发射测试系统

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

便携式半球发射率测试系统（JP-AQL2）测试项目：建筑节能材料半球发射率测试。适用标准：JG/T 235-2014（6.4规定进行）建筑反射隔热材料；JGJT 287-2014建筑反射隔热材料节能检测标准；JGJB2502.3 涂层实验方法-半球发射率。技术参数：重复性：±1%；规格：150×70mm；测量精度：0.01；测量范围：0-0.99。主要特点：1.在国内首次采用计算机直接比例记录原理；2.采用一块高能量的光源覆盖整个工作波段；3.采用通用高性能计算机进行仪器控制和数据处理；4.配备最新开发的中文操作软件；5.采用进口真空热电偶红外接收器件，保证了仪器的高性能和可靠性；6.可以配置专门的分析软件进行建筑半球发射率分析。

建筑用辐射致冷涂料大气窗口发射率测试系统（JP-AFS25） 检测项目：建筑用辐射致冷涂料大气窗口发射率的检测。适用标准：T/CECS 10378-2024 建筑用辐射致冷涂料。技术参数：光谱范围：4000~600cm-1（2.5-16.6um）分辨率：≤1.0cm-1允许误差：±1%性噪比：30000：1检测器：高灵敏度DTGS检测器分束器：硒化锌材料积分球：60mm标准板：镀金材料扫描速度：微机控制和选择不同的扫描速度，档次连续可调，图谱自动比对。进口光源：长寿命高强度空气冷却红外光源噪音：＜4.3*10-5A电源：AC220V，50Hz外形尺寸：48 cm X 40cm X 30cm重量：18Kg

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

产品简介：名称：声发射系统主机品牌/产地：美国型号：应用：通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍： 通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II（SHM） 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道（112通道）机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

产品简介：名称：SAMOS声发射系统品牌/产地：美国型号：应用：SAMOS系统是第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍：SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统，更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性：l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道；l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S；l 每通道4个高通，4个低通模拟滤波器，可通过软件进行控制来组成13个率波段；l 输入电压范围：±10伏；l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号；l 16位A/D精度，3MHz采样率；l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S；l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本；l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析；l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析；l 方便使用的SMB连接头；l 1KHz-400KHz的带宽；l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求；l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求；l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

可用于测试各种类型发光体，如激光器、等离子体、白炽灯、荧光灯、LED、红外光源等发射光谱 （原子光谱、连续光谱等）分布情况。系统型号系统特点7-EMSpec I扫描型7-EMSpec MMini 摄谱型技术指标 光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）波长准确度：± 0.2nm光谱分辨率：± 0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调系统特点选用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器扫描型可配合锁相放大器和光斩波器，可极大程度上提高系统信噪比Mini 摄谱型，并可计算峰值波长、中心波长、半高宽等参数模块化设计，结构灵活，方便升级

