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冠层测量系统

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冠层测量系统相关的资讯

  • 稀疏冠层成像分析系统—LAIPhoto
    table width=" 643" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" border=" 1" tbody tr style=" height:25px" class=" firstRow" td style=" border: 1px solid windowtext padding: 0px 7px " width=" 127" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 成果名称 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: windowtext windowtext windowtext currentcolor border-style: solid solid solid none border-width: 1px 1px 1px medium border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " valign=" bottom" width=" 516" height=" 25" p style=" text-align:center line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family:宋体" 稀疏冠层成像分析系统—LAIPhoto /span /strong /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 127" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 单位名称 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 516" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 北京师范大学 /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 127" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 联系人 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 155" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 屈永华 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 150" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 联系邮箱 /span /p /td td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 211" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" qyh@bnu.edu.cn /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 127" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 成果成熟度 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 516" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" □正在研发& nbsp & nbsp □已有样机& nbsp & nbsp □通过小试& nbsp & nbsp □通过中试& nbsp & nbsp √可以量产 /span /p /td /tr tr style=" height:25px" td style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 127" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 合作方式 /span /p /td td colspan=" 3" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext currentcolor border-style: none solid solid none border-width: medium 1px 1px medium padding: 0px 7px " width=" 516" height=" 25" p style=" line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" □技术转让& nbsp & nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp & nbsp √合作开发& nbsp & nbsp & nbsp □其他 /span /p /td /tr tr style=" height:113px" td colspan=" 4" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 643" height=" 113" p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 成果简介: /span /strong /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/880e33fe-14ca-439a-80af-47200c75210b.jpg" title=" 9.png" style=" width: 400px height: 315px " width=" 400" vspace=" 0" hspace=" 0" height=" 315" border=" 0" / /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/b51cde3c-9176-4a58-97dd-84e8b3ad621f.jpg" title=" 10.jpg" style=" width: 400px height: 354px " width=" 400" vspace=" 0" hspace=" 0" height=" 354" border=" 0" / /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 稀疏冠层成像分析系统—LAIPhoto是一种植被生长可视化监测系统,尤其适用于植被生长初期,植被空间分布非常稀疏的情况。在植被稀少的情况下,仪器在冠层下部很难扑捉到准确的冠层透过率,利用冠层透射原理来测量叶面积指数变得非常困难。但是,冠层在太阳直射光照射下,会投下非常明显的阴影,阴影面积比与冠层叶面积指数之间具有直接的关系。利用这种关系可以计算叶面积指数,植被覆盖度,植被叶倾角分布函数。LAIPhoto由部署在野外的无线成像传感器以及无线图像采集与传输系统组成。 /span /p p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 主要技术指标: /span /strong /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/9718fbc6-26b3-42f4-93be-432c9c1c29af.jpg" title=" 0.jpg" / /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/22d71bd8-8148-4cf8-8572-9c710627dc9e.jpg" title=" 00.jpg" / /p p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 技术特点: /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 1. /span span style=" line-height:150% font-family:宋体" 高清晰度植被图像传感器 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 2. /span span style=" line-height:150% font-family:宋体" 无线图像采集系统远程实时传输 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 3. /span span style=" line-height:150% font-family:宋体" 数据自动采集,减少野外数据采集成本 /span /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 4. /span span style=" line-height:150% font-family:宋体" 多植被参数同时测量,可以计算叶面积指数、覆盖度、植被物候期。 /span /p /td /tr tr style=" height:75px" td colspan=" 4" style=" border-color: currentcolor windowtext windowtext border-style: none solid solid border-width: medium 1px 1px border-image: none 100% / 1 / 0 stretch padding: 0px 7px " width=" 643" height=" 75" p style=" line-height:150%" strong span style=" line-height:150% font-family: 宋体" 应用前景: /span /strong /p p style=" text-indent:28px line-height:150%" span style=" line-height:150% font-family:宋体" 智慧农业、长势监测、病虫害监测、物候监测等 /span /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]   通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。      日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。   对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。   为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。   近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。   精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。 [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 精密测量院开展“八一冰川透视与层析遥感飞行试验”地面测量工作
    近日,精密测量院影像大地测量与地球动力过程团队,开展了国内首次冰川透视与层析遥感飞行试验的地面测量工作,采集了青藏高原八一冰川冰下地形、冰崖等数据,并开展了机载P波段SAR地面定标同步观测,为此次中科院青藏所组织的八一冰川航空遥感试验提供了重要的地面观测资料,也为中科院西北院八一冰川冰芯钻取位置精确确定提供了可靠参考。   精密测量院研究员江利明组织制定了此次地面测量总体方案,并受邀参与了航空遥感方案论证的指导工作。由精密测量院博士后杨波和博士生庞校光、刘易、李晓恩、蒲颂文、闻鑫等6人组建而成的八一冰川空地联合野外观测党员突击队,历时近20天,圆满完成了航空立体测绘像控点和雷达角反射器布设与定位、GPR冰下地形测量、冰崖地面激光三维扫描等地面观测任务。   本次作业难度大、任务繁重,仪器需搬运到海拔高度4800米以上开展陡坡冰面上测量,包括22处像控点与角反射器 GPS-RTK同址观测、7条总长超7公里GPR测线观测和1公里长冰崖激光点云扫描。多数队员首次登上高海拔地区,出现头痛、发烧等不同程度高原反应,但热情高涨,克服了各种困难,坚持完成既定任务。   2023年3~4月,中科院青藏所牵头,联合中科院空天信息院、精密测量院、西北生态环境资源研究院等多家单位,在黑河上游青海省海北藏族自治州八一冰川开展冰川透视与层析遥感航空飞行试验。利用新舟60遥感飞机,同时集成航空遥感系统多波段合成孔径雷达P波段、L波段调频连续波雷达、激光雷达、高分辨率线阵数字航空相机,并同步开展机载SAR地面定标和冰川厚度等地面观测。低频SAR层析技术是青藏高原冰下地形精细重建的一种新途径,可透视冰雪并对冰川内部结构三维成像,此次航空遥感飞行试验为国产P波段冰冻圈卫星的计划论证提供重要支撑。
