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光暗测试系统

仪器信息网光暗测试系统专题为您提供2024年最新光暗测试系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括光暗测试系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的光暗测试系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合光暗测试系统相关的耗材配件、试剂标物,还有光暗测试系统相关的最新资讯、资料,以及光暗测试系统相关的解决方案。

光暗测试系统相关的论坛

  • 如何根据疲劳灯和暗电流的测试结果分析ARL光谱仪器故障

    资料上说疲劳灯试验用来判断仪器光学系统所出现的问题;暗电流试验用来测试仪器的电子系统。 如何根据疲劳灯和暗电流的测试结果分析ARL光谱仪器故障?疲劳灯的测试结果是否在同一个描迹周期内才会有效?暗电流结果在逐渐降低,有需要做些什么样的维护工作?

  • 【求助】暗电流测试与恒光测试失败怎么办??

    我们使用的是斯派克公司的Spectro Lab M9型直读光谱仪,最近做暗电流测试(dark current test)和恒光测试(constant light test)时结果为失败。首先想问下判断暗电流测试和恒光测试成功与否的条件是什么?其次想问下出现这样的问题应该怎么解决?希望知道的大侠指点下,谢谢!!

  • OBLF的仪器有灯曝光测试和暗电流测试功能吗?

    众所周知,直读光谱仪的灯曝光测试和暗电流测试这两个功能非常实用ARL和斯派克以及国内的直读光谱仪均有这两个功能,但是前段时间接触了一台OBLF的仪器GS1000,以最高权限登陆,找遍了整个软件也没有找到灯曝光和暗电流测试这两个功能,也仔细查阅了OBLFWin 2008版的软件手册,里面根本就没提到这两个功能我就纳闷了,难道OBLF的仪器没有这样的功能?还是只有他们的工程师才有权限使用这些功能?欢迎熟悉OBLF的朋友前来交流!

  • 求教,紫外分光光度计的暗电流和系统基线及测试数据的关系

    1.在紫外2802开机过程中,在测量系统基线时,出现从波长从1100到190的过程,到1080左右就卡住,后来通过调整暗电流,可以完成系统基线测量,但暗电流具体数据部知道如何测量2.测试乙二醇样品:空白校正时,测试在220 275 350nm下,空白值都为100,但拿乙二醇样品测试,数据显示100 106-110 100,正常应该为80,98, 100,氘灯没有问题的。故请教暗电流和系统基线及测试数据的关系,请帮忙解答,或针对描述,给出你们的解决之道,为谢。

  • 【资料】暗电流和灯试验的区别

    (1) 暗电流是检测电气元件干扰的,疲劳灯是检测光学系统质量的。(2) 暗电流测试是要测定暗信号及光为“O”(也就是没有激发试样、没有任何光进入测量系统时)的测试的光强。就像您电子天平什么也没有时到底显示多少;二所谓的灯测试(其实应当叫有光测试)就是给测量系统一个固定的光,看看测试系统有多大的计数。注意:灯测试不是任何通道都有明显的计数!那些元素通道的光电倍增管不能接受可见光的(即日盲管)可能就测量报出光强度,但是不能证明这个通道有问题。这两个测试的计数,和光栅、光源、入射狭缝、快门、透镜、激发台等等没有任何关系。

  • 关于光暗电导激活能以及缺陷态能谱的测试仪器问题

    请教大家关于光暗电导,激活能以及缺陷态能谱的测试仪器,这些测试需要用到哪些仪器,少子寿命分析仪器可以完成这些内容中的哪些测试?我们做的是薄膜材料电池,因此需要这方面的测试仪器,如果有熟悉这块的人,请留下联系方式,小弟不胜感激

  • 【分享】终于找到光电化学测试系统了

    买了Princeton Applied Research 2273,但是一直想配一套光电化学测试系统找了好长时间才找到,呵呵费劲呀贴出来给大家太阳能电池光谱响应/光电化学测试系统生产商 美国阿美特克有限公司(Ametek Co.)Princeton Applied ResearchSolartron Analytical技术支持:021-64268111-40 [zhlichem@163.com[/email]021-64268111-39 [saterday365@sina.com[/email]010-85262111-15本来想购买德国CIMPS的,结果他们的销售说不单卖光电化学测试系统,sigh这生意做的让我郁闷你说我买了2273,还会再买一套Im6e?

