自动衍射光强

粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响，是质量控制的重要指标。随着粒度测量的需求扩展到各个领域，岛津开发出了可以提供更加广泛的测量范围，并可方便、高效的进行精密测定的粒度仪，其粒径测量范围可达17纳米到2500微米。并且，通过对光路和检测器的优化，灵敏度提高了10倍，因此能够轻松应对浓度在0.1ppm到200000ppm之间的样品。 此外，SALD-2300还采用了单一高能半导体光源设计，在测定过程中无需切换光源，因此其最短测量间隔仅为1秒，并可连续进行测定，从而可快速对粒子发生的团聚或分散过程进行实时监测，确认样品的状态变化。该光源能量更高，可测定对光吸收严重的粒子，同时具有开机预热时间短，寿命更长的优点。 全新配备的Wing SALDII系列软件着重解决了激光粒度折射率选择的难题，独家配备了自动选择折射率功能。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能，能够根据样品所得粒度数据给出5种最佳推荐折射率，并给出置信度。测定范围： 0.017~2500um　测定模式： 湿式或干式特点主机（测定部）以单一测定原理、单一光学系统、单一光源连续的地覆盖了全部测定范围。忠实于ISO标准的单一测定原理、单一光学系统、单一光源覆盖了17nm（0.017&mu m）～2500&mu m的粒径范围，实现了连续的单宽量程。不会发生多个光源结果数据拼凑所造成的数据不连续、不匹配的现象。激光衍射方法符合国际标准 ISO 13320/JIS Z 8825-1SALD全线产品均符合激光衍射散射方法的国际标准ISO 13320 和 JIS Z 8825-1 。采用红色半导体激光采用波长680nm的红色半导体激光，光强度高，光源开机稳定所需时间短。能够正确地测定因光吸收而难以测定的黑粒子，对于少量粒子具有更高的灵敏度。采用高灵敏度传感器元件采用最高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器，并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个元件，共计84个元件的光传感器，准确地检测光强度分布模型，不漏掉微妙的变化，在宽广的粒径范围内，实现了高分辨率、高精度的粒度分布测定。超快的测定速度，可以1秒为间隔连续测定。能够以1秒为间隔实现样品的快速连续测定。可以用于监测和判断易于团聚的样品的团聚过程或其他不稳定粒子变化的过程，例如，监测抗原抗体反应过程。也可以用于判断样品是否已经均一分散。极高的光学系统的稳定性。采用全方向冲击吸收构造OSAF（Omini-directional Shock Absorption Frame），光学系统所有的要素都免受冲击、振动等的干扰，所以，几乎无需调整光轴。光源经过特殊设计，稳定性高，同时由于测定在1秒钟即可完成，即使异常情况下光源发生漂移，在超短测定时间内对粒度的影响可以忽略不计。样品池的操作简单。采用滑动式池架，池的更换、清洗很方便。具备激光安全机构如果打开测定室，那么，激光能够自动关闭。 多功能进样器内置供水泵、和超声分散系统使用内置供水泵的多功能进样器，可以使用市售的塑料容器等直接供水，解决了供水的麻烦。超声分散系统可辅助样品快速均匀分散。 耐有机溶剂性出色的循环管路多功能进样器SALD-MS23标准配备SUS及氟类材质的循环管路，可使用几乎所有的有机溶剂进行湿式流通测定。配备ＣＰＵ在多功能进样器中，配备超声波振动器、搅拌机构、水位传感器和进行控制的ＣＰＵ。因此，通过与计算机连接进行控制，可进行软件控制的自动进水、自动排水、自动搅拌、自动循环、自动清洗等步骤。 微量样品池配备搅拌板上下运动的搅拌机构为了抑制粒子的沉降，配备了搅拌板上下运动的搅拌机构。由此，可实现重现性良好的测定。配备方便样品投放的漏斗在池的开口部设置有四氟化乙烯树脂制漏斗。因此，可防止向池投放样品时样品撒落。可测定少量的样品。池容量约12cm３，可测定非常少量的样品。 软件 配备丰富多彩的功能的测定／数据处理软件WingSALDII软件具备自动计算折射率、统计处理、时间序列处理、三维图示等的丰富多彩的数据处理功能和出色的操作简便性。还可进行粒度数据拼接、不同机型数据转换、粒子混合模拟计算、薄膜散射角度评价等多种功能。粒度分布数据的实时显示最短1秒即可在画面上显示粒度分布图表。另外，粒度分布数据及光强度分布数据可实时显示，这样就可以准确地把握样品的活动及状态变化。 使用ＡＩ自动量程功能进行粒度分布计算ＡＩ自动量程功能是从检测出的衍射光／散射光的光强度分布数据，首先判断粒度分布范围，对于得到的范围，选择最适合的计算条件，精密地计算粒度分布的功能。因此，从尖锐的分布到宽的分布，都可以在没有事先预备的信息的状态下，准确地获得粒度分布形态。解决了折射率选择的难题：自动折射率选择功能使用激光衍射散射方法测定粒径，必须选择折射率。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能。该方法已经在多个会议发表，并定名为&ldquo 木下法&rdquo 。（备注：木下先生是日本岛津ADC的粒度担当，为表彰他在粒度分析应用方面所做的突出贡献，此方法以他的名字命名）实用的实时显示光强度分布和粒度分布数据功能通过粒度分布计算的方法的改进，最快约１秒在软件画面上表示粒度分布图。并且，可以实时表示粒度分布数据及光强度分布数据。从而可以实时监测样品的偶然变化和分散状态的偶然变化。内置自检功能，维护简便组合了强大的自检功能，可确认装置的动作状況，使维护简便。配备操作记录（operation log）功能采用操作记录（operation log）功能，使所有的测定数据都包括了装置的使用状況、池的汚染状态等详细的信息，因此，可以追溯到过去，验证测定数据的真实性。虽然在平常状态下不显示，但在所有的测定数据中作为文本文件附有电源ＯＮ的时刻、空白测定的时刻以及空白测定的数据，并且，这时的光轴位置等有关装置的操作、使用状态的数据。测定结果的多方面评估：标配多种分析应用方法散射角评估：给出强度分布与散射光角度的关系数据转换（模拟）：使用其他仪器或者测定原理得到的结果，可以通过SALD系列产品的测定结果进行模拟而得。这使得SALD系列结果与常规测定技术所得结果相一致。混合物模拟功能：多种混合物以任意比例混合所得到的粒度分布结果可以通过软件模拟而得。这使得我们无需进行实际的混合实验，即可精确的获得混合比例以得到希望的粒度分布结果。数据合并：该功能使两个不同范围的数据在某一点合并起来，从而得到一个总的粒度分布结果。比如将SALD系列2000um以下的结果和通过筛分法得到的2000um以上的结果合并起来，得到一个宽范围的粒径分布结果，这在土木工程、防火和环境领域有着广泛的应用。测定功能和数据处理功能相链接，允许测定后快速数据比对和数据分析测定功能、数据处理功能和统计功能互相链接。测定、比对和分析可在同一操作下进行，适用于多大200个数据。测定结果在测定时是以叠加的形式显示，可以对数据进行快速分析。

