法   朱永法说:&ldquo 目前全国的表面分析仪器有300台左右,有关表面分析技术的应用研究也比较多。今年在会议组织中我们希望能做的更规范,希望以后每年都能举行一次这样的学术会议,更好的促进同行之间交流与合作,推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合。&rdquo   会议的主题报告主要为X 射线光电子能谱法(XPS)、俄歇电子能谱法(AES)、表面增强共振拉曼光谱法(SERS)、扫描探针显微镜(STM)、飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)、辉光放电光谱法、椭偏光度法等表面分析技术手段在材料研究中的应用。值得一提的是,会议报告人不仅有高校科研院所的研究人员,还有来自企业的研究人员,如宝钢集团有限公司中央研究院、东莞新科技术研发有限公司、中国石化上海石油化工研究院等。   本次会议同期还将举行X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班,将进行XPS 中化学信息的抽取及其材料研究应用、XPS 数据的后期处理与(半)定量计算、XPS 谱图解析案例,以及分析设备的维修与维护技巧、多功能XPS 核心部件的维护和维修等内容的介绍。 高校分析测试中心理事会理事长梁齐   据高校分析测试中心理事会理事长梁齐介绍:&ldquo 从今年起,高校分析测试中心计划举行&lsquo 高端分析仪器研修班&rsquo ,希望帮助大家更好的了解大型仪器的先进技术及应用。第一届研修班以&lsquo 透射电子显微镜的前沿技术与应用&rsquo 为主题,已于七月份在中国科技大学举办,会议得到了很多分析人员的响应,本次研修班是第二届。&rdquo   梁齐说:&ldquo XPS是目前最主要的表面分析技术手段,以前由于仪器价格贵,国内用户并不是很多,但是目前我们了解到很多高校都采购了仪器。大家对XPS的应用也从常规分析发展到高端分析,比如利用XPS进行mapping、深度剖析、原位分析等。&rdquo 。   另外,据介绍会议还将对《GB/T 25185-2010/ISO 19318 表面化学分析X 射线光电子能谱荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 28894-2012/ ISO 18117:2009 表面化学分析分析前样品的处理》这两项标准进行宣贯。   表面分析仪器的主要供应商赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等都参加了此次会议,就最新表面分析仪器的最新产品和技术分别作了介绍。 与会人员合影   有关会议主题报告及最新产品和技术进展,敬请关注仪器信息网后续报道。(撰稿:秦丽娟)   相关新闻:   2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 主题报告   2013全国表面分析科学会议上的仪器厂商   X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班在京举办   2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 标准宣贯
  • “2013全国表面分析科学与技术应用学术会议”通知
    关于召开&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 通知   (通知)   随着我国航天、微电子、信息产业、材料科学、能源及环境领域等高新技术的迅猛发展,表面分析技术正起着越来越重要的作用。此外,随着我们科技实力的增强,各高校和研究机构购置大量新的表面分析仪器,拓展了表面分析学科的发展。为了推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合,加强同行之间交流与合作,建立表面分析学科和技术表面的交流平台,由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办,国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办,在北京举办&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 。   研讨会将于2013年8月20-21日在北京西郊宾馆举行,热忱邀请各位表面分析专家、学者参加,期望各位专家、学者与其他参会者进行广泛交流,探讨电子能谱表面分析与材料研究的共同发展,进一步拓展电子能谱表面分析技术在材料领域内的应用。   