德乐牌厚度计

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德乐牌厚度计相关的厂商

  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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  • 上海里度电子科技有限公司,由旅居美国华侨投资人Miss Du与美国Onick Inc.公司,于2014年共同合资创立,是Onick(欧尼卡)的中华区服务中心,全权负责Onick(欧尼卡)品牌产品管理与品牌运作,并为大中华地区各行业用户提供更上等的户外光学产品及完善的产品售后服务与技术支持。上海里度电子科技同时也是一家从事激光测距仪、望远镜、夜视仪、野外监测相机等户外光学产品开发、应用和销售的高新技术企业 。自成立以来,以技术精、素质高、服务周到及时而深受广大用户的信赖。与多家国外知名光学仪器品牌企业和生产商保持良好的合作关系,主要优势代理有美国欧尼卡、加拿大纽康、美国奥卡、美国图帕斯、美国镭创、德国蔡司、德国视得乐、日本佳能等品牌,业务范围遍及国内各地。上海里度电子科技一直立志高远,专注于产品、专注于服务、专注于效率、更专注于诚信的理念服务客户!和国家电网、环保单位、林业单位、通信设计单位、国土单位、安监等行业保持良好的合作关系!
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  • 广州诚技商贸有限公司是一家销售全球一线品牌测试仪器的贸易商和服务商,公司拥有一批包装材料专业技术人才,集实验室整体组建策划、仪器经销、检测服务于一体。公司一直以诚信,创新为经营理念,以坚持产品和服务并重为经营原则,本着“诚信做人、贴心服务、技术过硬、科技创新”的服务理念,积极引入先进的仪器设备,为广大科研、检测工作者提供贴心、专业的技术支持。 目前公司主要产品有AGR瓶尺寸测量仪,瓶厚度测试仪,瓶容量测试仪,瓶内压测试仪,瓶抗压测试仪,瓶真空度测试仪,瓶应力测试仪,瓶涂层测试仪,瓶标签测量仪,多功能联合测试仪等。TM Electronics测漏仪、无损密封测试系统;ExtraSolution的氧气监测/保质期评估仪、氧气透过率仪、水蒸气透过率仪、二氧化碳透过率仪。其它代理产品有自动扭矩仪;多功能力学测试系统;摩擦系数仪;顶空气体分析仪等等国内外先进的仪器设备。在将来的合作中,我们将一如既往的为广大用户提供各类先进测试分析仪器及解决方案。
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德乐牌厚度计相关的仪器

