反射测量支架

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

反射样品支架，YME-2063/2067 描述反射样品支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。我们提供了单臂、双臂和倒置三种不同的形态，方便用户应用于不同的测试应用中。YME-2063-01单臂形态主要用于固定Y型光纤探头，可测量光垂直入射的情况。YME-2063-02双臂形态主要用于固定两根石英光纤探头，可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换，具备高灵活性和强实用性。YME-2603-03倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合，可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确等。特点多形态可选，适用更多的应用底盘可定位多种标准尺寸多方向控制光纤入射和出射的角度技术参数更多精彩内容，请关注下方！

产品详情 FLB反射测试支架是测试支架的一种，用于测量反射光谱时一般连接多芯光纤使用，尤其是Y型多芯光纤，可以与光谱仪，光源及其他配件组合成反射光谱测量系统。灵活可变 — 支架高度可方便改变，方便集成 — 尺寸更小、更薄、即插即用，方便拆卸，满足实验室测试需求产品参数材质：铝+不锈钢底盘尺寸：&emptyv 200mm* 20mm最大可调高度：200mm

光纤反射测试支架 上海闻奕光电的反射型光学测量台是光学多角度反射率光谱测量的一个经典案例，本公司主要针对科研、工业检测、食品安全、医疗美容等领域有较为丰富的经验。 上海闻奕光电科技有限公司生产的反射型光学反射率测试平台具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 闻奕光电利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。更多详细信息：

SPL-STAGE-TR规格和价格表 谱镭光电提供的透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个COL-UV准直透镜，还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 特点· 实现透射和反射光谱测量· 测量高度可调· 测量高度可通过一维平移台微调· 自带两个准直透镜· 可定制配合安装孔尺寸 型号型号说明备注SPL-STAGE-TR应用场合:透射/反射光谱测量,高度既可粗调，又可微调带两个COL-UV准直透镜、一个一维平移台、一个万向杆架 技术规格型 号SPL-STAGE-TR应用场合透射/反射光谱测量可调高度210mm(可定制)一维平移台行程25mm(可定制)探头安装配合Ф6.35mm探头(可定制)底座尺寸Ф180mm自带准直透镜工作波长：200-2000nm(型号:COL-UV)材 料铝材(发黑处理)

品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30（不含积分球和光纤） 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台（可以定制其他长度），本产品包含3个准直镜，可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤，用于液体/固体样品的透射/吸收，荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米（可定制长度）组成部分样品盘，横杆，适配器，准直透镜（2）和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器（可选）FT-ISxx-30，用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球

漫反射荧光样品支架，XME-2303 描述漫反射荧光样品支架，适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱。XME-2303具备一组45o夹角的反射光路，可选配加装两片直径10mm的滤光片。在荧光测量应用中，加装一片滤光片于激发光路，可用于消除激发光源除主峰外的杂峰；而另一片加装于收光光路，可用于滤除荧光光谱中的激发光谱。特点适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱可适用于任意尺寸的平面样品微型结构，通过SMA905接口与光纤相连内置准直镜，可选配加装滤光片技术参数更多精彩内容，请关注下方！

反射率测量系统搭配的反射式积分球反射式积分球

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 闻奕光电利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。FS系列反射支架型号选择：具体可以访问本公司网站：