一、 学术委员会   主 任:朱永法,教授,清华大学   副主任:梁齐,教授,上海交通大学   成 员(以姓名首字母排序):   程 斌,教授,北京化工大学   陈 建,研究员,中山大学   丁泽军,教授,中国科技大学   董林, 教授,南京大学   付晓国,研究员,核工业部表面物理与化学国家重点实验室   郭建东,教授,中科院物理所表面物理国家重点实验室   郝建薇,教授,北京理工大学   李崧,教授,北京师范大学   刘柯钊,研究员,核工业部表面物理与化学国家重点实验室   刘芬,副研究员,中科院化学所   马农农,高工,中国电子科技集团公司第四十六所   宋伟杰,研究员,中国科学院宁波材料技术与工程研究所   宋武林,教授,华中科技大学   吴正龙,教授,北京师范大学   王金淑,教授,北京工业大学   王海,副研究员,中国计量科学研究院   谢景林,高工,北京大学   姚 琲,教授,天津大学   姚文清,高工,清华大学   卓尚军,研究员,中科院上海硅酸盐所   郑遗凡,教授,浙江工业大学   朱 健,副教授,上海师范大学   张毅,高工,宝山钢铁股份有限公司研究院   二、 会议组委会: 主 任: 朱永法 北京电子能谱中心、清华大学分析中心 副主任:李崧 北京师范大学分析测试中心 谢景林 北京大学分析测试中心 秘书长: 姚文清 北京电子能谱中心、清华大学分析中心   吴正龙 北京师范大学分析测试中心 成 员: 宗瑞隆 北京电子能谱中心、清华大学分析中心   李展平 北京电子能谱中心、清华大学分析中心   张占男 北京电子能谱中心、清华大学分析中心   常崇艳 北京师范大学分析测试中心   金波 北京师范大学分析测试中心   三、 会议时间、地点:   会议时间:2013年8月20-21日   报到时间:2013年8月19日全天   会议地点:北京西郊宾馆   四、 会议网站域名:http://m2020.meeting163.com   为便于加强同行间的交流与联系,请加入表面分析研究群,QQ:141579868。(进群后将群名片改为&ldquo 单位+姓名&rdquo )   五、 征文要求   1. 论文投稿中、英文不限。   2. 论文篇幅:一页,请不要标页码。论文题目:三号黑体,居中。作者名:小四号楷体,居中。单位名、市名、邮编:小五号宋体,加圆括号,居中,下空一行。论文正文:五号宋体。   3. 正文中小标题:五号黑体。图表:图表与正文上下、左右都隔一行或一字的空隙。小五号字体。参考文献:小五号宋体,引用不超过5篇。   4. 为扩大交流会学术成果影响,优秀论文将推荐给相关核心、EI期刊发表。   六、 截稿日期   1. 截稿日期:2013年8月10日前。   2. 摘要及全文请发至zhangzn@tsinghua.edu.cn   七、 会议注册费   一般代表1000元,学生代表800元。会务费包含论文集、通讯录、专家费、会场费及会议期间餐费。住宿会务组统一安排,费用自理。   会议不组织旅游。   汇款信息如下:   开户行:工行北京分行海淀西区支行   帐号:0200004509089131550   收款单位:清华大学   备注:化学系姚文清会务费   八、 会务组联系   联 系 人:姚文清,吴正龙   联系电话:010-62783586,010-58805597   电子邮箱: yaowq@tinghua.edu.cn,wuzhenglong36@sina.com   主办单位:高校分析测试中心研究会   全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会 承办单位:国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心   北京师范大学分析测试中心   北京大学分析测试中心   媒体支持:仪器信息网 我要测   北京超星数字图书馆   2013.7.25     会议日程安排 日期 日程安排 备注 8.19星期一 报到、注册 北京西郊宾馆 8.20星期二 开会 北京西郊宾馆 8.21星期三 开会 北京西郊宾馆   参会回执表 单位名称 联系人 地 址 邮 编 姓 名 性别 职务 电 话 传真/E-mail 手 机 演讲人 职 务 住宿标准 单间 ○ 合住 ○ 发言题目 是否提交会议论文: 是○ 否○ 论文题目:   注:为便于订房,请各参会者在7月10日之前将回执发送至:张占男 zhangzn@tsinghua.edu.cn。
  • 2014全国表面分析科学与技术应用学术会议举行