  • 1010万!同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目
    一、项目基本情况项目编号:0705-244005012320项目名称:同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目预算金额:1010.000000 万元(人民币)最高限价(如有):950.000000 万元(人民币)采购需求:序号产品名称数量简要技术规格备注1地质体微观物理力学性能测量系统1批该系统针对海洋沉积物等地质体微观物理力学性能的测量,融合了流变特性测量、微观三维结构测量及原子级力学性能测量三个模块,实现了大范围颗粒尺寸、高精度、全方位的地质体微观物理力学性能获取,可应用于以地质体微观物理力学特性分析、大地质颗粒浆体3D结构及其空间展布观测为基础的地质资源与地质工程领域。预算金额:人民币1010万元 最高投标限价:人民币950详见其他补充事宜合同履行期限:合同履行至合同期结束本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2024年07月12日 至 2024年07月19日,每天上午9:00至12:00,下午12:00至16:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:https://www.shabidding.com方式:线上领购售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:同济大学     地址:四平路1239号021-65985215        联系方式:孙老师       2.采购代理机构信息名 称:上海国际招标有限公司            地 址:中国上海延安西路358号美丽园大厦14楼            联系方式:何沛霖、徐迪 021-32173703            3.项目联系方式项目联系人:何沛霖、徐迪电 话:  021-32173703
  • 如何为您的电子元件镀层测量选择合适的XRF配置
    XRF分析仪有多种配置可供选择:探测器类型、光学系统类型、自动化配置,甚至是台式或手持式分析仪。在本文中,我们将探讨使用XRF测量电子元件镀层所存在的挑战,并讨论在生产环境中实现可靠和快速测量的最*佳配置。外形因素:手持式还是台式XRF分析仪?今天,手持式和台式分析仪均可在几乎所有类型的基材上测量0.001-50μm(0.05-2000 微英寸)的金属镀层厚度。两种配置该选择哪一个更取决于实用性,而不是性能。如果您测量的是非常大的部件,有相对大的镀层面积,肉眼很容易看到(并且可以用手轻松地将分析仪抵近到位),那么手持式分析仪是最合适的。然而,许多电子元件完全不是这样。这些电子元件非常微小,需要通过显微镜和照相机装置定位,并使用精密载物台和专用光学器件,来确保准确地分析正确的特定测点。对于电子元件来说,台式分析仪几乎总是人们选择的类型。决定因素:元件的尺寸和被测特定测点的尺寸。您能把您的元件带到实验室吗?如果不能的话,那么您需要一台手持式分析仪。您需要测量小于1mm的面积吗?如果是的话,那么您需要一台台式分析仪。光圈类型:准直器还是毛细管光学机构?分析仪的光圈将产生的x射线引导并聚焦到样品表面。产生的光斑必须小于您需要测量的零件,您选择的光学器件将由您的零件尺寸决定。XRF分析仪通常配有两种类型光圈中的一种:准直器或毛细管光学机构。准直器是一个有孔的金属块,一部分X射线信号通过孔到达样品。对于测量100µm和更大的零件,这是一个不错的选择。毛细管光学机构使用特殊的玻璃毛细管收集几乎所有的X射线信号,并将其聚焦到一个非常小的点。这使您能够测量小于50 µm的零件。与准直器配置相比,由于使用了更高比例的X射线,因此这项技术对较薄的镀层也有更好的精度。决定因素:光斑大小。对于小于50µm的零件,您需要毛细管光学机构,若大于此尺寸,准直器配置可能会更合适。探测器类型:比例计数器还是硅漂移探测器?XRF分析仪中主要有两种类型的探测器:比例计数器和基于半导体的探测器,硅漂移探测器(SDD)是最常见的半导体探测器。决定哪种技术最适合您的应用可能很棘手,因为这两种技术在不同的情况下均有各自的优势。比例计数器由惰性气体封装于金属圆柱体中构成,当惰性气体受到X射线轰击时会发生电离。它们对像锡或银这样的高能量元素有很好的灵敏度,对于元素较少的简单分析非常有效。SDD是半导体器件,当受到X射线轰击时会产生特定数量的电荷。当您对样品中的几种元素感兴趣时,或者在检测低能量元素,如磷时,它们能提供更好的分辨率。下图说明了同一样品中比例计数器和SDD的输出差异。红色峰表示SDD输出,灰色光谱表示比例计数器。决定因素:这很复杂,但如果您需要测量多种不同的元素或非常薄或复杂的镀层,那么SDD是最*佳选择。想了解更多?如果您对此感兴趣,并且想了解更多实用的方法来提高您对微小电子部件的XRF分析的可靠性和准确性,那么您可以关注日立分析仪器的微信公众号点击“阅读原文”下载我们的免费指南《了解您的XRF:电子元件电镀指南》。除了讨论最适合您应用的XRF技术,这份综合指南还包括:• 您的XRF是如何工作的• 如何提高分析量• 如何确保您的分析仪正常工作• 错误的源头
  • 预算1010万!同济大学地质体微观物理力学性能测量系统公开招标
    近日,同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目国际公开招标,预算1010万元,要求潜在投标人于2024年07月19日前递交投标文件。详情如下:一、招标内容招标项目编号:0705-244005012320招标项目名称:同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目项目实施地点:中国上海市招标产品列表:产品名称数量简要技术规格备注地质体微观物理力学性能测量系统1批该系统针对海洋沉积物等地质体微观物理力学性能的测量,融合了流变特性测量、微观三维结构测量及原子级力学性能测量三个模块,实现了大范围颗粒尺寸、高精度、全方位的地质体微观物理力学性能获取,可应用于以地质体微观物理力学特性分析、大地质颗粒浆体3D结构及其空间展布观测为基础的地质资源与地质工程领域。预算金额:人民币1010万元最高投标限价:人民币950万元二、投标人资格要求投标人应具备的资格或业绩:1) 必须是具有独立法人资格的法人或其他组织;2) 投标人应在投标文件中提供投标产品正规销售体系中针对本项目的授权书(说明:招标文件中的制造商授权书格式也同样适用于主要设备制造商正规销售体系中负责在中国地区销售业务的代理商出具的授权书。当由此类代理商出具授权书时,应同时提供制造商出具给该代理商的仍在有效期内的销售其产品的代理证书);3) 采用源自中华人民共和国关境内(不包括香港、澳门和台湾等单独关境地区)制造的产品(含由境内海关特殊监管区域内企业生产或加工(包括从境外进口材料、部件)的产品)参与投标的境内投标人,应当符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条第一款所规定的资格条件(应在投标文件中提供《中华人民共和国政府采购法实施条例》第十七条第一款所规定的资格证明文件);4) 投标人须在投标截止期之前在国家商务部指定的机电产品招标投标电子交易平台(以下简称电子交易平台,网址为:http://www.chinabidding.com)上完成有效注册(由于电子交易平台的注册审核需要一定时间,如投标人在决定参加本项目投标后请尽早登录该网站查询自身是否已经处于有效注册状态,以免因临近投标截止时间再来办理注册事宜而影响正常投标)。是否接受联合体投标:不接受未领购招标文件是否可以参加投标:不可以三、招标文件的获取招标文件领购开始时间:2024-06-28招标文件领购结束时间:2024-07-05是否在线售卖标书:否获取招标文件方式:现场领购招标文件领购地点:https://www.shabidding.com招标文件售价:¥500/$80其他说明:有兴趣的潜在投标人可从2024年6月28日起至2024年7月5日止,每天9:00时至16:00时(北京时间)在上海国际招标有限公司网站(https://www.shabidding.com) (以下简称官网)免费注册并在线领购招标(或采购)文件。在上述规定的招标文件出售截止期之后将不再出售本项目的招标文件。本招标文件每套售价为人民币伍佰元整(RMB500.00)或捌拾美元(USD80.00),售后不退。未从招标机构处购买招标文件的潜在投标人将不得参加投标。(1)潜在投标人(或供应商)首次注册需要提供《供应商注册专用授权函和承诺书》(可从供应商注册页面下载)盖章扫描件,潜在投标人(或供应商)应当提前准备,尽早办理,以免影响领购招标(或采购)文件。(2)已注册的潜在投标人(或供应商)可从网站采购公告栏的相应公告中进在线领购招标(或采购)文件流程。若公告要求提供法定代表人授权书等领购资料的(资料格式可从公告附件下载),潜在投标人(或供应商)应当上传相关资料的原件扫描件,否则采购代理机构有权拒绝向其出售招采购文件。无需提供领购资料的项目,潜在投标人(或供应商)提交领购申请并支付费用到账后即可下载电子招标(或采购)文件。项目经理会将纸质文件快递给潜在供应商。发票将以电子发票的形式发送到潜在投标人(或供应商)登记的电子邮箱。(3)对于未按上述要求进行注册并领购招标(或采购)文件的潜在投标人(或供应商),代理机构有权拒收其提交的投标(或响应)文件,对已经接收的投标(或响应)文件也将提请评标(或评审)委员会作无效投标(或响应)文件处理。四、投标文件的递交投标截止时间(开标时间):2024-07-19 09:00投标文件送达地点:中国上海延安西路358号美丽园大厦13楼1303会议室开标地点:中国上海延安西路358号美丽园大厦13楼1303会议室五、联系方式招标人:同济大学地址:四平路1239号联系人:孙老师联系方式:021-65985215招标代理机构:上海国际招标有限公司地址:中国上海延安西路358号美丽园大厦14楼联系人:何沛霖、徐迪联系方式:021-32173703六、汇款方式招标代理机构开户银行(人民币):招商银行股份有限公司上海普陀支行招标代理机构开户银行(美元):CHINA GUANGFA BANK, H.O账号(人民币):215080920510001账号(美元):9550880025773600333七、其他补充说明其他补充说明:邮箱 hepeilin@shabidding.com
  • 能量天平激光干涉测量系统闲区长度测量方法研究
    自2019年5月20日起,新的国际单位制正式实施,其中质量的单位千克启用了基于普朗克常数的新定义。能量天平是我国自主的千克新定义复现方案,该方案由中国计量科学研究院张钟华院士提出。能量天平利用电磁力做功与电磁场能量变化之间的转换与平衡,建立普朗克常数与被测砝码质量之间的桥梁。图1 能量天平结构示意图与测量原理电磁力做功量的测量涉及电磁力大小的测量和线圈相对位移测量两方面。因此,悬挂线圈与激励磁体的相对位移测量系统至关重要。它不仅实现了能量天平对于“米”的量子化基准的溯源,而且在保证能量天平积分区间的一致性上也发挥了关键作用。能量天平采用外差激光干涉测量系统对悬挂线圈与激励磁体的相对位移进行测量(图2),但该干涉测量系统存在较大的光学闲区(图3),进而影响了能量天平在空气环境中运行时位移测量的准确性。图2 能量天平激光干涉测量系统图3 能量天平光学闲区示意图近日,发表于《计量科学与技术-中国计量科学研究院专刊(2022)》的文章“能量天平激光干涉测量系统闲区长度测量方法研究”,对能量天平干涉测量系统中闲区长度测量方法进行了分析与讨论。主要成果(1)提出了基于真空/空气环境光程差测量的光学闲区长度测量方法。该方法利用能量天平的真空系统改变光学闲区的空气折射率;利用激光干涉系统测量折射率改变过程中的光程变化,进而测得光学闲区的长度,将原毫米量级的闲区长度测量不确定度抑制至4 μm,大大提高了光学闲区长度的测量能力。(2)利用光学闲区长度表征的绝对距离,实现了对能量天平激励磁体与悬挂线圈间相对零位的测量,以保证悬挂线圈系统位于磁体的均匀区范围。该相对零位的标准测量不确定度达到了54.2 μm。此项研究得到了国家自然科学基金青年基金项目(51805507)的支持。能量天平科研团队简介重新定义千克曾被《Nature》列为世界性的科研难题。张钟华院士向这一科研难题发起了挑战,提出了基于全静态测量的能量天平方案,该方案被《Metrologia》列为国际三种千克量子化定义与复现方法之一。目前,能量天平由李正坤研究员带领的年轻团队接力攻关。该团队连续攻克了高匀场激励磁体设计、准静态磁链差测量、外磁屏蔽方法优化、真空超精密几何量测量、能量天平准直误差理论与技术、超高直线度重载驱动方法与装置等一系列科研难题,建立了第二代能量天平装置NIM-2,其实物图如图5所示。该装置于2019~2020年间,代表中国参加了千克新定义后的首次千克复现方法国际关键比对(CCM.M-K8.2019)。经国际计量局对各国的数据综合评定,能量天平的测量结果与比对参考值(KCRV)的相对偏差为1.17E-8,相对标准不确定度为4.49E-8,比对结果如图6所示。该测量数据已成功用于首个国际质量共识值(the Consensus Value)的评定,进而用于SI新定义后全球质量量值传递。能量天平的研究工作,为建立我国自主的质量量子化基准装置提供了重要的技术支撑。图5 能量天平装置实物图图6 首次千克复现方法国际关键比对(CCM.M-K8.2019)比对结果