BIM-6302 透射支架描述BIM-6302透射支架有以下两种用途： 一个是用作透镜支架，中间的夹具适用于直径25mm内的固体样品，比如滤色片等；或者将中间的夹具移走，可以直接夹持超大或特别厚的样品；另一个是用作比色皿支架，可调节宽度达 14 厘米。特点多功能 : 可用作透镜支架或比色皿支架宽度可调节 : 适合各种固体样品参数型号BIM-6302光纤接头2个SMA905接头，带准直透镜 导轨200mm，可调节宽度14cm夹具可调直径范围25mmBIM-6303 & 6314 & 6315 光学反射支架BIM-6303 & 6314 单双臂反射支架概述单双臂反射支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。单臂形态时主要用于固定Y型光纤探头，可测量光垂直入射的情况；双臂形态时主要用于固定两根石英光纤探头，可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换，具备高灵活性和强实用性。产品特点多功能：支持单臂或双臂反射应用定位样品放置位置：适用于Φ40mm，Φ60mm，Φ80mm，Φ100mm直径的样品尺寸。定位灵活 : 具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛应用于多角度测量。技术参数尺寸：Φ150mm×13mmBIM-6315 倒置式反射支架概述倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合。可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确相等。兼容产品SIM-6102 石英光纤BIM-6305系列 比色皿支架描述比色皿支架用于固定不同光程的比色皿，可以通过SMA905 接头的光纤耦合光纤光谱仪和光源，组成小型化的光谱系统，用于各种液体样品的透射率和吸光度测量。可以选配黑色阳极氧化铝材质的外罩（标配不含），用于屏蔽环境光，以及在采集暗背景时截止光路。技术参数型号BIM-6305-01BIM-6305-02比色皿槽（W×L）12.5mm×12.5mm（W×L）12.5mm×12.5mm（W×L）光纤接头2个SMA905，带准直透镜2个SMA905，带准直透镜尺寸140mm×140mm×40mm140mm×140mm×45mm滤光片槽5.5mm无兼容产品BIM-6301-Q，石英比色皿BIM-6305-03 四通道比色皿支架概述四通比色皿支架设计有紧配装置，比色皿装入时可以紧贴两个参考平面，同时还设计有一个滤光片狭缝，在利用高通滤光片进行荧光测量时特别有效。 特点测试多样化：对一个样品进行吸光度／透光度测量时可以使用两个准直器。进行荧光测量时也可以使用两个准直器。还可以使用两对准时器同时测量同一个样品的吸光度/透光度和荧光测量。准直透镜可从支架上卸下，并可单独使用在任何需要光纤进行无光束耦合的固定器上,进行在线透射率的测量。应用能够测量吸光度、荧光度、散射或以上光学现象的任何组合性能的测量。技术参数光程10mm准直透镜标配4个准直透镜，透镜直径5mm准直透镜终端SMA905滤光片狭缝可安装滤光片最大尺寸为30mmx30mmx6mm尺寸图产品的光路说明，如图：左边的光纤接光源，通过光纤准直镜将发散光转换成平行光，再透过滤光片照射在样品上。另一路则是样品反射或者激发的光通过滤光片再到准直镜聚焦至光纤，然后接到测量设备进行测量分析。BIM-6316 积分球支架概述积分球支架主要用于固定反射式积分球，并用于固体表面的漫反射测量中。反射式积分球通常会有一个入光口在积分球的底部，所以无法直接放置在平台上使用，只有将其固定在积分球支架上，才能保证积分球在测量过程中始终保持稳定。积分球支架的夹持尺寸，根据所夹持积分球的大小可进行定制。兼容产品SIM-3003，反射式积分球BIM-6321 光纤支架概述光纤支架主要用于光纤的固定和光路对光调整。光纤通过SMA905接口固定在顶部的光纤夹具上，而夹具的另一端则是光的接收口，接收口设计灵活，直径可定制，可以根据用户要求安装聚光透镜等光学元件。技术参数可调范围：50mm 高度调节方式：通过固定螺钉 光纤接头：SMA905 接口固定方式：直接放置在平台上或螺钉固定在光学平台上可选配在入光口处加装聚光透镜。兼容产品SIM-6102 石英光纤BIM-6335 立式透射支架，可调高度描述BIM-6335立式透射支架，中间载物台可放置不同形状、大小与厚度的固体样品，比如滤色片、镜片等，其高度可调范围为5厘米。如需要直接放置较大或较厚的样品时，可将中间的载物台移走，此时，高度可调范围为8厘米。特点高度自由调节，适合不同形状、大小及厚度的固体透光样品；样品测试孔为6mm；采用扁位立柱，保证光纤固定座与载物台在同一光轴上应用领域固体透光样品的透过率测量技术参数型号BIM-6335光纤接头2个带3/8-24螺纹的SMA905接头，带准直透镜立柱200mm，可调节高度8cmSIM-6302 45°漫反射微型光纤支架概述可以在光路中安装两片滤光片（直径〈10mm），一片安装于激发光路，用于消除激发光源除主峰外的杂峰，另一片安装于收集光路，用于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。因此，该探头除了可以测量漫反射光谱，还可以检测固体表面的荧光光谱。应用可应用于漫反射测量，固体荧光测量。技术参数包含2个准直镜，每个准直镜前端可加载一个或2个滤光片（标配不含滤光片）尺寸图产品的光路说明，如图：左边的光纤接光源，通过光纤准直镜将发散光转换成平行光，再透过滤光片照射在样品上。另一路则是样品反射或者激发的光通过滤光片再到准直镜聚焦至光纤，然后接到测量设备进行测量分析。