    表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科,目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同,而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展,对于表面分析技术的需求日益增多。由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展,表面分析技术也有了长足进步。目前,全球已经开发了数十种常用的表面分析技术,如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。   为了深入了解表面分析技术最新动态、最新仪器性能特点,促进同行之间的技术交流,2014年8月29~30日,2014 全国表面分析科学与技术应用学术会议在成都.四川大学举行。60余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。因为本次会议是由高校分析测试中心研究会主办,所以会议内容不只有新方法新技术研究,还有关于如何用好仪器、如何解决工作中困难方面的交流。   实验数据&ldquo 去伪存真&rdquo   此次会议交流的内容更多的围绕着XPS展开。XPS是重要的表面分析技术手段,在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用,它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析,微区分析以及深度剖析(1-2nm)等。   对于复杂的材料体系或单一体系中复杂的化学状态,XPS的谱图一般多为数个化学状态的合成峰,且有可能因为轨道杂化的不同而造成峰型的变化。实验者要从众多的复杂的XPS谱图数据中得到有价值的实验结果,需要掌握数据处理基本原则和相关技巧。清华大学朱永法教授认为数据处理是&ldquo 去伪存真&rdquo 的过程。   北京大学谢景林教授分享了其在重叠谱图拟合方面的经验技巧 赛默飞葛青亲对谢景林教授的报告进行了展开,具体介绍了非线性最小二乘拟合方法的基本思想,并且分享和探讨了如何使用实际采集谱图、参考谱图,配合非线性最小二乘拟合方法对XPS数据进行处理 岛津龚沿东从XPS谱图的本底扣除、线型选择以及其他特殊处理方法介绍了XPS数据处理的一般原则。   北京师范大学吴正龙教授介绍了通过能量去卷积的数据处理方法提高了XPS谱图质量。目前常规的XPS最佳分辨水平(FWHM)约为0.5eV(Ag3d5/2),仍不能满足多数元素价态分析的需求。而XPS分析中对谱峰展宽的贡献主要来源于仪器能量响应、X射线的线宽、样品等。而通过对表观谱进行能量去卷积处理,可以消除仪器和样品对展宽的贡献,进而提高XPS谱峰的分辨率。   应用研究热点   在国外,XPS等表面分析技术已经在生产企业中得到了广泛的应用,如进行半导体失效分析等。而在国内,表面分析技术还局限于科研单位,主要是利用XPS、AES等表面分析技术进行材料表面或界面发生的物理化学反应机理研究。研究热点主要集中在催化材料、碳纳米管石墨烯等新型材料、聚合物太阳能电池等新型器件等。   清华大学朱永法教授介绍了AES化学位移的产生、特点、影响因素等情况,以及AES化学位移在石墨、金刚石的表面吸附、固体表面的离子注入、薄膜制备、界面扩散等研究这个的应用。   铀在国民经济和国防事业中均有重要,但是金属铀的化学活性高,在环境中极易氧化腐蚀,导致其部件性能的劣化或失效,并且这种腐蚀还会带来环境的核污染。中国工程物理研究院刘柯钊研究员使用XPS等分析技术作为表征手段,研究了金属铀腐蚀行为与防腐蚀表面改性技术。   聚合物太阳能电池最有希望成为下一代太阳能电池之一。中山大学陈建教授以紫外光电子能谱(UPS)和XPS、AFS等技术,研究了醇/水溶性共轭聚合物阴极修饰层对不同电极材料功函数的影响,通过降低阴极功函数达到了提高器件能量转换效率的目的。   清华大学姚文清教授的研究对象是航空用电子元器件,这些器件长期在宇宙环境中工作不可避免的受到影响,可能引起器件的密封破坏等而最终失效。姚文清教授通过在超高真空系统中对器件进行紫外辐照、温度变化、电场变化等试验,在此环境下对航空用电子元器件进行原位模拟腐蚀,并采用AES等表面分析技术对器件腐蚀进行微观评价,建立器件腐蚀和失效的早期判断新方法。   南京大学高飞教授通过外置原位电池的应用,利用实验室现有常规XPS获得催化剂材料在真空条件下的准原位 (Ex-situ)信息。结合相关表征手段,准原位XPS成为了探究催化剂在反应条件下反应过程的有利工具。 与会人员合影   2012年,清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织召开了第一届全国表面分析科学与技术应用学术会议,此后该会议每年举行一次。今年是该会议第三次举办,会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办,国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、四川大学分析测试中心共同承办。2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议将由宁波新材料所承办。

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  • 【原创】2008年表面分析技术学术研讨会的通知,大家去吗?

