德飞荧光电镜

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜最大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

Thermo Scientific针对空气敏感样品开发了惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect，为空气敏感材料表征开拓出了全新视野。惰性气体/真空保护样品转移工作流程能够帮助科研工作者拓展空气敏感材料的研究边界，探究更多未知领域。 产品介绍 CleanConnect 惰性气体/真空保护样品传输系统可与大多数 Thermo Scientific扫描电镜和双束电镜系统兼容。它主要由样品装载室、闸阀单元、真空控制装置、样品转移仓和转移杆组成。CleanConnect的真空系统可与扫描电镜或双束电镜集成，无需额外配置真空泵，仅需要60s即可完成抽真空过程。和传统的样品转移杆不同，CleanConnect创新性地使用了惰性气体进行样品保护，使得转移仓持续维持正压，ZUI大限度地保证样品与空气隔绝。CleanConnect系统配备的气压表可以实时显示转移仓中气压，使得用户对样品的气压状态有清晰的认识。CleanConnect的正压可以维持十个小时以上，可以实现样品长时间、长距离的转移。图1 赛默飞电镜惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect&trade 工作流程 利用CleanConnect与扫描电子显微镜进行联用时，可将空气敏感的样品在手套箱中转移至CleanConnect样品台中，随后将 CleanConnect与扫描电镜的样品交换仓进行对接，将样品转移至扫描电镜的样品台中，这样就实现了惰性气体保护下的隔绝空气地转移，随后再利用扫描电镜进行形貌观察、元素分析等。图2 惰性气体保护下将样品转移至赛默飞扫描电子显微镜 此外，CleanConnect也可加载在双束电镜上用于材料截面形貌的观察和TEM样品的制备。当需要观察空气敏感样品的内部显微结构时，先利用CleanConnect实现手套箱至双束电镜的转移，随后利用双束电镜的离子束对样品进行切割，再利用电子束对切割后的新鲜截面进行高分辨成像。如果期望实现原子尺度分辨率成像时，则可利用双束电镜制备TEM薄样，再使用CleanConnect将制备好的TEM薄样在手套箱中转移至TEM样品杆，再转移至透射电镜中完成纳米或原子尺度的高分辨成像。图3 惰性气体保护下将样品转移至双束电镜和透射电镜中进行纳米尺度分析 产品优势 CleanConnect的使用给电子显微镜用户带来了全新的体验，产品具有如下优势：1 保护样品避免与空气中的氧气、水分或二氧化碳发生反应，获取材料表面真实形貌与结构信息。2 CleanConnect系统适用于不同的SEM和DualBeam产品型号，对于有多台设备的实验室，CleanConnect可实现多设备之间的样品关联互通。3 CleanConnect系统兼容液氮冷冻台，样品从手套箱可以转移至双束电镜上的冷冻台上，使得样品在随后的的切割过程中免受离子束的热损伤。4 模块化的设计，符合人体工程学，可实现更便捷的样品转移。5 分离式的样品转移舱和转移杆设计,可以使CleanConnect从手套箱的小过渡仓直接进行快速转移，无需对手套箱进行改装。 产品应用 部分电池材料（如锂金属、硫基固态电解质、满充负极等）对水分和氧气非常敏感，因此在样品处理和转移过程中需要对其实施特殊保护以便于获取材料的真实形貌与结构信息。此外，固态电池的表征也需要在隔绝空气的条件下进行开展：例如固态电池材料的形貌表征、原位实验以表征枝晶在SEI（固态电解质界面）中横向生长形态以及由于硅材料体积膨胀导致的SEI不稳定性实验等。 下面两图分别对比了锂金属和满充石墨负极样品在采用CleanConnect系统保护和在空气暴露后的形貌，结果表明CleanConnect有效保护了样品免受空气/水分污染，从而帮助研究者获取本真形貌结构信息，实现对样品更深入的分析研究。 图4 采用CleanConnect传输锂金属样品（左）和在空气中暴露2 min的锂金属（右） 图5 采用CleanConnect传输满充石墨负极样品（左）和在空气中暴露2 min的满充石墨阳极（右） 如果希望对锂金属进行原子尺度的表征，需要进行TEM样品制备。传统的Ga离子在室温下会与锂金属发生反应，难以用于锂金属的加工。Thermo Scientific研发的氙气等离子气体源的PFIB（Plasma FIB）可以实现锂金属透射样品的无损制备。为了避免锂金属暴露在空气中造成表面氧化，使用了CleanConnect进行样品传输，随后使用Cryo-PFIB技术进行样品冷冻制备和进一步的观察。图6是利用Cryo-PFIB技术在-178℃进行锂金属样品的TEM样品制备过程以及在TEM中观察到的样品形貌信息。图7TEM明场像中可以看到Li的碳化物与Li2CO3的分布，利用高分辨成像可以看到清晰的锂原子排列，可见在切割和转移过程中样品并未受到损伤或氧化。 图6 利用Cryo-PFIB进行TEM样品制备过程 图7 利用TEM进行明场像（中）及原子尺度的观察（右） CleanConnect除了可以应用在钠离子电池、钠硫电池、固态电池材料等空气敏感的电极材料以外，还非常适用于镁铝合金、钙钛矿材料、金属有机框架材料、催化剂等这些对空气敏感的材料表征。无论是在寻求替代能源的工作中，还是开发更强、更轻材料和高精尖的纳米技术研究中，都需要有利的仪器和工作流程来实现更深入的研究表征需求，以推进科学技术发展。我们相信随着CleanConnect系统在扫描电镜、双束电镜上的推广与普及，越来越多的科学家及工程师们能受惠于这一科技带来的对新材料研究的便捷，推进新材料、新产品研究的进程。 虽然人类无法实现永动机的美好愿望，但却可以更好地开发先进技术、更有效地使用能源，让人类文明生生不息。如今，科学家们仍致力于电池材料研究以实现电池技术的突破，旨在开发更安全、更高能量密度和功率性能的电池产品。赛默飞也一直在持续开发更先进的分析技术应用于电池研发和生产中，助力科学家们实现这一目标。未来赛默飞也会竭诚为广大科研与工业用户开发出更多满足客户需求的产品，帮助客户让世界更健康、更清洁、更安全！产品参数规格参数 与大多数 Thermo Scienti c 扫描电镜/双束电镜系统兼容系统控制：硬件联锁* 通过三个按钮实现简单控制* 硬件联锁防止同时开启 CleanConnect系统的闸阀和泄空功能系统控制：软件集成* 集成在在具有兼容性软件版本的系统上* 软件支持自动关闭电子束、载物台移归位、样品仓冲洗以及GIS撤回(如适用)操作* 测试流程：装样，抽真空直至获得图像，并在 2 分钟内完成样品卸载* 初始设置3次冲洗模式，用户可自定义压力和冲洗次数真空系统* 真空系统与扫描电镜或 DualBeam 系统集成，无需另外配置真空泵* 与系统集成并联锁，确保操作安全、简单* 抽空时间：约 60 秒样品尺寸* 直径可至：≤25 mm* 厚度可至：≤15mm* 内置高度规，用于预先量测样品与装置间隙