1 产品简介ARS2000角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪，主要满足客户通过对光子晶体、超导材料等纳米光学材料的反射率、透射率、吸收实现晶体的能带、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光学元器件客户采用ARS实现光学元器件特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。配套的手动式透反射测量支架实现入射角度为0°~120°，接收角度为8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及辐射光谱测量。内部集成的ARM嵌入式系统以及Uspectral Plus软件，实现客户在线测量。同时该系统配置Windows软件，满足客户光谱分析的需求。 2 规格参数产品型号ARS2000主机尺寸230×200×110 mm支架尺寸300×200×230 mm整机重量3.2kg光谱波段350nm～1050nm光纤配置600μm UV-VIS嵌入式主板Linux系统QT界面显示屏幕7寸显示屏钨灯光源5W光纤输出接口SMA905积分时间8ms-5s入射角度0-120°接收角度8-180°角度分辨率0.1°载物台高度0-5cm光斑直径0.56cm控制软件嵌入式供电接口AC 220V#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 专 业： 满足辐射、透射、反射、散射等精检测需求 ? 方 便： 易维护，体积小巧、性能稳定，存放方便，易于使用 ? 强 大： 配套功能强大的专业软件包? 存 储： 可通过USB接口实现数据及时存储4 产品应用? 光源测试? 镀膜材料? 光子晶体? 液晶显示? 传感器器件制备? 角度材料相关分析? 纳米光学材料5 操作软件

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。测量反射率的时候，必须考虑样品的反射是镜面反射还是漫反射。我们观察到物体的颜色大多数是基于漫反射，而那些非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射和漫反射同时存在。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的，另外需要判断我们是否要接收全部还是部分的反射光。在食品应用中，大多数反射测量都是基于漫反射来测定的。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取反射率值，数据可重复导入读取、使用无需暗室操作应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1010，石英光纤。光纤数量：2积分球SIM-3003-02501，1英寸反射用测光积分球积分球支架BIM-6316-25，积分球支架标准板SIM-6326-30，镜面反射标准板 或 SIM-6304-20，漫反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

WS-1标准漫反射参考白板WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE制成的。PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。PTFE可以被地加工成需要的形状，做成无定形结构，参考板对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。 WS-1具有非常好的长期使用稳定性，包括用紫外线照射的条件下。同时，它不易被水沾湿，化学性质也很稳定。 WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板 WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板，采用Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水浸而且热稳定性良好，可以在高达350度的条件下使用。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。相对于PTFE材料的白板，WS-1-SL的表面如果被污染或者有划痕，您可以将它打磨后继续使用。 WS-3-GEM白色参考板WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成，其不锈钢容器内部被做成凹面形，这使得光线照射时，WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500 nm的反射率大于98%，对250-2000 nm的反射率大于95%。与WS-1类似，WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿，化学性质也非常的稳定。 漫反射参考白板WS-1WS-1-SLWS-1-SSWS-3-GEM尺寸:38 mm 直径(外壳) 32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)31 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)重量:30 g30 g30 g70 g光谱范围：250-2000 nm250-2500 nm250-2000 nm250-2000 nm外壳:铝塑料, 保护盖不锈钢不锈钢反射率:98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)99% (400-1500 nm)96% (250-2000 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm) 镜面反射参考白板 通用且耐用的参考我们提供三种镜面反射白板，用作测量表明反射率的参考。每个白板由31.7mm的外径的光学反射材料组成，外面是铝制的外壳和带螺纹的盖子。表层的镀膜非常优异，性能稳定，可以承受高温和机械压力。 高反射率测量STAN-SSH高镜面反射率标准可以做为测量像感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等。 表面具有高镜面反射率值的物质时的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型，NIST认可的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张光盘，其中数据可以上传到光谱仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 低反射率测量STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以做为测量像薄膜层，抗反射层，阻挡滤光片等。 表面具有低镜面反射率的物质时的参照。STAN-SSL的涂敷层 在200-2500 nm波长范围内提供~4.0% 反射率。STAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL基底尺寸:31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度外壳尺寸:38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度重量:40 g40 g40 g反射率材料:Front-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateFront-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateSchott ND9 glass反射率:~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~5% (200-950 nm)~4% (950-2500 nm) 韵翔光电也可以为您提供配套的支架和测量仪器（光谱仪和照明光源）， 帮助您实现各种样品的反射测量。