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500X SFT9550X 样品台尺寸(宽)×(长)  175×240 mm 330×420 mm 样品台移动量(X)×(Y)×(Z)  150×220×150 mm 300×400×50 mm 被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度)  500×400×145 mm 820×630×45 mm X 射 线 源 空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA) 检 测 器 Vortex半导体检测器(无需液氮) 照 射 直 径 最小30μmφ 样 口 观 察 CCD摄像头(附变焦功能) 样 品 对 焦 激光点 滤 波 器 Au极薄膜测量用滤波器 操 作 部 电脑、19英寸液晶显示器 测 量 软 件 薄膜FP法、薄膜検量線法 选 配 能谱匹配软件、红色显示灯、打印机 测 量 功 能 自动测量、中心搜索 数 据 处 理 Microsoft® Excel、Microsoft® Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像)) 安 全 功 能 样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上 本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp
  • 第二届国际高端测量仪器高层论坛暨第12届精密工程测量与仪器国际会议成功举行
    第二届国际高端测量仪器高层论坛暨第12届精密工程测量与仪器国际会议(IFMI & ISPEMI 2022)于2022年8月8日至10日在广西桂林成功举办。本论坛由中国工程院、国际测量与仪器委员会(ICMI)共同指导,中国工程院信息与电子工程学部、中国仪器仪表学会、中国计量测试学会和哈尔滨工业大学联合承办,桂林电子科技大学、北京信息科技大学协办。本次论坛的目的是,根据世界科技革命与产业变革发展趋势,探讨和判断高端测量仪器技术发展趋势和仪器产业发展趋势,提出促进世界高端测量仪器科技与产业重点发展方向,共同推进世界范围内高端测量仪器技术形态和产业业态的变革。中国工程院院士、哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长、中国仪器仪表学会副理事长谭久彬教授担任大会主席并主持会议。谭久彬院士指出:“仪器是测量的载体,是科学发现和基础研究突破的重要手段。… … 精密仪器技术与工程支撑着整个现代科技产业、国民经济和社会管理的高质量发展。随着新一轮科技革命和产业变革的深入,新一代物联网、大数据、云计算、人工智能、精准医疗、智能制造、智慧城市建设等领域不断发生革命性变化,因此,精密工程测量与仪器技术势必会遇到前所未有的巨大挑战和发展机遇。”谭久彬院士担任大会主席并主持会议大会现场国际测量技术联合会(IMEKO)前主席Kenneth T. V. Grattan院士、中国计量测试学会副理事长兼秘书长马爱文先生、桂林电子科技大学党委副书记聂慧教授参加大会并在开幕式上致辞。Grattan院士指出,测量是科学研究的基础。以精密测量为基础的技术突破促进了高端精密仪器的制造,同时进一步推动了加工制造、光学、材料、生命科学等领域的发展。最后,Grattan院士强调,随着人工智能技术的不断发展,将智能化技术融入精密制造、数字化测量等领域是当前面临的重要机遇与挑战。本次会议分为主论坛大会报告、分论坛研讨和圆桌论坛3部分。共有来自美国、英国、澳大利亚、德国、比利时、加拿大、俄罗斯、韩国、日本、新加坡、中国等12个国家和地区的250余位专家出席本次盛会,2600余名科技工作者和研究生观看了会议直播。大会特邀国际测量联合会主席(IMEKO)、德国联邦物理技术研究院(PTB)副院长Frank Härtig教授,美国加州理工大学Lihong Wang院士,伦敦大学城市学院Tong Sun院士,兰州空间技术物理研究所李得天院士,悉尼科技大学Dayong Jin院士,加拿大维多利亚大学Yang Shi院士,比利时鲁汶大学Han Haitjema教授,海克斯康技术总监隋占疆等国际著名专家分别围绕“计量学——数字化的基础支柱”、“从细胞器分子吸收到患者尺度的光声断层扫描”、“应用驱动型传感器循环设计”、“空间充放电效果模拟测试技术及其在中国空间站的应用”、“稀土高掺杂发光材料、单颗粒光谱系统多维度表征与新发光特性、新型超高分辨成像方法与仪器研发、生医工交叉应用等需求”、“自主智能机电系统的高级鲁棒模型预测控制框架”、“光学表面形貌测量仪器的特性及标定”、“数字时代下,计量技术如何赋能行业发展”进行主题演讲。分论坛分为8个分会场,共计48个分论坛邀请报告。分论坛的专家学者们结合测量仪器技术与精密工程各个分支方向,交流了目前本领域存在的重大科学问题与关键技术问题、具有发展优势的新的技术路线和近期重大研究进展与突破;探讨了因学科交叉衍生出的新原理、新技术和新方向;并对该领域未来10年的发展趋势与特点、新的应用背景和可能产生的新突破进行了探索与研判;预测未来国际和国家测量体系和仪器行业的发展趋势,从而规划国际和国家测量体系的建设路线和新形态仪器技术的发展路径。除主论坛、分论坛的学术交流与研讨外,会议还以圆桌会议形式进行战略研讨。受谭久彬院士委托,中国仪器仪表学会常务理事、哈尔滨工业大学仪器科学与工程学院院长刘俭教授主持研讨。圆桌论坛邀请叶声华院士等著名科学家、测量仪器领域著名专家学者,以及华为技术有限公司、海克斯康测量技术有限公司、天津三英精密仪器股份有限公司、深圳中图仪器科技有限公司、哈尔滨芯明天科技有限公司、中铁一局集团陕西卓信工程检测有限公司、深圳中科精工科技有限公司、江苏天准科技股份有限公司、国营芜湖机械厂等企业的近百名技术型企业家参加了研讨。圆桌论坛围绕“我国高端仪器的瓶颈在哪里以及国产高端仪器如何突围”这两个主题展开讨论。与会专家和企业家首先就我国高端仪器与国际高端仪器在前沿技术方面的主要差距、国产高端仪器如何面向国家重大需求与国际科技前沿、我国高端仪器产业推广与高校企业成果转化对接面临的问题、如何打通高端仪器产业上下游等热点问题展开了热烈讨论。随后就目前我国高端仪器产业面临的问题、亟待解决的政策支持以及未来的发展战略充分发表了建议。最后就高端仪器技术布局与标准化、高端仪器创新链与产业链上下游打通等问题进行了深入探讨,并达成了初步共识。
  • 基于介质多层薄膜的光谱测量元器件
    近日,南京理工大学理学院陈漪恺博士与中国科学技术大学物理学院光电子科学与技术安徽省重点实验室张斗国教授合作,提出并实现了一种基于介质多层薄膜的光谱测量元器件,可用于各类光信号的光谱表征;其核心部件厚度仅微米量级,可附着在常规显微成像设备或微型棱镜上完成光谱测量,实验光谱分辨率小于0.6nm。研究成果以“Planar Photonic Chips with Tailored Dispersion Relations for High-Efficiency Spectrographic Detection”为题发表在国际学术期刊ACS Photonics。光谱探测技术被广泛应用在科学研究和工业生产,在材料科学、高灵敏传感、药物诊断、遥感监测等领域具有重要应用价值。近年来,微型光谱仪的研究受到了广泛关注,其优点在于尺寸小,结构紧凑,易于集成、便携,成本低。特别是随着纳米光子学的发展,光谱探测所需的色散元件、超精细滤波元件以及光谱调谐级联元件等,都可以利用超小尺寸的微纳结构来实现。如何兼顾器件的小型化、集成化,与光谱测量分辨率、探测效率一直是该领域的重点和难点之一。截至目前,文献报道的集成化微型光谱仪大多利用线性方程求解完成反演测算,信号模式之间的非简并性(不相似性)决定了重建光谱仪的分辨能力。这种基于逆问题求解的光谱反演技术易于受到噪音的干扰,从而降低微型光谱仪的探测分辨率和效率。近期研究工作表明,通过合理设计结构参数,调控介质多层薄膜的色散曲线,同时借助介质多层薄膜负载的布洛赫表面波极低传输损耗特性,可以实现了光源波长与布洛赫表面波激发角度之间的近似一一对应关系,如图1a,1b所示。它意味着无需方程求解,即可以完成光谱的探测与分析,避免了逆问题求解过程中外界环境噪声对反演过程的干扰,节约了时间成本,提升了探测效率。该介质多层薄膜由高、低折射率介质(氮化硅和二氧化硅)薄膜交替叠加组成,可通过常规镀膜工艺(如等离子体增强化学的气相沉积法)在各种透明衬底上大面积、低成本制备,其制作难度与成本远小于基于微纳结构的光谱测量元件。图1:一种基于介质多层薄膜的光谱探测元件,可用于各类光信号的光谱表征;其核心部件厚度仅微米量级,可附着在常规显微成像设备或微型棱镜上完成光谱测量,实验光谱分辨率小于0.6nm。作为应用展示,该光谱探测元器件被放置于微型棱镜或者常规反射式光学显微镜上,当满足布洛赫表面波激发条件时,即可实现光谱探测。如图1c,当激光和宽带光源分别入射到介质多层薄膜上时,采集到的反射信号分别为暗线和暗带,其强度积分及对应着光源的光谱(图1d,1e所示)。钠灯的光谱测量实验结果表明,该测量器件能达到的光谱分辨率小于0.6 nm (图1f所示)。不同于常规光谱仪需要在入射端加载狭缝,该方法无需狭缝对被测光源进行限制,从而充分利用信号光源,有效提升了光谱探测的信噪比和对比度,因此器件可以应用于荧光光谱和拉曼散射光谱等极弱光信号的光谱表征,展现出其在物质成分和含量探测上的能力,如图1g,1h所示。介质多层薄膜的平面属性,使得其可以在同一基底上加载不同结构参数的介质多层薄膜,从而实现宽波段、多功能光谱探测器件。该项工作表明,借助于介质多层薄膜负载布洛赫表面波的高色散、低损耗特性,可以实现低成本、高效率、高分辨率的光谱测量,为集成化微型光谱仪的实现提供了新器件。该项工作也拓展了介质多层薄膜的应用领域,有望为薄膜光子学研究带来新的生长点。陈漪恺博士为该论文第一作者,张斗国教授为通讯作者。上述研究工作得到了科技部,国家自然科学基金委、安徽省科技厅、合肥市科技局、唐仲英基金会等项目经费的支持。相关样品制作工艺得到了中国科学技术大学微纳研究与制造中心的仪器支持与技术支撑。
  • 华测检测(CTI)采购蓝菲光学光谱测量系统
    国内领先的第三方测试机构华测检测技术股份有限公司(CTI)于近期购买了一套蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS 2米和50厘米直径积分球光谱测量系统用于LED灯具和模组的检测。   蓝菲光学(Labsphere)的CSLMS(大型光源光通量检测系统)系统具有极高的精度和稳定性,受到美国能源之星(Energy Star)的认可并符合最新CIE测量标准。在美国能源部认可的7个授权进行能源之星检测的实验室中,有5个实验室采用Labsphere的积分球检测设备。   华测检测将使用Labsphere的CSLMS系统对LED灯具和模组进行发光效率、光通量、局部流明强度、流明维持、颜色维持、显色指数、品色坐标、波长、相关色温等参数的检测。通过使用Labsphere的设备,华测检测的检测能力将更受国际认可,并且对于其通过能源之星检测的审核有很大帮助。   华测检测技术股份有限公司是中国第三方测试、检验与验证服务的开拓者和领先者,为众多行业和产品提供一站式的全面质量解决方案。华测检测的实验室负责人张经理表示,蓝菲光学的产品在国际上得到了广泛认可,值得信任。   关于豪迈 (HALMA) 以及蓝菲光学 (Labsphere):   蓝菲光学 (Labsphere) 有限公司 ( http://www.labsphere.com) 是世界光测试、测量以及光学涂层领域的领军企业。公司产品包括 LED、激光器及传统光源光测量系统 成像设备校准用的均匀光源 光谱学附属设备 高漫反射材料及背光显示屏覆层、计算机X线成像以及系统校准。公司的专家在诸多领域取得了多项专利技术,比如晶片和紫外线传输中的 LED 测试方法。蓝菲光学 (Labsphere) 的工程人员也常常协助客户,开发定制光采集管和导光管。蓝菲光学 (Labsphere) 是英国豪迈集团(HALMA p.l.c. - http://www.halma.cn)的子公司。创立于1894年的豪迈是国际安全、健康及传感器技术方面的领军企业,伦敦证券交易所的上市公司,在全球拥有 4000 多名员工,近40 家子公司。豪迈目前在上海、北京、广州和成都设有代表处,并且已在中国开设多个工厂和生产基地。
  • 1010万!同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目
    一、项目基本情况项目编号:0705-244005012289项目名称:同济大学地质体微观物理力学性能测量系统采购项目预算金额:1010.000000 万元(人民币)最高限价(如有):1010.000000 万元(人民币)采购需求:详见其它补充事宜合同履行期限:合同签订之日起150 个工作日内完成并验收合格交付使用本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2024年01月02日 至 2024年01月09日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至16:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:上海国际招标有限公司网站(https://www.shabidding.com)方式:线上领购售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:同济大学     地址:四平路1239号        联系方式:孙老师 021-65987815      2.采购代理机构信息名 称:上海国际招标有限公司            地 址:中国上海延安西路358号美丽园大厦14楼            联系方式:何沛霖、徐迪 021-32173703            3.项目联系方式项目联系人:何沛霖、徐迪电 话:  021-32173703