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

Quattro-环境扫描场发射电镜Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，可以将成像和分析全面性能与环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。Quattro的场发射电子枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得样品信息，从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性，可以容纳最广泛的样品类型，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持，不仅可以指导操作者，还可以直接进行交换，轻松缩短结果获取时间。金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料陶瓷、复合材料、塑料薄膜/涂层地质样品断面、矿物软材料：聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料颗粒、多孔材料、纤维水合/脱水/湿润/接触角分析结晶/相变氧化/催化材料生成拉伸（伴随加热或冷却）产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率：型号Quattro CQuattro S高真空30 kV（STEM）0.8 nm30 kV（SE）1.0 nm1 kV（SE）3.0 nm高真空下减速模式1 kV（BD+BSED）3.0 nm1 kV（BD+ICD）2.1 nm200 V（BD+ICD）3.1 nm低真空30 kV（SE）1.3 nm3 kV（SE）3.0 nm30 kV（BSE）2.5 nm环境扫描模式30 kV（SE）1.3 nm 放大倍率：6 ~ 2,500,000×加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压：20 eV~30 keV，电子束减速可选探针电流范围：1 pA ~ 200 nA，连续可调X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为340 mm宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3个（其中2个处于180°对角位置），通用9针电气接口样品台和样品：型号Quattro CQuattro S类型优中心测角台，5轴电动X Y轴55×55 mm110×110 mm重复精度3.0 μm（0°倾斜时）电动Z轴65 mm旋转N×360°，连续倾斜-15°/+90°最大样品高度与优中心点（10 mm）间隔85 mm最大样品重量0°倾斜时，最大为5 kg最大样品尺寸可沿X、Y轴完全旋转时的直径为122 mm探测器系统： 同步检测多达四种信号，包括 样品室高真空二次电子探测器ETD 低真空二次电子探测器LVD气体SED（GSED，用于环境扫描模式）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度） 样品导航彩色光学相机Nav-Cam™ 珀尔帖台集成式STEM，用于观察湿薄样品- WetSTEM™ 控制系统： 操作系统：64位GUI（Windows 7）、键盘、光学鼠标 图像显示：24寸LCD显示器，WUXGA 1920×1200定制化的图像用户界面，可同时激活多达四个视图导航蒙太奇 软件支持Undo和Redo功能可选Joystick操纵杆 可选多功能控制板

新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM，该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上，快速提供所需微观形貌及实时成分信息，帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据，准确执行故障分析和缺陷检测。Axia ChemiSEM 主要技术参数及特点：&bull 通用型 SEM 系统，可涵盖多种类型样品。可分析绝缘材料、处理大而重（达10 kg）的样品，同时能够分析常规的小尺寸样品。&bull 灵活性 SEM 系统，支持各类功能附件。&bull 使用便捷，不依赖于用户操作水平、能够便捷提供元素或化学信息。&bull 高度自动化，自动对中技术确保系统始终处于最佳工作状态，用户指南及撤销功能帮助用户更轻松操作系统。 &bull 处理效率最高：实时定量成分分析成像，更快获得定量分析数据。&bull 分辨率：3nm@30kV，8nm@3kV