  • MPI-B型多参数化学发光分析测试系统

    技术参数 1.MPI-B型多参数化学发光分析测试系统—多功能化学发光检测仪: * 测量动态范围:大于5个数量级 * 测量精度优于0.05% 2.MPI-A/B型多功能化学发光检测器: * 波长范围:300—650nm * 灵敏度: SP1000A/Lm 上述两项构成了基本化学发光分析系统 3.MPI-B型多参数化学发光分析测试系统—电化学分析仪: * 电位范围:-10V—10V * 电流范围:±250 mA * 参比电极输入阻抗:10E12Ω * 灵敏度:1x10E-12—0.1A 共16个量程 * 输入偏置电流:50pA * 电位增量:1mV * 扫描速率:0.0001—200V/S * 测试方法:循环伏安法(CV),线性扫描伏安法(LSV),计时电流法(CA),计时电量法(CC),控制电位电解库伦法(BE),开路电压—时间曲线(OCPT) 4.MPI-BH/BU型多参数化学发光分析测试系统—毛细管电泳高压电源: * 输出电压:0—20KV * 输出电流:0—300uA 5.MPI-BF/BE型多参数化学发光分析测试系统—微流控芯片多路高压电源: * 输出路数:4路(BF型),8路(BE型) * 输出电压:0—2000V/路 * 输出电流:0—2mA/路 * 高压接出方式:输出、断开、接地 * 输出电流保护控制:0—2mA * 设置程序步:10步 6.MPI-B型多参数化学发光分析测试系统—数控流动注射进样器: * 高精度蠕动泵宽范围数字调速系统:调速范围 0—99 转/分。 * 可实现多达12路管道进样(6道/泵)。 * 两独立16通道自动/手动阀,换向时间≤0.3S 技术文章 此仪器没有任何技术文章 主要特点 1.用于化学发光机理与方法研究。 2.用于化学发光应用研究。 仪器介绍 MPI-B型多参数化学发光测试系统是西安瑞迈分析仪器有限公司最新研制开发的,基于WINDOWS 系统操作平台的高性能分析测试装置。依托于系统所拥有的多通道化学分析数据采集与分析测试部件及多功能化学发光检测器(基本系统)和众多的专用分析控制部件,本仪器可应用于各种化学发光分析,如静态注射化学发光、流动注射化学发光、电化学发光、毛细管电泳化学发光、微流控芯片化学发光及多方法连用化学发光分析等。本系统采用的组合式结构,允许用户采用不同的部件组合构成各种化学发光测试系统。