1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上，如下图所示，采用常规的硒化锌材料透镜，将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图：选型表：型号波长（nm）输入孔径 1/e2（mm）工作距离（mm）直径（mm）材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束，具有很锐利的边缘，可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数： 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离（mm）输入光束直径（mm）波长（nm）整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表：型号波长（nm）直径（mm）输出孔径1/e2（mm）工作距离（mm）像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜，是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构，从而达到整个入射光的焦点归一，提高激光效率。示意图： 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表（部分）:型号波长（&mu m）有效焦距（英寸）直径（英寸） SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5

仪器简介：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统主要特点：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统

苏州锂影+实验室桌面型二维掠入射X射线衍射同步辐射测试01同步辐射光源，由于强度高、亮度大、准直性好，广受科研工作者们的欢迎。我们国家现有多个同步辐射光源：北京同步辐射装置（BSRF，第一代光源）、合肥国家同步辐射国家实验室（NSRL，第二代光源）、上海光源（SSRF，第三代光源），还有马上投入运行的大连的深紫外以及上海软X射线自由电子激光装置（FEL，第四代光源），以及在建中的北京高能同步辐射、上海光源、合肥光源。另外，在台湾也有两台光源。但是，封校、避免人员流动等防疫措施的限制下，让2D-GIWAXS测试难上加难。别急，还有一个解决办法！锂影制造02锂影科技在丹东浩元DX2900衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器，加上锂影科技开发的配套测试软件，组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时，结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势，为该款机型配备了多种测试模块，薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台（手套箱内组装好保持惰性氛围测试）和原位气氛处理台（支持大多数溶剂）。测试界面 聚合物样品二维衍射图技术参数031. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA）2.多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm4. 二维阵列探测器：487×195像素，每个像素大小172微米5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下：碘化铅甲胺铅溴钙钛矿聚丁烯样条透射XRDN2200锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

