波前测试系统

波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小，可以分析宽范围内的波长，也可以测量连续波，飞秒级的脉冲辐射，是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器（分析仪）可以轻易地置入自适应光学系统中使用！波前分析仪测量结果显示：桌面： PV, RMS. 以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差（倾斜、离焦、像散、彗差、球面）。 激光束表征参数。 图形窗口： Hartmannogram图像。 各种相位和光束强度（灰度或调色板）的3D,2D图形分布图，合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。 光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。 不同类型的光束孔径（圆形，椭圆，矩形，多边形）。 对齐选项。 报告以多种格式储存，可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面，界面上有菜单，热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心，教育和研究实验室。 生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。 制造业，使用激光辐射为工具用在不同技术领域，特别是必须要精确控制光束的应用 研究光学测试设备的制造业。 医疗和诊断中心。 范例，该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统（AOS）。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射，然后从可变形反射镜发射，穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。 波前分析仪配件: 光学接口：调整系统，让光束准直可达100 mm。 固定支架上是中性密度滤光器（30%，1%，0.1%，直径25mm，光学质量是λ/ 10）。 平面参考波前源（准直器，一个波长的光纤耦合激光器，固定支架）。 STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格 波长范围, mm 400...1100 传感器的孔径（布局）, mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8) 相机分辨率 744х480 pixels（1 / 3“相机的基础版本） 微透镜阵列参数， （间距，mm-焦距，mm）0.15 - 6（基础版本） 微透镜数 30x18 (42x32) 帧速率 60 Hz 波前精度 波长/ 10 波前动态倾斜范围 波长*50 尺寸 55 x 55 x 70 mm

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

波前传感器ML4560.波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成，它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的，基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析，并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头，可随意的对光束进行分析。规格：