  • whYOKO发布薄层成像系统新品
    仪器参数1,扫描方式:线性扫描,双波长扫描,多通道扫描2.光源:254/365nm紫外光源、可见光源。 3.分辨率可达10um 4.重现性:≥99% 5. 检测方式:反射法、荧光法。6、算法:归一法,内标法,外标法(一点直线法,两点曲线法),符合药典要求。7.软件环境:WIN XP/2000/NT, 仪器特点1. 有与单波长扫描,双波长扫描,多通道扫描功能,2.对TLC斑点进行准确定量,精确测量Rf值, 3.对图像可任意角度旋转,可对色彩亮度、饱和度、对比度进行校正。4. 可打印出峰位、Rf值、峰面积、含量、图像的报告,符合药典要求5. 人性化中文软件操作界面,无限量图谱数据库管理,6.机内配有图文并茂的教学软件,简明方便,随时调看。 可完成下列药品的分析: 中药材: 三七 黄连 金果榄 淫羊藿 穿心莲 五味子 大黄 蛇床子 丁公藤 防风备 灵芝 刺五加 西红花 当归 川穹 麦冬 升麻 紫菀 龙胆等 中成药:知柏地黄丸 香连丸 穹菊上清丸 黄连上清丸 导赤丸 人参再造丸 桂附地黄丸 消银片 霍胆丸 三妙丸 二妙丸 香连片 穿心莲片 万氏牛黄清心丸 天麻首乌片 葛根芩连微丸 等 创新点:薄层成像系统YOKO-2002是本公司为了满足当前薄层色谱分析以及中药分析需要设计的新产品,它处理速度快和分辨率高,而且具有噪音小、线性好的特性。仪器由光源、光学采样系统、薄层色谱色谱工作站三大部分组成,薄层色谱工作站是目前国内开发的最好软件,对仪器可全自动的控制同时还可对薄层色谱斑点进行定量处理,定量精度与进口产品相近、满足药厂、高校日常分析的需要,省时省力是您实验室的好助手。薄层色谱成像系统的使用成本低。专门为中药企业GMP认证打造 .为满足2015版一部附录VIB薄层色谱法的规定,开发了薄层色谱成像系统YOKO-2002产品。 薄层成像系统
  • 中子发生器及快中子测量系统重大专项启动
    3月14日,国家重大科研仪器设备研制专项&ldquo 6.0E12 n/s强流中子发生器及快中子测量系统研制&rdquo 项目启动会在北京西郊宾馆召开。国家自然科学基金委相关负责人,业内相关专家,项目组部分成员共18人参加了启动会。   启动会由中国科学院高能物理研究所柴之芳院士主持。国家自然科学基金委计划局孟宪平局长宣读项目批复,项目负责人吴王锁教授、项目技术负责人姚泽恩教授、李公平教授和兰长林副教授分别作了项目总体情况、技术方案、实施方案以及管理方面的报告。会上来自中国工程物理研究院、中国原子能科学研究院、西北核技术研究所、清华大学、北京大学,北京师范大学多个单位的相关专家对项目的研制内容、研究方案、技术细节等各个方面进行了充分的讨论,给出了中肯的建设性意见和建议,为项目的顺利完成、达到预期研制目标奠定了坚实基础。   最后,吴王锁教授代表项目组表示,在充分听取专家意见的基础上,将进一步调整研究方案,合理规划流程,规范管理环节,充分调动各方力量保障项目顺利进行。同时核科学与技术学院也将以此重大科研专项任务来带动学科建设和人才队伍建设上层次上水平。   兰州大学核科学与技术学院党委书记祁晓红也代表学院和项目组对与会的各位领导和专家对中子发生器研制工作的长期支持表示衷心感谢。
  • 蓝菲光学将向深圳朗恒交付手电筒光谱测量系统
    国际知名的手电筒生产厂商深圳朗恒电子有限公司 (Fenix) 于近期购买了一套英国豪迈集团 (HALMA) 子公司 -- 美国蓝菲光学 (Labsphere) 的 FS2-2060 手电筒光谱测量系统。   蓝菲光学 (Labsphere) 的光测量专家参与了最新国际手电筒测量标准 ANSI/NEMA FL1-2009的制定。因此,蓝菲光学 (Labsphere) 开发出来的 FS2-2060拥有非常完善的设计,完全符合这个最新标准。该标准规定了方向性照明灯具如手提式/便携式手电筒、聚光灯和头灯的基本的特性,是手电筒测量要求的最新的书面标准。   蓝菲光学 (Labsphere) FS2 光谱通量测量系统使得在条件、运行时间和光输出测量的测试指导下,对分光辐射、光度和色度特性的精确描述更加容易。此系统对于评价 LED 灯,卤素灯、氙灯和氪气灯光源效率提供了全面解决方案。而且,蓝菲光学 (Labsphere) 配合该系统使用的 FFS 系列前向通量标准灯可以追溯美国 NIST(美国科技局)数据,客户也可以很方便的进行现场校准。   朗恒电子 (Fenix) 的技术副总裁岑亮先生表示,“蓝菲光学 FS2-2060解决了长期困扰我们的几大测量难题,将使得我们的测量数据更加稳定可靠。另外,将来我们的产品测试报告可以很容易地通过国外商家的认可,便于我们进一步扩展国际市场,同时在国内市场取得权威地位,提升企业品牌价值。”   关于豪迈 (HALMA) 以及蓝菲光学 (Labsphere):   蓝菲光学 (Labsphere) 有限公司 ( http://www.labsphere.com ) 是世界光测试、测量以及光学涂层领域的领军企业。公司产品包括 LED、激光器及传统光源光测量系统 成像设备校准用的均匀光源 光谱学附属设备 高漫反射材料及背光显示屏覆层、计算机X线成像以及系统校准。公司的专家在诸多领域取得了多项专利技术,比如晶片和紫外线传输中的 LED 测试方法。蓝菲光学 (Labsphere) 的工程人员也常常协助客户,开发定制光采集管和导光管。蓝菲光学 (Labsphere) 是英国豪迈集团(HALMA p.l.c. - http://www.halma.cn)的子公司。创立于1894年的豪迈是国际安全、健康及传感器技术方面的领军企业,伦敦证券交易所的上市公司,在全球拥有 4000 多名员工,近40 家子公司。豪迈目前在上海、北京、广州和成都设有代表处,并且已在中国开设多个工厂和生产基地。
  • 前沿科技 | 全新亚微米红外&拉曼同步测量关键技术助力多层薄膜内部组成分析
    包装薄膜材料常使用传统红外光谱进行表征,但传统FTIR通常只能测单一红外光谱,不具备样品红外光谱成像功能或成像空间分辨率受红外波长限制,高也仅为5-10 μm。在实际应用中,层状材料越来越薄,这对常规FTIR技术的空间分辨率提出了大的挑战。 全新光学光热红外光谱技术光学光热红外光谱技术(O-PTIR)可在非接触反射模式下对多层薄膜进行亚微米的红外表征,同时探针激光器会产生拉曼散射,从而以相同的亚微米分辨率在样品的同一点同时捕获红外和拉曼图像。基于光学光热红外光谱技术的非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统的工作原理是:光学光热红外光谱技术通过将中红外脉冲可调激光器与可见探测光束结合在一起,克服了红外衍射限。将红外激光调谐到激发样品中分子振动的波长时,就会发生吸收并产生光热效应。如图1所示,可见光探针激光聚焦到0.5 μm的光斑尺寸,通过散射光测量光热响应。红外激光可以在一秒钟或更短的时间内扫过整个指纹区域,以获得红外光谱。图 1. 非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统 红外和拉曼光谱的光束路径示意图。 红外&拉曼同步测量传统的透射红外光谱通常不能用于测量厚样品,因为光在完成透射样品之前会被完全吸收或散射,导致几乎没有光子能量到达检测器。由于光学光热红外光谱技术是一种非接触式技术,因此非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可以对较厚的样品进行红外测量,大地简化了样品制备过程,提升了易用性。在图2中,作者使用非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统针对嵌入环氧树脂中的薄膜样品横截面进行了分析。图2线阵列中各点之间的数据间隔为500 nm。 由于非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统与传统FTIR光谱具有好的相关性,因此可以使用现有的光谱数据库搜索每个光谱。对红外光谱的分析对照可以清楚地识别出不同的聚合物层,聚乙烯和聚丙烯,以及嵌入的环氧树脂。图 2.上:薄膜横截面的40倍光学照片;中:红外光谱从标记区域收集;下:同时从标记区域收集拉曼光谱。 化学组分分布的可视化成像当生产层状薄膜时,产品内部的化学分布是产品完整性的重要组成部分。非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统特地实现了高分辨率单波长成像,以突出显示样品中特定成分的化学分布。非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可以在每层的特吸收带处采集图像,以此实现显示层的边界和界面的观察。图3展示了多层膜截面的光学图像。从线阵列数据可以看出,中间位置存在一个宽度大约为2 μm的区域,该区域与周围区域的光谱差异很大。红色光谱显示1462 cm?1处C-H伸缩振动显著增加。图3. 上:薄膜截面的40倍光学照片;下:标记表示间距为250 nm的11 μm线阵列。红外单波长成像使我们能够清晰地可视化层状材料的厚度和材质分布,如图4所示。从图像中可以看出,非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统红外显微镜可以在非接触状态下进行反射模式运行,以佳的空间分辨率提供单波长图像。图4. 红外单波长成像层状材料的成分分布。 总结通过同时收集红外和拉曼光谱,科学家发现非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统可被广泛用于分析各种多层膜。收集的光谱与传统的FTIR光谱显示出 99%相关性,并且可以在现有数据库中进行搜索。此外,使用非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统进行单波长成像可实现亚微米分辨率样品中组分的可视化。通过该技术,我们可以更好地了解薄膜材料的整体构成。总体而言,非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统次提供了可靠且可视化的亚微米红外光谱,目前它已在高分子、生命科学、临床医学、化工药品、微电子器件、农业与食品、环境、物证分析等领域得到广泛应用并取得了良好的效果,显示出了广阔的应用前景。
  • “用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统”出征冷湖观测基地
    2022年4月7日上午,西安光机所参与研制的“用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统”(简称AIMS太阳望远镜)项目迎来了重要的里程碑式节点——奔赴海拔4000米的青海省海西蒙古族自治州冷湖镇赛什腾山观测基地进行最终安装调试。这是研究所纪念建所六十周年活动启动后的第一个出所项目。   项目出征仪式在蒲城调试外场举行,在湛蓝的晴空映衬下,印着“瞬见万象 光创未来”出征口号的红条幅与“AIMS太阳望远镜出征仪式”的大幅喷绘海报遥相呼应,仿佛表达着此次出征必定携胜而归的决心。参加仪式的人员有国家天文台研究员郝晋新、林佳本,西安光机所党委书记孙传东、副所长郝伟、先进制造部、空间光子信息新技术研究室负责人、部分中层领导等共34人,特邀中国科学院国家授时中心所长办公室主任赵海成、洛轴智能机械有限公司总经理邓印出席。   首先,项目负责人空间光子信息新技术研究室徐崧博副研究员、先进制造部副部长李华分别介绍了项目研制历程与项目管理情况。接下来进行庄重的授旗仪式,先进制造部部长赵建科宣读西安光机所出征冷湖人员名单,由孙传东书记向工作队代表工艺中心主任付兴授予队旗,寄语顺利凯旋同时希望他们发扬西光所艰苦奋斗、攻坚克难优良科研传统,做好“西光精神”传人,让这面鲜艳的队旗在装调阵地高高飘扬。付兴领读誓词,他表示队伍必定不负嘱托、不负期望、不负祖国。中国科学院国家天文台郝晋新研究员讲话,最后由西安光机所副所长郝伟宣布项目设备运输发车。   AIMS太阳望远镜项目是国家自然科学基金委支持的国家重大科研仪器项目,由中国科学院国家天文台、中国科学院上海技物所和中国科学院西安光机所等三家单位共同承担,旨在研制国际上第一台中红外太阳磁场观测设备,利用中红外的观测优势,突破磁场测量百年历史中的“瓶颈”问题,实现太阳磁场从“间接测量”到“直接测量”的跨越发展,为诸如天体爆发活动的成因、日冕加热等前沿领域研究提供有力支撑。   该项目是大口径、大体积、光学系统极为复杂的地面可见及红外波段光电跟踪设备。研究所高度重视该项目,在多方面给予政策支持。项目团队也是个融合的大家庭,主要来自于空间光子学研究室、先进制造部的装校中心和检测中心,是一支以青年科技力量为主体的战斗团体。三十多人的队伍经验丰富、专业齐备、蓬勃向上、富有朝气和创新意识,他们具备优良的科研作风,始终把产品技术性能先进和质量优良摆在首位,敢打敢拼,不畏艰难,勤奋努力,严慎细实,取得了一系列设计创新、工艺创新、装检技能创新、组织管理创新、党建引领创新等成果。在出所之前的检测装调阶段,适逢西安爆发本土新冠疫情,连续30多天的封闭式管理并没有影响项目的进度,郝伟副所长代表所班子亲自指挥部署,机关积极协调,先进制造部装校中心奋勇当先,持续奋战在岗位,团结协作、众志成城,为项目顺利出所打了一场漂亮的攻坚战。另外,该项目还得到了众多领导和专家的鼎力支持,国家天文台各级领导、专家多次提供帮助与支持,我所老专家熊仁生研究员等也在项目关键性技术方面给予把关审查。这都是项目取得成功不可或缺的部分。   项目团队历经四年多来艰难攻关,顽强拼搏、夜以继日的辛勤付出终于结出了胜利的果实。4000米,不仅是海拔高度,更是对出征队伍身心意志、水平能力严峻考验的高度,不过我们相信、信任也祝福他们,因为西光人是不怕打硬仗的,我们等待为他们接风洗尘,期待项目组向研究所成立60周年献礼的最美时刻。