平面全息光栅全息光栅通常用于对杂散光的应用中。其基底镀有光敏材料，将有光敏材料涂层的基板置于由激光器产生的单色光和相干光束组成的相交光束之间，使光敏材料感光。相交激光束产生一系列平行且等距的干涉条纹，条纹强度按照正弦曲线形状变化。由于光敏材料的溶解度由对其照射的光强决定，干涉条纹显示了光敏材料表面不同光强。然后可以对基底镀反射膜然后用与复制刻划的原始光栅相同的过程用于复制。由于全息光栅刻线形状以及刻线间距是完全一致的，所以产生的杂散光远少于刻划光栅。全息光栅可以采用两种凹槽轮廓，正弦和闪耀。 刻线600~4500Lines/mm闪耀波长150-1000nm尺寸公差±0.5mm材料K9镀膜铝类型反射衍射光栅 编号刻线密度光谱范围闪耀或峰值波长刻划面积（l/mm）（nm)（nm）（H×W mm2）GH-1111200190-80022064×64GH-1121800190-100025064×64GH-1132400190-80025070×100GH-1143600170-50019070×100GH-1154321160-45017058×58注：以上参数仅供参考，详情请咨询客服人员。

苏州锂影+实验室垂直型二维X射线衍射仪锂影制造 01锂影科技与丹东浩元合作研发垂直型二维X射线衍射仪DX2900V装配了美国XOS公司多毛细管微焦点光源、瑞士Dectris公司的Einger 250K二维阵列探测器、搭载锂影科技团队开发的配套测试软件以及配备锂影科技150mm×150mm XY位置，可水平放置多个样品，满足液体、熔融等特殊状态样品的测试需求，为您提供更安全的测试环境、更精准的测试结果、更便捷的测试体验。同时，结合锂影科技在衍射仪配件定制方面的优势，为该仪器配备了多种测试模块，薄膜样品台、投射样品台、惰性气体保护台（手套箱组装好保持惰性氛围测试）和原位气氛处理台（支持大多数溶剂），可使该衍射仪应用各种材料结构分析的各个领域，真正满足您多种测试需求，完美解决您在科学研究、生产制造中出现的各种问题。垂直型二维X射线衍射仪 产品优势 02 样品可水平放置：可满足测试液体样品、熔融样品等特殊状态下样品的需求，解决特殊样品测试的难题； 配置加热样品台：可测试需加热样品，解决加热样品测试的问题； 配置150mm×150mm XY位置台：可提供更大的移动范围，同时可水平放置多个样品，提供更高效的测试体验； 操作简单易学易用：仪器操作简单，配合锂影团队开发的配套测试软件，适合初学者灵活掌握； 符合人体工程学与安全性优势：安全壳体操作空间大，内部采用可调光LED照明、外部采用安全观测窗口，同时配置X射线感应锁，可观测当前仪器状态，为您提供最高的安全保护； 150mm×150mm XY位置台 加热样品台 三氧化二铝二维衍射图 技术参数 03 1. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA） 2.多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s 3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm 4. 二维阵列探测器：512×512像素，每个像素大小75微米 5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等 6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下： 聚乙烯二维衍射图 聚丁二烯二维衍射图 锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