  • 【原创大赛】SGS解析:CIE A-α测量系统在灯具配光测试中应用

    【原创大赛】SGS解析:CIE A-α测量系统在灯具配光测试中应用

    [align=center]SGS解析:CIE A-α测量系统在灯具配光测试中应用[/align][align=left]车用灯具是涉及到车辆和人身安全性的重要部件,其配光技术要求被列为汽车法规或强制性标准检测项目。[/align][align=left]目前,灯具配光测试主要是依据欧洲ECE和美国SAE两种标准体系进行,但在最新发布的2007版国标中,试验方法、项目、要求等已经和ECE法规一致。[/align][align=left]灯具配光测试,是指对灯具或者光源发射出的光在的空间分布进行测量,并显示在定义的角度位置上相对于人眼的可见光的光度特性。[/align][align=left]SGS汽车灯具实验室,采用目前国际最先进的CIE A-α测量系统进行灯具配光测试。该系统在测试过程中,探头保持静止,灯具绕垂直轴(A平面轴)和水平轴(α轴)转动,从而得到整个空间的光强分布。[/align][align=left]该系统探测器的测试距离在1.41m至11.41m之间,灯具装在可绕水平和垂直两个方向选择的转台上。[/align][align=center][img=,690,257]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808161613037693_7441_2883703_3.jpg!w690x257.jpg[/img][/align]在计算机控制下,电机驱动垂直/水平轴线旋转,被测灯具水平转动范围±180°,垂直转动范围±90°,角度精度最高0.01°,光度探头进行测量灯具在该平面上各个方向的发光强度。当一个平面测量完毕后,水平轴电机驱动灯具转过某一角度,然后光度探头再测量另一平面上的光强分布。通过垂直主轴连续旋转,水平轴间断运动,实现灯具在空间各个方向上的光强分布数据的测量。该测试系统,配备高精度快速光谱辐射计(实验室级),可测1μs的极快闪光全谱,0.3%的极高光度线性,到达0.01mcd的极高灵敏度,0.0015x,y的极高色坐标精度, 5.00E-05的极低杂散光水平,覆盖200nm-2550nm的极宽光谱范围。完全满足美国IESNALM-79和中国GB/T 24824等标准要求,可实现LED的瞬态光学特性测量(脉冲测量)及稳态光学特性测量(直流测量)。在该分布光度计测试系统中,被测LED产品仅绕转到中心转动,环境温度变化和周围气流都比中心旋转反射镜式分布光度计要小的多,若LED产品的散热对燃点姿态不敏感,则LED产品在这类分布光度计中的稳定性较高,能达到很高的光强分布测量精度,相应的总光通量测量精度也会较高。