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

油料多元素发射光谱分析系统可用于测量各种油液中的常量、微量、痕量元素的含量；高效、快测、简洁、稳定、可靠、广泛、限低、抗干扰型强、自动化程度高等特点。可测元素61种之多；元素检出限低，达到ppb量级；分析速度快，一分钟可测4个以上元素；多元素同时分析，可实现元素次序和数量的排序；动态范围线性较宽，高达5个数量级，高低含量同时测量；分析成本低，耗材消耗慢，载气可以用最高达10个小时之多；执行标准：ASTMD6595-2011电极原子发射光谱法测定用过的润滑油或用过的液压水流体中磨耗金属和污染物的试验方法/StandardTestMethodforDeterminationofWearMetalsandContaminantsinUsedLubricatingOilsorUsedHydraulicFluidsbyRotatingDiscElectrodeAtomicEmissionSpectrometry。仪器简介：油料多元素发射光谱分析系统适用于量各种油液元素，广泛的应用于航空航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域，对液压油、润滑油、变压器油（绝缘油）、汽轮机油（透平油）、齿轮油、发动机油、航空煤油、防冻液、水基液压油等油液进行各类元素的检测，及对水类、酸类、有机液体、聚合物溶液进行各类元素的检测。采用油料多元素发射光谱分析系统对油样中的微量金属磨粒、污染物及其添加剂的元素成分及其浓度进行准确测定，从而准确掌握设备的磨损状态、设备的润滑状态及润滑油的污染状态等信息；通过对历史数据（检测结果及设备维护保养记录）进行统计分析及趋势分析，全面掌控设备的磨损趋势及润滑状态的变化趋势；基于这些统计分析结果，可以对检测结果设置报警限，为设备潜在故障进行预警，时刻保证设备处于正常工作状态，最大限度提高设备的可靠性。软件介绍：拥有数万条图谱谱线，为您提供更多的验证与测评。强大的图形诊断功能通过参数设置来实现最佳的测量条件。PICP-V2.1中文版软件拥有PULUODYGROUP精准测量技术平台的精髓，结合美国实验材料学会、用过石油学会、美国汽车工程师学会等多个机构标准技术支持，功能强大。PICP-V2.1中文版软件软件功能强大，具有中、英、韩、日文自动切换功能（仅限出口型），可进行定性、半定量、定量分析；数据再处理及优化功能；自动测试元素含量，自动生成测试报告；具有数据存储、均值、图谱、筛选等功能，数据库处理功能强大。测试报告可根据用户需求选择，包括方法名称、仪器型号、元素、波长、强度、含量、相对标准偏差、单位、检测员、备注、核准人等，同时分析结果可以保存为pdf、word、excel、text等文件，方便用户分析。技术指标： 元素含量：0.01ppm-10000ppm重复性：RSD≤1.5％；稳定性：RSD≤2％；精确度：3%（和方法相关）测试速度：4个以上元素/每分钟元素范围：常规检测元素及检出极限标准检测：24种（μg/L）1PPb为1PPm的千分之一铝-Al、钡-Ba、硼-B、镉-Cd、钙-Ca、铬-Cr、铜-Cu、铁-Fe、铅-Pb、镁-Mg、锰-Mn、钼-Mo、镍-Ni、磷-P、硅-Si、银-Ag、钠-Na、锡-Sn、钛-Ti、钒-V、锌-Zn、钾-K、锂-Li、锑-Sb添加剂检测元素及检出极限标准检测：8种（μg/L）1PPb为1PPm的千分之一锶-Sr、铋-Bi、砷-AS、铟-In、锆-Zr、钨-W、钴-Co、铈-Ce按照再用油分析：金属磨粒：铝-Al、镉-Cd、铬-Cr、铜-Cu、铁-Fe、铅-Pb、镁-Mg、锰-Mn、钼-Mo、镍-Ni、银-Ag、锡-Sn、钛-Ti、钒-V、锌-Zn、锶-Sr；污染物：硼-B、钙-Ca、钾-K、硅-Si、钠-Na；添加剂：钡-Ba、硼-B、钙-Ca、铬-Cr、铜-Cu、镁-Mg、钼-Mo、磷-P、硅-Si、锌-Zn，锂-Li其他检测：请按照元素周期表中进行索取相关信息确认检测能力及图谱验证。检测器：检测器：PULUODYGROUP第七代精准测量技术型车尔尼特纳检测器；检测范围：≥31种元素光谱范围：200~1000mm扫描范围：190～800nm分辨率：≤0.015nm工作频率：27.12MHz；≤0.05%输出功率：800—1600W；≤0.2%光栅规格：离子刻蚀全息光栅刻线密度：2400L/mm；刻划面积：80×110mm其他阐述：进样量：大于1ml低粘液体：直接检测法；高粘液体：稀释法；润滑脂：稀释法；工作温度：室温~45度工作湿度：0~90%，无凝水其他项目：水活性：测量范围：0~1aw测量精度：±0.02，可由NIST、PTB、BEV等机构溯源。微量水：测量范围：0.1~100000PPM测量精度：±3PPM。粘度：动力粘度：0~500厘泊(cp)颗粒度：测量范围：1μm～450μm；灵敏度：1μm（ISO4402）或4μm（C）（ISO11171、GB/T18854）；测量通道：1000通道；特殊检测：自定义检测1~100μm微粒，0.1μm任意检测；研发检测：16通道或32通道、64通道（383个标准检测设置）；重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；NAS1638：00~12级ISO4406：0~28级GJB420B：000~12级PC要求：PC主机：可兼容、DELL、HP、LENOVO等国内外所有产品PC系统：要求WINXP以上系统或者苹果（IOS需定制）显示器：17英寸液晶显示器以上所有产品打印机：Canon喷墨打印机测试系统：CN：PICP-V2.1中文版软件软件UK：PICP-V2.1英文版软件软件具体详细操作请电询普洛帝服务中心！普洛帝、Puluody、普勒、Pull、PLDMC为Puluody公司注册的商标！有关技术阐述、参数、服务为普洛帝测控拥有，普洛帝保留对经销商、用户的知情权！普洛帝为贵司提供：油液颗粒度检测仪、油液颗粒计数器、油液颗粒技术系统、油液粒子计数器、油液颗粒度分析仪，颗粒度检测仪、颗粒计数器、油液激光颗粒计数器、颗粒计数系统、自动颗粒计数器，油料多元素发射光谱分析仪，油液磨损金属元素分析仪，多元素发射光谱分析仪，润滑油金属元素分析仪，再用油元素监测仪，油料光谱仪，油料光谱分析仪，油液分析仪，油液分析光谱仪，油料元素光谱分析仪