苏州锂影科技有限公司电池原位XRD用实验室快速衍射仪产品信息 锂影科技与丹东浩元合作研发高亮版二维X射线衍射仪DX2900C装配了中国成都艾格斯瑞公司的高亮度多毛细管微焦点光源、瑞士Dectris公司的Einger 250K二维阵列探测器、搭载锂影科技团队开发的配套测试软件以及配备多种原位电池测试附件，适用于锂电池、钠电池、锌电池等各种电池体系，可以实现长时间连续十秒级测试。产品优势 光源亮度比其它商业化二维衍射仪强50倍以上，因此对于大多数电池体系可以实现十秒级测试，效果堪比同步辐射XRD测试装置；多种类型的电池附件，包括纽扣电池型、软包电池型以及其它定制化类型。适用于锂电池、钠电池、锌电池等多种电池。 配置加热、加压和气氛装置，可以实现更多场景下的原位XRD测试； 操作简单易学易用：仪器操作简单，配合锂影团队开发的配套测试软件，适合初学者灵活掌握； 符合人体工程学与安全性优势：安全壳体操作空间大，内部采用可调光LED照明、外部采用安全观测窗口，同时配置X射线感应锁，可观测当前仪器状态，为您提供最高的安全保护；技术参数 1. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA） 2.多毛细管：光强5.0109ph/s 3. 二维阵列探测器：512×512像素，每个像素大小75微米 4. 可以配备加热、加压和气氛附件 5. 有专门的铍窗原位电池附件、纽扣电池附件、软包电池附件 典型测试结果锂金属电池（磷酸铁锂+玻纤/商业电解液+锂）的原位XRD钠金属电池（NbS2+玻纤/固体电解质+钠）的原位XRD水系锌电池（NaVOH+玻纤/商业电解液+锌）的原位XRD苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平，升级版PIDS专利技术（专利号：4953978；5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术，真正实现10nm粒径测量；新型的干、湿进样模块，即插即用，满足不同的分析要求，灵活便利；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作，仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验！贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR主要特点： - 优于ISO 13 320技术标准。 - 符合FDA的21 CFR Part 11标准。 - 检测器数量更多，高达132枚独立物理位置检测器，对应高达136个真实数据通道，能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，确保不缺漏丝毫信息，快速、准确的真实粒度测量。 - 专利设计的X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，不管单峰、多峰，准确分析粒度分布。 - 全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的唯 一报告。 - 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。 - PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。 - 纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。 - 新一代固体激光光源，无需预热，7万小时以上开机使用寿命 。 - 并行式信号采集与传输，确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。 - 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。 - 多种自动化样品分散系统，'即插即用'，数秒即可完成切换，高效便利。 - 新一代触摸屏设计ADAPT分析软件，操作更直观，无需操作经验，简单三步完成测量，直观醒目的导航轮，仅需一步实现数据显示与导出。 - ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色，自动合格/不合格管理，实现直接质控。 - 软件配有强大的光学参数数据库，具有创新的Zero-Time即时光学模型系统，只需一秒即可建立新的光学模型，提供客观准确的分析报告。 - 仪器配有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。 贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR技术参数： - 粒径范围：10纳米-3500微米 （峰值） - 主光路激光光源：光纤连接的固体激光器 - 检测器：132枚独立物理角度检测器 - 真实分析通道：136个 - 多波长测量：475nm、613nm、785nm及900nm - 光学理论模型：全程Mie理论；Fraunhofer理论 - 准确性误差：小于+/- 0.5% - 重现性误差：小于+/- 0.5% *本产品仅用于科研，不用于临床诊断。

DX-2900型二维X射线衍射水平型二维X射线衍射仪二维X射线衍射仪能够快速实现对有机及无机材料结构取向、织构、结晶状态等研究。应用于膜、纤维、丝状材料、块体材料表面结构测试。仪器由毛细管微焦点光源、两轴薄膜样品台、二维阵列探测器，测试软件组成。还可以配置薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台和原位气氛处理台等，满足各种测试目的需要。 碘化铅薄膜 聚合物样品二维衍射图甲胺铅碘钙钛矿薄膜 聚丁烯样条透射XRD N2200聚合物薄膜垂直型二维X射线衍射仪多个样品可以水平放置，满足液体、熔融等特殊状态样品的测试需求；配置加热样品台：可测试需加热样品，解决加热样品测试的问题；配置150mm×150mm XY位置台：可提供更大的移动范围。垂直型二维X射线衍射仪 150mm×150mm XY位置台 加热样品台 三氧化二铝二维衍射图 聚乙烯二维衍射图 聚丁二烯二维衍射图技术参数1. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA）；2. 多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s；3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm；4. 二维阵列探测器：512×512像素，每个像素大小75微米；5. 可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等；6. 薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M。

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　 　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。　 　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围：0.05~3000um　　测定模式：湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布，因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵，保证从数百微米到数毫米的粗大粒子／高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m（3mm）的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英，因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-3101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测量，且分辨率高、精度高、重复性好。　　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围： 0.03~1000um　　测定模式： 湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-2101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

仪器简介： 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。 技术参数：1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有） 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件（理学独有） 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等主要特点： 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪用多位薄膜样品架产品信息X射线衍射仪用多位薄膜样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经申请专利。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现8个粉末样品的自动位置切换以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