  • 大型暗室测试不再是难题

    大型暗室测试不再是难题

    随着电磁研究的深入和电子技术的发展,天线的发展和应用已经渗透到导航、通信、电子对抗和雷达等诸多领域,多波束天线可通过相控阵同时或分时地形成多个相互独立的发射或接收波束,实现波束形状的灵活控制和波束指向的迅速切换。目前最广泛应用的相控阵天线测试方法主要有三种:远场法、近场法和紧缩场法。每种测试方法都有各自的优缺点,如远场测量适用于低增益、低频天线的测量;近场测量适用于高增益、高频、口径全息测量等,测试方法的选择需要对各种因素进行折中考虑。本文对相控阵天线的远场测试方法进行了论述研究,主要包括EIRP、G/T 值以及方向图等指标特性。受限于实施基站天线远场测试时间和成本,许多移动运营商不能如愿测试天线。因为搭建远场需要极远距离,所以不适宜直接在全电波暗室测试远场。很难找到室外测试基地,并且使用室外基地受天气因素所限。这就要求有特定房间能够运用特定技术测试大型天线。另外,许多基站天线经过机械调整会改变阵列模式,这就需要一种拥有多个设置的测试方法。基于上述困难,在全电波暗室进行测试每天至少要花费1800到2000美元,每次测试需要3到4天。如果测试表明设计要改良,移动运营商很可能要进行额外的测试,除非他们在全电波暗室测试前进行了预测试。预定全电波暗室测试长达两或三个月,所以仅预定这项测试就使项目发布延迟了相当多时间。为克服这些困难,一家大型移动运营商的工程师们采用了EMSCAN RFX2天线模型测试系统。桌面扫描仪生成天线测试数据,把结果映射到远场模型上。这种情况下,测试组在700MHz和1950MHz的环境下进行测试。由于阵列尺寸超过了扫描仪可扫描的范围,测试组不能通过一次来测试天线。为解决这个难题,他们进行了四次扫描,每40cm扫描一次,形成总共160cm*40cm的扫描面积。[b]测试设置[/b]注意图1中天线阵悬浮于RFX2扫描仪上方最大可支撑距离115mm处来使扫描仪和在测天线之间影响最小化。在测天线阵重20kg,长150cm,宽 30cm,厚15cm。下图1中第一个测试位置RFX2接近天线阵顶部。覆盖扫描仪的吸收材料也有助于最小化人工移动扫描仪40cm向下一段位置时的影 响。如此移动扫描仪对应于扫描仪的扫描范围。测试期间,当工程师们手动扫描仪到下一段位置时,他们借助于网络分析仪监控天线的S11。吸收材料正如所期望 那样发挥效用,当扫描仪移动时回波损耗几乎无变化。第一个扫描仪测完第一段之后,扫描仪向左移动40cm由第二个扫描仪进行测试,无其他变化。每次扫描耗 时不到2秒,测试组直到四个扫描仪完成扫描之后才把扫描仪移动到接下来的测试位置。每个随后的测试与之前扫描面积重叠形成一个校准点把四个扫描仪准确的连 成一线。整个测试及后续处理时间需要约30分钟。[align=center][img=,412,241]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281637374582_4789_3345709_3.png!w412x241.jpg[/img][/align][align=center]图1:测试设置[/align][b]700MHz时结果[/b]使用后续处理技术,测试组把四个图像合为一体。这样四个测试位置之间形成相位连续性。尽管在这个研究实例中相位改变是手动实现的,但因为硬件研发中的一 个小小变化相位连续性是自动的。图2为700MHz时采用非常近场测试的电磁场(H-field)合并结果。下图中每个图分别列有Hx振幅,Hy振 幅,Hx相位和Hy相位。每幅图的右边通过连接器对应天线的末端。[align=center][img=,393,513]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638001972_9488_3345709_3.png!w393x513.jpg[/img][/align][align=center]图2:700MHz电磁场(H-Field)[/align]运用后期的处理技术把700MHz时的近场测试结果处理转化为远场结果,接着运用定制化的、拥有专利程序将其转换成远场结果,同时,消除测试阵列中可预测的耦合效应。[align=center][img=,389,235]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638214372_7696_3345709_3.png!w389x235.jpg[/img][/align][align=center]图3:700MHZ辐射图VS产品说明书中数据[/align]下图所示1950MHz时结果与第4页700MHz时结果相同。图4中每幅图分别列有Hx振幅,Hy振幅,Hx相位和Hy相位。[align=center][img=,381,516]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281638446364_4408_3345709_3.png!w381x516.jpg[/img][/align][align=center]图4: 1950MHZ时电磁场(H-Field)[/align]运用同样后期的处理技术和定制程序把1950MHz时的近场测试结果处理转化为远场结果(如下图5)。我们注意到这两个波长结果图与700MHz时波长结果图有相似之处,但1950MHz的波长光速更窄,水平方向不像700MHz波长结果图所显示的那么全方位。[align=center][img=,390,238]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803281639033232_2048_3345709_3.png!w390x238.jpg[/img][/align][align=center]图5:1950MHZ辐射图VS产品说明书中数据[/align][align=center]注:Φ=0°是垂直截面,Φ=90°是水平截面[/align][b]结论:近场天线测试的优势[/b]所有移动服务运营商都面临测试大型基站天线的问题。测试这种天线需要配有特殊性能极大且昂贵的全电波暗室。对于这些运营商来说,RFX2天线特性测试系统解决了在大型暗室测试的难题,即高的让人望而却步费用及耗时的测试过程。