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

优云谱纺织品远红外发射率测试仪YP-FZ1适用范围： 用于测量纺织品远红外线发射率。仪器特点：将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度；用光谱响应范围覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别测定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到的稳定后的辐射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率。适用标准：GB/T 30127(4.1)-2013技术参数：辐射源：5-14um热板尺寸：直径不低于60mm的圆面热板温度：（34±0.1）℃测试精度：±0.1%标准黑体发射率：0.95以上尺寸：390×335×320mm

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

1.1 概述ISAE本安防爆声波（声发射）系统由多个ISAE声发射数据采集模块（以下简称ISAE模块）和电脑组成。其中ISAE模块（包括内置前放的传感器）符合GB3836.4-2010 本安防爆标准，通过国家防爆设备质量监督检验中心的认证，获得防爆合格证（影印件见后），可以放在有防爆要求的危险区（Ex ib IIA T3 Gb）使用。适用于有防爆要求的封闭环境中的储油罐底声发射检测等的声发射检测应用。 1.2 主要性能特点ISAE模块可放置在危险区使用，免除信号布线内置前放的声发射传感器程控滤波器高速高精度AD实时声发射信号波形采集嵌入式FPGA与ARM技术实时声发射参数提取和实时分析报警大容量SD 卡实时存储波形数据，声发射参数和声发射报警参数。存储卡可随时更换各采集器之间采用同步线实现数据的时间同步采集器具备操作显示界面，可直接操作仪器采集过程，并显示状态可实时设置幅度门限可以将多个单通道模块级联，组成多通道声发射系统，最大可组成16通道的声发射系统ISAE模块存储的数据可上传至电脑标准清诚公司波形数据格式及功能，数据可用清诚公司的声发射信号分析处理软件进行定位、相关图、波形分析等进一步深度分析，也可将数据转换成Excel、文本格式采用MATLAB等软件进行分析显示。多通道同步数据可由上位机事后生成参数，并实现事件时差定位1.3 技术参数防爆标志：Ex ib IIA T3 Gb采样频率/精度：2MHz/16bit采样长度：可调 噪声/动态范围：30dB/70dB (0dB=1uv)信号频率：3KHz～500KHz输入范围：±100mv(100dB)数据通讯：以太网或者内存卡电池续航能力：不小于3小时（仪器连续工作）供电方式：锂离子电池供电电池标称电压：7.2V电池标称容量：3400mA电池最大持续放电电流：420mA存储容量：64G SD 卡环境温度：0℃～﹢40℃防护等级：IP541.4 接口介绍1.4.1 以太网接口在安全区可以通过以太网接口连接PC机，用于导出SD卡中的存储的AD采样数据。以及参数设置功能。1.4.2 传感器接口用于连接本安型传感器，传感器参数Ui=7.5V，Ii=300mA，Pi=0.56W，Ci=39uF，Li=0mH。传感器信号与电源线同线。1.4.3数据采集，分析处理与存储传感器的模拟信号经过滤波电路后，进入AD采集芯片，进行数据转换，转换后的声发射信号数字波形数据在FPGA和ARM单片机中进行数字滤波处理，声发射撞击参数提取和声发射报警参数生成。声发射数字波形、声发射撞击参数、声发射报警参数实时存储到SD卡。检测完成后，在安全区连接12V充电接口，充电的同时拷贝SD卡的数据到电脑中。1.4.4 485接口485接口连接同类型其他模块，用于危险区使用的不同模块之间的对时通信。接口连接器为9针，其中仅1、2脚使用，用于对时接口连接，其他为空点。对时接口需在危险区使用前，预先确认好接线，并锁紧，然后方可上电。防爆参数设定为Uo=6.2V，Io =62mA，Co=985uF，Lo =50mH；Ui=6.2V，Ii =62mA，Ci=15uF，Li =0。1.4.5. 充电接口用于安全区为电池充电使用，充电电流限定值与锂电池放电电流限定值相同，为420mA。1.5 电源供电介绍整机由电池供电，电池最大电压为8.4V，标称电压为7.2V，电池经过电压转换，输出两路电压，3.3V和5V。1.6 ISAE模块配置清单序号名称单位数量备注1采集主机个1配套1个充电器与1根天线2传感器 LS 5VDC个1内置前放：26db响应频率：15Hz-70kHz中心频率：35kHz3信号线条1标配2米4RJ45网线条1标配1.5米5标定工具套17说明书本18合格证张19保修卡张110上位机软件U盘只1