    中山大学与赛默飞世尔科技(上海)有限公司共同举办表面分析技术学术研讨会。会议时间定于2008年12月1日至12月5日在广州市中山大学举行。会议期间的主要议程包括: 聘请国内外专家做应用方面的报告;􀂒 表面分析技术学术报告;􀂒 介绍新型仪器的功能特点;􀂒 参观仪器及操作使用的演示;􀂒 分组交流。会议日程:11.30,星期日,报到、注册,住广州四天,然后去香港和澳门各一天。

  • “比表面与孔径分析原理及应用”免费讲座福利包拿走不谢!

    [align=center][b][color=#ff0000]《比表面与孔径分析原理及应用》系列讲座之第一讲 [b]氮吸附法比表面及孔径分析原理[/b][/color][/b][/align][b][color=#ff0000]主讲人:[/color][/b]钟家湘,北京理工大学材料学院教授,获得国务院颁发的政府特殊津贴;2004至2017年,担任北京精微高博科学技术有限公司学术带头人,曾研发成功多种系列的氮吸附比表面及孔径分析仪,被誉为中国氮吸附仪的开拓者,2015年获我国第二届科学仪器行业“研发特别贡献奖”。[b][color=#ff0000]开讲时间:[/color][/b]2018年7月5日 10:00[b][color=#ff0000]免费报名链接:[/color][/b][url]http://www.woyaoce.cn/webinar/meeting_3335.html[/url][b][color=#ff0000]课程简介:[/color][/b]本讲主要介绍超细粉体材料比表面及孔径分布的基本概念;吸附科学在比表面及孔径分析中的应用要点;氮吸附比表面测定原理;氮吸附孔径分布测定原理。比表面与孔径分析原理及应用专家系列讲座之课程目录第一讲 氮吸附法比表面及孔径分析原理第二讲 连续流动色谱法比表面仪原理及应用第三讲 超细粉体表面孔径分布的表征与测试原理第四讲 静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用第五讲 超微孔孔径分布的分析原理及方法第六讲 密度函数理论在孔径分析中的应用 这样的学习充电机会你舍得错过吗?[b][color=#ff0000]系列课程链接:[url]https://www.instrument.com.cn/ykt/video/106_0.html[/url][/color][/b][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20170916/a327e21777b4435893b261c0d2dea633.gif[/img]

  • 10月18日直播|《比表面与孔径分析原理及应用》系列讲座之第三讲开播啦!

    [b][color=#ff0000]讲师介绍:[/color][/b]钟家湘 : 北京理工大学材料学院教授,获得国务院颁发的政府特殊津贴;2004至2017年,担任北京精微高博科学技术有限公司学术带头人,曾研发成功多种系列的氮吸附比表面及孔径分析仪,被誉为中国氮吸附仪的开拓者,2015年获我国第二届科学仪器行业“研发特别贡献奖”[color=#ff0000][b]内容简介:[/b][/color]本讲主要详细介绍:超细粉体中孔径分布的氮吸附法的分析原理;孔径分布的表征方法,各种表征参数的正确含义;BJH法进行孔径分布的分析中,值得注意的若干问题。比表面与孔径分析原理及应用专家系列讲座目录第一讲 [color=#ffffff]1.[/color]氮吸附法比表面及孔径分析原理[color=#ffffff][/color]第二讲 连续流动色谱法比表面仪原理及应用第三讲 静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用第四讲 氮吸附法介孔与大孔的测试与分析第五讲 氮吸附法微孔的测试与分析第六讲 密度函数理论在孔径分析中的应用[b][color=#ff0000]免费报名链接:[/color][/b][url]https://www.instrument.com.cn/ykt/course/live/index?sid=115[/url][b][color=#ff0000]直播时间:[/color][/b]2018/10/18 10:00[b][color=#ff0000]温馨提示:[/color][/b]本讲座直播免费哦,点播需购买整个系列讲座,详情见[url]https://www.instrument.com.cn/ykt/course/course/detail?sid=106[/url],还有8个免费名额哦,先到先得![color=#ffffff]2.