  • 太阳能电池全套测试系统

    太阳能电池(光电材料)I-V特性测试系统 目前,石油、天然气等不可再生能源价格的居高不下,使得人类对太阳能电池(光电材料)的研究开发进入了一个新的阶段,国内很多实验室和科研院校也都加紧了对太阳能电池材料(光电材料)的研究和开发。 太阳能电池(光电材料)测试作为太阳能电池(光电材料)研究开发的一个环节,至关重要,需要专业的测试系统来完成。针对当前人们对太阳能电池材料(光电材料)的研究和开发,以及太阳能电池(光电材料)研究人员搭建太阳能电池(光电材料)测试系统的耗时耗力,我公司特推出太阳能电池(光电材料)测试系统,并已在很多太阳能电池材料(光电材料)研究、测试实验室广泛使用。 一、我公司太阳能电池(光电材料)测试系统的优势: 1. 技术服务全面 我公司始终把客户需求摆在首要位置,针对客户特殊需求量身定做,为客户提供全套解决方案,终身提供技术服务,为客户节省了搭建太阳能电池(光电材料)测试系统所消耗的时间和人力物力,同时也得到了客户的一致好评。 2. 针对性强 凭借雄厚的光电技术知识和行业经验,针对不同类型的太阳能电池(光电材料)以及客户对测试系统的不同需求,我公司对太阳能电池(光电材料)测试系统也做出了相应的调整,以达到较好的测试效果。目前,针对硅太阳能电池、多元化合物为材料的太阳能电池、功能高分子材料制备的大阳能电池、纳米晶太阳能电池等不同的太阳能电池,我公司也都搭建了不同的测试系统。 3. 性价比高 我公司太阳能电池(光电材料)测试系统采用国外知名公司仪器集成,信噪比高,性能稳定,技术先进,对太阳能电池(光电材料)的测试过程实现自动化,过程简单方便,测试结果在行业内也会具有一定的权威性和说服力。同时,我公司推出的整套太阳能电池(光电材料)测试系统具有很高的性价比。 4. 成熟的太阳能电池(光电材料)测试系统 凭借测试系统的高性价比以及全面的技术服务,我公司太阳能电池(光电材料)测试系统已在国内很多单位的实验室投入使用,包括清华大学等知名大学、国家权威的太阳能计量单位、中国科学院等研究机构以及众多的太阳能相关企业,经过大量客户对我公司太阳能电池(光电材料)测试系统的使用,证明了我公司的太阳能电池(光电材料)测试系统的成熟。 二、太阳能电池(光电材料)光谱响应测试系统简介 太阳能电池(光电材料)光谱响应测试,或称量子效率QE(Quantum Efficiency)测试,或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等,广义来说,就是测量光电材料的光电特性在不同波长光照条件下的数值,所谓光电特性包括:光生电流、光导等。我公司的光谱测试系统由宽带光源、单色仪、信号放大模块、光强校准模块、计算机控制和数据采集处理模块组成。我们可以与用户密切协作,根据用户需要测试的样品的类型、测试指标、测试条件,设计和组建最适合每个客户测试需要的系统。 三、太阳能电池I-V特性测试系统简介 我公司太阳能电池I-V特性测试系统主要用来测试太阳能电池的I-V特性等。光源光谱和强度特性可模拟各种条件下的太阳光谱(AM0、AM1.0、AM1.5、AM1.5Global、AM2.0、AM2.0Global),稳定性高,均匀性好,均可达到A类标准,多种光照射面积尺寸;样品台可控温;高精度表头、可调负载和配套软件组成的系统能够通过计算机对测试参数进行设置,并且读取数据,在计算机内进行数据处理,绘制I-V和曲线和显示其它参数并打印输出;系统还可根据客户的具体情况和特殊需求进行相应的系统扩展太阳能电池(光电材料)IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统   太阳能电池测试行业长期的经验,使得我公司太阳能电池(光电材料)IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统始终处于行业领先位置。符合IEC, JIS, ASTM标准规定,我公司太阳能电池(光电材料)IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统具有很高的稳定性和重复性。   作为光伏器件厂商和科研工作者,为了获得高效的产品,就需要一套高性能太阳能电池(光电材料)IPCE/QE/量子效率/光谱响应测试系统来帮助完成产品改进。我公司太阳能电池(光电材料)IPCE/QE/量子效率[font=宋体, MS So

  • 暗电流测试失败

    暗电流测试失败

    如题,有版友试过测试暗电流失败吗?解决方法是怎样的?谢谢!——波长校准时,偏差多大才需要调整?——安捷伦液相DAD的基线噪音和基线漂移时多少mAu?大侠们!指导下,困扰了几天了http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411281645_525093_2546482_3.jpg