硬X射线发射谱（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一种重要的分析技术，主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量，能够深入样品内部，使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。XES的主要应用领域包括： 化学状态分析：XES能够提供关于样品中元素化学状态的直接信息，如氧化态和配位环境，这对于理解材料的化学性质和反应机制至关重要。材料科学：在新材料的开发和研究中，XES被用来分析材料的电子结构、能带结构和价带信息，这些信息对于优化材料的电学和光学性能非常重要。催化剂研究：XES技术能够在原子级别上探测催化剂的活性位点及其电子环境，为设计更高效的催化剂提供了可能。环境科学：通过分析环境样品（如土壤、水体和大气颗粒）中污染物的化学状态，XES有助于理解污染物的来源、迁移和转化过程。能源材料研究：在研究电池、燃料电池和太阳能材料的电子结构和工作机制时，XES提供了关键的电子层面信息，对优化这些能源转换和存储设备的性能具有重要意义。生物医学领域：XES用于研究生物分子（如蛋白质和酶）中金属离子的配位环境，这对于理解生物分子的功能和设计药物具有重要作用。地球科学：在地球和行星科学研究中，XES可以分析矿物和岩石样本，揭示其成分和形成过程中的环境条件。 硬X射线发射谱(XES)技术因其提供的独特的元素和化学状态信息，在科学研究和工业应用中发挥着越来越重要的作用，特别是在无法直接使用其他技术探测样品深层或微量元素的情况下。随着测量技术的进步，XES预计将在未来在更多领域中找到应用。仪器原理仪器参数探测能量范围：5～15 keV可测3d元素K边、5d过渡金属L边、以及锕系元素L边荧光峰；电子空穴效率：≥1×1011；能量分辨率：≤1.5 eV@Cu Ka；检测限：≤0.1%wt；重复性：重复扫描能量偏移50meV；氦气腔体，减少X射线空气吸收；高纯度Si或者Ge晶体单色器，保证全能区能量分辨率；配置原位池系统，可以设计各种模块化的原位测试系统，高温低温、多相催化、电催化等各种原位测试系统集成，可实现模块化切换；包含数据处理系统，采集过程中发射谱数据自动输出，无需额外切换。参考数据

阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器，以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计，用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品，也有定制设计，应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型： 阴极发射体基座类型：● 六硼化镧（LaB6）高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽（Ta）标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡（BaO）涂层圆盘 钇（Y2O3）涂层铱盘，可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息，比如，磁透镜、真空腔等，可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体， 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号，检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息，4 个发光二极管，蓝色，绿色，红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源，alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线，比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球，作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球，作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内：：一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪

筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission MicroscopeFAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission Microscope咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。FAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

1、实物图2、应用图RAEM1-6是集自动控制信号采集、处理分析、数据储存、时钟同步和无线通讯为一体的多通道智能物联网声发射监测系统。它具有24 小时连续工作的高可靠性，可以无线传输，适用于长期连续无人值守自动监测应用，如桥梁结构健康监测、储罐腐蚀监测等应用。l 钢丝绳断丝监测、或桥梁结构重点位置异常监测；l 储罐、水管、阀门泄漏监测检测；l 转动机械故障诊断状态监测；l 刀具磨损监测；l 结构裂纹开裂监测；l 容器管道类裂纹扩展损伤监测；l 储罐罐底板声发射监测；l 煤层钻杆监测；l 边坡等地质结构监测；l 高压电缆局部放电监测，等等。 3、系统连接图 4、系统定位功能示意图 因为高精度同步时钟，每个参数的到达时间是高精度的，采用3H具有高精度时差声源定位算法的软件就可以得到各种高精度的声发射源定位。5、系统组网图6、软件介绍可以选择多种的数据显示分析的终端方案，如专门的声发射分析软件、清诚云平台、阿里云平台等。清诚云平台是清诚声发射研究（广州）有限公司独立研发，集数据显示、数据查询、远程配置、智能监控、主动报警推送于一体的一个安全可靠的数据管理云平台。可实时查看参数数据、波形数据、报警数据等，参数与波形一一对应。也可查询一年以上的历史数据，根据用户需要扩容。 云平台波形数据与时间图（1）云平台参数数据与时间图（2） 1）清诚云平台具有系统评级功能，可根据用户需求，设置不同的强度、活度和综合评级规则。2）声发射数据采用自动分级算法，由声发射撞击参数得到强度级别，活度级别，综合级别，灵活设置，可满足不同行业标准的评级需求。评级参数包括撞击数、持续时间、上升时间、上升计数、振铃计数、幅度、ASL、RMS、能量。3）达到合适的报警条件主动推送到手机、电脑等客户端。4）清诚云平台也可根据客户需求私有化部署。云平台评级数据列表 云平台综合评级统计手机报警推送 7、硬件技术参数 通道组合单通道、6通道或级联使用采集方式信号触发/时间触发采样频率单个通道最大采样率2M点/秒采样精度16位系统噪声优于30dB动态范围70dB输入带宽10kHz-800kHz模拟滤波器30kHz、125kHz两个高通滤波器，80kHz、175kHz两个低通滤波器组合，默认30kHz~80kHz，125kHz~175kHz两种带通滤波器组合，出厂固定数字滤波器0kHz~1000kHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通（结合模拟滤波器使用）传感器内置前放系列传感器，三种内置前放可选：28V40dB，12V34dB，5V26dB数据输出波形、参数、参数评级AE特征参数参数到达时间，幅度，振铃计数，能量，上升时间，持续时间，RMS，ASL内置SD卡容量64G（可拓展至512G）时钟同步可以串口（有线）级联大通道，36通道同步时钟精度≤10us通讯方式网口、4G、WiFi使用温度范围LAN：-20℃~60℃； WiFi：0℃~60℃供电12VDC尺寸长x宽x高：22cm x 13cm x 8cm重量1.6kg8、系统介绍和原理8.1 RAEM1-6、平台服务器（云服务器/局域网/PC/手机/服务器等），以及客户显示终端（手机，PC，大屏等）3 大部分组成一个多通道集成物联网声发射监测系统。8.2 RAEM1-6主体是一个铝合金外壳长方体盒，里面包含2-6个声发射通道，可拓展，最大至38通道以上；8.3 连接方式如下图1所示，一个声发射传感器连到RAEM1-6的其中一个通道上。最多可以同时连接6个传感器。8.4 每个声发射通道需要连接一个内置前放的声发射传感器。机箱的通道数也可以根据用户需求配置。8.5 采集过程：集信号采集、信号分析、通讯数据输出于一体的智能声发射传感器8.6 作为物联网智能声发射监测系统，RAEM1-6把采集的声发射信号处理完成后，通过无线网络，如4G、WiFi等，传输到云端服务器上，供用户实时查看、下载波形、参数和评级数据。8.7 多种数据输出通讯方式（4G、以太网、WiFi等），也可以根据用户需求配置。8.8 每个通道内置64G TF卡储存器，最大可拓展至512G，用于存储数据，断电不丢失。8.9 多种采集方式：按采集模式可选包络采集、连续参数采集。按时间类型可选间隔采集、连续采集、定时采集。 8.10 采集器基于Linux系统，具有高可行性、高稳定性、高安全性；8.11 灵活的通道组合：可作为6通道使用，也可级联成机箱使用，可拓展至38通道以上，现场组网成多通道监测系统，对大型或超大设备设施实时监测；8.12 多种触发方式可选：信号触发、时间触发；有线同步，同步时钟≤10us。8.13 数据可以上传到云端物联网平台显示分析（阿里云、清诚自建云平台），也可以下载到客户端电脑使用清诚提供的专业声发射信号分析处理软件深度分析，也可以直接发送到清诚的SWAEU3H软件进行实时分析处理。 8.14 可根据客户要求作为声发射检测仪器使用，参考RAEM1-6声波（声发射）检测仪（链接）。9、配件序号名称详细信息备注1电源外置12V电源适配器2传感器2种传感器形式：外置传感器、内置传感器多种可选传感器，典型：IOTS35、IOTS150选配其他传感器请提前联系3硬件滤波器2种硬件滤波版本：30kHz~80kHz，125kHz~175kHz4夹持具多种夹持具，与传感器匹配5通讯方式网口、WiFi、4G升级4G提前联系6路由器/交换机根据组网方式定型号10、配件RAEM1-6声波（声发射）也可作为台式检测仪使用。即RAEM1-6不连接到外网或云端，只通过局域网进行本地连接。局域网连接可以是网线有限连接，也可以通过WiFi路由器进行无线局域网本地连接。当RAEM1-6作为台式检测仪使用时，RAEM1-6要搭配清诚声发射软件SWAEU3H进行使用。SWAEU3H是清诚公司研发的专业声发射控制、处理和分析软件，具有RAEM1-6采集声发射数据并进行处理，然后数据会通过局域网发送到电脑的SWAEU3H软件上进行实时的分析和显示。数据显示包括参数表、波形图和定位图等等。