  • TA 美国 测厚仪 电子厚度计 Progage 符合标准:《GB/T6672塑料薄膜与薄片厚度的测定 机械测量法》、《GB/T451.3纸和纸板厚度的测定法》、ASTM D374, D1777, D645;TAPPI T411;CPPA D.4;BS 3983, 4817;ISO 3034;EN 20534;SCAN P7, P31, P47;DIN 53105, 53353;EDANA 30.4-89 Progage电子测厚仪可快速测量片状物体的厚度,如纸张、卷烟纸、水松纸、烟叶等。新型的测量头确保了仪器良好的平行度和稳定的归零,操作和校正更方便。经过预先选择设置不同的测量速率、测量头压力、直径而适应于特定的测试标准。 仪器既可以进行单点测试,也可以选择自动进样器设定走纸步径自动进行连续测试。测试结束后仪器自动进行统计分析,显示平均值,高低值和标准偏差,也可通过RS232数据连接连接打印机进行打印。技术40mil100mil200mil500mil测量范围1mm2.54mm5mm12.7mmjing确度±0.001mm±0.001mm±0.0064mm±0.013mm平行度±0.001mm±0.001mm±0.0064mm±0.013mm显示分辨率0.1微米0.1微米0.5微米1微米显示单位mm,mil,micron,inch(可自由切换)测量周期2秒(预设值)0…9.9秒TA 美国 测厚仪 电子厚度计 Progage 仪器特征:l 可通过计算机终端进行程控l 自动执行统计分析功能,显示平均值、zui高、zui低和标准偏差l 双速压力测试头,测试速度快,测量精确l 稳定的归零和校正功能l 良好的平行度l 带RS-232接口l 马达控制,自动循环,数字显示l 测试结果单位可自动进行多种转换,可显示测量单位有:毫米,微米,英寸,密耳(0.001英寸)制造商:Thwing-Albert/美国
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  • 标准规范:iso 2233;《GB 16311-2009-T 道路交通标线质量要求和检测方法》产品简介:近年来道路标线的质量和性能都有所提升,这得益于更好的涂料和热塑性塑料,以及更高性能的玻璃珠。此外,标线类型也有改善,特别是在夜间潮湿状态下的性能,由于标线材料更好的耐水性而得到提高。同时,材料成本的增加使得道路所有者更加关注标线涂料或热塑性塑料的实际用量。而对标线厚度测量能够验证材料的实际用量。丹麦Delta公司的标线厚度测定仪是用于测量划好后的干燥路面标线厚度的数字装置。路面标线厚度测定仪操作非常简单,结构坚固,符合人体工学设计。标线厚度测定仪的测量范围为±12.7毫米/±0.5 英寸。数字显示器在测量后几秒内提供可靠的结果。技术参数:● 尺寸:80*70*130mm● 重量:950g● 材料:不锈钢日本三丰Mitutoyo 公司Absolute Digimatic 标尺● 分辨率:0.02mm● 范围:+/-12.7mm● 精确度:0.02mm● 显示屏:LED电池● 电池ID:SR44● 电池类型:氧化银● 电池寿命:在正常使用下约20,000 小时● 防尘/防水级别:.IP42质保期:2 年标线厚度测定仪交付包括以下内容:● 标线厚度测定仪*1 ● 运输盒*1● 用户手册*1
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  • 厂家正式授权代理商:岱美有限公司联系电话:,(贾先生)联系地址:北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址:ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希腊雅典,是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱(WLRS),它可以在几埃到几毫米的超宽范围内,准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度,反射率,折射率及消光系数测量仪一、产品简介: FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案,要求的光斑尺寸小到几个微米,如微图案表面,粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台,使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度,光学特性,非均匀性测量,厚度映射o 使用集成的, USB 连接高品质彩色摄像机(CCD)进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求,请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介: FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具,适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度,折射率,均匀性,颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此,在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法,可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据,这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造:(光刻胶, 电介质,光子多层结构, poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介: FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 , 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损(非接触式)表征。使用 FR-pOrtable,用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求,请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上,也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境(如R2R、带式输送机等)中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色),膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介: FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备,用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的,并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块,核心部件包括光源,光谱仪(适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统)和控制单元,电子通讯模块此外,还有各种各种配件,比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合,最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学( parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造:(光刻胶, 电介质,光子多层结构, poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值)o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k,颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数
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德乐牌厚度计相关的资讯

  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 中国建材检验认证集团股份有限公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 2em " 艾福强 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 2em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 2em " afq@ctc.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □技术转让□技术入股□合作开发& nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 成果简介: /strong br/ /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title=" 厚度检测仪.jpg" width=" 350" height=" 224" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 224px " / /p p style=" line-height: 2em " & nbsp /p p style=" line-height: 2em " span style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术,通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度,厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度,还可以测量中空玻璃三层厚度(包括:玻璃厚度、空气层厚度),采用数字化技术,将所测结果直观的显示在液晶显示屏上,可以快速、直观的获得所需结果,并设有内部存储功能可以存储9次测量结果,方便用户使用,该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于现场检测。& nbsp /span /p p style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 主要特点 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 操作简单:只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度高:该仪器测量精度达到微米级。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测试速度快:测试时间1-2秒。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 便于携带:该仪器尺寸合适重量轻。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 稳定性好:多次测量结果无偏差。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 具有存储功能:可以存储9次的测量结果并查看。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 技术参数: br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度:微米级 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 物理尺寸:130*70*30 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 开关频率:1-2秒 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 采样频率:10Hz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 供电电压:9v br/ & nbsp & nbsp & nbsp 重量:200g br/ & nbsp & nbsp & nbsp 使用温度:-20℃- 40℃ br/ & nbsp & nbsp & nbsp 机体重量:约1Kg /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测,同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 国家气象探测中心开展激光雷达霾层厚度观测
    中国气象报记者王晨 通讯员赵培涛 季承荔报道 针对近日全国较大范围重污染天气,中国气象局气象探测中心(以下简称“气象探测中心”)依托正在开展的超大城市综合观测试验,与相关单位利用10余台激光雷达系统开展联合协同观测;同时利用激光雷达综合观测数据进行激光雷达霾层厚度观测产品的综合加工处理,制作的霾厚度观测产品在央视《新闻联播》后的《天气预报》节目中使用。  据了解,在中国气象局紧急启动三级应急响应后,气象探测中心充分发挥在激光雷达观测上的技术优势,依托正在开展的超大城市综合观测试验,联合中国科学院安徽光学精密机械研究所、北京理工大学、安徽蓝盾光电子股份有限公司等单位,组建北京地区激光雷达观测网,在北京理工大学、北京南郊、健德桥等地开展激光雷达霾观测试验。连日来,北京地区共计10余台激光雷达系统开展了联合协同观测,实时监控观测北京地区霾层厚度的变化,获取了丰富的大气垂直高度及气溶胶颗粒等信息。 激光雷达霾层厚度观测设备。   在开展观测数据服务工作的同时,观测服务效益也凸显。利用激光雷达综合观测数据,气象探测中心开展激光雷达霾厚度观测产品的综合加工处理,每日制作并提供北京地区霾层厚度激光雷达观测产品,供全国天气会商及编制决策服务材料使用。其中,12月19日加工制作的激光雷达霾厚度观测产品在《新闻联播》后的《天气预报》节目中得以使用和展示。节目中,一张直观清晰的北京城区霾层厚度监测图出现在屏幕上,横轴显示不同的时间点,纵轴显示霾层在不同公里数上厚度的差别,上方配以消光系数,同时主持人深入浅出的讲解,使观众对“激光雷达霾层厚度观测”建立起感性认识。 新闻联播天气预报节目展示北京城区霾层厚度监测情况。   据悉,下一步,气象探测中心将根据服务需求,继续改进探测产品,积极探索新型探测设备的产品开发及应用,更加充分地发挥综合观测效益,同时全力做好综合观测系统的运行监控、技术保障工作,为气象预报预测服务提供有力支撑。  北京健德桥的激光雷达霾层厚度连续观测结果。北京南郊的激光雷达霾层厚度观测结果。 (责任编辑:栾菲)