连续流动色谱法比表面仪原理及应用[/color][color=#ffffff]3.[/color][color=#ffffff]静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用[/color][color=#ffffff]4.氮吸附法介孔与大孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]5.氮吸附法微孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]6.密度函数理论在孔径分析中的应用[/color][color=#ffffff]1.氮吸附法比表面及孔[/color][color=#ffffff]径分析原理[/color][color=#ffffff]2.连续流动色谱法比表面仪原理及应用[/color][color=#ffffff]3.[/color][color=#ffffff]静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用[/color][color=#ffffff]4.氮吸附法介孔与大孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]5.氮吸附法微孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]6.密度函数理论在孔径分析中的应用[/color]

表面分析科学与技术应用学术会相关的资料

表面分析科学与技术应用学术会相关的仪器

  • 仪器简介:仪器名称:Zeta电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料表面性能。 主要应用:材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性,设计新型、特定性质的材料,如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压(电势),SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性,这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位: 范围:所用测量原理决定没有限制再现性:+/-0.5 mV 等电点: 再现性:+/-0.1 pH 平板固体: 最小 35 mm x 15 mm,厚度20 mm, 20 mm x 10 mm,厚度2 mm, 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维: 最少重量 100 mg 粉末: 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量: Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析: 适用于实际样品,无需使用示踪颗粒 主要特点:测量原理 : 在电化学双电流层的模型中,电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离,由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势,相应的流动电势系数为dU/dP, Zeta 电位表示为: 固体表面特性,粘性,介电常数,电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时,需要说明电解质溶液的类型,浓度,pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池,由此产生一个压差,其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压,这个流动电压/ 流动电流(可选择)由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率,温度及pH值。
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  • 手持式表面分析仪 400-860-5168转3827