SHINE便携式X射线衍射仪（地球化学版）是浪声科学专为矿物现场物相分析而研制的一款便携式X射线衍射设备。其融合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，可快速对矿物样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有测试速度快、价格低、精准度高等优点。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF 技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。良好的环境适应性专为地质考察而研制，仪器可防雾、防尘、防震动，能适应恶劣的使用环境。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景地质勘探/追踪矿床矿物研究/品位分析锂矿石、铍矿石品位分析等尾矿回收再利用矿物冶炼/制造钛白粉、萤石等规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

Thorlabs提供三种反射光栅:刻线光栅刻线光栅由于其闪耀角，可以达到比全息光栅更高的效率。它们是以光栅闪耀角为中心的应用的理想选择。Thorlabs提供各种尺寸和闪耀角的刻划光栅。全息光栅全息光栅有较低的周期错误，基本消除了刻划光栅无法避免的鬼线。这些光栅的低杂散光特性让其成为需要高信噪比应用的理想选择，例如拉曼光谱仪。阶梯光栅阶梯光栅是为高阶应用设计的低周期光栅。它通常配合另一个光栅或棱镜一起使用，实现重叠衍射级次的分离。是高分辨率光谱学应用的理想选择。 Thorlabs提供三种透射光栅：紫外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的紫外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在紫外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与紫外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。可见光透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的可见光透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在可见光范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与可见光反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。近红外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的近红外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在近红外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与近红外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。 选择光栅需要考虑很多因素，下面列举了一些：效率：通常，刻划光栅比全息光栅具有更高的衍射效率。然而，全息光栅由于其刻槽的制备方法，其表面效率变化很小。荧光激发和其它辐射诱导反应方面的应用可能需要刻划光栅。闪耀波长：刻划光栅通过有序的蚀刻光栅基底表面形成，带有锯齿型槽光栅剖面。因此在闪耀波长附近有相对尖锐的峰。而全息光栅很难闪耀，其正弦曲线状的槽使其在特定波长的光谱响应不那么尖锐。窄带范围内的相关应用更适合选用刻划光栅。波长范围：光栅的光谱范围取决于槽间距，并且对于光栅常数相同的刻划光栅和全息光栅，其光谱范围相同。根据经验，光栅的一级效率从0.66&lambda B到1.5&lambda B降低50% ，其中&lambda B是闪耀波长。注意：没有光栅可以衍射波长大于槽间距2倍的光。杂散光：由于光栅制作方法的不同，全系光栅相比于刻划光栅，其杂散光更低。刻划光栅的刻槽是机械制作，因此有更高的错误率。全息光栅一次成型，基本没有失误。对于像拉曼光谱仪这种对信噪比要求很高的应用，全息光栅固有的低杂散光具有很大的优势分辨率：光栅的分辨率是指其具有的在空间上分开两个波长的能力。它是采用瑞利判据决定衍射极大值；当一个波长的最大值与第二波长的最小值重合时，认为两个波长是分开的。分辨率（R）是由R=&lambda /&Delta &lambda = nN定义的，其中&Delta &lambda 是可分辨的波长差，n为衍射级次，N是刻线数。刻线式衍射光栅 全息衍射光栅 中阶梯光栅 UV透射光栅 透射率可变光栅 近红外透射型光栅 300纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*300 nm Blaze WavelengthGR25-03033002° 34' 3.3325 x 25GR50-06036005° 9' 1.6750 x 50GR13-1203120010° 22' 0.8212.7 x 12.7*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。 400纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*400 nm Blaze WavelengthGR25-1204120013° 53' 0.8125 x 25GR50-1204120013° 53' 0.8150 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。500纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*500 nm Blaze WavelengthGR13-03053004° 18' 3.3212.7 x 12.7GR25-03053004° 18' 3.3225 x 25GR50-03053004° 18' 3.3250 x 50GR13-06056008° 37' 1.6512.7 x 12.7GR25-06056008° 37' 1.6525 x 25GR50-06056008° 37' 1.6550 x 50GR13-1205120017° 27' 0.8012.7 x 12.7GR25-1205120017° 27' 0.8025 x 25GR50-1205120017° 27' 0.8050 x 50GR13-1850180026° 44' 0.5012.7 x 12.7GR25-1850180026° 44' 0.5025 x 25GR50-1850180026° 44' 0.5050 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。750纳米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*750 nm Blaze WavelengthGR13-060860013° 0' 1.6212.7 x 12.7GR25-060860013° 0' 1.6225 x 25GR50-060860013° 0' 1.6250 x 50GR13-1208120026° 44' 0.7412.7 x 12.7GR25-1208120026° 44' 0.7425 x 25GR50-1208120026° 44' 0.7450 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。1微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*1 µ m Blaze WavelengthGR13-03103008° 36' 3.3012.7 x 12.7GR25-03103008° 36' 3.3025 x 25GR50-03103008° 36' 3.3050 x 50GR13-061060017° 27' 1.5912.7 x 12.7GR25-061060017° 27' 1.5925 x 25GR50-061060017° 27' 1.5950 x 50GR13-1210120036° 52' 0.6712.7 x 12.7GR25-1210120036° 52' 0.6725 x 25GR50-1210120036° 52' 0.6750 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。10.6微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*10.6 µ m Blaze WavelengthGR1325-071067521° 12.312.5 x 25GR2550-071067521° 12.325 x 50GR1325-1010610027° 8.512.5 x 25GR2550-1010610027° 8.525 x 50GR1325-1510615035° 4.212.5 x 25GR2550-1510615035° 4.225 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。反射式全息光栅特性峰值波长下效率可达45％至65％优化了在紫外光谱、可见光谱下的性能不依赖于入射角基底材质：Borofloat玻璃三种尺寸规格：12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mmThorlabs提供一系列专为需要高信噪比的高端应用而优化设计的全息衍射光栅。全息光栅具有杂散光少的特点，基本消除了刻线光栅所无法避免的鬼线，使其成为拉曼光谱学等需要高信噪比的应用的理想解决方案。我们的全息光栅对紫外光谱和可见光谱段的性能进行了优化，并有刻线密度从600线/mm到3600线/mm不等的三种不同尺寸规格。三种尺寸分别是12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mm，尺寸公差± 0.5mm。 阶梯光栅的特别注意事项光栅方程: 一般光栅方程如下： n&lambda = d(sin &theta + sin &theta ' )其中n是衍射级次，&lambda 是衍射波长，d是光栅常数（两个刻槽间的距离）&theta 是入射角，&theta ' 是衍射角自由光谱范围: 自由光谱范围是指没有和相邻衍射级次发生干涉（重叠）时的指定级次的最大带宽。自由光谱范围随着光栅间距的减小而增加，随着级次的增加而较小。如果&lambda 1，&lambda 2分别是感兴趣的波长下限和上限，那么：自由光谱范围=&lambda 2 - &lambda 1 = &lambda 1/n阶梯光栅的使用: 阶梯光栅极高的衍射角度将能量集中在高级次上。最简单的情况是光束以0° 角入射到光栅上，光栅方程简化为n&lambda = d sin &theta ' ，解方程得：sin &theta ' = n&lambda / d由此推论，在高阶中，两个波长之间的角距离变得更大。想象一下有两条线，一条为600 纳米，另一条为605 纳米，入射到31.6线/ 毫米的光栅上。从上面的方程可以得到，在N=1时角距离为0.009 ° ，但在N=40时角距离为0.6 ° 。缺点就是自由光谱范围的降低，从630纳米（630 纳米/1）降至15.8纳米（630 纳米/40）。通常，配合使用分光棱镜和阶梯光栅进行级次分离。

