多波长椭偏仪

我们实验室有一台德国进口的椭偏仪，型号为：SpecEI-2000-VIS，测量时发现同一个点测量时结果都会有偏差。几次图谱的拟合曲线不一致。有谁知道的告诉小弟一声。非常感谢。

各位好，请问哪里有椭偏仪可以提供测试？最好是在广州的

椭偏仪结构原理与发展[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63165]椭偏仪结构原理与发展[/url]

求教大神，这是老师给的任务 用椭偏仪测薄膜反射率 求教一下 怎么测？

最近工作上涉及到椭偏仪，想知道椭偏仪测量的优点与缺点都有什么？我看了一些资料，说椭偏仪测量存在如下缺点：1、薄膜基片如果是透明的，那么对样品的前处理会很麻烦，很费钱2、如果样品是有机物薄膜，椭偏仪很难测出结果来3、椭偏仪测量得到的数据需要手工处理，很复杂，非专业人员无法处理，暂时没有软件可以直接得薄膜的厚度、折射率、吸收系数值4、测量吸收系数时不能同时测量透射光与反射光，所以得到的吸收系数是有误差的不知道以上观点是不是正确？ 为什么薄膜的基片不能是透明的？透明的基片对薄膜厚度测量有什么影响？为什么很难得到有机物薄膜的厚度？请指教，谢谢!不知道是否还有其他缺点？

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

[em06] 这几种光谱型椭偏仪优势差异在哪？？？？？SENTECH椭偏仪，HJY椭偏仪，Sopra S.A.，AQUILA公司

要做毕业设计，有关椭偏仪和椭偏算法的，不知道在哪里可以找到相关的资料，望大家指教指教！~

检测薄板上油膜厚度的仪器，我们目前使用的是日本岛津公司生产的AEP-300椭圆仪（非椭偏仪），但已经停止生产。仪器使用多年故障逐渐增多。美国DONART公司有类似仪器，但是单片检测，不适合用于大生产。请问专家，还有没有同类仪器可供选择？

供大家参考！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=55565]椭偏仪测试聚合物膜厚[/url]

我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

如题，就是一层薄膜，如果用椭偏仪的话是不是一定要知道基底的折射率阿，可是这个也是不知道的，请问还有其他办法吗？

我用的是岛津UV-1700,也还在学习中,我想问下,做多波长测定的时候是不是要先做基线校准才开始测定?

火焰原吸波长选择波长为248.3定峰波长为248.34偏差0.04，卖机器的工程师教我们时说过定峰波长只能偏差0.02，现在差0.40有影响吗？怎么解决？

科研故事：常被轻视的方法研究2012-04-22 22:14 来源：科学网 作者：徐 耀 科研浮躁的一个重要表现是，只重视实验结果（或者数据），而对获得这些结果（或者数据）的方法重视不够，所以经常对别人发表的好结果望洋兴叹，而不去下辛苦掌握些方法论。举个例子，给定一层厚度在100-200纳米的有支撑透明光学薄膜，如何准确测量其厚度和光学参数（比如最根本的折射率和消光系数）？猛一看，这似乎根本不是个问题，甚至相关的商用仪器都有很多，但深入分析一下，事情就没有那么简单。原则上，厚度和折射率、消光系数等参数均可通过椭圆偏振仪（椭偏仪）一次性获得，如果是光谱扫描型椭偏仪，则薄膜的色散曲线都可以获得。但是椭偏仪测量基于物理模型，这些模型因物质而不同，对于实际工作中千变万化的薄膜材料和结构，要么物质特殊，要么结构特殊，只要不符合仪器的模型库，测量就无法进行，当然也可以自己建立物理模型，但这个就不是购买仪器的初衷了。所以，不能指望商用仪器解决一切，还是要自己掌握其中的方法论。还是这个光学薄膜，我们建立了自己的方法论。首先，通过X射线反射谱准确测量薄膜的绝对物理厚度，这是不依赖于任何物理模型的，是由薄膜上下表面反射光干涉引起的，只要量出反射率曲线中相邻震荡峰的间隔就可以获得薄膜厚度。然后，以这个厚度为初始参数，对薄膜的透射谱进行拟合，以获得薄膜的光学参数。基于分光法的透射谱很准确，而透明基底会给椭偏仪测量带来额外误差，因此我认为对透射谱进行拟合要比依靠椭偏仪靠谱。利用透射谱拟合也要涉及几种色散模型，但这些模型是通用模型，与薄膜结构无关，经过对比研究后应该可以确定最适合的模型。在此基础上，我们可以对不同类型的薄膜区别对待，建立各自的测量方法。我们以前认为只要有了椭偏仪，薄膜测量就没问题了，没想到有了仪器，问题更多更让人烦恼，因为得到的数据常常超出正常。我们做的这些工作，不具备太多创新性，按理说不符合现在对科研的期待，但是我们掌握了方法，我认为这样的工作很有意义，一旦方法建立，就像给火车铺设了轨道。因此，仪器重要，方法论是发挥仪器作用的保障。回过头来，我们为什么经常轻视甚至忽视方法论的研究呢？我认为原因有三。第一，科研考核注重结果的显示度，科研管理偏于目标管理，而非过程管理，科研人员只盯着最终数据。第二，科研人员眼界狭窄，方法论研究往往要深入理论，而理论是很多实验研究人员不愿意碰的。第三，谁都不是哪吒三头六臂，但科研合作不足使方法论研究难以开展。我国目前花大量外汇购买的高精尖仪器很多了，但用得足、用得好的并不多，以至于功能闲置，造成极大浪费，其中对方法论的掌握不足大概是主要原因。因此，科研人员应该多关注方法论研究。