    表面处理是一个关键的制造过程。然而,大多数制造商都支持表面技术曲线,并且依赖于过时的方法(如达因和胶带剥离),这些方法是缓慢的,主观的或破坏性的。而我们开发了一种可访问的解决方案,可以解决所有这些问题,为工厂车间提供表面验证。该款手持式表面分析仪是利用我们在表面工程和材料科学方面的丰富经验而创建的。每次测试只需两秒钟,您现在可以验证您的表面是否已经可靠地为粘附做好准备...每次,每一天,每个部件。快速只需两秒钟即可分析您的表面,以确定它是否已准备好粘合,涂漆,密封,涂层,打印或清洁简便安卓系统支持在任何表面上,从任意方向,轻松进行手持式检测准确向用户提供精确,可重复的测量 绝对没有涉及主观性非破坏性使用HPLC高纯水进行接触角测量,避免材料损坏应用工艺:?粘接?密封?涂样?涂层?印刷?清洗应用领域:?航天?电子产品?汽车?医疗设备?消费品用于检测:?复合材料?金属?聚合物?玻璃?生物表面?一些纺织品
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  • 一.微针表面吸湿性测试仪介绍微针,是一种注射形式,针头直径约为头发丝十分之一,插在皮肤上的疼痛感比普通针头大为减轻。作为一种新型技术,微针技术整合了注射与贴剂两种优势,可实现居家条件下无疼、自主输送功效分子或提取机体生理指标。微针近几年在皮肤健康、药物新剂型的产业链条逐渐明晰。多个微针药物已进入临床试验,疾病种类跨越糖尿病,疫苗,肿瘤等。国际国内微针技术企业正迅速壮大。具有前瞻性的药企也在加紧布局微针剂型的管线。基于微针技术的医美、生美产品正汹涌入市。微针也正成为可穿戴领域微量体液提取瓶颈问题的解决方案。学术前沿领域的微针应用基础研究也迅速攀升。上海保圣微针强度测试仪属于高精度材料物性品质研究仪器,用于生物医疗材料精准物性分析,可用于微力领域精准测定,测定微小样品和微小力。依据微针的特性及不同类型,可以用保圣微针强度测试仪测定微针的强度、微针屈服性能、微针断裂力,从而为微针的设计、工艺、研发和质量控制提供帮助。二.微针表面吸湿性测试仪应用上海保圣高精度力学分析仪器TA.XTC-18特别适用于高精度材料物性品质研究,反应灵敏,根据样品形态可智能调节追踪速率,对于微针、微球、微胶囊等精细样品力学性能准确测定。上海保圣TA.XTC-18可以准确测定微针(MN)应力-应变曲线,获取微针的屈服力,微针屈服强度MNs yielding force;微针破裂强度测定MN breaking force,上海保圣物性测定仪(质构仪 Txeture Analyzer)可应用猪皮穿透测试insertion into pig skin,评估微针(MN)透皮性能,从而对微针强度进行分析。三.微针表面吸湿性测试仪特点质构仪可以测试微针物性参数,比如微针与基质硬度、粘度、强度、杨氏模量等,真实皮肤和机械皮肤模型在微针穿刺性能评价中应用广泛,可用于评价微针的刺入力、刺入率和刺入深度,渗透皮肤模型可用于评价微针的溶解速度和渗透量,组织皮肤模型可用于角质层模拟及其相关评价。皮肤是一种复杂的生物粘弹性材料,且皮肤表面不平整、有沟壑,微针刺入时不能垂直进入皮肤,皮肤的各层结构如角质层、真皮层也会对微针刺入造成阻碍。微针能够刺破皮肤所需的最小力即刺入力。刺入力的测定受到微针参数、施加力、测定方法、皮肤种类、环境条件等诸多因素的影响。四.微针表面吸湿性测试仪参数1.操作简单科学,检测灵敏度高。2.采用高性能、无级调速驱动系统,可根据实验需求设定测试速度。3.软件自带多种算法,实验数据即时显示,实验结果自动汇总,历史数据随时读取。5、 仪器参数:1、力量感应元精度:0.0001 g;2、位移精度:0.001mm(精度同时同步到软件显示上);3、升降臂全距:0-320mm;4、升降臂移动速度:0.001-40 mm/sec;5、软件数据采集率:不低于2000组/秒,每组4个通道同时读取;6、力量感应元:100g、500g、1kg、5kg、10kg、20kg、30kg、50kg、100kg可选;7、仪器硬件功能:仪器带有软键盘,脱离软件进行上下控制,硬件部分含紧急停止装置、上下极限控制装置、机器有足够宽敞的样品放置台面;8、仪器操作:软件曲线和测试结果同时显示在一个界面上,上面是曲线,下面对于测试数据。测试数据如力,时间,距离,样品高度在测试过程中同步显示到的软件。软件页面中英文可调,操作简单容易上手,数据分析时不需另外撰写分析程序,用户可直接勾选所要的参数,软件即可自动计算结果
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表面分析科学与技术应用学术会相关的耗材

  • 等离子体表面清洗器配件