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

多功能光栅光谱仪实验装置，YTR-6308简介YTR-6308多功能光栅光谱仪是一款以光栅作为分光元件的光谱仪，其基本原理是当不同波长的光束以相同的入射角入射到光栅上时，不同波长的光束同一级衍射的主极大位置不同，从而达到分光的目的。其优点是具有较宽的光谱测量范围和较高的分辨率，综合性能突出，是目前使用最为广泛的光谱仪器。该光栅光谱仪专为物理实验教学开采用开放式的结构设计，学生可以直观的观看光谱仪的内部光路和结构。同时采用了光电倍增管和线阵式CCD作为光电传感器，既可以获得高分辨率光谱，也可以快速获得宽光谱。使学生更加充分理解和掌握光谱仪的工作原理。该仪器可以很好的使用在氢氘光谱实验，钠原子光谱等实验。特点对称式C-T光路结构，采用可视化的结构设计，帮助学生理解和掌握光谱仪结构组成和工作原理双光路设计，分别使用高品质光电倍增管和线阵CCD作为光电探测器，使得学生更能深入的理解和掌握探测器的性能和实验仪器优缺点和用途专业的光谱分析实验软件，包含：光谱测量、透过率测量、反射率测量、吸光度测量和色度学测量等多种实验模块（有些实验模块需要另配附件）实验内容热辐射光源光谱测定波长准确性的测定和修正氢原子光谱测定及里德堡常量测量吸收光谱的测量CCD测量的波长定标颜色测透过率测量吸光度测量浓度测量透镜焦距测量实验，YGP-6212简介YGP-6212透镜焦距测量实验学习的知识点有几何光学基本定律、透镜成像、显微镜、望远镜。几何光学是光学的重要分支之一，它的应用十分广泛，尤其是在设计光学仪器的光学系统等方面显得十分方便和实用。透镜作为光学仪器的基本元件，可以组建各种光学系统，在成像系统、图像摄取、遥感等领域中已经得到广泛应用。光学显微镜是一种常见的助视光学仪器，它对推动科技进步，尤其是生物学和医学，起到了重要作用；望远镜是另一种常见的助视光学仪器，它对天文学及物理学的发展起到了重要的推动作用。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中透镜焦距测量实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点器材丰富，可以组建各种光学系统；实验内容满足分层次教学要求；通过配置COMS相机及相应的软件，使实验既有鲜明的数字化特点，又保留了手动读数的特色实验内容a)基础内容用自准直法、位移法测量凸透镜焦距；物像距法测量凹透镜焦距。b)提升内容自准直法测量凹透镜焦距；光学成像系统共轴的粗、细调节；透镜成像的景深、成像位置判断与视差消除。c)进阶内容用薄透镜自组显微镜和望远镜；探究常用显微镜结构和性能参数。d)高阶内容观测凸透镜的球差和色差；观测显微成像系统的像散。光的干涉和衍射实验，YGP-6213简介光的干涉和衍射现象是波动光学的重要内容。光干涉现象曾经是奠定光波动性的基石，在波动光学中有重要的意义。而光衍射现象，则是光束传播中，几何光学无法解释的现象，是光波动性的主要标志之一。研究光的干涉和衍射不仅有助于进一步加深对光的波动性的理解，同时还有助于进一步学习近代光学实验技术，如光谱分析、晶体结构分析、全息照相、光信息处理等。本实验同时用单缝、多缝、圆孔、方孔等进行实验，能够明显地展现出衍射、干涉的特征，并利用光强分布探测器测量光强的相对分布，实时给出光强与位置的关系曲线，以及用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况，实现实验的数字化。特点采用光强分布探测器，无需扫描结构，实时测量光强一位置的分布曲线，响应时间最快可达毫秒级。利用光强分布探测器可以精确测量8级以上衍射条纹，位置测量精度可达0.01mm。利用面阵相机可以研究衍射图像的两维光强分布情况。一体化狭缝组设计，切换方便，易于实验。实验内容a) 基础内容 研究激光通过双缝后形成的干涉图案，测量双缝形成的干涉光强分布，说明干涉条纹的极大值位置与理论预见的一致性。 研究激光经过单缝后形成的衍射图案，测量单缝形成的衍射光强分布，说明衍射条纹的极小位置与理论预见的一致。b) 提升内容 研究激光通过多缝后形成的干涉图案，理解多缝衍射与多光束干涉的原理。c) 进阶内容 观察激光经过圆孔和方孔后的衍射现象，利用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况。d) 高阶内容 利用COMS相机研究激光经过多孔后形成的衍射图案，利用COMS相机研究衍射图像的两维光强的分布情况光的偏振实验，YGP-6214简介光的偏振现象是波动光学的重要内容。利用这种现象研制的各种光学元件和仪器，在探测物质结构、激光与光电子技术领域有着极其重要和广泛的应用。YGP-6214光的偏振实验装置主要包含：光传感器、转动传感器、激光光源、精密调节架、升降调节架、连接杆、托板和观察屏组成。该实验装置利用先进的传感器技术和智能软件，可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线，极大的提升了实验效率，使学生将更多的精力用于实验本身的原理学习、数据分析和结果讨论上，更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线光传感器，USB2.0和蓝牙通讯，3档可调，适用于不同强度光源的测量。无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。安全的激光光源。数字实验室分析软件，编辑性强，通用程度高。实验内容理解和掌握偏振片的基本原理，使用方法。理解和掌握激光器的偏振特性。通过研究和验证马吕斯定律，掌握光的起偏和检偏原理和方法。研究3片偏振片光强与偏振片角度的关系曲线，进一步掌握光的偏振特性。等厚干涉实验（含牛顿环实验），YGP-6215简介YGP-6215等厚干涉实验（含牛顿环实验）学习的知识点有牛顿环、等厚干涉、光程差、曲率半径。牛顿环和空气劈尖的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用，它可以用于检测透镜的曲率，测量光波的波长，精确的测量微小长度、厚度和角度，检验物体表面的光洁度、平整度等。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中牛顿环实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点开放的构架，可以让学生看到所用镜片的类型和位置。可以让学生练习搭建各种光学系统。配套有测微目镜与CMOS相机两种读数方式，即实现实验数字化的同时，保留了传统手动读数的方式。多种光源，更多的分立器件，便于师生开展各种探索研究，比如：同时观察透射和反射的牛顿环，波长测量等实验内容a)基础内容测定平凸球面透镜的球面半径。b)提升内容用劈尖干涉测量细丝直径。c)进阶内容测定平凹球面透镜的球面半径。d)高阶内容用透射和反射两种方法观察牛顿环，并测量绿光、紫光、黄光的波长。更多精彩，请关注下方！的P-tP