  • OKB MFS-11油料光谱仪和MYLAB油液测试数据分析诊断系统联用

    OKB MFS-11油料光谱仪和MYLAB油液测试数据分析诊断系统联用OKB MFS-11是来自知名的俄罗斯光谱仪器厂商,除了火花光谱,紫外光谱仪等设备外,还为企业工业客户,研究机构等用户提供油料光谱仪,也称油料分析光谱仪,滑油光谱仪,油料原子发射光谱仪,多元素油料发射光谱仪),用于设备润滑系统检测,保障设备可靠稳定运行,为企业管理,节省资源和资金,提供有效手段。MYLAB润滑油液数据分析诊断平台是由一款以现代摩擦学理论和机械润滑理论为基础,结合工业用户设备的实际磨损原理和大量积累的实测数据为依据,为企业用户提供监测关键设备润滑系统运行状况的评估软件系统,是设备预防性维护维修的有效工具。除了可以评估诊断油料光谱仪的磨损金属元素数据外,还可以对油品酸值、水分含量、运动粘度、污染物(颗粒度)、鉄谱等数据诊断分析,从而得到多维度的综合诊断报告,对设备运维提供指导。“设备医院”设备医院是OKB MFS-11油料光谱仪和MYLAB油液测试数据分析诊断系统联用,再结合润滑油理化分析,给设备健康管理提供总体方案。

  • 【原创】紫外可见分光光度计暗电流校正浅说

    近期在分光光度计版面上许多网友谈到光度计暗电流校正的问题,为此发表一篇个人对此问题的浅显看法,以飨有兴趣的朋友。同时望版主和广大网友指正!一、什么叫暗电流在分光光度计中,光电检测器(光电倍增管或硅光二极管等)在没有受到任何光照的情况下所输出的电流信号称之为暗电流。二、暗电流的产生暗电流是光电检测器的一种特殊产物,无论是光电管(电子流)还是硅光二极管(价电子移动)只要处于通电状态均会产生暗电流;从严格意义上讲,由于分光光度计的光信号检测系统(也成为光电转换器)不仅有光电检测器同时还包括放大电路,因此放大系统对暗电流的大小、漂移及噪声的影响也不可小视。三、暗电流对分析结果的影响对于分光光度计的原理无需再赘述,如果被测样品的透过(或反射)光信号到达光电检测器后与检测器本身的暗电流信号叠加在一起被放大处理,其测试结果的可信度和真实性就会大大打折扣;实践证明,尤其在双光束双检测器类型的仪器上,如果不进行暗电流的校正,有时结果值与真实值相差甚远。四、暗电流校正与样品背景扣除的认识误区在分光光度计的应用上,人们早已认识到样品背景对分析结果的影响,为了得到真实的光谱(也称之为校正光谱)双光束分光光度计仪器应运而生。使用者在测定前在两个通道上均放入空白液或参比液,在单波长方式下仅按调零键即可,如果是做波长扫描则要做基线记忆或称为基线校正,其目的就是做背景扣除。但有些仪器使用者对暗电流校正往往忽略或不了解甚至误将背景校正看做为就是暗电流校正。五、暗电流校正的方式暗电流校正方式依据仪器的设计不同一般有两种,下面以双光束仪器为例加以说明(1)双光束双检测器仪器此类仪器大多属于中档型,为了降低成本两只光电检测器一般选用半导体器件如:光敏二极管或硅光二极管等,此种检测器的优点是价格低廉、漂移小及省却了负高压电路、相位识别电路等;缺点是自身没有放大功能,动态响应线性差,尤其在紫外区相对灵敏度低些。由于工艺制造的原因,事实上两只参数性能一摸一样的检测器是不存在的,加上放大电路的作用,两通道的样品信号和暗电流值会相差更大;因暗电流校正原因而致使测试结果不准确的故障案例中,此类型仪器站绝大多数,故此类型仪器的暗电流校正更为重要。 此类仪器的暗电流校正方法是:在测量前样品室池架内不放置任何物品,按照仪器说明书要求或显示屏幕提示将仪器附带的黑色专用挡块(与比色池大小一致)先后依次放入到需要校正通道的池架中,盖严样品室上盖后点击相应的按键即可;还有的仪器没有单独挡块附件,在仪器设计中已将挡块预先安装在滤光器或光路中,校正时只要点击相应的操作键即可。这种校正方式称为先期校正方式。(2)双光束单检测器仪器此类仪器属于高档型,检测器一般选用光电倍增管;此种检测器因为使用一只检测器故不存在性能差异问题,加之本身有增益功能,无论从灵敏度还是动态线性范围均优于半导体检测器,但它的缺点是漂移较大,需要时时校正;此类仪器的暗电流挡块一般设置在光束分裂器的扇页上,光束分裂器也称为斩波器,由一个电机带动一片圆页,而圆页被平均分为四等份扇页,其中两个对角扇页贴有反光镜,提供的光束供样品通道用;一片透光扇页提供的光束供参比通道用,另一片扇页是黑色的就是所谓的暗电流校正挡块。当分裂器电机旋转后,斩波器圆页每旋转一周所提供的光信号顺序为:样品→参比→样品→暗电流校正,由相位识别电路筛选处理;从中不难看出,双光束单检测器仪器的暗电流校正非常简单无需人工校正,这种校正方式称为在线校正方式。