MARS-IRIS400-1700 nm Absorbance / Fluorescence Spectrometer多功能全波段吸收与发射光谱系统

产品名称：双通道高频脉冲发射接收仪产品型号：CTS-8072PR、CTS-8072PR+产品介绍：双通道高频脉冲发射接收仪是本公司最新研制的高频检测应用研究的专用仪器，具备低噪声和宽频带的接收放大电路，以及由高性能尖脉冲发生器和高压电源组成的尖波发射电路。CTS-8072PR+提供双通道数据采集功能，并可实现计算机同步控制。该仪器可应用于高频超声波探头的声学特性的评价以及性能指标的测试，也可应用于高频超声波自动化探伤系统探伤、厚度测量、材料特性测定等。功能特点：l 特殊设计匹配高频探头的尖脉冲发生器，上升时间＜3ns，-160V～-200V可调；l 脉冲重复频率可调，最高50kHz；l 信号带宽：20KHz～110MHz（-3dB）；l -6dB～+54dB，1dB步进的RF可调增益范围；l 20kHz或20MHz可选高通滤波器；l 500MHz采样率/12bit数据采集模块；l 标准网络接口，实现计算机同步控制及数据采集；l 提供本公司自主研发的30MHz、50MHz等系列高频探头。

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2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小，得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点：1. 发射率数字显示，从0.01～1.00，重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格，且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数： 检测器部份:测定波长: 3～30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100～240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