    等离子体表面清洗器是等离子体表面处理前对样品表面清洗、活化和净化的专用表面活化仪器和表面清洗仪器,非常适合对温度敏感材料的表面处理,如塑料。等离子体表面清洗器适合难以接触的样品表面清洁处理,如狭窄的裂缝,毛细血管或狭小孔洞。等离子体表面清洗器特点由氩供电。减少或氧化气体的混合物可以达到百分百。只要简单操作其电极头,就可以转换该装置处理分子气体,如空气或氮气。作为高新技术,广泛用于科学研究和工业应用,是材料表面处理中不可缺少的工具。等离子体表面清洗器特征 紧凑便携, 操作简单 等离子表面清洗器应用广泛 激活 精洗 去污 ?处理 温度敏感材料 复杂的几何图形 很难接触的位置 精确和逐点操作 由惰性气体和分子气体提供能源 轻松加工一体化等离子表面清洗器产品概述 描述 用于表面处理的紧凑型常压等离子体源装置 手持装置尺寸 180mm,?20mm(1.50m 电缆接头) 手持装置重量 170克 手持装置保护类型 IP30 基本单元尺寸 105x 180 x 330mm(高x宽x深)基本单元重量 4kg 基本单元保护类型 IP40 电源 110-230 VAC,50 / 60Hz 功耗<50W 在230V,50赫Hz 运输和储存条件 温度-40°C - 70°C REL。湿度10% - 100% 工作条件温度15°C - 40°C相对湿度15% - 75% 气压 800 hPa -1060 hPa 资源 加工气体 氩* *根据要求,提供其他气体和混合物 气流 3-8升/分钟 *内置流指示器与安全关闭 引入压力2-3bar 绝对 气体温度 60°C 交付内容 kinpen® 基本单元包括手持装置 电极头(预装)线
  • 纳谱分析表面活性剂专用色谱柱 ChromCore SAA表面活性剂专用色谱柱
    ChromCore SAA是一款以先进的单分散、高纯、多孔硅胶为基质, 采用独特的表面键合和修饰技术,经优化装填而成的高性能色谱柱,采用混合机理模式,专用于生物制药领域中性表面活性剂含量分析。纳谱分析 表面活性剂专用柱 ChromCore SAA表面活性剂专用色谱柱 参数:纳谱分析 表面活性剂专用柱 ChromCore SAA表面活性剂专用色谱柱 特点:单分散硅胶微球,机械强度高对中性表面活性剂表现出良好选择性,柱效高,峰形好 柱流失低,兼容通用型检测器 柱间重现性一致纳谱分析表面活性剂专用柱 ChromCore SAA表面活性剂专用色谱柱 货号信息:Product NameParticle Size(µ m)Length(mm)ID (mm)4.6ChromCore SAA5250S014-050018-04625S150S014-050018-04615S
  • T-SERS表面增强拉曼芯片
    T-SERS表面增强拉曼芯片: 可以增强1000万倍信号!! 纳米雕刻表面增强拉曼散射(SERS)@银 -表面光谱技术 自然界里的分子与细胞皆有拉曼光谱指纹,但是其信号微弱 纳米表面增强基板可将拉曼光谱讯号增强数百万倍以上的强度,解决光谱分析上的困难。T-SERS表面增强拉曼基板使用新颖的纳米雕刻技术,藉由等离子体在近场金属纳米结构的交互作用,增强待测目标的拉曼讯号。 气相沉积纳米雕刻技术 纳米雕刻技术属于一种物理气相真空镀膜方式,使用电子枪系统将粒状固态金属靶材溶化并以磁场轰击转换成气态分子,在基板上成长纳米孔隙结构 借着调整基板载台的方向与镀膜参数可以控制纳米结构的尺寸与外型。此镀膜技术具有大面积、高均匀度之特点。TRES表面增强拉曼基板使用常见的金属材料(如金、银、铜等),做为激发广波长范围的纳米等离子体结构,可有效的增强待测分子或细胞的拉曼信号。 相比于目前市场上可增强100万倍信号的产品,T-SERS的效果可以再增强1个数量级以上。如下图,我们可以探测到0.1ppm级别浓度的三聚氰胺。 优点 &bull 适用于宽光谱激光激发范围(532nm到 785nm, 可选:1064nm) &bull 一千万倍表面增强拉曼信号(大多数吸附表面待测分子) &bull 高表面结构均匀度与良好拉曼信号重复性 应用项目 &bull 植物病毒检验 &bull 食品安全 &bull 农作物农药残留检验 &bull 环境污染监测 &bull 药物成份分析 &bull 细胞、病毒侦测 &bull 水污染侦测 &bull 科学辨识 T-SERS表面增强拉曼芯片规格 有效区域 标准尺寸: 3 x 3mm2 客制尺寸:2 x 2mm2 ,4 x 4mm2 金属镀膜/硅芯片 基板 载玻片(75mm x 25mm x2mm) 金属材料 银 制程方式 物理气相沉积 适合激发波长/量测条件 标准 :532nm, 633nm, and 785 nm 选配:1064nm 10X物镜倍率 湿式量测(建议) 增强倍率 10,000,000 (大多数可吸附表面之待测分子)@Rh6G 产品代码 TRES_SUB_AG

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