在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据 生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是我们最先进的连续切面成像系统（Serial Block Face Imaging，SBFI）。该系统简单易用，让使用者能够完美精准的控制实验，已验证的解决方案适用于各种样品类型，保证数据采集的每一步都达到最高的质量，从而保护有价值的样品。核心优势：简单易用：能够重复使用的工作和系统设置在采集过程中创建多个ROI在采集过程中可以使用 Amira Live Tracker 功能进行可视化和导航操作，以实时优化/控制结果可在无人值守情况下采集大体积样品的三维数据，并自动进行重构，为研究人员腾出宝贵的时间轻松、快速地安装和卸载超薄切片机以便在常规扫描电镜和自动化阵列式断层扫描成像（Array Tomography，AT）之前切换，后者需选配 Thermo Scientific Maps 软件在每个采集步骤中，使用经过测试的、适用于各种类型样品的解决方案来保护珍贵的样品：通过密集测试确保系统性能和可靠性通过碎片识别功能实现碎片捕集和Swipe滑动以最大化对样品的有效保护可使用HiVac和LoVac两种模式采集荷电样品，更可靠；LoVac探头（VSDBS）用于高荷电样品，可提供与HiVac相当的数据质量MED确保在z轴方向上获得最高的图像质量（高达10 nm的光学切片以实现各向同性的分辨率）

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

透射电子显微镜透射电镜专门用于半导体行业的TEMThermo Scientific Metrios&trade 系统是首台透射电子显微镜（TEM），专用于提供半导体制造商开发和控制其晶圆制造工艺所需的快速，精确的测量。基本TEM操作和测量程序的广泛自动化将对专业操作员培训的要求降至更低。其先进的自动计量例程比手动方法具有更高的精度。与其他TEM相比，Metrios TEM旨在为客户提供更高的通量和更低的每样品成本。 半导体的Metrios SEM大量TEM数据，准确且可重复-以更低的每次采样成本Thermo Scientific Metrios&trade 透射电子显微镜（TEM）是一款专门提供半导体制造商开发和控制其晶圆制造工艺所需的快速，精确测量的TEM。先进的逻辑和存储器制造过程越来越依赖于精确结构和分析数据的快速周转，从而能够快速校准工具集，诊断良率偏差并优化过程良率。在低于28nm的技术节点上，尤其是在实施非平面器件设计的情况下，传统的SEM或基于光学的分析和检查工具无法提供有用的数据。我们的Metrios TEM自动执行基本的TEM操作和测量程序，并限度地减少了对专业操作员培训的要求。其先进的自动计量例程比手动方法具有更高的精度。Metrios TEM旨在以较低的每次样品成本提供大量TEM数据，准确且可重复的操作。Thermo Scientific&trade Metrios&trade DX TEM结合了可靠的技术和创新的新功能，是半导体和存储环境的首，需要对越来越复杂的结构和不断缩小的几何尺寸进行大量精确的测量。主要好处始终如一的，可重复的，精确的，从头开始的设计，可提供可重复的TEM和基于S / TEM的成像，分析和可计量的计量，而无需操作员偏见保证计量精度，TEM和S / TEM的畸变和放大率校准中的组合误差小于1％自动化的EDS和混合计量，通过自动化获取和量化EDS数据。在关键的关键尺寸上使用元素对比来扩展STEM通过样品制备，拔除和成像跟踪工作流程的连通性，关键过程数据。可以离线应用计量，以程度地获取工具。所有成像和计量数据都整合在基于Web的图像查看器中。合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