一台精科的721，我用镨铷滤光片调了529nm处的波长。然后计量局的来了， 检定300多nm处波长差-6nm，600多nm处+13nm。就是短波处，波长偏小，长波处波长偏长，529nm处波长没问题。不知道大家有什么调节方法吗？

波长偏移校正

液相全波长扫描和定波长检测，对测定结果有偏差么？全波长扫描可以替代定波长检测么？

图中是否发生了波长偏移，需把波长拖会对应波长位置吗？黑色三角是背景点吗？是不是必须与白色三角重合？[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311021949210619_1075_6208314_3.png[/img]

【序号】：1【作者】：贾宏博【题名】：实验三 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：http://wenku.baidu.com/link?url=9AzjmckOe80G4AKO_wbku72TTb4gDjPAZ2aSDHxkAv3LBAes6NzQiocjgyYQIj-xHr_U6OEfxYPtwuPDL7wYESHR8go4Xqd08lOdk13G48m

我们的仪器热电6300,2009-10-26波长校正后矩管位置x=-3.589，y=-1.808,2012-2-2，波长校正后矩管位置x=-4.254，y=--3.069，在两年半的情况下，漂移了很多，并且现在很多元素的吸收峰都发生了偏移，我们做了自动寻峰，但是情况不是特别的理想，不知道大家有没有遇到这种情况，是怎么处理的。

扫描电镜可以测反射率？还是椭偏仪可以？

近期使用的723N分光光度计在使用过程中发现吸光度偏低，建立曲线线性不好，于是进行波长校正:1.开机预热30分2.检查透镜样品池是否有污染、遮挡。3.将自带的镨铷玻璃片放入样品池。4.选择校正波长点输入807.6，按确定，仪器自动校正波长。5.等待一会儿，显示ok自动进入仪器界面。 这是个简化步骤，只适用于这台仪器，807.6咨询过厂家，这是随机赠送镨铷玻璃的标准值，如果不是这个数字，校正过程会显示错误。

您经常关注仪器的波长精度吗？如果发现波长偏差大于0.3nm通常如何校正？

今天发现K元素灯波长偏差较大，系统推荐波长是766.5，但是调波长时只有在768.2时才可达到最大吸收能量，请问对于像K这种波长较大的元素偏离1.7nm可不可以接受啊？谢谢啊

各位专家老师好，我们的仪器型号是GGX-6型火焰塞曼原子吸收，北京海光的,，以前测铜的波长都是324.75，但是最近都会发生偏移，到324.95或者324.58. 而且校正完成后第二天就发生偏移了，所以想问问各位老师专家，不甚感激。

很多厂家的仪器都有这个功能,请问什么情况下用多波长测试?有什么好处?