  • Das-Nano发布石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统新品
    石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统西班牙Das Nano公司成立于2012年,是一家提供高安全级别打印设备,太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。ONYX是其在全球范围内推出的第一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱专利技术,实现了从科研及到工业级的大面积石墨烯及二维材料的无损和高分辨,快速的电学性质测量,为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品背景介绍太赫兹辐射( T射线)通常指的是频率在0. 1~10THz、波长在30μm-3mm之间的电磁波,其波段在微波和红外之间,属于远红外和亚毫米波范畴。该频段是宏观经典理论向微观量子理论的过度区,也是电子学向光子学的过渡区。在20世纪80年代中期以前,由于缺乏有效的产生方法和探测手段,科学家对于该波段电磁辐射性质的了解和研究非常有限,在相当长的一段时期,很少有人问津。电磁波谱中的这一波段(如下图) ,以至于形成远红外和亚毫米波空白区,也就是太赫兹空白区(THz gap)。太赫兹波段显著的特点是能够穿透大多数介电材料(如塑料、陶瓷、药品、绝缘体、纺织品或木材),这为无损检测(NDT)开辟了一个可能的新世界。同时,许多材料在太赫兹频率上呈现出可识别的频率指纹特性,使得太赫兹波段能够实现对许多材料的定性和定量研究。太赫兹波的这两个特性结合在一起,使其成为一种全新的材料研究手段。而且其光子能量低,不会引起电离,可以做到真正的无损检测。 ONYX工作原理 ONYX是全球第一套实现石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料全面积无损表征的测量系统,能够满足测试面积从科研级(mm2)到晶元级(cm2)以及工业级(m2)的不同要求。与其他大面积样品的测量方法(如四探针法)相比,ONYX能够直观得到样品导电性能的空间分布。与拉曼、扫描电镜和透射电镜等微观方法相比,微米级的空间分辨率能够实现对大面积样品的快速表征。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱THz-TDS技术,产生皮秒量级的短脉太赫兹冲辐射。穿透性极强的太赫兹辐射穿透进样品达到各个界面,均会产生一个小反射波可以被探测器捕获,获得太赫兹脉冲的电场强度的时域波形。对太赫兹时域波形进行傅里叶变换,就可以得到太赫兹脉冲的频谱。分别测量通过试样前后(或直接从试样激发的)太赫兹脉冲波形,并对其频谱进行分析和处理,就可获得被测样品介电常数,吸收吸收以及载流子浓度等物理信息。再利用步进电机完成其扫描成像,得到其二维的电学测量结果。ONYX主要参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的电导率和电阻率分析样品100%全覆盖测量最高分辨率:50μm完全非接触无损无需样品制备载流子迁移率, 散射时间, 浓度分析 可定制样品测量面积(m2量级)超快测量速度: 12cm2/min软件功能丰富,界面友好全自动操作图1 太赫兹光谱范围及信噪比ONYX主要功能→ 直流电导率(σDC)→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间,τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯材料:→ 单层/多层石墨烯 → 石墨烯溶液→ 掺杂石墨烯→ 石墨烯粉末→ 氧化石墨烯→ SiC外延石墨烯其他二维材料: → PEDOT→ Carbon Nanotubes→ ITO→ NbC→ IZO→ ALD-ZnO石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线ONYX测试数据1. 10x10mm CVD制备的石墨烯在不同分辨率下的电导率结果 2.10 x10mm CVD制备的石墨烯不同电学参数测量结果 3.利用ONYX测量ALD沉积在硅基底上的TiN电导率测量结果 ONYX发表文章1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018. 4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655.ONYX用户单位重要客户合作伙伴参与项目创新点:ONYX是第一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备,采用先进的脉冲太赫兹时域光谱专利技术。与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布;与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统
  • 《纳米技术 拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数》公开征求意见
    近日,国家标准计划《纳米技术 拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数》进入公开征求意见阶段,反馈日期截止到2023年12月5日,如有任何建议或意见,请有关单位和专家填写征求意见表(详见附件)并反馈至邮箱:shaoyue @graphene-center.org 。本文件由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院,起草单位为中国科学院半导体研究所、河北大学和泰州巨纳新能源有限公司。本文件规定了使用拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数的方法。本文件适用于利用机械剥离法制备的、横向尺寸不小于 2 µm的 2H堆垛的二硫化钼薄片的层数测量。化学气相沉积法制备的 2H堆垛的二硫化钼薄片可参照本方法执行。二硫化钼薄片具有优异的电学、光学、力学、热学等性能,在学术届和工业届都引起了广泛的关注,已成为新一代高性能纳米光电子器件国际前沿研究的核心材料之一。二硫化钼薄片作为二维层状材料的代表,其层数或者厚度显著影响其光学和电学等性能。例如,单层二硫化钼薄片为直接带隙半导体,多层二硫化钼薄片为间接带隙半导体,且带隙随层数增加而逐渐降低,但场效应迁移率和电流密度会随之提高,进而通过调控二硫化钼薄片的层数实现与其相关的光电探测器、光电二极管、太阳能电池和电致发光器件的可控性能。所以,快速准确地表征二硫化钼薄片的层数对于其生产制备和相关产品开发具有重要的指导意义,也是深入研究二硫化钼薄片的物理和化学性质的基础和其开发应用的核心。拉曼光谱作为一种快速、无损和高灵敏度的光谱表征方法,已被广泛地应用于二硫化钼薄片的层数测量。比如,单层和多层二硫化钼薄片的拉曼光谱中,高频拉曼振动模——E12g 和A1g的峰位差值随二硫化钼薄片的层数而递增,两层及以上的二硫化钼薄片中低频拉曼振动模——呼吸(LB)模和剪切(S)模的峰位与二硫化钼薄片的层数具有确定的对应关系。同时,对于制备在氧化硅衬底上的二硫化钼薄片,二硫化钼下方硅衬底的拉曼峰的强度也与其上二硫化钼薄片的层数呈现单调变化的关系。因此,利用上述拉曼光谱参数特征,就可以准确地测量二硫化钼薄片的层数。由于不同方法制备的二硫化钼薄片在结晶性和微观结构上存在较大差异,现有任何一种表征方法均不是具有确定意义的通用手段。在实际应用中需要根据二硫化钼薄片的结晶性和微观结构特点来选择一种或多种合适的表征方法对其层数进行综合分析。附件:纳米技术 拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数(征求意见稿) -- 征求意见表.doc纳米技术 拉曼光谱法测量二硫化钼薄片的层数(征求意见稿).pdf
  • 蓝菲光学在消防和航海照明领域完成对光通量和色度测量系统的布局
    成立于1979年的美国蓝菲光学(Labsphere)是生产积分球及以积分球为核心的光电仪器厂商,已为众多光学领域的客户专业设计并提供了多种用途的积分球系统。近日蓝菲光学向某消防所及水运所各交付了一套LFC系列光通量和色度测量系统,用以测试消防应急灯和航标灯,从而在中国市场把这一产品的应用范围拓展至消防及航海照明领域。 消防应急灯作为为人员疏散、消防提供照明的特殊灯具,其安全、可靠、经久、耐用的品质至关重要,其中应急灯的发光颜色、光通量及其光效参数对判断应急灯的品质尤为重要,因此准确地测试这些参数其意义不言而喻。此前,蓝菲光学LFC系列光通量和色度测量系统的测试精度就已经通过了几家消防所的实际验证。由于配套的积分球内部涂料及光谱仪、标准灯等核心部件均从美国蓝菲光学原装进口,保证了测试的精度和稳定性;积分球内部的680涂层漫反射率高且具备较好的朗伯特性,涂层经久耐用,不泛黄,不脱落,正常使用下可以保证十年不衰减;加之搭配通过美国NVLAP认证的光通量标准灯,保证了系统的测试结果可以溯源至NIST(美国国家标准局)和NIM(中国国家计量院)。 在实际应用中往往还需要测试灯具在不同供电情况下的性能。例如一旦灾情发生,消防应急灯的外接交流电源往往故障或人为断电,此时灯具会自动切换成电池供电。而LFC系列有多种配置可选,可根据实际测试需求选择交/直流电源模块,从而可以更全面地判断灯具的性能。航标灯作为目视航标的核心在船舶安全、经济、便捷航行过程中发挥着重要作用。因此对航标灯具做准确、可靠的检测,保证灯具检测结果的可溯源性和可比性,不仅可以提高产品质量,同时也有助于航标的建设和维护,帮助提高经济和社会效益。 目前国内航标灯器检测工作刚刚起步,如何在检测过程中根据航标灯器检测实际情况对检测结果进行质量控制是今后航标灯器检测工作重点开展方向。航标灯器检验结果质量的好坏是以航标灯器检测结果测定值与真实值之间的相符程度即误差大小来衡量,要提高航标灯器检验结果的质量,就要提前考虑在灯器检验过程中可能产生的各种误差,采取有效措施避免出现误差或把误差降到最小。 该水运所的相关负责人说:蓝菲光学作为业内位数不多的可以提供绝对光谱辐射通量溯源的企业,也是除美国NIST外少数 拥有可以在1%不确定度范围内测试4π/2π标准卤钨灯的实验室厂家,为检测结果的均一性提供了极大地保障,坚定了他们对测试数据的信心。 关于蓝菲光学和英国豪迈蓝菲光学Labsphere)是世界光测量以及光学漫反射涂层领域的领军企业。蓝菲光学的产品包括发光二极管(LED)、激光及传统光源光测量系统,成像设备校准用的均匀光源,光谱学附属设备及高漫反射材料等。
  • 如何将9T磁场测量系统秒变9T-9T-9T矢量磁场?
    探索材料角度相关的磁输运性质是凝聚态物理学中应用广泛和重要的课题研究方向。该研究通常需要很宽的样品温度范围,比如从室温到几开尔文或更低,还需要强大的矢量磁场。控制矢量磁场对此类研究尤为重要。然而,传统的超导矢量磁体不仅价格昂贵,而且场强也有限:三个方向上至少两个方向的磁场强度通常不能超过2T。 德国attocube公司是上著名的端环境纳米精度位移器制造商。近期,该公司推出的atto3DR低温双轴旋转台,将施加在样品上固定方向的单一磁场(垂直或水平方向)的改变为三维矢量磁场。通过这种方式,在任何其他方向上也可立即获得非常高的磁场(例如9 T或12 T)。因此,它相当于提供了9T-9T-9T矢量磁铁的等效系统,这是目前尚无法实现的。此外,与常规矢量磁铁(如5T-2T-2T)只能在旋转中提供大2T的磁场相比,此解决方案的成本也非常低。 另外,双旋转轴的应用保证了样品在任意磁场方向上的变化和灵活性,通过水平固定轴的旋转,可控制样品表面与外界磁场的倾角(+/- 90°);而沿面内固定轴的旋转提供了另外+/- 90°的运动,从而实现样品与磁场形成任意相对方向。同时还兼容2英寸样品空间和He气氛,配备Chip carrier,提供多达20个电信号接口。 1. 为什么要旋转你的样品? 物理学家、化学家和材料科学家正在不懈地寻找具有理想性能的新材料。新材料几乎每天都会被合成出来,并经历各种各样的测量和表征。费米面的表征在材料表征中起着核心作用,因为将电子结构与材料的性质相关联,可以设计出具有所需性质的材料,并针对特定的应用进行调整。若能够地控制磁输运测量中的场方向有助于提取样品各向异性的信息。能够旋转样品在面内和面外场之间切换,或沿所需方向(例如,沿准一维样品,如纳米管或纳米线)对准就显的尤为重要。 Attocube公司研发的压电驱动的纳米旋转台有效地取代了价格昂贵的矢量磁铁,甚至提高了它们的性能,不仅扩大了其任意方向上的大可用磁场,而且也能很好的实现自动化的测量。更为重要的一点是:它们优于传统无法避免的机械滞后性的机械转子。此外,当需要超高压条件时,例如在ARPES中,与机械旋转器相比,压电陶瓷旋转台提供了额外的优势-压电陶瓷旋转台不会导致超高压室泄压或者漏气。2. Attocube提供的解决方案2.1 attocube 的纳米精度旋转台 attocube提供了多种可以组合的压电驱动纳米定位器,其中包括水平旋转台和竖直旋转台(attocube纳米旋转器-ANR/ANRv)。旋转台组合包括一系列不同尺寸和方向,以及适用于低温环境、超高真空和/或高磁场的不同环境下的需求。由于其体积非常紧凑,attocube的旋转台能够适配于大多数的超导磁体样品腔。