Thermo Scientific针对空气敏感样品开发了惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect，为空气敏感材料表征开拓出了全新视野。惰性气体/真空保护样品转移工作流程能够帮助科研工作者拓展空气敏感材料的研究边界，探究更多未知领域。 产品介绍 CleanConnect 惰性气体/真空保护样品传输系统可与大多数 Thermo Scientific扫描电镜和双束电镜系统兼容。它主要由样品装载室、闸阀单元、真空控制装置、样品转移仓和转移杆组成。CleanConnect的真空系统可与扫描电镜或双束电镜集成，无需额外配置真空泵，仅需要60s即可完成抽真空过程。和传统的样品转移杆不同，CleanConnect创新性地使用了惰性气体进行样品保护，使得转移仓持续维持正压，ZUI大限度地保证样品与空气隔绝。CleanConnect系统配备的气压表可以实时显示转移仓中气压，使得用户对样品的气压状态有清晰的认识。CleanConnect的正压可以维持十个小时以上，可以实现样品长时间、长距离的转移。图1 赛默飞电镜惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect&trade 工作流程 利用CleanConnect与扫描电子显微镜进行联用时，可将空气敏感的样品在手套箱中转移至CleanConnect样品台中，随后将 CleanConnect与扫描电镜的样品交换仓进行对接，将样品转移至扫描电镜的样品台中，这样就实现了惰性气体保护下的隔绝空气地转移，随后再利用扫描电镜进行形貌观察、元素分析等。图2 惰性气体保护下将样品转移至赛默飞扫描电子显微镜 此外，CleanConnect也可加载在双束电镜上用于材料截面形貌的观察和TEM样品的制备。当需要观察空气敏感样品的内部显微结构时，先利用CleanConnect实现手套箱至双束电镜的转移，随后利用双束电镜的离子束对样品进行切割，再利用电子束对切割后的新鲜截面进行高分辨成像。如果期望实现原子尺度分辨率成像时，则可利用双束电镜制备TEM薄样，再使用CleanConnect将制备好的TEM薄样在手套箱中转移至TEM样品杆，再转移至透射电镜中完成纳米或原子尺度的高分辨成像。图3 惰性气体保护下将样品转移至双束电镜和透射电镜中进行纳米尺度分析 产品优势 CleanConnect的使用给电子显微镜用户带来了全新的体验，产品具有如下优势：1 保护样品避免与空气中的氧气、水分或二氧化碳发生反应，获取材料表面真实形貌与结构信息。2 CleanConnect系统适用于不同的SEM和DualBeam产品型号，对于有多台设备的实验室，CleanConnect可实现多设备之间的样品关联互通。3 CleanConnect系统兼容液氮冷冻台，样品从手套箱可以转移至双束电镜上的冷冻台上，使得样品在随后的的切割过程中免受离子束的热损伤。4 模块化的设计，符合人体工程学，可实现更便捷的样品转移。5 分离式的样品转移舱和转移杆设计,可以使CleanConnect从手套箱的小过渡仓直接进行快速转移，无需对手套箱进行改装。 产品应用 部分电池材料（如锂金属、硫基固态电解质、满充负极等）对水分和氧气非常敏感，因此在样品处理和转移过程中需要对其实施特殊保护以便于获取材料的真实形貌与结构信息。此外，固态电池的表征也需要在隔绝空气的条件下进行开展：例如固态电池材料的形貌表征、原位实验以表征枝晶在SEI（固态电解质界面）中横向生长形态以及由于硅材料体积膨胀导致的SEI不稳定性实验等。 下面两图分别对比了锂金属和满充石墨负极样品在采用CleanConnect系统保护和在空气暴露后的形貌，结果表明CleanConnect有效保护了样品免受空气/水分污染，从而帮助研究者获取本真形貌结构信息，实现对样品更深入的分析研究。 图4 采用CleanConnect传输锂金属样品（左）和在空气中暴露2 min的锂金属（右） 图5 采用CleanConnect传输满充石墨负极样品（左）和在空气中暴露2 min的满充石墨阳极（右） 如果希望对锂金属进行原子尺度的表征，需要进行TEM样品制备。传统的Ga离子在室温下会与锂金属发生反应，难以用于锂金属的加工。Thermo Scientific研发的氙气等离子气体源的PFIB（Plasma FIB）可以实现锂金属透射样品的无损制备。为了避免锂金属暴露在空气中造成表面氧化，使用了CleanConnect进行样品传输，随后使用Cryo-PFIB技术进行样品冷冻制备和进一步的观察。图6是利用Cryo-PFIB技术在-178℃进行锂金属样品的TEM样品制备过程以及在TEM中观察到的样品形貌信息。图7TEM明场像中可以看到Li的碳化物与Li2CO3的分布，利用高分辨成像可以看到清晰的锂原子排列，可见在切割和转移过程中样品并未受到损伤或氧化。 图6 利用Cryo-PFIB进行TEM样品制备过程 图7 利用TEM进行明场像（中）及原子尺度的观察（右） CleanConnect除了可以应用在钠离子电池、钠硫电池、固态电池材料等空气敏感的电极材料以外，还非常适用于镁铝合金、钙钛矿材料、金属有机框架材料、催化剂等这些对空气敏感的材料表征。无论是在寻求替代能源的工作中，还是开发更强、更轻材料和高精尖的纳米技术研究中，都需要有利的仪器和工作流程来实现更深入的研究表征需求，以推进科学技术发展。我们相信随着CleanConnect系统在扫描电镜、双束电镜上的推广与普及，越来越多的科学家及工程师们能受惠于这一科技带来的对新材料研究的便捷，推进新材料、新产品研究的进程。 虽然人类无法实现永动机的美好愿望，但却可以更好地开发先进技术、更有效地使用能源，让人类文明生生不息。如今，科学家们仍致力于电池材料研究以实现电池技术的突破，旨在开发更安全、更高能量密度和功率性能的电池产品。赛默飞也一直在持续开发更先进的分析技术应用于电池研发和生产中，助力科学家们实现这一目标。未来赛默飞也会竭诚为广大科研与工业用户开发出更多满足客户需求的产品，帮助客户让世界更健康、更清洁、更安全！产品参数规格参数 与大多数 Thermo Scienti c 扫描电镜/双束电镜系统兼容系统控制：硬件联锁* 通过三个按钮实现简单控制* 硬件联锁防止同时开启 CleanConnect系统的闸阀和泄空功能系统控制：软件集成* 集成在在具有兼容性软件版本的系统上* 软件支持自动关闭电子束、载物台移归位、样品仓冲洗以及GIS撤回(如适用)操作* 测试流程：装样，抽真空直至获得图像，并在 2 分钟内完成样品卸载* 初始设置3次冲洗模式，用户可自定义压力和冲洗次数真空系统* 真空系统与扫描电镜或 DualBeam 系统集成，无需另外配置真空泵* 与系统集成并联锁，确保操作安全、简单* 抽空时间：约 60 秒样品尺寸* 直径可至：≤25 mm* 厚度可至：≤15mm* 内置高度规，用于预先量测样品与装置间隙

飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准样品杯高分辨率样品杯，每台飞纳电镜的标准配置。可以获得最好的成像结果，适用于固定在钉型样品台上的常规样品。最大样品尺寸：直径 25 mm；高 30 mm 标准样品杯样品台 放样复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供9台电镜附件及外设，包括飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件，飞纳台式电镜 Phenom 自动倾斜/旋转样品杯，飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台， 不管是电镜附件及外设原理、参数，还是电镜附件及外设价格、型号都可咨询，售前、售后均可联系我们。