精密温控样品池支架：-10.00~+105.00oC (±0.02oC)(可扩展定制-55.00oC到+150.00oC版本) QUANTUM NORTHWEST（QNW）公司生产光谱分析用的温控样品池支架，可以在很宽的温度范围内实现快速准确的温度控制，几乎可以为任一光谱分析应用提供单个或多个温控样品支架，新一代温控样品池支架，可以用于紫外/可见光、荧光、圆形二向色、光色散、瞬态吸收、光纤、近红外、拉曼、中子散射和声光光谱学。也可提供定制选项。 特点帕尔贴控制可得到快速精确地控制温度变化快速改变温度，在需要的温度范围内降低温度变化速率可在非常高或低的温度范围内工作可使用脚本自动控制温度变化通过磁性搅拌可使得样品温度均匀每种型号都可以定制以适合不同的光谱仪要求使用热敏电阻探测器记录内部样品温度qpodTM样品池支架，光纤光谱仪应用 qpodTM 系列是用于光纤光谱仪的温度调制样品支架，它可以将标准 1 平方厘米的比色皿的温度控制在±0.05oC。该装置附带一个帕尔贴控制器、磁性搅拌棒和熔融石英聚焦透镜，另外它还有 SMA905 接头，可耦合海洋光学光谱仪及其附件产品。 高质量熔融石英透镜、紫外增强前表面反射镜和偏振片所有光学组件都可调节聚焦和位置附带光学狭缝以限制进入样品池的光线可选配 12.5mm 直径滤波片支架可变速度的磁性搅拌棒温度范围：-40 ~ +105 oC (qpod) | -40 ~ +105 oC (qpod 2e)qpodTM 可选三种配置形式，CUV-qpod-ABSKIT 提供准直透镜用于直接通光用于吸收、透射测量。 CUV-qpod-FLKIT 提供成像透镜系统用于在直角位置激发和接收荧光。CUV-qpod-MPKIT 为多功能套件则带有一套光学元件，既可用于吸收又可以用于荧光测量。还可以另外选配滤光片支架和偏振片。 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

积分球样品支架，YME-2069 描述积分球样品支架，适用于固定XME-2203系列反射用测光积分球。因为反射用测光积分球的样品口与入射光纤接口分别在在积分球的底部和顶部，因此无法将积分球直接置于平台上使用。YME-2069积分球样品支架则可以将积分球倒置固定，确保样品置于样品口的正上方，同时也方便光纤的连接和固定，极大地提高了测量的便捷性和稳定。特点将积分球倒置固定适配XME-2203系列反射用测光积分球技术参数更多精彩内容，请关注下方！

SQUARE ONE是一款坚固、易于使用的比色皿支架，可用于高精度的吸光度和荧光测量。支架可容纳1cm光程长度的比色皿，具有遮光盖以减少环境光照对测量的影响，从而确保比色皿和滤光片提供的测量结果处于较好状态。SQUARE ONE（SQ1-ALL）有一个内置的反射镜，用于优化荧光信号的强度。两个滤光片槽，可接受直径为12.5 mm或25 mm的光学滤光片，通过滤光片，用户可以调整荧光激发和发射波参数：准直透镜：三个熔融石英透镜（200-2000 nm）光纤接口：SMA 905尺寸：111毫米x 90毫米x 74毫米mm重量：618 g光程：1 cm滤光片槽：两个，可接受直径为12.5 mm或25 mm的光学滤光片。荧光配件：反射镜（74-MSP）以增强荧光信号；铁氟龙漫反射境（CVD- DIFFUSE）以增强荧光信号。