图1: ANR portfolio [4]2.2 atto3DR:在3D中模拟强矢量磁场 atto3DR双旋转器具有两个立的旋转台,它们组合在一起,从而提供相对于样品表面的所有方向上的全磁场(例如14 T),如引言中所述。atto3DR如图2所示。atto3DR可以提供普通低温版本,同时也可根据具体需求提供用于低温真空(如稀释制冷机)的定制版本;有关mK温度下的应用案例,请参阅应用部分。图2: atto3DR:(a)带有无铅陶瓷芯片载体的样品架,配备20个触点;(b) 面内ANR;(c) 另外一个面内的ANR[4]。 3. 应用案例 在概述了ANRs、atto3DR的主要特点和优点之后,本文后一章将重点介绍通过使用基于我们的旋转器获得的传输测量的研究结果。3.1 基于ANR旋转台的应用案例3.1.1 在强磁场和200 mK条件下考察的g因子的各向异性 在Zumbühl集团(瑞士巴塞尔)与RIKEN(日本Saitama)、SAS(斯洛伐克布拉迪斯拉发)和UCSB(美国圣巴巴拉)课题组的合作进行了以显示GaAs量子点中各向同性和各向异性g因子校正的分离实验。这项研究是在两个立的横向砷化镓单电子量子点上进行的。为了在实验上确定g因子修正,通过测量具有不同强度和方向的平面内磁场的隧穿速率来得到自旋分裂。自旋分裂定义了自旋量子位的能量,是磁场中自旋的基本性质之一。在这里,他们测量并分离了两个GaAs器件中对g因子的各向同性和各向异性修正,发现与近的理论计算有很好的一致性。除了公认的Rashba和Dresselhaus项,作者还确定了动量平方依赖的塞曼项g43和穿透AlGaAs势垒gP项[5]。 此项工作是在attocube纳米精度旋转台ANRv51的帮助下完成的:样品安装在压电驱动旋转器上,并在磁场平面内旋转。由于旋转台有电阻编码器,因为能够读出旋转器的状态角度。此外,ANRv51可在高达35 T的磁场环境下使用,并可在低至mK的低温范围内使用-该实验在稀释制冷机中进行,电子温度为200 mK,磁场高达14 T。该磁场强度在任意面内方向上施加,只能通过旋转器实现不同角度下的测量。图3: sample in chip carrier mounted on ANRv513.1.2 mK位移台在材料输运性质随磁场角度的变化研究中的应用 北京大学量子材料科学中心林熙课题组成功研制出基于attocube低温mK位移台研制的低温强磁场下的样品旋转台,用于测量材料的输运性质随磁场角度的变化研究。 该系统是基于Leiden CF-CS81-600稀释制冷机系统的一个插杆,插杆的直径为81 mm,attocube的mK位移台通过一个自制的转接片连接到插杆上,如图4所示,位于磁场中心的样品台的尺寸为5 mm*5 mm,系统磁场强度为10T。系统的制冷功率为340 μW@120mK,得益于attocube低温位移台低的发热功率及工作时非常小的漏电流,使得旋转台能够很好的在<200mK的温度下工作(工作参数:60V,4Hz, 300nF)。 图4. 实现的旋转示意图和ANR101装配好的实物图 图5. 侧视图,电学测量的12对双绞线从旋转台的中心孔穿过 图6中是GaAs/AlGaAs样品在不同角度下测试结果,每一个出现小电导率的点,代表着不同的填充因子。很好的验证了其实验方案的可行性和稳定性。图6. Shubnikov–de Haas Oscillation at T = 100 mK3.1.3 25 mK和强磁场下的自旋弛豫测量 基于量子点的自旋量子位是未来量子计算机的一个有希望的核心元件。2018年,一项国际合作((Basel, Saitama, Tokyo, Bratislava and Santa Barbara)在理论预测电子自旋弛豫现象15年后,次通过实验成功证明了一种新的电子自旋弛豫机[8]。图7: Measurement setup with sample on an ANRv51 for rotating around the angle ϕ in the plane of the magnetic field. 在25 mK 的稀释制冷机和高达14 T的磁场条件下,半导体纳米结构(GaAs)中的电子自旋寿命在0.6 T左右达到了一分钟以上的新记录。有关此记录的更多信息,请参见[9]。对于该实验设置,使用了attocube的ANRv51,只有它完全符合mK温度和高磁场系统的要求。此外,在GaAs二维电子气体中形成的单电子量子点样品可以与平面内磁场相对于晶体轴作任意角度的旋转。3.1.4 从缓慢的Abrikosov到快速移动的Josephson涡旋的转变 来自瑞士苏黎世ETH的Philip Moll及其研究组使用attocube的ANR31研究了层状超导体SmFeAs(O,F)中磁旋涡的迁移率,发现旋涡迁移率的大增强与旋涡性质本身的转变有关,从Abrikosov转变为Josephson[12]。该实验中如果磁场倾斜出FeAs平面,即使小的未对准(图8: Flux -flow dissipation as a function of the angle between the magnetic field (H = 12 T) and the FeAs layers (= 0°) for several temperatures.图9: Rotator setup showing the ANR31/LT rotator carrying the sample and two Hall sensors.3.1.5 用于量子输运分析的超低热耗散旋转系统 在2010新南威尔士大学(澳大利亚悉尼)的La AYOH ET.A.课题组分析了半导体纳米器件中的量子输运。他们的主要目标是获得一个合适的旋转系统来研究各向异性塞曼自旋分裂。为了充分观察测量这种效应,需要在保持温度低于100mK的情况下,在磁场(高达10T)方向旋转样品。该样品安装在陶瓷LCC20器件封装中的AlGaAs/Ga/As异质结构。两条铜线连接到载体上。使用带RES传感器的ANRv51进行位置读出,该小组设计了一个具有两个可选安装方向的样品架(见图10):一个具有芯片载体的平面内旋转,另一个具有芯片载体的平面外旋转(见图)。ANRv51非常适合此应用:先其由非磁性材料制成,完全兼容mK,并具有一个小孔,可将20根铜线送至转子背面。在他们的论文中,研究小组仔细描述了不同驱动电压和频率下,旋转器的散热作为转速的函数[13]。在缓慢的旋转速度下,散热可以保持在低限度,即使连续旋转,仍然能让系统温度低于100 mK。当关闭旋转器时回到25 mK基准温度的时间仅仅为20 min。此外,由于滑移原理,旋转台可在到达终目标位置时接地,从而确保位置稳定性和零散热。图10: Rotation system assembly for rotating the sample in two separate configurations with respect to the applied magnetic field B.3.2. atto3DR 应用案例3.2.1 范德华异质结器件在低温40mK中旋转 理解高温超导物理机制是凝聚态物理学的核心问题。范德华异质结构为量子现象的模型系统提供了新的材料。近日,国际合作团队(团队成员来自美国伯克利大学,斯坦福大学,中国上海南京以及日本韩国等课题组)研究石墨烯/氮化硼范德华异质结具有可调控超导性质的工作发表在《Nature》杂志上。在温度低于1K的时候,该异质结的超导的特特性开始出现,电阻出现一个明显的降低,出现一个I-V电学曲线的平台[14]。图11: 图左低温双轴旋转台;图右下:石墨烯/氮化硼异质结器件,图右上,电输运测试结果,样品通过旋转后的方向与与磁场方向平行。 电学输运工作的测量是在进行仔细的信号筛选后,在本底温度为40mK的稀释制冷剂内进行的。样品的面内测量需要保证样品方向与磁场方向平行,因而使用了德国attocube公司的atto3DR低温双轴旋转台。该atto3DR低温双轴旋转台可以使样品与单轴线管的超导磁场方向的夹角调整为任意角度。通过电学输运结果,证实了样品中存在的超导与Mott缘体与金属态的转变,证明了三层石墨烯/氮化硼的超晶格为超导理论模型(Habbard model)以及与之相关的反常超导性质与新奇电子态的研究提供了模型系统。3.2.2 30mk下的扭曲双层石墨烯的轨道铁磁性 范德华异质结构,特别是魔角双层石墨烯(tBLG),是当今固态物理研究的热点之一。尽管之前对tBLG的测量已经表明,铁磁性是从大滞后反常霍尔效应中推断出来的,随后又指向了Chern缘体,但A.L.Sharpe及其同事通过输运测量实验表明,tBLG中的铁磁性是高度各向异性的,这表明它是纯轨道起源的——这是以前从未观察到的[15]。 为了进行测量,该小组将封装在氮化硼薄片中的tBLG样品安装在attocube atto3DR双旋转器上,通过巧妙设计,使其在电子温度低于30 mK的条件下正常工作,在高达14 T的磁场中,使用霍尔电阻对倾斜角度进行专门的现场校准,以便在实验过程中控制准确的面内和面外方向。图12: Angular dependence of hysteresis loops in twisted bilayer graphene, measured with atto3DR at 磁性输运测量通常涉及可变温度和强磁场。能够旋转样品是提取有用信息的关键先决条件,如三维费米表面、电荷载流子的有效质量和密度,亦或块体材料、薄膜或介观结构的各向异性相关的许多其他参数。使用基于压电陶瓷的旋转器有助于获得比矢量磁场更高的矢量场,而且能够大大降低成本。因此,attocube ANR及其成套解决方案——atto3DR——对于每一位在具有磁场依赖和低温下进行电气和磁性输运测量的研究人员来说,都是佳和的解决方案。5. 参考文献[1]L.W. Shubnikov, W.J. de Haas, Proc. Netherlands Roy. Acad. Sci. 33, 130 (1930)[2]Fermi Schematics, Sabrina Teuber, attocube systems AG[3]http://www.phys.ufl.edu/fermisurface/[4]attocube systems AG[5]L.C. Camenzind et al., Phys. Rev. Lett. 127, 057701 (2021)[6]U. Zeitler et al., attocube Application Note CI04 (2014)[7]P. Wanget al., Rev. Sci. Instrum. 90, 023905 (2019)[8]L.C. Camenzind et al. Nat Commun 9, 3454 (2018)[9]https://www.unibas.ch/en/News-Events/News/Uni-Research/New-mechanism-of-electron-spin-relaxation-observed.html[10]Y. Pan et al., Sci. Rep. 6, 28632 (2016)[11]A.M. Nikitin et al., Phys. Rev. B 95, 115151 (2017)[12]P.J.W. Moll et al., Nature Mater. 12, 134 (2013)[13]L. A. Yeoh et al., Rev. Sci. Instrum. 81, 113905 (2010)[14]G. Chen et al., Nature 572, 215 (2019)[15]A.L. Sharpe et al., Nano Lett 2021, 21, 10, 4299 – 4304 (2021)
  • ASD | 基于叶片光谱的玉米冠层叶绿素和叶片叶绿素的时空变化分析
    冠层叶绿素含量(CCC)可以反映一个种群的总光合生产力,是判断植物个体生长和营养状况的重要依据。通过遥感准确监测冠层和叶片尺度的叶绿素含量是确定作物生长状态和预测产量的关键。玉米是一种高秆作物,叶面积大,冠层深。它具有不均匀的叶片叶绿素含量(LCC)垂直分布,这限制了遥感的叶绿素含量评估。因此,了解LCC和叶片反射光谱的垂直异质性对提高CCC监测的准确性至关重要。 基于此,在本研究中,来自中国农业科学院作物科学研究所和宁夏大学农学院的研究团队以玉米为研究对象,于2019年和2020年在位于中国东部河南省黄淮海玉米生态区的中国农业科学院新乡实验站通过5个氮处理梯度(0、100、200、300和400 kg/hm2(记为N0–N400))建立各种冠层结构,采集不同生长季节作物冠层叶片,并测量了其LCC和叶片光谱反射率(ASD FieldSpec 4光谱仪+植物探头+叶片夹,光谱范围为350-2500 nm)。主要目标为:(1)理解施氮量对玉米冠层叶绿素垂直分布的影响以及生长季节叶绿素分布的动态变化;(2)在不同时空条件下探索冠层叶片光谱反射率特征差异以及验证基于叶片光谱反射率的VI模型是否可以准确反演LCC;(3)确定敏感叶位(可用于表征LCC和CCC之间的关系)以及评估基于叶片光谱的VI模型的鲁棒性和准确性,以评估冠层叶绿素状态。2020年9月2日研究区俯视图 (a)。高光谱反射率测量系统(b)。台式叶绿素分光光度计 (c) 。2020年8月8日五次氮处理(N)下的冠层状况(d)。【结果】2020年生长季节玉米冠层LCC的垂直剖面。(a、c、e)不同位置叶片的光谱反射曲线。(b、d、f)不同叶片位置波段与LCC的相关系数曲线。6种LCC-VI模型的rRMSE(%):(a)mRER、(b)VOG2、(c)CIred-edge、(d)NDRE、(e)MTCI 和(f) DD。rRMSE用于评估模型反演精度。rRMSE的值较低对应于预测值和观察值更接近。中期模型(a)、后期模型(b)和生殖模型(c)CCC预测值和2019年实测值对比。【结论】 5个施氮水平用于构建不同的玉米冠层结构,揭示玉米冠层叶片叶绿素含量(LCC)的垂直异质性以及叶片光谱反射率特征。基于冠层LCC的垂直分布,建立多元逐步回归(MSR)模型以准确监测冠层叶绿素含量(CCC);LCC表现出不对称的垂直分布,呈现出底层较低,中层上升,上层下降的趋势。氮处理显著改变了LCC,且不同处理之间LCC的垂直剖面分布基本一致。分析了不同时空条件下叶片光谱反射率特征。绿色波段(531-567 nm)和红边波段(712-731 nm)是监测LCC的敏感波段。6个经典的VIs用于构建VI-叶绿素模型,其中修正的红边比值植被指数(mRER,R2=0.87)构建的模型最优。VI模型可以准确预测生长中期的LCC(rRMSE=10.9%),但是,上、下叶层VI和LCC的相关性在营养生长早期和成熟阶段发生变化(rRMSE=36%-87%)。通过结合反演精度和多元逐步回归,结果发现在CCC估算中,营养阶段叶位L6以及生殖阶段L11+L14(L12是穗叶)最敏感。这样,基于叶片光谱反射率构建了VI-LCC-CCC模型以估算冠层叶绿素状态。利用2019年和2020年田间试验数据评估了模型性能,结果表明该模型具有良好的鲁棒性和准确性(rRMSE=8.97%)。请点击下方链接,阅读原文:https://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MjM5NjE1ODg2NA==&mid=2650312959&idx=1&sn=579c2cd2862e8037f3fe0a32dda8e2ee&chksm=bee1bc00899635161ff79ab90bcff29bc9a96537973b3be2cb439a88caa8d8e36c29108f32eb&token=1852366781&lang=zh_CN#rd