电镜能谱一体化设计，简洁小巧 Phenom ProX 的能谱仪 EDS 是针对台式电镜设计的，本着台式电镜简单易用，售后无忧的宗旨，Phenom ProX 的能谱仪 EDS 系统完全嵌入在电镜主机中，利用半导体制冷，无需额外冷却系统。 飞纳台式扫描电镜 Phenom ProX 用户可根据样品类型和测试目的，灵活切换专利样品杯，30 秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后 30 秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的 1/10 左右。 直接观看绝缘体，无需喷金 Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。 利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高 8 倍左右，而且不会影响灯丝寿命，长寿命/高亮度/低色差 CeB6 灯丝 Phenom（飞纳）采用逸出功为 2.5eV 的 CeB6 灯丝，其亮度为钨灯丝的 10 倍，出射电子色差小，为您提供更高质量的图像，其使用寿命长达 1500 小时，为钨灯丝的 10 倍，可正常使用 1-3 年无需更换灯丝，免去了您频繁更换灯丝的麻烦，保证工作进度。环境适应性高，完全防震 Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使 Phenom 成像不受震动影响，可放置在较高楼层。互联网远程检测 Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的 Phenom 随时处于最佳工作状态。

飞纳台式电镜 Phenom 自动倾斜/旋转样品杯每个样品都有自己的特殊要求。某些样品形状要求灵活方位调整，已获得最佳成像效果。样品可能有线条、孔洞、多层结构或其他具体 细节的最佳照片，用户需要调整样品姿态，使其面向探测器的张角最优化。自动倾斜旋转样品杯通过倾斜、旋转样品为细节成像提供了 解决方案。 用户可借助专用的 ProSuite 应用程序来控制样品杯的自动倾转。通过电脑控制操作可以实现样品杯的智能倾转。自动倾斜旋转样品杯能够分析样品上的隐藏特征，并展现独特的 3D 图像。该样品杯采用智能化设计，无需外部接线。自动倾斜旋转样品杯可在光学和电镜模式下操作，- 10° 到+ 45° 双向倾斜和 360° 无死角旋转。倾斜角度：- 10° ～ + 45°旋转角度：360° 旋转通过 Pro Suite 应用程序控制可倾斜调节聚焦

FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜1.设备生产日期：2013年，设备目前在使用状态，一切良好2.设备到位时间：合同签订后，预付6个月押金后的1个月内。3.金鉴承诺服务：（1）安装调试，使用培训（2）3个月保修（3）过保修期，配件，耗材客户自行找二手设备商更换，金鉴可帮介绍二手设备商4.设备特点：（1）分辨率高，放大2万倍依然很清晰（2）原价180万，配置高，探头多。相对于传统配置，多了红外探头、低真空模式探头和背散射探头（3）其低真空模式二次电子探头低真空扫描电镜可直接检验非导电导热样品，无需进行处理，但是低真空状态下只能获得背散射电子像。 低真空扫描电镜可以对各种固体和液体样品进行形态观察和元素（C-U）定性定量分析，对部分溶液进行相变过程观察。对于生物样品、含水样品、含油样品，既不需要脱水，也不必进行导电处理，可在自然的状态下直接观察二次电子图像并分析元素成分。5.设备参数：FEI Quanta Inspect低真空扫描电子显微镜Quanta Inspect Specifications（Quanta Inspect 低真空扫描电子显微镜技术参数）Resolution（分辨率）：- 3.0nm @30 kV High vacuum mode（高真空模式下30 kV时，3.0nm）- 3.0nm @30 kV Low vacuum mode（低真空模式下30 kV时，3.0nm）Magnification（放大倍数）：- 7x to 600,000x连续可调Accelerating voltage（加速电压）：- 200V to 30 kV （200V~30kV）连续可调Filament（灯丝）- W. hairpin filament（钨灯丝）Maximum probe current（最大束流）：- 2μAChamber vacuum（样品室真空）：- 6x10-4 to 270Pa（6x10-4 ~270Pa ）Two modes: high vacuum, low vacuum（两种模式：高真空，低真空）Vacuum system（真空系统）：- 1x250 Vs TMP（1个250 Vs分子涡轮膜）- 2x2 PVP （2个机械泵）- Through-the-lens differential pumping（透镜内距差真空系统）Detectors（探测器）：- Eyehardt Thornley SED（高真空模式E-T二次电子探头）- Large Field Gaseous SED（低真空模式LF GSED 二次电子探头）- IR-CCD （红外CCD机）- Solid-State SED（固体电子探头）Chamber（样品室）-284nm left to right（左右长度284nm）-10nm analysis WD （10nm 分析二次距离）Image processor（图像处理）：- Up to 3584x3094 pixels（最大3584x3094像素）- File type: TIFF(8 or 16 bit), BMP, or JPEG（图像格式：TIFF，BMP或JPEG）Image display （图像显示）：-17’’LCD,SVGA 1280X1024（17’’LCD显示器，1280X1024分辨率）-Single frame image display（单核图像显示）-Frame average integration（帧平均成积分）System control（系统控制）：-32-bit graphical user interface, with Windows XP keyboard, optical mouse（32位图形用户界面，Windows XP键盘，鼠标）Installation requirement（安装要求）：-Power（电源） -Voltage（电压）：230V(6%,10%) -Frequency（频率）:50Hz or 60Hz -Power consumption （耗电量）＜15A for basic electroplate （电镀基本系统＜15A） -Earth resistance（地面电阻）:＜1Ohm-Environment（环境） -Temperature （温度）：13-30℃ -Relative humidity（相对湿度）：≦80%6.应用案例：（1）500放大倍率： （2）5000放大倍率：（3）10000放大倍率： （4）20000放大倍率：