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  • 厚度测量仪哪个品牌比较好?

    厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  在选择厚度测厚仪这样的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,进一步确保了高精度,高效率,高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]  厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。  厚度测量仪哪个品牌比较好?不同类型的测厚仪,对应不一样的行业,适用范围也有所不同,那么大家在选购测厚仪时,就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们,欢迎来电大成精密公司来咨询。

  • 【求助】湿膜厚度计选用

    我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控,可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度(固化后的)和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶,此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间,测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试,请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢!

  • LFA467比热测试:不同厚度的样品也可获得准确的结果

    LFA467比热测试:不同厚度的样品也可获得准确的结果

    LFA 467 Hyperflash 可同时测试16个不同厚度的样品的热扩散系数,也可以得到样品的比热值。针对不用尺寸和厚度的样品,LFA 467 Hyperflash可以提供不同规格的样品支架,这样就会产生以下问题:为获得稳定的比热数据,允许的最大厚度差异为多少?通过以下测试很好的解答了这个问题。以不同厚度的Pyroceram 9606作为测试样品,研究厚度对比热测试的影响,具体样品信息见下表:[table=100%,rgb(255,255,255)][tr][td=1,1,50%]尺寸[/td][td=1,1,50%]厚度[/td][/tr][tr][td=1,1,50%]ɸ 12.7mm[/td][td=1,1,50%]1mm[/td][/tr][tr][td=1,1,50%]ɸ 12.7mm[/td][td=1,1,50%]2.5mm[/td][/tr][tr][td=1,1,50%]12.7mmX12.7mm[/td][td=1,1,50%]2mm[/td][/tr][/table]首先,通过ZoomOptics(硬件选项)将光斑尺寸设置为7mm,以获得相同的测试状态方便对比。[img=,590,285]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/06/201806131427367669_2059_163_3.jpg!w590x285.jpg[/img]将2mm厚的方形样品(12.7mmX12.7mm)作为计算比热用的参比样品并计算其比热(黑线),其他两个样品的比热值分别以浅绿色和深绿色显示。从图中可以看出,不同温度下的比热值有均有一定的偏差,但是即使在样品尺寸不同,厚度也有很大的差异(黑线和浅蓝色线)的情况下,测试结果与理论值也有很好的吻合度,其偏差均在±5%以内。众所周知,样品的尺寸和厚度会影响比热的测试结果,然而上述结果显示,在样品尺寸和厚度相差不太大的情况下,也可以获得准确的比热值。但是为获得最好的比热结果,应尽量选择相同形状的样品,且不同样品间的厚度差异不要大于1mm。

德乐牌厚度计相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
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