比色皿支架SMO-01A可容纳1cm光程的比色皿（12.5mm*12.5mm），支架配有两个焦距可调的准直透镜，具有遮光盖以减少环境光照对测量的影响，有一个内置的反射镜，用于优化荧光信号的强度。两个滤光片插板，可根据客户需求，配置不同波长范围的滤光片，用户可以通过调整滤光片匹配不同激发光和发射光完成荧光测试。滤光片适用尺寸：直径15mm，厚度不大于2.5mm。另外支架搭配一个光陷模块，用于降低激发光干扰。本支架可与光谱仪，微弱光检测仪和光源通过SMA905接头光纤耦合。组成小型综合光学分析系统，能够测量各种液体样品透射率，吸光度、及各种光谱测量。 参数：准直透镜：两个准直透镜（200-2000 nm）光纤接口：SMA 905比色皿尺寸：45*12.5*12.5mm尺寸：111x 90x 74 mm重量：618 g光程：1 cm滤光片插板：两个滤光片插板，适用直径15mm，厚度不大于2.5mm的光学滤光片。（不含滤光片）检测配件：一个反射镜模块（增强荧光信号），一个光陷模块（降低激发光干扰）。滤光片：可定制

▼概要　　自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且，根据任意设定P偏光和S偏光角度，能研究样品的偏光特性。可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上，也可以选择用在适合高分辨率，高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。◆装置特点 ?PC直接控制设定角度及光谱测量等条件?测量范围广，从紫外到近红外区域?双光束光学系统，测光稳定性好?可分别控制入射角、受光角?标配偏光测量功能?专用的样品池支架，样品的装卸简单◆规格▼ARMV-734/ARMN-735　自动绝对反射率测量组件（V-600用） 型号ARMV-734ARMN-735测定波长范围250～850nm250～2000nm测量方式测量绝对反射率、测量透过率入射角5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项)角度间隔0.1°间隔设定方式同期、非同期（入射部和受光部）测量偏光S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。▼VAR-7010/7020/7030　自动绝对反射率测量组件（V-7000用）型号VAR-7010VAR-7020VAR-7030 测量波长范围250～900nm250～2000nm250～1800nm测定方式测量绝对反射率、测量透过率入射角5°～ 60°(测量绝对反射率）、0°～ 60°(测量透过) 0　～　85℃（大入射角样品支架、选项)角度間隔0.1°间隔设定方式同期、非同期（入射部和受光部）测量偏光S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。

卧式透射样品支架，YME-2062 描述透射样品支架适用于固定不同尺寸的固体透光样品，并对其进行光谱透过率测量。YME-2062透射支架采用卧式结构，包含一个样品夹具，可夹持样品的直径范围是0-25mm。其两端则各为一个SMA905光纤连接器，通过光纤可分别与光谱仪和光源连接，进行透射光谱的测量。特点适合圆形或者方形平面的固体透光样品导轨式结构设计，确保光学元件在同一光轴上长度行程可调技术参数更多精彩内容，请关注下方！

可调节准直透射支架 闻奕光可调节准直透镜支架是二合一的产品；一个固定装置,用于将准直透镜定位于不同的高度或者支持更大更厚的样品，以及一个用于放置样品的支架，用于透射度测量。产品介绍 作为透镜的支架，本产品具有一个阳极氧化铝底座和带有3/8-24螺孔的可调固定面板，用以容纳准直透镜（包括了两个光纤准直透镜）。面板可以通过调节，容纳的样品最厚可达150mm，底座上有1mm间隔的刻度，可作为光程的标尺。本产品具有样品支架，可以将被测物品安全地放置在两个固定面板之间，最宽可容纳150mm的比色皿。产品规格底座装配材料:黑色阳极氧化铝固定面板装配材料:黑色阳极氧化铝尺寸(MM):200/300（定制） x 67 x 187重量:1,000 g +？螺纹:-- -固定面板-- 3/8-24螺纹--面板用固定螺丝钉-- M6测量面板:0.5 cm刻度，作为光程的标尺（总长度10cm）更多详细信息：