飞纳台式电镜 Phenom 温度控制样品杯为了研究对真空度敏感及易脆性的样品，如生物、食品和有机涂层等，飞纳和德芬研发了温控样品杯。温控样品杯能控制样品的温度，从而影响样品周围的湿度。最大限度的降低电子束和真空度对样品的损坏。样品杯的工作原理是基于珀尔帖效应，可以迅速、容易的调整温度。样品的温度能够精确的监控，通过专用键盘控制器来控制。温控样品杯控制范围 - 25℃ ～ + 50℃，精度在 ± 1.5℃。温度范围：- 25℃ ～ + 50℃；- 50℃ ～ + 50℃（可选）精确度：± 1.5℃显示分辨率：0.1℃最高冷却速度：20℃/min样品最大尺寸：直径 25 mm，高 5 mm

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1500 名用户。

飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显，可减轻电子束对样品的损伤和穿透，更好地观测绝缘和电子束敏感的样品，可以最大程度还原样品真实形貌。Phenom Pharos G2 —— 电镜能谱一体化设计Phenom Pharos 飞纳台式场发射电镜采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能，可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。飞纳台式场发射电镜的技术优势 分辨率优于 1.5 nm 低电压下可得到高分辨样品的图像，表面细节丰富 彩色光学显微镜全景导航 集成全自动马达样品台 操作简单，培训 30 分钟即可上手 内置真空锁，15 秒抽真空 无需喷金，直接观察不导电样品 电子束流大，稳定，能谱分析效率高 内置 27 组独立减震单元，完全防震 电子光路免维护维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。

飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准金相样品杯的主体设计与标准样品杯相同，但金相样品杯是专门用来装载镶嵌样品的。是冶金类样品和样品杯插件的首选方案。金相杯可以选配两种插件，从而更快速制备样品。独特的样品杯理念 包埋、切割和抛光是显微成像中制备平整样品的一种常用技术。 通常这种样品要包埋在树脂中，并且有几种标准的尺寸。 使用 Phenom XL 电镜上的标准样品杯，通常支持拓展三种金 相样品插件。这意味着该样品杯可以容纳大多数尺寸的镶嵌样 品。 金相样品插件具备众多独特优点。样品固定方法简单直接，所有 样品具有相同工作距离，批量能谱分析非常方便。 在做能谱定量分析时，镶嵌样品的表面要尽可能水平。然而，样 品底面却往往是十分粗糙。若没有这些插件，装载这种样品时， 上表面不在同一水平面上，这势必会影响能谱定量结果。 利用这些插件，样品底面不会接触到样品杯表面。在插件内部， 镶嵌样品的上表面可以精确的固定在同一高度的平面上，可以同 时获得高分辨图像和能谱结果。 金相样品插件有三种型号，能装载 25 mm (1英寸)，32 mm (1.25英寸) 和 40 mm (1.5英寸) 标准尺寸样品。含有内六角扳 手用于样品固定。最大样品尺寸：直径 32 mm；高 30 mm 金相样品杯金相试样 放样

产品性能飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 XL是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm，放大倍数 200,000 倍以下， Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上，分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美，后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜：放大 3-19 倍电子显微镜：200,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 8 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 30 秒能谱仪：可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建，纤维统计分析测量系统，颗粒统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台 复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 2000 名用户。

FEI Quanta 200环境扫描电子显微镜主要用于生物样品、材料样品表面精细形貌和结构的观察和分析。图像具有高分辨率和高放大倍数，富于立体感，可真实、生动地显示样品的三维结构。广泛应用于生命科学、医学、材料学等诸多学科。在环境保护和环境监测中，扫描电镜也发挥了不可替代的作用。扫描电镜图像生动、真实地显示了在污水处理中，颗粒污泥、絮状污泥和各种载体上生物膜的生长情况，为深入研究微生物在污水处理、环境保护中的作用、机理和效果提供了有力依据。1. 广泛应用于各种导电材料、绝缘材料、生物材料及含水材料等固体材料的形貌观察；2. 非导电样品不需要表面导电处理，可直接在低真空和环境真空模式下进行成像；3. 多种样品台可提供多种选择；4. 配置冷台，可低温观察样品；5. 真空可控，可在特定真空下观察样品形貌。1. 分辨率：3.5nm （高真空模式，30kv）；2. 3.5nm (低真空模式，30kv）；3. 3.5nm (ESEM环境真空模式， 30kv）；、4. 15 nm (低真空模式，3kv）；5. 放大倍数: 50-50,000x；6. zui大象素: 3584 x 3094。1. 无机物纳米材料等样品的结构信息；2. 不导电样品低真空模式下观察；3. 含水样品在环境扫描模式下观察；4. 动植物微生物等样品干燥、镀金处理后表面形貌观察。