  • 春玉米种植,作物冠层分析仪能够帮助增产增收
    玉米是我国四大主粮之一,分为春玉米和夏玉米,春玉米一般是北方播种的,4-5月播种,7-8月收获,现在已经进入7月,北方各玉米种植区要开始为玉米收割做准备,玉米的产量和品质一直是种植户们最关心的问题,他们为了增产增收不断学习新的种植技术,引起新的品种。冠层结构能够影响玉米产量和品质,因为良好的冠层结构可以提高玉米叶片的光合效率,有利于玉米对能量的积累,促进了玉米的生长发育。关于玉米冠层的分析,小编推荐托普云农的作物冠层分析仪,作物冠层分析仪能够进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。要想玉米增产增收,小编总结了一些方法,如下:  1.保证全苗壮苗。当播种条件较差或种子较差时不宜直播而可用防护育苗方法。   2.适当提高种植密度。当玉米密度普遍偏稀,影响高产。可以使用冠层分析仪来进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截。因为拦截光线的主要因素是玉米植株太密,而如何做到合理的密度,这就需要冠层分析仪了。  3.重施攻蒲肥。玉米高产施肥的总要求是适施基肥、早施苗肥、重施攻蒲肥、补施粒肥。攻蒲肥用量要求达总施氮量的50%左右,一般亩产250-300公斤,尿素亩用量应达10公斤左右,在抽天花前10-15天的大喇叭口期施用。磷钾肥一般作基肥施用。   4.防治好蛀心虫。  5.做好抗旱,或通过播期调整的避旱工作。  TOP-3000型号的作物冠层分析仪,也叫冠层分析仪,专业检测分析作物冠层长势,研究分析作物的生长发育、产量品质与光能之间的关系,要知道,作物冠层的大小疏密会影响光照,而光照会影响光合作用,继而影响玉米长势,所以作物冠层分析仪的重要性就不言而喻了。
  • 世界顶级测量平台:PPMS综合物性测量系统之拓展应用篇(下)
    上一期给大家介绍了PPMS的部分测量应用,为大家呈现了PPMS基于主腔体的多种功能选件,在几十年磁学探索及合作的道路上,这部分选件功能已经为大部分磁电研究领域的科学家给予了大支持。然而,QuantumDesign公司并未止步于此,在满足客户基本需要的基础上,我们在不断突破测试限,完善测试平台的多功能性、灵活性和稳定性,新近推出了更多系列的拓展功能选件。QuantumDesign公司近期与德国attocube公司联合推出了多款可以在PPMS平台上工作的显微学和光谱学组件,涵盖了表面形貌、磁电、光学等多个领域的高精度测量,实现在变温、变磁场环境下的多种测量模式(诸如原子力AFM、磁力显微镜MFM、扫描霍尔探针显微镜SHPM、共聚焦显微镜CFM等)的形貌及表面微结构的测量等,例如:1、对磁畴成像图1磁畴测量结果,样品为NiFe薄膜。测量温度300K,探针与样品间距为20nm,dual-pass扫描模式,空间分辨率为10.7nm2、BSCCO磁通随磁场B和温度T的变化图2磁场强度从-40Oe变化到+50Oe时,磁通出现反向图3提高样品温度,磁通结构消失3、BaFeO低温测量图4相对于MFM,SHPM具有定量测量、无需接触样品表面和更高敏感性的优点测量参数:霍尔电流:10μA;扫描范围:30μm样品与探针距离:350nm;磁场分辨率:0.19mT4、氧化铁薄膜压电显微镜测量样品:层状异质结(150nmBiFeO3-Mn/35nmSrRuO3/SrTiO3(001)衬底)测量温度:82K压电力振幅图像(图5a)压电力相位图像(图5b,压电畴方向为0°和180°)图5图中有两个正方形(正方向和旋转的)是分别采用+/-15V电压书写的,从振幅图可以看到,在畴壁区域,振幅为零图6电滞回线,测量温度82K;左右分别为相位和振幅信号5、MFM模式下的磁通测量图7复旦大学PPMS用户——4K和45Gs的MFM模式下探测铁基超导样品磁通目前,PPMS平台搭建attocube光学选件已经在拥有复旦大学、中科大、物理所等多家用户,满足了不同用户的不同测试需求。QuantumDesign公司在寻求外部合作的同时,也不断突破自我,勇于创新,逐步完善测试平台。包括温度控制部分、磁体冷却方式及磁场大小、电路部分升以及氦气的利用和回收方式等,并取得了较好的效果(从代大杜瓦,EC-I到二代reliquefier,EC-II然后当前新一代DynaCool),同时也致力于研发更多功能强大的选件(比如适用于MPMS3的ETO选件),希望这些选件能为科研工作者的研究工作带来更高的精度和更大的便捷。如果您对以上选件功能感兴趣,或者期望了解PPMS更多功能选件及应用案例,欢迎您拨打:010-85120280电话咨询,我们会尽快对您的咨询给出满意的答复!相关产品链接:mpms3-新一代磁学测量系统:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c17089.htmppms综合物性测量系统:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c17086.htm完全无液氦综合物性测量系统dynacool:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c18553.htm多功能振动样品磁强计versalab系统:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c19330.htm超精细多功能无液氦低温光学恒温器:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c122418.htm低温热去磁恒温器:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c201745.htmmicrosense振动样品磁强计:http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c194437.htm智能型氦液化器(ATL):http://www.instrument.com.cn/netshow/sh100980/c180307.htm
  • 上海十五科技攻关项目“薄层色谱扫描仪研制”顺利验收
    2006年11月15日,中科院上海生物工程中心,上海市科委组织专家组,对上海科哲生化科技有限公司承担的上海市科委&ldquo 十五&rdquo 科技攻关项目&ldquo 薄层色谱扫描仪研制&rdquo 进行最终验收。 验收专家组在听取上海科哲总工程师张建明研制总结报告后,在确认测试报告、查新报告、用户使用报告、专家测评报告的基础上,再次对仪器进行了现场测试并进行了详细质询,经过周密讨论后一致认为: 该项目研制的KH-3000型薄层色谱扫描仪采用全中文界面的薄层色谱中药指纹图谱专家系统工作站,具有中国特色,符合中国国情。该工作站不仅可以控制薄层色谱扫描仪,还可以控制薄层色谱成像、自动点样、自动展开等设备。分析药物时,可以定性定量,还可以预存溶剂系统、检测条件、对照谱库,进行相似性判定,支持GMP/GLP文本方式。查新显示,&ldquo KH-3000型全波长薄层色谱扫描仪是国际上唯一的带中药指纹图谱与USB传输的薄层色谱扫描仪&rdquo 。 该仪器与同类产品比较,具有光谱范围宽、波长准确度高、检测灵敏度高、测量重复性好、功能齐全、数据传输速度快、可控性好等特点。主要技术指标达到或超过国外同类高档产品的先进水平,全部完成或超过了项目合同要求技术指标;该仪器具有新颖性与创新性,具有自主知识产权。在薄层色谱扫描仪领域填补了国产仪器空白,具有较强的国际竞争潜力,有广阔的应用前景,特别是对于我国中药现代化的质量控制将有着积极的作用。专家组一致同意通过验收,并希望尽快产业化并投放市场,以满足广大用户的需求。 与会的上海科委领导、上海分析测试学会领导高度评价了上海科哲公司的科研实力,并鼓励科哲公司再接再厉,取得更好的成绩;由来自中科院上海生物工程中心、上海药检所、大连化物所、联合利华研究中心、国家计量测试上海中心、上海计算所的专家对于仪器性能给予极高的评价与诸多宝贵的建议。 本项目的顺利完成是上海科委的远见与上海科哲的努力与上海科研的实力共同打造的,是我国薄层色谱仪器研发的里程碑,不仅产品品种齐全,而且自动化程度、易用性很高,性能等于或超过进口产品,在我国仪器研发史上是不多见的,使我国一跃成为了薄层色谱仪器强国,上海科哲的全自动薄层色谱仪器与上海科委支持的上海精科的全自动气相色谱、上海伍丰的自动化高效液相色谱、上海天美的离子色谱一起已经构成了门类齐全、技术水平领先的色谱仪器工业体系,使上海成为我国主要的色谱仪器工业高地,为&ldquo 上海制造&rdquo 谱写了新的篇章。 为了满足科技产品要尽快产业化的要求,上海科哲生化科技公司计划2007年1月1日正式推出基于科技攻关项目的新产品系列,包括:KH-3000型全波长薄层色谱扫描仪、KH-2100型专用型光栅薄层色谱扫描仪GoodLook-1000型全自动薄层色谱成像系统、GoodSee-20E型经济型薄层成像系统、SP-20E自动化薄层点样器、TK-20E自动薄层展开仪、TS-20E自动定量喷雾器;建立了与进口产品一一对应的关系,我国薄层色谱工作者增加了更实惠的选择。
  • 涂魔师在线漆层检测|复杂外形工件表面非接触漆膜膜厚自动检测系统
    涂魔师在线漆层检测|复杂外形工件表面非接触漆膜膜厚自动检测系统测量平坦表面涂层厚度并不容易,对复杂几何表面结构的涂层厚度的测量更加困难。传统的单点接触测量往往无法满足客户需求,这种方法通常是相当不准确的,而且只适用于固化后的涂层厚度测量,无法支持在生产工艺过程中进行涂层厚度测量。为了实现对复杂几何表面结构的涂层厚度,涂魔师在线漆膜测厚仪基于先进的ATO光热法技术,研发了一款利用涂层与底材之间的热性能差异进行涂层厚度的非接触无损测量系统。涂魔师漆膜膜厚自动检测系统适用于粉末喷涂,能精确检测粉末涂层厚度,稳定喷涂工艺质量;适用于湿膜和干膜应用,能精确检测固化前湿膜涂层即时得到干膜厚度,节省时间和稳定质量等。通过调研,50%的人在固化或干燥工艺后手动测量涂层厚度,43%的人是在有质量保证的实验室中手动测量涂层厚度,21%的人在选择在固化干燥工艺前手动测量涂层厚度,然而,没有人使用自动化仪器进行涂层厚度测量并优化喷涂工艺。从调研结果上看,大部分的人选择在生产线后期使用接触式涂层测厚仪,手动测量固化后的涂层厚度,然而,无论是湿膜还是干膜,在生产线末端进行涂层厚度测量已经太晚了,如果此时测量效果不好,则会产生大批量的次品,需要进行返工,这将导致更多的资金、人力、物力的消耗。涂魔师非接触无损测厚系统能够在生产线早期阶段进行涂层厚度测量,为您和您的客户记录涂装工艺过程的连续数据,为优化工艺、更换耗材提供依据;能减少物料消耗;提供高精度的生产条件,及时分析膜厚数据,及时发现喷枪堵塞等失效问题,协助调整工艺参数。涂魔师在线漆膜测厚系统如何实现在固化前测量涂层厚度?涂魔师在线漆膜测厚系统使用ATO光热法原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师漆膜膜厚自动检测系统产品系列介绍涂魔师漆膜膜厚自动检测系统有FLEX手持式,Inline在线式,Atline实验室,3D整体膜厚成像系统这4种。涂魔师手持式涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。使用手持式涂层测厚仪FLEX在产线上监控喷粉膜厚后,调节出粉量后节省30%的粉末。特别是对于小批量,产品未出炉已喷完,所以无法根据干膜调整膜厚。而涂魔师在开始喷涂的几分钟内就调整好出粉量,减少返工,降低成本。涂魔师3D整体膜厚成像系统,通过3D成像检测技术,轻松非接触精准测量形状复杂零部件的膜厚分布情况,测试点的数据与工件被测部份一一对应,实时高效监控膜厚真实情况。为什么需要测量整体的涂层厚度?通过使用涂魔师3D整体膜厚成像系统测量涂层厚度,可以使涂层分布清晰可见,连续实时检测产线的移动工件膜厚,无需严控测量条件,对于摇摆晃动、外形复杂(曲面、内壁、立体、边缘等部位)、各种颜色(不受白色等浅色限制)的工件也能精准测厚。通过SPS等接口实现涂装线的自动化控制,能将涂魔师3D整体膜厚成像系统轻松高效集成到现有涂装线上,集成成本低。涂魔师3D整体膜厚成像系统测量复杂几何表面工件涂层厚度,能够在半秒内获得复杂形状工件表面大约十万个测量点的信息,这使得复杂表面涂层厚度的测量变得简单,并通过对测量结果的记录归档及时调整工艺,实现对喷涂工艺质量的有效控制。翁开尔是涂魔师漆膜膜厚自动检测系统中国总代理,欢迎致电咨询涂魔师漆膜膜厚自动检测系统更多产品信息和技术应用案例。