703型Waterloo地下水修复发射器1.8英寸, 3.8英寸和5.8英寸Waterloo地下水修复发射器 Waterloo地下水修复发射器是一种简单低成本的设备, 它设计用来受控并且统一的释放氧气或者其他生物提高调整剂, 从而促进和维持原位污染地下水生物降解所需的微生物的生长。 使用专利的技术*使得可以通过加压的硅有机树脂或者LDPE（低密度聚乙烯）管来稳定而又直接的将氧气扩散到一个地下蓄水层中. 氧气持续而稳定的释放到管中, 这就创建了一个非常理想的浓度梯度, 驱动着这个被动系统, 不会因为形成气泡而溢出过剩氧量。 发射器非常适合于需氧的BTEX和MTBE生物降解. 扩散过程为增强需氧生物降解提供了即时的分子氧生物利用率, 因此不会发生损失调整气体的情况. Waterloo地下水修复发射器还能促进需要的无机反应（pH调整, 水解等）。 简单的多功能系统 Solinst 地下水修复发射器 703 可以适配2英寸, 4英寸和6英寸（50毫米, 100毫米和150毫米）的井. 它们可以安装在开放井中, 或者使用沙袋永久性的安装在钻井或者沟渠中. 51英寸（130厘米）长的Waterloo地下水修复发射器可以单独的或者以叠加到另一个发射器顶端的方式来安装, 以便确保完全覆盖污染羽状物. 它们还可以在水平应用中使用. 因为无需最小液压压头, 发射器在水下任何深度都有效. 当连接在封隔器和/或循环泵时, 作用半径也会增加. Solinst 地下水修复发射器 703 独特的扩散技术允许使用任何化学物当作调整剂来治理受到污染的地下水. PVC框架容纳了监测或者采样设备以便在补救过程中观察地下水状况. 工作原理 Solinst 地下水修复发射器 703 由盘绕在一个PVC骨架上的硅有机树脂或者聚乙烯管组成. 当液体被引入管中时, 一个浓度梯度便在管和地下水之间建立. 发射器工作原理是菲克扩散定律, 扩散会一直发生, 直至管内外的化学物浓度有了平衡. 使用发射器技术, 氧气（或其他调整剂）被持续地补充, 因为地下水持续地流经发射器, 所以平衡永远不会发生. 这便导致从发射器到地下水有持续的扩散. 当气体被应用于发射器时, 施加压力的增量和扩散到地下水的气体增量之间有一个正相关, 然而扩散是调整剂被添加到地下水的唯一的机制. 安装如果一种增强气体被用于补救, 可以使用小型或中型尺寸的高压气筒. 根据需要的增强气体的量来选择发射器管并设置气压. 单个高压气筒可以为多个串联的发射器提供气源.发射器管内的气体补充可以通过定期的清洗来实现（1-2周一次） 或者在系统的末端使用针形放泄阀来缓慢而恒定的补给. 1、确定目标 用驱动点剖面器来为使用发射器绘制/描绘的污染羽状物的加强生物降解, 确定最有效的区域, 2、确定数量 - 使用多级系统来精确的描绘污染物的面积和运动 - 使用离散监测系统更精确的聚焦补救策略 - 监测修复效果3、解决问题 使用Waterloo地下水修复发射器为受污染的地下水受控的释放氧气（或其他调整剂） – 不起泡。示意图显示了使用Waterloo地下水修复发射器的分段羽状物补救, 使用放在斜坡下面的CMT地下水连续监测系统或Waterloo多水位地下水监测系统的横切来监测. 应用： 为BTEX和MTBE的需氧生物降解释放氧气 为溶剂的厌氧还原去氯释放氢气 为当作示踪物而引入溶解的SF6, 氩等 为调整pH值而释放二氧化碳 释放轻质烷烃以促进MTBE的新陈代谢生物降解 羽状物迁移屏障, 首要补救设备或者抛光优点： 低成本 为恒定的微生物活性稳定的释放补救剂 易于安装和卸载 最少的维护和操作 没有因为起泡而造成调整剂损耗 没有引入或造成有害物质 无泥浆混入, 处理或注入 无需电子设备