产品介绍：TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence&trade 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更gao效的分析的解决方案。TESCAN VEGA 采用创新的电子光学设计，确保在需要时即时、无缝地选择成像或分析条件，无需对任何电子光学镜筒内的元件进行机械对中。可以配置真空缓冲节能单元，使用后可显著缩短机械泵的运行时间，从而达到节能、环保的要求。主要特点:完全集成的 TESCAN Essence&trade EDS 分析平台，在 Essence&trade 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing&trade ）的ZG技术，可帮助用户快速获得电镜合适的成像及分析条件。独特的大视野光路（Wide Field Optics&trade ）设计，zui低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。直观、模块化的 Essence&trade 软件设计，不同经验等级的用户均可轻松操作。在样品台及装置的样品运动过程中，Essence&trade 3D 防碰撞模块可以直观的显示安装样品室内的探测器及样品台的位置信息，提供安全性的保护。SingleVac&trade 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间，提供环保、高经济效益的电子显微镜。模块化分析平台，可选配集成最多种类的探测器和附件（如阴极荧光探测器，水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等）。大视野设计，实现低倍精确导航利用大视野光路(Wide Field Optics&trade )技术，用户可通过扫描窗口实时观察样品，直接实现感兴趣位置的精确导航。大视野光路技术取代了传统的CCD导航相机，提供无与伦比的大景深，同时也提供样品实际形貌的图像，实现更直观、先进的样品导航过程。在 SEM 观测窗口中，最小2倍的放大倍率保证了大视野无畸变的图像实时观测，可连续放大感兴趣的区域，无需光学导航相机。实时的SEM窗口同样可与预倾斜样品台（如 EBSD 预倾台）配合使用，对于需要倾斜分析的样品，支持扫描倾斜校正，从而实现更精确的导航。自动操作通过一次点击就可以进行自动灯丝加热和电子枪对中。众多的自动程序减少了用户的操作时间，并提供了操作的自动导航与自动化分析。通过内置脚本语言（Python）用户可以进入软件大多数功能，包括电镜控制、样品台导航、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户也可以自定义软件的自动操作。全新的 EssenceTM 电镜控制软件用户界面有各种语言版本。集成的 Essence&trade EDS 能谱软件，轻松快捷地实现从成像切换到元素分析，通过软件一键即可实现所有设置参数的更改。具备快速搜索功能、命令撤消及参数预设等多种功能，帮助用户gao效、快捷地完成分析工作。允许用户设定符合其自身体验水平或特定应用的工作流程。Essence&trade 防碰撞模型软件能够直观的模拟出样品室内情况，有效避免碰撞的发生。内置的自动系统检查。通过局域网或互联网可实现电镜远程诊断。模块化软件体系结构。标准的软件模块包括了：光电联用、测量工具、图像处理、对象区域等。选配软件包括了：颗粒度分析、三维表面重构等。软件：测量软件, 公差测量软件图像处理预设参数直方图及LUTSharkSEM&trade 基础版 (远程控制)3D 防碰撞模型软件对象区域光电联用 定时关机CORAL&trade （用于生命科学的电镜模块）自动拼图软件样品观察TESCAN Flow&trade (离线处理软件)

产品性能：第六代飞纳台式扫描电镜高性价比标准版 Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 15kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台是飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的标准样品杯，设计紧凑，可以分析的最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm。尽管是大得多的样品尺寸，专利的样品加载技术可以使抽真空的时间降到最短，实际上使得飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的吞吐量比同类型的扫描电镜高出几个级别。镶嵌，切割和抛光是制备表面平整，用于扫描电镜观察样品的常用技术。通常，这些样品会被嵌入到树脂中，并且有几种标准直径的尺寸。飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 可以拓展使用 3 种树脂镶嵌金相样品插件，这意味着 Phenom XL G2 的标准样品杯可以装载常见尺寸的金相样品。100 mm x 100 mm（一次可容纳多达 36 个 1/2 英寸样品台）样品高度 Max. 65mm超大样品台

FEI Quanta 系列包括六款可变压力和环境扫描电子显微镜 (ESEM&trade )。所有这些产品均可满足工业工艺控制实验室、材料科学实验室和生命科学实验室的多种样本和成像要求。Quanta 系列扫描电子显微镜属于多功能、高性能仪器，并具有高真空、低真空和 ESEM 三种模式，能够处理的样本类型之多堪称 SEM 系统之最。所有 Quanta SEM 系统均可配备分析系统，比如能量色散谱仪、X 射线波长色散谱仪以及电子背散射衍射系统。此外，场发射电子枪 (FEG) 系统含有一个用于明场和暗场样本成像的 S/TEM 检测器。SEM 系统中的另一个可变配置是电动工作台的尺寸（分 50mm、100mm 和 150mm 三种）以及电动 Z 轴行程的大小（分别为 25mm、60mm 和 65mm）。Quanta 650 和 650 FEG 都设计了大标本室，能够分析和浏览大型标本。Quanta 的材料科学应用随着 Quanta 50 系列的推出，现在的 Quanta SEM 系列更为灵活。对于材料科学来说，这些全新仪器可满足对众多类型材料进行研究以及表征结构和成分的需求。FEI Quanta&trade 50 系列十分灵活，功能多样，能够应对当今众多研究领域的挑战。观测任意样本并获得所有数据 - 表面和成分图像可与配件结合起来，确定材料属性和元素成分。Quanta 旨在增加您实验室的可发表成果。Quanta 标准环境 SEM (ESEM) 功能可以提供额外的能力，用于处理您之前认为电子显微技术无法处理的样品和应用，同时协助预测长期的材料性能。 对水化物样品成像。 潮湿或热循环期间的结晶或相变。 悬浮或自组装过程中的粒子。 金属腐蚀。 拉伸试验（根据需要加热或冷却）。 Quanta 自身的多功能性使之非常适合用于材料科学。它善于执行传统高分辨率 SEM 成像/分析，在动态原位 实验方面同样游刃有余。Quanta 可以让您研究自然状态下的广泛样品，从而获得最准确的结构和组成信息： 氧化/腐蚀样品 陶瓷材料、复合材料、塑料 薄膜和涂层 软材料：聚合物、药物、凝胶 颗粒物、多孔材料、纤维合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