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。1、高能微焦斑X射线源：同时具备焦斑尺寸小、光通量高、输出波长短等特点，可大幅提升高压衍射实验的核心技术指标，即超高压样品环境、高数据通量以及低数据背景。高亮度铟靶X射线光源(波长：0.51 &angst )不同模式下的参数如下：高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 × 107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μm FWHM通量1× 106 ph/s发散度2 mrad微焦斑Ag靶模式下的参数如下：焦斑大小80 μm FWHM通量1.5× 107 ph/s发散度5 mrad2、大面积、单光子计数探测器：大面积探测器可在保证数据采集范围的同时提高衍射数据分辨率。另外，配合短波长的光源大面积探测器也可以获得更多的衍射峰数量，从而提高晶体结构的分辨率。配备CdTe传感器的单光子计数型探测器，可大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、五维样品台：采用在国际上同步辐射实验装置所使用的先进旋转中心定位法的基础上，进行了优化，利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。该方法具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。同时，该系统在增加相应的软件后，可以进行高压单晶 X 射线衍射实验，实现一机两用。

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产品介绍：1.产品概述 STADI P是一款灵活、多功能型粉末晶体衍射仪，同时具有两套衍射系统，分别进行透射/德拜-谢乐模式衍射和反射/布拉格-布伦坦诺模式衍射，两套系统可以共用一个光源，配备多种形式样品架和自动进样器，可以满足各种样品的衍射实验需求。 2.产品特点 四种几何衍射模式：透射/德拜-谢乐模式，透射高通量微区模式，反射高通量微区模式，反射模式； 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换，切换后不需要重新调节光路； 所有衍射几何模式下，均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线（100%纯Kα1）； 可搭配:STOE位敏探测器、STOE弧形成像板探测器、混合像素MYTHEN1K探测器（零噪音单光子计数能力）； 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感，或有毒性的微量样品测试； 2θ范围：-10°~140°。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　 　尤其是在前沿科学领域，诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域，粒径多在纳米数量级，对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。　 　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围：0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低！ 特点：主机（测量部）使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。 采用紫色半导体激光由于采用了的紫色半导体激光，可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外，以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置，由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题，也迎刃而解。采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素，均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。采用SLIT光学系统，用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光采用了SLIT（Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪）光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品，可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统，打破了一般常识，可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光，实现了微粒子领域的高分辨率。能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化，时间间隔最短可以做到1s市场上其他的产品都需要至少10s以上。适用于超微粒子的湿法测量专用机是适合于涂料、颜料，食品，饮料，医药品，化妆品，乳剂，精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。多种统计方法：数目、体积、表面积和长度。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪用多位粉末样品架产品信息X射线衍射仪用多位粉末样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经获得专利授权（201922379738.4）。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现5个粉末样品的自动位置切换、高度对准以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。耗材配件售后服务1、免费上门安装：否 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费维修或更换5、报修承诺：24小时内响应，7日内解决问题6、免费仪器保养：无7、免费培训：1人次网上培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

苏州锂影科技有限公司 X射线衍射仪用多位薄膜样品架产品信息X射线衍射仪用多位薄膜样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经获得专利授权（202020383306.0）。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现3-11个薄膜样品的自动位置切换、样品对准以及XRD、XRR、GIXRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。耗材配件售后服务1、免费上门安装：否 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费维修或更换5、报修承诺：24小时内响应，7日内解决问题6、免费仪器保养：无7、免费培训：1人次网上培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务