  • 微观丈量,“膜”力无限——马尔文帕纳科薄膜测量专题网络研讨会成功举办
    仪器信息网讯 2022年10月14日,由马尔文帕纳科携手仪器信息网联合主办的“微观丈量,‘膜’力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量专题网络研讨会”成功举办。本次活动吸引500余人报名参加,直播间气氛活跃,提问不断。马尔文帕纳科先进材料行业销售经理程伟为活动致开场词。程伟讲到,马尔文帕纳科隶属于英国思百吉集团,为微观领域材料表征技术专家,聚焦基础材料、先进材料、医药与食品三大市场,致力于释放微观世界的力量,促进宏观世界的改变。马尔文帕纳科的XRD、XRF产品可以为薄膜材料分析提供全面解决方案,帮助客户获得薄膜材料的元素构成、物相、厚度、取向、残余应力等关键信息。会议特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享精彩报告。同济大学朱京涛教授作《X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用》主题报告,系统介绍国内外多层薄膜研究进展,并结合其团队研究实例,围绕X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用开展探讨,采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息。从1954年飞利浦第一台用于薄膜分析的X射线衍射仪诞生以来,马尔文帕纳科X射线分析技术应用于半导体薄膜材料测量已有非常悠久的历史,目前可为世界各地的半导体制造商提供完整的物理、化学和结构分析解决方案,从薄膜厚度和晶向到组分、应力、结晶度、密度和界面形态等。马尔文帕纳科亚太区半导体销售经理钟明光详细介绍了公司X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的整体解决方案,包括新一代X'Pert3 MRD(XL)高分辨X射线衍射仪、2830ZT波长色散X射线荧光圆晶分析仪等。多晶薄膜材料的晶型、残余应力和织构影响着薄膜的物理和力学性能,对这些参数进行测量和分析可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据。在衍射仪中构建适合薄膜分析的光路,在常规的晶型分析外,还可以对薄膜材料进行无损的残余应力和织构分析。马尔文帕纳科中国区XRD产品经理王林带来题为《多晶薄膜应力和织构分析》的报告,结合多晶薄膜分析示例,分享了马尔文帕纳科X射线衍射技术在多晶薄膜的物相、应力、织构表征方面的应用。Aeris台式衍射仪的演示短片通常,X射线衍射仪分析薄膜材料,都是在大型落地式的XRD上实现的,但马尔文帕纳科在2021年推出了新一代的Aeris台式XRD,可以通过增加掠入射功能附件,实现在占地面积更小的台式衍射仪上进行薄膜的物相和掠入射残余应力分析。报告间隙,特插播Aeris台式衍射仪演示短片,让用户更直观了解这款“一机多能”的多功能型台式X射线衍射仪。X射线荧光光谱通常被认为是一种成分分析技术,广泛应用于各类工业过程控制。追本溯源,其分析原理来自于X射线与物质的相互作用,因此该技术的应用也被延伸至各类薄层样品的表征,获取涂层和镀层中的层厚和薄层成分信息。在薄层样品的分析上,XRF具有无损分析、测量速度快、层间界面要求较低、样品尺寸灵活和适用多层分析的特点,被广泛用于半导体、金属、电子等领域。报告中,马尔文帕纳科中国区XRF产品经理熊佳星先生分享了X射线荧光技术用于涂层镀层分析的原理、方案及典型应用,并演示了实际样品的测量过程;视频中,Epsilon4台式XRF搭配专用的薄膜分析软件Stratos可以实现对涂层和镀层的快速、准确的无损分析。台式荧光仪镀层分析演示视频本次专题活动,马尔文帕纳科还为用户准备了丰富的礼品,随着第三轮抽奖活动的结束,会议进入尾声。未来仪器信息网和马尔文帕纳科也将一如既往为薄膜材料等先进材料用户提供更多更优质的服务。更多活动详情请点击下方专题。
  • ADVANCE RIKO发布激光闪光法热常数测量系统新品
    激光闪光法热常数测量系统TC-1200RH采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 仅需1/4的时间(与使用电阻炉的传统型号相比)。因控温灵敏度提高,温度稳定性大大增加。设备特点红外金面炉的使用使得加热和冷却速度大大提高1. 使用红外线直接加热样品可以迅速使温度稳定;2. 控温的灵敏度提高使得低温区间内的温度稳定性得到改善,从而减少温度波动,进而太高测量精度。符合JIS/ISO标准要求1. 激光闪光法测定精细陶瓷的热扩散系数、比热容及热导率(JIS R 1611) 2. 精细陶瓷热电材料的测定方法 – 第3部分:热扩散系数、比热容及热导率(JIS R 1650-3) 3. 激光闪光法测定铁的热扩散系数(JIS H 7801)应用方向• 热电材料的研究与开发 • 陶瓷、金属及有机材料的研究与开发 • FPD散热材料的热扩散率和比热容评价 • 半导体器件和模制器件的材料热扩散研究设备参数1. 测量参数:热扩散系数,比热容2. 样品尺寸:φ10mm×1mm~3mm(厚度)测量方向:厚度方向3. 测量氛围:真空(*不高于150℃时,可在大气下测量)4. 温度范围:室温至1150℃(最高1200℃)最大升温速度目标温度~100℃~300℃~1150℃升温速度10℃/min20℃/min50℃/min安装条件1. 主机尺寸:约 W900mm×D1050mm×H1700mm2. 主机质量:约 350kg3. 电源:AC200V 单相 8kVA(主机) AC100V 单相 1kVA(PC)4. 冷却水:城市用水 >5L/min 压力>0.15MPa可选件• 方形样品托 • 多样品上样装置:最多3个样品 • 基体测量附件 室温:SB-1 200℃:SB-2• 多层材料分析软件FML系列 如果其中一层材料的热物理参数已知,可根据测量结果分析多层材料 (多层材料分析的模型在JIS H8453中已列出) • 高温炉:最高可达1500℃创新点:使用红外加热炉直接加热样品可以迅速使温度稳定,大大缩短测量时间;控温的灵敏度提高使得低温区间内的温度稳定性得到改善,从而减少温度波动,进而提高测量精度。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 激光闪光法热常数测量系统
  • 1465万!北京理工大学纳米光谱与成像探测系统、超高速波长调制光学测量系统采购项目
    一、项目基本情况1.项目编号:ZTXY-2023-H21768项目名称:北京理工大学纳米光谱与成像探测系统采购预算金额:700.000000 万元(人民币)最高限价(如有):700.000000 万元(人民币)采购需求:名称数量单位简要技术要求是否接受进口产品北京理工大学纳米光谱与成像探测系统1套采用散射式近场光学(s-SNOM)设计,近场光学空间分辨率与入射光波长无关,在可见光和红外光波段范围内均能够实现光学超分辨成像,光学空间分辨率≤10nm;是 合同履行期限:合同签订后12个月内交货并安装完毕。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号:ZTXY-2023-H21769项目名称:北京理工大学超高速波长调制光学测量系统采购预算金额:765.000000 万元(人民币)最高限价(如有):765.000000 万元(人民币)采购需求:名称数量单位简要技术要求是否接受进口产品北京理工大学超高速波长调制光学测量系统1套包括4个模块即激光器主机模块、调频模块、锁频模块以及测量分析模块,需保证模块间的互相协作及集成整合,可针对爆轰反应流场的多物理参数是 合同履行期限:合同签订后6个月内交货并安装完毕。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年12月04日 至 2023年12月11日,每天上午8:30至12:00,下午12:00至16:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:北京市朝阳区南磨房路37号华腾北搪商务大厦11层1103室(或邮件方式)。方式:现场报名或邮件方式。邮件方式:在本项目招标文件发售截止时间前,将支付标书款凭证发至邮箱baoming_ztxy100@163.com。邮件主题“【北京理工大学超高速波长调制光学测量系统采购】-XXX公司”。邮件内容“【项目信息(项目名称、项目编号),投标人信息(公司全称、统一信用代码),联系人信息(姓名、手机号、电子邮箱)】”以标书款到账时间为准,逾期汇款报名无效(未及时发送报名信息导致的后果,投标人自行承担)。售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:北京理工大学     地址:北京市海淀区中关村南大街5号        联系方式:陈老师,010-68912384      2.采购代理机构信息名 称:中天信远国际招投标咨询(北京)有限公司            地 址:北京市朝阳区南磨房路37号华腾北搪商务大厦11层1103室            联系方式:王文姣、王师安、于海龙、成志凯、张静、鲁智慧,010-51908151             3.项目联系方式项目联系人:王师安电 话:  010-51908151
  • 先睹为快!国产厂商首发新品:太赫兹三维层析成像系统
    p    strong 仪器信息网讯 /strong 2020年5月29日上午九点,青源峰达将在抖音平台发布新产品QT-TO1000太赫兹三维层析成像系统。 /p p   青岛青源峰达太赫兹科技有限公司是中国工程物理研究院及青岛盛瀚色谱技术有限公司合资成立的公司,致力于太赫兹基础技术、系统技术和应用技术的研发设计,重点领域为医学及工业检测领域。公司成立以来,已发布了QT-TS1000高精度太赫兹时域光谱系统和QT-TS2000快速太赫兹时域光谱系统两款新产品。 /p p   5月29日,青源峰达将再次网上发布新产品QT-TO1000太赫兹三维层析成像系统。届时,此产品的研发负责人、技术大咖们将从幕后走向台前,通过现场和线上的不同形式与用户实现面对面交流,从不同维度全面阐述产品的核心亮点,与应用客户和技术爱好者进行深入交流和探讨。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 450px height: 342px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/c20c958e-7f58-4b8e-b469-28334f8c6085.jpg" title=" 太赫兹.jpg" alt=" 太赫兹.jpg" width=" 450" height=" 342" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " strong 新品外观先睹为快 /strong /p p   三维层析成像技术是目前国内外光学领域一个重要的研究方向,以嵌入到了现代工业与文化创意产业的整个流程 它是获取物体表面形态特征的重要手段,也是真实物体三维数字化的基础。太赫兹三维层析成像技术是较为成熟的三维物体表面成像与测量技术,是一种太赫兹波谱方式的宽场成像技术 经过特定算法的解算和重构可以实现三维光切片成像,并且能够精确解析样品表面的复杂结构。 /p p   中国工程物理研究院主要从事国家战略高新技术装备和战略科技领域的研究,主要学科方法包括微波毫米波电路及系统研究, span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 太赫兹电路及系统研究 /span ,电真空电子电路及系统研究,通信与信息系统研究,超高速数字信号处理研究等。 /p p   除了新品面世,发布会当天,青源峰达太赫兹科技有限公司与青岛大学将围绕太赫兹技术应用、海洋观测等领域的科学和技术问题,依托物理科学学院学科平台以及山东省海洋观测与宽带通信技术协同创新中心,结合青岛青源峰达太赫兹科技有限公司在太赫兹与水下观测方面的技术基础和生产研发平台,本着优势互补、互利共赢、促进发展的原则,在专业人才培养、科研合作、成果转化等方面达成合作协议,并签署协议,努力实现“校企合作、产学共赢”,推动学科服务社会能力和科研成果转化。届时,中国工程物理研究院流体物理研究所、中国石化青岛安全工程研究院、山东科技大学等院校专家领导将共同见证! /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/a164fb1b-6874-4a8a-a102-a9b145b66ccd.jpg" title=" 微信图片_20200528175821.jpg" alt=" 微信图片_20200528175821.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 欢迎参会! /strong /p p br/ /p
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