产品性能：第六代 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure 经济型是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。Phenom Pure产品参数光学显微镜：放大 27 倍电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pure 可升级为高分辨率专业版 Phenom Pro，Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pure 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

产品性能第六代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 350,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom Pro 的分辨率轻松达到 6 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。飞纳台式扫描电镜 Phenom Pro产品参数电子显微镜：350,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 6 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2Phenom XL （电镜腔室 100mm x 100mm）具有飞纳电镜系列以下优点：超高分辨 —— 8 nm，独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝快速成像 —— 抽真空时间小于 20 秒简易操作 —— 光学 + 低倍电子导航定位，结合全自动马达样品台移动观测位置直接观测绝缘体 —— 低真空设计，实现不喷金看绝缘体，且不影响灯丝寿命高度自动化 —— 自动聚焦，自动调节对比度亮度，拍照简单快速放置环境无特殊要求—— 无需独立实验室，无需超净间防震设计 —— 紧凑的一体化设计，可不用防震台摆放在高层远程联网检测 —— 第一时间通过远程联网诊断，售后无忧同时，Phenom XL G2 做出了如下改进，使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下，具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势：1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的，电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm，一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台，测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm，Y = 50mm（可选配X=100 mm,Y=100 mm）Phenom XL 的样品台2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空，可以选配二次电子探测器3、背散射电子探头性能依然优异，背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关，可以和能谱良好结合起来背散射 1000X（背散射电子数量与元素的原子序数成正比，元素的原子序数越高，背散射电子数量越多，该元素在图像中的表现越亮）样品未喷金，采用背散射电子成像，更高倍数下清晰看到多种成分衬度，沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度，且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同，并且沿着箭头方向，重元素占比越来越低。4、低电压下成像优势明显，低电压模式下，可以减少对样品的损伤，穿透，能观察到样品表面更真实的形貌 二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 10000X二次电子 5kV, 15000X5、可拓展拉伸台，压力台，大角度倾斜台，高低温样品台等功能性选件● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台 　　拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建系统，纤维统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统等

飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX是终极的集成化成像分析系统。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。研究样品时，得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器，飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析，检测样品的元素组分。此外，该软件还可以扩展到元素分析线面扫（mapping）功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。Phenom ProX 主要技术参数电子放大最高 350,000 X分辨率优于 6 nm光学导航相机彩色加速电压4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm样品高度最高 100 mm

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

Quattro-环境扫描场发射电镜Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，可以将成像和分析全面性能与环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。Quattro的场发射电子枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得样品信息，从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性，可以容纳最广泛的样品类型，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持，不仅可以指导操作者，还可以直接进行交换，轻松缩短结果获取时间。金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料陶瓷、复合材料、塑料薄膜/涂层地质样品断面、矿物软材料：聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料颗粒、多孔材料、纤维水合/脱水/湿润/接触角分析结晶/相变氧化/催化材料生成拉伸（伴随加热或冷却）产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率：型号Quattro CQuattro S高真空30 kV（STEM）0.8 nm30 kV（SE）1.0 nm1 kV（SE）3.0 nm高真空下减速模式1 kV（BD+BSED）3.0 nm1 kV（BD+ICD）2.1 nm200 V（BD+ICD）3.1 nm低真空30 kV（SE）1.3 nm3 kV（SE）3.0 nm30 kV（BSE）2.5 nm环境扫描模式30 kV（SE）1.3 nm 放大倍率：6 ~ 2,500,000×加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压：20 eV~30 keV，电子束减速可选探针电流范围：1 pA ~ 200 nA，连续可调X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为340 mm宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3个（其中2个处于180°对角位置），通用9针电气接口样品台和样品：型号Quattro CQuattro S类型优中心测角台，5轴电动X Y轴55×55 mm110×110 mm重复精度3.0 μm（0°倾斜时）电动Z轴65 mm旋转N×360°，连续倾斜-15°/+90°最大样品高度与优中心点（10 mm）间隔85 mm最大样品重量0°倾斜时，最大为5 kg最大样品尺寸可沿X、Y轴完全旋转时的直径为122 mm探测器系统： 同步检测多达四种信号，包括 样品室高真空二次电子探测器ETD 低真空二次电子探测器LVD气体SED（GSED，用于环境扫描模式）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度） 样品导航彩色光学相机Nav-Cam™ 珀尔帖台集成式STEM，用于观察湿薄样品- WetSTEM™ 控制系统： 操作系统：64位GUI（Windows 7）、键盘、光学鼠标 图像显示：24寸LCD显示器，WUXGA 1920×1200定制化的图像用户界面，可同时激活多达四个视图导航蒙太奇 软件支持Undo和Redo功能可选Joystick操纵杆 可选多功能控制板

新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM，该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上，快速提供所需微观形貌及实时成分信息，帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据，准确执行故障分析和缺陷检测。Axia ChemiSEM 主要技术参数及特点：&bull 通用型 SEM 系统，可涵盖多种类型样品。可分析绝缘材料、处理大而重（达10 kg）的样品，同时能够分析常规的小尺寸样品。&bull 灵活性 SEM 系统，支持各类功能附件。&bull 使用便捷，不依赖于用户操作水平、能够便捷提供元素或化学信息。&bull 高度自动化，自动对中技术确保系统始终处于最佳工作状态，用户指南及撤销功能帮助用户更轻松操作系统。 &bull 处理效率最高：实时定量成分分析成像，更快获得定量分析数据。&bull 分辨率：3nm@30kV，8nm@3kV