  • 铁电-压电-介电测试系统

    铁电-压电-介电测试系统

    [img=,690,1054]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807061458013131_4398_3339420_3.jpg!w690x1054.jpg[/img][b]针对铁电-压电-介电材料可搭建以下测试系统:[color=#333333]*[/color]电滞回线及高压介电击穿强度测试系统;[color=#333333]*[/color]压电材料在高压下的形变(蝴蝶曲线)测试系统;[color=#333333]*[/color]电容充放电测试系统;[color=#333333]*[/color]介温测试系统;[color=#333333]*[/color]宽频介质光谱测试系统;*高压直流偏置下的介电常数电容测量介温测试系统;*TSDC,高压泄露电流和热释电测试系统;[color=#333333]*[/color]超低电流变温高压测试系统。[/b]

  • 高精度形位测试系统

    高精度形位测试系统是想测发动机或试件经受温度变化后(如从70℃到-70℃)后,尺寸的变化,用于材料的性能研究。本人不知道到底用什么仪器设备可以测试,有哪位能指点一下啊?谢谢了!其中有用电子散斑、激光多普勒测试系统进行测试的,不是太清楚,请各位指教,谢谢了!

  • ICP光谱仪波长的正确性和重复性、系统试验等校准介绍

    ICP光谱仪的仪器性能需要定期(六个月)进行校准,校准项目如下:一、波长的正确性和重复性波长的正确性和重复性利用汞灯准值即可完成。在光路入射处安装一个Hg灯,可用它的一条固定谱线来准直校正光路。按下控制面板上的汞灯键,如汞灯无读数,则按INCREASE或DECREASE键进行调整,使读数在20~100之间。进入ICP软件,启动运行光谱仪中的多色仪校准程序,计算机会自动找到峰值位置,狭缝汞线对正汞的出射狭缝,其它元素通道的出射狭缝也就对正了。二、系统试验1,电子试验:通过置换PMT信号的试验电压来测试积分器和A/D转换器电路,检查测量系统,结果应符合出厂技术要求。2,渗漏试验:检查积分模拟开关的状态,结果应符合出厂技术要求。3 ,暗电流试验:在每个通道上进行测量,以便测定在无光条件下由光电倍增管产生的残余电流,结果应符合出厂技术要求。4,稳定性试验:用来长期测试系统电子元件,仪器开机稳定后,4小时内每间隔15分钟测量一次,共16次,然后由计算机算出相对标准偏差(RSD%),结果应符合出厂技术要求。三、检出限的校准在 ICP光谱仪处于稳定状态后,用6%盐酸溶液进行雾化,测量各个元素的检出限,依据日常分析范围和出厂要求,判断仪器是否合格。四、精密度的校准在 ICP光谱仪稳定后,用标准溶液进行雾化,按照设定的计算机程序连续测量12次,此组数据不得取舍或补测,由计算机算出平均值、标准偏差和精密度RSD。五、测量准确度的校准ICP光谱仪稳定后,光路准值,在适宜、正确的格式文件下,用适中的标准样品对工作曲线进行标准化校正,对检查样品进行测量,结果应符合GB222-84要求。

  • 【求助】恒光测试过不了

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