品牌：久滨型号：JB-106名称：逆反射系数测量仪一、产品概述：　　JB-106型逆反射系数测量仪（逆反射测量仪、反光标识检测仪），是依据国家相关标准研制开发的测量仪器，该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°，入射角-4°，在此几何条件下，测量各种逆反光材料值，这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准： 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004，GB23254-2009。三、优势及特点： 仪器采用精密设计的光学传感系统，配以32位单片微机作为数据处理核心，采用彩色液晶屏作为显示器件，汉字提示，清晰直观，简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池，使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理： 在一定几何条件下，在单位光照下，反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示，单位：cd/lx/m2。五、技术指标：1.测量范围：0～1999 cd/lx/m22.不确定度：5%3.观察角：0.2°4.入射角：-4°5.光源：暖白光LED光源6.接受器：V（λ）校正7.适用环境温度：-10°～ 40°8.相对湿度：80%9.外形尺寸：200x155x59 mm10.电源：9V/800mAh锂离子充电电池（可更换）

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪，采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构，操作简单，反馈迅速，能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性，尺寸控制在类似手机大小，不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用，HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口，通过接口可直接进行外部光信号采样，或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角，这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头，连接光纤即可进行便捷的反射率测量，且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱，得到光信号信号反馈；? 仪器小巧，续航持久，可应用于各种场景；? 附件丰富，可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图

晶圆中作为杂质所含的氧、碳和氮对晶圆的性能有很大影响。 傅里叶变换红外光谱仪晶圆反射率测量系统是一种可以通过在 FT/IR 样品室中安装专用载物台来对高达 12 英寸的晶圆进行透射和反射测量，整个测试过程采用专用软件进行分析处理，操作方便快捷。&bull 无损和非接触分析使用红外光可以以非破坏性和非接触式方式评估样品。&bull 高精度和可重复性通过充分利用高性能FT/IR功搭配晶圆测试附件可以进行高精度和高重现性的测量。&bull 兼容各种执行标准与JEITA和JEIDA等各种标准兼容&bull 软件分析测量特点硅分析浓度定量程序，量化硅中所含的氢和氧的浓度晶圆反射测量通过软件设置进行分析测量

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

立式透射样品支架，YME-2077 描述YME-2077透射样品支架，采用立式设计，确保样品与光路保持垂直，同时非常方便取放样品，并且载物台高度可调，适用于不同厚度的样品。特点适合任意平面形状的固体透光样品高度可调，适用于不同厚度的平面固体样品立式设计，确保样品与光路垂直扁位立柱设计，确保光学元件在同一光轴上技术参数更多精彩内容，请关注下方！

美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统是专业为逆反射材料光度测试和反射材料光度测试而设计的材料光度测试系统,为反光材料提供完整的逆反射测试方案,广泛用于汽车照明和光源,反光测试和逆反射材料研发检测.反光材料光度测试系统940D可以与Gamma Scientific公司的flexoptometer联合使用,测量红色和白色频闪式防撞灯的有效强度（流明/米2每秒）和发光强度（新烛光二）,也可以用于路障指示灯或其他警示灯的光度测量。反光材料光度测试系统940D还可以配置伽玛科学该光谱仪系统进行夜间的颜色测量反射镜和空间的颜色测量汽车照明和光源。反光材料光度测试系统940D软件是Windows 7兼容的软件,工作人员能够在几分钟内完成高精度的测量。简化的后向反射测量通过默认的测量序列符合ASTM e809程序A和B，反光材料。或利用SAE配置测量光源如大灯、尾灯、消息和警告灯和LED。单、向量和矩阵的测量容易编程数据采集宏序列文件是可能的。美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统特征提供完整、准确的反射测量三轴仪6.5弧秒（0.0018度）的决议符合标准观察Angle Positioner（OAP）3弧秒（0.0008度）符合ASTM和建议用光校正硅探测器感光，F1′＜2%稳定和均匀